JP3246785U - Guide block, guide assembly, guide module, and six-sided visual inspection device - Google Patents

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Abstract

【課題】従来技術において電子部品がガイドブロックに面接触することに比べて、電子部品のガイド効果が良好になり、ターンテーブル上での電子部品の均一な配置を実現する、ガイドブロック、ガイドアセンブリ、ガイドモジュール、及び6面外観検査装置を提供する。【解決手段】ガイドモジュールは、ガイドレール、ガイドアセンブリ2、ターンテーブル、及び真空装置を少なくとも含み、ガイドアセンブリはガイドブロック3を含み、ガイドブロックの一端には円弧面が設けられ、ガイドブロックは円弧面を介して電子部品に点接触又は線接触することで、電子部品のガイドを実現する。【選択図】図8[Problem] To provide a guide block, guide assembly, guide module, and six-sided visual inspection device that has a better guiding effect for electronic components and realizes uniform placement of electronic components on a turntable compared to the conventional technology in which electronic components make surface contact with the guide block. [Solution] The guide module includes at least a guide rail, a guide assembly 2, a turntable, and a vacuum device, and the guide assembly includes a guide block 3, one end of which is provided with an arcuate surface, and the guide block makes point or line contact with the electronic components via the arcuate surface to realize guiding of the electronic components. [Selected Figure] Figure 8

Description

本考案は、検査の技術分野に関し、特にガイドブロック、ガイドアセンブリ、ガイドモジュール、及び6面外観検査装置に関する。 This invention relates to the technical field of inspection, and in particular to a guide block, a guide assembly, a guide module, and a six-sided visual inspection device.

電子部品の製造が完了した後、電子部品の品質と性能を確保するために、一般に、電子部品に対して外観検査を行い、電子部品のサイズや形状などの情報を取得し、電子部品の表面に傷、凹み、酸化などの欠陥があるか否かを検査する必要がある。従来技術では、外観検査装置は、一般に、フィード装置、ターンテーブル、レンズ検査装置及び処理システムが設けられており、電子部品はフィード装置からターンテーブルに移動し、ターンテーブルの移動に伴ってレンズ検査装置によって順次検査される。実際の検査プロセスで電子部品がターンテーブルに移動するときにずれやすく、後続の検査効果に悪影響を与えてしまう。従来技術では、電子部品をガイドするために、フィード装置とターンテーブルとの間にガイドブロックが設けられているが、そのガイド効果は良くない。従って、どのように電子部品の位置ガイド効果を向上させ、さらに電子部品をターンテーブル上に均等に配置するかは、早急に検討し、解決する必要がある問題である。 After the manufacture of electronic components is completed, in order to ensure the quality and performance of the electronic components, it is generally necessary to perform an appearance inspection on the electronic components to obtain information such as the size and shape of the electronic components, and to inspect whether there are defects such as scratches, dents, and oxidation on the surface of the electronic components. In the prior art, the appearance inspection device is generally provided with a feed device, a turntable, a lens inspection device, and a processing system, and the electronic components are moved from the feed device to the turntable, and are sequentially inspected by the lens inspection device as the turntable moves. In the actual inspection process, the electronic components are easily misaligned when they move to the turntable, which adversely affects the subsequent inspection effect. In the prior art, a guide block is provided between the feed device and the turntable to guide the electronic components, but the guiding effect is not good. Therefore, how to improve the position guide effect of the electronic components and evenly arrange the electronic components on the turntable is a problem that needs to be urgently considered and solved.

本願は、従来技術に存在する技術的課題の少なくとも1つを解決することを目的とする。従って、本願は、電子部品のガイド効果を向上させるために、ガイドブロック、ガイドアセンブリ、ガイドモジュール、及び6面外観検査装置を提供する。 The present application aims to solve at least one of the technical problems existing in the prior art. Therefore, the present application provides a guide block, a guide assembly, a guide module, and a six-sided visual inspection device to improve the guiding effect of electronic components.

本願の実施例は、電子部品をガイドするためのガイドモジュールであって、前記ガイドモジュールは、ガイドレール、ガイドアセンブリ、ターンテーブル、及び真空装置を少なくとも含み、前記ガイドレールは、前記電子部品を収容可能に設けられるガイド溝を含み、前記ガイドレールは、前記電子部品を前記ガイドレールに沿って前記ターンテーブルに移送することが可能に設けられ、前記ターンテーブルは、前記ターンテーブル上に位置する前記電子部品を移動駆動して前記電子部品を前記ガイドアセンブリに接触させることが可能に設けられ、前記ガイドアセンブリはガイドブロックを含み、前記ガイドブロックの一端の部分領域には円弧面が設けられ、前記電子部品は前記円弧面において前記ガイドアセンブリに接触し、前記ガイドブロックは前記円弧面を介して前記電子部品に点接触又は線接触することで、前記電子部品をガイドし、前記ガイドブロックの前記ターンテーブルに近い端には真空溝が設けられることを特徴とするガイドモジュールを提供する。 The embodiment of the present application provides a guide module for guiding an electronic component, the guide module including at least a guide rail, a guide assembly, a turntable, and a vacuum device, the guide rail including a guide groove that can accommodate the electronic component, the guide rail being arranged to be capable of transferring the electronic component to the turntable along the guide rail, the turntable being arranged to be capable of moving and driving the electronic component located on the turntable to bring the electronic component into contact with the guide assembly, the guide assembly including a guide block, a partial region of one end of the guide block being provided with an arc surface, the electronic component contacting the guide assembly at the arc surface, the guide block making point contact or line contact with the electronic component via the arc surface to guide the electronic component, and a vacuum groove being provided at an end of the guide block close to the turntable.

本願の実施例におけるガイドモジュールは、少なくとも以下の有益な効果を有する。前記ガイドモジュールは前記ガイドアセンブリを含み、前記ガイドアセンブリは前記ガイドブロックを含み、前記ガイドブロックの一端には前記円弧面が設けられる。前記電子部品は前記ガイドブロックに接触するとき、前記ガイドブロックの前記円弧面との点接触又は線接触を実現する。従来技術において電子部品とガイドモジュールが面接触であることに比べて、本考案の前記電子部品が前記ガイドレールから前記ターンテーブルに落下する時に受ける抵抗が小さくなり、前記電子部品のガイド効果が良好になり、前記電子部品が前記ターンテーブル上により均等に配置され、前記ガイドモジュールのガイド率が高くなり、また、前記ガイドモジュールの構造が簡単になり、コストが低くなる。 The guide module in the embodiment of the present application has at least the following beneficial effects: The guide module includes the guide assembly, the guide assembly includes the guide block, and one end of the guide block is provided with the arc surface. When the electronic component contacts the guide block, it realizes point contact or line contact with the arc surface of the guide block. Compared with the surface contact between the electronic component and the guide module in the prior art, the resistance experienced by the electronic component when it falls from the guide rail to the turntable in the present invention is smaller, the guiding effect of the electronic component is better, the electronic component is more evenly arranged on the turntable, the guiding rate of the guide module is higher, and the structure of the guide module is simpler and the cost is lower.

検査装置におけるガイドレール及びターンテーブルの模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram of a guide rail and a turntable in the inspection device. 本願の一実施例によるガイドブロックの斜視構造模式図である。FIG. 2 is a schematic perspective view of a guide block according to an embodiment of the present application; ターンテーブルとともに回転する部品がガイドブロックに接触する模式図である。13 is a schematic diagram showing a part rotating together with the turntable coming into contact with a guide block. FIG. 本願の一実施例によるガイドブロックの正面図である。FIG. 2 is a front view of a guide block according to one embodiment of the present application. 図4におけるガイドブロックのB部の部分拡大模式図である。5 is a partially enlarged schematic view of a portion B of the guide block in FIG. 4. 本願の一実施例によるガイドブロックの下面図である。FIG. 2 is a bottom view of a guide block according to an embodiment of the present application. 本願の一実施例によるガイドブロックの上面図である。FIG. 2 is a top view of a guide block according to one embodiment of the present application. 本願の一実施例によるガイドアセンブリの斜視構造模式図である。FIG. 2 is a perspective structural schematic diagram of a guide assembly according to an embodiment of the present application; 本願の一実施例によるガイドアセンブリの上面図である。FIG. 2 is a top view of a guide assembly according to one embodiment of the present application. 図9に示すガイドアセンブリのA-A方向断面図である。10 is a cross-sectional view of the guide assembly shown in FIG. 9 along the line AA. 本願のさらに別の実施例によるガイドアセンブリの斜視構造模式図である。FIG. 13 is a perspective structural schematic diagram of a guide assembly according to yet another embodiment of the present application. 本願の一実施例によるガイドモジュールの構造模式図である。FIG. 2 is a structural schematic diagram of a guide module according to an embodiment of the present application; 本願の一実施例によるガイドモジュールの部分構造模式図である。FIG. 2 is a schematic diagram of a partial structure of a guide module according to an embodiment of the present application. 本願の一実施例による6面外観検査装置の構造模式図である。1 is a schematic diagram of the structure of a six-sided visual inspection device according to an embodiment of the present application;

本願の目的、技術案及び利点をより明確に理解するために、以下、図面及び実施例を参照して、本願をさらに詳細に説明する。本明細書に記載された具体的な実施例は、本願を説明するためにのみ使用され、本願を限定するために使用されないことを理解されたい。 In order to more clearly understand the objectives, technical solutions and advantages of the present application, the present application will be described in more detail below with reference to the drawings and examples. It should be understood that the specific examples described in this specification are only used to illustrate the present application, and are not used to limit the present application.

なお、本願の説明において、「上」、「下」、「前」、「後」、「左」、「右」、「X」、「Y」、「Z」等に示される方位又は位置関係が、図面に示される方位又は位置関係に基づくものであり、単に本願の説明を容易にし、説明を簡略化するためであって、言及された装置又は素子が特定の方位を有したり、特定の方位で構成され、動作しなければならないことを指示又は示唆するものではない。従って、本願を限定するものとは理解されない。 In the description of this application, the orientations or positional relationships indicated by "upper," "lower," "front," "rear," "left," "right," "X," "Y," "Z," etc. are based on the orientations or positional relationships shown in the drawings, and are merely intended to facilitate and simplify the description of this application, and do not indicate or suggest that the devices or elements referred to have a specific orientation or must be configured or operate in a specific orientation. Therefore, they should not be understood as limiting this application.

本願の明細書において、「いくつか」は一つ以上を意味し、「以上」、「以下」、「以内」等は、当該数を含むものと理解される。「第1」、「第2」などの記載がある場合、単に技術的特徴を区別することを目的としたものであって、相対的重要性を指示又は示唆し、又は指示された技術的特徴の数を暗黙的に指示し、又は指示された技術的特徴の前後関係を暗黙的に指示すると理解されない。 In the specification of this application, "several" means one or more, and "more than," "less than," "within," etc. are understood to be inclusive of the number. When references such as "first," "second," etc. are made, they are intended merely to distinguish technical features and are not to be understood as indicating or suggesting relative importance, or as implicitly indicating the number of the indicated technical features, or as implicitly indicating the context of the indicated technical features.

本願の説明において、別途明確な限定がない限り、「設置」、「取り付ける」、「接続」などの用語は広義に理解すべきであり、当業者は技術案の具体的な内容と合わせて上記の用語の本願における具体的な意味を合理的に決定してもよい。 In the description of this application, unless otherwise expressly limited, the terms "install," "attach," "connect," etc. should be understood in a broad sense, and a person skilled in the art may reasonably determine the specific meaning of the above terms in this application in combination with the specific content of the technical solution.

本願の説明において、用語「一実施例」、「いくつかの実施例」、「例示的な実施例」、「例」、「具体例」、又は「いくつかの例」などを参照する説明は、当該実施例もしくは例に記載の具体的な特徴、構造、材料、又は特性が本願の少なくとも1つの実施例もしくは例に含まれることを意味する。本明細書において、上述の用語の概略的な表現は、必ずしも同じ実施例又は例を指すものではない。さらに、記載された具体的な特徴、構造、材料、又は特性は、任意の1つ又は複数の実施例もしくは例において、適切な方法で組み合わされてもよい。 In the present description, references to the terms "one embodiment," "some embodiments," "exemplary embodiments," "example," "specific example," or "some examples" mean that the specific features, structures, materials, or characteristics described in the embodiment or example are included in at least one embodiment or example of the present application. In this specification, generalized expressions of the above terms do not necessarily refer to the same embodiment or example. Furthermore, the specific features, structures, materials, or characteristics described may be combined in any suitable manner in any one or more embodiments or examples.

別段の定義がない限り、本明細書で使用されるすべての技術用語及び科学用語は、本願の当業者が一般に理解する意味と同じである。本明細書で使用される用語は、本願の実施例を説明する目的のためにのみ使用され、本願を限定することを意図するものではない。 Unless otherwise defined, all technical and scientific terms used herein have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this application pertains. The terms used herein are used only for the purpose of describing the examples of this application and are not intended to limit the scope of this application.

電子技術及びその応用分野の急速な発展に伴い、電子部品の識別及び検査の信頼性と正確性の要件がますます高くなっている。例えばコンデンサ、抵抗器などの電子部品(以下、「部品」という)を検査するには、通常、供給部材によって部品を受け取り、さらに例えばガイドレールなどの移送部材によって部品をターンテーブル上に移送し、その後、ターンテーブルとともに移動する部品に対して検査及び分類などを行う必要がある。 With the rapid development of electronic technology and its application fields, the requirements for reliability and accuracy in identifying and inspecting electronic components are becoming higher and higher. To inspect electronic components (hereinafter referred to as "components") such as capacitors and resistors, it is usually necessary to receive the components using a supply member, and then transfer the components onto a turntable using a transport member such as a guide rail, and then inspect and classify the components moving together with the turntable.

図1は、検査装置におけるガイドレール及びターンテーブルの模式図である。図1に示すように、ガイドレールは、通常、ターンテーブル12の上方(Z軸)に設けられ、ターンテーブル12との高低差を有し、ターンテーブル12に対して傾斜しており、それによってガイドレール11上に置かれた部品5をそれ自体の重力の作用下でガイドレール11に沿って移送する。移送効率をさらに向上させるために、ガイドレール11はさらに振動可能に設けられ、それによってガイドレール11上に置かれた部品5を重力とガイドレール11の振動との相乗作用でターンテーブルに移送する。 Figure 1 is a schematic diagram of a guide rail and a turntable in an inspection device. As shown in Figure 1, the guide rail is usually provided above the turntable 12 (Z-axis), has a height difference with the turntable 12, and is inclined with respect to the turntable 12, so that the part 5 placed on the guide rail 11 is transferred along the guide rail 11 under the action of its own gravity. In order to further improve the transfer efficiency, the guide rail 11 is further provided so as to be vibrable, so that the part 5 placed on the guide rail 11 is transferred to the turntable by the synergistic action of gravity and the vibration of the guide rail 11.

上記方式により、各部品5がガイドレール11からターンテーブル12上に移送されるが、各部品5をきちんと均等に配置することが困難である。後続の検査を容易にするために、ターンテーブル12上に落下した各部品5に対して位置調整を行い、即ち、各部品5をガイドする必要があり、それによって各検査対象の部品5をターンテーブル12上に要件を満たす態様で配置する。 With the above method, each part 5 is transferred from the guide rail 11 onto the turntable 12, but it is difficult to arrange each part 5 neatly and evenly. To facilitate subsequent inspection, it is necessary to adjust the position of each part 5 that has fallen onto the turntable 12, i.e., guide each part 5, so that each part 5 to be inspected is arranged on the turntable 12 in a manner that meets the requirements.

本技術案は、ガイドブロック3によって、ターンテーブル上に落下した部品5をガイドする。 In this technical solution, a guide block 3 guides a part 5 that has fallen onto the turntable.

本願の一実施例は、ターンテーブル12上の部品5をガイドするだけでなく、様々な部品5又は様々なシーンを正確にガイドするようにガイドブロック3に対して位置、角度の調整を行うこともできるガイドブロック3を含むガイドアセンブリ2を提供する。 One embodiment of the present application provides a guide assembly 2 including a guide block 3 that not only guides a part 5 on a turntable 12, but also allows the position and angle of the guide block 3 to be adjusted to accurately guide different parts 5 or different scenes.

本願の別の実施例は、部品5をガイドし、様々なシーンに適用できるだけでなく、モジュールのほかの部材と組み合わせてガイドの動作効率を向上させることもできるガイドアセンブリ2を含むガイドモジュール1をさらに提供する。 Another embodiment of the present application further provides a guide module 1 including a guide assembly 2 that guides a part 5 and is not only applicable to various scenes, but can also be combined with other members of the module to improve the operating efficiency of the guide.

以下、明細書の図面を参照して本願の実施例を詳細に説明する。 The embodiments of the present application are described in detail below with reference to the drawings in the specification.

本願の実施例は、ガイドブロック3、ガイドアセンブリ2、ガイドモジュール1及び6面外観検査装置4を提供し、ガイドブロック3に円弧面が設けられることで、部品5に対するガイドブロック3とガイドアセンブリ2のガイド効果を向上させる。 The embodiment of the present application provides a guide block 3, a guide assembly 2, a guide module 1, and a six-sided visual inspection device 4, and the guide block 3 is provided with an arc surface, thereby improving the guiding effect of the guide block 3 and the guide assembly 2 on the part 5.

以下、図面と併せて本願の実施例をさらに説明する。 The following describes the embodiments of the present application in further detail with reference to the drawings.

本願の第1態様の実施例は、ガイドブロック3を提供し、図2に示すように、本願の一実施例によるガイドブロックの斜視構造模式図である。ガイドブロック3は、上面31と、上面31と対向する下面32及び第1端33と、第1端33と対向する第2端と、を含み、第2端には第2端面34が設けられる。 The embodiment of the first aspect of the present application provides a guide block 3, and as shown in FIG. 2, a perspective structural schematic diagram of a guide block according to an embodiment of the present application. The guide block 3 includes an upper surface 31, a lower surface 32 and a first end 33 opposite the upper surface 31, and a second end opposite the first end 33, and the second end is provided with a second end surface 34.

一実施例では、第1端33は第1領域331、第2領域332、第3領域333及び第4領域334を含む。第1領域331は上面31と第2領域332との間に設けられ、即ち、第1領域331の一方の辺は上面31に隣接し、他方の辺は第2領域332に隣接する。第2領域332は第1領域331と第3領域333との間に設けられ、即ち、第2領域332の一方の辺は第1領域331に隣接し、他方の辺は第3領域333に隣接する。第3領域333は第2領域332と第4領域334との間に設けられ、即ち、第3領域333の一方の辺は第2領域332に隣接し、他方の辺は第4領域334に隣接する。第4領域334は第3領域333と下面32との間に設けられ、即ち、第4領域334の一方の辺は第3領域334に隣接し、他方の辺は下面32に隣接する。 In one embodiment, the first end 33 includes a first region 331, a second region 332, a third region 333, and a fourth region 334. The first region 331 is provided between the top surface 31 and the second region 332, i.e., one side of the first region 331 is adjacent to the top surface 31, and the other side is adjacent to the second region 332. The second region 332 is provided between the first region 331 and the third region 333, i.e., one side of the second region 332 is adjacent to the first region 331, and the other side is adjacent to the third region 333. The third region 333 is provided between the second region 332 and the fourth region 334, i.e., one side of the third region 333 is adjacent to the second region 332, and the other side is adjacent to the fourth region 334. The fourth region 334 is provided between the third region 333 and the lower surface 32, i.e., one side of the fourth region 334 is adjacent to the third region 334, and the other side is adjacent to the lower surface 32.

第1領域331、第2領域332、第3領域333、及び第4領域334が順に隣接してガイドブロック3の第1端33を形成する。ガイドブロックの上面31、第1領域331、第2領域332、第3領域333、第4領域334、下面32、及び第2端面34は順に接続される。 The first region 331, the second region 332, the third region 333, and the fourth region 334 are adjacent to each other in order to form the first end 33 of the guide block 3. The top surface 31, the first region 331, the second region 332, the third region 333, the fourth region 334, the bottom surface 32, and the second end surface 34 of the guide block are connected in order.

第4領域334は第4面3341を含む。 The fourth region 334 includes a fourth surface 3341.

一実施例では、第4面3341は円弧面であり得る。部品5がガイドレール11からターンテーブル12に移送されると、部品5がターンテーブル12とともに回転し、ガイドブロック3の円弧面に接触し、さらに部品5のガイドを実現する。 In one embodiment, the fourth surface 3341 may be an arc surface. When the part 5 is transferred from the guide rail 11 to the turntable 12, the part 5 rotates with the turntable 12 and contacts the arc surface of the guide block 3, further realizing the guidance of the part 5.

理解の便宜上、以下、部品5のガイドプロセス、即ち、ターンテーブル12上に移送された各部品5に対して位置調整を行い、均一な配置を実現するプロセスについて、説明する。 For ease of understanding, the process of guiding the parts 5, i.e., the process of adjusting the position of each part 5 transferred onto the turntable 12 to achieve uniform placement, will be described below.

ガイドレール11上の部品5は、ガイドレール11の振動、及びそれ自体の重力の作用下で、ターンテーブル12上に移送される。動作中、ターンテーブル12は回転し続ける。部品5がターンテーブル12に移送されると、部品5とターンテーブル12間の摩擦力によって、部品5がターンテーブル12の回転に伴って移動する。部品5がガイドブロック3に接触するまで移動すると、ガイドブロック3が固定して設けられ且つターンテーブル12が回転し続けるため、ターンテーブル12上の部品5がガイドブロック3の逆推力の下で変位する。即ち、部品5がガイドブロック3の逆推力の下で、ターンテーブル12との相対変位を発生させ、さらに部品5のガイドを実現する。ターンテーブル12上に移送された各部品5がガイドブロック3によってガイドされた後、さらに各部品5の整然とした配置を実現する。 The part 5 on the guide rail 11 is transferred onto the turntable 12 under the action of the vibration of the guide rail 11 and its own gravity. During operation, the turntable 12 continues to rotate. When the part 5 is transferred onto the turntable 12, the frictional force between the part 5 and the turntable 12 causes the part 5 to move with the rotation of the turntable 12. When the part 5 moves until it comes into contact with the guide block 3, the guide block 3 is fixed and the turntable 12 continues to rotate, so that the part 5 on the turntable 12 is displaced under the reverse thrust of the guide block 3. That is, the part 5 generates a relative displacement with the turntable 12 under the reverse thrust of the guide block 3, which further realizes the guiding of the part 5. After each part 5 transferred onto the turntable 12 is guided by the guide block 3, the orderly arrangement of each part 5 is further realized.

一実施例では、部品5はターンテーブル12とともに回転する過程で、ガイドブロック3の円弧面に線接触し、さらに部品5のガイドを実現する。 In one embodiment, as the part 5 rotates with the turntable 12, it comes into line contact with the arcuate surface of the guide block 3, further guiding the part 5.

別の実施例では、部品5はターンテーブル12とともに回転する過程で、ガイドブロック3の円弧面に点接触し、さらに部品5のガイドを実現する。 In another embodiment, the part 5 comes into point contact with the arcuate surface of the guide block 3 as it rotates with the turntable 12, further guiding the part 5.

図3は、ターンテーブルとともに回転する部品がガイドブロックに接触する模式図である。図3に示すように、部品5はガイドブロック3の第4面3341に線接触又は点接触する。このとき、部品5は接触線/点の位置で推力Fを受ける。推力Fの作用下で、部品5の位置が変化し、さらにガイドを実現する。従来技術において部品5とガイドブロック3が面接触であることに比べて、上記方式により部品5をガイドすることによって、本実施例における部品5がターンテーブル12上を移動する時にガイドブロック3から受ける作用力が小さく、ガイド効果がより正確になる。 Figure 3 is a schematic diagram of a part rotating with the turntable contacting the guide block. As shown in Figure 3, the part 5 makes line or point contact with the fourth surface 3341 of the guide block 3. At this time, the part 5 receives a thrust F at the position of the contact line/point. Under the action of the thrust F, the position of the part 5 changes, realizing further guidance. Compared to the prior art where the part 5 and the guide block 3 are in surface contact, by guiding the part 5 in the above manner, the part 5 in this embodiment receives a smaller force from the guide block 3 when moving on the turntable 12, resulting in a more accurate guiding effect.

図4に示すように、本願の一実施例によるガイドブロックの正面図であり、いくつかの実施例では、第1領域331は第1面3311を含み、第2領域332は第2面3321を含み、第3領域333は第3面3331を含む。 As shown in FIG. 4, which is a front view of a guide block according to one embodiment of the present application, in some embodiments, the first region 331 includes a first surface 3311, the second region 332 includes a second surface 3321, and the third region 333 includes a third surface 3331.

いくつかの実施例では、第1面3311と上面31との夾角は180°以上270°以下である。 In some embodiments, the angle between the first surface 3311 and the top surface 31 is greater than or equal to 180° and less than or equal to 270°.

いくつかの実施例では、第2面3321と第1面3311との夾角は180°以上270°以下である。 In some embodiments, the angle between the second surface 3321 and the first surface 3311 is greater than or equal to 180° and less than or equal to 270°.

いくつかの実施例では、第3面3331と第2面3321との夾角は180°以上270°以下である。 In some embodiments, the angle between the third surface 3331 and the second surface 3321 is greater than or equal to 180° and less than or equal to 270°.

第1面3311と上面31との間に夾角αが形成され、夾角αが180°以上270°以下であり、第2面3321と第1面3311との間に夾角βが形成され、夾角βが180°以上270°以下であり、第3面3331と第2面3321との間に夾角γが形成され、夾角γが180°以上270°以下である。上面31と第1面3311と、第1面3311と第2面3321と、第2面3321と第3面3331との間に夾角がそれぞれ形成される。様々なサイズの部品5とガイドブロック3との接触に適応するように、ガイドブロック3の第1端33の各領域間は様々な角度を形成してもよい。 An included angle α is formed between the first surface 3311 and the top surface 31, and the included angle α is 180° or more and 270° or less; an included angle β is formed between the second surface 3321 and the first surface 3311, and the included angle β is 180° or more and 270° or less; and an included angle γ is formed between the third surface 3331 and the second surface 3321, and the included angle γ is 180° or more and 270° or less. Included angles are formed between the top surface 31 and the first surface 3311, between the first surface 3311 and the second surface 3321, and between the second surface 3321 and the third surface 3331, respectively. Various angles may be formed between the regions of the first end 33 of the guide block 3 to accommodate contact between the guide block 3 and components 5 of various sizes.

さらに、第3面3331と下面32の延長線は夾角θを形成し、夾角θは60°以上75°以下である。図5は、図4におけるガイドブロックのB部の部分拡大模式図である。図5に示すように、第3面3331と下面32との間には第4面3341が設けられる。第3面3331の延長線と下面32の延長線は夾角θを形成する。上記の構成により、ガイドブロック3の第3領域333は第2端面34の一方側に傾斜し、下面32のZ軸方向に逃がしスペースを形成し、第3領域333が部品5に接触してガイド効果を損なうことを回避する。 Furthermore, the extensions of the third surface 3331 and the lower surface 32 form an included angle θ, which is 60° or more and 75° or less. Figure 5 is a partial enlarged schematic diagram of part B of the guide block in Figure 4. As shown in Figure 5, a fourth surface 3341 is provided between the third surface 3331 and the lower surface 32. The extensions of the third surface 3331 and the lower surface 32 form an included angle θ. With the above configuration, the third region 333 of the guide block 3 is inclined to one side of the second end surface 34, forming an escape space in the Z-axis direction of the lower surface 32, and preventing the third region 333 from contacting the component 5 and impairing the guide effect.

一実施例では、第1面3311と上面31との夾角αは210°、第2面3321と第1面3311との夾角βは240°、第3面3331と第2面3321との夾角γは210°、第3面3331と下面32との夾角θは60°である。上面31と第1面3311と、第1面3311と第2面3321と、第2面3321と第3面3331と、第3面3331と下面32との間に夾角が形成される。ガイドブロック3の第2領域332及び第3領域333は第2端面34の一方側に凹んでおり、下面32のZ軸方向に逃がしスペースを形成し、第1領域331、第2領域332、及び第3領域333が部品5に接触してガイド効果を損なうことを回避する。 In one embodiment, the included angle α between the first surface 3311 and the upper surface 31 is 210°, the included angle β between the second surface 3321 and the first surface 3311 is 240°, the included angle γ between the third surface 3331 and the second surface 3321 is 210°, and the included angle θ between the third surface 3331 and the lower surface 32 is 60°. Angles are formed between the upper surface 31 and the first surface 3311, between the first surface 3311 and the second surface 3321, between the second surface 3321 and the third surface 3331, and between the third surface 3331 and the lower surface 32. The second region 332 and the third region 333 of the guide block 3 are recessed on one side of the second end face 34, forming an escape space in the Z-axis direction of the lower surface 32, and preventing the first region 331, the second region 332, and the third region 333 from contacting the part 5 and impairing the guide effect.

図5に示すように、ガイドブロック3の第4領域334は第4面3341を含み、第4面3341は円弧面である。 As shown in FIG. 5, the fourth region 334 of the guide block 3 includes a fourth surface 3341, which is an arcuate surface.

一実施例では、円弧面は部品5接触線を含み、該部品5接触線は、円弧面上の第2端面34から最も遠い点の集合からなり、ガイドブロック3の第1側35から第1側35と対向する第2側36へ延びている。より具体的には、部品5接触線は、ガイドブロック3の第5領域335から第5領域335と対向する第2側36へ延びている。 In one embodiment, the arcuate surface includes a part 5 contact line, which is made up of a set of points on the arcuate surface that are furthest from the second end surface 34 and extends from a first side 35 of the guide block 3 to a second side 36 opposite the first side 35. More specifically, the part 5 contact line extends from a fifth region 335 of the guide block 3 to a second side 36 opposite the fifth region 335.

いくつかの応用シーンでは、部品5とガイドブロック3との接触点は部品5接触線上にある。部品5とガイドブロック3は線接触又は点接触である。検査対象の部品5のサイズと重量が小さいため、受ける外力が大きすぎると、大きな変位が発生しやすく、さらに部品5が所望の位置からずれてしまう。上記方式により、部品5がガイドブロック3から受ける摩擦力(逆推力)が面接触よりも小さくなり、位置調整がより正確になり、ガイド効果がより良好になる。 In some application scenarios, the contact point between the part 5 and the guide block 3 is on the part 5 contact line. The part 5 and the guide block 3 are in line contact or point contact. Because the size and weight of the part 5 to be inspected are small, if the external force received is too large, it is likely to cause a large displacement, and even cause the part 5 to deviate from the desired position. With the above method, the friction force (reverse thrust) received by the part 5 from the guide block 3 is smaller than in surface contact, making the position adjustment more accurate and the guiding effect better.

いくつかの実施例では、円弧面の半径は、0.01~1mmであってもよい。 In some embodiments, the radius of the arc surface may be between 0.01 and 1 mm.

好ましい実施例では、円弧面の半径は0.05mmである。円弧面の半径を0.05mmに設定すると、部品5とガイドブロック3の第4領域3341との円弧面接触を確保するだけでなく、部品5と円弧面との線接触又は点接触を実現することもでき、部品5がガイドブロック3からの一定の逆推力を受けることを確保し、さらに部品5の位置を正確に調整することができる。 In a preferred embodiment, the radius of the arc surface is 0.05 mm. Setting the radius of the arc surface to 0.05 mm not only ensures arc surface contact between the part 5 and the fourth region 3341 of the guide block 3, but also realizes line or point contact between the part 5 and the arc surface, ensures that the part 5 receives a constant reverse thrust from the guide block 3, and further allows the position of the part 5 to be accurately adjusted.

図6に示すように、本願の一実施例によるガイドブロックの下面図であり、いくつかの実施例では、ガイドブロック3の下面32には真空溝321及び真空通路322が設けられ、真空溝321は真空通路322と連通する。 As shown in FIG. 6, this is a bottom view of a guide block according to one embodiment of the present application. In some embodiments, the bottom surface 32 of the guide block 3 is provided with a vacuum groove 321 and a vacuum passage 322, and the vacuum groove 321 is connected to the vacuum passage 322.

いくつかの実施例では、真空通路322は真空装置13に接続され、真空装置13は真空通路322、真空溝321と組み合わせて真空引き効果を実現する。真空装置13がオンになると、真空溝321が真空通路322と連通し、ガイドブロック3の下面32の真空溝321付近を真空環境にし、ガイドブロック3の下面32に近いガスの流れを低減させ、さらに部品5の位置移動への影響を低減させる。 In some embodiments, the vacuum passage 322 is connected to the vacuum device 13, which achieves a vacuum effect in combination with the vacuum passage 322 and the vacuum groove 321. When the vacuum device 13 is turned on, the vacuum groove 321 communicates with the vacuum passage 322, creating a vacuum environment near the vacuum groove 321 on the lower surface 32 of the guide block 3, reducing the flow of gas near the lower surface 32 of the guide block 3, and further reducing the impact on the positional movement of the component 5.

図7は、本願の一実施例によるガイドブロックの上面図であり、図7に示すように、いくつかの実施例では、ガイドブロック3の第1端33は第5領域335をさらに含み、第5領域335は第1側35、第1領域331、第2領域332、第3領域333、及び第4領域334にそれぞれ接続される。第5領域335は第5面3351を含み、第5面3351は円弧状面である。円弧状面は上面31、第1面3311、第2面3321、第3面3331、第4面3341及び第1側35にそれぞれ接続される。第5面3351が円弧状面であり、部品5がY軸に沿ってガイドブロック3の第2側36からガイドブロック3の第1側35に移動した後、徐々に減速しながらガイドブロック3から徐々に離れ、ターンテーブル12上に均等に配置され、ターンテーブル12とともに移動する。第5領域335に円弧状面が設けられることにより、部品5が第5領域335に移動する時にガイドブロックから受ける作用力が小さくなり、ターンテーブル12に対する部品5の速度が徐々に0に近づいていき、部品5がターンテーブル12上にスムーズに落下し、ターンテーブル12とともに回転する。 7 is a top view of a guide block according to an embodiment of the present application. As shown in FIG. 7, in some embodiments, the first end 33 of the guide block 3 further includes a fifth region 335, which is connected to the first side 35, the first region 331, the second region 332, the third region 333, and the fourth region 334, respectively. The fifth region 335 includes a fifth surface 3351, which is an arc-shaped surface. The arc-shaped surface is connected to the upper surface 31, the first surface 3311, the second surface 3321, the third surface 3331, the fourth surface 3341, and the first side 35, respectively. The fifth surface 3351 is an arc-shaped surface, and after the part 5 moves from the second side 36 of the guide block 3 to the first side 35 of the guide block 3 along the Y axis, it gradually decelerates and gradually leaves the guide block 3, is evenly positioned on the turntable 12, and moves with the turntable 12. By providing an arc-shaped surface in the fifth region 335, the force that the part 5 receives from the guide block when it moves to the fifth region 335 is reduced, the speed of the part 5 relative to the turntable 12 gradually approaches zero, and the part 5 falls smoothly onto the turntable 12 and rotates together with the turntable 12.

図8は、本願の一実施例によるガイドアセンブリの斜視構造模式図である。図8に示すように、本願の第2態様の実施例によるガイドアセンブリ2であり、ガイドアセンブリ2は、ガイドブロック3と、ガイドブロック3を固定する基台21と、基台21を載置し、ガイドブロック3の位置を調整可能な位置調整装置22と、を含む。基台21は、基台の第1端211と、基台の第1端211と対向して設けられる基台の第2端212と、を含む。基台の第1端211は、基台の第1面2111、基台の第2面2112及び基台の第3面2113を含む。基台の第2面2112は基台の第1面2111と基台の第3面2113との間に位置し、即ち、基台の第2面2112の一方の辺は基台の第1面2111に隣接し、基台の第2面2112の他方の辺は基台の第3面2113に隣接する。基台の第2面2112と基台の第3面2113はベース2114を形成し、ガイドブロック3はベース2114内に設けられてもよく、即ち、ガイドブロック3の第2端面34は基台の第2面2112に接触し、ガイドブロック3の下面32は基台の第3面2113に接触する。基台の第2端212は、基台の第2端面2122を含み、基台の第2端面2122は位置調整装置22に接続される。ガイドブロック3は基台21を介して位置調整装置22に接続されることで、ターンテーブル12に対するガイドブロック3の位置関係を制御し、動作中のガイドブロック3の位置の安定性を確保する。 Figure 8 is a schematic perspective view of a guide assembly according to an embodiment of the present application. As shown in Figure 8, the guide assembly 2 is an embodiment of the second aspect of the present application, and the guide assembly 2 includes a guide block 3, a base 21 for fixing the guide block 3, and a position adjustment device 22 for mounting the base 21 and capable of adjusting the position of the guide block 3. The base 21 includes a first end 211 of the base and a second end 212 of the base that is disposed opposite the first end 211 of the base. The first end 211 of the base includes a first surface 2111 of the base, a second surface 2112 of the base, and a third surface 2113 of the base. The second surface 2112 of the base is located between the first surface 2111 of the base and the third surface 2113 of the base, i.e., one side of the second surface 2112 of the base is adjacent to the first surface 2111 of the base, and the other side of the second surface 2112 of the base is adjacent to the third surface 2113 of the base. The second surface 2112 of the base and the third surface 2113 of the base form a base 2114, and the guide block 3 may be disposed in the base 2114, i.e., the second end surface 34 of the guide block 3 contacts the second surface 2112 of the base, and the lower surface 32 of the guide block 3 contacts the third surface 2113 of the base. The second end 212 of the base includes a second end surface 2122 of the base, and the second end surface 2122 of the base is connected to the position adjustment device 22. The guide block 3 is connected to a position adjustment device 22 via a base 21, which controls the positional relationship of the guide block 3 with respect to the turntable 12 and ensures the stability of the position of the guide block 3 during operation.

基台の第1面2111と基台の第2端面2122との垂直距離は基台の第3面2113と基台の第2端面2122との垂直距離よりも大きい。基台の第1面2111と基台の第3面2113が垂直方向に高低差を形成し、該高低差が基台の第1端211に凹段差部を形成し、基台の第2面2112が基台の第1面2111と基台の第3面2113とを接続する。基台の第2面2112と基台の第3面2113はガイドブロック3を収容するためのベース2114を形成し、ガイドブロック3の第2端面34は基台の第2面2112に接触し、下面32は基台の第3面2113に接触してベース2114内に設けられる。 The vertical distance between the first surface 2111 of the base and the second end surface 2122 of the base is greater than the vertical distance between the third surface 2113 of the base and the second end surface 2122 of the base. The first surface 2111 of the base and the third surface 2113 of the base form a height difference in the vertical direction, which height difference forms a concave step portion at the first end 211 of the base, and the second surface 2112 of the base connects the first surface 2111 of the base and the third surface 2113 of the base. The second surface 2112 of the base and the third surface 2113 of the base form a base 2114 for accommodating the guide block 3, and the second end surface 34 of the guide block 3 contacts the second surface 2112 of the base, and the lower surface 32 contacts the third surface 2113 of the base and is provided within the base 2114.

いくつかの実施例では、基台の第1面2111と基台の第2面2112との間には基台の第4面2115がさらに設けられ、即ち、基台の第4面2115の一方の辺は基台の第1面2111に隣接し、他方の辺は基台の第2面2112に隣接する。基台の第4面2115の基台の第1面2111に隣接する端はベース2114から離れ、第4面2115の基台の第2面2112に隣接する端はベース2114に近く、基台の第4面2115が傾斜状である。基台の第4面2115はガイドブロック3をベース2114に組み立てる時の逃がしスペースを提供し、ガイドブロック3の取付及び固定を容易にする。 In some embodiments, a fourth surface 2115 of the base is further provided between the first surface 2111 of the base and the second surface 2112 of the base, i.e., one side of the fourth surface 2115 of the base is adjacent to the first surface 2111 of the base and the other side is adjacent to the second surface 2112 of the base. The end of the fourth surface 2115 of the base adjacent to the first surface 2111 of the base is away from the base 2114, and the end of the fourth surface 2115 of the base adjacent to the second surface 2112 of the base is close to the base 2114, so that the fourth surface 2115 of the base is inclined. The fourth surface 2115 of the base provides a clearance space when assembling the guide block 3 to the base 2114, and facilitates the installation and fixing of the guide block 3.

ガイドブロック3はベース2114に設けられ、基台の第2面2112及び基台の第3面2113に接触して設けられる。ガイドブロック3は基台の第2面2112及び基台の第3面2113に密着し、即ち、ガイドブロック3の第2端面34と基台の第2面2112との間、ガイドブロック3の下面32と基台の第3面2113との間に真空が形成されることで、動作中のガイドブロック3が揺れるため、部品5に対するガイドブロック3の作用力の大きさと方向が統一されず、さらに部品5のガイド効果を損なうことを防止する。 The guide block 3 is mounted on the base 2114 and is in contact with the second surface 2112 and the third surface 2113 of the base. The guide block 3 is in close contact with the second surface 2112 and the third surface 2113 of the base, i.e., a vacuum is formed between the second end surface 34 of the guide block 3 and the second surface 2112 of the base, and between the lower surface 32 of the guide block 3 and the third surface 2113 of the base, which causes the guide block 3 to shake during operation, causing the magnitude and direction of the force of the guide block 3 acting on the component 5 to be non-uniform, and further preventing the guide effect of the component 5 from being impaired.

ガイドブロック3の基台の第2面2112から離れる端は、ガイドブロック3の第1端33を含み、第1端33は第4領域334を含む。第4領域334は第4面3341を含み、第4面3341は円弧面である。円弧面は部品5接触線を含み、該部品5接触線は、円弧面上の第2端面34から最も遠い点の集合からなり、ガイドブロック3の第1側35から第1側35と対向する第2側36へ延びている。より具体的には、部品5接触線は、ガイドブロック3の第5領域335から第5領域335と対向する第2側36へ延びている。 The end of the guide block 3 away from the second surface 2112 of the base includes the first end 33 of the guide block 3, and the first end 33 includes the fourth region 334. The fourth region 334 includes a fourth surface 3341, and the fourth surface 3341 is an arcuate surface. The arcuate surface includes a part 5 contact line, which is made up of a set of points on the arcuate surface that are farthest from the second end surface 34, and which extends from the first side 35 of the guide block 3 to the second side 36 opposite the first side 35. More specifically, the part 5 contact line extends from the fifth region 335 of the guide block 3 to the second side 36 opposite the fifth region 335.

いくつかの応用シーンでは、部品5とガイドブロック3との接触点は部品5接触線上にある。部品5とガイドブロック3は線接触又は点接触である。検査対象の部品5のサイズと重量が小さいため、受ける外力が大きすぎると、大きな変位が発生しやすく、さらに部品5が所望の位置からずれてしまう。上記方式により、部品5がガイドブロック3から受ける摩擦力(逆推力)が面接触よりも小さくなり、位置調整がより正確になり、ガイド効果がより良好になる。 In some application scenarios, the contact point between the part 5 and the guide block 3 is on the part 5 contact line. The part 5 and the guide block 3 are in line contact or point contact. Because the size and weight of the part 5 to be inspected are small, if the external force received is too large, it is likely to cause a large displacement, and even cause the part 5 to deviate from the desired position. With the above method, the friction force (reverse thrust) received by the part 5 from the guide block 3 is smaller than in surface contact, making the position adjustment more accurate and the guiding effect better.

位置調整装置22は、基台の第2端面2122に近く設けられ、それに接続される基台21及び基台21に接続されるガイドブロック3を調整可能である。さらにガイドレール11及びターンテーブル12に対する部品5接触線の位置を調整する。ガイドレール11からターンテーブル12に落下した部品5を部品5接触線においてガイドブロック3に接触させ、さらに部品5がガイドブロック3から受ける作用力の大きさと方向を調整する。 The position adjustment device 22 is provided near the second end surface 2122 of the base, and is capable of adjusting the base 21 connected thereto and the guide block 3 connected to the base 21. It also adjusts the position of the contact line of the component 5 relative to the guide rail 11 and the turntable 12. The component 5 that has fallen from the guide rail 11 onto the turntable 12 is brought into contact with the guide block 3 at the contact line of the component 5, and the magnitude and direction of the force that the component 5 receives from the guide block 3 are also adjusted.

いくつかの実施例では、位置調整装置22は、第1平行板2211、第1平行軸2212、第2平行板2213、第2平行軸2214及び底板2215を含む。第1平行軸2212は、第1平行板2211と第2平行板2213との間に位置し、第2平行軸2214は第2平行板2213と底板2215との間に位置する。第1平行板2211と第2平行板2213との間には一定の間隔距離が設けられ、第1平行板2211と第2平行板2213は第1平行軸2212の周りに回転可能である。第2平行板2213と底板2215との間には一定の間隔距離が設けられ、第2平行板2213と底板2215は第1平行軸2212の周りに回転可能である。第1平行板2211、第2平行板2213及び底板2215は積層して設けられ、第1平行軸2212と第2平行軸2214は交差して設けられ、それによって位置調整装置22の多角度位置調整を実現し、さらにガイドブロック3の位置の多角度調整を実現する。 In some embodiments, the position adjustment device 22 includes a first parallel plate 2211, a first parallel axis 2212, a second parallel plate 2213, a second parallel axis 2214, and a bottom plate 2215. The first parallel axis 2212 is located between the first parallel plate 2211 and the second parallel plate 2213, and the second parallel axis 2214 is located between the second parallel plate 2213 and the bottom plate 2215. A certain distance is provided between the first parallel plate 2211 and the second parallel plate 2213, and the first parallel plate 2211 and the second parallel plate 2213 can rotate around the first parallel axis 2212. A certain distance is provided between the second parallel plate 2213 and the bottom plate 2215, and the second parallel plate 2213 and the bottom plate 2215 can rotate around the first parallel axis 2212. The first parallel plate 2211, the second parallel plate 2213, and the bottom plate 2215 are stacked, and the first parallel axis 2212 and the second parallel axis 2214 are arranged to intersect, thereby realizing multi-angle position adjustment of the position adjustment device 22 and further realizing multi-angle adjustment of the position of the guide block 3.

いくつかの実施例では、第1平行軸2212と第2平行軸2214は互いに垂直に設けられ、第1平行軸2212と第2平行軸2214は位置調整装置22の調整方向を制限し、360°範囲内で調整可能である。 In some embodiments, the first parallel axis 2212 and the second parallel axis 2214 are arranged perpendicular to each other, and the first parallel axis 2212 and the second parallel axis 2214 limit the adjustment direction of the position adjustment device 22 and are adjustable within a 360° range.

いくつかの実施例では、第1平行軸2212はY軸と平行に設けられ、第2平行軸2214はX軸と平行に設けられる。第1平行板2211は第1平行軸2212の周りに回転可能であり、即ち、第1平行板2211はY軸の周りに回転可能である。第2平行板2213は第2平行軸2214の周りに回転可能であり、即ち、第2平行板2213はX軸の周りに回転可能である。さらにガイドブロック3はそれぞれY軸又はX軸の周りに回転可能であることで、ガイドブロック3とターンテーブル12との間の隙間を調整し、ガイドブロック3の下面32をターンテーブル12の平面と平行させる。部品5のサイズが小さく、動作中のいかなるわずかな位置やサイズのずれもガイドブロック3のガイド効果に影響を与えるため、その動作要件を満たすようにガイドブロック3に対して位置調整を行う位置調整装置22が設けられる。 In some embodiments, the first parallel axis 2212 is arranged parallel to the Y axis, and the second parallel axis 2214 is arranged parallel to the X axis. The first parallel plate 2211 is rotatable around the first parallel axis 2212, i.e., the first parallel plate 2211 is rotatable around the Y axis. The second parallel plate 2213 is rotatable around the second parallel axis 2214, i.e., the second parallel plate 2213 is rotatable around the X axis. Furthermore, the guide block 3 is rotatable around the Y axis or the X axis, respectively, to adjust the gap between the guide block 3 and the turntable 12 and make the lower surface 32 of the guide block 3 parallel to the plane of the turntable 12. Since the size of the parts 5 is small and any slight position or size deviation during operation will affect the guiding effect of the guide block 3, a position adjustment device 22 is provided to adjust the position of the guide block 3 to meet the operating requirements.

図9は、本願の一実施例によるガイドアセンブリの上面図である。図9に示すように、いくつかの実施例では、ガイドブロック3は基台21のベース2114内に固定され、基台21は位置調整装置22の一方側に固定される。位置調整装置22は、第1調整ねじ2221、第2調整ねじ2223、第1位置決めねじ2231及び第2位置決めねじ2232をさらに含み、第1調整ねじ2221、第2調整ねじ2223、第1位置決めねじ2231及び第2位置決めねじ2232は第1平行板2211を貫通して設けられる。第1平行板2211、第2平行板2213及び底板2215間の位置関係を調整することで、ガイドブロック3の位置調整を実現することができ、適切な位置に調整して最適なガイド効果を実現する。 9 is a top view of a guide assembly according to an embodiment of the present application. As shown in FIG. 9, in some embodiments, the guide block 3 is fixed in the base 2114 of the base 21, and the base 21 is fixed to one side of the position adjustment device 22. The position adjustment device 22 further includes a first adjustment screw 2221, a second adjustment screw 2223, a first positioning screw 2231, and a second positioning screw 2232, and the first adjustment screw 2221, the second adjustment screw 2223, the first positioning screw 2231, and the second positioning screw 2232 are provided through the first parallel plate 2211. By adjusting the positional relationship between the first parallel plate 2211, the second parallel plate 2213, and the bottom plate 2215, the position adjustment of the guide block 3 can be realized, and the optimal guiding effect can be achieved by adjusting it to the appropriate position.

図10は、図9に示すガイドアセンブリのA-A方向断面図である。図10に示すように、いくつかの実施例では、位置調整装置22は第1調整ねじ2221、及び第1圧縮ばね2222を含む。第1平行板2211の第2平行板2213に近い面には第1溝2225が設けられ、第2平行板2213の第1平行板2211に近い面には第2溝2226が設けられ、第2溝2226は第1溝2225に対応して設けられる。第1溝2225が第1平行板2211内に収納空間を形成し、第2溝2226が第2平行板2213内に収納空間を形成し、2つの収納空間が対向して設けられ、第1圧縮ばね2222を収納する空間を形成する。第1圧縮ばね2222は第1溝2225と第2溝2226とで形成された空間内に配置される。第1調整ねじ2221は第1平行板2211及び第2平行板2213を貫通して第1圧縮ばね2222内に設けられる。第1調整ねじ2221を回すことで第1圧縮ばね2222を圧縮又は解放して第1溝2225と第2溝2226との距離を調整し、それによって第1平行板2211と第2平行板2213との夾角を調整し、第1平行板2211を第1平行軸2212の周りに回転させ、即ち、第1平行板2211をY軸の周りに回転させ、さらにガイドブロック3の位置を調整する。 10 is a cross-sectional view of the guide assembly shown in FIG. 9 taken along the line A-A. As shown in FIG. 10, in some embodiments, the position adjustment device 22 includes a first adjustment screw 2221 and a first compression spring 2222. A first groove 2225 is provided on the surface of the first parallel plate 2211 close to the second parallel plate 2213, and a second groove 2226 is provided on the surface of the second parallel plate 2213 close to the first parallel plate 2211, and the second groove 2226 is provided corresponding to the first groove 2225. The first groove 2225 forms a storage space in the first parallel plate 2211, and the second groove 2226 forms a storage space in the second parallel plate 2213, and the two storage spaces are provided opposite each other to form a space for storing the first compression spring 2222. The first compression spring 2222 is disposed in the space formed by the first groove 2225 and the second groove 2226. The first adjustment screw 2221 is provided in the first compression spring 2222, penetrating the first parallel plate 2211 and the second parallel plate 2213. By turning the first adjustment screw 2221, the first compression spring 2222 is compressed or released to adjust the distance between the first groove 2225 and the second groove 2226, thereby adjusting the included angle between the first parallel plate 2211 and the second parallel plate 2213, and rotating the first parallel plate 2211 around the first parallel axis 2212, i.e., rotating the first parallel plate 2211 around the Y axis, and further adjusting the position of the guide block 3.

いくつかの実施例では、位置調整装置22は第2調整ねじ2223、及び第2圧縮ばね2224をさらに含む。第2平行板2213の底板2215に近い面には第3溝2227が設けられ、底板2215の第2平行板2213に近い面には第4溝2228が設けられ、第4溝2228は第3溝2227に対応して設けられる。第3溝2227が第2平行板2213内に収納空間を形成し、第4溝2228が底板2215内に収納空間を形成し、2つの収納空間が対向して設けられ、第2圧縮ばね2224を収納する空間を形成する。第2圧縮ばね2224は第3溝2227と第4溝2228とで形成された空間内に配置され、第2調整ねじ2223は第2平行板2213及び底板2215を貫通して第2圧縮ばね2224内に設けられる。第2調整ねじ2223を回すことで第2圧縮ばね2224を圧縮又は解放して第3溝2227と第4溝2228との距離を調整し、それによって第2平行板2213と底板2215との夾角を調整し、第2平行板2213を第2平行軸2214の周りに回転させ、即ち、第2平行板2213をX軸の周りに回転させ、さらにガイドブロック3の位置を調整する。 In some embodiments, the position adjustment device 22 further includes a second adjustment screw 2223 and a second compression spring 2224. A third groove 2227 is provided on the surface of the second parallel plate 2213 close to the bottom plate 2215, and a fourth groove 2228 is provided on the surface of the bottom plate 2215 close to the second parallel plate 2213, and the fourth groove 2228 is provided corresponding to the third groove 2227. The third groove 2227 forms a storage space in the second parallel plate 2213, and the fourth groove 2228 forms a storage space in the bottom plate 2215, and the two storage spaces are provided opposite each other to form a space for storing the second compression spring 2224. The second compression spring 2224 is disposed in the space formed by the third groove 2227 and the fourth groove 2228, and the second adjustment screw 2223 is provided in the second compression spring 2224 through the second parallel plate 2213 and the bottom plate 2215. By turning the second adjustment screw 2223, the second compression spring 2224 is compressed or released to adjust the distance between the third groove 2227 and the fourth groove 2228, thereby adjusting the included angle between the second parallel plate 2213 and the bottom plate 2215, and rotating the second parallel plate 2213 around the second parallel axis 2214, i.e., rotating the second parallel plate 2213 around the X-axis, and further adjusting the position of the guide block 3.

いくつかの実施例では、位置調整装置22は、第1位置決めねじ2231、及び第2位置決めねじ2232を含み、第1位置決めねじ2231は第1平行板2211を貫通して第2平行板2213に当接する。第1位置決めねじ2231が第1平行板2211と第2平行板2213を固定することで、第1平行板2211と第2平行板2213との大きな相対変位を回避する。第2位置決めねじ2232は第2平行板2213を貫通して底板2215に当接する。第2位置決めねじ2232が第2平行板2213と底板2215を固定することで、第2平行板2213と底板2215との大きな相対変位を回避する。 In some embodiments, the position adjustment device 22 includes a first positioning screw 2231 and a second positioning screw 2232, and the first positioning screw 2231 passes through the first parallel plate 2211 and abuts against the second parallel plate 2213. The first positioning screw 2231 fixes the first parallel plate 2211 and the second parallel plate 2213, thereby preventing large relative displacement between the first parallel plate 2211 and the second parallel plate 2213. The second positioning screw 2232 passes through the second parallel plate 2213 and abuts against the bottom plate 2215. The second positioning screw 2232 fixes the second parallel plate 2213 and the bottom plate 2215, thereby preventing large relative displacement between the second parallel plate 2213 and the bottom plate 2215.

検査対象の部品5のサイズが小さく、ガイドブロック3の動作中のいかなるわずかな位置やずれもそのガイド効果に影響を与えるため、ガイドブロック3の位置をわずかな範囲内で調整できる必要がある。第1調整ねじ2221、第1圧縮ばね2222、第2調整ねじ2223、第2圧縮ばね2224、第1位置決めねじ2231、及び第2位置決めねじ2232が設けられることで、第1平行板2211、第2平行板2113及び底板2215の位置の微調整を実現し、さらにガイドブロック3の位置の微調整を実現する。 The size of the component 5 to be inspected is small, and any slight position or deviation during operation of the guide block 3 will affect its guiding effect, so it is necessary to be able to adjust the position of the guide block 3 within a small range. The first adjustment screw 2221, the first compression spring 2222, the second adjustment screw 2223, the second compression spring 2224, the first positioning screw 2231, and the second positioning screw 2232 are provided to realize fine adjustment of the positions of the first parallel plate 2211, the second parallel plate 2113, and the bottom plate 2215, and further to realize fine adjustment of the position of the guide block 3.

調整完了後、真空隙間14内の気流が均一であるか否かを検査することで、位置調整装置22が位置を適宜に調整しているか否かを判定する。 After the adjustment is complete, check whether the airflow in the vacuum gap 14 is uniform to determine whether the position adjustment device 22 has adjusted the position appropriately.

図11は、本願のさらに別の実施例によるガイドアセンブリ2の斜視構造模式図である。図11に示すように、いくつかの実施例では、ガイドアセンブリ2は真空装置13をさらに含み、真空装置13は真空通路322と連通し、真空装置13はフィルタ15、負圧表示装置16、及び負圧調整器17を含む。フィルタ15は、空気中の異物をろ過することで、空気中の異物が真空引き効果を損なうことを回避する。負圧調整器17は、負圧値を調整する。負圧表示装置16は負圧調整器17によって調整された負圧値を表示し、それによって操作者は適切な真空負圧を設定することができる。真空装置13は真空通路322と連通し、真空通路322はガイドブロック3の下面32に設けられた真空溝321と連通する。真空装置13がオンになると、ガイドブロック3の下面32の真空溝321の周囲を真空にし、ガイドブロック3への吸引力を部品5に与え、ガイドブロック3の方向への部品5の移動を加速する。さらに、ガイドブロック3は部品5に接触し、部品5をガイドする。 11 is a perspective structural schematic diagram of a guide assembly 2 according to yet another embodiment of the present application. As shown in FIG. 11, in some embodiments, the guide assembly 2 further includes a vacuum device 13, which communicates with a vacuum passage 322, and which includes a filter 15, a negative pressure display device 16, and a negative pressure regulator 17. The filter 15 filters foreign matter in the air to prevent foreign matter in the air from impairing the vacuuming effect. The negative pressure regulator 17 adjusts the negative pressure value. The negative pressure display device 16 displays the negative pressure value adjusted by the negative pressure regulator 17, so that the operator can set an appropriate vacuum negative pressure. The vacuum device 13 communicates with a vacuum passage 322, which communicates with a vacuum groove 321 provided on the lower surface 32 of the guide block 3. When the vacuum device 13 is turned on, a vacuum is created around the vacuum groove 321 on the lower surface 32 of the guide block 3, applying a suction force to the part 5 toward the guide block 3, accelerating the movement of the part 5 toward the guide block 3. Furthermore, the guide block 3 comes into contact with the part 5 and guides it.

図12は、本願の一実施例によるガイドモジュールの構造模式図である。図12に示すように、本願の第3態様の実施例によるガイドモジュール1であり、ガイドモジュール1は部品5をガイドし、ガイドレール11、ガイドアセンブリ2、ターンテーブル12、及び真空装置13を含む。ガイドレール11はガイド溝111を含み、ガイド溝111は部品5を載置し、即ち、前記ガイド溝111は部品5を収容可能である。ガイドレール11は、部品5をガイドレール11に沿ってターンテーブル12に移動させることが可能に設けられる。部品5はガイド溝111内でガイドレール11の振動及びそれ自体の重力でターンテーブルへ移動し続け、最終的にターンテーブル12上に落下する。ターンテーブル12は、ターンテーブル12上に位置する部品5を回転駆動することが可能に設けられ、部品5はターンテーブル12とともにガイドアセンブリ2に接触するまで回転する。ガイドアセンブリ2はガイドブロック3を含み、ガイドブロック3には、第2端面34と、第2端面34と対向する第1端33とが設けられ、第1端33は第4領域334を含み、第4領域334には円弧面が設けられる。円弧面は部品5接触線を含み、該部品5接触線は、円弧面上の第2端面34から最も遠い点の集合からなり、ガイドブロック3の第1側35から第1側35と対向する第2側36へ延びている。より具体的には、部品5接触線は、ガイドブロック3の第5領域335から第5領域335と対向する第2側36へ延びている。 Figure 12 is a structural schematic diagram of a guide module according to an embodiment of the present application. As shown in Figure 12, the guide module 1 according to the embodiment of the third aspect of the present application guides the part 5 and includes a guide rail 11, a guide assembly 2, a turntable 12, and a vacuum device 13. The guide rail 11 includes a guide groove 111, in which the part 5 is placed, that is, the guide groove 111 can accommodate the part 5. The guide rail 11 is provided so that the part 5 can be moved along the guide rail 11 to the turntable 12. The part 5 continues to move to the turntable 12 within the guide groove 111 due to the vibration of the guide rail 11 and its own gravity, and finally falls onto the turntable 12. The turntable 12 is provided so that the part 5 located on the turntable 12 can be rotated, and the part 5 rotates together with the turntable 12 until it contacts the guide assembly 2. The guide assembly 2 includes a guide block 3, which has a second end surface 34 and a first end 33 opposite the second end surface 34, the first end 33 including a fourth region 334, and the fourth region 334 has an arcuate surface. The arcuate surface includes a part 5 contact line, which is made up of a set of points on the arcuate surface that are farthest from the second end surface 34, and which extends from a first side 35 of the guide block 3 to a second side 36 opposite the first side 35. More specifically, the part 5 contact line extends from a fifth region 335 of the guide block 3 to a second side 36 opposite the fifth region 335.

いくつかの応用シーンでは、部品5とガイドブロック3との接触点は部品5接触線上にある。部品5とガイドブロック3は線接触又は点接触である。検査対象の部品5のサイズと重量が小さいため、受ける外力が大きすぎると、大きな変位が発生しやすく、さらに部品5が所望の位置からずれてしまう。上記方式により、部品5がガイドブロック3から受ける摩擦力(逆推力)が面接触よりも小さくなり、位置調整がより正確になり、ガイド効果がより良好になる。 In some application scenarios, the contact point between the part 5 and the guide block 3 is on the part 5 contact line. The part 5 and the guide block 3 are in line contact or point contact. Because the size and weight of the part 5 to be inspected are small, if the external force received is too large, it is likely to cause a large displacement, and even cause the part 5 to deviate from the desired position. With the above method, the friction force (reverse thrust) received by the part 5 from the guide block 3 is smaller than in surface contact, making the position adjustment more accurate and the guiding effect better.

本願の一実施例におけるガイドモジュール1を使用する際に、ターンテーブル12はガイドレール11からガイドブロック3の方向に等速回転し、部品5はガイドレール11のガイド溝111からターンテーブル12に落下し、ガイドブロック3の方向に移動し、ターンテーブル12上に順に配置される。ガイドブロック3の下面32には真空溝321が設けられ、真空溝321は真空装置13と連通し、真空装置13はガイドブロック3への吸引力を部品5に与え、ガイドブロックの方向への部品5の移動を加速し、且つ部品5をガイドブロック3に密着させ、さらに位置ガイドを行う。ガイドブロック3には円弧面が設けられ、部品5はガイドブロック3の円弧面に点接触又は線接触する。部品5はガイドレール11からの推力を受けてターンテーブル12上に落下し、ターンテーブル12とともに回転し、ガイドブロック3の落下周波数とターンテーブル12の回転周波数との相乗作用の下でターンテーブル12上に整然と等間隔で配置される。ガイドモジュール1は、ガイド率が高くなるとともに、構造が簡単になり、コストが低くなる。 When using the guide module 1 in one embodiment of the present application, the turntable 12 rotates at a constant speed from the guide rail 11 in the direction of the guide block 3, and the parts 5 fall from the guide groove 111 of the guide rail 11 onto the turntable 12, move toward the guide block 3, and are arranged on the turntable 12 in order. A vacuum groove 321 is provided on the lower surface 32 of the guide block 3, and the vacuum groove 321 is connected to the vacuum device 13, which applies a suction force to the guide block 3 to the parts 5, accelerating the movement of the parts 5 toward the guide block, and making the parts 5 adhere to the guide block 3, and further performing position guidance. The guide block 3 is provided with an arc surface, and the parts 5 make point contact or line contact with the arc surface of the guide block 3. The parts 5 fall onto the turntable 12 under the thrust from the guide rail 11, rotate together with the turntable 12, and are arranged on the turntable 12 in an orderly and equal interval under the synergistic effect of the drop frequency of the guide block 3 and the rotation frequency of the turntable 12. The guide module 1 has a higher guide rate, a simpler structure, and lower costs.

図6に示すように、ガイドブロック3には真空通路322が設けられ、ガイドブロック3の下面32のターンテーブル12に近い端には真空溝321が設けられる。真空装置13は真空通路322と連通し、真空通路322はガイドブロック3の下面32に設けられた真空溝321と連通する。真空装置13がオンになると、ガイドブロック3の下面32の真空溝321の周囲を真空にし、ガイドブロック3への吸引力を部品5に与え、ガイドブロック3の方向への部品5の移動を加速する。さらに、ガイドブロック3は部品5に接触し、部品5をガイドする。 As shown in FIG. 6, the guide block 3 is provided with a vacuum passage 322, and a vacuum groove 321 is provided at the end of the lower surface 32 of the guide block 3 close to the turntable 12. The vacuum device 13 communicates with the vacuum passage 322, which in turn communicates with the vacuum groove 321 provided in the lower surface 32 of the guide block 3. When the vacuum device 13 is turned on, a vacuum is created around the vacuum groove 321 on the lower surface 32 of the guide block 3, applying a suction force to the part 5 toward the guide block 3 and accelerating the movement of the part 5 toward the guide block 3. Furthermore, the guide block 3 comes into contact with the part 5 and guides it.

図13は、本願の一実施例によるガイドモジュールの部分構造模式図である。図13に示すように、いくつかの実施例では、ガイドブロック3のターンテーブル12に近い端とターンテーブル12との間には隙間14が設けられ、ガイドブロック3の下面32には真空溝321が設けられ、真空溝321の一端は隙間14と連通し、真空溝321の他端はガイドブロック3に設けられた真空通路322と連通する。真空装置13は真空通路322を介して真空溝321に接続することで、ターンテーブル12とガイドブロック3との間の隙間14を真空状態にし、それによって、ガスが隙間14を流れて部品5に不確定な方向の力を与えることにより、部品5に予測不可能な位置ずれが発生し、部品5の位置ガイド効果を損なうことを回避する。また、真空装置13は部品5にガイドブロック3への吸引力を与え、ガイドブロック3の方向への部品5の移動を加速する。さらに、ガイドブロック3は部品5に接触し、部品5をガイドする。 FIG. 13 is a schematic diagram of a partial structure of a guide module according to an embodiment of the present application. As shown in FIG. 13, in some embodiments, a gap 14 is provided between the end of the guide block 3 close to the turntable 12 and the turntable 12, and a vacuum groove 321 is provided on the lower surface 32 of the guide block 3, one end of the vacuum groove 321 communicates with the gap 14, and the other end of the vacuum groove 321 communicates with a vacuum passage 322 provided in the guide block 3. The vacuum device 13 connects to the vacuum groove 321 through the vacuum passage 322 to put the gap 14 between the turntable 12 and the guide block 3 into a vacuum state, thereby preventing gas from flowing through the gap 14 and applying a force in an uncertain direction to the component 5, which causes an unpredictable positional deviation of the component 5 and impairs the positional guide effect of the component 5. In addition, the vacuum device 13 applies a suction force to the component 5 toward the guide block 3, accelerating the movement of the component 5 toward the guide block 3. In addition, the guide block 3 contacts the component 5 and guides the component 5.

図12に示すように、本願の一実施例によるガイドブロックでは、ガイドブロック3は、ターンテーブル12の円心を通ってガイドブロック3の長さ方向に垂直なターンテーブル12の半径は点Pにおいてガイドブロック3と交差するか、又はガイドブロックの一端面に垂直で且つターンテーブルの中心を通る直線は、点Pにおいてガイドブロックの一端面と交差する。ガイドブロック3のガイドレール11に近い側と点Pとの距離であるガイドブロック3の第2側36と点PとのY軸に沿った距離は、ガイドブロック3のガイドレール11から離れる側と点Pとの距離であるガイドブロック3の第1側35と点PとのY軸に沿った距離未満である。ガイドブロック3と点PとのY軸方向の前後距離差により、部品5がガイドブロック3の異なる部分で受ける反作用力の大きさが異なり、ターンテーブル12上でのガイドブロック3の均一な配置に寄与する。部品5はガイドブロック3の前側で点Pまで移動する過程でガイドブロック3から作用を受けてターンテーブル12上の位置にガイドされる。部品5は点Pを通過した後、ガイドブロック3の後側へ移動し、部品5がガイドブロック3から受ける作用が小さくなり、部品5はターンテーブル12上にスムーズに落下し、ターンテーブル12上に均等に配置される。 12, in the guide block according to one embodiment of the present application, the radius of the turntable 12 that passes through the center of the turntable 12 and is perpendicular to the length direction of the guide block 3 intersects the guide block 3 at point P, or a straight line that is perpendicular to one end face of the guide block and passes through the center of the turntable intersects one end face of the guide block at point P. The distance along the Y axis between the second side 36 of the guide block 3, which is the distance between the side of the guide block 3 closer to the guide rail 11 and point P, and point P is less than the distance along the Y axis between the first side 35 of the guide block 3, which is the distance between the side of the guide block 3 away from the guide rail 11 and point P. Due to the difference in the front-rear distance between the guide block 3 and point P in the Y axis direction, the magnitude of the reaction force that the part 5 receives at different parts of the guide block 3 differs, which contributes to the uniform arrangement of the guide block 3 on the turntable 12. The part 5 is guided to a position on the turntable 12 by the action of the guide block 3 in the process of moving to point P on the front side of the guide block 3. After passing point P, the part 5 moves to the rear side of the guide block 3, the force acting on the part 5 from the guide block 3 becomes smaller, and the part 5 falls smoothly onto the turntable 12 and is evenly arranged on the turntable 12.

いくつかの実施例では、ガイドブロック3のガイドレール11に近い端と点Pとの距離であるガイドブロック3の第2側36と点PとのY軸に沿った距離は、ガイドブロック3のガイドレール11から離れる端と点Pとの距離であるガイドブロック3の第1側35と点PとのY軸に沿った距離よりも大きい。ガイドブロック3と点PとのY軸方向の前後距離差により、部品5がガイドブロック3の異なる部分で受ける反作用力の大きさが異なり、ターンテーブル12上でのガイドブロック3の均一な配置に寄与する。部品5はガイドブロック3の前端で点Pまで移動する過程でガイドブロック3から作用を受けてターンテーブル12上の位置にガイドされる。部品5は点Pを通過した後、ガイドブロック3の後端へ移動し、部品5がガイドブロック3から受ける作用が小さくなり、部品5はターンテーブル12上にスムーズに落下し、ターンテーブル12上に均等に配置される。 In some embodiments, the distance along the Y axis between the second side 36 of the guide block 3, which is the distance between the end of the guide block 3 close to the guide rail 11 and point P, is greater than the distance along the Y axis between the first side 35 of the guide block 3, which is the distance between the end of the guide block 3 away from the guide rail 11 and point P. Due to the difference in the front-rear distance between the guide block 3 and point P in the Y axis direction, the magnitude of the reaction force that the part 5 receives at different parts of the guide block 3 differs, which contributes to the uniform arrangement of the guide block 3 on the turntable 12. The part 5 is guided to a position on the turntable 12 by the action of the guide block 3 during the process of moving to point P at the front end of the guide block 3. After passing point P, the part 5 moves to the rear end of the guide block 3, and the action that the part 5 receives from the guide block 3 becomes smaller, so that the part 5 falls smoothly onto the turntable 12 and is evenly arranged on the turntable 12.

いくつかの実施例では、ターンテーブル12の底端には静電装置が設けられ、静電装置はガイドブロック3と対向して設けられ、ターンテーブル12はガイドブロック3と静電装置との間に介在して設けられる。静電装置は、静電吸着力を提供し、部品5に下向きの静電吸着力を与えることで、部品5がターンテーブル12上で回転する時に位置ずれが発生する可能性を低減させる。 In some embodiments, an electrostatic device is provided at the bottom end of the turntable 12, the electrostatic device is disposed opposite the guide block 3, and the turntable 12 is disposed between the guide block 3 and the electrostatic device. The electrostatic device provides an electrostatic attraction force, and by applying a downward electrostatic attraction force to the component 5, the possibility of misalignment of the component 5 as it rotates on the turntable 12 is reduced.

図14は、本願の一実施例による6面外観検査装置の構造模式図である。図14及び図12に示すように、本願の第4態様の実施例による6面外観検査装置4であり、6面外観検査装置4は、本考案の第1態様の実施形態のいずれか一項に記載のガイドブロック3と、本考案の第2態様の実施形態のいずれか一項に記載のガイドアセンブリ2と、本考案の第3態様の実施形態のいずれか一項に記載のガイドモジュール1と、を含む。6面外観検査装置4はフレーム41、貯蔵供給システム42、制御システム、外観検査モジュール、排出モジュール及びコンピュータシステムをさらに含む。貯蔵供給システム42は部品5を供給し、部品5はガイドモジュール1のガイドレール11によってターンテーブル12上に移送され、ガイドアセンブリ2のガイドブロック3の作用力を受けて位置ガイドされ、ターンテーブル12に均等に配置される。均等に配置された部品5はターンテーブル12とともに回転し、外観検査モジュールに移動して6面外観検査を行う。制御システムはコンピュータシステムと組み合わせて検査プロセスを制御し、検査データを処理及び格納する。排出モジュールは検査済み部品5を収集及び分類する。 14 is a structural schematic diagram of a six-sided appearance inspection device according to an embodiment of the present application. As shown in FIG. 14 and FIG. 12, the six-sided appearance inspection device 4 according to the embodiment of the fourth aspect of the present application includes a guide block 3 described in any one of the embodiments of the first aspect of the present invention, a guide assembly 2 described in any one of the embodiments of the second aspect of the present invention, and a guide module 1 described in any one of the embodiments of the third aspect of the present invention. The six-sided appearance inspection device 4 further includes a frame 41, a storage and supply system 42, a control system, an appearance inspection module, a discharge module, and a computer system. The storage and supply system 42 supplies parts 5, and the parts 5 are transferred onto the turntable 12 by the guide rail 11 of the guide module 1, and are guided to a position by the force of the guide block 3 of the guide assembly 2, and are evenly arranged on the turntable 12. The evenly arranged parts 5 rotate with the turntable 12 and move to the appearance inspection module to perform six-sided appearance inspection. The control system controls the inspection process in combination with the computer system, and processes and stores the inspection data. The discharge module collects and classifies the inspected parts 5.

いくつかの実施例では、フレーム41は、ガイドモジュール1、貯蔵供給システム42、制御システム、外観検査モジュール、排出モジュール及びコンピュータシステムを支持及び収容する直方体形状の縦型剛性フレームである。貯蔵供給システム42、ガイドレール11、ガイドブロック3、外観検査モジュール及び排出モジュールは、ターンテーブル12の周縁に順に設けられる。貯蔵供給システム42は、部品5を格納し、ガイドレール11に接続され、部品5をターンテーブル12上に搬送する。外観検査モジュールは、光ファイバーセンサーの位置特定制御に応じて自動的にトリガーされて写真を撮影し、排出モジュールはコンピュータシステムの分析結果に応じて、良品、不良品及び再検品を自動的に識別及び分類する。6面外観検査装置は部品5の自動6面外観検査を実現する。 In some embodiments, the frame 41 is a vertical rigid frame in the shape of a rectangular parallelepiped that supports and houses the guide module 1, the storage and supply system 42, the control system, the visual inspection module, the discharge module, and the computer system. The storage and supply system 42, the guide rail 11, the guide block 3, the visual inspection module, and the discharge module are arranged in sequence on the periphery of the turntable 12. The storage and supply system 42 stores the parts 5, is connected to the guide rail 11, and transports the parts 5 onto the turntable 12. The visual inspection module is automatically triggered to take pictures according to the position identification control of the optical fiber sensor, and the discharge module automatically identifies and classifies good products, bad products, and re-inspection products according to the analysis results of the computer system. The six-sided visual inspection device realizes automatic six-sided visual inspection of the parts 5.

ガイドモジュール1、ガイドレール11、ガイド溝111、ターンテーブル12、真空装置13、隙間14、フィルタ15、負圧表示装置16、負圧調整器17
ガイドアセンブリ2、基台21、基台の第1端211、基台の第1面2111、基台の第2面2112、基台の第3面2113、ベース2114、基台の第4面2115、基台の第2端212、基台の第2端面2122、位置調整装置22、第1平行板2211、第1平行軸2212、第2平行板2213、第2平行軸2214、底板2215、第1調整ねじ2221、第1圧縮ばね2222、第2調整ねじ2223、第2圧縮ばね2224、第1溝2225、第2溝2226、第3溝2227、第4溝2228、第1位置決めねじ2231、第2位置決めねじ2232
ガイドブロック3、上面31、下面32、真空溝321、真空通路322、第1端33、第1領域331、第1面3311、第2領域332、第2面3321、第3領域333、第3面3331、第4領域334、第4面3341、第5領域335、第5面3351、第2端面34、第1側35、第2側36、
6面外観検査装置4、フレーム41、貯蔵供給システム42
部品5


Guide module 1, guide rail 11, guide groove 111, turntable 12, vacuum device 13, gap 14, filter 15, negative pressure display device 16, negative pressure regulator 17
Guide assembly 2, base 21, first end 211 of base, first surface 2111 of base, second surface 2112 of base, third surface 2113 of base, base 2114, fourth surface 2115 of base, second end 212 of base, second end surface 2122 of base, position adjustment device 22, first parallel plate 2211, first parallel shaft 2212, second parallel plate 2213, second parallel shaft 2214, bottom plate 2215, first adjustment screw 2221, first compression spring 2222, second adjustment screw 2223, second compression spring 2224, first groove 2225, second groove 2226, third groove 2227, fourth groove 2228, first positioning screw 2231, second positioning screw 2232
Guide block 3, upper surface 31, lower surface 32, vacuum groove 321, vacuum passage 322, first end 33, first region 331, first surface 3311, second region 332, second surface 3321, third region 333, third surface 3331, fourth region 334, fourth surface 3341, fifth region 335, fifth surface 3351, second end surface 34, first side 35, second side 36,
Six-sided visual inspection device 4, frame 41, storage and supply system 42
Part 5


Claims (20)

電子部品をガイドするためのガイドモジュールであって、ガイドレール、ガイドアセンブリ、ターンテーブル、及び真空装置を少なくとも含み、
前記ガイドレールは、前記電子部品を収容可能に設けられるガイド溝を含み、
前記ガイドレールは、前記電子部品を前記ガイドレールに沿って前記ターンテーブルに移送することが可能に設けられ、
前記ターンテーブルは、前記ターンテーブル上に位置する前記電子部品を移動駆動して前記電子部品を前記ガイドアセンブリに接触させることが可能に設けられ、
前記ガイドアセンブリはガイドブロックを含み、前記ガイドブロックの一端の部分領域には円弧面が設けられ、前記電子部品は前記円弧面において前記ガイドアセンブリに接触し、
前記ガイドブロックは前記円弧面を介して前記電子部品に点接触又は線接触することで、前記電子部品をガイドし、
前記ガイドブロックの前記ターンテーブルに近い端には真空溝が設けられることを特徴とするガイドモジュール。
A guide module for guiding an electronic component, comprising at least a guide rail, a guide assembly, a turntable, and a vacuum device;
the guide rail includes a guide groove capable of accommodating the electronic component,
the guide rail is provided so as to be capable of transferring the electronic component to the turntable along the guide rail,
the turntable is provided so as to be capable of moving and driving the electronic component positioned on the turntable to bring the electronic component into contact with the guide assembly;
the guide assembly includes a guide block, a partial region of one end of the guide block is provided with an arcuate surface, and the electronic component contacts the guide assembly at the arcuate surface;
the guide block makes point contact or line contact with the electronic component via the arc surface to guide the electronic component;
A guide module, characterized in that the end of the guide block close to the turntable is provided with a vacuum groove.
前記ガイドブロックの一端面に垂直で且つ前記ターンテーブルの中心を通る直線は、点Pにおいて前記ガイドブロックの一端面と交差し、前記点Pと前記ガイドブロックの両側との距離は異なることを特徴とする請求項1に記載のガイドモジュール。 The guide module of claim 1, characterized in that a straight line perpendicular to one end face of the guide block and passing through the center of the turntable intersects with one end face of the guide block at point P, and the distance between point P and both sides of the guide block is different. 前記ガイドブロックの前記ターンテーブルに近い端と前記ターンテーブルとの間には隙間があり、前記真空溝は前記隙間と連通することを特徴とする請求項2に記載のガイドモジュール。 The guide module of claim 2, characterized in that there is a gap between the end of the guide block closest to the turntable and the turntable, and the vacuum groove communicates with the gap. ガイドアセンブリであって、ガイドブロック、基台、及び位置調整装置を少なくとも含み、
前記基台は、基台の第1端と、基台の第2端と、を含み、
前記基台の第1端は、基台の第1面、基台の第2面及び基台の第3面を含み、前記基台の第2面は、前記基台の第1面と前記基台の第3面との間に位置し、前記基台の第2面と前記基台の第3面はベースを形成し、
前記基台の第2端は基台の第2端面を含み、前記基台の第2端面は前記基台の第1面と対向して設けられ、
前記基台の第1面と前記基台の第2端面との垂直距離は前記基台の第3面と前記基台の第2端面との垂直距離よりも大きく、
前記ガイドブロックは、前記ベースに位置し、前記基台の第2面及び前記基台の第3面に接触し、
前記ガイドブロックの前記基台の第2面から離れる端は、ガイドブロックの第4面を含み、前記ガイドブロックの第4面は円弧面であり、
前記位置調整装置は、前記基台の第2端面に近く設けられ、前記ガイドブロックと前記電子部品との接触位置を調整し、
前記ガイドブロックと前記電子部品との接触位置は前記円弧面にあり、
前記ガイドブロックは、前記電子部品に点接触又は線接触することで、前記電子部品をガイドすることを特徴とするガイドアセンブリ。
A guide assembly including at least a guide block, a base, and a position adjustment device;
the base includes a first base end and a second base end;
the first end of the base includes a first surface of the base, a second surface of the base, and a third surface of the base, the second surface of the base is located between the first surface of the base and the third surface of the base, and the second surface of the base and the third surface of the base form a base;
the second end of the base includes a second end surface of the base, the second end surface of the base being disposed opposite the first surface of the base;
a vertical distance between the first surface of the base and the second end surface of the base is greater than a vertical distance between the third surface of the base and the second end surface of the base;
the guide block is located on the base and contacts a second surface of the base and a third surface of the base;
an end of the guide block away from the second surface of the base includes a fourth surface of the guide block, the fourth surface of the guide block being an arcuate surface;
the position adjustment device is provided near a second end surface of the base and adjusts a contact position between the guide block and the electronic component;
a contact position between the guide block and the electronic component is on the arc surface;
The guide block is in point contact or line contact with the electronic component to guide the electronic component.
前記位置調整装置は、第1平行板、第1平行軸、第2平行板、第2平行軸、及び底板を含み、
前記第1平行軸は、前記第1平行板と前記第2平行板との間に位置し、
前記第2平行軸は、前記第2平行板と前記底板との間に位置し、
前記第1平行軸と前記第2平行軸は非平行に配置され、
前記第1平行板は、前記第1平行軸の周りに回転可能であり、前記第2平行板は、前記第2平行軸の周りに回転可能であることを特徴とする請求項4に記載のガイドアセンブリ。
the position adjustment device includes a first parallel plate, a first parallel shaft, a second parallel plate, a second parallel shaft, and a bottom plate;
the first parallel axis is located between the first parallel plate and the second parallel plate,
the second parallel axis is located between the second parallel plate and the bottom plate,
the first parallel axis and the second parallel axis are arranged non-parallel to each other,
5. The guide assembly of claim 4, wherein the first parallel plate is rotatable about the first parallel axis and the second parallel plate is rotatable about the second parallel axis.
前記位置調整装置は、第1調整ねじ、及び第1圧縮ばねを含み、
前記第1平行板の前記第2平板に近い面には第1溝が設けられ、前記第2平行板の前記第1平板に近い面には第2溝が設けられ、前記第2溝は前記第1溝に対応して設けられ、
前記第1圧縮ばねは、前記第1溝及び前記第2溝内に配置され、前記第1調整ねじは、前記第1平板及び前記第2平板を貫通し、前記第1圧縮ばね内に設けられることを特徴とする請求項5に記載のガイドアセンブリ。
the position adjustment device includes a first adjustment screw and a first compression spring;
a first groove is provided on a surface of the first parallel plate close to the second flat plate, and a second groove is provided on a surface of the second parallel plate close to the first flat plate, the second groove being provided corresponding to the first groove;
6. The guide assembly of claim 5, wherein the first compression spring is disposed within the first groove and the second groove, and the first adjustment screw passes through the first plate and the second plate and is disposed within the first compression spring.
前記位置調整装置は、第2調整ねじ、及び第2圧縮ばねを含み、
前記第2平行板の前記底板に近い面には第3溝が設けられ、前記底板の前記第2平板に近い一面には第4溝が設けられ、前記第4溝は前記第3溝に対応して設けられ、
前記第2圧縮ばねは、前記第3溝及び前記第4溝内に配置され、前記第2調整ねじは、前記第2平板及び前記底板を貫通し、前記第2圧縮ばね内に設けられることを特徴とする請求項5又は6に記載のガイドアセンブリ。
the position adjustment device includes a second adjustment screw and a second compression spring;
a third groove is provided on a surface of the second parallel plate close to the bottom plate, and a fourth groove is provided on one surface of the bottom plate close to the second flat plate, the fourth groove being provided corresponding to the third groove;
7. The guide assembly according to claim 5 or 6, characterized in that the second compression spring is disposed in the third groove and the fourth groove, and the second adjustment screw passes through the second flat plate and the bottom plate and is disposed in the second compression spring.
前記位置調整装置は、第1位置決めねじ、及び第2位置決めねじを含み、
前記第1位置決めねじは、前記第1平板を貫通して前記第2平板に当接し、
前記第2位置決めねじは、前記第2平板を貫通して前記底板に当接することを特徴とする請求項6に記載のガイドアセンブリ。
the position adjustment device includes a first set screw and a second set screw;
the first set screw passes through the first plate and abuts against the second plate;
7. The guide assembly of claim 6, wherein said second set screw passes through said second plate and abuts against said bottom plate.
前記位置調整装置は、第1位置決めねじ、及び第2位置決めねじを含み、
前記第1位置決めねじは、前記第1平板を貫通して前記第2平板に当接し、
前記第2位置決めねじは、前記第2平板を貫通して前記底板に当接することを特徴とする請求項7に記載のガイドアセンブリ。
the position adjustment device includes a first set screw and a second set screw;
the first set screw passes through the first plate and abuts against the second plate;
8. The guide assembly of claim 7, wherein the second set screw passes through the second plate and abuts against the bottom plate.
前記第1平行軸と前記第2平行軸は互いに垂直であることを特徴とする請求項8に記載のガイドアセンブリ。 The guide assembly of claim 8, wherein the first parallel axis and the second parallel axis are perpendicular to each other. 前記第1平行軸と前記第2平行軸は互いに垂直であることを特徴とする請求項9に記載のガイドアセンブリ。 The guide assembly of claim 9, wherein the first parallel axis and the second parallel axis are perpendicular to each other. ガイドブロックであって、上面、下面、第1端、及び第2端面を少なくとも含み、
前記第1端は、第1領域、第2領域、第3領域及び第4領域を含み、
前記第1領域は、前記上面と前記第2領域との間に設けられ、
前記第2領域は、前記第1領域と前記第3領域との間に設けられ、
前記第3領域は、前記第2領域と前記第4領域との間に設けられ、前記第4領域は、前記第3領域と前記下面との間に設けられ、
前記第4領域は、第4面を含み、前記第4面は円弧面であり、
前記ガイドブロックは、前記円弧面を介して前記電子部品に点接触又は線接触することで、前記電子部品をガイドすることを特徴とするガイドブロック。
a guide block including at least an upper surface, a lower surface, a first end, and a second end surface;
the first end includes a first region, a second region, a third region, and a fourth region;
The first region is provided between the upper surface and the second region,
The second region is provided between the first region and the third region,
the third region is provided between the second region and the fourth region, and the fourth region is provided between the third region and the lower surface,
the fourth region includes a fourth surface, the fourth surface being an arcuate surface;
The guide block is characterized in that it guides the electronic component by making point contact or line contact with the electronic component via the arcuate surface.
前記円弧面の半径は0.01~1mmであることを特徴とする請求項12に記載のガイドブロック。 The guide block according to claim 12, characterized in that the radius of the arc surface is 0.01 to 1 mm. 前記下面には真空溝が設けられ、前記真空溝は真空通路に接続され、
前記真空溝は前記第2端面から離れて設けられることを特徴とする請求項12に記載のガイドブロック。
a vacuum groove is provided on the lower surface, the vacuum groove is connected to a vacuum passage;
13. The guide block of claim 12, wherein the vacuum groove is spaced from the second end face.
前記第1領域は第1面を含み、前記第1面と前記上面との夾角は、180°以上270°未満であることを特徴とする請求項12~14のいずれか一項に記載のガイドブロック。 The guide block according to any one of claims 12 to 14, characterized in that the first region includes a first surface, and the included angle between the first surface and the upper surface is greater than or equal to 180° and less than 270°. 前記第2領域は第2面を含み、前記第2面と前記第1面との夾角は180°以上270°未満であることを特徴とする請求項12~14のいずれか一項に記載のガイドブロック。 A guide block according to any one of claims 12 to 14, characterized in that the second region includes a second surface, and the included angle between the second surface and the first surface is greater than or equal to 180° and less than 270°. 前記第3領域は第3面を含み、前記第3面と前記第2面との夾角は180°以上270°未満であることを特徴とする請求項12~14のいずれか一項に記載のガイドブロック。 A guide block according to any one of claims 12 to 14, characterized in that the third region includes a third surface, and the included angle between the third surface and the second surface is greater than or equal to 180° and less than 270°. 前記第1端は第5領域をさらに含み、前記第5領域は第5面を含み、前記第5面は円弧状面であり、前記円弧状面は、前記上面、前記第1領域、前記第2領域、前記第3領域、前記第4領域及び前記第2端面に接続されることを特徴とする請求項12に記載のガイドブロック。 The guide block of claim 12, characterized in that the first end further includes a fifth region, the fifth region includes a fifth surface, the fifth surface being an arcuate surface, and the arcuate surface is connected to the top surface, the first region, the second region, the third region, the fourth region and the second end surface. 6面外観検査装置であって、前記6面外観検査装置は、請求項1~3のいずれか一項に記載のガイドモジュールを少なくとも含み、フレーム、貯蔵供給システム、制御システム、外観検査モジュール、排出モジュール及びコンピュータシステムをさらに含むことを特徴とする6面外観検査装置。 A six-sided appearance inspection device, the six-sided appearance inspection device including at least a guide module according to any one of claims 1 to 3, and further including a frame, a storage and supply system, a control system, an appearance inspection module, an ejection module, and a computer system. 前記フレームは、前記ガイドモジュール、前記貯蔵供給システム、前記制御システム、前記外観検査モジュール、前記排出モジュール及び前記コンピュータシステムを支持及び収容する直方体形状の縦型剛性フレームであり、前記貯蔵供給システム、前記ガイドレール、前記ガイドブロック、前記外観検査モジュール及び前記排出モジュールは前記ターンテーブルの周縁に順に設けられ、前記貯蔵供給システムは、検査対象の電子部品を格納し、前記ガイドレールは、前記電子部品を前記ターンテーブル上に移送可能であり、前記外観検査モジュールは、光ファイバーセンサーの位置特定制御に応じて自動的にトリガーされて写真を撮影し、前記排出モジュールは、前記コンピュータシステムの分析結果に応じて、良品、不良品及び再検品を自動的に識別及び分類することを特徴とする請求項19に記載の6面外観検査装置。



20. The six-sided visual inspection apparatus of claim 19, wherein the frame is a rectangular vertical rigid frame that supports and houses the guide module, the storage and supply system, the control system, the visual inspection module, the discharge module and the computer system, the storage and supply system, the guide rail, the guide block, the visual inspection module and the discharge module are sequentially arranged around the periphery of the turntable, the storage and supply system stores electronic components to be inspected, the guide rail can transport the electronic components onto the turntable, the visual inspection module is automatically triggered to take photographs according to the position identification control of an optical fiber sensor, and the discharge module automatically identifies and classifies good products, bad products and re-inspection products according to the analysis results of the computer system.



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