JP3291145B2 - 誤り訂正回路の試験方法および誤り訂正ｌｓｉ自動試験装置 - Google Patents
誤り訂正回路の試験方法および誤り訂正ｌｓｉ自動試験装置Info
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- JP3291145B2 JP3291145B2 JP30628794A JP30628794A JP3291145B2 JP 3291145 B2 JP3291145 B2 JP 3291145B2 JP 30628794 A JP30628794 A JP 30628794A JP 30628794 A JP30628794 A JP 30628794A JP 3291145 B2 JP3291145 B2 JP 3291145B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試験対象となる誤り訂
正回路の動作内容を測定して得られる誤り訂正能力の測
定値と、計算によって得られた基準値とを比較すること
により、誤り訂正回路の良否を動的に判定する誤り訂正
回路の試験方法およびこの誤り訂正回路の試験方法を使
用した誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置に関する。
正回路の動作内容を測定して得られる誤り訂正能力の測
定値と、計算によって得られた基準値とを比較すること
により、誤り訂正回路の良否を動的に判定する誤り訂正
回路の試験方法およびこの誤り訂正回路の試験方法を使
用した誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置に関する。
【０００２】［発明の概要］本発明は、ランダム誤り間
の平均距離と、誤りの数とを制御または計測可能な試験
信号を用い、これを試験対象となる誤り訂正回路に供給
して、復号させた結果の誤り訂正確率と、数値計算から
求まる誤り訂正確率とを比較することにより、誤り訂正
回路の試験を容易にするとともに、高速化するものであ
る。
の平均距離と、誤りの数とを制御または計測可能な試験
信号を用い、これを試験対象となる誤り訂正回路に供給
して、復号させた結果の誤り訂正確率と、数値計算から
求まる誤り訂正確率とを比較することにより、誤り訂正
回路の試験を容易にするとともに、高速化するものであ
る。
【０００３】
【従来の技術】誤り訂正回路を動的に試験する試みとし
て、従来、本発明者らが提案する二段階試験方法がある
（小林 他、“（１０５７、８１３）符号用高速復号Ｌ
ＳＩとその誤り訂正能力評価に関する検討”、電子情報
通信学会研究会資料ＩＣＤ９４−８９）。
て、従来、本発明者らが提案する二段階試験方法がある
（小林 他、“（１０５７、８１３）符号用高速復号Ｌ
ＳＩとその誤り訂正能力評価に関する検討”、電子情報
通信学会研究会資料ＩＣＤ９４−８９）。
【０００４】また、誤り訂正回路の良否を判定する基準
値としては、誤り訂正符号の誤り訂正能力に関する計算
機シミュレーション結果が用いられた例がある（例え
ば、山田、“符号化伝送文字放送用誤り訂正符号”、信
学論、ｖｏｌ．６７−Ｂ、Ｎｏ．４、ｐｐ．４３９−４
４６）。
値としては、誤り訂正符号の誤り訂正能力に関する計算
機シミュレーション結果が用いられた例がある（例え
ば、山田、“符号化伝送文字放送用誤り訂正符号”、信
学論、ｖｏｌ．６７−Ｂ、Ｎｏ．４、ｐｐ．４３９−４
４６）。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の誤り訂正回路の試験方法などにおいては、次の
述べるような問題があった。
た従来の誤り訂正回路の試験方法などにおいては、次の
述べるような問題があった。
【０００６】まず、誤り訂正符号の符号長（データビッ
トと誤り訂正ビットとを加算した語数）の増加に伴っ
て、符号語総数が急速に増大するため、設計検証の段階
で符号化機能を検証するための十分な期待値を準備する
ことが難しいとともに、基準値生成のために行われる、
計算機シミュレーションに要する時間と計算量とが大き
過ぎて、検証に時間と手間とがかかり過ぎるという問題
があった。
トと誤り訂正ビットとを加算した語数）の増加に伴っ
て、符号語総数が急速に増大するため、設計検証の段階
で符号化機能を検証するための十分な期待値を準備する
ことが難しいとともに、基準値生成のために行われる、
計算機シミュレーションに要する時間と計算量とが大き
過ぎて、検証に時間と手間とがかかり過ぎるという問題
があった。
【０００７】また従来、符号語中の誤りの数が誤り訂正
符号の符号間最小距離の１／２を越える領域での誤り訂
正能力の基準値が知られていなかったため、検証結果の
確かさを客観的に判定することが難しいという問題があ
った。
符号の符号間最小距離の１／２を越える領域での誤り訂
正能力の基準値が知られていなかったため、検証結果の
確かさを客観的に判定することが難しいという問題があ
った。
【０００８】さらに、誤り訂正能力と平均誤り間距離と
の関係が明確に規定されていないため、例えばシミュレ
ーション結果と、試験対象となる誤り訂正回路の統計的
性能とが不一致になったとき、回路的不具合によるもの
なのか、それとも測定方法の問題なのか、判定すること
ができないという問題があった。
の関係が明確に規定されていないため、例えばシミュレ
ーション結果と、試験対象となる誤り訂正回路の統計的
性能とが不一致になったとき、回路的不具合によるもの
なのか、それとも測定方法の問題なのか、判定すること
ができないという問題があった。
【０００９】本発明は上記の事情に鑑み、被試験回路の
誤り訂正能力の動的な測定値（統計量）と、数値計算に
より求められる誤り訂正能力の基準値とを比較すること
により、誤り訂正回路の試験（良否判定）を簡便化、高
速化するとともに、これを可能にするため、試験信号の
生成と、基準値算出時に、少なくとも平均誤り間距離と
誤りの数とを参照して誤り訂正能力の測定値と基準値と
の一致度を向上させて、判定誤りを低減させることがで
きる誤り訂正回路の試験方法および誤り訂正ＬＳＩ自動
試験装置を提供することを目的としている。
誤り訂正能力の動的な測定値（統計量）と、数値計算に
より求められる誤り訂正能力の基準値とを比較すること
により、誤り訂正回路の試験（良否判定）を簡便化、高
速化するとともに、これを可能にするため、試験信号の
生成と、基準値算出時に、少なくとも平均誤り間距離と
誤りの数とを参照して誤り訂正能力の測定値と基準値と
の一致度を向上させて、判定誤りを低減させることがで
きる誤り訂正回路の試験方法および誤り訂正ＬＳＩ自動
試験装置を提供することを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、請求項１では、誤りを含む符号語列を生
成し、これを誤り訂正回路に供給して誤り訂正を行なわ
せるとともに、誤り訂正済み符号語列の誤り訂正内容に
基づき、前記誤り訂正回路の良否を判定する誤り訂正回
路の試験方法において、多数決論理復号回路を試験対象
となる前記誤り訂正回路とし、予め設定されている平均
誤り間距離（誤りパターン上でのとなりあう誤りの間に
含まれるシンボル数の平均値）、誤り数に基づき、誤り
パターン列を生成し、この誤りパターン列に基づき、正
しい符号語列中に誤りを入れて試験信号を生成し、この
試験信号と、予め設定されているしきい値とを試験対象
となる誤り訂正回路に供給して、誤り訂正を行なわせる
一方、前記平均誤り間距離、誤り数、しきい値に基づ
き、予め設定されている計算式で誤り訂正確率の基準値
を求めるとともに、前記試験信号の語数および前記誤り
訂正回路から出力される誤り訂正済みの試験信号中の訂
正完了済み語数とを各々、計数し、これら基準値と、試
験信号の語数と、訂正完了済み語数とが予め設定されて
いる関係を満たすかどうかチェックし、このチェック結
果に基づき、前記誤り訂正回路の良否を判定することを
特徴としている。
めに本発明は、請求項１では、誤りを含む符号語列を生
成し、これを誤り訂正回路に供給して誤り訂正を行なわ
せるとともに、誤り訂正済み符号語列の誤り訂正内容に
基づき、前記誤り訂正回路の良否を判定する誤り訂正回
路の試験方法において、多数決論理復号回路を試験対象
となる前記誤り訂正回路とし、予め設定されている平均
誤り間距離（誤りパターン上でのとなりあう誤りの間に
含まれるシンボル数の平均値）、誤り数に基づき、誤り
パターン列を生成し、この誤りパターン列に基づき、正
しい符号語列中に誤りを入れて試験信号を生成し、この
試験信号と、予め設定されているしきい値とを試験対象
となる誤り訂正回路に供給して、誤り訂正を行なわせる
一方、前記平均誤り間距離、誤り数、しきい値に基づ
き、予め設定されている計算式で誤り訂正確率の基準値
を求めるとともに、前記試験信号の語数および前記誤り
訂正回路から出力される誤り訂正済みの試験信号中の訂
正完了済み語数とを各々、計数し、これら基準値と、試
験信号の語数と、訂正完了済み語数とが予め設定されて
いる関係を満たすかどうかチェックし、このチェック結
果に基づき、前記誤り訂正回路の良否を判定することを
特徴としている。
【００１１】請求項２では、誤りを含む符号語列を生成
し、これを誤り訂正回路に供給して誤り訂正を行なわせ
るとともに、誤り訂正済み符号語列の誤り訂正内容に基
づき、前記誤り訂正回路の良否を判定する誤り訂正回路
の試験方法において、多数決論理復号回路を試験対象と
なる前記誤り訂正回路とし、複数の誤りパターン列を生
成し、これらの各誤りパターン列中から予め設定されて
いる誤り数となっている誤りパターン列を抽出し、この
誤りパターン列に基づき、正しい符号語列中に誤りを入
れて試験信号を生成し、この試験信号と、予め設定され
ているしきい値とを試験対象となる誤り訂正回路に供給
して、誤り訂正を行なわせる一方、前記試験信号中の平
均誤り間距離を測定し、この測定動作によって得られた
平均誤り間距離、前記誤り数、しきい値に基づき、予め
設定されている計算式で誤り訂正確率の基準値を求める
とともに、前記試験信号の語数および前記誤り訂正回路
から出力される訂正済みの試験信号中の訂正完了済み語
数とを各々、計数し、これら基準値と、試験信号の語数
と、訂正完了済み語数とが予め設定されている関係を満
たすかどうかチェックし、このチェック結果に基づき、
前記誤り訂正回路の良否を判定することを特徴としてい
る。
し、これを誤り訂正回路に供給して誤り訂正を行なわせ
るとともに、誤り訂正済み符号語列の誤り訂正内容に基
づき、前記誤り訂正回路の良否を判定する誤り訂正回路
の試験方法において、多数決論理復号回路を試験対象と
なる前記誤り訂正回路とし、複数の誤りパターン列を生
成し、これらの各誤りパターン列中から予め設定されて
いる誤り数となっている誤りパターン列を抽出し、この
誤りパターン列に基づき、正しい符号語列中に誤りを入
れて試験信号を生成し、この試験信号と、予め設定され
ているしきい値とを試験対象となる誤り訂正回路に供給
して、誤り訂正を行なわせる一方、前記試験信号中の平
均誤り間距離を測定し、この測定動作によって得られた
平均誤り間距離、前記誤り数、しきい値に基づき、予め
設定されている計算式で誤り訂正確率の基準値を求める
とともに、前記試験信号の語数および前記誤り訂正回路
から出力される訂正済みの試験信号中の訂正完了済み語
数とを各々、計数し、これら基準値と、試験信号の語数
と、訂正完了済み語数とが予め設定されている関係を満
たすかどうかチェックし、このチェック結果に基づき、
前記誤り訂正回路の良否を判定することを特徴としてい
る。
【００１２】請求項３では、請求項１または２のいずれ
かに記載の誤り訂正回路の試験方法において、前記試験
信号中の誤り数と、前記試験信号の平均誤り間距離と、
参照ビットに誤りが含まれているとき、誤り無しと誤判
定する第１種誤訂正率と、参照ビットに誤りが含まれて
いないとき、誤り有りと誤判定する第２種誤訂正率とに
基づいて、前記基準値を計算することを特徴としてい
る。
かに記載の誤り訂正回路の試験方法において、前記試験
信号中の誤り数と、前記試験信号の平均誤り間距離と、
参照ビットに誤りが含まれているとき、誤り無しと誤判
定する第１種誤訂正率と、参照ビットに誤りが含まれて
いないとき、誤り有りと誤判定する第２種誤訂正率とに
基づいて、前記基準値を計算することを特徴としてい
る。
【００１３】請求項４では、請求項１乃至３のいずれか
に記載の誤り訂正回路の試験方法を使用して、前記誤り
訂正回路を試験する試験回路を、この誤り訂正回路を構
成するチップと同じチップ上に配置したことを特徴とし
ている。
に記載の誤り訂正回路の試験方法を使用して、前記誤り
訂正回路を試験する試験回路を、この誤り訂正回路を構
成するチップと同じチップ上に配置したことを特徴とし
ている。
【００１４】
【００１５】
【作用】上記構成の本発明によれば、試験回数に対する
回復可能機会の比の形式で、前記誤り訂正回路の性能を
数値化し、これによって客観的、機械的な判定を行なう
とともに、試験に要する時間および労力を大幅に低減す
ることができる。
回復可能機会の比の形式で、前記誤り訂正回路の性能を
数値化し、これによって客観的、機械的な判定を行なう
とともに、試験に要する時間および労力を大幅に低減す
ることができる。
【００１６】
【００１７】
【００１８】
【００１９】
【００２０】
【実施例】図１は本発明による誤り訂正回路の試験方法
の第１実施例を適用した誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置の
一例を示すブロック図である。
の第１実施例を適用した誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置の
一例を示すブロック図である。
【００２１】この図に示す誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置
１は、平均誤り間距離設定入力端子２と、誤り数設定入
力端子３と、しきい値入力端子４と、符号語生成回路５
と、誤り源回路６と、排他的論理和回路７と、第１計数
回路８と、第２計数回路９と、基準値計算回路１０と、
比較判定回路１１と、判定出力端子１２とを備えてお
り、符号語を自動的に生成しながら、予め設定された平
均誤り間距離と、符号語中の誤り数とに基づいて、前記
符号語中にランダムに誤りを入れた後、被試験回路１３
によって、予め設定された多数決論理復号のしきい値を
使用させながら、誤りが入った前記符号語を誤り訂正さ
せるとともに、前記平均誤り間距離と、符号語中の誤り
数と、多数決論理復号のしきい値とに基づいて基準値を
計算し、この基準値および前記誤りが入った符号語の計
数値、前記被試験回路１３から出力される誤り訂正済み
の符号語の計数値に基づいて、この被試験回路１３の良
否を判定し、この判定結果を出力する。
１は、平均誤り間距離設定入力端子２と、誤り数設定入
力端子３と、しきい値入力端子４と、符号語生成回路５
と、誤り源回路６と、排他的論理和回路７と、第１計数
回路８と、第２計数回路９と、基準値計算回路１０と、
比較判定回路１１と、判定出力端子１２とを備えてお
り、符号語を自動的に生成しながら、予め設定された平
均誤り間距離と、符号語中の誤り数とに基づいて、前記
符号語中にランダムに誤りを入れた後、被試験回路１３
によって、予め設定された多数決論理復号のしきい値を
使用させながら、誤りが入った前記符号語を誤り訂正さ
せるとともに、前記平均誤り間距離と、符号語中の誤り
数と、多数決論理復号のしきい値とに基づいて基準値を
計算し、この基準値および前記誤りが入った符号語の計
数値、前記被試験回路１３から出力される誤り訂正済み
の符号語の計数値に基づいて、この被試験回路１３の良
否を判定し、この判定結果を出力する。
【００２２】平均誤り間距離設定入力端子２は前記被試
験回路１３を試験するとき、この被試験回路１３を試験
するのに必要な平均誤り間距離（誤りと誤りとの間の距
離の統計的な平均値であり、誤りパターン上でのとなり
あう誤りの間に含まれるシンボル数の平均値で表わせ
る。）が入力される端子であり、入力された平均誤り間
距離を前記誤り源回路６と、基準値計算回路１０とに供
給する。
験回路１３を試験するとき、この被試験回路１３を試験
するのに必要な平均誤り間距離（誤りと誤りとの間の距
離の統計的な平均値であり、誤りパターン上でのとなり
あう誤りの間に含まれるシンボル数の平均値で表わせ
る。）が入力される端子であり、入力された平均誤り間
距離を前記誤り源回路６と、基準値計算回路１０とに供
給する。
【００２３】また、誤り数設定入力端子３は前記被試験
回路１３を試験するとき、この被試験回路１３を試験す
るのに必要な符号語中の誤り数（個々の誤りパターン列
中に含まれる誤りの数）が入力される端子であり、入力
された符号語中の誤り数を前記誤り源回路６と、基準値
計算回路１０とに供給する。
回路１３を試験するとき、この被試験回路１３を試験す
るのに必要な符号語中の誤り数（個々の誤りパターン列
中に含まれる誤りの数）が入力される端子であり、入力
された符号語中の誤り数を前記誤り源回路６と、基準値
計算回路１０とに供給する。
【００２４】また、しきい値入力端子４は前記被試験回
路１３を試験するとき、この被試験回路１３を試験する
のに必要な多数決論理復号法のしきい値が入力される端
子であり、入力されたしきい値を前記被試験回路１３
と、基準値計算回路１０とに供給する。
路１３を試験するとき、この被試験回路１３を試験する
のに必要な多数決論理復号法のしきい値が入力される端
子であり、入力されたしきい値を前記被試験回路１３
と、基準値計算回路１０とに供給する。
【００２５】また、符号語生成回路５は前記被試験回路
１３を試験するとき、この被試験回路１３を試験するの
に必要な任意の符号語列、例えば（１０５７、８１３）
差集合巡回符号などを生成する回路であり、生成した符
号語列を排他的論理和回路７に供給する。
１３を試験するとき、この被試験回路１３を試験するの
に必要な任意の符号語列、例えば（１０５７、８１３）
差集合巡回符号などを生成する回路であり、生成した符
号語列を排他的論理和回路７に供給する。
【００２６】また、誤り源回路６は前記被試験回路１３
を試験するとき、長い時間、観測を行なったときに生じ
る符号語の誤りパターンのうち、前記平均誤り間距離設
定入力端子２から供給される平均誤り間距離と、誤り数
設定入力端子３から供給される符号語中の誤り数とを持
つ誤りパターン列をランダムに発生するランダム誤り源
を備えており、発生した誤りパターン列を排他的論理和
回路７に供給する。
を試験するとき、長い時間、観測を行なったときに生じ
る符号語の誤りパターンのうち、前記平均誤り間距離設
定入力端子２から供給される平均誤り間距離と、誤り数
設定入力端子３から供給される符号語中の誤り数とを持
つ誤りパターン列をランダムに発生するランダム誤り源
を備えており、発生した誤りパターン列を排他的論理和
回路７に供給する。
【００２７】排他的論理和回路７は前記符号語生成回路
５から出力される符号語列と、前記誤り源回路６から出
力される誤りパターン列との排他的論理和（“２”を法
とする剰余演算の剰余）を取って前記符号語列に誤りを
入れる回路であり、誤りを入れた符号語列を試験信号と
して、第１計数回路８と、被試験回路１３とに供給す
る。
５から出力される符号語列と、前記誤り源回路６から出
力される誤りパターン列との排他的論理和（“２”を法
とする剰余演算の剰余）を取って前記符号語列に誤りを
入れる回路であり、誤りを入れた符号語列を試験信号と
して、第１計数回路８と、被試験回路１３とに供給す
る。
【００２８】第１計数回路８は前記排他的論理和回路７
から出力される試験信号中に含まれている符号語の総数
を計数する回路であり、計数結果（符号語総数）を比較
判定回路１１に供給する。
から出力される試験信号中に含まれている符号語の総数
を計数する回路であり、計数結果（符号語総数）を比較
判定回路１１に供給する。
【００２９】また、被試験回路１３は予め設定されてい
る形式の符号語列、例えば（１０５７、８１３）差集合
巡回符号などの符号語列を取り込むとともに、前記しき
い値入力端子４から供給されるしきい値を用いた多数決
論理復号法によって、前記符号語列を誤り訂正して復号
する誤り訂正ＬＳＩ（試験対象となる誤り訂正ＬＳＩ）
であり、前記誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置１の排他的論
理和回路７から試験信号が出力されたとき、前記誤り訂
正ＬＳＩ自動試験装置１から出力されるしきい値を使用
した多数決論理復号法によって、前記試験信号を誤り訂
正して復号し、復号済みの試験信号を第２計数回路９に
供給する。
る形式の符号語列、例えば（１０５７、８１３）差集合
巡回符号などの符号語列を取り込むとともに、前記しき
い値入力端子４から供給されるしきい値を用いた多数決
論理復号法によって、前記符号語列を誤り訂正して復号
する誤り訂正ＬＳＩ（試験対象となる誤り訂正ＬＳＩ）
であり、前記誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置１の排他的論
理和回路７から試験信号が出力されたとき、前記誤り訂
正ＬＳＩ自動試験装置１から出力されるしきい値を使用
した多数決論理復号法によって、前記試験信号を誤り訂
正して復号し、復号済みの試験信号を第２計数回路９に
供給する。
【００３０】第２計数回路９は前記被試験回路１３から
出力される復号済みの試験信号中に含まれている訂正が
完了した語の総数を計数する回路であり、計数結果（訂
正語総数）を比較判定回路１１に供給する。
出力される復号済みの試験信号中に含まれている訂正が
完了した語の総数を計数する回路であり、計数結果（訂
正語総数）を比較判定回路１１に供給する。
【００３１】また、基準値計算回路１０は前記被試験回
路１３を試験するとき、前記平均誤り間距離設定入力端
子２から供給される平均誤り間距離と、誤り数設定入力
端子３から供給される符号語中の誤り数と、しきい値入
力端子４から供給されるしきい値とに基づき、次式に示
す予測計算を行なって、前記被試験回路１３の誤り訂正
能力の予測値を計算する回路であり、予測計算によって
得られた予測値を基準値として、比較判定回路１１に供
給する。
路１３を試験するとき、前記平均誤り間距離設定入力端
子２から供給される平均誤り間距離と、誤り数設定入力
端子３から供給される符号語中の誤り数と、しきい値入
力端子４から供給されるしきい値とに基づき、次式に示
す予測計算を行なって、前記被試験回路１３の誤り訂正
能力の予測値を計算する回路であり、予測計算によって
得られた予測値を基準値として、比較判定回路１１に供
給する。
【００３２】
【数１】 但し、この（１）式において、“ｎ”は符号語に含まれ
ている誤りの数、“ＴＨ”はしきい値、“Ｌ”は平均誤
り間距離である。また、この（１）式中の右辺で使用さ
れている関数は、次式を満たす関数である。
ている誤りの数、“ＴＨ”はしきい値、“Ｌ”は平均誤
り間距離である。また、この（１）式中の右辺で使用さ
れている関数は、次式を満たす関数である。
【００３３】
【数２】 Ｒu （ｎe ，ＴＨ，Ｌ） ＝｛ｒ1 （ｎe ，ＴＨ）｝・｛ｒ2 （ｎe ，ＴＨ）｝L …（２） 但し、この（２）式において、“ｒ1 ”は参照ビットが
誤りを含んでいるとき、誤り無しと誤判定する確率（第
１種誤訂正率）、“ｒ2 ”は参照ビットが誤りを含んで
いないとき、誤り有りと誤判定する確率（第２種誤訂正
率）であり、受信語中の誤り数に依存するが、符号が
（１０５７、８１３）差集合巡回符号であり、誤り数が
１７〜２５のときには、これら第１種誤訂正率ｒ1 、第
２種誤訂正率ｒ2 は、各々図３乃至図５に示す値にな
る。
誤りを含んでいるとき、誤り無しと誤判定する確率（第
１種誤訂正率）、“ｒ2 ”は参照ビットが誤りを含んで
いないとき、誤り有りと誤判定する確率（第２種誤訂正
率）であり、受信語中の誤り数に依存するが、符号が
（１０５７、８１３）差集合巡回符号であり、誤り数が
１７〜２５のときには、これら第１種誤訂正率ｒ1 、第
２種誤訂正率ｒ2 は、各々図３乃至図５に示す値にな
る。
【００３４】比較判定回路１１は前記第１計数回路８か
ら出力される計数結果（符号語総数）と、前記第２計数
回路９から出力される計数結果（訂正語総数）と、前記
基準値計算回路１０から出力される予測値（基準値）と
が試験範囲内の特定または全ての誤り数に対し、次式に
示す判定式を満たすかどうかをチェックして、前記被試
験回路１３の良否を判定する回路であり、次式を満たす
とき、前記被試験回路１３を良好と判定し、また次式を
満たさないとき、前記被試験回路１３を不良と判定し
て、この判定結果を判定出力端子１２に供給し、外部に
出力する。
ら出力される計数結果（符号語総数）と、前記第２計数
回路９から出力される計数結果（訂正語総数）と、前記
基準値計算回路１０から出力される予測値（基準値）と
が試験範囲内の特定または全ての誤り数に対し、次式に
示す判定式を満たすかどうかをチェックして、前記被試
験回路１３の良否を判定する回路であり、次式を満たす
とき、前記被試験回路１３を良好と判定し、また次式を
満たさないとき、前記被試験回路１３を不良と判定し
て、この判定結果を判定出力端子１２に供給し、外部に
出力する。
【００３５】 ｜（Ｓ2 ／Ｓ1 ）−Ｒ｜≦ε …（３） 但し、この（３）式において、“Ｓ2 ”は第２計数回路
９から出力される訂正語総数、“Ｓ1 ”は第１計数回路
８から出力される符号語総数、“Ｒ”は基準値計算回路
１０から出力される基準値、“ε”は予め設定されてい
る許容値である。
９から出力される訂正語総数、“Ｓ1 ”は第１計数回路
８から出力される符号語総数、“Ｒ”は基準値計算回路
１０から出力される基準値、“ε”は予め設定されてい
る許容値である。
【００３６】このように、この実施例においては、符号
語を自動的に生成しながら、予め設定された平均誤り間
距離と、符号語中の誤り数とに基づいて、前記符号語中
にランダムに誤りを入れた後、被試験回路１３によっ
て、予め設定された多数決論理復号のしきい値を使用さ
せながら、誤りが入った前記符号語を誤り訂正させると
ともに、前記平均誤り間距離と、符号語中の誤り数と、
多数決論理復号のしきい値とに基づいて基準値を計算
し、この基準値および前記誤りが入った符号語の計数
値、前記被試験回路１３から出力される誤り訂正済みの
符号語の計数値に基づいて、この被試験回路１３の良否
を判定し、この判定結果を出力するようにしているの
で、試験回数に対する回復可能機会の比の形式で、前記
被試験回路１３の性能を数値化することができ、これに
よって客観的、機械的な判定を行なうことができるとと
もに、試験に要する時間および労力を大幅に低減するこ
とができる。
語を自動的に生成しながら、予め設定された平均誤り間
距離と、符号語中の誤り数とに基づいて、前記符号語中
にランダムに誤りを入れた後、被試験回路１３によっ
て、予め設定された多数決論理復号のしきい値を使用さ
せながら、誤りが入った前記符号語を誤り訂正させると
ともに、前記平均誤り間距離と、符号語中の誤り数と、
多数決論理復号のしきい値とに基づいて基準値を計算
し、この基準値および前記誤りが入った符号語の計数
値、前記被試験回路１３から出力される誤り訂正済みの
符号語の計数値に基づいて、この被試験回路１３の良否
を判定し、この判定結果を出力するようにしているの
で、試験回数に対する回復可能機会の比の形式で、前記
被試験回路１３の性能を数値化することができ、これに
よって客観的、機械的な判定を行なうことができるとと
もに、試験に要する時間および労力を大幅に低減するこ
とができる。
【００３７】さらに、この実施例においては、被試験回
路１３の試験を行なうのに必要なベクトル形式の試験信
号を自動的に生成するようにしているので、平均誤り間
距離と、誤り数と、しきい値とを設定しておくだけで、
被試験回路１２の試験を自動的に行なうことができる。
路１３の試験を行なうのに必要なベクトル形式の試験信
号を自動的に生成するようにしているので、平均誤り間
距離と、誤り数と、しきい値とを設定しておくだけで、
被試験回路１２の試験を自動的に行なうことができる。
【００３８】図２は本発明による誤り訂正回路の試験方
法の第２実施例を適用した誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置
の一例を示すブロック図である。なお、この図におい
て、図１の各部と同じ部分には、同じ符号が付してあ
る。
法の第２実施例を適用した誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置
の一例を示すブロック図である。なお、この図におい
て、図１の各部と同じ部分には、同じ符号が付してあ
る。
【００３９】この図に示す誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置
１ａが図１に示す誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置１と異な
る点は、平均誤り間距離設定入力端子２を削除するとと
もに、誤り源回路６の構成を変更して、これを誤り源回
路６ａとするとともに、新たに、誤り数弁別回路１５
と、平均誤り間距離測定回路１６とを付加し、予め設定
された符号語中の誤り数とに基づき、符号語中にランダ
ムに誤りを入れるとともに、この符号語中の平均誤り間
距離測定を測定し、この平均誤り間距離を使用して上述
した試験方法と同様な方法で、被試験回路１３の試験を
行なうようにしたことである。
１ａが図１に示す誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置１と異な
る点は、平均誤り間距離設定入力端子２を削除するとと
もに、誤り源回路６の構成を変更して、これを誤り源回
路６ａとするとともに、新たに、誤り数弁別回路１５
と、平均誤り間距離測定回路１６とを付加し、予め設定
された符号語中の誤り数とに基づき、符号語中にランダ
ムに誤りを入れるとともに、この符号語中の平均誤り間
距離測定を測定し、この平均誤り間距離を使用して上述
した試験方法と同様な方法で、被試験回路１３の試験を
行なうようにしたことである。
【００４０】この場合、前記誤り源回路６ａは前記被試
験回路１３を試験するとき、ランダムな誤りを含む複数
の誤りパターン列を発生するランダム誤り源を備えてお
り、発生した複数の誤りパターン列を誤り数弁別回路１
５に供給する。
験回路１３を試験するとき、ランダムな誤りを含む複数
の誤りパターン列を発生するランダム誤り源を備えてお
り、発生した複数の誤りパターン列を誤り数弁別回路１
５に供給する。
【００４１】誤り数弁別回路１５は前記被試験回路１３
を試験するとき、前記誤り源回路６ａから出力される各
誤りパターン列を取り込むとともに、前記誤り数設定入
力端子３から供給される誤り数に基づき、前記各誤りパ
ターン列の中から所定の誤り数を含むものだけを抽出す
る回路であり、抽出した誤りパターン列を排他的論理和
回路７と、平均誤り間距離測定回路１６とに供給する。
を試験するとき、前記誤り源回路６ａから出力される各
誤りパターン列を取り込むとともに、前記誤り数設定入
力端子３から供給される誤り数に基づき、前記各誤りパ
ターン列の中から所定の誤り数を含むものだけを抽出す
る回路であり、抽出した誤りパターン列を排他的論理和
回路７と、平均誤り間距離測定回路１６とに供給する。
【００４２】平均誤り間距離測定回路１６は前記被試験
回路１３を試験するとき、前記誤り数弁別回路１５から
出力される誤りパターン列を取り込み、この誤りパター
ン列中の平均誤り間距離を測定する回路であり、測定動
作によって得られた平均誤り間距離を基準値計算回路１
０に供給する。
回路１３を試験するとき、前記誤り数弁別回路１５から
出力される誤りパターン列を取り込み、この誤りパター
ン列中の平均誤り間距離を測定する回路であり、測定動
作によって得られた平均誤り間距離を基準値計算回路１
０に供給する。
【００４３】このように、この実施例においては、予め
設定された符号語中の誤り数に基づき、符号語中にラン
ダムに誤りを入れるとともに、この符号語中の平均誤り
間距離測定を測定し、この平均誤り間距離を使用して上
述した試験方法と同様な方法で、被試験回路１３の試験
を行なうようにしたので、上述した実施例と同様に、試
験回数に対する回復可能機会の比の形式で、前記被試験
回路１３の性能を数値化することができ、これによって
客観的、機械的な判定を行なうことができるとともに、
試験に要する時間および労力を大幅に低減することがで
きる。
設定された符号語中の誤り数に基づき、符号語中にラン
ダムに誤りを入れるとともに、この符号語中の平均誤り
間距離測定を測定し、この平均誤り間距離を使用して上
述した試験方法と同様な方法で、被試験回路１３の試験
を行なうようにしたので、上述した実施例と同様に、試
験回数に対する回復可能機会の比の形式で、前記被試験
回路１３の性能を数値化することができ、これによって
客観的、機械的な判定を行なうことができるとともに、
試験に要する時間および労力を大幅に低減することがで
きる。
【００４４】また、この実施例においては、誤り数設定
入力端子３から入力される誤り数と、しきい値入力端子
４から入力されるしきい値のみで、被試験回路１３の試
験を行なうようにしているので、試験実施時の設定作業
をさらに簡略化して、作業を楽にすることができる。
入力端子３から入力される誤り数と、しきい値入力端子
４から入力されるしきい値のみで、被試験回路１３の試
験を行なうようにしているので、試験実施時の設定作業
をさらに簡略化して、作業を楽にすることができる。
【００４５】また、上述した各実施例においては、１つ
のチップ上に誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置１（または、
誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置１ａ）を形成し、このチッ
プと別のチップ上に形成された試験対象となる被試験回
路１３を試験するようにしているが、被試験回路１３が
形成されているチップ上に、誤り訂正ＬＳＩ自動試験装
置１（または、誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置１ａ）を形
成するようにしても良い。
のチップ上に誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置１（または、
誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置１ａ）を形成し、このチッ
プと別のチップ上に形成された試験対象となる被試験回
路１３を試験するようにしているが、被試験回路１３が
形成されているチップ上に、誤り訂正ＬＳＩ自動試験装
置１（または、誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置１ａ）を形
成するようにしても良い。
【００４６】このようにすることにより、被試験回路１
３の試験を随時、行なうことができ、これによって被試
験回路１３に入力される実際の符号語の性質が変化した
とき、しきい値などを容易に最適化することができると
ともに、回路的な不具合が発生したとき、これを容易に
検出することができる。
３の試験を随時、行なうことができ、これによって被試
験回路１３に入力される実際の符号語の性質が変化した
とき、しきい値などを容易に最適化することができると
ともに、回路的な不具合が発生したとき、これを容易に
検出することができる。
【００４７】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、請
求項１〜５では、被試験回路の誤り訂正能力の動的な測
定値（統計量）と、数値計算により求められる誤り訂正
能力の基準値とを比較することにより、誤り訂正回路の
試験（良否判定）を簡便化、高速化するとともに、これ
を可能にするため、試験信号の生成と、基準値算出時
に、少なくとも平均誤り間距離と誤りの数とを参照して
誤り訂正能力の測定値と基準値との一致度を向上させ
て、判定誤りを低減させることができる。
求項１〜５では、被試験回路の誤り訂正能力の動的な測
定値（統計量）と、数値計算により求められる誤り訂正
能力の基準値とを比較することにより、誤り訂正回路の
試験（良否判定）を簡便化、高速化するとともに、これ
を可能にするため、試験信号の生成と、基準値算出時
に、少なくとも平均誤り間距離と誤りの数とを参照して
誤り訂正能力の測定値と基準値との一致度を向上させ
て、判定誤りを低減させることができる。
【図１】本発明による誤り訂正回路の試験方法の第１実
施例を適用した誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置の一例を示
すブロック図である。
施例を適用した誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置の一例を示
すブロック図である。
【図２】本発明による誤り訂正回路の試験方法の第２実
施例を適用した誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置の一例を示
すブロック図である。
施例を適用した誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置の一例を示
すブロック図である。
【図３】図１、図２で使用される符号語として、（１０
５７、８１３）差集合巡回符号を使用したときの第１種
誤訂正率、第２種誤訂正率を示す表である。
５７、８１３）差集合巡回符号を使用したときの第１種
誤訂正率、第２種誤訂正率を示す表である。
【図４】図１、図２で使用される符号語として、（１０
５７、８１３）差集合巡回符号を使用したときの第１種
誤訂正率、第２種誤訂正率を示す表である。
５７、８１３）差集合巡回符号を使用したときの第１種
誤訂正率、第２種誤訂正率を示す表である。
【図５】図１、図２で使用される符号語として、（１０
５７、８１３）差集合巡回符号を使用したときの第１種
誤訂正率、第２種誤訂正率を示す表である。
５７、８１３）差集合巡回符号を使用したときの第１種
誤訂正率、第２種誤訂正率を示す表である。
１、１ａ 誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置 ２ 平均誤り間距離設定入力端子 ３ 誤り数設定入力端子 ４ しきい値入力端子 ５ 符号語生成回路 ６、６ａ 誤り源回路 ７ 排他的論理和回路 ８ 第１計数回路 ９ 第２計数回路 １０ 基準値計算回路 １１ 比較判定回路 １２ 判定出力端子 １５ 誤り数弁別回路 １６ 平均誤り間距離測定回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山野 浩司 東京都世田谷区砧一丁目10番11号 日本 放送協会放送技術研究所内 (56)参考文献 特開 昭53−76642（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−211757（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−181841（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) H03M 13/00 G01R 31/00 G06F 11/08 320 G06F 17/00 H04L 1/00
Claims (4)
- 【請求項１】 誤りを含む符号語列を生成し、これを誤
り訂正回路に供給して誤り訂正を行なわせるとともに、
誤り訂正済み符号語列の誤り訂正内容に基づき、前記誤
り訂正回路の良否を判定する誤り訂正回路の試験方法に
おいて、 多数決論理復号回路を試験対象となる前記誤り訂正回路
とし、 予め設定されている平均誤り間距離（誤りパターン上で
のとなりあう誤りの間に含まれるシンボル数の平均
値）、誤り数に基づき、誤りパターン列を生成し、この
誤りパターン列に基づき、正しい符号語列中に誤りを入
れて試験信号を生成し、この試験信号と、予め設定され
ているしきい値とを試験対象となる誤り訂正回路に供給
して、誤り訂正を行なわせる一方、 前記平均誤り間距離、誤り数、しきい値に基づき、予め
設定されている計算式で誤り訂正確率の基準値を求める
とともに、前記試験信号の語数および前記誤り訂正回路
から出力される誤り訂正済みの試験信号中の訂正完了済
み語数とを各々、計数し、 これら基準値と、試験信号の語数と、訂正完了済み語数
とが予め設定されている関係を満たすかどうかチェック
し、このチェック結果に基づき、前記誤り訂正回路の良
否を判定する、 ことを特徴とする誤り訂正回路の試験方法。 - 【請求項２】 誤りを含む符号語列を生成し、これを誤
り訂正回路に供給して誤り訂正を行なわせるとともに、
誤り訂正済み符号語列の誤り訂正内容に基づき、前記誤
り訂正回路の良否を判定する誤り訂正回路の試験方法に
おいて、 多数決論理復号回路を試験対象となる前記誤り訂正回路
とし、 複数の誤りパターン列を生成し、これらの各誤りパター
ン列中から予め設定されている誤り数となっている誤り
パターン列を抽出し、この誤りパターン列に基づき、正
しい符号語列中に誤りを入れて試験信号を生成し、この
試験信号と、予め設定されているしきい値とを試験対象
となる誤り訂正回路に供給して、誤り訂正を行なわせる
一方、 前記試験信号中の平均誤り間距離を測定し、この測定動
作によって得られた平均誤り間距離、前記誤り数、しき
い値に基づき、予め設定されている計算式で誤り訂正確
率の基準値を求めるとともに、前記試験信号の語数およ
び前記誤り訂正回路から出力される訂正済みの試験信号
中の訂正完了済み語数とを各々、計数し、 これら基準値と、試験信号の語数と、訂正完了済み語数
とが予め設定されている関係を満たすかどうかチェック
し、このチェック結果に基づき、前記誤り訂正回路の良
否を判定する、 ことを特徴とする誤り訂正回路の試験方法。 - 【請求項３】 請求項１または２のいずれかに記載の誤
り訂正回路の試験方法において、 前記試験信号中の誤り数と、前記試験信号の平均誤り間
距離と、参照ビットに誤りが含まれているとき、誤り無
しと誤判定する第１種誤訂正率と、参照ビットに誤りが
含まれていないとき、誤り有りと誤判定する第２種誤訂
正率とに基づいて、前記基準値を計算する、 ことを特徴とする誤り訂正回路の試験方法。 - 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれかに記載の誤り
訂正回路の試験方法を使用して、前記誤り訂正回路を試
験する試験回路を、この誤り訂正回路を構成するチップ
と同じチップ上に配置した、 ことを特徴とする誤り訂正ＬＳＩ自動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30628794A JP3291145B2 (ja) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | 誤り訂正回路の試験方法および誤り訂正ｌｓｉ自動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30628794A JP3291145B2 (ja) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | 誤り訂正回路の試験方法および誤り訂正ｌｓｉ自動試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08162978A JPH08162978A (ja) | 1996-06-21 |
| JP3291145B2 true JP3291145B2 (ja) | 2002-06-10 |
Family
ID=17955283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30628794A Expired - Fee Related JP3291145B2 (ja) | 1994-12-09 | 1994-12-09 | 誤り訂正回路の試験方法および誤り訂正ｌｓｉ自動試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3291145B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4564689B2 (ja) * | 2001-08-02 | 2010-10-20 | Ｎｅｃエンジニアリング株式会社 | ハードウェア機能検証方法及びハードウェア機能検証装置 |
-
1994
- 1994-12-09 JP JP30628794A patent/JP3291145B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08162978A (ja) | 1996-06-21 |
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