JP3244579U - 測定装置 - Google Patents
測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3244579U JP3244579U JP2023003419U JP2023003419U JP3244579U JP 3244579 U JP3244579 U JP 3244579U JP 2023003419 U JP2023003419 U JP 2023003419U JP 2023003419 U JP2023003419 U JP 2023003419U JP 3244579 U JP3244579 U JP 3244579U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- support
- base
- measuring device
- slider
- guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 2
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N fluoromethane Chemical compound FC NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
【課題】簡便に平面精度などを点検できる簡易測定装置を提供する。【解決手段】基準台上に設置され、基準台上に置かれた被測定物の高さ、平面度、真直度、平行度を測定可能な測定装置であって、第１基台１と、第２基台２と、第１基台上に立設された第１支柱３と、第２基台上に立設された第２支柱４と、第１支柱と第２支柱間に架設されたガイド５と、ガイド上を往復移動できるスライダ６と、スライダに設置された微小変位測定具７と、第１基台を基準台に対して支承する第１及び第２支持具と、第２基台を基準台に対して支承する第３支持具１０とを備え、第１支持具８、第２支持具９、第３支持具は、互いに独立して高さ調整可能で、基準台と当接部分は、球面となっており、ガイドに対するスライダの摺動面に低摩擦シートが設けられていることを特徴とする。【選択図】図１
Description
本考案は、平滑面を必要とする部材の高さ、平面度、真直度、平行度などを測定する装置に関する。
従来、高精度を要する部品の平面度を測定するために、それに適応した高価な測定器がある。一方、目視では判別出来ないが、高精度平面度測距器を使用しなければならない程の精度を必要としない部品の測定の為に簡便な方法がなかった。
本考案は、このような要求を満たし、簡便に平面精度などを点検できる測定装置を提供することにある。
上記の問題を解決するために、本考案の測定装置は、基準台上に設置され、基準台上に置かれた被測定物の高さ、平面度、真直度、平行度を測定可能な測定装置であって、
第１基台と、第２基台と、第１基台上に立設された第１支柱と、第２基台上に立設された第２支柱と、第１支柱と第２支柱間に架設されたガイドと、ガイド上を往復移動できるスライダと、スライダに設置された微小変位測定具と、第１基台を基準台に対して支承する第１及び第２支持具と、第２基台を基準台に対して支承する第３支持具と、を備え、第１支持具、第２支持具、第３支持具は、互いに独立して高さ調整可能で、基準台と当接部分は、球面となっており、ガイドに対するスライダの摺動面に低摩擦シートが設けられていることを特徴とする。
第１基台と、第２基台と、第１基台上に立設された第１支柱と、第２基台上に立設された第２支柱と、第１支柱と第２支柱間に架設されたガイドと、ガイド上を往復移動できるスライダと、スライダに設置された微小変位測定具と、第１基台を基準台に対して支承する第１及び第２支持具と、第２基台を基準台に対して支承する第３支持具と、を備え、第１支持具、第２支持具、第３支持具は、互いに独立して高さ調整可能で、基準台と当接部分は、球面となっており、ガイドに対するスライダの摺動面に低摩擦シートが設けられていることを特徴とする。
本考案の測定装置によれば、定盤の上に、測定装置、被測定物を載置して、低コストで、簡便に平面度などを測定できる。また、スライダの摺動面に、低摩擦シートを設けているため、ビームに変形があったとしても円滑に移動可能となっている。
図１は、本考案の測定装置を示す。１は第１のベース（第１の基台）、２は第２のベース（第２の基台）、３は第１のベース１上に立設された第１コラム（第１支柱）、４は、第２のベース上に立設された第２コラム（第２支柱）、５は第１コラム３と第２コラム４との間に架設されたビーム（ガイド）、６はビーム５に対して往復動可能に摺動するスライダ、７はスライダ６に取り付けられたダイヤルゲージ（微小変位測定具）、８，９は第１ベース１に取り付けられた第１及び第２マイクロメータヘッド（第１及び第２支持具）、１０は、第２ベース２に取り付けられた第３マイクロメータヘッド（第３支持具）である。
上記の構成の測定装置は、図示せぬ基準台（定盤）上に設置され、第１ベース１及び第２ベース２が基準台の面と平行になるようセットされる。
すなわち、第１及び第２マイクロメータヘッド８，９を等量回転させ、その先端が基準台に当接し、第１ベース１が基準台より浮いた状態にする。次にダイヤルゲージ７を第１の方向に移動させ、ダイヤルゲージ７をゼロにセットし、次にダイヤゲージ７を第２の方向に移動させ、第３マイクロメータヘッド１０を回転させてその先端を基準台に当接させダイヤルゲージ７をゼロにセットする。
このようにして、第１、第２及び第３マイクロメータヘッドで、基準台に対し、３点支持し、ダイヤルゲージ７を移動させることにより、基準台の基準面に対し平行にセットする。
ビーム６に対するスライダ７の摺動面には、低摩擦性のシート（例えば、フッ化炭素樹脂製のシート）が設けられている
また、第１、第２及び第３マイクロメータヘッドの基準台と当接する先端部は、球面となっている。
測定装置、被測定物を、平滑面を有する基準台（定盤）上に載置し、ダイヤルゲージ７を被測定部に接触させスライダ６を移動させつつ、順次、被測定物の微小変位を測定することにより、高さ、真直度、平行度、平面度などを測定することができる。
上記の構成の測定装置は、図示せぬ基準台（定盤）上に設置され、第１ベース１及び第２ベース２が基準台の面と平行になるようセットされる。
すなわち、第１及び第２マイクロメータヘッド８，９を等量回転させ、その先端が基準台に当接し、第１ベース１が基準台より浮いた状態にする。次にダイヤルゲージ７を第１の方向に移動させ、ダイヤルゲージ７をゼロにセットし、次にダイヤゲージ７を第２の方向に移動させ、第３マイクロメータヘッド１０を回転させてその先端を基準台に当接させダイヤルゲージ７をゼロにセットする。
このようにして、第１、第２及び第３マイクロメータヘッドで、基準台に対し、３点支持し、ダイヤルゲージ７を移動させることにより、基準台の基準面に対し平行にセットする。
ビーム６に対するスライダ７の摺動面には、低摩擦性のシート（例えば、フッ化炭素樹脂製のシート）が設けられている
また、第１、第２及び第３マイクロメータヘッドの基準台と当接する先端部は、球面となっている。
測定装置、被測定物を、平滑面を有する基準台（定盤）上に載置し、ダイヤルゲージ７を被測定部に接触させスライダ６を移動させつつ、順次、被測定物の微小変位を測定することにより、高さ、真直度、平行度、平面度などを測定することができる。
１ 第１のベース
２ 第２のベース
３ 第１コラム
４ 第２コラム
５ ビーム
６ スライダ
７ ダイヤルゲージ
８ 第１マイクロメータヘッド
９ 第２マイクロメータヘッド
１０ 第３マイクロメータヘッド
２ 第２のベース
３ 第１コラム
４ 第２コラム
５ ビーム
６ スライダ
７ ダイヤルゲージ
８ 第１マイクロメータヘッド
９ 第２マイクロメータヘッド
１０ 第３マイクロメータヘッド
Claims (1)
- 基準台上に設置され、基準台上に置かれた被測定物の高さ、平面度、真直度、平行度を測定可能な測定装置であって、
第１基台と、第２基台と、前記第１基台上に立設された第１支柱と、第２基台上に立設された第２支柱と、前記第１支柱と前記第２支柱間に架設されたガイドと、前記ガイド上を往復移動できるスライダと、前記スライダに設置された微小変位測定具と、前記第１基台を前記基準台に対して支承する第１及び第２支持具と、第２基台を前記基準台に対して支承する第３支持具とを備え、
前記第１支持具、第２支持具、第３支持具は、互いに独立して高さ調整可能で、前記基準台と当接部分が球面となっており、前記ガイドに対する前記スライダの摺動面に低摩擦シートが設けられていることを特徴とする測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2023003419U JP3244579U (ja) | 2023-08-31 | 2023-08-31 | 測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2023003419U JP3244579U (ja) | 2023-08-31 | 2023-08-31 | 測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP3244579U true JP3244579U (ja) | 2023-11-13 |
Family
ID=88728511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2023003419U Active JP3244579U (ja) | 2023-08-31 | 2023-08-31 | 測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3244579U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117989964A (zh) * | 2024-04-02 | 2024-05-07 | 苏州玖钧智能装备有限公司 | 一种高刚性精密直线运动模组滑块检测检具 |
| CN117989964B (zh) * | 2024-04-02 | 2024-06-04 | 苏州玖钧智能装备有限公司 | 一种高刚性精密直线运动模组滑块检测检具 |
-
2023
- 2023-08-31 JP JP2023003419U patent/JP3244579U/ja active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117989964A (zh) * | 2024-04-02 | 2024-05-07 | 苏州玖钧智能装备有限公司 | 一种高刚性精密直线运动模组滑块检测检具 |
| CN117989964B (zh) * | 2024-04-02 | 2024-06-04 | 苏州玖钧智能装备有限公司 | 一种高刚性精密直线运动模组滑块检测检具 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101732749B1 (ko) | 볼나사축의 누적 리드 오차 측정 장치 및 측정 방법 | |
| Gao et al. | Precision measurement of cylinder straightness using a scanning multi-probe system | |
| Brand et al. | Development of a special CMM for dimensional metrology on microsystem components | |
| JPH11351857A (ja) | 薄板の表面形状測定方法および薄板の表面形状測定装置 | |
| CN103616007A (zh) | 一种微小零件平面度精密测量装置 | |
| Cao et al. | Recent developments in dimensional metrology for microsystem components | |
| CN114623784A (zh) | 一种用于大长度导轨直线度测量的方法和系统 | |
| CN104344803A (zh) | 一种可变检测位置的平面度检测装置 | |
| CN104776782B (zh) | 一种平行平面间距测量装置及测量方法 | |
| CN105115407A (zh) | 便携式多功能平面度检测装置及其使用方法 | |
| CN110738897A (zh) | 机械零件定位与几何精度测量实训台 | |
| JP3244579U (ja) | 測定装置 | |
| CN203908460U (zh) | 一种大尺寸内外径精密测量表架 | |
| JP4717639B2 (ja) | 基板の両面形状測定方法及び装置 | |
| CN208818103U (zh) | 一种阶梯式百分表校准装置 | |
| CN115355835B (zh) | 轴承内外径测量装置及其测量方法 | |
| TWI714449B (zh) | 快速量測模組 | |
| Yang et al. | Measurement technology for precision machines | |
| KR101386519B1 (ko) | 칫솔 홀 깊이 측정장치 | |
| CN113446913B (zh) | 用于方形芯料方正度测量装置及测量方法 | |
| CN212567307U (zh) | 一种平面显示系统中方形透镜不对称度的检测装置 | |
| Zhao et al. | High-precision surface parallelism measurement using digital image correlation method | |
| CN216205995U (zh) | 一种自定心孔位、沟槽尺寸测量装置 | |
| TWI650526B (zh) | 量測裝置 | |
| SU83858A1 (ru) | Координатный проектор |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 3244579 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |