JP3249019B2 - 高粘度塗布剤の塗布幅検査装置 - Google Patents
高粘度塗布剤の塗布幅検査装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、塗布面に盛り上げ状態
で塗布された高粘度塗布剤、例えば接着剤等の塗布幅の
適否を検査するための装置に関する。
で塗布された高粘度塗布剤、例えば接着剤等の塗布幅の
適否を検査するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】自動車の製造工程においては、板状部品
等を他部品に組み付けるにあたって接着剤（シーラー）
を使用する場合がある。このシーラーは、接着予定部品
の何れか一方若しくは双方に帯状に塗布されるのである
が、塗布に際しては、塗布装置の異常やシーラーの粘度
変化等によってシーラーの塗布幅が基準値よりも狭くな
ることがある。このような事態を放置したままでは、両
部品の接着後に強度不足や気密不良等の種々の弊害を招
くため、塗布後にはシーラーの塗布幅が規定値以上に確
保されているか否かを逐次検査する必要がある。
等を他部品に組み付けるにあたって接着剤（シーラー）
を使用する場合がある。このシーラーは、接着予定部品
の何れか一方若しくは双方に帯状に塗布されるのである
が、塗布に際しては、塗布装置の異常やシーラーの粘度
変化等によってシーラーの塗布幅が基準値よりも狭くな
ることがある。このような事態を放置したままでは、両
部品の接着後に強度不足や気密不良等の種々の弊害を招
くため、塗布後にはシーラーの塗布幅が規定値以上に確
保されているか否かを逐次検査する必要がある。
【０００３】このような目的のため、図４に示す検査装
置が従来から使用されている。この装置は、光源及び受
光部を一体に有するセンサ（20）を塗布面（21）の上方
に配置すると共に、このセンサ（20）をシーラー（22）
の塗布方向に沿ってスライド可能としたもので、シーラ
ーノズル（23）から塗布されたシーラー（22）に、光源
から塗布方向と直交する方向に沿ってスリット状の検査
光（例えば赤外線光）を照射し、シーラー（22）及びそ
の両側の塗布面（21）で反射された反射光を受光部で受
光してその波形の明暗から塗布幅を検知するものであ
る。
置が従来から使用されている。この装置は、光源及び受
光部を一体に有するセンサ（20）を塗布面（21）の上方
に配置すると共に、このセンサ（20）をシーラー（22）
の塗布方向に沿ってスライド可能としたもので、シーラ
ーノズル（23）から塗布されたシーラー（22）に、光源
から塗布方向と直交する方向に沿ってスリット状の検査
光（例えば赤外線光）を照射し、シーラー（22）及びそ
の両側の塗布面（21）で反射された反射光を受光部で受
光してその波形の明暗から塗布幅を検知するものであ
る。
【０００４】即ち、塗布面（21）に達した検査光はその
まま上方に反射して受光部に受光されるため、受光部で
の受光量も多くなるが、シーラー（22）に達した検査光
は、その表面で種々の方向に乱反射されるため、その一
部しか受光部に受光されず、受光部での受光量は少なく
なる。従って、受光部で検知される反射光の波形は、図
５に示すように、シーラー（22）に対応する暗部（24）
と、塗布面（21）に対応する２つの明部（25）とを含む
形状となる。
まま上方に反射して受光部に受光されるため、受光部で
の受光量も多くなるが、シーラー（22）に達した検査光
は、その表面で種々の方向に乱反射されるため、その一
部しか受光部に受光されず、受光部での受光量は少なく
なる。従って、受光部で検知される反射光の波形は、図
５に示すように、シーラー（22）に対応する暗部（24）
と、塗布面（21）に対応する２つの明部（25）とを含む
形状となる。
【０００５】ここで、適当な受光レベルでスライスレベ
ル（Ｓ）を設定し、波形とスライスレベル（Ｓ）との交
点間距離（ｔ）を逐次管理すれば、塗布不良を即座に検
知することが可能となる。即ち、シーラー（22）の塗布
幅が狭くなれば、これに応じて交点間距離（ｔ）も短く
なるので、この距離（ｔ）が基準値以下になったところ
で塗布不良と認識する。
ル（Ｓ）を設定し、波形とスライスレベル（Ｓ）との交
点間距離（ｔ）を逐次管理すれば、塗布不良を即座に検
知することが可能となる。即ち、シーラー（22）の塗布
幅が狭くなれば、これに応じて交点間距離（ｔ）も短く
なるので、この距離（ｔ）が基準値以下になったところ
で塗布不良と認識する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところが、塗布された
シーラーは断面略半円型に盛り上がっているため、図６
に示すように、その頂部（22ａ）に照射された検査光は
乱反射せずに上方にそのまま反射される。従って、実際
に受光部で検知される波形は、図７に示すように中央部
に突出した明部（26）を持ち、場所によっては、この突
出した明部（26）の受光レベルが塗布面での受光レベル
と同程度にまで達する場合がある。
シーラーは断面略半円型に盛り上がっているため、図６
に示すように、その頂部（22ａ）に照射された検査光は
乱反射せずに上方にそのまま反射される。従って、実際
に受光部で検知される波形は、図７に示すように中央部
に突出した明部（26）を持ち、場所によっては、この突
出した明部（26）の受光レベルが塗布面での受光レベル
と同程度にまで達する場合がある。
【０００７】かかる場合には、スライスレベル（Ｓ）と
波形との交点の数が増加するため、塗布幅の適否を判定
することができず、塗布不良として処理せざるを得な
い。このため、実際には正規の塗布幅が確保されている
にもかかわらず、不良信号を送出して徒にラインを停止
させ、点検等に無駄な時間を費やす点が問題となってい
た。
波形との交点の数が増加するため、塗布幅の適否を判定
することができず、塗布不良として処理せざるを得な
い。このため、実際には正規の塗布幅が確保されている
にもかかわらず、不良信号を送出して徒にラインを停止
させ、点検等に無駄な時間を費やす点が問題となってい
た。
【０００８】そこで、本発明は、高粘度塗布剤の塗布幅
の適否を誤認することなく確実に検査することのできる
装置の提供を目的とする。
の適否を誤認することなく確実に検査することのできる
装置の提供を目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明装置は、塗布面上に盛り上げ状態で塗布され
た高粘度塗布剤に光源から検査光を照射し、塗布剤の表
面及びその両側の塗布面で反射された反射光を受光部で
受光してその明暗から塗布幅の適否を検査するものであ
って、光源と受光部とを離隔配置してその間に遮光部材
を設け、且つ、光源、受光部及び遮光部材を、
め、本発明装置は、塗布面上に盛り上げ状態で塗布され
た高粘度塗布剤に光源から検査光を照射し、塗布剤の表
面及びその両側の塗布面で反射された反射光を受光部で
受光してその明暗から塗布幅の適否を検査するものであ
って、光源と受光部とを離隔配置してその間に遮光部材
を設け、且つ、光源、受光部及び遮光部材を、
【００１０】 受光部の検査エリア上において、塗布
剤表面の少なくとも頂部が遮光部材の背後に形成された
遮光域に含まれ、且つ、 同じく受光部の検査エリア上において、両塗布面の
少なくとも塗布剤との境界部分が光源からの投光域に含
まれる
剤表面の少なくとも頂部が遮光部材の背後に形成された
遮光域に含まれ、且つ、 同じく受光部の検査エリア上において、両塗布面の
少なくとも塗布剤との境界部分が光源からの投光域に含
まれる
【００１１】ような位置関係に配設したものである。
【００１２】
【作用】受光部の検査エリア上において、塗布剤表面の
少なくとも頂部が遮光部材の背後に形成された遮光域に
含まれるようにすれば、塗布剤表面の頂部まで検査光が
達せず、反射光も受光部に入光しないため、受光部はこ
の部分を暗部として認識する。一方、検査エリア上にお
いて、両塗布面の少なくとも塗布剤との境界部分が光源
からの投光域に含まれるようにすれば、当該境界部分に
達した検査光が反射して受光部に受光されるため、受光
部はこの部分を明部として認識する。従って、受光部で
認識される反射光波形は、２つの明部の間に暗部を有す
る形状となり、暗部の中央に局所的に明部が形成される
こともない。
少なくとも頂部が遮光部材の背後に形成された遮光域に
含まれるようにすれば、塗布剤表面の頂部まで検査光が
達せず、反射光も受光部に入光しないため、受光部はこ
の部分を暗部として認識する。一方、検査エリア上にお
いて、両塗布面の少なくとも塗布剤との境界部分が光源
からの投光域に含まれるようにすれば、当該境界部分に
達した検査光が反射して受光部に受光されるため、受光
部はこの部分を明部として認識する。従って、受光部で
認識される反射光波形は、２つの明部の間に暗部を有す
る形状となり、暗部の中央に局所的に明部が形成される
こともない。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の実施例を図１乃至図３に基づ
いて説明する。
いて説明する。
【００１４】本発明にかかる塗布幅検査装置は、図１に
示すように、シーラー（１）の塗布方向に沿って離隔配
設した光源（２）及び受光部（３）と、その間に配置さ
れた薄板状の遮光部材（４）とを具備する。遮光部材
（４）は、その下端部を塗布面（５）から上方に離隔さ
せて垂設されている。
示すように、シーラー（１）の塗布方向に沿って離隔配
設した光源（２）及び受光部（３）と、その間に配置さ
れた薄板状の遮光部材（４）とを具備する。遮光部材
（４）は、その下端部を塗布面（５）から上方に離隔さ
せて垂設されている。
【００１５】光源（２）は、赤外線等の検査光を拡散光
として放光するもので、遮光部材（４）の下端部近傍を
狙って配設されている。この光源（２）から放光された
検査光の一部は遮光部材（４）によって遮られるため、
遮光部材（４）の背後の一定領域には、検査光の届かな
い遮光域（ハッチングで示す）が形成される。一方、検
査光のうちで遮光部材（４）と塗布面（５）との間の隙
間を通過した検査光は、遮光部材（４）の背後に投光域
を形成する。
として放光するもので、遮光部材（４）の下端部近傍を
狙って配設されている。この光源（２）から放光された
検査光の一部は遮光部材（４）によって遮られるため、
遮光部材（４）の背後の一定領域には、検査光の届かな
い遮光域（ハッチングで示す）が形成される。一方、検
査光のうちで遮光部材（４）と塗布面（５）との間の隙
間を通過した検査光は、遮光部材（４）の背後に投光域
を形成する。
【００１６】受光部（３）は、赤外線を検知できる光セ
ンサ等により構成され、受光面（3a）を下向きにして且
つ下端部を光源（２）側に傾けて配置されている。受光
部（３）の検査エリア（７）は、シーラー（１）の塗布
方向と直交する方向のスリット状をなし、斜め方向に延
びて遮光部材（４）の直下よりも僅かに後方（光源から
離反する方向）で塗布面（５）と交差している。受光面
（3a）のうち、検査エリア（７）よりも後方の受光面
（3a）には、外部光の入光を制限して検知精度を向上さ
せるべく遮蔽板（８）が装着されている。
ンサ等により構成され、受光面（3a）を下向きにして且
つ下端部を光源（２）側に傾けて配置されている。受光
部（３）の検査エリア（７）は、シーラー（１）の塗布
方向と直交する方向のスリット状をなし、斜め方向に延
びて遮光部材（４）の直下よりも僅かに後方（光源から
離反する方向）で塗布面（５）と交差している。受光面
（3a）のうち、検査エリア（７）よりも後方の受光面
（3a）には、外部光の入光を制限して検知精度を向上さ
せるべく遮蔽板（８）が装着されている。
【００１７】上述した光源（２）、受光部（３）及び遮
光部材（４）は、以下の条件を満足するよう配置され
る。即ち、受光部（３）の検査エリア（７）上におい
て、シーラー（１）の表面の少なくとも頂部（1a）が遮
光部材（４）の遮光域に含まれ、且つ、検査エリア
（７）上において、塗布面（５）の少なくともシーラー
（１）との境界部分（5a）が投光域に含まれるような位
置関係になければならない。
光部材（４）は、以下の条件を満足するよう配置され
る。即ち、受光部（３）の検査エリア（７）上におい
て、シーラー（１）の表面の少なくとも頂部（1a）が遮
光部材（４）の遮光域に含まれ、且つ、検査エリア
（７）上において、塗布面（５）の少なくともシーラー
（１）との境界部分（5a）が投光域に含まれるような位
置関係になければならない。
【００１８】図２（ａ）（ｂ）は、上記条件を満足する
限界を示す平面図であり、（ａ）図は、検査エリア
（７）上のシーラー（１）の全ての表面が遮光域に含ま
れる場合を、（ｂ）図は、検査エリア（７）上のシーラ
ー（１）表面の頂部（1a）のみが遮光域に含まれる場合
を示す。従って、遮光域と投光域の境界線（Ｂ）は、
（ａ）図に示す領域と（ｂ）図に示す領域との間に形成
されなければならない。
限界を示す平面図であり、（ａ）図は、検査エリア
（７）上のシーラー（１）の全ての表面が遮光域に含ま
れる場合を、（ｂ）図は、検査エリア（７）上のシーラ
ー（１）表面の頂部（1a）のみが遮光域に含まれる場合
を示す。従って、遮光域と投光域の境界線（Ｂ）は、
（ａ）図に示す領域と（ｂ）図に示す領域との間に形成
されなければならない。
【００１９】なお、図２では、検査エリア（７）上の全
ての塗布面（５）が投光域に含まれる場合を例示してい
るが、上述の条件で述べた通り、必ずしも全ての塗布面
（５）が投光域に含まれる必要はなく、少なくとも塗布
面（５）の境界部分（5a）が投光域に含まれていれば足
りる。従って、境界部分（5a）を除く他の塗布面（５）
が遮光域に含まれていても構わない。
ての塗布面（５）が投光域に含まれる場合を例示してい
るが、上述の条件で述べた通り、必ずしも全ての塗布面
（５）が投光域に含まれる必要はなく、少なくとも塗布
面（５）の境界部分（5a）が投光域に含まれていれば足
りる。従って、境界部分（5a）を除く他の塗布面（５）
が遮光域に含まれていても構わない。
【００２０】光源（２）、受光部（３）及び遮光部材
（４）は、それらの位置関係を保持したままシーラー
（１）の塗布方向に沿って一体的にスライド可能に構成
される。これにより、シーラー（１）の塗布方向に沿っ
てその塗布幅を連続的に検査することが可能となる。
（４）は、それらの位置関係を保持したままシーラー
（１）の塗布方向に沿って一体的にスライド可能に構成
される。これにより、シーラー（１）の塗布方向に沿っ
てその塗布幅を連続的に検査することが可能となる。
【００２１】このように本発明装置では、検査エリア
（７）上において、シーラー（１）の少なくとも頂部
（1a）が遮光域に含まれるため、当該頂部（1a）では検
査光が反射せず、受光部（３）にはこの部分での反射光
が入光しない。その一方で、検査エリア（７）上の塗布
面（５）の少なくとも両境界部分（5a）が投光域に含ま
れるため、検査光は当該境界部分（5a）で反射して受光
部（３）に受光される。従って、受光部（３）が認識す
る反射光の波形は、図３に示すように、２つの明部
（９）の間に暗部（10）を有する形状となり、従来装置
のように暗部（10）中に局所的な明部が出現することも
ない。従って、従来装置と同様に、適当な受光レベルで
スライスレベル（Ｓ）を設定し、波形とスライスレベル
（Ｓ）との交点間距離（ｔ）を逐次管理すれば、塗布幅
の適否を誤認することなく即座に検知することができ
る。
（７）上において、シーラー（１）の少なくとも頂部
（1a）が遮光域に含まれるため、当該頂部（1a）では検
査光が反射せず、受光部（３）にはこの部分での反射光
が入光しない。その一方で、検査エリア（７）上の塗布
面（５）の少なくとも両境界部分（5a）が投光域に含ま
れるため、検査光は当該境界部分（5a）で反射して受光
部（３）に受光される。従って、受光部（３）が認識す
る反射光の波形は、図３に示すように、２つの明部
（９）の間に暗部（10）を有する形状となり、従来装置
のように暗部（10）中に局所的な明部が出現することも
ない。従って、従来装置と同様に、適当な受光レベルで
スライスレベル（Ｓ）を設定し、波形とスライスレベル
（Ｓ）との交点間距離（ｔ）を逐次管理すれば、塗布幅
の適否を誤認することなく即座に検知することができ
る。
【００２２】なお、以上の説明では、シーラー（１）の
塗布幅を検査する場合について説明したが、本発明装置
は、シーラーに限らず、その他の高粘度塗布剤、例えば
シール剤等にも同様に適用可能である。ここで、高粘度
塗布剤とは、粘性に富み、塗布した直後に塗布剤が塗布
面（５）上で薄く広がらずに断面略半円型に盛り上がっ
た状態を一定時間保持するものをいう。
塗布幅を検査する場合について説明したが、本発明装置
は、シーラーに限らず、その他の高粘度塗布剤、例えば
シール剤等にも同様に適用可能である。ここで、高粘度
塗布剤とは、粘性に富み、塗布した直後に塗布剤が塗布
面（５）上で薄く広がらずに断面略半円型に盛り上がっ
た状態を一定時間保持するものをいう。
【００２３】また、図３の波形は、シーラー（１）の全
表面を遮光域に含ませ、且つ、検査エリア（７）上の全
ての塗布面（５）を投光域に含ませた場合（図２（ａ）
参照）を例示しており、実際の波形はこれに限られず、
種々の形状をとり得る。
表面を遮光域に含ませ、且つ、検査エリア（７）上の全
ての塗布面（５）を投光域に含ませた場合（図２（ａ）
参照）を例示しており、実際の波形はこれに限られず、
種々の形状をとり得る。
【００２４】
【発明の効果】このように、本発明によれば、受光部で
認識される反射光波形のうち、塗布剤に対応する部分
（暗部）に局所的な明部が形成されることもない。従っ
て、適当な受光レベルでスライスレベルを設定し、波形
とスライスレベルとの交点間距離を逐次管理すれば、塗
布剤の塗布幅の適否を誤認することなく確実に判定する
ことが可能となる。
認識される反射光波形のうち、塗布剤に対応する部分
（暗部）に局所的な明部が形成されることもない。従っ
て、適当な受光レベルでスライスレベルを設定し、波形
とスライスレベルとの交点間距離を逐次管理すれば、塗
布剤の塗布幅の適否を誤認することなく確実に判定する
ことが可能となる。
【図１】（ａ）図は、本発明装置の側面図であり、
（ｂ）図は同じく平面図である。
（ｂ）図は同じく平面図である。
【図２】遮光域及び投光域の形成可能領域を示す平面図
である。
である。
【図３】反射光波形と対応させた塗布剤の縦断面図であ
る。
る。
【図４】従来装置の斜視図である。
【図５】反射光波形と対応させた塗布剤の縦断面図であ
る。
る。
【図６】塗布剤及び塗布面で反射した反射光を示す縦断
面図である。
面図である。
【図７】従来装置の反射光波形を示す図である。
１ 高粘度塗布剤（シーラー） 1a 頂部 ２ 光源 ３ 受光部 ４ 遮光板 ５ 塗布面 5a 境界部分 ７ 検査エリア
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) B05C 11/00 B05C 5/00 - 5/02 B05D 3/00,1/26 G01B 11/02 G01N 21/00,21/88
Claims (1)
- 【請求項１】 塗布面上に盛り上げ状態で塗布された高
粘度塗布剤に光源から検査光を照射し、塗布剤の表面及
びその両側の塗布面で反射された反射光を受光部で受光
してその明暗から塗布幅の適否を検査するものであっ
て、 光源と受光部とを離隔配置してその間に遮光部材を設
け、且つ、光源、受光部及び遮光部材を、受光部の検査
エリア上において、塗布剤表面の少なくとも頂部が遮光
部材の背後に形成された遮光域に含まれ、且つ、両塗布
面の少なくとも塗布剤との境界部分が光源からの投光域
に含まれるような位置関係に配設したことを特徴とする
高粘度塗布剤の塗布幅検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30849594A JP3249019B2 (ja) | 1994-12-13 | 1994-12-13 | 高粘度塗布剤の塗布幅検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30849594A JP3249019B2 (ja) | 1994-12-13 | 1994-12-13 | 高粘度塗布剤の塗布幅検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08164354A JPH08164354A (ja) | 1996-06-25 |
| JP3249019B2 true JP3249019B2 (ja) | 2002-01-21 |
Family
ID=17981706
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30849594A Expired - Fee Related JP3249019B2 (ja) | 1994-12-13 | 1994-12-13 | 高粘度塗布剤の塗布幅検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3249019B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4689077B2 (ja) * | 2001-05-21 | 2011-05-25 | 大日本印刷株式会社 | 塗布装置システム |
| JP2011185630A (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-22 | Kanto Auto Works Ltd | シーラー塗布形状監視装置 |
-
1994
- 1994-12-13 JP JP30849594A patent/JP3249019B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08164354A (ja) | 1996-06-25 |
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