JP3235612B2 - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

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JP3235612B2
JP3235612B2 JP2000034592A JP2000034592A JP3235612B2 JP 3235612 B2 JP3235612 B2 JP 3235612B2 JP 2000034592 A JP2000034592 A JP 2000034592A JP 2000034592 A JP2000034592 A JP 2000034592A JP 3235612 B2 JP3235612 B2 JP 3235612B2
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    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、LCDドライバ
等のディスプレイ・ドライバIC,プリンタ・ドライバ
ICのような多ビット駆動型IC、センサ・インターフ
ェイスICのような多入出力型ICやゲートアレイ等に
関し、更に詳しくは、同一の回路構成を有する回路セル
とその入力又は出力電極とが対をなして複数配列したア
レイ構造の半導体装置とそれを用いたデータ入出力装置
に関する。
The present invention relates to a display driver IC such as an LCD driver, a multi-bit drive IC such as a printer driver IC, a multi-input / output IC such as a sensor interface IC, a gate array, and the like. More specifically, the present invention relates to a semiconductor device having an array structure in which a plurality of circuit cells having the same circuit configuration and their input or output electrodes are arranged in pairs and a data input / output device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、LCD用コモン駆動半導体集積
回路は、図9に示すように、クロックパルス数Nに相当
する周期毎にデータ信号入力電極1を介して入来するデ
ータ信号(表示データ信号)DINをクロック電極2を
介して入来するクロックパルスCPに同期して、初段目
から終段目3へ順次シリアル転送し、カスケ
ード接続用外部出力電極4を介して終段目3の出力
を出力データ信号DOUT としてデータ出力電
極4から次段の同様な集積回路に供給するNビット(N
段)・シフトレジスタ回路部3と、そのシフトレジスタ
回路部3で直並列変換されたデータ列{Q
,・・・Q}に対応してそれらをラッチする
Nビット・ラッチ回路部5と、この回路部5の各段の出
力を低電圧(3〜5v)の論理電圧レベルからLCD駆
動用電圧レベルへ昇圧変換するNビット・レベルシフト
回路部6と、この回路部6の各出力に1対1に対応して
LCD駆動電源電圧V,V,V,V
選択し、電極9に印加される交流波形化クロックMに基
づいてその各電圧を交流駆動波形にして印加電圧Y
〜Y を出力電極8〜8に送出するNビット
・ドライバ回路部7とを備えるものである。
2. Description of the Related Art For example, a common drive semiconductor integrated circuit for LCDs
The circuit corresponds to the number N of clock pulses as shown in FIG.
Data coming in through the data signal input electrode 1 every
Data signal (display data signal) DINClock electrode 2
The first stage is synchronized with the clock pulse CP
31From the last stage 3NSerial transfer to
Through the external output electrode 4 for connecting theNOutput
QNIs the output data signal DOUTAs data output power
N bits (N) supplied from the pole 4 to the next similar integrated circuit
Stage) ・ Shift register circuit section 3 and its shift register
Data string {Q converted from serial to parallel by the circuit unit 31,
Q2, ... QNLatch them correspondingly
N-bit latch circuit 5 and the output of each stage of this circuit 5
LCD drive from low voltage (3-5v) logic voltage level
N-bit level shift for boost conversion to operating voltage level
One-to-one correspondence between the circuit unit 6 and each output of the circuit unit 6
LCD drive power supply voltage V0, V2, V3, V5To
Selected and based on the AC waveform clock M applied to the electrode 9.
Then, each voltage is converted into an AC drive waveform to apply an applied voltage Y1
~ Y NOutput electrode 81~ 8NN bits to send to
And a driver circuit section 7.

【0003】この集積回路においては、各ビット(各
段)の回路構成が同一で、それに1対1に対応した出力
電極(パッド)8〜8を有している。Nビット
・シフトレジスタ回路部3及びNビット・ラッチ回路部
5は電極10に印加される電源電圧(3〜5v)の低電
圧VCCで駆動されるので、低電圧部L.V.を構成し
ている。一方、Nビット・レベルシフト回路部6及びN
ビット・ドライバ回路部7は電極11,12,13,1
4にそれぞれ印加される液晶駆動電圧V(例えば約
38v),V(約36v),V(約2v),V
(約0v)を必要とし、また電極15に印加される
高電源電圧Vは約40vである。従って、Nビット
・レベルシフト回路部6及びNビット・ドライバ回路部
7は高電圧部H.V.を構成している。
[0003] In the integrated circuit, the circuit configuration has an identical, it pair output electrode (pad) corresponding to 1 8 1 to 8 N for each bit (each stage). Since the N-bit shift register circuit portion 3 and the N-bit latch circuit 5 is driven at a low voltage V CC of the power supply voltage applied to the electrode 10 (3 to 5 V), the low voltage portion L. V. Is composed. On the other hand, N-bit level shift circuit units 6 and N
The bit driver circuit section 7 has electrodes 11, 12, 13, 1
4, the liquid crystal driving voltages V 0 (for example, about 38 V), V 2 (about 36 V), V 3 (about 2 V), V
5 requires (approximately 0 v), also a high supply voltage V H applied to the electrodes 15 is about 40v. Therefore, the N-bit level shift circuit section 6 and the N-bit driver circuit section 7 include the high-voltage section H.264. V. Is composed.

【0004】このような回路セル(シフトレジスタ回路
部,ラッチ回路部,レベルシフト回路部,及びドライバ
回路部の各ビット3,5,6,7から
なるセル)とその対をなす出力電極8の一般的なチ
ップレイアウトは、図10に示すように、各ビットの並
列的なアレイ構造が採用されている。なお、同図に示す
実線ジグザグ部分は配線クロス箇所を表す。全体として
セル及び電極はチップのX方向中心線に対して対称的に
配置されている。即ち、セルアレイはチップ領域を2分
割して第1ブロック16と第2ブロック17とに区分さ
れ、シフトレジスタ回路部の各段3〜3はチッ
プ内側領域に、またドライバ回路部の各段7〜7
はチップ18の縁部側(長辺周辺部)に作り込まれ
ている。出力電極8〜8はドライバ部の各段7
〜7の外側(チップ周縁部)に配置されてい
る。高電圧V,液晶駆動電源電圧V,V
,Vの配線は各パッドからドライバ回路部7及
びレベルシフト回路部6の第1ブロック16上をX方向
に通過し、そして−Y方向に延長させた後第2ブロック
17上を−X方向に延在している。また低電源電圧V
CCの配線もそのパッドからラッチ回路部5及びシフト
レジスタ回路部3の第1ブロック16上をX方向に通過
し、そして−Y方向に延長させた後第2ブロック17上
を−X方向に延在している。
A pair with such a circuit cell (a cell composed of each bit 3 i , 5 i , 6 i , 7 i of a shift register circuit, a latch circuit, a level shift circuit, and a driver circuit) is formed. The general chip layout of the output electrode 8i employs a parallel array structure of each bit as shown in FIG. It should be noted that the solid line zigzag portion shown in FIG. As a whole, the cells and the electrodes are arranged symmetrically with respect to the center line in the X direction of the chip. That is, the cell array is divided into a first block 16 is divided into two tip region and a second block 17, each stage 3 1 to 3 N shift register circuit portion in the chip inner region, and each stage of the driver circuit portion 7 1 to 7
N is formed on the edge side of the chip 18 (around the long side). Each stage of the output electrode 8 1-8 1 driver section 7
It is arranged in 1 to 7-N outer (tip periphery). The high voltage V H , the liquid crystal drive power supply voltages V 0 , V 2 ,
The wirings of V 3 and V 5 pass from the pads on the first block 16 of the driver circuit section 7 and the level shift circuit section 6 in the X direction, and extend in the −Y direction, and then on the second block 17 −. It extends in the X direction. In addition, low power supply voltage V
The CC wiring also passes from the pad on the first block 16 of the latch circuit section 5 and the shift register circuit section 3 in the X direction and extends in the -Y direction, and then extends on the second block 17 in the -X direction. Are there.

【0005】このようなチップレイアウトのLCD駆動
半導体集積回路のチップ18は例えばテープキャリア方
式によりテープキャリア(フィルム)に搭載される(T
AB実装)。また図11に示すように、チップ18は直
接液晶パネルに実装される(COG実装)。即ち、液晶
パネルは下ガラス基板Gと上ガラス基板Gをス
ペーサ19で間隔保持し、その隙間に液晶物質LCを充
填したもので、その基板上には透明行電極20と透明列
電極21が形成されている。ガラス基板の額縁領域(非
表示領域)22の面には、図11(B)に示すように、
COG( ChipOn Glass)技術でチップ18が平面直着
けされる。チップ18の電極(パッド)上にはバンプ2
0が被着され、このバンプと透明行電極20又は透明列
電極21とが例えば熱圧着法ないし半田溶接法によりア
ウターボンディングされる。なお、額縁領域22の縁部
側に延出するリード23は配線基板(図示せず)側との
接続端子である。
The chip 18 of the LCD driving semiconductor integrated circuit having such a chip layout is mounted on a tape carrier (film) by, for example, a tape carrier method (T).
AB implementation). Further, as shown in FIG. 11, the chip 18 is directly mounted on the liquid crystal panel (COG mounting). That is, the liquid crystal panel is the lower glass substrate G 1 and the upper glass substrate G 2 and spacing held by spacer 19, which was filled with a liquid crystal material LC is the gap, the transparent column electrodes on the substrate and the transparent row electrodes 20 21 Are formed. As shown in FIG. 11B, on the surface of the frame region (non-display region) 22 of the glass substrate,
The chip 18 is directly mounted on a plane by COG (Chip On Glass) technology. The bump 2 is formed on the electrode (pad) of the chip 18.
The bumps and the transparent row electrodes 20 or the transparent column electrodes 21 are outer bonded by, for example, a thermocompression bonding method or a solder welding method. The lead 23 extending to the edge of the frame region 22 is a connection terminal with the wiring board (not shown).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の電源
配線レイアウトのチップ18においては、電源電圧
,V,V,V,V,VCCや接地
電圧GNDの配線はチップ表面をチップ周辺部の電極
(パッド)から始まりコ字状(開ループ状)に周回して
第2のブロックの最終段3,5,6,7
で途絶されている。このため、最終段における各電
圧は各パッド近傍の導入電圧の値と異なり変動し易い。
最終段側になるに従い配線長(配線インピーダンス)が
増大するためである。例えば液晶電源配線の長さは10
数mm以上で、配線材料が金属のときにも配線抵抗は数1
0Ωにも達している。このような電源電圧の変動ないし
バラツキは液晶表示のコントラストむらの原因となって
いる。最終段で電源配線を途絶するとなく、1巡回(ル
ープ化)するように最終段の配線と初段側の配線を多層
配線技術により接続することもできるが、電源配線間や
電源配線と信号配線とのクロス点が増加するので、配線
インピーダンスのバラツキを不可避的に招来し、ドライ
バ回路部の出力特性がビット毎で不均一になる。もっと
も、多層配線技術を用いずに、配線を引き回してループ
化することも可能であるが、配線占有面積の拡大を招
く。チップサイズの大型化は、図11に示すように、チ
ップ18を平面着けする額縁領域2の幅寸法Wの拡大を
意味する。液晶パネルにおいては非表示領域たる額縁領
域22の幅寸法Wをできるだけ抑えたいという要請があ
る。殊に、液晶パネルの高精細画素化に対応してチップ
18の多ビット化の進む状況の下では幅寸法Wの拡大が
強いられる傾向にあるので、なおさら配線占有面積を抑
制しなければならない。
The above-mentioned power supply
In the chip 18 of the wiring layout, the power supply voltage
VH , V0, V2, V3, V5, VCCOr ground
The wiring of the voltage GND is the electrode on the chip surface around the chip surface.
Starting from (pad) and wrapping around in a U-shape (open loop)
Last stage 3 of the second blockN, 5N, 6N, 7
NHas been interrupted. For this reason, each
The pressure tends to fluctuate differently from the value of the introduced voltage near each pad.
The wiring length (wiring impedance) increases toward the final stage
It is to increase. For example, the length of the liquid crystal power supply wiring is 10
Even when the wiring material is several mm or more and the wiring material is metal, the wiring resistance is
It has reached 0Ω. Such power supply voltage fluctuations or
Variations cause uneven contrast of the LCD display
I have. The power supply wiring is not interrupted at the last stage,
The final stage wiring and the first stage wiring are multi-layered
Connections can be made by wiring technology,
Since the number of cross points between power supply wiring and signal wiring increases, wiring
Inevitably introduces impedance variations,
The output characteristics of the circuit section become non-uniform for each bit. More
Without using multi-layer wiring technology,
It is possible to increase the wiring occupation area.
Good. To increase the chip size, as shown in FIG.
The width dimension W of the frame area 2 on which the
means. Non-display area of LCD panel
There is a request to reduce the width W of the area 22 as much as possible.
You. In particular, chips that support high-definition pixels in LCD panels
As the number of bits increases, the width W increases.
It tends to be forced, so the area occupied by wiring is further reduced.
Must be controlled.

【0007】そこで、上記問題点に鑑み、本発明の課題
は、回路セルと入力又は出力電極とが対をなすアレイ構
造を有する半導体装置において、チップレイアウトを改
善することにより、配線スペースの広げずに、各セルに
ついての配線インピーダンスのバラツキを抑制して各入
力又は出力特性の均一化を実現した半導体装置を提供す
ることにあり、またチップ実装面の縮小化を実現したデ
ータ入出力装置を提供することにある。
In view of the above problems, an object of the present invention is to improve the chip layout in a semiconductor device having an array structure in which circuit cells and input or output electrodes form a pair, so that the wiring space is not increased. Another object of the present invention is to provide a semiconductor device that realizes uniform input or output characteristics by suppressing variations in wiring impedance of each cell, and provides a data input / output device that realizes a reduced chip mounting surface. Is to do.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】LCD駆動用ICのよう
な半導体装置は、実質的に同一の回路構成の複数のセル
からなる回路セルアレイを有している。そして、このよ
うな回路構成を採る半導体装置において、各セルに関し
て外部との電気的接続を得るための例えば1対1のよう
な固有の電極を対として持った電極・配線パタンとなっ
ている。この種の半導体装置において、本発明は、中核
的な回路構成たる回路セルアレイの領域を従来のような
半導体チップの周辺部寄りに作り込むのではなく、半導
体チップの周縁領域の内側領域に上記電極の列を形成す
ると共に、その電極列と半導体チップの周縁領域との間
の非周縁領域において回路セルアレイを作り込んだレイ
アウトを採用するものである。内側領域に電極列が配さ
れたレイアウトによれば、チップの細長化を企画するこ
とができ、またリード実装段階においては電極とリード
のボンディング時におけるリードのエッジショートも防
止できる。
A semiconductor device such as an LCD driving IC has a circuit cell array composed of a plurality of cells having substantially the same circuit configuration. In a semiconductor device having such a circuit configuration, an electrode / wiring pattern having a pair of unique electrodes, such as one-to-one, for obtaining electrical connection with the outside of each cell is provided. In this type of semiconductor device, the present invention does not make the area of the circuit cell array, which is a core circuit configuration, closer to the peripheral part of the semiconductor chip as in the related art, but instead places the electrode in the inner area of the peripheral area of the semiconductor chip. And a layout in which a circuit cell array is formed in a non-peripheral region between the electrode column and the peripheral region of the semiconductor chip. According to the layout in which the electrode rows are arranged in the inner region, it is possible to plan a thinner chip, and it is also possible to prevent an edge short of a lead at the time of bonding the electrode and the lead in the lead mounting stage.

【0009】このような半導体チップのTAB実装等に
おいて、インナーリードと電極の接続構造としては、電
極の列とそれに実質的に平行のチップ辺のうち距離の長
い方のチップ辺から電極に対しインナーリードを接続
し、インナーリードとチップのオーバーラップ長さを大
きくすることが望ましい。そして装置の基板に対するチ
ップ実装法としては、そのインナーリードから引出しリ
ード部分を介したアウターリード側が基板の電極配線に
接続することにより、オーバーラップ長さの存在によっ
て基板実装領域ないし占有幅を圧縮することができる。
In such TAB mounting of a semiconductor chip or the like, the connection structure between the inner lead and the electrode is such that the electrode row and the chip side which is substantially parallel to the longer side of the chip are parallel to the inner side with respect to the electrode. It is desirable to connect the leads and increase the overlap length between the inner lead and the chip. As a chip mounting method for the substrate of the device, the outer lead side through the lead out from the inner lead is connected to the electrode wiring of the substrate, thereby compressing the substrate mounting area or occupied width due to the presence of the overlap length. be able to.

【0010】2つ以上のブロックに分割される回路セル
アレイ構造を持つ半導体装置においては、当然のことな
がら、複数のセルの電極は第1のブロックに関する第1
の電極列及び第2のブロックに関する第2の電極列に少
なくとも分割されるが、かかる場合においても、本発明
は、第1のブロックに属する第1の回路セルアレイは半
導体チップの第1の長辺とその内側領域に形成された第
1の電極列とに挟まれた第1の非周縁領域に作り込み、
また第2のブロックに属する第2の回路セルアレイは半
導体チップの第1の長辺に対向する第2の長辺とその内
側領域に形成された第2の電極列とに挟まれた第2の非
周縁領域に作り込むというレイアウトを採用する。この
ようなレイアウトの半導体装置によれば、勿論、チップ
とインナーリードのオーバーラップ長さを増大させるこ
とができるので、上述のような効果を同様に奏するもの
である。
In a semiconductor device having a circuit cell array structure divided into two or more blocks, the electrodes of a plurality of cells are naturally connected to the first block in the first block.
In this case, the first circuit cell array belonging to the first block is provided with the first long side of the semiconductor chip. And a first non-peripheral region sandwiched between the first electrode row formed in the inner region and the first electrode row,
The second circuit cell array belonging to the second block has a second circuit cell array sandwiched between a second long side opposed to the first long side of the semiconductor chip and a second electrode row formed inside the second long side. A layout in which it is formed in a non-peripheral region is adopted. According to the semiconductor device having such a layout, of course, the overlap length between the chip and the inner lead can be increased, so that the same effects as described above can be obtained.

【0011】両電極列を相隣接して配置することが望ま
しいが、整列配列でなくとも良い。例えば、両電極列の
電極群を千鳥状配置とした場合には、チップ幅を縮小す
ることもでき、チップ実装の領域幅を短縮できる。電源
電極又は接地電極の配置としては、回路セルアレイの電
極列の配列方向の両端又は片端の外側に隣接した領域に
おいて形成することが望ましい。電極群がチップの内側
領域上で直線状になるからである。このような直線状の
電極群を持つチップにおける接続配線のレイアウトとし
ては、その電源電極又は接地電極の配線の複数本がそれ
らを周回する閉ループ配線(リング状結線)とすること
が望ましい。配線長の短縮と配線クロス点の減少を同時
に達成することができ、ビット毎の入力又は出力特性を
均一化できる。更に、電源電極又は接地電極に隣接して
半導体チップの短辺領域に外部と電気的接続を得る入出
力電極の列が形成されている場合には、すべての電極は
実質的にI字形状を形成する。このI字形状電極配置は
チップの直着け実装においてそれらの電極による自己平
行出し機能が発揮される。上記のチップとインナーリー
ドとの接続法は、回路セルの電極に対する両吊りないし
両持ち梁構造のインナーリードを採用することが望まし
い。電極群の直線状配置の採用により一括ボンディング
時のチップ平行度を出し易くなり、また応力減少も期待
できるので、アライメント性の向上で一括ボィンデング
の歩留りが改善する。また、インナーリードによるチッ
プ表面の遮蔽被覆によるボンディング時のチップ能動面
の押し傷の防止や放熱特性の改善等も醸し出される。こ
のようなリードの実装されたチップもまた前述した方法
で基板へ搭載することにより、実装領域幅の縮小化や装
置コンパクト化を図ることができる。
Although it is desirable that both electrode rows are arranged adjacent to each other, they need not be aligned. For example, when the electrode groups of both electrode rows are arranged in a staggered arrangement, the chip width can be reduced, and the chip mounting area width can be reduced. The arrangement of the power supply electrode or the ground electrode is desirably formed in a region adjacent to both ends or one end outside in the arrangement direction of the electrode row of the circuit cell array. This is because the electrode group becomes linear on the inner region of the chip. As a layout of the connection wiring in the chip having such a linear electrode group, it is desirable to use a closed loop wiring (ring connection) in which a plurality of wirings of the power supply electrode or the grounding electrode go around them. Shortening of the wiring length and reduction of the wiring cross points can be achieved at the same time, and the input or output characteristics for each bit can be made uniform. Furthermore, when a row of input / output electrodes for obtaining an electrical connection with the outside is formed in the short side region of the semiconductor chip adjacent to the power supply electrode or the ground electrode, all the electrodes are substantially I-shaped. Form. This I-shaped electrode arrangement exerts a self-parallelizing function by those electrodes in direct mounting of chips. As for the method of connecting the chip and the inner lead, it is desirable to adopt an inner lead having a double-hanging or double-supported beam structure with respect to the electrode of the circuit cell. By adopting the linear arrangement of the electrode group, it becomes easy to obtain the chip parallelism at the time of collective bonding, and a reduction in stress can be expected. Therefore, the yield of collective binding is improved by improving the alignment property. In addition, it is possible to prevent the chip active surface from being injured when bonding by shielding and covering the chip surface with the inner leads, and to improve the heat radiation characteristics. By mounting the chip on which such leads are mounted on the substrate by the above-described method, the width of the mounting area can be reduced and the device can be made more compact.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

【実施例1】図1は本発明の実施例1に係る半導体装置
のチップレイアウト図である。なお、同図に示す実線ジ
グザグ部分は配線クロス箇所を表す。
Embodiment 1 FIG. 1 is a chip layout diagram of a semiconductor device according to Embodiment 1 of the present invention. It should be noted that the solid line zigzag portion shown in FIG.

【0013】この半導体チップ30はLCD駆動型IC
で、COG実装の際の額縁領域の幅寸法を抑制するため
に長方形ないし細長状としてある。このチップ30に作
り込まれた集積回路は、従来と同様に、中核的な回路構
成としてNビット(例えば100ビット)のシフトレジ
スタ回路部3,ラッチ回路部5,レベルシフト回路部
6,及びドライバ回路部7を備えている。そして回路セ
ルアレイの各ビットにはそれ固有の出力(ドライバ出
力)Yの矩形の出力電極(パッド)8がドライ
バ回路部7の各段7の最短隣接領域に形成されてい
る。回路セルアレイは第1のブロック31と第2のブロ
ック32に分割されている。即ち、チップの長辺31
a,32aに平行な中心線Lを実質的な境界として
その両側領域に第1のブロック31と第2のブロック3
2が振り分けられている。第1のブロック31に属する
ビットは1〜iで、第2のブロックに属するビットはi
+1〜Nである。但し、Nは偶数である。従って、セル
面積は実質的に相等しいので、中心線Lに対しては
その両側に1ビット目のセルとNビット目のセル、2ビ
ット目のセルとN−1ビット目のセルのように配列され
ている。ある1つの回路セルに着目すると、シフトレジ
スタ回路部3の各段がチップ30の周辺領域側に作り込
まれて、ドライバ回路部の各段がチップの中心線L
側に作り込まれている。このような作り込み形式は従来
のチップの場合の形式とは丁度逆の関係になっている。
従って、各ビットの信号電極8〜8はドライバ
回路部に隣接した中心線Lに沿うX方向帯状領域
(中央領域)33に形成されている。第1のブロック3
1に属するビットの出力電極8〜8と第2のブ
ロック32に属するビットの出力電極8i+1 〜8
は相互に千鳥状(ジグザグ状)に配列されている。
このような千鳥配列により隣接する出力電極8,8
i+ 同士はY方向にオーバーラップ部分を持つの
で、チップの幅(Y方向長さ)を抑えることができる。
またシフトレジスタ回路部3とチップの長辺31a,3
2aとの間は電極(パッド)の非形成領域であるので、
シフトレジスタ回路部3をできる限り長辺31a,32
a寄りまで作り込むことができる。この点からもチップ
の幅寸法を抑制することができる。勿論、その分、チッ
プ長さ(X方向長さ)の増大を招くが、出力電極8のピ
ッチ(約80ミクロン)に対してLCDの画素は充分大
きいので、後述するように、COG実装上むしろ有利で
ある。
The semiconductor chip 30 is an LCD driving type IC.
In order to suppress the width dimension of the frame region at the time of COG mounting, it is rectangular or elongated. The integrated circuit built in the chip 30 has an N-bit (for example, 100-bit) shift register circuit section 3, a latch circuit section 5, a level shift circuit section 6, and a driver as a core circuit configuration, as in the related art. A circuit section 7 is provided. And it unique output for each bit of the circuit array (driver output) Y N rectangular output electrode (pad) 8 N of is the shortest adjacent region of each stage 7 N of the driver circuit portion 7. The circuit cell array is divided into a first block 31 and a second block 32. That is, the long side 31 of the chip
a, the first block 31 in its side regions as a substantial boundary center line L 1 parallel to 32a and the second block 3
Two are sorted. The bits belonging to the first block 31 are 1 to i, and the bits belonging to the second block are i
+1 to N. Here, N is an even number. Accordingly, the cell area because substantially equal to each other, the first bit of the cell and the N-th bit of the cell on both sides with respect to the center line L 1, the second bit of the cell and N-1 bit of the cell as Are arranged. Focusing on one certain circuit cell, each stage of the shift register circuit unit 3 is formed on the peripheral region side of the chip 30, and each stage of the driver circuit unit is connected to the center line L 1 of the chip.
It is built on the side. Such a built-in form is exactly the opposite of the form of the conventional chip.
Thus, the signal electrodes 8 1 to 8 N for each bit is formed in the X-axis strip region (central region) 33 along the center line L 1 adjacent to the driver circuit portion. First block 3
The output electrodes 8 1 to 8 i of the bits belonging to 1 and the output electrodes 8 i + 1 to 8 of the bits belonging to the second block 32.
N are mutually arranged in a staggered pattern (zigzag pattern).
Output electrodes 8 i , 8 adjacent to each other by such a staggered arrangement
Since i + 1 each other with overlapping portions in the Y direction, it is possible to suppress the chip width (Y direction length).
Also, the shift register circuit section 3 and the long sides 31a, 3 of the chip
2a is a region where no electrode (pad) is formed,
The shift register circuit section 3 should have the long sides 31a and 32 as long as possible.
It can be built up to a. From this point as well, the width dimension of the chip can be suppressed. Of course, the length of the chip (length in the X direction) is increased by that much, but the pixel of the LCD is sufficiently large with respect to the pitch of the output electrode 8 (about 80 microns). It is advantageous.

【0014】回路セルアレイの形成領域の両端外側には
図1の一点鎖線で囲まれた領域に制御ロジック部34,
35が作り込まれている。また出力電極81 〜8N の形
成領域たる中心線L1 の帯状領域33の両端外側には矩
形の電源電極10〜15及び矩形の接地電極19が形成
されている。その形成領域のX方向長さは帯状領域33
の幅寸法とほぼ等しく、その領域内には2行3列で6個
の電極(パッド)が形成されている。帯状領域33の両
端外側に形成されたそれぞれの電源電極10〜15及び
接地電極19は短辺35a,35bに平行な中心線L2
に関し対称配置にある。図1に示すように中心線L2
の列は液晶駆動電源電圧V0 の電極11と高圧電源部供
給用の電源電圧VH の電極15である。この列の隣接外
側の列は液晶駆動電源電圧V3 の電極13と液晶駆動電
源電圧V2 の電極12である。図示左側の最外列は接地
電圧GNDの電極19と液晶駆動電源電圧V5 の電極1
4である。また図示右側の最外列は低電源部供給用の電
源電圧VCCの電極10と液晶駆動電源電圧V5 の電極1
4である。図示左右の高電源電圧VH の電極15,15
に接続する電源配線(Al配線)36は帯状領域33を
隣接して周回している。この電源配線36は高電圧部た
るドライバ回路部7に対して給電する。片側の電極15
は省略することもできるが、同様のチップに対してカス
ケード接続する場合に利用される。また同様に、図示左
右の液晶駆動電源電圧V0 の電極11,11に接続する
電源配線37は閉ループ接続(リング状接続)の電源配
線36の外側を隣接して周回している。この電源配線3
7は高電圧部たるドライバ回路部7に対して給電する。
片側の電極11は省略することもできるが、同様のチッ
プに対してカスケード接続する場合に利用される。図示
左右の液晶駆動電源電圧V2 の電極12,12に接続す
る電源配線38も閉ループ接続の電源配線37の外側を
隣接して周回している。この電源配線38も高電圧部た
るドライバ回路部7に対して給電する。片側の電極12
はカスケード接続用の電極である。液晶駆動電源電圧V
3 の電極13,13に接続する電源配線39も閉ループ
接続の電源配線38の外側を周回している。この電源配
線38の敷設領域はドライバ回路部7のレベルシフト回
路部6寄りで、ドライバ回路部7に対して給電する。ま
た片一方の電極13はカスケード接続用の電極である。
最後の液晶駆動電源電圧V5の電極14,14に接続す
る電源配線40も閉ループ接続の電源配線39の外側を
隣接して周回している。この電源配線40はドライバ回
路部7に対して給電する。また片一方の電極14はカス
ケード接続用の電極である。このように、ドライバ回路
部7に対し給電すべき電源電圧VH ,V0 ,V2 ,V
3 ,V5 の電源配線36,37,38,39,40は内
側領域の出力電極81 〜8N の周りに1巡回した閉ルー
プ接続である。従って、これらの配線は互いにクロスし
ていないので、配線インピーダンスの均一化による表示
コントラストのむらを抑制することができる。また図1
0に示す配線配置と比較して明らかなように、各電源配
線の配線長の減少をもたらしている。各電源配線がチッ
プの中心線L1 の帯状領域33の周りを隣接して周回し
ているためである。特に、Y方向長さの減少が顕著であ
る。従って、配線抵抗の減少により各ビットにおける電
源電圧の変動ないしバラツキも抑制することができる。
これも表示コントラストのむらを改善する。
Outside the both ends of the circuit cell array formation region, the control logic portion 34,
35 are built. The power supply electrodes 10 to 15 and a rectangular ground electrode 19 of the rectangle are formed at both ends outside the output electrodes 8 1 to 8 N forming region serving center line L 1 of the band-like region 33. The length of the formation region in the X direction is the band-like region 33.
, And six electrodes (pads) are formed in two rows and three columns in the area. Each of the power supply electrodes 10 to 15 and the ground electrode 19 formed on the outer sides of both ends of the band-shaped region 33 has a center line L 2 parallel to the short sides 35 a and 35 b.
Are symmetrically arranged with respect to Column centerline L 2 side as shown in FIG. 1 is an electrode 15 of the power supply voltage V H of the liquid crystal drive power source electrode 11 of the voltage V 0 and the high-voltage power supply unit for supplying. Adjacent rows of outer this column is an electrode 12 of the electrode 13 of the liquid crystal driving power source voltage V 3 crystal driving power supply voltage V 2. Electrode 1 of the outermost row of the left side is the electrode 19 of the ground voltage GND liquid crystal driving power source voltage V 5
4. The outermost row on the right side of the figure shows the electrode 10 of the power supply voltage V CC for supplying the low power supply section and the electrode 1 of the liquid crystal drive power supply voltage V 5 .
4. Left and right electrodes 15, 15 of high power supply voltage V H
The power supply wiring (Al wiring) 36 connected to the belt-like region 33 is adjacent to the band-shaped region 33 and circulates. The power supply wiring 36 supplies power to the driver circuit section 7 which is a high voltage section. One side electrode 15
Can be omitted, but is used when a cascade connection is made to similar chips. Similarly, the power supply wiring 37 connected to the left and right electrodes 11 and 11 of the liquid crystal drive power supply voltage V 0 circulates adjacent to the outside of the power supply wiring 36 connected in a closed loop (ring connection). This power supply wiring 3
7 supplies power to the driver circuit section 7 which is a high voltage section.
Although the electrode 11 on one side can be omitted, it is used for cascade connection with a similar chip. The power supply wiring 38 connected to the electrodes 12, 12 of the left and right liquid crystal drive power supply voltages V 2 in the drawing also circulates adjacent to the outside of the closed-loop connection power supply wiring 37. The power supply wiring 38 also supplies power to the driver circuit section 7 which is a high voltage section. One electrode 12
Is an electrode for cascade connection. LCD drive power supply voltage V
The power supply line 39 connected to the third electrodes 13 also circulates outside the power supply line 38 in the closed loop connection. The area where the power supply wiring 38 is laid is near the level shift circuit section 6 of the driver circuit section 7 to supply power to the driver circuit section 7. One electrode 13 is an electrode for cascade connection.
Power wiring 40 connected to the electrodes 14, 14 of the last of the liquid crystal drive power supply voltage V 5 is also orbiting adjacent the outer power supply wiring 39 of the closed-loop connection. The power supply wiring 40 supplies power to the driver circuit unit 7. One electrode 14 is an electrode for cascade connection. As described above, the power supply voltages V H , V 0 , V 2 , V
3 power supply wires 36,37,38,39,40 of, V 5 is 1 cyclic closed loop connected around the output electrodes 8 1 to 8 N of the inner region. Therefore, since these wirings do not cross each other, it is possible to suppress uneven display contrast due to uniform wiring impedance. FIG.
As is apparent from comparison with the wiring arrangement shown as 0, the wiring length of each power supply wiring is reduced. Each power supply wiring is because orbiting adjacent around the band-like region 33 of the center line L 1 of the chip. In particular, the decrease in the length in the Y direction is remarkable. Therefore, the fluctuation or variation of the power supply voltage of each bit due to the decrease of the wiring resistance can be suppressed.
This also improves the uneven display contrast.

【0015】接地電圧GNDの電極19に接続する接地
配線は第1のブロック31側と第2のブロック側32の
それぞれにおいて3本に分岐しており、その内側の接地
配線41はドライバ回路部7とレベルシフト回路部6と
の境界領域に、中間の接地配線42はレベルシフト回路
部6とラッチ回路部5との境界領域に、外側の接地配線
43はシフトレジスタ回路部3の外側領域に各々敷設さ
れている。第1のブロック31と第2のブロック32の
それぞれにおいて電源電圧Vの電源配線36から分
岐された外側の電源配線44はレベルシフト回路部6上
に敷設されている。更に、低電圧電源VCCの電極10
に接続する電源配線45はラッチ回路部5とシフトレジ
スタ回路部3の境界領域に敷設されている。なお、接地
配線41,42,43、分岐した電源配線44、通常の
電源配線45も閉ループ接続することが可能であるが、
表示特性には影響を及ぼさないので、従来と同様に、本
実施例では開ループ状態にしてある。
The ground wiring connected to the electrode 19 of the ground voltage GND is branched into three on each of the first block 31 side and the second block side 32, and the ground wiring 41 on the inner side is connected to the driver circuit section 7. In the boundary area between the level shift circuit section 6 and the level shift circuit section 6, the intermediate ground wiring 42 is provided in the boundary area between the level shift circuit section 6 and the latch circuit section 5, and the outer ground wiring 43 is provided in the outer area of the shift register circuit section 3. Has been laid. A first block 31 outside of the power supply wiring 44 which is branched from the power supply line 36 of the power supply voltage V H in each of the second blocks 32 is laid on the level shift circuit 6. Furthermore, the electrode 10 of the low-voltage power supply VCC
Are provided in the boundary area between the latch circuit section 5 and the shift register circuit section 3. The ground wirings 41, 42, 43, the branched power supply wiring 44, and the normal power supply wiring 45 can also be connected in a closed loop.
Since the display characteristics are not affected, the embodiment is in an open loop state as in the prior art.

【0016】低圧電源電圧VCCや接地電圧GNDはロ
ジック制御部35,36でも給電されている。チップの
短辺35a,35b寄りの中央領域にはデータ信号D
IN,出力データDOUT ,クロックパルスCP,交
流波形化クロックM等の所要の入出力信号電極の列4
6,47が形成されている。このため、中心線L
沿う電極8〜8N , 10〜15,19の群とそ
の両端側の直交した入出力信号電極の列46,47はI
字状を呈している。中心線Lを境に両側に第1ブロ
ック31と第2ブロック32に分割された回路レイアウ
トでは、両ブロックとも平等であることから、入出力信
号電極も中心線Lを境に両側に均等に振り分けるこ
とが望ましい。それらの信号配線のレイアウトの対称性
や配線長の等値性を図るためである。電極群のI字形状
は、後述するように、チップの基板直着け(COG)実
装においても優位性を確保できるが、中心線Lに沿
う直線状電極群の両端側に直交した入出力信号電極の列
46,47が存在することは、COG実装の際における
チップ自身の平行出しを容易にする。もっとも、平行出
し工程はこの入出力信号電極の列46,47のみに依拠
するものでないが、チップ長(X方向長さ)が長ければ
長いほど重要な意義を持つ。
The low-voltage power supply voltage VCC and the ground voltage GND are also supplied to the logic controllers 35 and 36. The data signal D is located in the central area near the short sides 35a and 35b of the chip.
Required input / output signal electrode row 4 such as IN , output data D OUT , clock pulse CP, AC waveform clock M, etc.
6, 47 are formed. For this reason, the groups of electrodes 8 1 to 8 N, 10 to 15 and 19 along the center line L 1 and the rows 46 and 47 of input / output signal electrodes orthogonal to both ends of the group are formed by I
It is shaped like a letter. The first block 31 on either side of the center line L 1 as a boundary and the division circuit layout in the second block 32, even because it is equal in both blocks, on both sides to the input and output signal electrodes even boundary center line L 1 It is desirable to assign to. This is for achieving the symmetry of the layout of these signal wirings and the equality of the wiring length. I-shaped electrode group, as described below, wearing substrate straight chip (COG) is also possible to secure the superiority in the implementation, orthogonal to the input and output signals at both ends of the linear electrode group along the center line L 1 The presence of the electrode rows 46 and 47 facilitates parallelization of the chip itself during COG mounting. Of course, the paralleling process does not depend only on the input / output signal electrode rows 46 and 47, but the longer the chip length (the length in the X direction), the more significant the significance.

【0017】本実施例ではまた別にチップのコーナー部
において位置決め及び支持用のダミー電極(ダミーパッ
ド)48a〜48dが形成されている。多ビット化のた
めには、従来は図10に示す如くチップのコーナー部に
はドライバ出力の信号電極が形成されており、位置出し
用のダミー電極と設けることは問題があったが、本実施
例ではドライバ出力信号電極群が中心線Lの帯状領
域33に形成され、しかも入出力電極の列もその両端側
に形成されているので、コーナー部にダミー電極48a
〜48dを確保できる派生的利益がある。
In this embodiment, dummy electrodes (dummy pads) 48a to 48d for positioning and supporting are formed separately at the corners of the chip. In order to increase the number of bits, signal electrodes for driver output are conventionally formed at the corners of the chip as shown in FIG. 10, and it has been problematic to provide dummy electrodes for positioning. examples formed in a strip region 33 of the center line L 1 is the driver output signal electrode group, moreover since the row of input and output electrodes also formed on both ends thereof, the dummy electrodes 48a to corner
There is a derivative benefit that can secure ~ 48d.

【0018】図2は本実施例に係るチップのTAB実装
状態を示す断面図、図3はその平面図である。上述のレ
イアウト構成を有するチップ30は拡散済みウェハの段
階の状態を示すものであるが、その後、各電極(パッ
ド)にAuのバンプ51を形成し、バンプ付きウェハを
完成した後、ダイシングによってチップ化される。(チ
ップ工程)。一方、組立工程に使用するテープキャリア
(フィルム)52はチップ30の電極配置に合わせたリ
ードパタンがスプロケット孔52aとデバイス孔52b
を持つプラスチックフィルム(例えばポリイミド・フィ
ルム)上に形成されている。デバイス孔52aの開口面
積はチップ30の平面積より小さく、実質的に、チップ
30の中央帯状の領域に形成された出力電極8〜8
等のバンプ51が平面的に露出する領域のみに限定
されている。このテープキャリア52はデバイス孔52
aの外に樹脂回り込み用のスリット53a,53bを有
している。テープキャリア52はプラスチックフィルム
54上に接着層55を被着した接着剤付きフィルム(2
層フィルム)である。このフィルムの上には銅箔などの
金属箔をラミネートし、ホトレジスト技術やエッチング
技術を用いて図3に示すようなリードパタンが形成され
ている。このリードパタンは、デバイス孔52aへ突き
出ており、バンプ51とインナーリードボンディングさ
れるべきフィンガーリード(インナーリード)56と、
LCDパネル側の行又は列電極とアウターリードボンデ
ィングされるべきアウターリード57と、フィンガーリ
ード56とアウターリード57を一体的に連結する引出
しリード部分58とを有するものである。なお、フィル
ム52の印刷配線板側に接続する引出しリード部分58
の先端には端子58が形成されている。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing the chip according to this embodiment in a TAB mounting state, and FIG. 3 is a plan view thereof. The chip 30 having the above-described layout configuration shows the state of the stage of the diffused wafer. After that, Au bumps 51 are formed on the respective electrodes (pads), and the wafer with bumps is completed. Be transformed into (Chip process). On the other hand, the tape carrier (film) 52 used in the assembling process has a sprocket hole 52a and a device hole 52b in which a lead pattern corresponding to the electrode arrangement of the chip 30 is formed.
Is formed on a plastic film (for example, a polyimide film) having. The opening area of the device hole 52a is smaller than the plane area of the chip 30, substantially, the central band-like region which is formed on the output electrode 8 1-8 chip 30
It is limited to only a region where the bump 51 such as N is exposed in a plane. This tape carrier 52 has a device hole 52.
In addition, slits 53a and 53b for wrapping around the resin are provided outside a. The tape carrier 52 is a film with an adhesive (2) in which an adhesive layer 55 is adhered on a plastic film 54.
Layer film). A metal foil such as a copper foil is laminated on this film, and a lead pattern as shown in FIG. 3 is formed using a photoresist technique or an etching technique. The lead pattern protrudes into the device hole 52a, and includes a finger lead (inner lead) 56 to be subjected to inner lead bonding with the bump 51;
It has an outer lead 57 to be bonded to a row or column electrode on the LCD panel side and an outer lead, and a lead lead portion 58 for integrally connecting the finger lead 56 and the outer lead 57. Note that a lead lead portion 58 connected to the printed wiring board side of the film 52.
A terminal 58 is formed at the tip of the.

【0019】このようなテープ工程により作製されたテ
ープキャリア52と前述のバンプ付きチップ30の組立
工程(TAB実装)が行われる。即ち、テープ送りと共
に、チップ30をフェイスアップでフィンガーリード5
6と位置合わせしてボンディングツールによりフィンガ
ーリード51とバンプ51とがインナーリードボンディ
ングされる。この後、ポッティング法によりモールド用
樹脂59でチップ30を樹脂封止する。ポッティング時
においては、フィルム52自身がデバイス孔52の外に
樹脂回り込み用のスリット53a,53bを備えている
ので、チップ30の全面を隈無く封止するとができる。
勿論、デバイス孔52aの開口面積をチップ30の面積
以上に設定することで、樹脂モールドの未封止部分を無
くすこともできるが、本実施例におけるフィルム52の
デバイス孔52aと樹脂回り込み用のスリット53a,
53bとの開口縁部60a,60bはリードの裏打ち補
強部としての意義を有している。これらの開口縁部60
a,60bが実質上チップ30のバンプ51近傍に存在
するので、フィンガーリード56の片持ち梁長さ(張出
長さ)はYである。開口縁部60a,60bが存在
しない場合の片持ち梁長さはYであるから、Y
<Yで、梁長さ(張出長さ)の短縮長さは実質的に
−Yである。フィンガーリード56の長さが
短いほどインナーリードボンディング時における位置合
わせが容易であり、またチップのサポート力を増強でき
る。更にバンプ51群が直線状に配列しているため、一
括ボンディング時のアライメント性が向上し、大型サイ
ズのチップでもボンディング性が損なわれない。インナ
ーリード群はチップのほぼ全面を覆っているので、一括
ボンディングツールによるチップ表面の損傷を抑えるこ
とができる。バンプピッチが100ミクロン以下の微細
ピッチの場合でも一括ボンディングが可能である。また
短縮されたフィンガーリード56によりその撓み量が減
少する点とバンプ51ないし電極(パッド)がチップ3
0の中央領域に形成されている点から、フィンガーリー
ド56とチップ30のエッジとが接触しにくく、エッジ
ショートを防止するこができる。これは殊にポッティン
グによりモールド用樹脂59の重みで両者が接触する危
険性を排除できる。開口縁部60a,60bのないとき
には、フィンガーリード56とバンプ51の位置合わせ
容易性の利益はないが、チップエッジ付近のフィンガー
リード56に絶縁層を形成することができる。チップエ
ッジ付近にバンプ51が形成されていないためである。
かかる場合もエッジショートを防止することができる。
更に、チップ表面の上を覆うインナーリード群によって
放熱特性が改善される。
An assembling process (TAB mounting) of the tape carrier 52 manufactured by such a tape process and the above-described chip 30 with bumps is performed. That is, the chip 30 is fed up with the finger lead 5 while the tape is being fed.
6 and the finger lead 51 and the bump 51 are subjected to inner lead bonding by a bonding tool. Thereafter, the chip 30 is sealed with a molding resin 59 by a potting method. At the time of potting, since the film 52 itself has slits 53a and 53b for wrapping around the resin outside the device hole 52, the entire surface of the chip 30 can be completely sealed.
Of course, by setting the opening area of the device hole 52a to be equal to or larger than the area of the chip 30, the unsealed portion of the resin mold can be eliminated. However, the device hole 52a of the film 52 and the slit for the resin 53a,
Opening edge portions 60a and 60b with 53b serve as a backing reinforcement portion of the lead. These opening edges 60
a, because 60b is present near the bumps 51 of substantially the chip 30, the cantilever length of the finger leads 56 (projecting length) is Y 1. Opening edge portion 60a, since the cantilever length when 60b is not present is a Y 2, Y 1
<In Y 2, shortening the length of the beam length (overhang length) is substantially Y 2 -Y 1. The shorter the length of the finger lead 56 is, the easier the alignment at the time of inner lead bonding is, and the stronger the support force of the chip can be. Further, since the bumps 51 are arranged in a straight line, the alignment property at the time of collective bonding is improved, and the bonding property is not impaired even in a large-sized chip. Since the inner lead group covers almost the entire surface of the chip, damage to the chip surface by the collective bonding tool can be suppressed. Collective bonding is possible even when the bump pitch is a fine pitch of 100 microns or less. The point that the amount of bending is reduced by the shortened finger lead 56 and the bump 51 or the electrode (pad) is formed on the chip 3
Since the finger lead 56 and the edge of the chip 30 do not easily come into contact with each other since they are formed in the central region of 0, edge short-circuiting can be prevented. This can eliminate the danger of contact between the two by the weight of the molding resin 59 particularly by potting. When there is no opening edge portion 60a, 60b, there is no advantage in the ease of alignment between the finger lead 56 and the bump 51, but an insulating layer can be formed on the finger lead 56 near the chip edge. This is because the bump 51 is not formed near the chip edge.
Also in such a case, edge short-circuit can be prevented.
Further, the heat radiation characteristic is improved by the inner lead group covering the chip surface.

【0020】図4は上述のチップの別のTAB実装状態
を示す断面図である。このテープキャリア60において
は、デバイス孔52bに突き出たインナーリード61は
フィルム54に対して両持ち梁構造とされている。チッ
プ30の中央領域(内側領域)にバンプ51が存在して
いるので、インナーリードを片持ち梁構造とする必然性
はない。この両持ち梁ないし両吊り構造によれば、図3
に示す片持ち梁構造に比して、バンプ51との位置合わ
せ精度が一層改善され、サポート力も倍加する。勿論、
チップエッジのショートの問題も発生しない。更にま
た、チップ表面の損傷防止も確保でき、放熱特性も優れ
ている。
FIG. 4 is a sectional view showing another TAB mounting state of the above-mentioned chip. In this tape carrier 60, the inner leads 61 protruding into the device holes 52b have a doubly supported structure with respect to the film. Since the bumps 51 are present in the central region (inner region) of the chip 30, there is no necessity for the inner lead to have a cantilever structure. According to this doubly supported or double suspended structure, FIG.
As compared with the cantilever structure shown in FIG. 1, the accuracy of alignment with the bumps 51 is further improved, and the support force is doubled. Of course,
The problem of chip edge short does not occur. Furthermore, damage prevention on the chip surface can be ensured, and the heat radiation characteristics are also excellent.

【0021】図5(A)は液晶パネルの額縁領域62に
COG実装した状態を示す平面図である。液晶パネルの
リードのうち引出しリード部分58がチップ30の平面
上にオーバーラップしている。ところで、一般に、引出
しリード部分58はバンプ51のピッチより始まりこれ
より長い画素の行又は列間隔に徐々に合わせ込む意義が
ある。バンプ51のピッチが微細化すればするほど、引
出しリード部分58の長さを大きくする必要がある。屈
曲度がきつくなればなるほどリード間距離がバンプピッ
チより小さくなり、ショートしやすくなるからである。
従って、LCD駆動IC等のような多ビット化ないし電
極ピッチ微細化の下においては、リードの屈曲度を抑え
る必要性があるので、引出しリード部分58は不可避的
に長くしなければならない。このような引出しリード部
分58の長大化はガラス基板G ,Gの額縁領域の
幅寸法(張出長さ)を増やす結果となる。しかしなが
ら、本実施例においては、図3に示すように、引出しリ
ード部分58のすべてがテープキャリア52の上にある
のではなく、引出しリード部分58の一部58aがチッ
プ30上にオーバーラップしている。これはバンプ51
がチップ30の中央領域に形成されているため、そのバ
ンプ51とチップ30の長辺31a,32aの間で引出
しリード部分58の一部58aを形成できるからであ
る。このオーバーラップ部分58aの長さは前述したイ
ンナーリード56の短縮長さY−Y と実質的に
等しい。このため、概略的な評価によれば、図5(B)
に示すように、従来の額縁領域の幅寸法Wに比して本例
のその幅寸法Wは2(Y−Y)だけ小さい。
額縁領域62の幅寸法が圧縮されることは非表示面積の
縮小化ないし細長化を意味し、LCDパネルの実装品た
る液晶表示装置のコンパクト化ないし外観体裁(デザイ
ン)の改善に寄与する。換言すると、額縁領域62の幅
寸法を増大させずに、チップの更なる多ビット化ないし
細長化を図ることができる。
FIG. 5A shows a frame region 62 of the liquid crystal panel.
It is a top view showing the state where COG mounting was carried out. LCD panel
The lead-out lead portion 58 of the lead is a flat surface of the chip 30.
It overlaps on top. By the way, in general, withdraw
The lead portion 58 starts from the pitch of the bump 51 and
The significance of gradually adjusting to longer pixel row or column spacing
is there. The finer the pitch of the bumps 51, the more the pull
It is necessary to increase the length of the extension lead portion 58. Succumb
The tighter the curvature, the longer the distance between leads
This is because it becomes smaller than the height and it becomes easy to short-circuit.
Therefore, it is necessary to increase the number of bits or the electric power in LCD driving ICs, etc.
Suppresses lead bending under extremely fine pitch
Drawer lead portion 58 is inevitable
Must be longer. Such drawer lead
The lengthening of the minute 58 is the glass substrate G1 , G2Of the picture frame area
This results in increasing the width dimension (overhang length). But
In this embodiment, as shown in FIG.
All of the tape portions 58 are on the tape carrier 52
Instead, a part 58a of the extraction lead portion 58 is not
Overlaps the loop 30. This is bump 51
Is formed in the central area of the chip 30,
Drawn between the pump 51 and the long side 31a, 32a of the chip 30
This is because a portion 58a of the lead portion 58 can be formed.
You. The length of the overlap portion 58a is the same as the length of
Reduced length Y of inner lead 562-Y 1And practically
equal. Therefore, according to the schematic evaluation, FIG.
As shown in FIG.
Its width dimension W1Is 2 (Y2-Y1Only) small.
The compression of the width dimension of the frame region 62 indicates that the non-display area
Means shrinking or slenderness, and means that
Liquid crystal display devices that are compact or have external appearance (design
Contributing to the improvement of In other words, the width of the frame area 62
It is possible to increase the number of bits in a chip without increasing the size.
Elongation can be achieved.

【0022】[0022]

【実施例2】図6は本発明の実施例2に係る半導体装置
のチップレイアウト図である。
FIG. 6 is a chip layout diagram of a semiconductor device according to a second embodiment of the present invention.

【0023】この半導体チップ70もLCD駆動型IC
で、COG実装の際の額縁領域の幅寸法を抑制するため
に長方形ないし細長状としてある。このチップ70に作
る込まれた集積回路は、実施例1と同様に、中核的な回
路構成としてnビットのシフトレジスタ回路部3,ラッ
チ回路部5,レベルシフト回路部6,及びドライバ回路
部7を備えている。そして1ブロックだけの回路セルア
レイの各ビットにはそれ固有の出力(ドライバ出力)Y
〜Yの矩形の出力電極(パッド)8 〜8
がドライバ回路部7の各段7〜7の最短隣接領
域に形成されている。nビット・シフトレジスタ回路部
3は長辺71aの周辺領域に作り込まれており、ドライ
バ回路部7はチップ内側領域に作り込まれている。そし
て出力電極(パッド)8はX方向一列に形成されてい
る。
This semiconductor chip 70 is also an LCD drive type IC.
In order to reduce the width of the frame area during COG mounting
In a rectangular or elongated shape. This chip 70
The embedded integrated circuit is the same as in the first embodiment.
The n-bit shift register circuit section 3
Switch circuit 5, level shift circuit 6, and driver circuit
A part 7 is provided. And only one block of circuit cells
Each bit of the ray has its own output (driver output) Y
1~ YnRectangular output electrode (pad) 81 ~ 8n
Are the respective stages 7 of the driver circuit section 7.1~ 7nShortest neighbor
Formed in the area. n-bit shift register circuit
3 is built in the peripheral area of the long side 71a,
The bus circuit section 7 is formed in the chip inner area. Soshi
The output electrodes (pads) 8 are formed in a line in the X direction.
You.

【0024】セルアレイの形成領域の両端外側には図6
の一点鎖線で囲まれた領域に制御ロジック部72,73
が作り込まれている。また長辺71bの周辺領域の中央
部分にも一点鎖線で示す制御ロジック部74が作り込ま
れている。制御ロジック部74の内側X方向にはデータ
信号DIN,出力データDOUT ,クロックパルスC
P,交流波形化クロックM等の所要の入出力信号電極の
列75が形成され、この列は出力電極8の列に隣接平行
している。列75の両端外側には矩形の電源電極11〜
14と矩形の接地電極19又は低圧電源電極10が形成
されている。出力電極8の列の両端外側には高圧電源の
電極15が形成されている。従って、チップ上の電極群
は2列でX方向に配列している。図示左右の高電源電圧
の電極15,15に接続する電源配線76は電極
8の列に近接している。この電源配線36は高電圧部た
るドライバ回路部7に対して給電する。片側の電極15
は省略することもできるが、同様のチップに対してカス
ケード接続する場合に利用される。また同様に、図示左
右の液晶駆動電源電圧Vの電極11,11に接続す
る電源配線77は電源配線36の長辺71a側に隣接し
ている。この電源配線77は高電圧部たるドライバ回路
部7に対して給電する。片側の電極11は省略すること
もできるが、同様のチップに対してカスケード接続する
場合に利用される。図示左右の液晶駆動電源電圧V
の電極12,12に接続する電源配線78も電源配線7
7の長辺71a側に隣接している。この電源配線78も
高電圧部たるドライバ回路部7に対して給電する。片側
の電極12はカスケード接続用の電極である。液晶駆動
電源電圧Vの電極13,13に接続する電源配線7
9も電源配線78の長辺71a側に延在している。この
電源配線78の敷設領域はドライバ回路部7のレベルシ
フト回路部6寄りで、ドライバ回路部7に対して給電す
る。また片一方の電極13はカスケード接続用の電極で
ある。最後の液晶駆動電源電圧Vの電極14,14
に接続する電源配線80も電源配線79の長辺71a側
に隣接している。この電源配線70はドライバ回路部7
に対して給電する。また片一方の電極14はカスケード
接続用の電極である。このように、ドライバ回路部7に
対し給電すべき電源電圧V,V,V,V
,Vの電源配線76,77,78,79,80
はその領域上を並行している。これらの配線は電極8の
列を1巡回いた閉ループ接続ではないが、電源電圧V
の電極15は電極8の列の両端に形成され、電源電圧V
,V,V,Vの電極11,12,13,
14と電極8の列の両端側数電極と2列を構成してい
る。接地電圧GNDの電極19に接続する接地配線は3
本には分岐しており、その内側の接地配線81はドライ
バ回路部7とレベルシフト回路部6との境界領域に、中
間の接地配線82はレベルシフト回路部6とラッチ回路
部5との境界領域に、外側の接地配線83はシフトレジ
スタ回路部3の外側領域に各々敷設されている。また電
源電圧Vの電源配線36から分岐された外側の電源
配線84はレベルシフト回路部6上に敷設されている。
更に、低電圧電源VCCの電極10に接続する電源配線
85はラッチ回路部5とシフトレジスタ部3の境界領域
に敷設されている。そして、電極11,12,13,1
4の列の中間領域に入出力信号電極の列75が介在して
いる。
FIG. 6 shows the outside of both ends of the cell array forming region.
Control logic units 72 and 73
Is built in. The center of the peripheral area of the long side 71b
The control logic part 74 indicated by the dashed line is also built in the part
Have been. Data in the X direction inside the control logic 74
Signal DIN, Output data DOUT, Clock pulse C
P, required input / output signal electrodes of AC waveform clock M, etc.
A row 75 is formed which is adjacent and parallel to the row of output electrodes 8.
are doing. The rectangular power supply electrodes 11 to
14 and a rectangular ground electrode 19 or low-voltage power supply electrode 10 are formed.
Have been. A high-voltage power supply
An electrode 15 is formed. Therefore, the electrode group on the chip
Are arranged in two rows in the X direction. High left and right power supply voltage shown
VHThe power supply wiring 76 connected to the electrodes 15
Close to row 8. This power supply wiring 36 is a high voltage part.
The power is supplied to the driver circuit unit 7. One side electrode 15
Can be omitted.
Used when connecting with a cable. Similarly, the left
Right LCD drive power supply voltage V0Electrodes 11 and 11
The power supply line 77 is adjacent to the long side 71a of the power supply line 36.
ing. This power supply wiring 77 is a driver circuit which is a high voltage part.
Power is supplied to the unit 7. Omit electrode 11 on one side
Can be cascaded to similar chips
Used in cases. Left and right liquid crystal drive power supply voltage V2
The power supply wiring 78 connected to the electrodes 12, 12 is also the power supply wiring 7
7 is adjacent to the long side 71a side. This power supply wiring 78
Power is supplied to the driver circuit section 7 which is a high voltage section. one side
Are electrodes for cascade connection. LCD drive
Power supply voltage V3Power supply wiring 7 connected to the electrodes 13
Reference numeral 9 also extends toward the long side 71a of the power supply wiring 78. this
The laying area of the power supply wiring 78 is the level system of the driver circuit section 7.
Power is supplied to the driver circuit section 7 near the shift circuit section 6.
You. One electrode 13 is a cascade connection electrode.
is there. Last liquid crystal drive power supply voltage V5Electrodes 14, 14
The power supply line 80 connected to the power supply line 79 is also on the long side 71a side.
Is adjacent to The power supply wiring 70 is connected to the driver circuit section 7.
Power is supplied to One electrode 14 is cascaded
It is an electrode for connection. Thus, the driver circuit unit 7
Power supply voltage V to be suppliedH, V0, V2, V
3, V5Power supply wiring 76, 77, 78, 79, 80
Are parallel on that area. These wirings are
It is not a closed loop connection that goes around the column once, but the power supply voltage VH
Electrodes 15 are formed at both ends of the column of the electrodes 8 and the power supply voltage V
0, V2, V3, V5Electrodes 11, 12, 13,
14 and the number of electrodes at both ends of the row of the electrode 8 constitute two rows.
You. The ground wiring connected to the electrode 19 of the ground voltage GND is 3
The book is branched, and the ground wiring 81 inside it is dry.
In the boundary area between the circuit section 7 and the level shift circuit section 6,
The ground wiring 82 between the level shift circuit 6 and the latch circuit
The outer ground wiring 83 is connected to the shift register
Each of them is laid in a region outside the star circuit portion 3. In addition,
Source voltage VHOutside power supply branched from the power supply wiring 36
The wiring 84 is laid on the level shift circuit section 6.
Furthermore, a low voltage power supply VCCPower supply wiring connected to the electrode 10
85 is a boundary area between the latch circuit unit 5 and the shift register unit 3
Is laid. And the electrodes 11, 12, 13, 1
A row 75 of input / output signal electrodes intervenes in the middle area of row 4
I have.

【0025】このように、電源配線を電極8の列の両端
に回り込ませたレイアウトによれば、電源配線又は信号
配線の配線長を従来法に比して抑制することができる。
本例はチップの細長化に対応した電極及び配線の好適な
レイアウトを提供する。なお、73a,73bは長辺7
1a側のコーナー部に形成された位置決め及び支技用の
ダミー電極(パッド)が形成されている。
As described above, according to the layout in which the power supply wiring is routed around both ends of the column of the electrodes 8, the wiring length of the power supply wiring or the signal wiring can be suppressed as compared with the conventional method.
The present example provides a suitable layout of electrodes and wirings corresponding to a thinner chip. 73a and 73b are long sides 7
A dummy electrode (pad) for positioning and assisting is formed at a corner portion on the side of 1a.

【0026】図7は上記の実施例に係るチップのTAB
実装状態を示す平面図である。同図において図3に示す
部分と同一部分には同一参照符号を付し、その説明は省
略する。上述のレイアウト構成を有するチップ70のた
めのテープキャリア(フィルム)92はチップ70の電
極配置に合わせたリードパタンがスプロケット孔52a
とデバイス孔92bを持つブラスチックフィルム上に形
成されている。このテープキャリア92は開口面積の異
なる樹脂回り込み用のスリット93a,93bを有して
いる。リードパタンは、デバイス孔92aへ張り出して
おり、バンプ51とインナーリードボンディングされる
べきフィンガーリード(インナーリード)56と、LC
Dパネル側の行又は列電極とアウターリードボンディン
グされるべきアウターリード57と、フィンガーリード
56とアウターリード57を一体的に連結する引出しリ
ード部分88とを有するものである。なお、フィルム5
2の印刷配線板側に接続する引出しリード部分88の先
端には端子58が形成されている。このようなテープ工
程により作製されたテープキャリア92と前述のバンプ
付きチップ70のTAB実装が実施例1と同様にして行
われる。フィンガーリード56の片持ち梁長さ(張出長
さ)はYである。LCDパネル側の開口縁部70b
が存在しない場合の片持ち梁長さはYであるから、
<Y で、梁長さ(張出長さ)の短縮長さは実質
的にY−Yである。この短縮長さは実施例1の
−Yより大である。
FIG. 7 shows the TAB of the chip according to the above embodiment.
It is a top view showing a mounting state. In FIG.
The same reference numerals are given to the same portions as the portions, and the description thereof is omitted.
Abbreviate. A chip 70 having the above-described layout configuration
The tape carrier (film) 92 for the
The lead pattern according to the pole arrangement is the sprocket hole 52a.
And formed on plastic film with device holes 92b
Has been established. This tape carrier 92 has a different opening area.
With slits 93a and 93b for wrapping around the resin
I have. The lead pattern protrudes into the device hole 92a.
And the inner lead is bonded to the bump 51
Shoulder finger lead (inner lead) 56 and LC
Row or column electrode on D panel side and outer lead bondin
Outer leads 57 to be plugged and finger leads
A drawer that integrally connects the outer lead 57 and the outer lead 57
And a card portion 88. In addition, film 5
2 the end of the lead-out lead portion 88 connected to the printed wiring board side
A terminal 58 is formed at the end. Such a tape mechanic
Tape carrier 92 and bumps described above
TAB mounting of the chip with chip 70 is performed in the same manner as in the first embodiment.
Is Cantilever length of finger lead 56 (overhang length
Sa) is Y1It is. Opening edge 70b on the LCD panel side
The length of the cantilever beam without Y3Because
Y1<Y3 And the shortened length of the beam length (extended length) is substantial
Typically Y3-Y1It is. This shortened length is
Y2-Y1Is greater.

【0027】図8(A)は上記チップのTAB実装後に
液晶パネルの額縁領域102にCOG実装した状態を示
す平面図である。なお、同図において図3に示す部分と
同一部分には同一参照符号を付し、その説明は省略す
る。この実装においても、引出しリード部分88の一部
88aがチップ30上にオーバーラップしている。これ
はバンプ51がチップ70の長辺71aから離れて形成
されているためである。このオーバーラップ部分88a
の長さは前述したインナーリード56の短縮長さY
−Yと実質的に等しい。チップ70の幅寸法が実施
例1のそれに比して小さくできることを考慮すれば、図
8(B)に示すように、本例の額縁領域102の幅寸法
は実施例1の幅寸法Wに比して小さくするこ
とができる。
FIG. 8A is a plan view showing a state in which the chip is mounted on the frame area 102 of the liquid crystal panel by COG after TAB mounting. In the figure, the same parts as those shown in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. Also in this mounting, a part 88 a of the lead-out lead portion 88 overlaps the chip 30. This is because the bump 51 is formed apart from the long side 71a of the chip 70. This overlap portion 88a
Is the shortened length Y 3 of the inner lead 56 described above.
-Y 1 substantially equal. Considering that the width dimension of the chip 70 can be reduced as compared with that of Example 1, as shown in FIG. 8 (B), the width W 2 of the frame region 102 of the present embodiment the width W of Example 1 It can be smaller than 1 .

【0028】[0028]

【発明の効果】以上のように、本発明に係る回路セルア
レイを備えた半導体装置は、LCDドライバICに限ら
ず、ディスプレイ・ドライバIC,プリンタ・ドライバ
IC,センサーインターフェイスIC,ゲートアレイ等
のように、回路セルとその電極が対をなしたアレイ構造
のICないしは多出力又は多入力の多ビット型ICに対
し広く適用でき、データ入力又は出力装置において実装
占有領域の幅等を節約するのに適している。
As described above, the semiconductor device provided with the circuit cell array according to the present invention is not limited to the LCD driver IC, but may be a display driver IC, a printer driver IC, a sensor interface IC, a gate array, or the like. It can be widely applied to an IC having an array structure in which a circuit cell and its electrode are paired or a multi-output or multi-input multi-bit IC, and is suitable for saving the width of a mounting area in a data input or output device. ing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1に係る液晶駆動用半導体装置
のチップを示すレイアウト図である。
FIG. 1 is a layout diagram illustrating a chip of a liquid crystal driving semiconductor device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】実施例1に係るチップのTAB実装状態を示す
断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a state in which the chip according to the first embodiment is mounted on a TAB.

【図3】実施例1に係るチップのTAB実装状態を示す
平面図である。
FIG. 3 is a plan view illustrating a state in which the chip according to the first embodiment is mounted on a TAB;

【図4】同TAB実装とは別のTAB実装状態を示す断
面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing a TAB mounting state different from the TAB mounting.

【図5】(A)は実施例1に係るチップを液晶パネルの
額縁領域にCOG実装した状態を示す平面図で、(B)
は同状態の額縁領域側を示す断面図である。
FIG. 5A is a plan view showing a state where the chip according to the first embodiment is COG-mounted in a frame region of a liquid crystal panel, and FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a frame region side in the same state.

【図6】本発明の実施例2に係る液晶駆動用半導体装置
のチップを示すレイアウト図である。
FIG. 6 is a layout diagram illustrating a chip of a liquid crystal driving semiconductor device according to a second embodiment of the present invention.

【図7】実施例2に係るチップのTAB実装状態を示す
平面図である。
FIG. 7 is a plan view illustrating a state in which the chip according to the second embodiment is mounted on a TAB;

【図8】(A)は実施例2に係るチップを液晶パネルの
額縁領域にCOG実装した状態を示す平面図で、(B)
は同状態の額縁領域側を示す断面図である。
FIG. 8A is a plan view showing a state where the chip according to the second embodiment is COG-mounted in a frame region of a liquid crystal panel, and FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a frame region side in the same state.

【図9】液晶駆動用半導体装置の一般的な回路構成を示
すブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram showing a general circuit configuration of a liquid crystal driving semiconductor device.

【図10】従来の液晶駆動用半導体装置のチップを示す
レイアウト図である。
FIG. 10 is a layout diagram showing a chip of a conventional liquid crystal driving semiconductor device.

【図11】同チップを液晶パネルの額縁領域にCOG実
装した状態を示す平面図である。
FIG. 11 is a plan view showing a state where the chip is mounted on a frame area of a liquid crystal panel by COG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

3…シフトレジスタ回路部 5…ラッチ回路部 6…レベルシフト回路部 7…ドライバ回路部 7…ドライバ回路部の各段 8…出力電極(パッド) 10〜15…電源電極 19…接地電極 30,70…半導体チップ 31…第1のブロック 32…第2のブロック 31a,32a,71a,71b…チップの長辺 33…X方向帯状領域(中央領域) 34,35,72,73,74…制御ロジック部 35a,35b…チップの短辺 36,37,38,39,40,44,45…電源配線
(Al配線) 41,42,43…接地配線 46,47,75…入出力信号電極の列 48a〜48d,73a,73b…ダミー電極(ダミー
パッド) 51…バンプ 52,60,92…テープキャリア(フィルム) 52a…スプロケット孔 52b,92b…デバイス孔 53a,53b,93a,93b…スリット 54…プラスチックフィルム 55…接着層 56,61…フィンガーリード(インナーリード) 57…アウターリード 58,88…引出しリード部分 59…モールド用樹脂 60a,60b…開口縁部 62…液晶パネルの額縁領域 76,77,78,79,80,84,85…電源配線 81,82,83…接地配線 L,L…中心線 Y…ドライバ出力 Y,Y…フィンガーリードの片持ち梁長さ(張
出長さ) V,VCC,V,V,V,V…電
源電圧
3: shift register circuit portion 5 ... latch circuit portions 6 the level shift circuit 7 ... driver circuit portion 7 N ... each stage 8 of the driver circuit portion N ... output electrode (pads) 10 to 15 ... power electrode 19 ... ground electrode 30 , 70 ... semiconductor chip 31 ... first block 32 ... second block 31a, 32a, 71a, 71b ... chip long side 33 ... X-direction band-shaped area (central area) 34, 35, 72, 73, 74 ... control Logic part 35a, 35b: Short side of chip 36, 37, 38, 39, 40, 44, 45 ... Power supply wiring (Al wiring) 41, 42, 43 ... Grounding wiring 46, 47, 75 ... Column of input / output signal electrodes 48a to 48d, 73a, 73b: Dummy electrode (dummy pad) 51: Bump 52, 60, 92 ... Tape carrier (film) 52a: Sprocket hole 52b, 92 ... Device holes 53a, 53b, 93a, 93b ... Slits 54 ... Plastic films 55 ... Adhesive layers 56, 61 ... Finger leads (inner leads) 57 ... Outer leads 58, 88 ... Lead-out lead portions 59 ... Molding resin 60a, 60b ... opening edge 62 ... frame region 76,77,78,79,80,84,85 ... power supply wiring of the liquid crystal panel 81, 82, 83 ... ground line L 1, L 2 ... center line Y N ... driver output Y 1, Y 2 : Cantilever length (extended length) of finger lead V H , V CC , V 0 , V 3 , V 2 , V 5 : Power supply voltage

【発明の効果】以上のように、本発明に係る回路セルア
レイを備えた半導体装置は、LCDドライバICに限ら
ず、ディスプレイ・ドライバIC,プリンタ・ドライバ
IC,センサーインターフェイスIC,ゲートアレイ等
のように、回路セルとその電極が対をなしたアレイ構造
のICないしは多出力又は多入力の多ビット型ICに対
し広く適用でき、データ入力又は出力装置において実装
占有領域の幅等を節約するのに適している。
As described above, the semiconductor device provided with the circuit cell array according to the present invention is not limited to the LCD driver IC, but may be a display driver IC, a printer driver IC, a sensor interface IC, a gate array, or the like. It can be widely applied to an IC having an array structure in which a circuit cell and its electrode are paired or a multi-output or multi-input multi-bit IC, and is suitable for saving the width of a mounting area in a data input or output device. ing.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01L 21/60 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) H01L 21/60

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 略長方形であり、長辺(31a,31
b,71a,71b)方向に列状に並んでいる入出力パ
ッド(Y1〜 YN, Y1〜 Yn,V0,V2,V3,V5
H,VCC,19,46,47)を有するチップ(3
0,70)と、 開口部を有しかつ複数の配線が配置されているキャリア
薄膜とを有し、 前記開口部が前記入出力パッド上にくるように前記キャ
リア薄膜が前記チップ上に配置されると共に、前記開口
部を介して前記入出力パッドと前記配線とが電気的に接
続されてなり、 前記キャリア薄膜と前記チップとがオーバーラップし、
前記キャリア薄膜と前記チップとがオーバーラップして
いる領域上で複数の前記配線間の間隔が前記パッドから
遠ざかるにつれて広がっていることを特徴とする半導体
装置。
1. A substantially rectangular shape having long sides (31a, 31a).
b, 71a, 71b) output pads are arranged in rows in a direction (Y 1 ~ Y N, Y 1 ~ Y n, V 0, V 2, V 3, V 5,
V H, V CC, chips with 19,46,47) (3
0, 70), and a carrier thin film having an opening and a plurality of wirings arranged thereon, wherein the carrier thin film is arranged on the chip such that the opening is on the input / output pad. And the input / output pad and the wiring are electrically connected via the opening, and the carrier thin film and the chip overlap,
The semiconductor device according to claim 1, wherein a distance between the plurality of wirings increases as the distance from the pad increases in a region where the carrier thin film and the chip overlap.
【請求項2】 請求項1において、前記チップは前記キ
ャリア薄膜を支持するダミーパッド(48a〜48d,
73a,73b)を有することを特徴とする半導体装
置。
2. The chip according to claim 1, wherein said chip is a dummy pad supporting said carrier thin film.
73a, 73b).
【請求項3】 請求項1又は請求項2において、前記入
出力パッドは前記長辺方向に沿って2列に並んでいるこ
とを特徴とする半導体装置。
3. The semiconductor device according to claim 1, wherein the input / output pads are arranged in two rows along the long side direction.
【請求項4】 請求項1乃至請求項3のいずれか一項に
おいて、2つの回路ブロック(31,32)を有し、前
記入出力パッドは前記2つの回路ブロックの間に挟まれ
ていることを特徴とする半導体装置。
4. The semiconductor device according to claim 1, further comprising two circuit blocks, wherein the input / output pad is interposed between the two circuit blocks. A semiconductor device characterized by the above-mentioned.
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