JP3250319B2 - Magnetic head polishing equipment - Google Patents

Magnetic head polishing equipment

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JP3250319B2
JP3250319B2 JP10321093A JP10321093A JP3250319B2 JP 3250319 B2 JP3250319 B2 JP 3250319B2 JP 10321093 A JP10321093 A JP 10321093A JP 10321093 A JP10321093 A JP 10321093A JP 3250319 B2 JP3250319 B2 JP 3250319B2
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
  • Magnetic Heads (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ビデオテープレコーダ
(VTR)、ディジタルオーディオテープレコーダ(D
AT)等に用いられる回転磁気ヘッド機構に取付けられ
る磁気ヘッドチップのテープ摺動面を研摩する磁気ヘッ
ド研摩装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a video tape recorder (VTR) and a digital audio tape recorder (D).
The present invention relates to a magnetic head polishing apparatus for polishing a tape sliding surface of a magnetic head chip attached to a rotary magnetic head mechanism used in AT) or the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般にVTR等に使用される回転磁気ヘ
ッド機構としては、回転軸にモータのロータと磁気ヘッ
ド部が取付けられた回転ドラムとが固定されて、ロータ
と回転ドラムと回転軸とが一体的に回転する一般的な機
構が知られている。
2. Description of the Related Art In general, a rotary magnetic head mechanism used in a VTR or the like has a rotor of a motor and a rotary drum having a magnetic head mounted on a rotary shaft. A general mechanism that rotates integrally is known.

【0003】図6、図7は磁気ヘッド部を示す図で、図
6(b)、図7(b)に示すように磁気ヘッド部は回転
ドラムに取付けられるベース61と、このベース61に
固定された基板62と、ベース61に取付けられ、巻線
63が巻回されて基板62と電気的に接続された磁気ヘ
ッドチップ64とを備えている。
FIGS. 6 and 7 show a magnetic head portion. As shown in FIGS. 6 (b) and 7 (b), the magnetic head portion is attached to a base 61 attached to a rotating drum and fixed to the base 61. And a magnetic head chip 64 attached to the base 61, wound with a winding 63, and electrically connected to the substrate 62.

【0004】磁気ヘッドチップ64の先端の磁気テープ
と摺動するテープ摺動面65には丸みがつけられてお
り、テープ摺動方向についている曲面を半径の大きいラ
ージアールRと呼び(図6(a))、厚み方向について
いる曲面を半径の小さいスモールアールr(図7
(a))と呼んでいる。こうした曲面は一般的にラッピ
ングテープ(研摩テープ)を用いて研摩加工されてい
る。
The tape sliding surface 65 that slides on the magnetic tape at the tip of the magnetic head chip 64 is rounded, and a curved surface in the tape sliding direction is called a large radius R (see FIG. a)), a curved surface in the thickness direction is formed into a small radius r having a small radius (FIG. 7).
(A)). Such a curved surface is generally polished using a wrapping tape (abrasive tape).

【0005】この研摩加工は図8〜図10に示すよう
に、下カップ68と上カップ69とからなり矢印Bのよ
うに回転駆動される回転体としての円筒形部材(「カッ
プ」という)70にベース61に取付けられた磁気ヘッ
ドチップ64を、このベース61を介して回転ドラムに
取付けるように取付け、このカップ70にラッピングテ
ープ71を巻き付けて矢印Cのように徐々に移動させる
ことにより磁気ヘッドチップ64を研摩している。一旦
研摩を行なった部分のラッピングテープ71の研摩性が
大きく低下することから、カップ70の回転方向を一定
方向にしておくと磁気ヘッドチップ64の摺動方向の削
れ方が異なってしまうこととなり、これを防止するため
にカップ70の回転方向を一定時間毎に正逆回転させる
ようにしている。
As shown in FIGS. 8 to 10, this polishing is performed by a cylindrical member (referred to as a "cup") 70 as a rotating body composed of a lower cup 68 and an upper cup 69 and rotationally driven as shown by an arrow B. A magnetic head chip 64 mounted on a base 61 is mounted on the rotating drum via the base 61, and a wrapping tape 71 is wound around the cup 70 and is gradually moved as shown by an arrow C. The tip 64 is being polished. Since the abrasion of the lapping tape 71 in the once polished portion is greatly reduced, if the rotation direction of the cup 70 is kept constant, the manner of cutting the sliding direction of the magnetic head chip 64 will be different. In order to prevent this, the rotation direction of the cup 70 is rotated forward and backward at regular intervals.

【0006】また、ラッピングテープ71の一定の場所
を使用し続けるのを避けるために、上述のようにラッピ
ングテープ71を矢印C方向に徐々に送るとともに、カ
ップ70を軸方向に上下動させている(矢印D)。カッ
プ70が昇降する場合には、磁気ヘッドチップ64は図
10中の符号Eに示すような軌跡に従ってラッピングテ
ープ71に接触して研摩されることになる。
In order to avoid using a certain place of the wrapping tape 71 continuously, the wrapping tape 71 is gradually fed in the direction of arrow C and the cup 70 is moved up and down in the axial direction as described above. (Arrow D). When the cup 70 moves up and down, the magnetic head chip 64 comes into contact with the lapping tape 71 according to the locus indicated by the symbol E in FIG. 10 and is polished.

【0007】こうして形成された磁気ヘッドチップ64
のテープ摺動面65におけるスモールアール(r)(図
7(a)、図11、図12)の頂点位置Pの精度が、磁
気ヘッドチップ64の品質の良否を左右する。一般的に
は、この頂点位置Pは、図11(a)に示す如く摺動面
厚Tの半分の位置に設定して上下対称形にするのが最も
望ましく、図12(a)に示す如く頂点位置Pが摺動面
厚Tの半分の位置より一方にずれてしまうのは望ましく
なく不良品になってしまう。
The magnetic head chip 64 thus formed
The accuracy of the vertex position P of the small radius (r) (FIGS. 7A, 11 and 12) on the tape sliding surface 65 determines the quality of the magnetic head chip 64. In general, it is most desirable that the apex position P is set to a half position of the sliding surface thickness T as shown in FIG. 11 (a) so as to be vertically symmetrical, as shown in FIG. 12 (a). It is not desirable that the apex position P deviates to one side from the half position of the sliding surface thickness T, which results in a defective product.

【0008】これを検査する方法としては、図13に示
すように、干渉対物レンズ80を用いた方法が一般的で
ある。この方法は、参照ミラー面81からの反射光と、
磁気ヘッドチップ(この図では厚さを拡大して描いてあ
る)64の研摩完了したテープ摺動面65からの反射光
とをハーフミラー面82で干渉させて、干渉対物レンズ
80を通して観察している。
As a method of inspecting this, a method using an interference objective lens 80 is generally used, as shown in FIG. This method is based on the reflected light from the reference mirror surface 81,
The reflected light from the polished tape sliding surface 65 of the magnetic head chip (illustrated in this figure with an enlarged thickness) interferes with the half mirror surface 82 and is observed through the interference objective lens 80. I have.

【0009】この方法で測定すると、図11(a)、図
12(a)の測定結果をそれぞれ示す図11(b)、図
12(b)のようにテープ摺動面65の等高線が明暗の
干渉縞83となって観察される。なお、同図に示すよう
にテープ摺動面65には、平行な一対の充填ガラス部8
4と、この一対のガラス部84に挟まれた記録再生トラ
ック部85と、このトラック部85の中央に位置するギ
ャップ86とが形成されている。
When measured by this method, the contour lines of the tape sliding surface 65 are bright and dark as shown in FIGS. 11 (b) and 12 (b) showing the measurement results of FIGS. 11 (a) and 12 (a), respectively. Observed as interference fringes 83. As shown in the figure, a pair of parallel filled glass portions 8 are provided on the tape sliding surface 65.
4, a recording / reproducing track portion 85 sandwiched between the pair of glass portions 84, and a gap 86 located at the center of the track portion 85.

【0010】ラージアールRとスモールアールrとは一
般に異なった値であるので、干渉縞83はほぼ楕円形に
なる。しかして頂点位置Pが摺動面厚Tの中心に合致し
ている場合には(図11(a))、干渉縞83の中心位
置もこの頂点位置Pに合致する(図11(b))。干渉
縞83の中心位置は、多くの場合トラック部85から外
れないことが要求される。干渉縞83の中心位置が図1
2(b)に示す如くトラック部85から大きく外れてい
る場合には、テープ摺動面65は図12(a)に示す形
状をしていることとなり、この場合にはこの磁気ヘッド
チップ64は不良品となる。
Since the radius R and the small radius r are generally different values, the interference fringes 83 are substantially elliptical. When the vertex position P coincides with the center of the sliding surface thickness T (FIG. 11A), the center position of the interference fringe 83 also coincides with the vertex position P (FIG. 11B). . In many cases, it is required that the center position of the interference fringes 83 does not deviate from the track portion 85. The center position of the interference fringe 83 is shown in FIG.
When the magnetic head chip 64 is largely off the track portion 85 as shown in FIG. 2B, the tape sliding surface 65 has the shape shown in FIG. 12A. It becomes defective.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】ところで斯る従来の磁
気ヘッドチップ64のテープ摺動面65の研摩加工にお
いてはこの磁気ヘッドチップ64をベース61に取付け
た状態で行うので、この磁気ヘッドチップ64に不良品
が生じると、このベース61が付いたまま不良廃棄しな
ければならない不都合があった。
The polishing of the tape sliding surface 65 of the conventional magnetic head chip 64 is performed while the magnetic head chip 64 is mounted on the base 61. If a defective product occurs, there is a disadvantage that the defective product must be discarded with the base 61 attached.

【0012】また更にベース61に複数個の磁気ヘッド
チップ64を組み付けるタイプの磁気ヘッド部では、こ
の複数個の磁気ヘッドチップ64を同時に研摩加工する
為、この複数個の磁気ヘッドチップの夫々の先端形状を
任意に仕上げることができず、更にこの研摩量も個別に
制御出来ないためデプス精度等が悪くなる不都合があっ
た。
Further, in a magnetic head portion of a type in which a plurality of magnetic head chips 64 are assembled on the base 61, since the plurality of magnetic head chips 64 are polished simultaneously, the respective tips of the plurality of magnetic head chips are respectively polished. Since the shape cannot be finished arbitrarily and the amount of polishing cannot be controlled individually, there is a disadvantage that the depth accuracy and the like are deteriorated.

【0013】本発明は斯る点に鑑み磁気ヘッドチップの
同じものを精度よく仕上げることができる磁気ヘッド研
摩装置を提案せんとするものである。
In view of the above, the present invention proposes a magnetic head polishing apparatus capable of precisely finishing the same magnetic head chip.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明磁気ヘッド研摩装
置は例えば図1、図2、図3に示す如く、スピンドル1
に磁気ヘッドチップ64を取付け、このスピンドル1に
ラッピングテープ8をガイドシャフト7aを用いて接触
させ、このスピンドル1を回転させて、この磁気ヘッド
チップ64のテープ摺動面65を研摩加工すると共にこ
の磁気ヘッドチップ64のテープ摺動面65がこのスピ
ンドル1の外周面から突出するように、このスピンドル
1の外周面の内側で押しつけて取付けるためのチップ取
付け手段19,22をこのスピンドル1に設けた磁気ヘ
ッド研摩装置において、このスピンドル1はこの磁気ヘ
ッドチップ64をチャックするチャック部を上面に有す
る主スピンドル18とこの主スピンドル18の上方に接
続される上スピンドル21とよりなり、この上スピンド
ル21はこの主スピンドル18と同軸、同径で上下方向
のみに可動で、その外周面はこの磁気ヘッドチップ64
が突出する窓部24を除いて、この主スピンドル18の
外周面と接近して接続すると共にこの窓部24はこの主
スピンドル18とそれに接続するこの上スピンドル21
によって形成され、このチャック部は磁気ヘッドチップ
載置面25と、その1側に設けた段差26と、この段差
26にこの磁気ヘッドチップ64をばね圧で押し当てる
チップチャック19よりなると共にこの上スピンドル2
1はこのチャック部でチャックされたこの磁気ヘッドチ
ップ64を上方から軸方向にばね圧で押圧するチップ押
圧シャフト22を内蔵するものである。
A magnetic head polishing apparatus according to the present invention is, for example, as shown in FIGS.
The wrapping tape 8 is brought into contact with the spindle 1 by using the guide shaft 7a, and the spindle 1 is rotated to polish the tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64 and to attach the lapping tape 8 to the spindle 1. Chip mounting means 19 and 22 are provided on the spindle 1 for pressing and mounting inside the outer peripheral surface of the spindle 1 so that the tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64 projects from the outer peripheral surface of the spindle 1. In the magnetic head polishing apparatus, the spindle 1 includes a main spindle 18 having a chuck portion for chucking the magnetic head chip 64 on an upper surface, and an upper spindle 21 connected above the main spindle 18. It is coaxial with the main spindle 18, has the same diameter and is movable only in the vertical direction. The outer circumferential surface the magnetic head chip 64
With the exception of the window 24 from which the projection protrudes, it is closely connected to the outer peripheral surface of the main spindle 18 and the window 24 is connected to the main spindle 18 and the upper spindle 21 connected thereto.
The chuck portion comprises a magnetic head chip mounting surface 25, a step 26 provided on one side thereof, and a chip chuck 19 for pressing the magnetic head chip 64 against the step 26 with spring pressure. Spindle 2
Reference numeral 1 denotes a built-in chip pressing shaft 22 for pressing the magnetic head chip 64 chucked by the chuck portion from above in the axial direction by spring pressure.

【0015】[0015]

【0016】[0016]

【作用】本発明によれば磁気ヘッドチップ64のテープ
摺動面65をチップ単品で研摩するのでラージアール
R、スモールアールr、アールトップ位置Pを自由にセ
ッテングすることができ、磁気ヘッドチップ64の同じ
ものを精度良く仕上げることができる。
According to the present invention, since the tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64 is polished by a single chip, the radius R, the small radius r, and the radius top position P can be set freely. Can be finished with the same precision.

【0017】[0017]

【実施例】以下図面を参照して本発明磁気ヘッド研摩装
置の一実施例につき説明しよう。図1は本例による磁気
ヘッド研摩装置を全体として示す平面図であり、この図
1において、1は後述する如く磁気ヘッドチップ64を
取付け、所定速度で回転する如くなされたスピンドルを
示す。また11はラッピングテープ台を示し、このラッ
ピングテープ台11の一側にはラッピングテープ8を供
給するラッピングテープ供給リール8Sが設けられると
共にこのラッピングテープ台11の他側にこのラッピン
グテープ8を巻取るラッピングテープ巻取リール8Tを
設ける。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view of a magnetic head polishing apparatus according to an embodiment of the present invention; FIG. 1 is a plan view showing the entirety of a magnetic head polishing apparatus according to the present embodiment. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a spindle to which a magnetic head chip 64 is attached and which is rotated at a predetermined speed as described later. Reference numeral 11 denotes a wrapping tape table. A wrapping tape supply reel 8S for supplying the wrapping tape 8 is provided on one side of the wrapping tape table 11, and the wrapping tape 8 is wound on the other side of the wrapping tape table 11. A wrapping tape take-up reel 8T is provided.

【0018】このラッピングテープ供給リール8Sとラ
ッピングテープ巻取リール8Tとの間であって、スピン
ドル1方向に摺動自在に押圧板7を設ける。この押圧板
7のスピンドル1側に図1、図2に示す如きコ字状の切
欠を設け、このコ字状の切欠部にスピンドル1を配する
如くする。
A pressing plate 7 is provided between the wrapping tape supply reel 8S and the wrapping tape take-up reel 8T so as to be slidable in the spindle 1 direction. A U-shaped notch as shown in FIGS. 1 and 2 is provided on the spindle 1 side of the pressing plate 7, and the spindle 1 is arranged in the U-shaped notch.

【0019】この押圧板7のコ字状切欠部の2つの先端
部に夫々ガイドシャフト7a,7aを植立して設ける。
このガイドシャフト7a,7aに対し、このガイドシャ
フト7a,7aと共にラッピングテープ8を挟持するニ
ップシャフト30a,30aを設ける。この図1におい
て、7b,7bは押圧板7上に植立して設けたガイドシ
ャフト、31a,31a,31b,31bはラッピング
テープ台に設けたガイドシャフトを示し、このガイドシ
ャフト31a,31aに対し、このガイドシャフト31
a,31aとラッピングテープ8を挟持するニップシャ
フト30b,30bを設ける。
Guide shafts 7a, 7a are provided at the two ends of the U-shaped notch of the pressing plate 7, respectively.
The guide shafts 7a, 7a are provided with nip shafts 30a, 30a for holding the wrapping tape 8 together with the guide shafts 7a, 7a. In FIG. 1, reference numerals 7b and 7b denote guide shafts provided on the pressing plate 7 and 31a, 31a, 31b and 31b denote guide shafts provided on a wrapping tape table. , This guide shaft 31
a, 31a and nip shafts 30b, 30b for sandwiching the wrapping tape 8 are provided.

【0020】また図2に示す如く押圧板7をスピンドル
1の方向に引っ張り、このラッピングテープ8をスピン
ドル1に押圧する力を調整するテンションコントロール
スプリング32を設ける。
As shown in FIG. 2, the pressing plate 7 is pulled in the direction of the spindle 1 and a tension control spring 32 for adjusting the force of pressing the wrapping tape 8 against the spindle 1 is provided.

【0021】本例においてはラッピングテープ供給リー
ル8Sよりのラッピングテープ8をガイドシャフト31
b,31a,7b,7a,スピンドル1の外周面の所定
角、ガイドシャフト7a,7b,31a,31bを巡っ
てラッピングテープ巻取リール8Tに巻取る如くする。
この場合、ガイドシャフト7a,7aに対して設けたニ
ップシャフト30a,30a及びガイドシャフト31
a,31aに対して設けたニップシャフト30b,30
bによりラッピングテープ8が研摩時に緩むのを防止す
る如くしている。
In this embodiment, the wrapping tape 8 from the wrapping tape supply reel 8S is connected to the guide shaft 31.
b, 31a, 7b, 7a, a predetermined angle of the outer peripheral surface of the spindle 1, and the guide shafts 7a, 7b, 31a, 31b, and are wound around the wrapping tape winding reel 8T.
In this case, the nip shafts 30a, 30a and the guide shaft 31 provided for the guide shafts 7a, 7a
a, 31a provided for the nip shafts 30b, 30
b prevents the wrapping tape 8 from loosening during polishing.

【0022】また本例においては、このラッピングテー
プ台11をスピンドル1が1回転する毎にこのスピンド
ル1に対しこのラッピングテープ8が磁気ヘッドチップ
64の厚さ例えば0.9mmだけ上方又は下方に移動す
る如くする。かくすることにより磁気ヘッドチップ64
の研摩をラッピングテープ8に常に新しい部分で行うこ
ととなり研摩効率を向上することができる。
In this embodiment, the wrapping tape 8 moves upward or downward by a thickness of the magnetic head chip 64, for example, 0.9 mm with respect to the spindle 1 each time the spindle 1 makes one rotation of the wrapping tape table 11. I will do it. Thus, the magnetic head chip 64
Is always performed on a new portion of the wrapping tape 8, so that the polishing efficiency can be improved.

【0023】次に本例によるスピンドル1につき説明す
る。本例によるスピンドル1は図3に示す如く主スピン
ドル18と、この主スピンドル18と同軸同径で、この
主スピンドル18に対し摺動軸27に沿って上下方向に
のみ可動するようになされた上スピンドル21とより成
り、この主スピンドル18の上面には磁気ヘッドチップ
64をチャックするチャック部を設ける如くする。
Next, the spindle 1 according to this embodiment will be described. As shown in FIG. 3, the spindle 1 according to this embodiment has the same diameter as the main spindle 18 and has the same diameter as the main spindle 18 and is movable only in the vertical direction along the sliding shaft 27 with respect to the main spindle 18. The main spindle 18 is provided with a chuck portion for chucking the magnetic head chip 64 on the upper surface of the main spindle 18.

【0024】この主スピンドル18と上スピンドル21
とを重ね合わしたときは、この外周面は磁気ヘッドチッ
プ64を突出する窓部24以外は互いに接続する如くす
る。この場合この窓部24は主スピンドル18とこの上
スピンドル21により形成される。またこの窓部24の
形状はこの研摩しようとする磁気ヘッドチップ64のテ
ープ摺動面と略平行する断面形状と略同一形状とする。
The main spindle 18 and the upper spindle 21
Are overlapped with each other except for the window 24 projecting the magnetic head chip 64. In this case, the window 24 is formed by the main spindle 18 and the upper spindle 21. The shape of the window 24 is substantially the same as the cross-sectional shape of the magnetic head chip 64 to be polished, which is substantially parallel to the tape sliding surface.

【0025】また主スピンドル18の上面に設けたチャ
ック部は磁気ヘッドチップ64の幅と略等しい幅で外周
より摺動軸27まで連なる磁気ヘッドチップ載置面25
と、この載置面25の1側図3では左側に設けた段差2
6と、この段差26にこの磁気ヘッドチップ64をばね
圧で押し当てるチップチャック19よりなる。
A chuck portion provided on the upper surface of the main spindle 18 has a width substantially equal to the width of the magnetic head chip 64 and a magnetic head chip mounting surface 25 extending from the outer periphery to the sliding shaft 27.
And a step 2 provided on the left side in FIG.
6 and a chip chuck 19 for pressing the magnetic head chip 64 against the step 26 with spring pressure.

【0026】このチップチャック19はアーム19aの
中間部を軸支し、このアーム19aの一端19bを磁気
ヘッドチップ64の側面に当接する如くすると共にこの
アーム19aの他端をばね19cで押圧するようにした
もので、このアーム19aの一端19bの磁気ヘッドチ
ップ64への押圧力は例えば200gとする。
The tip chuck 19 pivotally supports an intermediate portion of the arm 19a. One end 19b of the arm 19a is brought into contact with the side surface of the magnetic head chip 64, and the other end of the arm 19a is pressed by a spring 19c. The pressing force of the one end 19b of the arm 19a against the magnetic head chip 64 is, for example, 200 g.

【0027】また図3、図4に示す如く、この磁気ヘッ
ドチップ載置面25と段差26との境界部に溝25aを
形成し、この溝25aにより磁気ヘッドチップ64のエ
ッジがいずれの部分にも触れないようにし、これにより
このエッジ部のかけを防止するようにしている。このチ
ャック部においてはこの磁気ヘッドチップ64のその他
のエッジも同様にいずれの部分にも触れないようになさ
れている。
As shown in FIGS. 3 and 4, a groove 25a is formed at the boundary between the magnetic head chip mounting surface 25 and the step 26, and the groove 25a allows the edge of the magnetic head chip 64 to be formed at any part. , So that the edge portion is prevented from being applied. In the chuck portion, the other edge of the magnetic head chip 64 is also prevented from touching any portion.

【0028】また図3に示す如くこの磁気ヘッドチップ
載置面25の磁気ヘッドチップ64の載置部に対応する
部分にこの磁気ヘッドチップ64を吸いつけるための吸
入口25bを設ける如くする。
As shown in FIG. 3, a suction port 25b for sucking the magnetic head chip 64 is provided in a portion of the magnetic head chip mounting surface 25 corresponding to the mounting portion of the magnetic head chip 64.

【0029】また本例においては、この上スピンドル2
1に、この主スピンドル18の上面のチャック部でチャ
ックした磁気ヘッドチップ64を上方から軸方向にばね
23のばね圧で押圧するチップ押圧シャフト22を内蔵
する。このチップ押圧シャフト22の磁気ヘッドチップ
64に接する面にゴム等の弾性部材22aを設け、この
チップ押圧シャフト22により磁気ヘッドチップ64を
確実及び傷つけることなく押圧することができるように
したものである。
In this embodiment, the upper spindle 2
1, a chip pressing shaft 22 for pressing the magnetic head chip 64 chucked by the chuck portion on the upper surface of the main spindle 18 from above in the axial direction by the spring pressure of the spring 23 is incorporated. An elastic member 22a such as rubber is provided on a surface of the tip pressing shaft 22 which is in contact with the magnetic head chip 64 so that the tip pressing shaft 22 can press the magnetic head chip 64 reliably and without damaging it. .

【0030】また本例においては図5に示す如く、この
スピンドル1の主スピンドル18の上面に載置した磁気
ヘッドチップ64のスピンドル1の外周面よりの突出し
量を調整するチップ突出し量調整装置6を設ける。この
チップ突出し量調整装置6はチップ突出し量を調整する
場合に操作杆33の先端部に設けた径が例えば0.6m
mのチップ突出し棒36を磁気ヘッドチップ64の後部
に当接する如く配し、このチップ突出し棒36を微動機
構を構成する例えば0.5μm/1パルスのステップモ
ータで駆動し、この磁気ヘッドチップ64を前に引きず
り出し、この突き出し量をレーザ変位測定機5で計測し
所定量とする如くする。
In this embodiment, as shown in FIG. 5, a tip protrusion amount adjusting device 6 for adjusting the protrusion amount of the magnetic head chip 64 mounted on the upper surface of the main spindle 18 of the spindle 1 from the outer peripheral surface of the spindle 1. Is provided. When the tip protrusion amount adjusting device 6 adjusts the tip protrusion amount, the tip protrusion of the operating rod 33 has a diameter of, for example, 0.6 m.
The tip protruding rod 36 of m is disposed so as to be in contact with the rear part of the magnetic head chip 64, and the tip protruding rod 36 is driven by a stepping motor of, for example, 0.5 μm / 1 pulse constituting a fine movement mechanism. Is dragged forward, and the amount of protrusion is measured by the laser displacement measuring device 5 so as to be a predetermined amount.

【0031】この場合チップチャック19の押当てばね
圧を緩和すべく、ばね圧緩和装置34を設ける。このば
ね圧緩和装置34は、このチップ突出し量調整装置6に
よりチップ突出し量を調整するときに、緩和レバー35
の先端をアーム19aの他端側に当接し、このチップチ
ャック19のばね圧による押圧力を例えば200gであ
ったものを50g程度とする如くする。
In this case, a spring pressure relieving device 34 is provided to relieve the pressing spring pressure of the chip chuck 19. When the tip protrusion amount adjusting device 6 adjusts the tip protrusion amount, the spring pressure relaxation device 34 controls the relaxation lever 35.
Is brought into contact with the other end of the arm 19a, and the pressing force of the tip chuck 19 due to the spring pressure is reduced from, for example, 200 g to about 50 g.

【0032】本例においてはこのチップチャック19に
よる押圧力を例えば50g程度に緩和した後に吸入口2
5bよりバキュームしながらこの磁気ヘッドチップ64
をこの突出し量調整装置6により突出し量の調整を行う
如くする。
In this embodiment, after the pressing force of the tip chuck 19 is reduced to, for example, about 50 g, the suction port 2
The magnetic head chip 64 is vacuumed from 5b.
The protrusion amount is adjusted by the protrusion amount adjusting device 6.

【0033】更に本例においてはスピンドル1のラッピ
ングテープ8とは当接しない面に対向し、このスピンド
ル1に取付けられた磁気ヘッドチップ64のテープ摺動
面65を観察できる位置にレーザ変位測定機5を配する
如くし、このレーザ変位測定機5により磁気ヘッドチッ
プ64のテープ摺動面の研摩量を測定する如くする。
Further, in this embodiment, the laser displacement measuring device is located at a position facing the surface of the spindle 1 which does not come into contact with the wrapping tape 8 and where the tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64 attached to the spindle 1 can be observed. The laser displacement measuring device 5 measures the polishing amount of the tape sliding surface of the magnetic head chip 64.

【0034】また本例においては、このスピンドル1に
対向し、このスピンドル1に取付けられた磁気ヘッドチ
ップ64のテープ摺動面65を観察できる位置に干渉縞
顕微鏡15を配し、研摩後のこの磁気ヘッドチップ64
の研摩面を観察する如くする。
In this embodiment, the interference fringe microscope 15 is arranged at a position facing the spindle 1 and at which the tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64 attached to the spindle 1 can be observed. Magnetic head chip 64
Observe the polished surface of.

【0035】本例は上述の如く構成されているので磁気
ヘッドチップ64のテープ摺動面65を研摩するときに
は、磁気ヘッドチップ64をスピンドル1の主スピンド
ル18の上面の磁気ヘッドチップ載置面25にチップチ
ャック19によりチャックする。このときスピンドル1
を磁気ヘッドチップ64のテープ摺動面65がレーザ変
位測定機5の方向に回転する。
Since the present embodiment is constructed as described above, when the tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64 is polished, the magnetic head chip 64 is moved to the magnetic head chip mounting surface 25 on the upper surface of the main spindle 18 of the spindle 1. Is chucked by a chip chuck 19. At this time, spindle 1
The tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64 rotates in the direction of the laser displacement measuring device 5.

【0036】このレーザ変位測定機5で観察しながらチ
ップ突出し量調整装置6でこの磁気ヘッドチップ64の
突出し量を調整する。その後スピンドル1よりこのチッ
プ突出し量調整装置6及びばね圧緩和装置34を離間す
ると共にチップ押圧シャフト22の弾性部材22aで、
この磁気ヘッドチップ64を押圧し、このとき主スピン
ドル18と上スピンドル21とを接続する。
The amount of protrusion of the magnetic head chip 64 is adjusted by the tip protrusion amount adjusting device 6 while observing with the laser displacement measuring device 5. Thereafter, the tip protrusion amount adjusting device 6 and the spring pressure relief device 34 are separated from the spindle 1 and the elastic member 22a of the tip pressing shaft 22
The magnetic head chip 64 is pressed, and at this time, the main spindle 18 and the upper spindle 21 are connected.

【0037】このときは窓24より磁気ヘッドチップ6
4だけがスピンドル1の外周面より突出する如くなる。
次にラッピングテープ巻付け用のガイドシャフト7aを
スピンドル1の方へ移動し、ラッピングテープ8をこの
スピンドル1の外周面の所定角度に亘って巻き付ける。
At this time, the magnetic head chip 6 is
Only 4 protrudes from the outer peripheral surface of the spindle 1.
Next, the wrapping tape winding guide shaft 7a is moved toward the spindle 1, and the wrapping tape 8 is wound over a predetermined angle on the outer peripheral surface of the spindle 1.

【0038】その後スピンドル1を回転して、この磁気
ヘッドチップ64のテープ摺動面65を研摩する。この
ときはラッピングテープ台11は、スピンドル1の1回
転で、上又は下に磁気ヘッドチップ64の厚さ寸法分だ
け移動し、常に磁気ヘッドチップ64の研摩面が新しい
ラッピングテープ8の部分で研摩され良好な研摩を行う
ことができる。
Thereafter, the spindle 1 is rotated to polish the tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64. At this time, the wrapping tape table 11 moves up or down by the thickness of the magnetic head chip 64 by one rotation of the spindle 1, and the polished surface of the magnetic head chip 64 is always polished by the new wrapping tape 8. And good polishing can be performed.

【0039】この磁気ヘッドチップ64の研摩中はレー
ザ変位測定機5で研摩量を測定し続ける。この場合研摩
中に研摩量を測定しているので、この研摩量を±0.5
μmで制御できる利益がある。
While the magnetic head chip 64 is being polished, the amount of polishing is continuously measured by the laser displacement measuring device 5. In this case, since the polishing amount was measured during polishing, this polishing amount was set to ± 0.5.
There is an advantage that can be controlled in μm.

【0040】この研摩が設定した研摩量に達したときに
スピンドル1を磁気ヘッドチップ64が干渉縞顕微鏡1
5の方向を向けて停止する。次にラッピングテープ巻付
用のガイドシャフト7a,7aを押圧板7と共に後方に
移動し、このラッピングテープ8をスピンドル1より離
す。
When the polishing reaches the set polishing amount, the magnetic head chip 64 moves the spindle 1 to the interference fringe microscope 1.
Stop in the direction of 5. Next, the guide shafts 7a for winding the wrapping tape are moved backward together with the pressing plate 7, and the wrapping tape 8 is separated from the spindle 1.

【0041】その後、この干渉縞顕微鏡15をスピンド
ル側へ移動し、磁気ヘッドチップ64のテープ摺動面6
5の画像を撮り込み、画像処理により、このテープ摺動
面65のラージアールR、スモールアールr、アールト
ップ位置を計測し、更に傷、欠け、割れ、汚れを確認
し、良品、不良品を判定する。
Thereafter, the interference fringe microscope 15 is moved to the spindle side, and the tape sliding surface 6 of the magnetic head chip 64 is moved.
5 is taken, the radius R, small radius r, and radius top position of the tape sliding surface 65 are measured by image processing, and further, scratches, chips, cracks, and dirt are confirmed. judge.

【0042】本例によれば磁気ヘッドチップ64のテー
プ摺動面65をチップ単品で研摩するようにしているの
で、ラージアールR、スモールアールr、アールトップ
位置を自由にセッティングすることができ、磁気ヘッド
チップ64の同じものを精度良く仕上げることができる
利益がある。このため本例によれば磁気ヘッドチップ6
4のテープ摺動面65の形状及び寸法を高精度に仕上げ
ることができ、磁気ヘッドの磁気変換特性が向上し、寿
命も延ばすことができる利益がある。
According to this embodiment, since the tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64 is polished with a single chip, the radius R, the small radius r, and the radius top position can be freely set. There is an advantage that the same magnetic head chip 64 can be precisely finished. Therefore, according to the present embodiment, the magnetic head chip 6
4 has the advantage that the shape and dimensions of the tape sliding surface 65 can be finished with high precision, the magnetic conversion characteristics of the magnetic head can be improved, and the life can be extended.

【0043】更にまたベースに複数の磁気ヘッドチップ
を組み付けるタイプの磁気ヘッドでは磁気ヘッドチップ
のそれぞれのテープ摺動面の形状、ギャップ位置、アー
ルトップ位置を自由にセッティング出来るため、最適磁
気ヘッドを製作できる利益がある。
Further, in a magnetic head of a type in which a plurality of magnetic head chips are assembled on a base, the shape, gap position and round top position of each tape sliding surface of the magnetic head chip can be freely set, so that an optimum magnetic head is manufactured. There are benefits that can be done.

【0044】尚本発明は上述実施例に限ることなく本発
明の要旨を逸脱することなく、その他種々の構成が採り
得ることは勿論である。
It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiment, but may adopt various other configurations without departing from the gist of the present invention.

【0045】[0045]

【発明の効果】本発明によれば磁気ヘッドチップ64の
テープ摺動面65をチップ単位で研摩するようにしてい
るので、ラージアールR、スモールアールr、アールト
ップ位置を自由にセッティングすることができ、磁気ヘ
ッドチップ64の同じものを精度良く仕上げることがで
きる利益がある。このため本発明によれば磁気ヘッドチ
ップ64のテープ摺動面65の形状及び寸法を高精度に
仕上げることができ、磁気ヘッドの磁気変換特性が向上
し、寿命も延ばすことができる利益がある。
According to the present invention, since the tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64 is polished in chip units, the radius R, the small radius r, and the radius top position can be freely set. There is an advantage that the same magnetic head chip 64 can be precisely finished. Therefore, according to the present invention, the shape and dimensions of the tape sliding surface 65 of the magnetic head chip 64 can be finished with high precision, and the magnetic conversion characteristics of the magnetic head can be improved and the life can be extended.

【0046】更にまた本発明によればベースに複数の磁
気ヘッドチップを組み付けるタイプの磁気ヘッドでは磁
気ヘッドチップのそれぞれのテープ摺動面の形状、ギャ
ップ位置、アールトップ位置を自由にセッティング出来
るため、最適磁気ヘッドを製作できる利益がある。
Further, according to the present invention, in a magnetic head of a type in which a plurality of magnetic head chips are assembled to a base, the shape, gap position and radius top position of each tape sliding surface of the magnetic head chip can be set freely. There is an advantage that an optimum magnetic head can be manufactured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明磁気ヘッド研摩装置の一実施例を示す平
面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a magnetic head polishing apparatus according to the present invention.

【図2】本発明の要部の例を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing an example of a main part of the present invention.

【図3】本発明によるスピンドルの例を示す一部切欠斜
視図である。
FIG. 3 is a partially cutaway perspective view showing an example of a spindle according to the present invention.

【図4】図3の要部の例を示す一部切欠正面図である。FIG. 4 is a partially cutaway front view showing an example of a main part of FIG. 3;

【図5】本発明の要部の例を示す一部切欠斜視図であ
る。
FIG. 5 is a partially cutaway perspective view showing an example of a main part of the present invention.

【図6】磁気ヘッド部を示す線図である。FIG. 6 is a diagram showing a magnetic head unit.

【図7】磁気ヘッド部を示す線図である。FIG. 7 is a diagram showing a magnetic head unit.

【図8】従来の研摩加工の研摩状態を示す平面図であ
る。
FIG. 8 is a plan view showing a polishing state of a conventional polishing process.

【図9】従来の研摩加工の研摩状態を示す正面図であ
る。
FIG. 9 is a front view showing a polishing state of a conventional polishing process.

【図10】従来の研摩加工の研摩状態を示す斜視図であ
る。
FIG. 10 is a perspective view showing a polishing state of a conventional polishing process.

【図11】良好な状態の磁気ヘッドチップの例を示す線
図である。
FIG. 11 is a diagram showing an example of a magnetic head chip in a good state.

【図12】良好でない状態の磁気ヘッドチップの例を示
す線図である。
FIG. 12 is a diagram showing an example of a magnetic head chip in a poor state.

【図13】検査方法を示す説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram showing an inspection method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スピンドル 5 レーザ変位測定機 6 チップ突出し量調整装置 7 押圧板 7a ガイドシャフト 8 ラッピングテープ 11 ラッピングテープ台 15 干渉縞顕微鏡 18 主スピンドル 19 チップチャック 21 上スピンドル 22 チップ押圧シャフト 23 ばね 24 窓 25 チップ載置面 25a 溝 26 段差 30a,30b ニップシャフト 32 テンションコントロールスプリング 34 ばね圧緩和装置 36 チップ突出し棒 64 磁気ヘッドチップ Reference Signs List 1 spindle 5 laser displacement measuring device 6 tip protrusion amount adjusting device 7 pressing plate 7a guide shaft 8 wrapping tape 11 lapping tape base 15 interference fringe microscope 18 main spindle 19 chip chuck 21 upper spindle 22 chip pressing shaft 23 spring 24 window 25 chip mounting Mounting surface 25a Groove 26 Step 30a, 30b Nip shaft 32 Tension control spring 34 Spring pressure relieving device 36 Tip protruding rod 64 Magnetic head chip

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B24B 21/00 G11B 5/127 G11B 5/187 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) B24B 21/00 G11B 5/127 G11B 5/187

Claims (9)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 スピンドルに磁気ヘッドチップを取付
け、該スピンドルにラッピングテープをガイドシャフト
を用いて接触させ、前記スピンドルを回転させて、前記
磁気ヘッドチップのテープ摺動面を研摩加工すると共に
前記磁気ヘッドチップのテープ摺動面が前記スピンドル
の外周面から突出するように、前記スピンドルの外周面
の内側で押しつけて取付けるためのチップ取付け手段を
前記スピンドルに設けた磁気ヘッド研摩装置において、 前記スピンドルは前記磁気ヘッドチップをチャックする
チャック部を上面に有する主スピンドルと該主スピンド
ルの上方に接続される上スピンドルとよりなり、 前記上スピンドルは前記主スピンドルと同軸、同径で上
下方向のみに可動で、その外周面は前記磁気ヘッドチッ
プが突出する窓部を除いて、前記主スピンドルの外周面
と接近して接続すると共に前記窓部は前記主スピンドル
とそれに接続する前記上スピンドルによって形成され、
前記チャック部は磁気ヘッドチップ載置面と、その1側
に設けた段差と、該段差に前記磁気ヘッドチップをばね
圧で押し当てるチップチャックよりなると共に前記上ス
ピンドルは前記チャック部でチャックされた前記磁気ヘ
ッドチップを上方から軸方向にばね圧で押圧するチップ
押圧シャフトを内蔵することを特徴とする磁気ヘッド研
摩装置。
1. A magnetic head chip is mounted on a spindle, a wrapping tape is brought into contact with the spindle by using a guide shaft, and the spindle is rotated to polish a tape sliding surface of the magnetic head chip and to form the magnetic head chip. In a magnetic head polishing apparatus, the spindle is provided with chip mounting means for pressing and mounting inside the outer peripheral surface of the spindle so that the tape sliding surface of the head chip projects from the outer peripheral surface of the spindle. The main spindle comprises a main spindle having a chuck portion for chucking the magnetic head chip on an upper surface, and an upper spindle connected above the main spindle. The upper spindle is coaxial with the main spindle, has the same diameter, and is movable only in the vertical direction. , Except for the window from which the magnetic head chip projects, It said window unit with connecting close to the outer peripheral surface of the main spindle is formed by the upper spindle connected thereto and said main spindle,
The chuck section includes a magnetic head chip mounting surface, a step provided on one side thereof, and a chip chuck for pressing the magnetic head chip against the step with spring pressure, and the upper spindle is chucked by the chuck section. A magnetic head polishing device comprising a built-in chip pressing shaft for pressing the magnetic head chip axially from above with a spring pressure.
【請求項2】 請求項1記載の磁気ヘッド研摩装置にお
いて、 前記窓部の形状は、前記磁気ヘッドチップの断面形状と
略同一形状であることを特徴とする磁気ヘッド研摩装
置。
2. The magnetic head polishing apparatus according to claim 1, wherein the shape of the window is substantially the same as the cross-sectional shape of the magnetic head chip.
【請求項3】 請求項1記載の磁気ヘッド研摩装置にお
いて、 前記チップ押圧シャフトの前記磁気ヘッドチップに接す
る面に弾性部材を有することを特徴とする磁気ヘッド研
摩装置。
3. The magnetic head polishing apparatus according to claim 1, wherein an elastic member is provided on a surface of the tip pressing shaft that contacts the magnetic head chip.
【請求項4】 請求項1記載の磁気ヘッド研摩装置にお
いて、 前記チャック部は前記磁気ヘッドチップのエッジに触れ
ることなく前記磁気ヘッドチップをチャックするように
したことを特徴とする磁気ヘッド研摩装置。
4. The magnetic head polishing apparatus according to claim 1, wherein the chuck portion chucks the magnetic head chip without touching an edge of the magnetic head chip.
【請求項5】 請求項1記載の磁気ヘッド研摩装置にお
いて、 前記チップ載置面には、前記磁気ヘッドチップを吸いつ
けるための吸入口を有することを特徴とする磁気ヘッド
研摩装置。
5. The magnetic head polishing apparatus according to claim 1, wherein the chip mounting surface has a suction port for sucking the magnetic head chip.
【請求項6】 請求項1記載の磁気ヘッド研摩装置にお
いて、 前記ラッピングテープを前記ガイドシャフトに固定又は
解放自在とするニップシャフトを前記ガイドシャフト近
傍に設けると共に、前記ガイドシャフトに一定の力を与
えるための張力調整ばねを設けたことを特徴とする磁気
ヘッド研摩装置。
6. The magnetic head polishing apparatus according to claim 1, wherein a nip shaft for fixing or releasing the wrapping tape to or from the guide shaft is provided near the guide shaft, and a constant force is applied to the guide shaft. Magnetic head polishing apparatus provided with a tension adjusting spring for the magnetic head.
【請求項7】 請求項1記載の磁気ヘッド研摩装置にお
いて、 前記磁気ヘッドチップの突出し量を調整するための微動
機構と、その先端部に設けた突出し調整治具を有してな
る突出し量調整手段を備えることを特徴とする磁気ヘッ
ド研摩装置。
7. The magnetic head polishing apparatus according to claim 1, wherein a fine movement mechanism for adjusting the amount of protrusion of the magnetic head chip and a protrusion adjustment jig provided at a tip end thereof are adjusted. A magnetic head polishing device comprising means.
【請求項8】 請求項1記載の磁気ヘッド研摩装置にお
いて、 前記チャック部の押当てばね圧を緩和するためのばね圧
緩和手段を備えることを特徴とする磁気ヘッド研摩装
置。
8. The magnetic head polishing apparatus according to claim 1, further comprising: a spring pressure relieving means for relieving a pressing spring pressure of the chuck portion.
【請求項9】 請求項1記載の磁気ヘッド研摩装置にお
いて、 前記スピンドルに取付けた前記磁気ヘッドチップの研摩
量を研摩中に測定するための変位測定機を前記スピンド
ルの前記ラッピングテープが当接しない面に対向するよ
うに備えることを特徴とする磁気ヘッド研摩装置。
9. The magnetic head polishing apparatus according to claim 1, wherein the lapping tape of the spindle does not come into contact with a displacement measuring device for measuring a polishing amount of the magnetic head chip attached to the spindle during polishing. A magnetic head polishing device provided to face a surface.
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