JP3285524B2 - Bit error measurement device - Google Patents

Bit error measurement device

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JP3285524B2
JP3285524B2 JP29546597A JP29546597A JP3285524B2 JP 3285524 B2 JP3285524 B2 JP 3285524B2 JP 29546597 A JP29546597 A JP 29546597A JP 29546597 A JP29546597 A JP 29546597A JP 3285524 B2 JP3285524 B2 JP 3285524B2
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【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル信号に含
まれるビット誤りを測定するビット誤り測定装置に係わ
り、特に入力信号を複数ビット構成の並列信号に変換し
た後、この並列信号の各ビット値の誤り測定するビット
誤り測定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a bit error measuring device for measuring a bit error contained in a digital signal, and more particularly, to converting an input signal into a parallel signal having a plurality of bits and then converting each bit value of the parallel signal. The present invention relates to a bit error measuring device for measuring an error of a bit.

【0002】[0002]

【従来の技術】デジタル通信ネットワークにおいては、
このデジタル通信ネットワークを介して伝送されるデー
タの信頼性を確保するために、このデジタル通信ネット
ワークを新規に構築した時点及び稼働後において一定周
期でこのデジタル通信ネットワークで伝送されるデジタ
ル信号のビット誤り測定を実施する必要がある。
2. Description of the Related Art In digital communication networks,
In order to ensure the reliability of data transmitted through this digital communication network, bit errors in digital signals transmitted through this digital communication network at regular intervals at the time when this digital communication network is newly constructed and after operation. Measurements need to be performed.

【0003】一般に、デジタル信号のビット誤り測定を
実施する手法として、測定対象の通信機器や伝送路に対
して基準信号発生装置を用いて例えば擬似ランダムパタ
ーン(PRBS)信号等の基準パターン信号を印加し、
この測定対象を通過した信号のビットパターンが元の基
準パターン信号のビットパターンに対してどの程度のビ
ット誤りが含まれるかを測定する。
[0003] Generally, as a method of performing a bit error measurement of a digital signal, a reference pattern signal such as a pseudo random pattern (PRBS) signal is applied to a communication device or a transmission line to be measured using a reference signal generator. And
The bit pattern of the signal that has passed through the measurement target is measured to determine how much bit error is included in the bit pattern of the original reference pattern signal.

【0004】この誤り率を測定する具体的手法として、
測定対象から得られる入力信号と基準パターン信号とを
例えば排他的論理和回路等からなるビット誤り検出回路
から出力されるビット誤りを計数して、ビット誤り率を
算出する。
As a specific method of measuring the error rate,
The bit error rate of the input signal obtained from the measurement target and the reference pattern signal is calculated by counting the bit errors output from a bit error detection circuit including an exclusive OR circuit or the like.

【0005】しかし、デジタル信号のビットレート(デ
ータ伝送速度)の周波数がGb/s を越える程度に高くな
ると、この高周波で正常に動作する高性能で高価な電子
部品を準備する必要があり、装置全体が高価格化する。
However, when the frequency of the bit rate (data transmission rate) of the digital signal is increased to a level exceeding Gb / s, it is necessary to prepare high-performance and expensive electronic components which operate normally at this high frequency. The whole will be expensive.

【0006】このような不都合を解消するために、デジ
タル信号を直列/並列変換器を用いて、複数ビット構成
からなる並列信号に変換することによって、並列信号を
構成する複数信号のビットレートを低減させる。そし
て、ビットレートが低減された各信号のビット誤りを検
出して、それらを合算して元のデジタル信号のビット誤
り数を求める手法が一般的に用いられている。
In order to eliminate such inconvenience, the digital signal is converted into a parallel signal having a plurality of bits by using a serial / parallel converter, thereby reducing the bit rate of the plurality of signals constituting the parallel signal. Let it. Then, a method is generally used in which bit errors of each signal whose bit rate has been reduced are detected, and they are summed to obtain the number of bit errors of the original digital signal.

【0007】図3は上述した直列/並列変換処理を採用
したビット誤り測定装置の概略構成図である。入力端子
1から入力された測定対象を通過したPRBS信号から
なる例えばビットレートfの入力信号aは、直列/並列
変換部2で例えばNビット構成の並列入力信号Aに変換
される。したがつて、この並列入力信号Aには、それぞ
れビットレートが入力信号aの周波数fの1/Nに低下
されたN本の信号a1 ,a2 ,…,aN が含まれる。並
列入力信号Aは次の誤り検出部3へ入力される。
FIG. 3 is a schematic block diagram of a bit error measuring device employing the above-described serial / parallel conversion processing. An input signal a having a bit rate of f, for example, composed of a PRBS signal that has passed through the measurement target and is input from the input terminal 1 is converted by the serial / parallel converter 2 into a parallel input signal A having, for example, an N-bit configuration. Therefore, the parallel input signal A includes N signals a 1 , a 2 ,..., A N whose bit rates are respectively reduced to 1 / N of the frequency f of the input signal a. The parallel input signal A is input to the next error detector 3.

【0008】また、クロック再生回路4は入力信号aに
含まれる周波数fのクロック信号c0 を再生して次の切
換回路7へ送出する。切換回路7は外部から入力端子6
へ入力されたクロック信号c1 と再生したクロック信号
0 とのいずれか一方を選択して、新たなクロック信号
cとして、分周器5へ送出する。分周器5は選択された
クロック信号cの周波数fを1/Nに分周して新たなク
ロック信号c2 として、基準パターン信号発生部8、誤
り検出部3、同期制御部9、誤り率算出部10へ印加す
る。
The clock recovery circuit 4 recovers the clock signal c 0 having the frequency f included in the input signal a and sends it to the next switching circuit 7. The switching circuit 7 has an input terminal 6
Either the clock signal c 0 was recovered clock signal c 1 and inputs the select to, as a new clock signal c, and sends it to the frequency divider 5. The frequency divider 5 divides the frequency f of the selected clock signal c by 1 / N to obtain a new clock signal c 2 , the reference pattern signal generator 8, the error detector 3, the synchronization controller 9, the error rate Apply to calculation unit 10.

【0009】基準パターン信号発生部8は、入力するク
ロック信号b2 に同期して、前述した測定対象に印加す
る擬似ランダムパターン(PRBS)信号と同一ビット
パターンを有した擬似ランダムパターン(PRBS)信
号を、前記直列/並列変換部2と同様にNビット構成の
並列基準信号Dとして出力する。
The reference pattern signal generator 8 synchronizes with the input clock signal b 2 to generate a pseudo random pattern (PRBS) signal having the same bit pattern as the pseudo random pattern (PRBS) signal applied to the object to be measured. Is output as an N-bit parallel reference signal D in the same manner as the serial / parallel converter 2.

【0010】したがって、この基準パターン信号発生部
8から出力される並列基準信号Dには、図4に示すよう
に、それぞれビットレートが入力信号aのビットレート
fの1/Nに低下されたN本の信号d1 ,d2 ,…,d
N が含まれる。
Therefore, as shown in FIG. 4, the parallel reference signal D output from the reference pattern signal generator 8 has N bit rates reduced to 1 / N of the bit rate f of the input signal a. The signals d 1 , d 2 ,..., D
N is included.

【0011】周知のように、直列/並列変換前のPRB
S信号は、Gをシフトレジスタの構成段数とすると、n
=(2G −1)のビット周期を有する周期パターン信号
である。したがって、図4に示すように、n個の各デー
タがN本の各信号d1 ,d2,…,dN に順番に割振ら
れる。1フレーム(1ビット周期)を構成する1番から
N番の各ビットデータをN本の各信号d1 ,d2 ,…,
N のうちのどの信号に割振るかを「ビット配列」と定
義する。基準パターン信号発生部8から出力されたNビ
ット構成の並列基準信号Dは誤り検出部3へ入力され
る。
As is well known, PRB before serial / parallel conversion
The S signal is represented by n, where G is the number of stages of the shift register.
= (2 G -1). Therefore, as shown in FIG. 4, n pieces of data are sequentially allocated to N pieces of signals d 1 , d 2 ,..., D N. Each of the 1st to Nth bit data constituting one frame (1 bit period) is converted into N signals d 1 , d 2 ,.
The signal to be assigned to d N is defined as a “bit array”. The N-bit parallel reference signal D output from the reference pattern signal generator 8 is input to the error detector 3.

【0012】誤り検出部3は、例えばN個の排他的論理
和回路で構成されており、トリガ端子に印加されている
クロック信号c2 の立上がりタイミングに同期して、並
列入力信号Aを構成する各信号a1 ,a2 ,…,aN
各ビット値と並列基準信号Dを構成する各信号d1 ,d
2 ,…,dN の各ビット値とをそれぞれ比較して、両者
が異なるときのみ、ハイレベルのビット誤り信号e1
2 ,…eN からなる並列誤り信号Eを誤り率算出部1
0及び同期制御部9へ送出する。
The error detection unit 3 is composed of, for example, of N exclusive-OR circuit, in synchronization with the rising timing of the clock signal c 2 being applied to the trigger terminal, and a parallel input signal A Each bit value of each signal a 1 , a 2 ,..., A N and each signal d 1 , d constituting the parallel reference signal D
2, ..., by comparing each with each bit value of d N, when they are different only, bit error signal e 1 of high level,
e 2, ... parallel the error signal E error rate calculation unit 1 consisting of e N
0 to the synchronization control unit 9.

【0013】同期制御部9は、基準パターン信号発生部
8から出力される並列基準信号Dを並列入力信号Aに同
期させる機能を有する。また、並列基準信号Dにおける
各信号d1 ,d2 ,…,dN に対するデータ割振りを示
すビット配列と、直列/並列変換部2でデータ割振りさ
れた並列入力信号Aのビット配列とが一致しているとは
限らない。例えばN=4の場合は、図5に示すように、
直列/並列変換部2から出力される並列入力信号Aのビ
ット配列は(1) 〜 (4)の4種類存在する。
The synchronization control section 9 has a function of synchronizing the parallel reference signal D output from the reference pattern signal generation section 8 with the parallel input signal A. Also, the bit arrangement indicating the data allocation for each signal d 1 , d 2 ,..., D N in the parallel reference signal D matches the bit arrangement of the parallel input signal A data allocated by the serial / parallel converter 2. Not necessarily. For example, when N = 4, as shown in FIG.
There are four types of bit arrangements of the parallel input signal A output from the serial / parallel conversion unit 2, (1) to (4).

【0014】その結果、このビット誤り測定装置の起動
時点においては、並列基準信号Dは並列入力信号Aに全
く同期していないので、誤り検出部3から各クロック毎
に連続してビット誤り信号e1 ,e2 ,…,eN を出力
する。
As a result, since the parallel reference signal D is not synchronized with the parallel input signal A at the time of activation of the bit error measuring device, the bit error signal e is continuously output from the error detector 3 for each clock. 1 , e 2 ,..., E N are output.

【0015】そこて、同期制御部9は、図6の流れ図に
従って、並列基準信号Dと並列入力信号Aとの間の同期
を確立させる。S(ステップ)1において、並列入力信
号Aのビット配列を特定するインデックスjを1の初期
値に設定し、S2において、基準パターン信号発生部8
からの並列基準信号Dの出力タイミングを特定するイン
デックスiを1の初期値に設定する。
The synchronization controller 9 establishes synchronization between the parallel reference signal D and the parallel input signal A in accordance with the flowchart of FIG. In S (step) 1, the index j specifying the bit arrangement of the parallel input signal A is set to an initial value of 1, and in S2, the reference pattern signal generator 8
Is set to an initial value of 1 for specifying the output timing of the parallel reference signal D from.

【0016】そして、誤り検出部3から出力された並列
誤り信号Eを取込み、連続してビット誤り信号e1 ,e
2 ,…,eN が出力されているか否かを調べる。連続し
てビット誤り信号e1N が出力されている場合は(S
4)、同期が確立していないので、インデックスiがビ
ットパターンのビット周期nをビット配列数Nで除算し
た値(n/N)から求まる最終インデックスiE に達し
ていないことを確認する(S5)。そして、基準パター
ン信号発生部8からの並列基準信号Dの出力タイミング
を1クロック(1ビット)分ずらすビットシフト指令g
を基準パターン信号発生部8へ送出する(S6)。そし
て、インデックスiに1を加算して(S7)、S3へ戻
り、再度並列誤り信号Eを取込む。
Then, the parallel error signal E output from the error detector 3 is fetched, and the bit error signals e 1 , e
It is checked whether 2 ,..., E N are output. When the bit error signals e 1 to N are continuously output (S
4) Since the synchronization has not been established, it is confirmed that the index i has not reached the final index i E obtained from the value (n / N) obtained by dividing the bit period n of the bit pattern by the number N of bit arrays (S5). ). A bit shift command g for shifting the output timing of the parallel reference signal D from the reference pattern signal generator 8 by one clock (1 bit).
Is transmitted to the reference pattern signal generator 8 (S6). Then, 1 is added to the index i (S7), the process returns to S3, and the parallel error signal E is fetched again.

【0017】S5にて、インデックスiが最終インデッ
クスiE に達したのに、同期が確立しない場合は、並列
基準信号Dのビット配列と並列入力信号Aのビット配列
とが一致していないと判断する。S8へ進み、並列入力
信号Aのビット配列を特定するインデックスjがビット
配列数Nで示される最終インデックスjE に達していな
いことを確認する(S8)。
In S5, if the index i has reached the final index i E but synchronization is not established, it is determined that the bit arrangement of the parallel reference signal D and the bit arrangement of the parallel input signal A do not match. I do. The process proceeds to S8, to make sure that the index j for specifying a bit sequence of parallel input signals A has not reached the final index j E represented by the bit sequence number N (S8).

【0018】S9において、直列/並列変換部2に対し
てビット配列の変更指令hを送出する。変更指令hを受
領した直列/並列変換部2は、入力信号aの各データの
取込みタイミングを1ビットシフト(禁止)することに
よって、出力される並列入力信号Aの図5に示すビット
配列を次のビット配列に変更する。そして、インデック
スjに1を加算して(S10)、S2へ戻り、並列基準
信号Dの出力タイミングを特定するインデックスiを1
の初期値に設定して、再度並列誤り信号Eを取込む。
In S9, a bit arrangement change command h is sent to the serial / parallel converter 2. Upon receiving the change instruction h, the serial / parallel converter 2 shifts (prohibits) the fetch timing of each data of the input signal a by one bit, thereby changing the bit arrangement shown in FIG. To the bit array. Then, 1 is added to the index j (S10), the process returns to S2, and the index i for specifying the output timing of the parallel reference signal D is set to 1
And the parallel error signal E is fetched again.

【0019】そして、最終的にS4にて並列基準信号D
と並列入力信号Aとの間の同期が確立すると、誤り率算
出部10へ同期確立信号kを送出する。誤り率算出部1
0は、同期確立信号kを受領すると、誤り検出部3から
出力される並列誤り信号Eを取込んで、各誤り信号e
1 ,e2 ,…,eN 数を合算して、入力信号aにおける
誤り率を算出する。
Finally, at S4, the parallel reference signal D
When the synchronization between the signal and the parallel input signal A is established, a synchronization establishment signal k is sent to the error rate calculator 10. Error rate calculator 1
0, upon receiving the synchronization establishment signal k, takes in the parallel error signal E output from the error detection unit 3 and
1, e 2, ..., by summing the e N number, we calculate the error rate in the input signal a.

【0020】[0020]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図3に
示すビット誤り測定装置においてもまだ解消すべき次の
ような課題があった。すなわち、同期制御部9における
直列/並列変換部2から出力される並列入力信号Aと基
準パターン信号発生部8から出力される並列基準信号D
との間の同期確立処理は、図6に示す流れ図に示すよう
に、並列基準信号Dの出力タイミングを特定するインデ
ックスiと並列入力信号Aのビット配列を特定するイン
デックスjとの組合わせを順次変更していって、各組合
わせにおける誤り検出部3から出力される並列誤り信号
Aの各誤り信号e1 ,e2 ,…,eN 数を調べて同期確
立の有無を判断している。
However, the bit error measuring device shown in FIG. 3 still has the following problems to be solved. That is, the parallel input signal A output from the serial / parallel converter 2 in the synchronization controller 9 and the parallel reference signal D output from the reference pattern signal generator 8
As shown in the flow chart of FIG. 6, the synchronization establishment process between the index i specifying the output timing of the parallel reference signal D and the index j specifying the bit arrangement of the parallel input signal A is sequentially performed. went changed, the error signal e 1 of the parallel error signal a output from the error detecting unit 3 of each combination, e 2, ..., it is determined whether a synchronization establishment examines e N number.

【0021】したがって、最悪の場合、iE ×jE
[(2G −1)/N]×[N]回の並列誤り信号Aの読
込み及び判定を実施する必要がある。例えば、G=9の
場合は、(29 −1)=511回実施する必要がある。
その結果、同期確立処理時間が増大し、ビット誤り測定
装置の入力信号に対するビット誤り率測定処理能率が大
幅に低下する問題がある。
Therefore, in the worst case, i E × j E =
It is necessary to read and determine the parallel error signal A [(2 G -1) / N] × [N] times. For example, when G = 9, it is necessary to perform (2 9 −1) = 511 times.
As a result, there is a problem that the synchronization establishment processing time is increased and the bit error rate measurement processing efficiency for the input signal of the bit error measurement device is greatly reduced.

【0022】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、並列入力信号のビットパターンのフレーム
を検出するフレーム検出部を設けることにより、同期制
御部における並列入力信号の並列基準信号に対する適合
ビット配列の検索処理を省略でき、誤り信号の読込み回
数を低減でき、同期確立に要する処理時間を短縮できビ
ット誤り率測定処理能率を向上できるビット誤り測定装
置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of such circumstances, and by providing a frame detection unit for detecting a frame of a bit pattern of a parallel input signal, the synchronization control unit can control the parallel input signal with respect to the parallel reference signal. It is an object of the present invention to provide a bit error measuring device capable of omitting a search process for a suitable bit array, reducing the number of times of reading an error signal, shortening a processing time required for establishing synchronization, and improving a bit error rate measurement processing efficiency.

【0023】また、フレーム検出部に直列方向のビット
値を検出する機能を付加することによつて、一回の設定
処理で同期を確立でき、ビット誤り率測定処理能率をさ
らに向上できるビット誤り測定装置を提供することを目
的とする。
Further, by adding a function of detecting a bit value in the serial direction to the frame detection unit, synchronization can be established by a single setting process, and the bit error rate measurement processing efficiency can be further improved. It is intended to provide a device.

【0024】[0024]

【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明のビット誤り測定装置においては、外部から入
力された所定周期のビットパターンを有した入力信号を
複数ビット構成の並列入力信号に変換する直列/並列変
換部と、直列/並列変換部から出力された並列入力信号
におけるビットパターンのフレームを検出して並列方向
のビット配列を検出するフレーム検出部と、入力信号の
ビットパターンと同一のビットパターンを有し、このビ
ットパターンを複数ビット構成の並列基準信号として出
力する基準パターン信号発生部と、フレーム検出部で検
出された並列入力信号の並列方向のビット配列を並べ換
えて、基準パターン信号発生部から出力された並列基準
信号の並列方向のビット配列に一致させるビット配列並
べ替え部と、ビット配列並べ替え部から出力された並列
入力信号と基準パターン信号発生部から出力された並列
基準信号とを比較して不一致の場合に誤り信号を出力す
る誤り検出部と、誤り検出部から出力される誤り信号が
規定量以下になるように基準パターン信号発生部から出
力される並列基準信号の出力タイミングを調整して、ビ
ット配列並べ替え部から出力される並列入力信号と並列
基準信号との間の同期確立を行う同期制御部と、同期制
御部にて同期確立が行われたのちに、誤り検出部から出
力される誤り信号に基づいて入力信号のビット誤り率を
算出する誤り率算出部とを備えている。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a bit error measuring device which converts an externally input signal having a bit pattern of a predetermined period into a parallel input signal having a plurality of bits. A serial / parallel converter for converting, a frame detector for detecting a bit pattern frame in a parallel input signal output from the serial / parallel converter to detect a bit arrangement in a parallel direction, and the same as the bit pattern of the input signal A reference pattern signal generator that outputs the bit pattern as a parallel reference signal having a plurality of bits, and a bit arrangement in a parallel direction of the parallel input signal detected by the frame detector are rearranged to obtain a reference pattern. A bit array rearranging unit for matching the bit array in the parallel direction of the parallel reference signal output from the signal generating unit; An error detection unit that compares the parallel input signal output from the array rearrangement unit with the parallel reference signal output from the reference pattern signal generation unit and outputs an error signal when there is a mismatch, and outputs the error signal from the error detection unit The output timing of the parallel reference signal output from the reference pattern signal generator is adjusted so that the error signal is equal to or less than a prescribed amount, and the output timing of the parallel input signal and the parallel reference signal output from the bit arrangement rearranging unit is adjusted. A synchronization control unit that establishes synchronization, and an error rate calculation unit that calculates a bit error rate of an input signal based on an error signal output from the error detection unit after synchronization is established by the synchronization control unit. Have.

【0025】このように構成されたビット誤り測定装置
においては、フレーム検出部は、直列/並列変換部から
出力された並列入力信号におけるビットパターンのフレ
ームを検出して並列方向のビット配列を検出する。すな
わち、入力信号が直列/並列変換部において、どのビッ
ト配列を有した並列入力信号に変換されたかがこのフレ
ーム検出部で検出される。
In the bit error measuring device configured as described above, the frame detector detects a frame of a bit pattern in the parallel input signal output from the serial / parallel converter and detects a bit arrangement in the parallel direction. . That is, in the serial / parallel converter, the frame detector detects which bit arrangement has been converted to a parallel input signal.

【0026】一方、基準パターン信号発生部は予め定め
られた基準のビット配列を有した並列基準信号を出力す
る。ビット配列並べ替え部は、フレーム検出部で既知と
なったビット配列を有する並列入力信号のビット配列を
並列基準信号の基準のビット配列へ変換する。すなわ
ち、並列入力信号を構成する各信号の配列を並列基準信
号を構成する各信号の配列に一致させる。
On the other hand, the reference pattern signal generator outputs a parallel reference signal having a predetermined reference bit arrangement. The bit arrangement rearranging unit converts the bit arrangement of the parallel input signal having the bit arrangement known by the frame detection unit into the reference bit arrangement of the parallel reference signal. That is, the arrangement of each signal constituting the parallel input signal is matched with the arrangement of each signal constituting the parallel reference signal.

【0027】したがって、この状態において、同期制御
部は、基準パターン信号発生部から出力される並列基準
信号の出力タイミングを調節するのみで、並列入力信号
と並列基準信号との間の同期確立を得ることができる。
その結果、少なくとも、ビット配列を順番に変更してい
く処理時間だけ同期確立処理に要する時間が短縮され
る。よって、ビット誤り測定装置全体におけるビット誤
り測定処理能率が向上する。
Therefore, in this state, the synchronization control unit obtains synchronization between the parallel input signal and the parallel reference signal only by adjusting the output timing of the parallel reference signal output from the reference pattern signal generation unit. be able to.
As a result, at least the time required for the synchronization establishment processing is reduced by the processing time for sequentially changing the bit arrangement. Therefore, the bit error measurement processing efficiency in the entire bit error measurement device is improved.

【0028】また、別の発明のビット誤り測定装置にお
いては、外部から入力された所定周期のビットパターン
を有した入力信号を複数ビット構成の並列入力信号に変
換する直列/並列変換部と、直列/並列変換部から出力
された並列入力信号におけるビットパターンのフレーム
を検出して並列方向のビット配列及び直列方向の各ビッ
ト値を検出するフレーム検出部と、入力信号のビットパ
ターンと同一のビットパターンを有し、このビットパタ
ーンを複数ビット構成の並列基準信号として出力する基
準パターン信号発生部と、フレーム検出部で検出された
並列測定信号の並列方向のビット配列を並べ替えて、基
準パターン信号発生部から出力された並列基準信号の並
列方向のビット配列に一致させるビット配列並べ替え部
と、基準パターン信号発生部から出力される並列基準信
号の直列方向の各ビットの出力タイミングをフレーム検
出部で検出された直列方向の各ビットに一致させる出力
タイミング設定部と、ビット配列並べ替え部から出力さ
れた並列入力信号と基準パターン信号発生部から出力さ
れた並列基準信号とを比較して不一致の場合に誤り信号
を出力する誤り検出部と、誤り検出部から出力される誤
り信号に基づいて入力信号のビット誤り率を算出する誤
り率算出部とを備えている。
According to another aspect of the present invention, there is provided a bit error measuring device, comprising: a serial / parallel converter for converting an externally input input signal having a bit pattern of a predetermined period into a parallel input signal having a plurality of bits; A frame detector that detects a frame of a bit pattern in a parallel input signal output from a parallel / parallel converter and detects a bit arrangement in a parallel direction and a bit value in a serial direction, and a bit pattern identical to the bit pattern of the input signal A reference pattern signal generating unit that outputs this bit pattern as a parallel reference signal having a plurality of bits, and a bit pattern in a parallel direction of the parallel measurement signal detected by the frame detecting unit is rearranged to generate a reference pattern signal. A bit arrangement rearranging unit for matching the bit arrangement in the parallel direction of the parallel reference signal output from the unit, and a reference pattern An output timing setting unit that matches the output timing of each bit in the serial direction of the parallel reference signal output from the signal generation unit with each bit in the serial direction detected by the frame detection unit; An error detector that compares the parallel input signal with the parallel reference signal output from the reference pattern signal generator and outputs an error signal when there is a mismatch, and an input signal based on the error signal output from the error detector. An error rate calculator for calculating a bit error rate.

【0029】このように構成されたビット誤り測定装置
においては、フレーム検出部は直列/並列変換部から出
力される並列入力信号における前述した並列方向のビッ
ト配列のみならず、直列方向の各ビット値を検出してい
る。すなわち、入力信号のビットパターン列を並列に変
換した場合におけるビットパターン列の出力タイミング
を検出している。
In the bit error measuring device configured as described above, the frame detecting unit performs not only the above-described parallel bit arrangement in the parallel input signal output from the serial / parallel conversion unit but also each bit value in the serial direction. Has been detected. That is, the output timing of the bit pattern sequence when the bit pattern sequence of the input signal is converted in parallel is detected.

【0030】そして、出力タイミング設定部は、基準パ
ターン信号発生部から出力される並列基準信号の直列方
向の各ビットの出力タイミングをフレーム検出部で検出
された直列方向の各ビットの出力タイミングに一致させ
ている。
The output timing setting section matches the output timing of each bit in the serial direction of the parallel reference signal output from the reference pattern signal generation section with the output timing of each bit in the serial direction detected by the frame detection section. Let me.

【0031】したがって、この時点で並列基準信号と並
列入力信号とのビットパターンにおける出力タイミング
は一致しているので、両者の同期を取るために、並列基
準信号の出力タイミングを順番にづらせる処理は必要な
い。よって、並列入力信号と並列基準信号との間の同期
を、何等試行錯誤を行うことなく、ビット配列並べ替え
部と出力タイミング設定部とによって即座に確立でき
る。
Therefore, at this time, the output timings of the parallel reference signal and the parallel input signal in the bit pattern coincide with each other. Therefore, in order to synchronize the two, the process of sequentially changing the output timing of the parallel reference signal is performed. unnecessary. Therefore, synchronization between the parallel input signal and the parallel reference signal can be immediately established by the bit arrangement rearranging unit and the output timing setting unit without performing any trial and error.

【0032】[0032]

【発明の実施の形態】以下本発明の各実施形態を図面を
用いて説明する。 (第1実施形態)図1は本発明の第1実施形態に係わる
ビット誤り測定装置の概略構成を示すブロック図であ
る。図3に示す従来のビット誤り測定装置と同一部分に
は同一符号が付してある。したがって、重複する部分の
詳細説明は省略されている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. (First Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a bit error measuring device according to a first embodiment of the present invention. The same parts as those of the conventional bit error measuring device shown in FIG. Therefore, the detailed description of the overlapping part is omitted.

【0033】外部から入力端子1を介して入力された入
力信号aは直列/並列変換部2へ入力される。直列/並
列変換部2は入力された入力信号aをNビット構成の並
列入力信号Aへ変換する。この直列/並列変換された並
列入力信号Aは、図5に示すように、N本の信号a1
2 ,…,aN で構成される。
An input signal a externally input via the input terminal 1 is input to the serial / parallel converter 2. The serial / parallel converter 2 converts the input signal a into an N-bit parallel input signal A. As shown in FIG. 5, the serial / parallel-converted parallel input signal A has N signals a 1 ,
a 2 ,..., a N.

【0034】そして、入力信号aに含まれる各データを
並列入力信号AにおけるN本の各信号a1 ,a2 ,…,
N のうちのどの信号に割振るかを示す「ビット配列」
は、この直列/並列変換部2に入力された入力信号aに
おける1フレームを構成するビットパターンの先頭デー
タが入力した時点における次にデータを書込むべき信号
に依存する。したがって、図5に示す例えば(1) 〜 (4)
(N=4の場合)の「ビット配列」のうちのどの「ビッ
ト配列」になるかは一義的に定まらない。
Then, each data included in the input signal a is converted into N signals a 1 , a 2 ,.
indicates allocate to which the signal of a N "bit sequence"
Depends on the signal to be written next at the time when the head data of the bit pattern constituting one frame in the input signal a input to the serial / parallel converter 2 is input. Therefore, for example, (1) to (4) shown in FIG.
Which “bit array” of the “bit array” (in the case of N = 4) is not uniquely determined.

【0035】直列/並列変換部2から出力された並列入
力信号Aはビット配列並べ替え部11及びフレーム検出
部12へ入力される。フレーム検出部12は、内部記憶
部に入力信号aの擬似ランダムパターンの1フレーム分
のビットパターンを記憶しており、並列入力信号Aを構
成する各信号a1 ,a2 ,…,aN の直列方向(時刻方
向)の各ビット値(データ値)を読取って、各信号a
1 ,a2 ,…,aN の直列方向の各ビット値の配列か
ら、該当並立入力信号Aの並列方向のビット配列が、N
種類のビット配列のうちのどのビット配列であるかを検
出する。フレーム検出部12は、検出した並列入力信号
Aのビット配列をビット配列並べ替え部11へ送出す
る。
The parallel input signal A output from the serial / parallel converter 2 is input to the bit arrangement rearranging section 11 and the frame detecting section 12. The frame detection unit 12 stores a bit pattern of one frame of the pseudo random pattern of the input signal a in the internal storage unit, and outputs the signals a 1 , a 2 ,. Each bit value (data value) in the serial direction (time direction) is read and each signal a
From the array of bit values in the serial direction of 1 , a 2 ,..., A N , the bit array of the corresponding parallel input signal A in the parallel direction is N
It detects which bit array of the type of bit array. The frame detection unit 12 sends the detected bit arrangement of the parallel input signal A to the bit arrangement rearranging unit 11.

【0036】一方、基準パターン信号発生部8は、図4
に示すように、入力するクロック信号c2 に同期して、
入力信号aと同一信号パターンを有した擬似ランダムパ
ターン(PRBS)の各ビットデータを、前記直列/並
列変換部2と同様にNビット構成の並列基準信号Dとし
て出力する。
On the other hand, the reference pattern signal generator 8
As shown in, in synchronism with the clock signal c 2 to be input,
Each bit data of a pseudo-random pattern (PRBS) having the same signal pattern as the input signal a is output as an N-bit parallel reference signal D as in the serial / parallel converter 2.

【0037】したがって、この基準パターン信号発生部
8から出力される並列基準信号Dは、図4に示すよう
に、N本の信号d1 ,d2 ,…,dN で構成されてい
る。Nビット構成の基準並列信号Dを出力する。そし
て、この基準並列信号Dの並列方向のビット配列は、信
号d1 に1フレームのビットパターンの先頭データ
[1]が設定されるビット配列である。この基準のビッ
ト配列を有したNビット構成の基準並列信号Dは誤り検
出部3へ送出される。
Therefore, the parallel reference signal D output from the reference pattern signal generator 8 is composed of N signals d 1 , d 2 ,..., D N as shown in FIG. An N-bit reference parallel signal D is output. The bit sequence of the parallel direction of the reference parallel signal D is the bit sequence leading data [1] is set in the bit pattern of one frame signal d 1. The N-bit reference parallel signal D having the reference bit array is sent to the error detection unit 3.

【0038】ビット配列並べ替え部11は、フレーム検
出部12で既知となったビット配列を有する並列入力信
号Aのビット配列を、基準パターン信号発生部8から出
力された並列基準信号Dの基準のビット配列に一致する
ように、N本の各信号a1 ,a2 ,…,aN の配列順を
変更する。
The bit array rearranging section 11 converts the bit array of the parallel input signal A having the bit array known by the frame detecting section 12 into the reference of the parallel reference signal D output from the reference pattern signal generating section 8. The order of arrangement of the N signals a 1 , a 2 ,..., A N is changed so as to match the bit arrangement.

【0039】例えば、図5に示すように、N=4であ
り、(1) のビット配列が基準並列信号Dが有する基準の
ビット配列である。そして、フレーム検出部12で検出
された並列入力信号Aのビット配列が(4) のビット配列
の場合、信号a2 →a1 ,a3→a2 ,a4 →a3 ,a1
→a4 へ各信号の内容を移動させ、かつ移動後の各信
号a2 ,a3 ,a4 の各データを1ビット後方へシフト
させる。その結果、(4)のビット配列が(1) の基本のビ
ット配列に変換される。
For example, as shown in FIG. 5, N = 4, and the bit arrangement of (1) is the reference bit arrangement of the reference parallel signal D. When the bit array of the parallel input signal A detected by the frame detection unit 12 is the bit array of (4), the signals a 2 → a 1 , a 3 → a 2 , a 4 → a 3 , a 1
→ to move the contents of each signal to a 4, and the signal a 2 after the movement, a 3, to shift the data of a 4 to 1 bit backwards. As a result, the bit array of (4) is converted to the basic bit array of (1).

【0040】ビット配列並べ替え部11は、ピット配列
を基本のビット配列に一致させた並列入力信号Aを誤り
検出部3へ送出する。誤り検出部3は、トリガ端子に印
加されているクロック信号c2 の立上がりタイミングに
同期して、並列入力信号Aを構成する各信号a1 ,a
2 ,…,aN の各ビット値と並列基準信号Dを構成する
各信号d1 ,d2 ,…,dN の各ビット値とをそれぞれ
比較して、両者が異なるときのみ、ハイレベルのビット
誤り信号e1 ,e2 ,…eN からなる並列誤り信号Eを
誤り率算出部10及び同期制御部13へ送出する。
The bit arrangement rearranging section 11 sends the parallel input signal A in which the pit arrangement matches the basic bit arrangement to the error detection section 3. Error detecting unit 3 in synchronization with the rising timing of the clock signal c 2 being applied to the trigger terminal, each signal a 1, a constituting the parallel input signals A
2, ..., the signals d 1, d 2 of a parallel reference signal D and the bit values of a N, ..., by comparing each with each bit value of d N, when they are different only in a high level The parallel error signal E including the bit error signals e 1 , e 2 ,... E N is sent to the error rate calculator 10 and the synchronization controller 13.

【0041】同期制御部13は、ビット配列並べ替え部
11から出力された並列入力信号Aと基準パターン信号
発生部8から出力された並列基準信号Dとの間の同期確
立処理を行う。なお、並列入力信号Aのビット配列と並
列基準信号Dのビット配列とは既に一致しているので、
各信号a1 ,a2 ,…,aN と各信号d1 ,d2 ,…,
N との間の同期を取るのみでよい。
The synchronization control unit 13 performs synchronization establishment processing between the parallel input signal A output from the bit arrangement rearranging unit 11 and the parallel reference signal D output from the reference pattern signal generation unit 8. Since the bit arrangement of the parallel input signal A and the bit arrangement of the parallel reference signal D already match,
Each signal a 1 , a 2 ,..., A N and each signal d 1 , d 2 ,.
It is only necessary to synchronize with d N.

【0042】すなわち、基準パターン信号発生部8から
出力される並列基準信号Dの出力タイミングを1ビット
(1クロック)づつ移動させていきながら、誤り検出部
3から出力される並列誤り信号Eの各誤り信号e1 ,e
2 ,…,eN 数が規定値以下に低下した時点で同期が確
立したと判断して、同期確立信号kを誤り算出部10へ
送出する。
That is, while shifting the output timing of the parallel reference signal D output from the reference pattern signal generator 8 by one bit (one clock), each of the parallel error signals E output from the error detector 3 is shifted. Error signals e 1 and e
2, ..., it is determined that synchronization is established when the e N number falls below a specified value, transmits a synchronization establishment signal k to the error calculating unit 10.

【0043】誤り率算出部10は、同期確立信号kを受
領すると、誤り率検出部3から出力される並列誤り信号
Eを取込んで、各誤り信号e1 ,e2 ,…,eN 数を合
算して、入力信号aにおける誤り率を算出する。
The error rate calculation unit 10, upon receiving the synchronization establishment signal k, is captures and parallel error signal E output from the error rate detection unit 3, the error signal e 1, e 2, ..., e N number To calculate the error rate of the input signal a.

【0044】このように構成されたビット誤り測定装置
においては、フレーム検出部12は、直列/並列変換部
2から出力された並列入力信号Aにおける元の入力信号
aを構成するビットパターンのフレームを検出して該当
並列入力信号Aのビット配列を有するかを検出する。す
なわち、入力信号aが直列/並列変換部2において、
(1) 〜 (N)までのN種類のビット配列のうちのどのビッ
ト配列を有した並列入力信号Aに変換されたかを検出す
る。
In the bit error measuring device configured as described above, the frame detector 12 detects the frame of the bit pattern constituting the original input signal a in the parallel input signal A output from the serial / parallel converter 2. It is detected whether or not the bit sequence of the corresponding parallel input signal A is detected. That is, when the input signal a is input to the serial / parallel converter 2,
(1) It is detected which of the N types of bit arrays from (N) has been converted to the parallel input signal A having the bit array.

【0045】一方、基準パターン信号発生部8は予め定
められた図4に示す基準のビット配列を有した並列基準
信号Dを出力する。ビット配列並べ替え部11は、フレ
ーム検出部12で既知となったビット配列を有する並列
入力信号Aのビット配列を並列基準信号Dの基準のビッ
ト配列へ変換する。すなわち、並列入力信号Aを構成す
る各信号a1 ,a2 ,…,aN の配列を並列基準信号D
を構成する各信号d1,d2 ,…,dN の配列に一致さ
せる。
On the other hand, the reference pattern signal generator 8 outputs a parallel reference signal D having a predetermined reference bit arrangement shown in FIG. The bit arrangement rearranging unit 11 converts the bit arrangement of the parallel input signal A having the bit arrangement known by the frame detection unit 12 into the reference bit arrangement of the parallel reference signal D. That is, each signal forming a parallel input signal A a 1, a 2, ... , parallel array of a N reference signal D
Each signal constituting the d 1, d 2, ..., to match the sequence of d N.

【0046】したがって、この状態において、同期制御
部13は、基準パターン信号発生部8から出力される並
列基準信号Dの出力タイミングを調節するのみで、並列
入力信号Aと並列基準信号Dとの間の同期確立を得るこ
とができる。その結果、少なくとも、ビット配列を順番
に変更していく処理時間だけ同期確立処理に要する時間
が短縮される。
Therefore, in this state, the synchronization control unit 13 only adjusts the output timing of the parallel reference signal D output from the reference pattern signal generation unit 8 and controls the timing between the parallel input signal A and the parallel reference signal D. Can be established. As a result, at least the time required for the synchronization establishment processing is reduced by the processing time for sequentially changing the bit arrangement.

【0047】よって、図3に示す従来のビット誤り測定
装置に比較して、ビット誤り測定装置全体におけるビッ
ト誤り測定処理能率が向上する。 (第2実施形態)図2は本発明の第2実施形態に係わる
ビット誤り測定装置の概略構成を示すブロック図であ
る。図1に示す第1実施形態のビット誤り測定装置と同
一部分には同一符号を付して重複する部分の詳細説明を
省略する。
Therefore, the bit error measurement processing efficiency of the entire bit error measurement device is improved as compared with the conventional bit error measurement device shown in FIG. (Second Embodiment) FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration of a bit error measuring device according to a second embodiment of the present invention. The same parts as those of the bit error measuring device of the first embodiment shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and detailed description of the overlapping parts will be omitted.

【0048】この第2実施形態装置においては図1に示
す第1実施形態装置における同期制御部13を排除し
て、新たに出力タイミング設定部14を設けている。そ
して、フレーム検出部12aは、直列/並列変換部2か
ら出力されたNビット構成の並列入力信号Aの並列方向
のビット配列を検出すると共に、この並列入力信号Aを
構成するN個本の各信号a1 ,a2 ,….aN の直列方
向の各ビット値(データ値)を読取る。すなわち、入力
信号aのビットパターン列を並列に変換した場合におけ
るビットパターン列の出力タイミングを検出している。
In the apparatus of the second embodiment, an output timing setting section 14 is newly provided by eliminating the synchronization control section 13 in the apparatus of the first embodiment shown in FIG. The frame detection unit 12a detects the bit arrangement in the parallel direction of the N-bit parallel input signal A output from the serial / parallel conversion unit 2, and detects each of the N pieces of the parallel input signal A. The signals a 1 , a 2 ,. a. Read each bit value (data value) in the serial direction of N. That is, the output timing of the bit pattern sequence when the bit pattern sequence of the input signal a is converted in parallel is detected.

【0049】そして、フレーム検出部12aは、検出し
たビット配列をビット配列並べ替え部11へ送出すると
共に、ビットパターン列の出力タイミングを出力タイミ
ング設定部14へ送出する。
The frame detector 12a sends the detected bit arrangement to the bit arrangement rearranging section 11, and sends the output timing of the bit pattern sequence to the output timing setting section 14.

【0050】出力タイミング設定部14は、基準パター
ン信号発生部8から出力される並列基準信号Dを構成す
るN本の各信号d1 ,d2 ,…,dN の直列方向の各ビ
ット値(データ値)の出力タイミング、すなわち、並列
基準信号Dの基となるPRBS信号のビットパターン列
の出力タイミングを、フレーム検出部12aで検出され
た出力タイミングに一致させる。
The output timing setting section 14 sets each bit value ( N ) of the N signals d 1 , d 2 ,..., D N constituting the parallel reference signal D output from the reference pattern signal generation section 8 in the serial direction. The output timing of the data value), that is, the output timing of the bit pattern sequence of the PRBS signal that is the basis of the parallel reference signal D, is made to coincide with the output timing detected by the frame detection unit 12a.

【0051】したがって、この時点でにおいては、並列
入力信号Aと並列基準信号Dとの並列方向のビット配列
は一致しており、さらに、並列入力信号Aと並列基準信
号Dとの1フレームを構成するビットパターンにおける
例えば先頭ビット(データ)の出力タイミングは一致し
ている。
Therefore, at this point, the parallel input signal A and the parallel reference signal D have the same bit arrangement in the parallel direction, and furthermore, the parallel input signal A and the parallel reference signal D constitute one frame. For example, the output timing of the first bit (data) in the corresponding bit pattern matches.

【0052】したがって、この第2実施形態において
は、並列入力信号Aと並列基準信号Dとの間の同期を取
るために、図1の第1実施形態で示したように並列基準
信号Dの出力タイミングを順番にづらせる処理は必要な
い。
Therefore, in the second embodiment, in order to synchronize the parallel input signal A and the parallel reference signal D, as shown in the first embodiment of FIG. There is no need to perform the processing for changing the timing in order.

【0053】よって、並列入力信号Aと並列基準信号D
との間の同期を、何等試行錯誤を行うことなく、ビット
配列並べ替え部11と出力タイミング設定部14とによ
って即座に確立できる。
Therefore, the parallel input signal A and the parallel reference signal D
Can be immediately established by the bit arrangement rearranging unit 11 and the output timing setting unit 14 without performing any trial and error.

【0054】したがって、第2実施形態のビット誤り測
定装置においては、図3に示す従来のビット誤り測定装
置に比較しては勿論のこと、図1に示す第1実施形態の
ビット誤り測定装置に比較しても、ビット誤り測定処理
能率がより一層向上する。
Therefore, in the bit error measuring device of the second embodiment, the bit error measuring device of the first embodiment shown in FIG. Even in comparison, the bit error measurement processing efficiency is further improved.

【0055】[0055]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のビット誤
り測定装置においては、並列入力信号のビットパターン
のフレームを検出してビット配列を検出するフレーム検
出部を設け、この検出されたビット配列を用いて、並列
入力信号のビット配列を並列基準信号のビット配列に一
致させている。
As described above, the bit error measuring device of the present invention is provided with the frame detecting section for detecting the frame of the bit pattern of the parallel input signal and detecting the bit arrangement. Is used to match the bit arrangement of the parallel input signal with the bit arrangement of the parallel reference signal.

【0056】したがつて、同期制御部における並列入力
信号の並列基準信号に対する適合ビット配列の検索処理
を省略でき、誤り信号の読込み回数を低減でき、同期確
立に要する処理時間を短縮でき装置全体のビット誤り率
測定処理能率を向上できる。
Therefore, it is possible to omit the process of searching for a suitable bit array of the parallel input signal with respect to the parallel reference signal in the synchronization control unit, to reduce the number of times of reading an error signal, and to shorten the processing time required for establishing synchronization. The bit error rate measurement processing efficiency can be improved.

【0057】また、フレーム検出部に並列方向のビット
配列のみならず直列方向のビット値を検出する機能を付
加している。したがつて、一回の設定処理で並列入力信
号と並列基準信号との間の同期を確立でき、ビット誤り
率測定処理能率をさらに向上できる。
Further, a function of detecting not only the bit arrangement in the parallel direction but also the bit value in the serial direction is added to the frame detection unit. Therefore, the synchronization between the parallel input signal and the parallel reference signal can be established by one setting process, and the bit error rate measurement processing efficiency can be further improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の第1実施形態に係わるビット誤り測
定装置の概略構成を示すブロック図
FIG. 1 is a block diagram showing a schematic configuration of a bit error measuring device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の第2実施形態に係わるビット誤り測
定装置の概略構成を示すブロック図
FIG. 2 is a block diagram showing a schematic configuration of a bit error measuring device according to a second embodiment of the present invention.

【図3】 従来のビット誤り測定装置の概略構成を示す
ブロック図
FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of a conventional bit error measuring device.

【図4】 基本パターン信号発生部から出力される並列
基準信号を構成する各信号のタイムチャート
FIG. 4 is a time chart of each signal constituting a parallel reference signal output from a basic pattern signal generator.

【図5】 直列/並列部から出力される並列入力信号の
取りうる各ビット配列を示す図
FIG. 5 is a diagram illustrating each possible bit arrangement of a parallel input signal output from a serial / parallel unit;

【図6】 従来のビット誤り測定装置の同期制御部の動
作を示す流れ図
FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the synchronization control unit of the conventional bit error measuring device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2…直列/並列変換部 3…誤り検出部 4…クロック再生回路 5…分周器 8…基本パターン信号発生部 10…誤り率算出部 11…ビット配列並べ替え部 12,12a…フレーム検出部 13…同期制御部 14…出力タイミング設定部 2 Serial / parallel conversion unit 3 Error detection unit 4 Clock recovery circuit 5 Frequency divider 8 Basic pattern signal generation unit 10 Error rate calculation unit 11 Bit arrangement rearrangement unit 12, 12a Frame detection unit 13 ... Synchronization control unit 14 ... Output timing setting unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H04L 1/00 H04L 29/14 H04L 7/00 H04J 3/00 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H04L 1/00 H04L 29/14 H04L 7/00 H04J 3/00

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 外部から入力された所定周期のビットパ
ターンを有した入力信号を複数ビット構成の並列入力信
号に変換する直列/並列変換部(2) と、 この直列/並列変換部から出力された並列入力信号にお
ける前記ビットパターンのフレームを検出して並列方向
のビット配列を検出するフレーム検出部(12)と、 前記入力信号のビットパターンと同一のビットパターン
を有し、このビットパターンを複数ビット構成の並列基
準信号として出力する基準パターン信号発生部(8) と、 前記フレーム検出部で検出された前記並列入力信号の並
列方向のビット配列を並べ換えて、前記基準パターン信
号発生部から出力された並列基準信号の並列方向のビッ
ト配列に一致させるビット配列並べ替え部(11)と、 このビット配列並べ替え部から出力された並列入力信号
と前記基準パターン信号発生部から出力された並列基準
信号とを比較して不一致の場合に誤り信号を出力する誤
り検出部(3) と、 この誤り検出部から出力される誤り信号が規定量以下に
なるように前記基準パターン信号発生部から出力される
並列基準信号の出力タイミングを調整して、前記ビット
配列並べ替え部から出力される並列入力信号と前記並列
基準信号との間の同期確立を行う同期制御部(13)と、 この同期制御部にて同期確立が行われたのちに、前記誤
り検出部から出力される誤り信号に基づいて前記入力信
号のビット誤り率を算出する誤り率算出部(10)とを備え
たビット誤り測定装置。
1. A serial / parallel converter (2) for converting an externally input input signal having a bit pattern of a predetermined period into a parallel input signal having a plurality of bits, and an output from the serial / parallel converter. A frame detection unit (12) that detects a frame of the bit pattern in the parallel input signal and detects a bit arrangement in the parallel direction, and has the same bit pattern as the bit pattern of the input signal. A reference pattern signal generation unit (8) that outputs a parallel reference signal having a bit configuration, and rearranges a bit arrangement in a parallel direction of the parallel input signal detected by the frame detection unit, and is output from the reference pattern signal generation unit. A bit arrangement rearranging unit (11) for matching the bit arrangement of the parallel reference signal in the parallel direction, and a parallel input signal output from the bit arrangement rearranging unit. An error detection unit (3) that compares the signal with the parallel reference signal output from the reference pattern signal generation unit and outputs an error signal when there is a mismatch, and an error signal output from the error detection unit is a specified amount. Adjusting the output timing of the parallel reference signal output from the reference pattern signal generation unit so that the synchronization between the parallel input signal output from the bit arrangement rearranging unit and the parallel reference signal is established as follows. A synchronization control unit (13) for performing a synchronization, and after the synchronization is established in the synchronization control unit, an error rate for calculating a bit error rate of the input signal based on an error signal output from the error detection unit A bit error measurement device comprising a calculation unit (10).
【請求項2】 外部から入力された所定周期のビットパ
ターンを有した入力信号を複数ビット構成の並列入力信
号に変換する直列/並列変換部(2) と、 この直列/並列変換部から出力された並列入力信号にお
ける前記ビットパターンのフレームを検出して並列方向
のビット配列及び直列方向の各ビット値を検出するフレ
ーム検出部(12a) と、 前記入力信号のビットパターンと同一のビットパターン
を有し、このビットパターンを複数ビット構成の並列基
準信号として出力する基準パターン信号発生部(8) と、 前記フレーム検出部で検出された並列測定信号の並列方
向のビット配列を並べ換えて、前記基準パターン信号発
生部から出力された並列基準信号の並列方向のビット配
列に一致させるビット配列並べ替え部(11)と、 前記基準パターン信号発生部から出力される並列基準信
号の直列方向の各ビットの出力タイミングを前記フレー
ム検出部で検出された直列方向の各ビットに一致させる
出力タイミング設定部(14)と、 前記ビット配列並べ替え部から出力された並列入力信号
と前記基準パターン信号発生部から出力された並列基準
信号とを比較して不一致の場合に誤り信号を出力する誤
り検出部(3) と、 この前記誤り検出部から出力される誤り信号に基づいて
前記入力信号のビット誤り率を算出する誤り率算出部(1
0)とを備えたビット誤り測定装置。
2. A serial / parallel converter (2) for converting an externally input input signal having a bit pattern of a predetermined period into a parallel input signal having a plurality of bits, and an output from the serial / parallel converter. A frame detector (12a) for detecting a frame of the bit pattern in the parallel input signal and detecting each bit value in the parallel direction and each bit value in the serial direction; and a bit pattern identical to the bit pattern of the input signal. A reference pattern signal generator (8) that outputs this bit pattern as a parallel reference signal having a plurality of bits, and a rearrangement of a parallel bit arrangement of the parallel measurement signal detected by the frame detector, the reference pattern A bit arrangement rearranging section (11) for matching the bit arrangement in the parallel direction of the parallel reference signal output from the signal generation section; and An output timing setting unit (14) that matches the output timing of each bit in the serial direction of the parallel reference signal output from the unit with each bit in the serial direction detected by the frame detection unit; and An error detection unit (3) that compares the output parallel input signal with the parallel reference signal output from the reference pattern signal generation unit and outputs an error signal when there is a mismatch, and outputs the error signal from the error detection unit. An error rate calculator (1) that calculates a bit error rate of the input signal based on the error signal
0).
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