JP3241208B2 - Active matrix substrate, liquid crystal display device using the same, and method of manufacturing the same - Google Patents

Active matrix substrate, liquid crystal display device using the same, and method of manufacturing the same

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JP3241208B2
JP3241208B2 JP13728894A JP13728894A JP3241208B2 JP 3241208 B2 JP3241208 B2 JP 3241208B2 JP 13728894 A JP13728894 A JP 13728894A JP 13728894 A JP13728894 A JP 13728894A JP 3241208 B2 JP3241208 B2 JP 3241208B2
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glass substrate
substrate
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connection wiring
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弘和 阪本
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は液晶表示装置などの平面
型表示装置用のアクティブマトリクス基板、それを用い
た液晶表示装置およびその製法に関する。さらに詳しく
は、ガラス基板から表示パネル部を切断する際に絶縁膜
にクラックが入り配線である金属膜の剥離が生じて信頼
性が低下するのを防止するアクティブマトリクス基板、
それを用いた液晶表示装置およびその製法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an active matrix substrate for a flat display device such as a liquid crystal display device, a liquid crystal display device using the same, and a method of manufacturing the same. More specifically, an active matrix substrate that prevents cracks in an insulating film and separation of a metal film serving as a wiring from occurring when cutting a display panel portion from a glass substrate, thereby preventing a decrease in reliability.
The present invention relates to a liquid crystal display device using the same and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置(以下、LCDという)
は、少なくとも透明電極が形成され、一定間隙を保持し
て周囲で貼着された2枚のガラス基板と、その間隙に注
入された液晶材料と、該2枚のガラス基板の外側にそれ
ぞれ設けられた偏光板と、バックライトなどとから構成
されている。なかでも各画素に薄膜トランジスタ(以
下、TFTという)などのスイッチング素子が設けら
れ、走査信号とデータ信号により各画素を駆動するアク
ティブマトリクス型LCDは高視野角、高コントラスト
などの特徴を有し、AVおよびOA用のLCDに広く用
いられている。
2. Description of the Related Art Liquid crystal display devices (hereinafter referred to as LCDs).
Are provided with at least two glass substrates on each of which a transparent electrode is formed and adhered to the periphery while maintaining a certain gap, a liquid crystal material injected into the gap, and each provided outside the two glass substrates. And a backlight and the like. Among them, a switching element such as a thin film transistor (hereinafter, referred to as a TFT) is provided in each pixel, and an active matrix LCD that drives each pixel by a scanning signal and a data signal has characteristics such as a high viewing angle and a high contrast. And OA LCDs.

【0003】このようなアクティブマトリクス型LCD
のTFTや信号線が形成された一方のガラス基板である
アクティブマトリクス基板を等価回路的概略図で図4に
示す。図4において、11はTFT、12は画素電極、
13は蓄積容量、14はゲート配線(信号線)、15は
ソース配線(信号線)である。各信号線14、15の端
部には入力端子3が設けられ、さらに各入力端子3は金
属膜などからなる接続配線4aを介してショートリング
4に接続され、製造工程での静電気により各信号線間で
の静電放電などにより信号線やTFTなどが破壊される
のを防止している。このアクティブマトリクス基板はも
う一方の少なくとも対向電極が設けられた対向基板と一
定間隙を保持してシール剤により貼着され、液晶材料の
注入後、図4のPで示される切断部で切断し、LCDが
形成される。
[0003] Such an active matrix type LCD
FIG. 4 is an equivalent circuit schematic diagram of an active matrix substrate which is one glass substrate on which the TFTs and signal lines are formed. In FIG. 4, 11 is a TFT, 12 is a pixel electrode,
13 is a storage capacitor, 14 is a gate wiring (signal line), and 15 is a source wiring (signal line). An input terminal 3 is provided at an end of each of the signal lines 14 and 15, and each input terminal 3 is connected to the short ring 4 via a connection wiring 4a made of a metal film or the like. The signal lines, TFTs, and the like are prevented from being destroyed by electrostatic discharge between the lines. This active matrix substrate is adhered to the other counter substrate provided with at least the counter electrode with a sealant while maintaining a constant gap, and after injection of the liquid crystal material, cut at a cutting portion indicated by P in FIG. An LCD is formed.

【0004】この入力端子3部の平面図および断面図を
図5〜6にそれぞれ示す。図5および図6において、ま
ず洗浄したガラス基板1にSiN、SiO2、Ta25
などの絶縁膜2をスパッタリング法などの方法で形成す
る。この絶縁膜2はガラス基板1の保護膜であり、また
この絶縁膜2は蓄積容量を形成する必要のあるときは蓄
積容量の誘電体として形成されるばあいもある。
FIGS. 5 and 6 show a plan view and a sectional view of the input terminal 3 respectively. In FIGS. 5 and 6, SiN, SiO 2 , Ta 2 O 5
Is formed by a method such as a sputtering method. The insulating film 2 is a protective film for the glass substrate 1, and the insulating film 2 may be formed as a dielectric of the storage capacitor when a storage capacitor needs to be formed.

【0005】この絶縁膜2の上に、インジウムスズ酸化
物(以下、ITOという)などの透明導電膜をスパッタ
リング法などの方法で成膜し、これをフォトリソグラフ
ィ法などの方法でパターン形成し、画素電極を形成する
(図示せず)。このとき同時にITO膜を用いて入力端
子3を形成する。
A transparent conductive film such as indium tin oxide (hereinafter, referred to as ITO) is formed on the insulating film 2 by a method such as a sputtering method, and is patterned by a method such as a photolithography method. A pixel electrode is formed (not shown). At this time, the input terminals 3 are simultaneously formed using the ITO film.

【0006】つぎにCr、Ta、Tiなどの金属膜をス
パッタリング法などの方法で成膜し、これをフォトリソ
グラフィ法などの方法でパターン形成し、TFTのゲー
ト電極(図示せず)およびゲート配線(信号線)14
(図4参照)を形成する。このとき同時に入力端子3の
外側にショートリング4およびショートリング4と入力
端子3とを接続する接続配線4aを同じ金属膜で形成す
る。このショートリング4はゲート配線(信号線)14
間およびゲート配線とあとで形成するソース配線(信号
線)を電気的に短絡し、各信号線やTFTが静電気の放
電などにより破壊されるのを防止するものである。した
がってこのショートリング4部分はLCDが形成され最
終試験前には除去される。
Next, a metal film of Cr, Ta, Ti or the like is formed by a method such as a sputtering method, and is patterned by a method such as a photolithography method to form a TFT gate electrode (not shown) and a gate wiring. (Signal line) 14
(See FIG. 4). At this time, a short ring 4 and a connection wire 4a connecting the short ring 4 and the input terminal 3 are formed of the same metal film outside the input terminal 3 at the same time. This short ring 4 has a gate wiring (signal line) 14.
The source wiring (signal line) formed between the gate wiring and the gate wiring is electrically short-circuited to prevent the signal lines and the TFT from being destroyed due to electrostatic discharge. Therefore, the short ring 4 is formed on the LCD and removed before the final test.

【0007】さらにTFTのゲート絶縁膜、半導体層、
オーミックコンタクト層、ソース電極、ソース配線、ド
レイン電極および保護膜を形成する。TFTのゲート絶
縁膜が設けられる際に、ゲート配線14上にも同時に絶
縁膜5として形成される。この絶縁膜5はSiN、Si
2などからなり、ゲート配線14を後工程で用いる薬
品などから保護するとともに、各配線間の電位差と付着
する水分による配線の電解腐蝕を防止する上で好ましい
ため、保護膜となる絶縁膜などとともにこのまま残さ
れ、外部駆動回路のリード端子との電気的接続のため、
入力端子3の上部のみの絶縁膜が除去される。この絶縁
膜5は、ショートリング4上にも形成され、ショートリ
ング4をアースに落とす必要があるばあいなどには部分
的に除去されるが、通常はパターンを複雑にしないた
め、図6に示されるように入力端子3の外側の接続配線
4aおよびショートリング4の上部には残されている。
そののち配向膜(図示せず)などが設けられてアクティ
ブマトリクス基板(TFTアレイ基板)が完成する。
Further, a gate insulating film of a TFT, a semiconductor layer,
An ohmic contact layer, a source electrode, a source wiring, a drain electrode, and a protective film are formed. When the gate insulating film of the TFT is provided, the insulating film 5 is also formed on the gate wiring 14 at the same time. This insulating film 5 is made of SiN, Si
Since it is made of O 2 and the like, it is preferable to protect the gate wiring 14 from chemicals used in a later process and to prevent electrolytic corrosion of the wiring due to a potential difference between the wirings and attached moisture. And for the electrical connection with the lead terminal of the external drive circuit,
The insulating film only on the upper part of the input terminal 3 is removed. This insulating film 5 is also formed on the short ring 4 and is partially removed when the short ring 4 needs to be grounded. However, since the pattern is not usually complicated, the insulating film 5 is formed as shown in FIG. As shown, the connection wiring 4a outside the input terminal 3 and the upper part of the short ring 4 are left.
Thereafter, an alignment film (not shown) and the like are provided, and an active matrix substrate (TFT array substrate) is completed.

【0008】前記基板とカラーフィルタや対向電極など
が設けられた対向基板とのあいだに液晶材料を挟持し
て、ゲート配線14およびソース配線15を短絡してい
るショートリング4と入力端子3間でガラス基板を切断
し、入力端子3に外部駆動回路をTAB(Tape A
utomated Bonding)接続し、LCDが
形成される。
A liquid crystal material is sandwiched between the substrate and a counter substrate provided with a color filter, a counter electrode, and the like. The glass substrate is cut, and an external drive circuit is connected to the input terminal 3 by TAB (Tape A).
LCD (LCD) is formed by connection of the LCD (automatic bonding).

【0009】また異なる端子構造を有するLCDとし
て、特開平2−180076号公報に開示され、図8に
示されるように、ゲート配線(図示せず)やショートリ
ング4、接続配線4aなどを絶縁膜を介さないでガラス
基板1に直接形成する構造のものが知られている。しか
し接続配線4aの上部には前述の理由により絶縁膜5が
残されている。
An LCD having a different terminal structure is disclosed in Japanese Patent Laid-Open Publication No. Hei 18-18076, and as shown in FIG. 8, a gate wiring (not shown), a short ring 4, a connection wiring 4a and the like are formed of an insulating film. There is known a structure which is formed directly on the glass substrate 1 without any interposition. However, the insulating film 5 is left above the connection wiring 4a for the above-described reason.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】前述のようにLCDの
製造は、通常TFTや信号線が形成されたアクティブマ
トリクス基板で各信号線の端部側でショートリングによ
り各信号線をショートしておき静電気による信号線やT
FTの破壊を防止し、組立後にガラス基板を切断してシ
ョートリングを除去している。しかし、この基板切断の
際、基板の面取りを行なうと、図7または図9に示され
るように基板上の絶縁膜2、5にクラックが入り、接続
配線がめくれ上がったり、入力端子部に浮きが生じて信
頼性が低下するという問題が生じる。
As described above, in the manufacture of LCDs, each signal line is usually short-circuited by a short ring at the end of each signal line on an active matrix substrate on which TFTs and signal lines are formed. Signal lines and T due to static electricity
The FT is prevented from being destroyed, and the short ring is removed by cutting the glass substrate after assembly. However, when the substrate is chamfered at the time of cutting the substrate, cracks are formed in the insulating films 2 and 5 on the substrate as shown in FIG. 7 or FIG. This causes a problem that reliability is reduced.

【0011】さらにこのような浮きが生じていると、T
AB接続し、LCDの完成後、各種テストによりTAB
に不具合、たとえばTAB上のIC不良などが判明して
TABを交換する際、入力端子が基板からはがれるとい
う問題がある。
Further, when such a floating occurs, T
AB connection, after completion of LCD, TAB by various tests
However, there is a problem that the input terminal is detached from the board when the TAB is replaced by finding a defect, for example, an IC failure on the TAB.

【0012】この傾向は接続配線4aの上下に絶縁膜が
ある図6〜7に示されるばあいに顕著であるが、上側だ
けの図8〜9に示されるばあいでも図9に示されるよう
に基板切断時にクラックが入ったり、めくれ上がったり
し、これが原因で入力端子が基板からはがれるという同
様の問題がある。
This tendency is remarkable in the case shown in FIGS. 6 and 7 in which insulating films are provided above and below the connection wiring 4a, but also in the case shown in FIGS. There is a similar problem that the input terminal is peeled off from the substrate due to cracking or turning up when cutting the substrate.

【0013】一方、特開平2−19839号公報第3図
にはガラス基板の切断部に絶縁膜のない図が示されてい
るが、これはショートリングと入力端子とのあいだにキ
ャパシタを入れることを説明するための図で、キャパシ
タのための絶縁膜以外の絶縁膜は記載されておらず、絶
縁膜を設けるべき場所と設けてはならない場所の関係に
ついては一切言及されていない。
On the other hand, FIG. 3 of Japanese Unexamined Patent Publication No. 2-19839 discloses a diagram in which a cut portion of a glass substrate has no insulating film. This is because a capacitor is inserted between a short ring and an input terminal. In the figures for explaining the above, no insulating film other than the insulating film for the capacitor is described, and no reference is made to the relationship between the place where the insulating film should be provided and the place where the insulating film should not be provided.

【0014】本発明は前記の問題を解決するためになさ
れたもので、ガラス基板の切断後も配線や端子の浮きや
剥離を防止することができるアクティブマトリクス基
板、それを用いた液晶表示装置およびその製法を提供す
ることを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and has an active matrix substrate capable of preventing floating and peeling of wiring and terminals even after cutting a glass substrate, a liquid crystal display device using the same, and The purpose is to provide the manufacturing method.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明のアクティブマト
リクス基板は、ガラス基板上にスイッチング素子がマト
リクス状に形成され、該スイッチング素子に信号を供給
する信号線が縦横に複数本設けられるとともに、該複数
本の信号線の端部がそれぞれ入力端子を経て接続配線に
よりショートリングに接続され、かつ、少なくとも前記
信号線の上層に絶縁膜が設けられ、該ショートリング部
を除去するため該ショートリングと前記入力端子とのあ
いだの接続配線に切断部を有するアクティブマトリクス
基板であって、前記接続配線の切断部で少なくともガラ
ス基板の厚さ以上の範囲にわたって前記接続配線上に絶
縁膜が設けられない領域が形成されている。
According to the active matrix substrate of the present invention, switching elements are formed in a matrix on a glass substrate, and a plurality of signal lines for supplying signals to the switching elements are provided vertically and horizontally. The ends of the plurality of signal lines are connected to the short ring by connection wiring via input terminals, respectively, and an insulating film is provided at least on the signal line, and the short ring is used to remove the short ring portion. An active matrix substrate having a cut portion in a connection line between the input terminal and a region where an insulating film is not provided on the connection line over a range of at least a thickness of a glass substrate in the cut portion of the connection line. Are formed.

【0016】少なくとも前記入力端子の下層で前記ガラ
ス基板とのあいだに絶縁膜が設けられ、かつ、前記接続
配線の切断部で少なくともガラス基板の厚さ以上の範囲
にわたって前記接続配線の下層に絶縁膜が設けられない
領域が形成されていることが、ガラス基板の表面を保護
して金属膜の接着を確実とし、信頼性が一層向上するた
め好ましい。
An insulating film is provided at least below the input terminal and between the glass substrate, and an insulating film is formed below the connection wiring over a range of at least the thickness of the glass substrate at a cut portion of the connection wiring. It is preferable to form a region where no metal is provided, since this protects the surface of the glass substrate, ensures adhesion of the metal film, and further improves reliability.

【0017】前記信号線および接続配線が金属膜からな
り、前記入力端子が導電性酸化膜からなることが、信号
線の電気抵抗を低下させるとともに、入力端子に導電性
酸化膜を使用することにより、外部の駆動回路基板のリ
ード端子と接続する際酸化が進むことがなく、確実に接
続することができるため好ましい。
The fact that the signal lines and the connection wirings are made of a metal film and the input terminals are made of a conductive oxide film reduces the electric resistance of the signal lines and allows the input terminals to use a conductive oxide film. This is preferable because the oxidation does not proceed when connecting to the lead terminal of the external drive circuit board, and the connection can be surely made.

【0018】本発明の液晶表示装置は、ガラス基板上に
少なくとも薄膜トランジスタがマトリクス状に設けられ
るとともに該薄膜トランジスタに信号を供給する信号線
が複数本縦横に設けられたTFT基板と、少なくとも対
向電極が設けられた対向基板とのあいだに液晶材料が挟
持されてなる液晶表示装置であって、前記TFT基板の
信号線の端部には入力端子が設けられるとともに該入力
端子から前記TFT基板の端縁まで配線が設けられ、か
つ、少なくとも前記信号線上に絶縁膜が設けられるとと
もに少なくとも前記TFT基板の前記端縁での配線上に
は絶縁膜が設けられない領域が形成されている。
The liquid crystal display device of the present invention comprises a TFT substrate in which at least thin film transistors are provided in a matrix on a glass substrate and a plurality of signal lines for supplying signals to the thin film transistors are provided vertically and horizontally, and at least a counter electrode is provided. A liquid crystal display device in which a liquid crystal material is sandwiched between an opposing substrate and an input terminal provided at an end of a signal line of the TFT substrate, and an input terminal is provided from the input terminal to an edge of the TFT substrate. A wiring is provided, and an insulating film is provided on at least the signal line, and at least a region where the insulating film is not provided on the wiring at the edge of the TFT substrate is formed.

【0019】また本発明の液晶表示装置の製法は、薄膜
トランジスタおよび信号線が形成され該信号線の端部が
入力端子を経て接続配線によりショートリングに接続さ
れた一方のガラス基板と、少なくとも対向電極が設けら
れた他方のガラス基板と貼着したのちにガラス基板を切
断してショートリングを除去する液晶表示装置の製法で
あって、前記信号線の少なくとも上層に絶縁膜を形成
し、かつ、前記ショートリングと入力端子とのあいだの
接続配線の少なくともガラス基板の厚さ以上の領域には
前記接続配線の上層および下層に絶縁膜を設けないで、
該絶縁膜が設けられていない部分で前記ガラス基板を切
断しショートリングを除去することを特徴とする。
Further, according to the method of manufacturing a liquid crystal display device of the present invention, a thin film transistor and a signal line are formed, and one end of the signal line is connected to a short ring via an input terminal via a connection wiring, and at least a counter electrode. A method for manufacturing a liquid crystal display device in which a glass substrate is cut and then a short ring is removed after the glass substrate is attached to the other glass substrate provided with an insulating film on at least an upper layer of the signal line, and An insulating film is not provided in an upper layer and a lower layer of the connection wiring in a region of at least the thickness of the glass substrate of the connection wiring between the short ring and the input terminal,
The glass substrate is cut at a portion where the insulating film is not provided, and a short ring is removed.

【0020】[0020]

【作用】本発明のアクティブマトリクス基板によれば、
各信号線の端部が入力端子を経て接続配線によりショー
トリングと接続され、各信号線は少なくとも絶縁膜で覆
われ、前記ショートリングを除去するためのガラス基板
の切断部には少なくともガラス基板の厚さ以上の長さの
領域にわたって絶縁膜が設けられていないため、ガラス
基板の切断の際に絶縁膜のクラックに基づく接続配線や
入力端子部の浮きや剥離が生じない。
According to the active matrix substrate of the present invention,
An end of each signal line is connected to a short ring by a connection wiring via an input terminal, each signal line is covered with at least an insulating film, and a cut portion of the glass substrate for removing the short ring has at least a glass substrate. Since the insulating film is not provided over a region longer than the thickness, floating or peeling of the connection wiring or the input terminal portion due to cracks in the insulating film does not occur when the glass substrate is cut.

【0021】すなわち絶縁膜はガラス的な性質を有する
ため、ガラス基板の切断の際にクラックが入り易いが、
本発明によればガラス基板の切断部には絶縁膜が形成さ
れていないため、絶縁膜のクラックに基づく配線の浮き
や剥離が生じない。しかも絶縁膜が設けられない範囲を
ガラス基板の厚さ以上の長さにしているため、ガラス切
断が斜め、たとえば30°の方向に進んでも絶縁膜部分
に破断部が進むことはない。
That is, since the insulating film has a glassy property, cracks are likely to be formed when cutting the glass substrate.
According to the present invention, since the insulating film is not formed in the cut portion of the glass substrate, the floating or peeling of the wiring due to the crack in the insulating film does not occur. Moreover, since the area where the insulating film is not provided is set to a length equal to or longer than the thickness of the glass substrate, even if the glass cutting proceeds in an oblique direction, for example, in a direction of 30 °, the broken portion does not advance in the insulating film portion.

【0022】また本発明のLCDによれば、TFT基板
端部である切断部には絶縁膜が設けられていないため、
配線や入力端子の浮きがなく、TABを接続したのち剥
離しても入力端子が剥離することがない。
Further, according to the LCD of the present invention, since the insulating film is not provided at the cut portion which is the end of the TFT substrate,
There is no floating wiring or input terminal, and the input terminal does not peel off even after the TAB is connected and then peeled off.

【0023】さらに本発明のLCDの製法によれば、ガ
ラス基板の切断部に絶縁膜を設けない領域を形成し、そ
の領域内で切断するため、確実に絶縁膜にクラックを生
じさせることなくガラス基板を切断することができる。
Further, according to the LCD manufacturing method of the present invention, a region where no insulating film is provided is formed in a cut portion of the glass substrate, and the glass substrate is cut in the region. The substrate can be cut.

【0024】[0024]

【実施例】つぎに本発明のアクティブマトリクス基板、
それを用いたLCDおよびその製法について説明する。
Next, an active matrix substrate according to the present invention,
An LCD using the same and a manufacturing method thereof will be described.

【0025】LCDは前述のように、2枚の透明絶縁基
板が一定間隙を保持して周囲でシール剤などにより貼着
され、その間隙に液晶材料が注入されることにより、該
液晶材料が2枚の基板により挟持された構造となり、そ
の両側にたとえば偏光板が設けられたり、さらにバック
ライトや駆動回路などが設けられることにより形成され
る。
As described above, in the LCD, two transparent insulating substrates are adhered to each other by a sealing agent or the like while maintaining a certain gap, and a liquid crystal material is injected into the gap, whereby the liquid crystal material becomes 2 The structure is sandwiched between two substrates, and is formed by providing, for example, a polarizing plate on both sides thereof, and further providing a backlight, a driving circuit, and the like.

【0026】前記2枚の基板の一方は、ガラス基板上に
各画素ごとにTFTおよび画素電極が少なくとも設けら
れ、その他配向膜や必要に応じて蓄積容量などが設けら
れるとともに、各画素間にはゲート配線やソース配線な
どの信号線が設けられ、TFTアレイ基板(本明細書で
は、ガラス基板が切断されLCDになった状態のものを
TFTアレイ基板といい、ショートリングと連結されて
いる状態の基板をアクティブマトリクス基板という)と
されている。このTFTアレイ基板は、製造工程の途中
までは前述の図4に示されるように信号線の端部がショ
ートリングにより連結されたアクティブマトリクス基板
となっている。本発明ではこのアクティブマトリクス基
板でショートリングを除去するため、ガラス基板の切断
部の積層膜構造を改良したもので、その切断部の構造に
ついて以下の具体的実施例により詳細に説明する。
On one of the two substrates, at least a TFT and a pixel electrode are provided for each pixel on a glass substrate, and an alignment film and, if necessary, a storage capacitor are provided. A signal line such as a gate line or a source line is provided, and a TFT array substrate (in the present specification, a glass substrate cut into an LCD is called a TFT array substrate, and is connected to a short ring. The substrate is referred to as an active matrix substrate). This TFT array substrate is an active matrix substrate in which the ends of the signal lines are connected by a short ring as shown in FIG. 4 until the middle of the manufacturing process. In the present invention, in order to remove the short ring from the active matrix substrate, the laminated film structure of the cut portion of the glass substrate is improved. The structure of the cut portion will be described in detail by the following specific examples.

【0027】また、他方の基板は、前記TFTアレイ基
板の各画素電極に対向する透明電極が形成された対向基
板で、たとえば前記TFTアレイ基板と同様のガラス基
板などであればよく、また前記透明電極は、とくに限定
されないが、TFTアレイ基板と同様に、たとえばIT
O、酸化スズ、酸化インジウムなどが用いられ、スパッ
タリングとパターニングなどにより設けられる。
The other substrate is a counter substrate on which a transparent electrode facing each pixel electrode of the TFT array substrate is formed. For example, a glass substrate similar to the TFT array substrate may be used. The electrodes are not particularly limited. For example, like the TFT array substrate,
O, tin oxide, indium oxide, or the like is used, and is provided by sputtering and patterning.

【0028】対向基板には、前記透明電極のほかにも、
たとえば通常の配向膜や、画素間を遮光するためのブラ
ックマスク、またカラー液晶のばあいには、カラーフィ
ルタなどが設けられる。かかるカラーフィルタにはとく
に限定がなく、通常用いられる赤、緑、青の3原色のカ
ラーフィルタや単色のカラーフィルタなどを用いること
ができる。
On the opposite substrate, in addition to the transparent electrode,
For example, a normal alignment film, a black mask for shielding light between pixels, and a color filter in the case of a color liquid crystal are provided. There is no particular limitation on such color filters, and commonly used color filters of three primary colors, red, green, and blue, and a single color filter can be used.

【0029】本発明のLCDに用いられる液晶材料には
とくに限定がなく、たとえばシアノ系のネマティック液
晶やフッ素系のネマティック液晶などの通常のLCDに
用いられる液晶材料を用いることができる。
There is no particular limitation on the liquid crystal material used for the LCD of the present invention. For example, a liquid crystal material used for a normal LCD such as a cyano nematic liquid crystal or a fluorine nematic liquid crystal can be used.

【0030】本発明のアクティブマトリクス基板および
LCDは、前述のガラス基板切断部分においてショート
リングと入力端子とを接続する接続配線の切断部に絶縁
部が設けられず、他の信号線上には信号線保護のための
絶縁膜が設けられた構造であることに特徴がある。その
結果、基板切断時に絶縁膜を傷つけることがないため、
絶縁膜にクラックが入り、配線や入力端子がめくれ上が
り、浮きが生じたり剥離が生じることがない。したがっ
てTAB交換のために入力端子からTABをはがして
も、絶縁膜や入力端子がはがれるといった問題を防止で
きる。
In the active matrix substrate and the LCD according to the present invention, the insulating portion is not provided at the cutting portion of the connection wiring connecting the short ring and the input terminal at the above-mentioned glass substrate cutting portion, and the signal line is provided on the other signal lines. It is characterized in that it has a structure provided with an insulating film for protection. As a result, the insulating film is not damaged when cutting the substrate,
Cracks do not occur in the insulating film, wiring and input terminals are turned up, and no floating or peeling occurs. Therefore, even if the TAB is peeled off from the input terminal for replacing the TAB, the problem that the insulating film and the input terminal are peeled off can be prevented.

【0031】本発明のアクティブマトリクス基板はLC
Dに用いるのにとくに効果的であるが、LCD以外にも
エレクトロ・ルミネッセンス・ディスプレイ(EL
D)、エレクトロ・クロミック・ディスプレイ(EC
D)などの平面型表示装置にも用いられる。
The active matrix substrate of the present invention is LC
D is particularly effective for use in electroluminescent displays (EL).
D), electrochromic display (EC
It is also used for flat display devices such as D).

【0032】つぎに、本発明のアクティブマトリクス基
板の入力端子部および切断部の構造について、図面を参
照しながら説明する。
Next, the structure of the input terminal portion and the cut portion of the active matrix substrate of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0033】[実施例1]図1は本発明のアクティブマ
トリクス基板の一実施例の入力端子およびショートリン
グ部の部分平面説明図、図2(a)は図1のA−A線断
面説明図である。
Embodiment 1 FIG. 1 is a partial plan view of an input terminal and a short ring portion of an active matrix substrate according to one embodiment of the present invention, and FIG. 2A is a cross-sectional view taken along the line AA of FIG. It is.

【0034】図1〜2において、まず洗浄したガラス基
板1にSiN、SiO2、Ta25などの絶縁膜2を積
層する。ガラス基板1の厚さは通常0.5〜2.0mm
程度である。
1 and 2 , an insulating film 2 such as SiN, SiO 2 , Ta 2 O 5 or the like is laminated on a cleaned glass substrate 1. The thickness of the glass substrate 1 is usually 0.5 to 2.0 mm
It is about.

【0035】この絶縁膜2は、ガラス基板1の保護膜
で、300〜1000nm程度の厚さに形成される。こ
の絶縁膜2はまた、蓄積容量の誘電体と同時に形成され
るばあいもある。本発明では、この絶縁膜2が、基板切
断時に絶縁膜2も切断されて絶縁膜2にクラックなどが
入らないようにするため、切断部Pから少なくともガラ
ス基板1の厚さ以上の長さ、すなわち約1mm以上、さ
らに好ましくはガラス基板1の厚さの2倍以上の長さ、
すなわち約2mm以上内側に絶縁膜2の端部2aが形成
されるようにパターン形成されている。
The insulating film 2 is a protective film for the glass substrate 1 and has a thickness of about 300 to 1000 nm. The insulating film 2 may be formed simultaneously with the dielectric of the storage capacitor. In the present invention, in order to prevent the insulating film 2 from being cut when the substrate is cut and the insulating film 2 from being cracked, the length of the insulating film 2 from the cut portion P is at least the thickness of the glass substrate 1 or more. That is, a length of about 1 mm or more, more preferably twice or more the thickness of the glass substrate 1,
That is, the pattern is formed such that the end 2a of the insulating film 2 is formed on the inner side of about 2 mm or more.

【0036】つぎにTFTアレイを形成する。まず最初
に、ITO、酸化スズ、酸化インジウムなどからなる透
明導電膜をたとえばスパッタリング法などの方法で成膜
し、これをたとえばフォトリソグラフィ技術などの方法
でパターン形成し、信号線の入力端子3および画素電極
(図示せず)を形成する。
Next, a TFT array is formed. First, a transparent conductive film made of ITO, tin oxide, indium oxide, or the like is formed by a method such as a sputtering method, and is patterned by a method such as a photolithography technique. A pixel electrode (not shown) is formed.

【0037】入力端子3に透明導電膜を用いるのは、T
AB接続するまでの工程で最高300℃に加熱して処理
されるため、金属膜では酸化し易く、酸化すると接続が
不充分で信頼性が低下するのに対し、透明導電膜を用い
ればもともと酸化物であるため、さらに酸化が進んで絶
縁性になることがないからである。
The reason why a transparent conductive film is used for the input terminal 3 is as follows.
Since the process is performed by heating to a maximum of 300 ° C. in the process until AB connection, the metal film is easily oxidized, and if oxidized, the connection is insufficient and the reliability is reduced. This is because, since the material is a substance, the oxidation does not proceed further and the insulating property does not occur.

【0038】かかる透明導電膜の膜厚は、通常50〜2
00nm程度であることが好ましいが、LCDとして要
求される輝度をうるためには、80〜150nm程度と
なるように調整することが好ましい。
The thickness of the transparent conductive film is usually 50 to 2
The thickness is preferably about 00 nm, but in order to obtain the luminance required for an LCD, it is preferable to adjust the thickness to about 80 to 150 nm.

【0039】つぎにガラス基板上の全面に、たとえばC
r、Ta、Ti、Moなどの金属膜を膜厚が100〜5
00nm程度となるように、たとえばスパッタリング法
などの方法によって成膜し、これをたとえば露光、現像
によりマスクを形成し、エッチングをするフォトリソグ
ラフィ技術などの方法によってパターン形成してTFT
のゲート電極(図示せず)および該ゲート電極と接続さ
れたゲート配線(信号線)14を設ける。このとき同時
に入力端子3の外側にショートリング4および接続配線
4aを形成し、ゲート配線14および接続配線4aが入
力端子3の端部と電気的にコンタクトするようにパター
ニングする。このショートリング4は各画素間に形成さ
れるゲート配線(信号線)14とあとで各画素間に形成
されるソース配線(信号線)それぞれの相互間およびゲ
ート配線とソース配線間を電気的に短絡し、信号線およ
びTFTが静電気などにより破壊されるのを防止するた
めのものである。
Next, for example, C
A metal film such as r, Ta, Ti, Mo, etc. having a thickness of 100 to 5
A film is formed by a method such as a sputtering method so as to have a thickness of about 00 nm, a mask is formed by, for example, exposure and development, and a pattern is formed by a method such as a photolithography technique of etching.
Gate electrode (not shown) and a gate wiring (signal line) 14 connected to the gate electrode. At this time, the short ring 4 and the connection wiring 4a are simultaneously formed outside the input terminal 3, and patterning is performed so that the gate wiring 14 and the connection wiring 4a are in electrical contact with the end of the input terminal 3. The short ring 4 electrically connects a gate line (signal line) 14 formed between the pixels and a source line (signal line) formed later between the pixels and between the gate line and the source line. This is to prevent a short circuit and breakage of the signal line and the TFT due to static electricity or the like.

【0040】さらに、たとえばプラズマCVD法などに
より、図示しないTFT部のゲート絶縁膜、半導体層お
よびオーミックコンタクト層、ソース電極およびソース
配線、保護膜を成膜する。
Further, a gate insulating film (not shown), a semiconductor layer and an ohmic contact layer, a source electrode and a source wiring, and a protective film are formed by a plasma CVD method or the like.

【0041】前記ゲート絶縁膜の形成と同時にゲート配
線14上および接続配線4aの一部上に絶縁膜5として
残存するようにパターニングする。絶縁膜5は、たとえ
ばSiN、SiO2、Ta25などからなるものである
ことが好ましく、またかかる絶縁膜5の膜厚は、充分な
絶縁性およびTFTのゲート絶縁膜としての特性をうる
ことができるという点から200〜1000nm程度で
あることが好ましい。
Simultaneously with the formation of the gate insulating film, patterning is performed so as to remain as an insulating film 5 on the gate wiring 14 and a part of the connection wiring 4a. The insulating film 5 is preferably made of, for example, SiN, SiO 2 , Ta 2 O 5, and the like, and the thickness of the insulating film 5 provides sufficient insulating properties and characteristics as a TFT gate insulating film. It is preferable that the thickness is about 200 to 1000 nm from the viewpoint that it can be performed.

【0042】このゲート配線14上の絶縁膜5は電解腐
蝕などを防止するのに効果的である。すなわち、複数本
のゲート配線などの信号線は各信号線ごとに電位が異な
り、表面に水分が付着すると電位差に基づく電気分解が
起り、信号線などの金属膜が腐蝕される。しかし、絶縁
膜で覆われていることにより、そのような電解腐食は防
止される。同様に接続配線4aと入力端子3との接続部
にも水分などが侵入し易いが、絶縁膜5で接続部が覆わ
れることにより、水分の侵入を防止することができるた
め好ましい。
The insulating film 5 on the gate wiring 14 is effective for preventing electrolytic corrosion and the like. That is, a plurality of signal lines such as gate wirings have different potentials for each signal line. If moisture adheres to the surface, electrolysis based on the potential difference occurs, and a metal film such as the signal line is corroded. However, by being covered with the insulating film, such electrolytic corrosion is prevented. Similarly, moisture easily penetrates into a connection portion between the connection wiring 4a and the input terminal 3, but it is preferable that the connection portion is covered with the insulating film 5 so that penetration of moisture can be prevented.

【0043】一方、前述のように、ショートリング4を
除去するためのガラス基板1の切断部Pに絶縁膜が形成
されているとガラス基板1の切断時にクラックが入り、
そのクラックの影響により入力端子3の浮きや剥離の原
因となり易い。そこで前述の絶縁膜2のばあいと同様に
切断部Pで少なくともガラス基板1の厚さと同じ長さの
領域、さらに好ましくは、ガラス基板1の厚さの2倍以
上の長さの領域には絶縁膜が残らないようにすることに
本発明の特徴がある。
On the other hand, as described above, if an insulating film is formed at the cut portion P of the glass substrate 1 for removing the short ring 4, cracks occur when the glass substrate 1 is cut,
The influence of the crack easily causes the input terminal 3 to float or peel off. Therefore, as in the case of the insulating film 2 described above, the cut portion P has at least a region having the same length as the thickness of the glass substrate 1, and more preferably a region having a length at least twice the thickness of the glass substrate 1. There is a feature of the present invention in that the insulating film is not left.

【0044】ここで切断部Pに絶縁膜を設けない領域の
長さがガラス基板1の厚さと同じ、さらに好ましくは2
倍以上とする根拠について説明する。図2(b)に基板
1の切断時におけるガラス基板1の割れ方を模式的に示
す。ガラス基板1を切断するばあい、通常スクライブ
し、ブレイクする方法が用いられる。すなわち、図2
(b)に示されるように、ガラス基板1の裏面側に切断
線に沿ってスクライブ溝16を形成し、衝撃を与えるこ
とによりスクライブ溝16から割れ目Qが入り破断され
る。この割れ目Qの方向はスクライブ溝16の形成状況
やガラス基板1の状態によって変わるが、通常は図2
(b)に示される角度θが±30°以下程度である。し
たがってスクライブ溝を中心にして左右の領域の長さm
はガラス基板1の厚さtの約1/2の範囲に収まること
になり、絶縁膜のない範囲2mとしては最低限ガラス基
板1の厚さtと同じ2m=tの長さ必要となる。しかし
割れの方向θは45°程度のばあいもありえ、45°に
なるとm=tであるため、またアライメントずれもある
ため、絶縁膜のない範囲としては、2m=2tでガラス
基板1の厚さtの2倍程度以上あることがさらに好まし
い。
Here, the length of the region where the insulating film is not provided in the cut portion P is the same as the thickness of the glass substrate 1, more preferably 2
The reason for making the number twice or more will be described. FIG. 2B schematically shows how the glass substrate 1 breaks when the substrate 1 is cut. When cutting the glass substrate 1, a method of scribing and breaking is usually used. That is, FIG.
As shown in (b), a scribe groove 16 is formed along the cutting line on the back surface side of the glass substrate 1, and a crack Q is formed from the scribe groove 16 by applying an impact, and the glass substrate 1 is broken. Although the direction of the crack Q changes depending on the state of formation of the scribe grooves 16 and the state of the glass substrate 1, usually, the direction of FIG.
The angle θ shown in (b) is about ± 30 ° or less. Therefore, the length m of the left and right areas around the scribe groove is
Is within the range of about 1/2 of the thickness t of the glass substrate 1, and the range 2m without the insulating film needs to be at least 2m = t, which is the same as the thickness t of the glass substrate 1. However, the cracking direction θ can be about 45 °, and when 45 °, m = t, and there is misalignment. Therefore, as a range without an insulating film, the thickness of the glass substrate 1 is 2m = 2t. More preferably, it is at least about twice the length t.

【0045】つぎに通常のTFTの製造プロセスにより
半導体層、コンタクト層、ソース/ドレイン電極および
ソース配線を形成し、保護膜をその上に形成する。ソー
ス配線(信号線)も前述のゲート配線と同様に金属膜で
形成し、ゲート配線用の入力端子3と同時に形成してお
いたソース配線用の入力端子と接続するとともに接続配
線により入力端子と前述のショートリングとが接続され
るように形成する。この接続配線を形成する際にも切断
部で少なくともガラス基板の厚さの領域では絶縁膜が存
在しないように、また入力端子部上にも絶縁膜が残存し
ないように、あらかじめパターニングしておく。さらに
ソース配線形成後に成膜する保護膜についても、同様に
切断部の少なくともガラス基板の厚さ、さらに好ましく
はガラス基板の厚さの2倍以上の長さの領域には絶縁膜
が存在しないようにパターニングする。また最後の保護
膜も前述の絶縁膜と同じSiN、SiO2、Ta25
どを使用することができ、厚さも同様に300〜100
0nm程度設ければ充分である。
Next, a semiconductor layer, a contact layer, a source / drain electrode, and a source wiring are formed by a normal TFT manufacturing process, and a protective film is formed thereon. The source wiring (signal line) is also formed of a metal film in the same manner as the above-mentioned gate wiring, is connected to the input terminal for the source wiring formed simultaneously with the input terminal 3 for the gate wiring, and is connected to the input terminal by the connection wiring. The short ring is formed so as to be connected thereto. When the connection wiring is formed, patterning is performed in advance so that the insulating film does not exist at least in the region of the thickness of the glass substrate at the cut portion and that the insulating film does not remain on the input terminal portion. Further, the protective film formed after the formation of the source wiring is also formed so that the insulating film does not exist in at least the region of the cut portion at least the thickness of the glass substrate, more preferably at least twice the thickness of the glass substrate. Is patterned. The final protective film same SiN with the aforementioned insulating film, etc. can be used SiO 2, Ta 2 O 5, also the thickness Similarly 300-100
It is sufficient to provide about 0 nm.

【0046】このアクティブマトリクス基板と対向電極
が形成された対向基板とを向い合わせ貼着し、ショート
リング部を切断除去する。この際絶縁膜が除去された領
域で切断することにより、絶縁膜のない部分の領域が少
なくともガラス基板の厚さ以上に形成されているため、
たとえ破断部が斜めに走ってもLCDのTFTアレイ基
板端縁の配線部には絶縁膜が存在しない。したがって切
断部の面取りが行われても入力端子部の浮きや剥れは生
じないで信頼性が高いLCDがえられる。この入力端子
に外部駆動回路(図示せず)のリード端子をTABなど
により接続することにより、LCDが完成する。
The active matrix substrate and the opposing substrate on which the opposing electrode is formed are adhered to each other, and the short ring portion is cut and removed. At this time, by cutting the region where the insulating film is removed, the region of the portion without the insulating film is formed at least the thickness of the glass substrate,
Even if the broken part runs obliquely, no insulating film exists in the wiring part at the edge of the TFT array substrate of the LCD. Therefore, even if the cut portion is chamfered, the input terminal portion does not float or peel off, and a highly reliable LCD can be obtained. The LCD is completed by connecting a lead terminal of an external drive circuit (not shown) to the input terminal by TAB or the like.

【0047】[実施例2]本発明のアクティブマトリク
ス基板の他の端子構造について図3に基づいて説明す
る。図3は図2と同様の入力端子3およびショートリン
グ4部の断面説明図である。なお、図3において、図2
と同じ部分には同じ符号を付している。
Embodiment 2 Another terminal structure of the active matrix substrate of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 3 is an explanatory cross-sectional view of the input terminal 3 and the short ring 4 similar to FIG. In FIG. 3, FIG.
The same reference numerals are given to the same parts as.

【0048】本実施例は実施例1の絶縁膜2が形成され
ないで、ゲート配線(信号線)14、接続配線4a、シ
ョートリング4、入力端子3が直接ガラス基板1に設け
られていること、入力端子3が図示しない画素電極とと
もに、ゲート配線14、接続配線4a、ショートリング
4および図示しないゲート電極よりあとに形成されてい
ることにおいて異なるのみである。したがって、実施例
1の絶縁膜2を設けないで直接ゲート配線14やショー
トリング4用の金属膜を成膜してパターニングし、つい
で図示しない画素電極や入力端子3用のITOなどの透
明導電膜を成膜してパターニングし、実施例1と同様に
製造することにより、ゲート配線14の上層および接続
配線4aと入力端子3の接続部上に絶縁膜5が設けら
れ、切断部Pの少なくともガラス基板の厚さに相当する
長さ以上の領域には絶縁膜が設けられていない点につい
ては実施例1と全く同様である。
In this embodiment, the gate wiring (signal line) 14, the connection wiring 4a, the short ring 4, and the input terminal 3 are directly provided on the glass substrate 1 without forming the insulating film 2 of the first embodiment. The only difference is that the input terminal 3 is formed after the gate wiring 14, the connection wiring 4a, the short ring 4, and the gate electrode (not shown) together with the pixel electrode (not shown). Therefore, a metal film for the gate line 14 and the short ring 4 is directly formed and patterned without providing the insulating film 2 of the first embodiment, and then a transparent conductive film such as a pixel electrode (not shown) or ITO for the input terminal 3 is formed. The insulating film 5 is provided on the upper layer of the gate wiring 14 and on the connection between the connection wiring 4a and the input terminal 3 by forming the same as in the first embodiment. This is exactly the same as the first embodiment in that an insulating film is not provided in a region longer than the length corresponding to the thickness of the substrate.

【0049】本実施例においても信号線の表面は絶縁膜
で覆われて電解腐蝕などを防止するとともに、切断部に
は絶縁膜が設けられていないため、ガラス基板の切断の
際にも絶縁膜にクラックが入らず、配線や入力端子の剥
れを防止でき、信頼性が大幅に向上する。
Also in this embodiment, the surface of the signal line is covered with an insulating film to prevent electrolytic corrosion and the like, and since the insulating film is not provided in the cut portion, the insulating film is also used when cutting the glass substrate. Cracks do not occur, the wiring and input terminals can be prevented from peeling, and the reliability is greatly improved.

【0050】[0050]

【発明の効果】本発明のアクティブマトリクス基板によ
れば、信号線の少なくとも上部は絶縁膜で覆われて腐蝕
などに対し保護されるとともに、ショートリングを切断
除去する際の切断部には絶縁膜を設けていないので、切
断部のクラックに起因する配線や入力端子の浮きや剥離
が発生しない。
According to the active matrix substrate of the present invention, at least the upper portion of the signal line is covered with an insulating film to protect against corrosion and the like, and the insulating film is provided at the cut portion when cutting and removing the short ring. Is not provided, no floating or peeling of wiring or input terminals due to cracks in the cut portion occurs.

【0051】その結果、本発明のアクティブマトリクス
基板を用いたLCDはTFT基板端部の切断部の面取り
が行われても入力端子の浮きや剥離なども生じなく信頼
性が高くなるとともに、外部の駆動回路基板などを入力
端子にTABなどにより接続したのちICなどの不良が
発生してTABの取り替えを行っても入力端子が剥離す
ることはない。したがって歩留りが向上するとともに、
修復作業も容易にすることができる。
As a result, in the LCD using the active matrix substrate of the present invention, even if the cut portion at the end of the TFT substrate is chamfered, the input terminal does not float or peel off, and the reliability is improved. After the drive circuit board or the like is connected to the input terminal by TAB or the like, a failure of the IC or the like occurs and the input terminal does not peel off even if the TAB is replaced. Therefore, while improving the yield,
Repair work can also be facilitated.

【0052】さらに本発明のLCDの製法によれば、ガ
ラス基板の切断を絶縁膜が設けられていない場所で切断
しているため、切断に伴う絶縁膜のクラックや切断後の
面取り研磨によってもクラックなどが入らず、信頼性の
高いLCDがえられる。
Further, according to the LCD manufacturing method of the present invention, since the glass substrate is cut at a place where the insulating film is not provided, the glass substrate may be cracked by the cracking of the insulating film accompanying the cutting or the chamfering polishing after the cutting. And the like, and a highly reliable LCD can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明のアクティブマトリクス基板の一実施
例の入力端子とショートリング部の部分平面説明図であ
る。
FIG. 1 is an explanatory partial plan view of an input terminal and a short ring portion of an embodiment of an active matrix substrate of the present invention.

【図2】 図1のA−A線における断面説明図である。FIG. 2 is an explanatory sectional view taken along line AA of FIG. 1;

【図3】 本発明のアクティブマトリクス基板の他の実
施例の入力端子とショートリング部の断面説明図であ
る。
FIG. 3 is an explanatory sectional view of an input terminal and a short ring portion of another embodiment of the active matrix substrate of the present invention.

【図4】 LCDに用いられるアクティブマトリクス基
板の等価回路的概略図である。
FIG. 4 is an equivalent circuit schematic diagram of an active matrix substrate used for an LCD.

【図5】 従来のLCDに用いられるアクティブマトリ
クス基板の入力端子部の部分平面説明図である。
FIG. 5 is a partial plan explanatory view of an input terminal portion of an active matrix substrate used for a conventional LCD.

【図6】 図5のB−B線における断面説明図である。FIG. 6 is an explanatory sectional view taken along line BB of FIG. 5;

【図7】 図6の基板切断後の不良状態を示す断面説明
図である。
7 is an explanatory sectional view showing a defective state after cutting the substrate of FIG. 6;

【図8】 従来のLCDに用いられるアクティブマトリ
クス基板のさらに他の入力端子部の部分断面説明図であ
る。
FIG. 8 is an explanatory partial cross-sectional view of still another input terminal portion of an active matrix substrate used for a conventional LCD.

【図9】 図8の基板切断後の不良状態を示す断面説明
図である。
9 is an explanatory sectional view showing a defective state after cutting the substrate of FIG. 8;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ガラス基板、2 絶縁膜、3 入力端子、4 ショ
ートリング、4a 接続配線、5 絶縁膜、14 ゲー
ト配線(信号線)、P 切断部。
1 glass substrate, 2 insulating films, 3 input terminals, 4 short rings, 4a connection wiring, 5 insulating films, 14 gate wiring (signal lines), P cut section.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G02F 1/1368 G09F 9/30 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G02F 1/1368 G09F 9/30

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ガラス基板上にスイッチング素子がマト
リクス状に形成され、該スイッチング素子に信号を供給
する信号線が縦横に複数本設けられるとともに、該複数
本の信号線の端部がそれぞれ入力端子を経て接続配線に
よりショートリングに接続され、かつ、少なくとも前記
信号線の上層に絶縁膜が設けられ、該ショートリング部
を除去するため該ショートリングと前記入力端子とのあ
いだの接続配線に切断部を有するアクティブマトリクス
基板であって、前記接続配線の切断部で少なくともガラ
ス基板の厚さ以上の範囲にわたって前記接続配線上に絶
縁膜が設けられない領域が形成されてなるアクティブマ
トリクス基板。
1. A switching element is formed in a matrix on a glass substrate, a plurality of signal lines for supplying signals to the switching element are provided vertically and horizontally, and ends of the plurality of signal lines are input terminals. Is connected to a short ring by a connection wiring via a connection line, and at least an insulating film is provided on an upper layer of the signal line. In order to remove the short ring part, a cut part is formed in a connection wiring between the short ring and the input terminal. An active matrix substrate comprising: a region where no insulating film is formed on the connection wiring over a range at least equal to or greater than the thickness of the glass substrate at the cut portion of the connection wiring.
【請求項2】 少なくとも前記入力端子の下層で前記ガ
ラス基板とのあいだに絶縁膜が設けられ、かつ、前記接
続配線の切断部で少なくともガラス基板の厚さ以上の範
囲にわたって前記接続配線の下層に絶縁膜が設けられな
い領域が形成されてなる請求項1記載のアクティブマト
リクス基板。
2. An insulating film is provided between the glass substrate and at least a layer below the input terminal, and a cut portion of the connection wiring is formed in a layer below the connection wiring over a range of at least the thickness of the glass substrate. 2. The active matrix substrate according to claim 1, wherein a region where no insulating film is provided is formed.
【請求項3】 前記信号線および接続配線が金属膜から
なり、前記入力端子が導電性酸化膜からなる請求項1ま
たは2記載のアクティブマトリクス基板。
3. The active matrix substrate according to claim 1, wherein the signal lines and the connection lines are made of a metal film, and the input terminals are made of a conductive oxide film.
【請求項4】 ガラス基板上に少なくとも薄膜トランジ
スタがマトリクス状に設けられるとともに該薄膜トラン
ジスタに信号を供給する信号線が複数本縦横に設けられ
たTFT基板と、少なくとも対向電極が設けられた対向
基板とのあいだに液晶材料が挟持されてなる液晶表示装
置であって、前記TFT基板の信号線の端部には入力端
子が設けられるとともに該入力端子から前記TFT基板
の端縁まで配線が設けられ、かつ、少なくとも前記信号
線上に絶縁膜が設けられるとともに少なくとも前記TF
T基板の前記端縁での配線上には絶縁膜が設けられない
領域が形成されてなる液晶表示装置。
4. A TFT substrate in which at least thin film transistors are provided in a matrix on a glass substrate and a plurality of signal lines for supplying signals to the thin film transistors are provided vertically and horizontally, and a counter substrate provided with at least a counter electrode. A liquid crystal display device in which a liquid crystal material is interposed therebetween, wherein an input terminal is provided at an end of a signal line of the TFT substrate, and a wiring is provided from the input terminal to an edge of the TFT substrate, and An insulating film is provided on at least the signal line and at least the TF
A liquid crystal display device in which a region where an insulating film is not provided is formed on the wiring at the edge of the T substrate.
【請求項5】 薄膜トランジスタおよび信号線が形成さ
れ該信号線の端部が入力端子を経て接続配線によりショ
ートリングに接続された一方のガラス基板と、少なくと
も対向電極が設けられた他方のガラス基板と貼着したの
ちにガラス基板を切断してショートリングを除去する液
晶表示装置の製法であって、前記信号線の少なくとも上
層に絶縁膜を形成し、かつ、前記ショートリングと入力
端子とのあいだの接続配線の少なくともガラス基板の厚
さ以上の領域には前記接続配線の上層および下層に絶縁
膜を設けないで、該絶縁膜が設けられていない部分で前
記ガラス基板を切断しショートリングを除去することを
特徴とする液晶表示装置の製法。
5. A glass substrate in which a thin film transistor and a signal line are formed, and one end of the signal line is connected to a short ring by a connection wiring via an input terminal, and the other glass substrate provided with at least a counter electrode. A method for manufacturing a liquid crystal display device in which a glass substrate is cut after being attached to remove a short ring, wherein an insulating film is formed at least on an upper layer of the signal line, and a gap between the short ring and an input terminal is provided. An insulating film is not provided in an upper layer and a lower layer of the connection wiring at least in a region of the connection wiring having a thickness equal to or larger than the thickness of the glass substrate. A method for manufacturing a liquid crystal display device, comprising:
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