JP3262115B2 - Semiconductor chip package and display using the same - Google Patents

Semiconductor chip package and display using the same

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JP3262115B2 JP2000073090A JP2000073090A JP3262115B2 JP 3262115 B2 JP3262115 B2 JP 3262115B2 JP 2000073090 A JP2000073090 A JP 2000073090A JP 2000073090 A JP2000073090 A JP 2000073090A JP 3262115 B2 JP3262115 B2 JP 3262115B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、LCDドライバ
等のディスプレイ・ドライバIC,プリンタ・ドライバ
ICのような多ビット駆動型IC、センサ・インターフ
ェイスICのような多入出力型ICやゲートアレイ等に
関し、更に詳しくは、同一の回路構成を有する回路セル
とその入力又は出力電極とが対をなして複数配列したア
レイ構造の半導体装置とそれを用いたデータ入出力装置
に関する。
The present invention relates to a display driver IC such as an LCD driver, a multi-bit drive IC such as a printer driver IC, a multi-input / output IC such as a sensor interface IC, a gate array, and the like. More specifically, the present invention relates to a semiconductor device having an array structure in which a plurality of circuit cells having the same circuit configuration and their input or output electrodes are arranged in pairs and a data input / output device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば、LCD用コモン駆動半導体集積
回路は、図9に示すように、クロックパルス数Nに相当
する周期毎にデータ信号入力電極1を介して入来するデ
ータ信号(表示データ信号)DINをクロック電極2を介
して入来するクロックパルスCPに同期して、初段目3
1 から終段目3N へ順次シリアル転送し、カスケード接
続用外部出力電極4を介して終段目3N の出力QN を出
力データ信号DOUT としてデータ出力電極4から次段の
同様な集積回路に供給するNビット(N段)・シフトレ
ジスタ回路部3と、そのシフトレジスタ回路部3で直並
列変換されたデータ列{Q1 ,Q2 ,・・・QN }に対
応してそれらをラッチするNビット・ラッチ回路部5
と、この回路部5の各段の出力を低電圧(3〜5v)の
論理電圧レベルからLCD駆動用電圧レベルへ昇圧変換
するNビット・レベルシフト回路部6と、この回路部6
の各出力に1対1に対応してLCD駆動電源電圧V0
2 ,V3 ,V5 を選択し、電極9に印加される交流波
形化クロックMに基づいてその各電圧を交流駆動波形に
して印加電圧Y1 〜YN を出力電極81 〜8N に送出す
るNビット・ドライバ回路部7とを備えるものである。
2. Description of the Related Art For example, as shown in FIG. 9, a common drive semiconductor integrated circuit for an LCD has a data signal (display data signal) input via a data signal input electrode 1 at every cycle corresponding to the number N of clock pulses. ) D IN is synchronized with the clock pulse CP coming through the clock electrode 2 to
Sequentially serially transferred from 1 to final stage 3 N, via the cascade connection for external output electrodes 4 next similar integrated from the data output electrode 4 to the output Q N of the final stage 3 N as the output data signal D OUT and N-bit (N-stage) shift register circuit portion 3 for supplying the circuit, the shift register circuit portion 3 serial-parallel converted data sequence {Q 1, Q 2, ··· Q N} they correspond to N-bit latch circuit 5 for latching
An N-bit level shift circuit unit 6 for boosting the output of each stage of the circuit unit 5 from a low voltage (3 to 5 V) logic voltage level to an LCD drive voltage level;
LCD drive power supply voltages V 0 ,
V 2, V 3, V 5 is selected, the voltage applied to the respective voltage into an AC drive waveform based on an AC waveform of the clock M applied to the electrode 9 Y 1 to Y N output electrodes 8 1 to 8 N And an N-bit driver circuit section 7 for transmitting the data to

【0003】この集積回路においては、各ビット(各
段)の回路構成が同一で、それに1対1に対応した出力
電極(パッド)81 〜8N を有している。Nビット・シ
フトレジスタ回路部3及びNビット・ラッチ回路部5は
電極10に印加される電源電圧(3〜5v)の低電圧V
CCで駆動されるので、低電圧部L.V.を構成してい
る。一方、Nビット・レベルシフト回路部6及びNビッ
ト・ドライバ回路部7は電極11,12,13,14に
それぞれ印加される液晶駆動電圧V0 (例えば約38
v),V2 (約36v),V3 (約2v),V5 (約0
v)を必要とし、また電極15に印加される高電源電圧
H は約40vである。従って、Nビット・レベルシフ
ト回路部6及びNビット・ドライバ回路部7は高電圧部
H.V.を構成している。
In this integrated circuit, each bit (each stage) has the same circuit configuration, and has output electrodes (pads) 8 1 to 8 N corresponding one-to-one. The N-bit shift register circuit unit 3 and the N-bit latch circuit unit 5 operate at a low voltage V of the power supply voltage (3 to 5 V) applied to the electrode 10.
It is driven by CC, low voltage portion L. V. Is composed. On the other hand, the N-bit level shift circuit section 6 and the N-bit driver circuit section 7 provide a liquid crystal driving voltage V 0 (eg, about 38) applied to the electrodes 11, 12, 13, and 14, respectively.
v), V 2 (about 36v), V 3 (about 2v), V 5 (about 0
v) and the high power supply voltage V H applied to the electrode 15 is about 40v. Therefore, the N-bit level shift circuit section 6 and the N-bit driver circuit section 7 include the high-voltage section H.264. V. Is composed.

【0004】このような回路セル(シフトレジスタ回路
部,ラッチ回路部,レベルシフト回路部,及びドライバ
回路部の各ビット3i ,5i ,6i ,7i からなるセ
ル)とその対をなす出力電極8i の一般的なチップレイ
アウトは、図10に示すように、各ビットの並列的なア
レイ構造が採用されている。なお、同図に示す実線ジグ
ザグ部分は配線クロス箇所を表す。全体としてセル及び
電極はチップのX方向中心線に対して対称的に配置され
ている。即ち、セルアレイはチップ領域を2分割して第
1ブロック16と第2ブロック17とに区分され、シフ
トレジスタ回路部の各段31 〜3N はチップ内側領域
に、またドライバ回路部の各段71 〜7N はチップ18
の縁部側(長辺周辺部)に作り込まれている。出力電極
1 〜81 はドライバ部の各段71 〜7N の外側(チッ
プ周縁部)に配置されている。高電圧VH ,液晶駆動電
源電圧V0 ,V2 ,V3 ,V5 の配線は各パッドからド
ライバ回路部7及びレベルシフト回路部6の第1ブロッ
ク16上をX方向に通過し、そして−Y方向に延長させ
た後第2ブロック17上を−X方向に延在している。ま
た低電源電圧VCCの配線もそのパッドからラッチ回路部
5及びシフトレジスタ回路部3の第1ブロック16上を
X方向に通過し、そして−Y方向に延長させた後第2ブ
ロック17上を−X方向に延在している。
A pair with such a circuit cell (cell composed of each bit 3 i , 5 i , 6 i , 7 i of a shift register circuit, a latch circuit, a level shift circuit, and a driver circuit) is formed. As shown in FIG. 10, the general chip layout of the output electrode 8i adopts a parallel array structure of each bit. It should be noted that the solid line zigzag portion shown in FIG. As a whole, the cells and the electrodes are arranged symmetrically with respect to the center line in the X direction of the chip. That is, the cell array is divided into a first block 16 is divided into two tip region and a second block 17, each stage 3 1 to 3 N shift register circuit portion in the chip inner region, and each stage of the driver circuit portion 7 1 to 7 N are chips 18
Is formed on the edge side (around the long side). Output electrodes 8 1-8 1 are arranged outside the respective stages 7 1 to 7-N of the driver unit (the chip peripheral). Wirings for the high voltage V H and the liquid crystal drive power supply voltages V 0 , V 2 , V 3 , and V 5 pass from each pad on the first block 16 of the driver circuit section 7 and the level shift circuit section 6 in the X direction, and After extending in the −Y direction, it extends on the second block 17 in the −X direction. The wiring of the low power supply voltage V CC also passes from the pad on the first block 16 of the latch circuit section 5 and the shift register circuit section 3 in the X direction, and after extending in the −Y direction, on the second block 17. It extends in the -X direction.

【0005】このようなチップレイアウトのLCD駆動
半導体集積回路のチップ18は例えばテープキャリア方
式によりテープキャリア(フィルム)に搭載される(T
AB実装)。また図11に示すように、チップ18は直
接液晶パネルに実装される(COG実装)。即ち、液晶
パネルは下ガラス基板G1 と上ガラス基板G2 をスペー
サ19で間隔保持し、その隙間に液晶物質LCを充填し
たもので、その基板上には透明行電極20と透明列電極
21が形成されている。ガラス基板の額縁領域(非表示
領域)22の面には、図11(B)に示すように、CO
G( Chip On Glass)技術でチップ18が平面直着けさ
れる。チップ18の電極(パッド)上にはバンプ20が
被着され、このバンプと透明行電極20又は透明列電極
21とが例えば熱圧着法ないし半田溶接法によりアウタ
ーボンディングされる。なお、額縁領域22の縁部側に
延出するリード23は配線基板(図示せず)側との接続
端子である。
The chip 18 of the LCD driving semiconductor integrated circuit having such a chip layout is mounted on a tape carrier (film) by, for example, a tape carrier method (T).
AB implementation). Further, as shown in FIG. 11, the chip 18 is directly mounted on the liquid crystal panel (COG mounting). That is, the liquid crystal panel has a lower glass substrate G 1 and an upper glass substrate G 2 spaced by a spacer 19, and the gap is filled with a liquid crystal material LC. On the substrate, a transparent row electrode 20 and a transparent column electrode 21 are provided. Are formed. As shown in FIG. 11B, CO 2 is provided on the surface of the frame region (non-display region) 22 of the glass substrate.
The chip 18 is directly mounted on a plane by G (Chip On Glass) technology. A bump 20 is attached on the electrode (pad) of the chip 18, and the bump and the transparent row electrode 20 or the transparent column electrode 21 are outer bonded by, for example, a thermocompression bonding method or a solder welding method. The lead 23 extending to the edge of the frame region 22 is a connection terminal with the wiring board (not shown).

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の電源
配線レイアウトのチップ18においては、電源電圧
H,V0 ,V2 ,V3 ,V5 ,VCCや接地電圧GND
の配線はチップ表面をチップ周辺部の電極(パッド)か
ら始まりコ字状(開ループ状)に周回して第2のブロッ
クの最終段3N ,5N ,6N ,7N で途絶されている。
このため、最終段における各電圧は各パッド近傍の導入
電圧の値と異なり変動し易い。最終段側になるに従い配
線長(配線インピーダンス)が増大するためである。例
えば液晶電源配線の長さは10数mm以上で、配線材料が
金属のときにも配線抵抗は数10Ωにも達している。こ
のような電源電圧の変動ないしバラツキは液晶表示のコ
ントラストむらの原因となっている。最終段で電源配線
を途絶するとなく、1巡回(ループ化)するように最終
段の配線と初段側の配線を多層配線技術により接続する
こともできるが、電源配線間や電源配線と信号配線との
クロス点が増加するので、配線インピーダンスのバラツ
キを不可避的に招来し、ドライバ回路部の出力特性がビ
ット毎で不均一になる。もっとも、多層配線技術を用い
ずに、配線を引き回してループ化することも可能である
が、配線占有面積の拡大を招く。チップサイズの大型化
は、図11に示すように、チップ18を平面着けする額
縁領域2の幅寸法Wの拡大を意味する。液晶パネルにお
いては非表示領域たる額縁領域22の幅寸法Wをできる
だけ抑えたいという要請がある。殊に、液晶パネルの高
精細画素化に対応してチップ18の多ビット化の進む状
況の下では幅寸法Wの拡大が強いられる傾向にあるの
で、なおさら配線占有面積を抑制しなければならない。
Meanwhile [0006] In the chip 18 of the above-described power supply wiring layout, the power supply voltage V H, V 0, V 2 , V 3, V 5, V CC and the ground voltage GND
Is started from the electrodes (pads) at the periphery of the chip, goes around in a U-shape (open loop shape), and is interrupted at the final stage 3 N , 5 N , 6 N , 7 N of the second block. I have.
For this reason, each voltage in the last stage is apt to fluctuate differently from the value of the introduced voltage near each pad. This is because the wiring length (wiring impedance) increases toward the final stage. For example, the length of the liquid crystal power supply wiring is more than 10 mm and the wiring resistance reaches several tens Ω even when the wiring material is metal. Such fluctuations or variations in the power supply voltage cause uneven contrast in the liquid crystal display. The wiring of the final stage and the wiring of the initial stage can be connected by the multilayer wiring technology so that the power wiring is not interrupted at the final stage but makes one circuit (loop), but between the power wiring and between the power wiring and the signal wiring. , The variation in wiring impedance is inevitably caused, and the output characteristics of the driver circuit unit become non-uniform for each bit. Of course, without using the multi-layer wiring technology, it is also possible to route the wiring to form a loop, but this increases the area occupied by the wiring. An increase in chip size means an increase in the width W of the frame region 2 on which the chip 18 is to be mounted, as shown in FIG. In a liquid crystal panel, there is a demand that the width dimension W of the frame region 22, which is a non-display region, be reduced as much as possible. In particular, in a situation where the number of bits of the chip 18 is increased in response to the increase in the number of pixels of the liquid crystal panel, the width W tends to be increased, so that the area occupied by the wiring must be further reduced.

【0007】そこで、上記問題点に鑑み、本発明の課題
は、回路セルと入力又は出力電極とが対をなすアレイ構
造を有する半導体装置において、チップレイアウトを改
善することにより、配線スペースの広げずに、各セルに
ついての配線インピーダンスのバラツキを抑制して各入
力又は出力特性の均一化を実現した半導体装置を提供す
ることにあり、またチップ実装面の縮小化を実現したデ
ータ入出力装置を提供することにある。
In view of the above problems, an object of the present invention is to improve the chip layout in a semiconductor device having an array structure in which circuit cells and input or output electrodes form a pair, so that the wiring space is not increased. Another object of the present invention is to provide a semiconductor device that realizes uniform input or output characteristics by suppressing variations in wiring impedance of each cell, and provides a data input / output device that realizes a reduced chip mounting surface. Is to do.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の半導体チップの
実装体は、配線パターンが形成された基板と、長方形状
の平面を有し前記平面に外部接続用電極を有する半導体
チップとを有し、前記基板と前記半導体チップの外部接
続用電極の形成面とを相対向させて実装する半導体チッ
プの実装体であって、前記外部接続用電極は前記半導体
チップの第1の長辺と第2の長辺と間の仮想中心線に沿っ
て概略配置され、前記外部接続用電極に接続された前記
配線パターンのうち、長辺側に延びた少なくとも一部の
前記配線パターンは、前記配線パターンにおける前記チ
ップと相重なる領域に位置する部位に屈曲部が形成され
てなることを特徴とする。また、LCD駆動用ICのよ
うな半導体装置は、実質的に同一の回路構成の複数のセ
ルからなる回路セルアレイを有している。そして、この
ような回路構成を採る半導体装置において、各セルに関
して外部との電気的接続を得るための例えば1対1のよ
うな固有の電極を対として持った電極・配線パタンとな
っている。この種の半導体装置において、本発明は、中
核的な回路構成たる回路セルアレイの領域を従来のよう
な半導体チップの周辺部寄りに作り込むのではなく、半
導体チップの周縁領域の内側領域に上記電極の列を形成
すると共に、その電極列と半導体チップの周縁領域との
間の非周縁領域において回路セルアレイを作り込んだレ
イアウトを採用するものである。内側領域に電極列が配
されたレイアウトによれば、チップの細長化を企画する
ことができ、またリード実装段階においては電極とリー
ドのボンディング時におけるリードのエッジショートも
防止できる。
Means for Solving the Problems A semiconductor chip mounting body of the present invention includes a substrate on which a wiring pattern is formed, a rectangular shape
Having an external connection electrode on the plane
An external connection between the substrate and the semiconductor chip.
A mounting body of a semiconductor chip mounted with the surface for forming a connection electrode facing each other, wherein the external connection electrode is the semiconductor
Along an imaginary center line between the first long side and the second long side of the chip
Is arranged roughly, and is connected to the external connection electrode.
At least part of the wiring pattern extending to the long side
The wiring pattern is characterized in that a bent portion is formed in a portion of the wiring pattern located in a region overlapping with the chip. Further, a semiconductor device such as an LCD driving IC has a circuit cell array composed of a plurality of cells having substantially the same circuit configuration. In a semiconductor device having such a circuit configuration, an electrode / wiring pattern having a pair of unique electrodes, such as one-to-one, for obtaining electrical connection with the outside of each cell is provided. In this type of semiconductor device, the present invention does not make the area of the circuit cell array, which is a core circuit configuration, closer to the peripheral part of the semiconductor chip as in the related art, but instead places the electrode in the inner area of the peripheral area of the semiconductor chip. And a layout in which a circuit cell array is formed in a non-peripheral region between the electrode column and the peripheral region of the semiconductor chip. According to the layout in which the electrode rows are arranged in the inner region, it is possible to plan a thinner chip, and it is also possible to prevent an edge short of a lead at the time of bonding the electrode and the lead in the lead mounting stage.

【0009】このような半導体チップのTAB実装等に
おいて、インナーリードと電極の接続構造としては、電
極の列とそれに実質的に平行のチップ辺のうち距離の長
い方のチップ辺から電極に対しインナーリードを接続
し、インナーリードとチップのオーバーラップ長さを大
きくすることが望ましい。そして装置の基板に対するチ
ップ実装法としては、そのインナーリードから引出しリ
ード部分を介したアウターリード側が基板の電極配線に
接続することにより、オーバーラップ長さの存在によっ
て基板実装領域ないし占有幅を圧縮することができる。
In such TAB mounting of a semiconductor chip or the like, the connection structure between the inner lead and the electrode is such that the electrode row and the chip side which is substantially parallel to the longer side of the chip are parallel to the inner side with respect to the electrode. It is desirable to connect the leads and increase the overlap length between the inner lead and the chip. As a chip mounting method for the substrate of the device, the outer lead side through the lead out from the inner lead is connected to the electrode wiring of the substrate, thereby compressing the substrate mounting area or occupied width due to the presence of the overlap length. be able to.

【0010】2つ以上のブロックに分割される回路セル
アレイ構造を持つ半導体装置においては、当然のことな
がら、複数のセルの電極は第1のブロックに関する第1
の電極列及び第2のブロックに関する第2の電極列に少
なくとも分割されるが、かかる場合においても、本発明
は、第1のブロックに属する第1の回路セルアレイは半
導体チップの第1の長辺とその内側領域に形成された第
1の電極列とに挟まれた第1の非周縁領域に作り込み、
また第2のブロックに属する第2の回路セルアレイは半
導体チップの第1の長辺に対向する第2の長辺とその内
側領域に形成された第2の電極列とに挟まれた第2の非
周縁領域に作り込むというレイアウトを採用する。この
ようなレイアウトの半導体装置によれば、勿論、チップ
とインナーリードのオーバーラップ長さを増大させるこ
とができるので、上述のような効果を同様に奏するもの
である。
In a semiconductor device having a circuit cell array structure divided into two or more blocks, the electrodes of a plurality of cells are naturally connected to the first block in the first block.
In this case, the first circuit cell array belonging to the first block is provided with the first long side of the semiconductor chip. And a first non-peripheral region sandwiched between the first electrode row formed in the inner region and the first electrode row,
The second circuit cell array belonging to the second block has a second circuit cell array sandwiched between a second long side opposed to the first long side of the semiconductor chip and a second electrode row formed inside the second long side. A layout in which it is formed in a non-peripheral region is adopted. According to the semiconductor device having such a layout, of course, the overlap length between the chip and the inner lead can be increased, so that the same effects as described above can be obtained.

【0011】両電極列を相隣接して配置することが望ま
しいが、整列配列でなくとも良い。例えば、両電極列の
電極群を千鳥状配置とした場合には、チップ幅を縮小す
ることもでき、チップ実装の領域幅を短縮できる。電源
電極又は接地電極の配置としては、回路セルアレイの電
極列の配列方向の両端又は片端の外側に隣接した領域に
おいて形成することが望ましい。電極群がチップの内側
領域上で直線状になるからである。このような直線状の
電極群を持つチップにおける接続配線のレイアウトとし
ては、その電源電極又は接地電極の配線の複数本がそれ
らを周回する閉ループ配線(リング状結線)とすること
が望ましい。配線長の短縮と配線クロス点の減少を同時
に達成することができ、ビット毎の入力又は出力特性を
均一化できる。更に、電源電極又は接地電極に隣接して
半導体チップの短辺領域に外部と電気的接続を得る入出
力電極の列が形成されている場合には、すべての電極は
実質的にI字形状を形成する。このI字形状電極配置は
チップの直着け実装においてそれらの電極による自己平
行出し機能が発揮される。上記のチップとインナーリー
ドとの接続法は、回路セルの電極に対する両吊りないし
両持ち梁構造のインナーリードを採用することが望まし
い。電極群の直線状配置の採用により一括ボンディング
時のチップ平行度を出し易くなり、また応力減少も期待
できるので、アライメント性の向上で一括ボィンデング
の歩留りが改善する。また、インナーリードによるチッ
プ表面の遮蔽被覆によるボンディング時のチップ能動面
の押し傷の防止や放熱特性の改善等も醸し出される。こ
のようなリードの実装されたチップもまた前述した方法
で基板へ搭載することにより、実装領域幅の縮小化や装
置コンパクト化を図ることができる。
Although it is desirable that both electrode rows are arranged adjacent to each other, they need not be aligned. For example, when the electrode groups of both electrode rows are arranged in a staggered arrangement, the chip width can be reduced, and the chip mounting area width can be reduced. The arrangement of the power supply electrode or the ground electrode is desirably formed in a region adjacent to both ends or one end outside in the arrangement direction of the electrode row of the circuit cell array. This is because the electrode group becomes linear on the inner region of the chip. As a layout of the connection wiring in the chip having such a linear electrode group, it is desirable to use a closed loop wiring (ring connection) in which a plurality of wirings of the power supply electrode or the grounding electrode go around them. Shortening of the wiring length and reduction of the wiring cross points can be achieved at the same time, and the input or output characteristics for each bit can be made uniform. Furthermore, when a row of input / output electrodes for obtaining an electrical connection with the outside is formed in the short side region of the semiconductor chip adjacent to the power supply electrode or the ground electrode, all the electrodes are substantially I-shaped. Form. This I-shaped electrode arrangement exerts a self-parallelizing function by those electrodes in direct mounting of chips. As for the method of connecting the chip and the inner lead, it is desirable to adopt an inner lead having a double-hanging or double-supported beam structure with respect to the electrode of the circuit cell. By adopting the linear arrangement of the electrode group, it becomes easy to obtain the chip parallelism at the time of collective bonding, and a reduction in stress can be expected. Therefore, the yield of collective binding is improved by improving the alignment property. In addition, it is possible to prevent the chip active surface from being injured when bonding by shielding and covering the chip surface with the inner leads, and to improve the heat radiation characteristics. By mounting the chip on which such leads are mounted on the substrate by the above-described method, the width of the mounting area can be reduced and the device can be made more compact.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

【実施例1】図1は本発明の実施例1に係る半導体装置
のチップレイアウト図である。なお、同図に示す実線ジ
グザグ部分は配線クロス箇所を表す。
Embodiment 1 FIG. 1 is a chip layout diagram of a semiconductor device according to Embodiment 1 of the present invention. It should be noted that the solid line zigzag portion shown in FIG.

【0013】この半導体チップ30はLCD駆動型IC
で、COG実装の際の額縁領域の幅寸法を抑制するため
に長方形ないし細長状としてある。このチップ30に作
り込まれた集積回路は、従来と同様に、中核的な回路構
成としてNビット(例えば100ビット)のシフトレジ
スタ回路部3,ラッチ回路部5,レベルシフト回路部
6,及びドライバ回路部7を備えている。そして回路セ
ルアレイの各ビットにはそれ固有の出力(ドライバ出
力)YN の矩形の出力電極(パッド)8N がドライバ回
路部7の各段7N の最短隣接領域に形成されている。回
路セルアレイは第1のブロック31と第2のブロック3
2に分割されている。即ち、チップの長辺31a,32
aに平行な中心線L1 を実質的な境界としてその両側領
域に第1のブロック31と第2のブロック32が振り分
けられている。第1のブロック31に属するビットは1
〜iで、第2のブロックに属するビットはi+1〜Nで
ある。但し、Nは偶数である。従って、セル面積は実質
的に相等しいので、中心線L1に対してはその両側に1
ビット目のセルとNビット目のセル、2ビット目のセル
とN−1ビット目のセルのように配列されている。ある
1つの回路セルに着目すると、シフトレジスタ回路部3
の各段がチップ30の周辺領域側に作り込まれて、ドラ
イバ回路部の各段がチップの中心線L1 側に作り込まれ
ている。このような作り込み形式は従来のチップの場合
の形式とは丁度逆の関係になっている。従って、各ビッ
トの信号電極81 〜8N はドライバ回路部に隣接した中
心線L1 に沿うX方向帯状領域(中央領域)33に形成
されている。第1のブロック31に属するビットの出力
電極81 〜8i と第2のブロック32に属するビットの
出力電極8i+1 〜8N は相互に千鳥状(ジグザグ状)に
配列されている。このような千鳥配列により隣接する出
力電極8i ,8i+1 同士はY方向にオーバーラップ部分
を持つので、チップの幅(Y方向長さ)を抑えることが
できる。またシフトレジスタ回路部3とチップの長辺3
1a,32aとの間は電極(パッド)の非形成領域であ
るので、シフトレジスタ回路部3をできる限り長辺31
a,32a寄りまで作り込むことができる。この点から
もチップの幅寸法を抑制することができる。勿論、その
分、チップ長さ(X方向長さ)の増大を招くが、出力電
極8のピッチ(約80ミクロン)に対してLCDの画素
は充分大きいので、後述するように、COG実装上むし
ろ有利である。
The semiconductor chip 30 is an LCD driving type IC.
In order to suppress the width dimension of the frame region at the time of COG mounting, it is rectangular or elongated. The integrated circuit built in the chip 30 has an N-bit (for example, 100-bit) shift register circuit section 3, a latch circuit section 5, a level shift circuit section 6, and a driver as a core circuit configuration, as in the related art. A circuit section 7 is provided. Each bit of the circuit cell array has a rectangular output electrode (pad) 8 N of its own output (driver output) Y N formed in the shortest adjacent region of each stage 7 N of the driver circuit section 7. The circuit cell array includes a first block 31 and a second block 3
It is divided into two. That is, the long sides 31a, 32 of the chip
the first block 31 in the side regions is the second block 32 are distributed as a substantial boundary center line L 1 is parallel to a. The bit belonging to the first block 31 is 1
, The bits belonging to the second block are i + 1 to N. Here, N is an even number. Accordingly, since the cell area substantially equal to each other, the both sides with respect to the center line L 1 1
They are arranged like a cell at the bit, a cell at the Nth bit, a cell at the second bit, and a cell at the (N−1) th bit. Focusing on one circuit cell, the shift register circuit unit 3
Each stage is built in the peripheral area of the chip 30, each stage of the driver circuit portion is fabricated in the center line L 1 of the chip of the. Such a built-in form is exactly the opposite of the form of the conventional chip. Thus, the signal electrodes 8 1 to 8 N for each bit is formed in the X-axis strip region (central region) 33 along the center line L 1 adjacent to the driver circuit portion. The output electrodes 8 1 to 8 i of the bits belonging to the first block 31 and the output electrodes 8 i + 1 to 8 N of the bits belonging to the second block 32 are arranged in a zigzag pattern. Since the output electrodes 8 i and 8 i + 1 adjacent to each other in the staggered arrangement have an overlapping portion in the Y direction, the width of the chip (the length in the Y direction) can be suppressed. The shift register circuit section 3 and the long side 3 of the chip
1a and 32a are regions where no electrode (pad) is formed.
a, up to 32a. From this point as well, the width dimension of the chip can be suppressed. Of course, the length of the chip (length in the X direction) is increased by that much, but the pixel of the LCD is sufficiently large with respect to the pitch of the output electrode 8 (about 80 microns). It is advantageous.

【0014】回路セルアレイの形成領域の両端外側には
図1の一点鎖線で囲まれた領域に制御ロジック部34,
35が作り込まれている。また出力電極81 〜8N の形
成領域たる中心線L1 の帯状領域33の両端外側には矩
形の電源電極10〜15及び矩形の接地電極19が形成
されている。その形成領域のX方向長さは帯状領域33
の幅寸法とほぼ等しく、その領域内には2行3列で6個
の電極(パッド)が形成されている。帯状領域33の両
端外側に形成されたそれぞれの電源電極10〜15及び
接地電極19は短辺35a,35bに平行な中心線L2
に関し対称配置にある。図1に示すように中心線L2
の列は液晶駆動電源電圧V0 の電極11と高圧電源部供
給用の電源電圧VH の電極15である。この列の隣接外
側の列は液晶駆動電源電圧V3 の電極13と液晶駆動電
源電圧V2 の電極12である。図示左側の最外列は接地
電圧GNDの電極19と液晶駆動電源電圧V5 の電極1
4である。また図示右側の最外列は低電源部供給用の電
源電圧VCCの電極10と液晶駆動電源電圧V5 の電極1
4である。図示左右の高電源電圧VH の電極15,15
に接続する電源配線(Al配線)36は帯状領域33を
隣接して周回している。この電源配線36は高電圧部た
るドライバ回路部7に対して給電する。片側の電極15
は省略することもできるが、同様のチップに対してカス
ケード接続する場合に利用される。また同様に、図示左
右の液晶駆動電源電圧V0 の電極11,11に接続する
電源配線37は閉ループ接続(リング状接続)の電源配
線36の外側を隣接して周回している。この電源配線3
7は高電圧部たるドライバ回路部7に対して給電する。
片側の電極11は省略することもできるが、同様のチッ
プに対してカスケード接続する場合に利用される。図示
左右の液晶駆動電源電圧V2 の電極12,12に接続す
る電源配線38も閉ループ接続の電源配線37の外側を
隣接して周回している。この電源配線38も高電圧部た
るドライバ回路部7に対して給電する。片側の電極12
はカスケード接続用の電極である。液晶駆動電源電圧V
3 の電極13,13に接続する電源配線39も閉ループ
接続の電源配線38の外側を周回している。この電源配
線38の敷設領域はドライバ回路部7のレベルシフト回
路部6寄りで、ドライバ回路部7に対して給電する。ま
た片一方の電極13はカスケード接続用の電極である。
最後の液晶駆動電源電圧V5の電極14,14に接続す
る電源配線40も閉ループ接続の電源配線39の外側を
隣接して周回している。この電源配線40はドライバ回
路部7に対して給電する。また片一方の電極14はカス
ケード接続用の電極である。このように、ドライバ回路
部7に対し給電すべき電源電圧VH ,V0 ,V2 ,V
3 ,V5 の電源配線36,37,38,39,40は内
側領域の出力電極81 〜8N の周りに1巡回した閉ルー
プ接続である。従って、これらの配線は互いにクロスし
ていないので、配線インピーダンスの均一化による表示
コントラストのむらを抑制することができる。また図1
0に示す配線配置と比較して明らかなように、各電源配
線の配線長の減少をもたらしている。各電源配線がチッ
プの中心線L1 の帯状領域33の周りを隣接して周回し
ているためである。特に、Y方向長さの減少が顕著であ
る。従って、配線抵抗の減少により各ビットにおける電
源電圧の変動ないしバラツキも抑制することができる。
これも表示コントラストのむらを改善する。
Outside the both ends of the circuit cell array formation region, the control logic portion 34,
35 are built. The power supply electrodes 10 to 15 and a rectangular ground electrode 19 of the rectangle are formed at both ends outside the output electrodes 8 1 to 8 N forming region serving center line L 1 of the band-like region 33. The length of the formation region in the X direction is the band-like region 33.
, And six electrodes (pads) are formed in two rows and three columns in the area. Each of the power supply electrodes 10 to 15 and the ground electrode 19 formed on the outer sides of both ends of the band-shaped region 33 has a center line L 2 parallel to the short sides 35 a and 35 b.
Are symmetrically arranged with respect to Column centerline L 2 side as shown in FIG. 1 is an electrode 15 of the power supply voltage V H of the liquid crystal drive power source electrode 11 of the voltage V 0 and the high-voltage power supply unit for supplying. Adjacent rows of outer this column is an electrode 12 of the electrode 13 of the liquid crystal driving power source voltage V 3 crystal driving power supply voltage V 2. Electrode 1 of the outermost row of the left side is the electrode 19 of the ground voltage GND liquid crystal driving power source voltage V 5
4. The outermost row on the right side of the figure shows the electrode 10 of the power supply voltage V CC for supplying the low power supply section and the electrode 1 of the liquid crystal drive power supply voltage V 5 .
4. Left and right electrodes 15, 15 of high power supply voltage V H
The power supply wiring (Al wiring) 36 connected to the belt-like region 33 is adjacent to the band-shaped region 33 and circulates. The power supply wiring 36 supplies power to the driver circuit section 7 which is a high voltage section. One side electrode 15
Can be omitted, but is used when a cascade connection is made to similar chips. Similarly, the power supply wiring 37 connected to the left and right electrodes 11 and 11 of the liquid crystal drive power supply voltage V 0 circulates adjacent to the outside of the power supply wiring 36 connected in a closed loop (ring connection). This power supply wiring 3
7 supplies power to the driver circuit section 7 which is a high voltage section.
Although the electrode 11 on one side can be omitted, it is used for cascade connection with a similar chip. The power supply wiring 38 connected to the electrodes 12, 12 of the left and right liquid crystal drive power supply voltages V 2 in the drawing also circulates adjacent to the outside of the closed-loop connection power supply wiring 37. The power supply wiring 38 also supplies power to the driver circuit section 7 which is a high voltage section. One electrode 12
Is an electrode for cascade connection. LCD drive power supply voltage V
The power supply line 39 connected to the third electrodes 13 also circulates outside the power supply line 38 in the closed loop connection. The area where the power supply wiring 38 is laid is near the level shift circuit section 6 of the driver circuit section 7 to supply power to the driver circuit section 7. One electrode 13 is an electrode for cascade connection.
Power wiring 40 connected to the electrodes 14, 14 of the last of the liquid crystal drive power supply voltage V 5 is also orbiting adjacent the outer power supply wiring 39 of the closed-loop connection. The power supply wiring 40 supplies power to the driver circuit unit 7. One electrode 14 is an electrode for cascade connection. As described above, the power supply voltages V H , V 0 , V 2 , V
3 power supply wires 36,37,38,39,40 of, V 5 is 1 cyclic closed loop connected around the output electrodes 8 1 to 8 N of the inner region. Therefore, since these wirings do not cross each other, it is possible to suppress uneven display contrast due to uniform wiring impedance. FIG.
As is apparent from comparison with the wiring arrangement shown as 0, the wiring length of each power supply wiring is reduced. Each power supply wiring is because orbiting adjacent around the band-like region 33 of the center line L 1 of the chip. In particular, the decrease in the length in the Y direction is remarkable. Therefore, the fluctuation or variation of the power supply voltage of each bit due to the decrease of the wiring resistance can be suppressed.
This also improves the uneven display contrast.

【0015】接地電圧GNDの電極19に接続する接地
配線は第1のブロック31側と第2のブロック側32の
それぞれにおいて3本に分岐しており、その内側の接地
配線41はドライバ回路部7とレベルシフト回路部6と
の境界領域に、中間の接地配線42はレベルシフト回路
部6とラッチ回路部5との境界領域に、外側の接地配線
43はシフトレジスタ回路部3の外側領域に各々敷設さ
れている。第1のブロック31と第2のブロック32の
それぞれにおいて電源電圧VH の電源配線36から分岐
された外側の電源配線44はレベルシフト回路部6上に
敷設されている。更に、低電圧電源VCCの電極10に接
続する電源配線45はラッチ回路部5とシフトレジスタ
回路部3の境界領域に敷設されている。なお、接地配線
41,42,43、分岐した電源配線44、通常の電源
配線45も閉ループ接続することが可能であるが、表示
特性には影響を及ぼさないので、従来と同様に、本実施
例では開ループ状態にしてある。
The ground wiring connected to the electrode 19 of the ground voltage GND is branched into three on each of the first block 31 side and the second block side 32, and the ground wiring 41 on the inner side is connected to the driver circuit section 7. In the boundary area between the level shift circuit section 6 and the level shift circuit section 6, the intermediate ground wiring 42 is provided in the boundary area between the level shift circuit section 6 and the latch circuit section 5, and the outer ground wiring 43 is provided in the outer area of the shift register circuit section 3. Has been laid. In each of the first block 31 and the second block 32, an outer power supply line 44 branched from the power supply line 36 of the power supply voltage V H is laid on the level shift circuit unit 6. Further, a power supply wiring 45 connected to the electrode 10 of the low-voltage power supply V CC is laid in a boundary area between the latch circuit unit 5 and the shift register circuit unit 3. Although the ground wirings 41, 42, 43, the branched power supply wiring 44, and the normal power supply wiring 45 can be connected in a closed loop, they do not affect the display characteristics. Now, it is in an open loop state.

【0016】低圧電源電圧VCCや接地電圧GNDはロジ
ック制御部35,36でも給電されている。チップの短
辺35a,35b寄りの中央領域にはデータ信号DIN
出力データDOUT ,クロックパルスCP,交流波形化ク
ロックM等の所要の入出力信号電極の列46,47が形
成されている。このため、中心線L1 に沿う電極81
N , 10〜15,19の群とその両端側の直交した入
出力信号電極の列46,47はI字状を呈している。中
心線L1 を境に両側に第1ブロック31と第2ブロック
32に分割された回路レイアウトでは、両ブロックとも
平等であることから、入出力信号電極も中心線L1 を境
に両側に均等に振り分けることが望ましい。それらの信
号配線のレイアウトの対称性や配線長の等値性を図るた
めである。電極群のI字形状は、後述するように、チッ
プの基板直着け(COG)実装においても優位性を確保
できるが、中心線L1 に沿う直線状電極群の両端側に直
交した入出力信号電極の列46,47が存在すること
は、COG実装の際におけるチップ自身の平行出しを容
易にする。もっとも、平行出し工程はこの入出力信号電
極の列46,47のみに依拠するものでないが、チップ
長(X方向長さ)が長ければ長いほど重要な意義を持
つ。
The low-voltage power supply voltage V CC and the ground voltage GND are also supplied to the logic controllers 35 and 36. The data signal D IN , in the central area near the short sides 35a and 35b of the chip
Required input / output signal electrode columns 46 and 47 for the output data D OUT , clock pulse CP, AC waveform clock M, etc. are formed. Thus, electrodes 8 along the center line L 1 1 ~
The group of 8 N , 10 to 15 and 19 and the rows 46 and 47 of input / output signal electrodes orthogonal to both ends of the group have an I shape. The first block 31 on either side of the center line L 1 as a boundary and the division circuit layout in the second block 32, even because it is equal in both blocks, on both sides to the input and output signal electrodes even boundary center line L 1 It is desirable to assign to. This is for achieving the symmetry of the layout of these signal wirings and the equality of the wiring length. I-shaped electrode group, as described below, wearing substrate straight chip (COG) is also possible to secure the superiority in the implementation, orthogonal to the input and output signals at both ends of the linear electrode group along the center line L 1 The presence of the electrode rows 46 and 47 facilitates parallelization of the chip itself during COG mounting. Of course, the paralleling process does not depend only on the input / output signal electrode rows 46 and 47, but the longer the chip length (the length in the X direction), the more significant the significance.

【0017】本実施例ではまた別にチップのコーナー部
において位置決め及び支持用のダミー電極(ダミーパッ
ド)48a〜48dが形成されている。多ビット化のた
めには、従来は図10に示す如くチップのコーナー部に
はドライバ出力の信号電極が形成されており、位置出し
用のダミー電極と設けることは問題があったが、本実施
例ではドライバ出力信号電極群が中心線L1 の帯状領域
33に形成され、しかも入出力電極の列もその両端側に
形成されているので、コーナー部にダミー電極48a〜
48dを確保できる派生的利益がある。
In this embodiment, dummy electrodes (dummy pads) 48a to 48d for positioning and supporting are formed separately at the corners of the chip. In order to increase the number of bits, signal electrodes for driver output are conventionally formed at the corners of the chip as shown in FIG. 10, and it has been problematic to provide dummy electrodes for positioning. in the example driver output signal electrodes are formed on the band-like region 33 of the center line L 1, and since the column of the input and output electrodes are also formed on both ends thereof, the dummy electrode 48a~ the corner
There is a derivative benefit that can secure 48d.

【0018】図2は本実施例に係るチップのTAB実装
状態を示す断面図、図3はその平面図である。上述のレ
イアウト構成を有するチップ30は拡散済みウェハの段
階の状態を示すものであるが、その後、各電極(パッ
ド)にAuのバンプ51を形成し、バンプ付きウェハを
完成した後、ダイシングによってチップ化される。(チ
ップ工程)。一方、組立工程に使用するテープキャリア
(フィルム)52はチップ30の電極配置に合わせたリ
ードパタンがスプロケット孔52aとデバイス孔52b
を持つプラスチックフィルム(例えばポリイミド・フィ
ルム)上に形成されている。デバイス孔52aの開口面
積はチップ30の平面積より小さく、実質的に、チップ
30の中央帯状の領域に形成された出力電極81 〜8N
等のバンプ51が平面的に露出する領域のみに限定され
ている。このテープキャリア52はデバイス孔52aの
外に樹脂回り込み用のスリット53a,53bを有して
いる。テープキャリア52はプラスチックフィルム54
上に接着層55を被着した接着剤付きフィルム(2層フ
ィルム)である。このフィルムの上には銅箔などの金属
箔をラミネートし、ホトレジスト技術やエッチング技術
を用いて図3に示すようなリードパタンが形成されてい
る。このリードパタンは、デバイス孔52aへ突き出て
おり、バンプ51とインナーリードボンディングされる
べきフィンガーリード(インナーリード)56と、LC
Dパネル側の行又は列電極とアウターリードボンディン
グされるべきアウターリード57と、フィンガーリード
56とアウターリード57を一体的に連結する引出しリ
ード部分58とを有するものである。なお、フィルム5
2の印刷配線板側に接続する引出しリード部分58の先
端には端子58が形成されている。
FIG. 2 is a cross-sectional view showing the chip according to this embodiment in a TAB mounting state, and FIG. 3 is a plan view thereof. The chip 30 having the above-described layout configuration shows the state of the stage of the diffused wafer. After that, Au bumps 51 are formed on the respective electrodes (pads), and the wafer with bumps is completed. Be transformed into (Chip process). On the other hand, the tape carrier (film) 52 used in the assembling process has a sprocket hole 52a and a device hole 52b in which a lead pattern corresponding to the electrode arrangement of the chip 30 is formed.
Is formed on a plastic film (for example, a polyimide film) having. The opening area of the device hole 52a is smaller than the plane area of the chip 30, substantially, the output electrode 8 1-8 formed in the central zone area of the chip 30 N
Is limited to only the area where the bump 51 is exposed in a plane. The tape carrier 52 has slits 53a and 53b for wrapping around the resin outside the device hole 52a. The tape carrier 52 is a plastic film 54
This is a film with an adhesive (two-layer film) on which an adhesive layer 55 is adhered. A metal foil such as a copper foil is laminated on this film, and a lead pattern as shown in FIG. 3 is formed using a photoresist technique or an etching technique. This lead pattern protrudes into the device hole 52a, and includes a finger lead (inner lead) 56 to be subjected to inner lead bonding with the bump 51,
It has an outer lead 57 to be outer lead bonded to a row or column electrode on the D panel side, and a lead lead portion 58 for integrally connecting the finger lead 56 and the outer lead 57. In addition, film 5
Terminals 58 are formed at the tips of the lead-out lead portions 58 connected to the printed wiring board 2 of FIG.

【0019】このようなテープ工程により作製されたテ
ープキャリア52と前述のバンプ付きチップ30の組立
工程(TAB実装)が行われる。即ち、テープ送りと共
に、チップ30をフェイスアップでフィンガーリード5
6と位置合わせしてボンディングツールによりフィンガ
ーリード51とバンプ51とがインナーリードボンディ
ングされる。この後、ポッティング法によりモールド用
樹脂59でチップ30を樹脂封止する。ポッティング時
においては、フィルム52自身がデバイス孔52の外に
樹脂回り込み用のスリット53a,53bを備えている
ので、チップ30の全面を隈無く封止するとができる。
勿論、デバイス孔52aの開口面積をチップ30の面積
以上に設定することで、樹脂モールドの未封止部分を無
くすこともできるが、本実施例におけるフィルム52の
デバイス孔52aと樹脂回り込み用のスリット53a,
53bとの開口縁部60a,60bはリードの裏打ち補
強部としての意義を有している。これらの開口縁部60
a,60bが実質上チップ30のバンプ51近傍に存在
するので、フィンガーリード56の片持ち梁長さ(張出
長さ)はY1 である。開口縁部60a,60bが存在し
ない場合の片持ち梁長さはY2 であるから、Y1 <Y2
で、梁長さ(張出長さ)の短縮長さは実質的にY2 −Y
1 である。フィンガーリード56の長さが短いほどイン
ナーリードボンディング時における位置合わせが容易で
あり、またチップのサポート力を増強できる。更にバン
プ51群が直線状に配列しているため、一括ボンディン
グ時のアライメント性が向上し、大型サイズのチップで
もボンディング性が損なわれない。インナーリード群は
チップのほぼ全面を覆っているので、一括ボンディング
ツールによるチップ表面の損傷を抑えることができる。
バンプピッチが100ミクロン以下の微細ピッチの場合
でも一括ボンディングが可能である。また短縮されたフ
ィンガーリード56によりその撓み量が減少する点とバ
ンプ51ないし電極(パッド)がチップ30の中央領域
に形成されている点から、フィンガーリード56とチッ
プ30のエッジとが接触しにくく、エッジショートを防
止するこができる。これは殊にポッティングによりモー
ルド用樹脂59の重みで両者が接触する危険性を排除で
きる。開口縁部60a,60bのないときには、フィン
ガーリード56とバンプ51の位置合わせ容易性の利益
はないが、チップエッジ付近のフィンガーリード56に
絶縁層を形成することができる。チップエッジ付近にバ
ンプ51が形成されていないためである。かかる場合も
エッジショートを防止することができる。更に、チップ
表面の上を覆うインナーリード群によって放熱特性が改
善される。
An assembling process (TAB mounting) of the tape carrier 52 manufactured by such a tape process and the above-described chip 30 with bumps is performed. That is, the chip 30 is fed up with the finger lead 5 while the tape is being fed.
6 and the finger lead 51 and the bump 51 are subjected to inner lead bonding by a bonding tool. Thereafter, the chip 30 is sealed with a molding resin 59 by a potting method. At the time of potting, since the film 52 itself has slits 53a and 53b for wrapping around the resin outside the device hole 52, the entire surface of the chip 30 can be completely sealed.
Of course, by setting the opening area of the device hole 52a to be equal to or larger than the area of the chip 30, the unsealed portion of the resin mold can be eliminated. 53a,
Opening edge portions 60a and 60b with 53b serve as a backing reinforcement portion of the lead. These opening edges 60
a, because 60b is present near the bumps 51 of substantially the chip 30, the cantilever length of the finger leads 56 (projecting length) is Y 1. Opening edge portion 60a, since the cantilever length when 60b is not present is a Y 2, Y 1 <Y 2
And the shortened length of the beam length (extended length) is substantially Y 2 −Y
Is one. The shorter the length of the finger lead 56 is, the easier the alignment at the time of inner lead bonding is, and the stronger the support force of the chip can be. Further, since the bumps 51 are arranged in a straight line, the alignment property at the time of collective bonding is improved, and the bonding property is not impaired even in a large-sized chip. Since the inner lead group covers almost the entire surface of the chip, damage to the chip surface by the collective bonding tool can be suppressed.
Collective bonding is possible even when the bump pitch is a fine pitch of 100 microns or less. Further, since the amount of bending is reduced by the shortened finger lead 56 and the bump 51 or the electrode (pad) is formed in the central region of the chip 30, the finger lead 56 and the edge of the chip 30 are hardly in contact with each other. And edge short-circuit can be prevented. This can eliminate the danger of contact between the two by the weight of the molding resin 59 particularly by potting. When there is no opening edge portion 60a, 60b, there is no advantage in the ease of alignment between the finger lead 56 and the bump 51, but an insulating layer can be formed on the finger lead 56 near the chip edge. This is because the bump 51 is not formed near the chip edge. Also in such a case, edge short-circuit can be prevented. Further, the heat radiation characteristic is improved by the inner lead group covering the chip surface.

【0020】図4は上述のチップの別のTAB実装状態
を示す断面図である。このテープキャリア60において
は、デバイス孔52bに突き出たインナーリード61は
フィルム54に対して両持ち梁構造とされている。チッ
プ30の中央領域(内側領域)にバンプ51が存在して
いるので、インナーリードを片持ち梁構造とする必然性
はない。この両持ち梁ないし両吊り構造によれば、図3
に示す片持ち梁構造に比して、バンプ51との位置合わ
せ精度が一層改善され、サポート力も倍加する。勿論、
チップエッジのショートの問題も発生しない。更にま
た、チップ表面の損傷防止も確保でき、放熱特性も優れ
ている。
FIG. 4 is a sectional view showing another TAB mounting state of the above-mentioned chip. In this tape carrier 60, the inner leads 61 protruding into the device holes 52b have a doubly supported structure with respect to the film. Since the bumps 51 are present in the central region (inner region) of the chip 30, there is no necessity for the inner lead to have a cantilever structure. According to this doubly supported or double suspended structure, FIG.
As compared with the cantilever structure shown in FIG. 1, the accuracy of alignment with the bumps 51 is further improved, and the support force is doubled. Of course,
The problem of chip edge short does not occur. Furthermore, damage prevention on the chip surface can be ensured, and the heat radiation characteristics are also excellent.

【0021】図5(A)は液晶パネルの額縁領域62に
COG実装した状態を示す平面図である。液晶パネルの
リードのうち引出しリード部分58がチップ30の平面
上にオーバーラップしている。ところで、一般に、引出
しリード部分58はバンプ51のピッチより始まりこれ
より長い画素の行又は列間隔に徐々に合わせ込む意義が
ある。バンプ51のピッチが微細化すればするほど、引
出しリード部分58の長さを大きくする必要がある。屈
曲度がきつくなればなるほどリード間距離がバンプピッ
チより小さくなり、ショートしやすくなるからである。
従って、LCD駆動IC等のような多ビット化ないし電
極ピッチ微細化の下においては、リードの屈曲度を抑え
る必要性があるので、引出しリード部分58は不可避的
に長くしなければならない。このような引出しリード部
分58の長大化はガラス基板G1,G2 の額縁領域の幅
寸法(張出長さ)を増やす結果となる。しかしながら、
本実施例においては、図3に示すように、引出しリード
部分58のすべてがテープキャリア52の上にあるので
はなく、引出しリード部分58の一部58aがチップ3
0上にオーバーラップしている。これはバンプ51がチ
ップ30の中央領域に形成されているため、そのバンプ
51とチップ30の長辺31a,32aの間で引出しリ
ード部分58の一部58aを形成できるからである。こ
のオーバーラップ部分58aの長さは前述したインナー
リード56の短縮長さY2 −Y1 と実質的に等しい。こ
のため、概略的な評価によれば、図5(B)に示すよう
に、従来の額縁領域の幅寸法Wに比して本例のその幅寸
法W1 は2(Y2 −Y1 )だけ小さい。額縁領域62の
幅寸法が圧縮されることは非表示面積の縮小化ないし細
長化を意味し、LCDパネルの実装品たる液晶表示装置
のコンパクト化ないし外観体裁(デザイン)の改善に寄
与する。換言すると、額縁領域62の幅寸法を増大させ
ずに、チップの更なる多ビット化ないし細長化を図るこ
とができる。
FIG. 5A is a plan view showing a state in which COG mounting is performed on the frame region 62 of the liquid crystal panel. The lead-out lead portion 58 among the leads of the liquid crystal panel overlaps the plane of the chip 30. By the way, in general, it is meaningful that the lead-out lead portion 58 starts from the pitch of the bumps 51 and gradually adjusts to a longer pixel row or column interval. As the pitch of the bumps 51 becomes finer, the length of the lead-out lead portion 58 needs to be increased. This is because the tighter the degree of bending, the smaller the distance between the leads than the bump pitch, and the easier it is to short-circuit.
Therefore, under multi-bit or finer electrode pitch as in LCD driving ICs, it is necessary to suppress the degree of bending of the leads, and the lead 58 must be inevitably lengthened. Such an increase in the length of the lead-out lead portion 58 results in an increase in the width dimension (extended length) of the frame region of the glass substrates G 1 and G 2 . However,
In this embodiment, as shown in FIG. 3, not all of the lead-out lead portions 58 are on the tape carrier 52, but a part 58a of the lead-out lead portion 58 is
0 overlaps. This is because the bumps 51 are formed in the central region of the chip 30, so that a part 58a of the lead-out lead portion 58 can be formed between the bumps 51 and the long sides 31a, 32a of the chip 30. The length of the overlap portion 58a is substantially equal to the shorter length Y 2 -Y 1 of the inner leads 56 described above. Therefore, according to the schematic evaluation, FIG. 5 (B), the its width W 1 of the present embodiment as compared to the width W of the conventional frame region 2 (Y 2 -Y 1) Only small. The reduction in the width of the frame region 62 means a reduction in the non-display area or an increase in the length of the non-display area, which contributes to a reduction in the size of the liquid crystal display device as a mounted product of the LCD panel and an improvement in the external appearance (design). In other words, it is possible to further increase the number of bits or to make the chip thinner without increasing the width of the frame region 62.

【0022】[0022]

【実施例2】図6は本発明の実施例2に係る半導体装置
のチップレイアウト図である。
FIG. 6 is a chip layout diagram of a semiconductor device according to a second embodiment of the present invention.

【0023】この半導体チップ70もLCD駆動型IC
で、COG実装の際の額縁領域の幅寸法を抑制するため
に長方形ないし細長状としてある。このチップ70に作
る込まれた集積回路は、実施例1と同様に、中核的な回
路構成としてnビットのシフトレジスタ回路部3,ラッ
チ回路部5,レベルシフト回路部6,及びドライバ回路
部7を備えている。そして1ブロックだけの回路セルア
レイの各ビットにはそれ固有の出力(ドライバ出力)Y
1 〜Yn の矩形の出力電極(パッド)81 〜8 n がドラ
イバ回路部7の各段71 〜7n の最短隣接領域に形成さ
れている。nビット・シフトレジスタ回路部3は長辺7
1aの周辺領域に作り込まれており、ドライバ回路部7
はチップ内側領域に作り込まれている。そして出力電極
(パッド)8はX方向一列に形成されている。
This semiconductor chip 70 is also an LCD drive type IC.
In order to reduce the width of the frame area during COG mounting
In a rectangular or elongated shape. This chip 70
The embedded integrated circuit is the same as in the first embodiment.
The n-bit shift register circuit section 3
Switch circuit 5, level shift circuit 6, and driver circuit
A part 7 is provided. And only one block of circuit cells
Each bit of the ray has its own output (driver output) Y
1 ~ Yn Rectangular output electrode (pad) 81 ~ 8 n Is Dora
Each stage 7 of the iva circuit section 71 ~ 7n Formed in the shortest adjacent area
Have been. The n-bit shift register circuit section 3 has a long side 7
1a, the driver circuit section 7
Are built in the chip inner area. And the output electrode
(Pad) 8 is formed in a line in the X direction.

【0024】セルアレイの形成領域の両端外側には図6
の一点鎖線で囲まれた領域に制御ロジック部72,73
が作り込まれている。また長辺71bの周辺領域の中央
部分にも一点鎖線で示す制御ロジック部74が作り込ま
れている。制御ロジック部74の内側X方向にはデータ
信号DIN,出力データDOUT ,クロックパルスCP,交
流波形化クロックM等の所要の入出力信号電極の列75
が形成され、この列は出力電極8の列に隣接平行してい
る。列75の両端外側には矩形の電源電極11〜14と
矩形の接地電極19又は低圧電源電極10が形成されて
いる。出力電極8の列の両端外側には高圧電源の電極1
5が形成されている。従って、チップ上の電極群は2列
でX方向に配列している。図示左右の高電源電圧VH
電極15,15に接続する電源配線76は電極8の列に
近接している。この電源配線36は高電圧部たるドライ
バ回路部7に対して給電する。片側の電極15は省略す
ることもできるが、同様のチップに対してカスケード接
続する場合に利用される。また同様に、図示左右の液晶
駆動電源電圧V0 の電極11,11に接続する電源配線
77は電源配線36の長辺71a側に隣接している。こ
の電源配線77は高電圧部たるドライバ回路部7に対し
て給電する。片側の電極11は省略することもできる
が、同様のチップに対してカスケード接続する場合に利
用される。図示左右の液晶駆動電源電圧V2 の電極1
2,12に接続する電源配線78も電源配線77の長辺
71a側に隣接している。この電源配線78も高電圧部
たるドライバ回路部7に対して給電する。片側の電極1
2はカスケード接続用の電極である。液晶駆動電源電圧
3 の電極13,13に接続する電源配線79も電源配
線78の長辺71a側に延在している。この電源配線7
8の敷設領域はドライバ回路部7のレベルシフト回路部
6寄りで、ドライバ回路部7に対して給電する。また片
一方の電極13はカスケード接続用の電極である。最後
の液晶駆動電源電圧V 5 の電極14,14に接続する電
源配線80も電源配線79の長辺71a側に隣接してい
る。この電源配線70はドライバ回路部7に対して給電
する。また片一方の電極14はカスケード接続用の電極
である。このように、ドライバ回路部7に対し給電すべ
き電源電圧VH ,V0 ,V2 ,V3 ,V5 の電源配線7
6,77,78,79,80はその領域上を並行してい
る。これらの配線は電極8の列を1巡回いた閉ループ接
続ではないが、電源電圧VHの電極15は電極8の列の
両端に形成され、電源電圧V0 ,V2 ,V3 これらの
配線は電極8の列を1巡回いた閉ループ接続ではない
が、電源電圧VH,V5の電極11,12,13,14と
電極8の列の両端側数電極と2列を構成している。接地
電圧GNDの電極19に接続する接地配線は3本には分
岐しており、その内側の接地配線81はドライバ回路部
7とレベルシフト回路部6との境界領域に、中間の接地
配線82はレベルシフト回路部6とラッチ回路部5との
境界領域に、外側の接地配線83はシフトレジスタ回路
部3の外側領域に各々敷設されている。また電源電圧V
H の電源配線36から分岐された外側の電源配線84は
レベルシフト回路部6上に敷設されている。更に、低電
圧電源VCCの電極10に接続する電源配線85はラッチ
回路部5とシフトレジスタ部3の境界領域に敷設されて
いる。そして、電極11,12,13,14の列の中間
領域に入出力信号電極の列75が介在している。
FIG. 6 shows the outside of both ends of the cell array forming region.
Control logic units 72 and 73
Is built in. The center of the peripheral area of the long side 71b
The control logic part 74 indicated by the dashed line is also built in the part
Have been. Data in the X direction inside the control logic 74
Signal DIN, Output data DOUT , Clock pulse CP, exchange
A required input / output signal electrode array 75 for the waveform shaping clock M, etc.
Are formed, and this row is adjacent to and parallel to the row of the output electrodes 8.
You. On both outer sides of the row 75, rectangular power supply electrodes 11 to 14 are provided.
The rectangular ground electrode 19 or the low-voltage power electrode 10 is formed
I have. The electrodes 1 of the high-voltage power supply are located on both outer sides of the row of the output electrodes 8.
5 are formed. Therefore, the electrode group on the chip is two rows
Are arranged in the X direction. Left and right high power supply voltage VH of
The power supply wiring 76 connected to the electrodes 15 and 15 is
Close. This power supply wiring 36 is a dry
The power is supplied to the power circuit 7. The electrode 15 on one side is omitted.
Can be cascaded to similar chips.
Used when continuing. Similarly, the left and right liquid crystal shown
Drive power supply voltage V0 Power supply wiring connected to the electrodes 11, 11
77 is adjacent to the long side 71a side of the power supply wiring 36. This
The power supply wiring 77 is connected to the driver circuit section 7 which is a high voltage section.
Power. The electrode 11 on one side can be omitted
Is cascaded to similar chips.
Used. Left and right liquid crystal drive power supply voltage VTwo Electrode 1
The power supply wiring 78 connected to 2 and 12 also has the long side of the power supply wiring 77.
71a side. This power supply wiring 78 is also in the high voltage section.
Power is supplied to the driver circuit section 7. One electrode 1
Reference numeral 2 denotes a cascade connection electrode. LCD drive power supply voltage
VThree The power supply wiring 79 connected to the electrodes 13 and 13 is also provided with a power supply.
The line 78 extends to the long side 71a side. This power supply wiring 7
The installation area of 8 is the level shift circuit section of the driver circuit section 7
At a position closer to 6, power is supplied to the driver circuit unit 7. Another piece
One electrode 13 is an electrode for cascade connection. last
LCD drive power supply voltage V Five To the electrodes 14 and 14
The source wiring 80 is also adjacent to the long side 71a of the power wiring 79.
You. The power supply line 70 supplies power to the driver circuit section 7
I do. One electrode 14 is an electrode for cascade connection.
It is. Thus, power should be supplied to the driver circuit section 7.
Power supply voltage VH , V0 , VTwo , VThree , VFive Power supply wiring 7
6,77,78,79,80 are parallel on that area
You. These wires are connected in a closed loop around the row of electrodes 8.
Power supply voltage VHThe electrode 15 of the row of the electrode 8
The power supply voltage V0 , VTwo , VThree these
The wiring is not a closed loop connection that goes around the column of the electrode 8 once.
Is the power supply voltage VH, VFiveElectrodes 11, 12, 13, 14
Two rows are formed with several electrodes on both ends of the row of the electrodes 8. ground
The ground wiring connected to the electrode 19 of the voltage GND is divided into three.
The ground wiring 81 on the inside is divided into the driver circuit section
In the boundary area between the level shifter 7 and the level shift circuit 6, an intermediate ground
The wiring 82 is connected between the level shift circuit 6 and the latch 5.
In the boundary area, the outer ground wiring 83 is a shift register circuit.
Each of them is laid in an area outside the part 3. Power supply voltage V
H The outer power supply wiring 84 branched from the power supply wiring 36 of FIG.
It is laid on the level shift circuit section 6. Furthermore, low electricity
Voltage power supply VCCThe power supply wiring 85 connected to the electrode 10 is a latch.
Laid in the boundary area between the circuit section 5 and the shift register section 3
I have. And the middle of the row of electrodes 11, 12, 13, 14
A row 75 of input / output signal electrodes is interposed in the region.

【0025】このように、電源配線を電極8の列の両端
に回り込ませたレイアウトによれば、電源配線又は信号
配線の配線長を従来法に比して抑制することができる。
本例はチップの細長化に対応した電極及び配線の好適な
レイアウトを提供する。なお、73a,73bは長辺7
1a側のコーナー部に形成された位置決め及び支技用の
ダミー電極(パッド)が形成されている。
As described above, according to the layout in which the power supply wiring is routed around both ends of the column of the electrodes 8, the wiring length of the power supply wiring or the signal wiring can be suppressed as compared with the conventional method.
The present example provides a suitable layout of electrodes and wirings corresponding to a thinner chip. 73a and 73b are long sides 7
A dummy electrode (pad) for positioning and assisting is formed at a corner portion on the side of 1a.

【0026】図7は上記の実施例に係るチップのTAB
実装状態を示す平面図である。同図において図3に示す
部分と同一部分には同一参照符号を付し、その説明は省
略する。上述のレイアウト構成を有するチップ70のた
めのテープキャリア(フィルム)92はチップ70の電
極配置に合わせたリードパタンがスプロケット孔52a
とデバイス孔92bを持つブラスチックフィルム上に形
成されている。このテープキャリア92は開口面積の異
なる樹脂回り込み用のスリット93a,93bを有して
いる。リードパタンは、デバイス孔92aへ張り出して
おり、バンプ51とインナーリードボンディングされる
べきフィンガーリード(インナーリード)56と、LC
Dパネル側の行又は列電極とアウターリードボンディン
グされるべきアウターリード57と、フィンガーリード
56とアウターリード57を一体的に連結する引出しリ
ード部分88とを有するものである。なお、フィルム5
2の印刷配線板側に接続する引出しリード部分88の先
端には端子58が形成されている。このようなテープ工
程により作製されたテープキャリア92と前述のバンプ
付きチップ70のTAB実装が実施例1と同様にして行
われる。フィンガーリード56の片持ち梁長さ(張出長
さ)はY1 である。LCDパネル側の開口縁部70bが
存在しない場合の片持ち梁長さはY3 であるから、Y1
<Y3 で、梁長さ(張出長さ)の短縮長さは実質的にY
3 −Y1 である。この短縮長さは実施例1のY2 −Y1
より大である。
FIG. 7 shows the TAB of the chip according to the above embodiment.
It is a top view showing a mounting state. In this figure, the same parts as those shown in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. The tape carrier (film) 92 for the chip 70 having the above-described layout configuration has a lead pattern corresponding to the electrode arrangement of the chip 70 having a sprocket hole 52a.
And a plastic film having device holes 92b. The tape carrier 92 has slits 93a and 93b for winding around the resin having different opening areas. The lead pattern protrudes into the device hole 92a, and includes a finger lead (inner lead) 56 to be subjected to inner lead bonding with the bump 51,
It has an outer lead 57 to be outer lead bonded to a row or column electrode on the D panel side, and a lead lead portion 88 for integrally connecting the finger lead 56 and the outer lead 57. In addition, film 5
A terminal 58 is formed at the tip of a lead-out lead portion 88 connected to the printed wiring board 2 of FIG. TAB mounting of the tape carrier 92 manufactured by such a tape process and the above-described bumped chip 70 is performed in the same manner as in the first embodiment. Cantilever length of the finger leads 56 (projecting length) is Y 1. Since the cantilever length of the case where the opening edge portion 70b of the LCD panel side is not present is Y 3, Y 1
<In Y 3, shortening the length of the beam length (overhang length) substantially Y
It is a 3 -Y 1. This shortened length is equal to Y 2 −Y 1 of the first embodiment.
Is greater.

【0027】図8(A)は上記チップのTAB実装後に
液晶パネルの額縁領域102にCOG実装した状態を示
す平面図である。なお、同図において図3に示す部分と
同一部分には同一参照符号を付し、その説明は省略す
る。この実装においても、引出しリード部分88の一部
88aがチップ30上にオーバーラップしている。これ
はバンプ51がチップ70の長辺71aから離れて形成
されているためである。このオーバーラップ部分88a
の長さは前述したインナーリード56の短縮長さY3
1 と実質的に等しい。チップ70の幅寸法が実施例1
のそれに比して小さくできることを考慮すれば、図8
(B)に示すように、本例の額縁領域102の幅寸法W
2 は実施例1の幅寸法W1 に比して小さくすることがで
きる。
FIG. 8A is a plan view showing a state in which the chip is mounted on the frame area 102 of the liquid crystal panel by COG after TAB mounting. In the figure, the same parts as those shown in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted. Also in this mounting, a part 88 a of the lead-out lead portion 88 overlaps the chip 30. This is because the bump 51 is formed apart from the long side 71a of the chip 70. This overlap portion 88a
Is the shortened length Y 3 − of the inner lead 56 described above.
Y 1 is substantially equal. Example 1 The width dimension of the chip 70 is
Considering that it can be made smaller than that of FIG.
As shown in (B), the width dimension W of the frame region 102 in this example is shown.
2 can be made smaller than the width dimension W1 of the first embodiment.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上のように、本発明に係る回路セルア
レイを備えた半導体装置は、LCDドライバICに限ら
ず、ディスプレイ・ドライバIC,プリンタ・ドライバ
IC,センサーインターフェイスIC,ゲートアレイ等
のように、回路セルとその電極が対をなしたアレイ構造
のICないしは多出力又は多入力の多ビット型ICに対
し広く適用でき、データ入力又は出力装置において実装
占有領域の幅等を節約するのに適している。
As described above, the semiconductor device provided with the circuit cell array according to the present invention is not limited to the LCD driver IC, but may be a display driver IC, a printer driver IC, a sensor interface IC, a gate array, or the like. It can be widely applied to an IC having an array structure in which a circuit cell and its electrode are paired or a multi-output or multi-input multi-bit IC, and is suitable for saving the width of a mounting area in a data input or output device. ing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1に係る液晶駆動用半導体装置
のチップを示すレイアウト図である。
FIG. 1 is a layout diagram illustrating a chip of a liquid crystal driving semiconductor device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】実施例1に係るチップのTAB実装状態を示す
断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a state in which the chip according to the first embodiment is mounted on a TAB.

【図3】実施例1に係るチップのTAB実装状態を示す
平面図である。
FIG. 3 is a plan view illustrating a state in which the chip according to the first embodiment is mounted on a TAB;

【図4】同TAB実装とは別のTAB実装状態を示す断
面図である。
FIG. 4 is a sectional view showing a TAB mounting state different from the TAB mounting.

【図5】(A)は実施例1に係るチップを液晶パネルの
額縁領域にCOG実装した状態を示す平面図で、(B)
は同状態の額縁領域側を示す断面図である。
FIG. 5A is a plan view showing a state where the chip according to the first embodiment is COG-mounted in a frame region of a liquid crystal panel, and FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a frame region side in the same state.

【図6】本発明の実施例2に係る液晶駆動用半導体装置
のチップを示すレイアウト図である。
FIG. 6 is a layout diagram illustrating a chip of a liquid crystal driving semiconductor device according to a second embodiment of the present invention.

【図7】実施例2に係るチップのTAB実装状態を示す
平面図である。
FIG. 7 is a plan view illustrating a state in which the chip according to the second embodiment is mounted on a TAB;

【図8】(A)は実施例2に係るチップを液晶パネルの
額縁領域にCOG実装した状態を示す平面図で、(B)
は同状態の額縁領域側を示す断面図である。
FIG. 8A is a plan view showing a state where the chip according to the second embodiment is COG-mounted in a frame region of a liquid crystal panel, and FIG.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a frame region side in the same state.

【図9】液晶駆動用半導体装置の一般的な回路構成を示
すブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram showing a general circuit configuration of a liquid crystal driving semiconductor device.

【図10】従来の液晶駆動用半導体装置のチップを示す
レイアウト図である。
FIG. 10 is a layout diagram showing a chip of a conventional liquid crystal driving semiconductor device.

【図11】同チップを液晶パネルの額縁領域にCOG実
装した状態を示す平面図である。
FIG. 11 is a plan view showing a state where the chip is mounted on a frame area of a liquid crystal panel by COG.

【符号の説明】 3…シフトレジスタ回路部 5…ラッチ回路部 6…レベルシフト回路部 7…ドライバ回路部 7N …ドライバ回路部の各段 8N …出力電極(パッド) 10〜15…電源電極 19…接地電極 30,70…半導体チップ 31…第1のブロック 32…第2のブロック 31a,32a,71a,71b…チップの長辺 33…X方向帯状領域(中央領域) 34,35,72,73,74…制御ロジック部 35a,35b…チップの短辺 36,37,38,39,40,44,45…電源配線
(Al配線) 41,42,43…接地配線 46,47,75…入出力信号電極の列 48a〜48d,73a,73b…ダミー電極(ダミー
パッド) 51…バンプ 52,60,92…テープキャリア(フィルム) 52a…スプロケット孔 52b,92b…デバイス孔 53a,53b,93a,93b…スリット 54…プラスチックフィルム 55…接着層 56,61…フィンガーリード(インナーリード) 57…アウターリード 58,88…引出しリード部分 59…モールド用樹脂 60a,60b…開口縁部 62…液晶パネルの額縁領域 76,77,78,79,80,84,85…電源配線 81,82,83…接地配線 L1 ,L2 …中心線 YN …ドライバ出力 Y1 ,Y2 …フィンガーリードの片持ち梁長さ(張出長
さ)VH ,VCC,V0 ,V3 ,V2 ,V5 …電源電圧
[EXPLANATION OF SYMBOLS] 3: shift register circuit portion 5 ... latch circuit portions 6 the level shift circuit 7 ... driver circuit portion 7 N ... each stage 8 N ... output electrode of the driver circuit portion (pad) 10 to 15 ... power electrode 19 Ground electrode 30, 70 Semiconductor chip 31 First block 32 Second block 31a, 32a, 71a, 71b Long side of chip 33 X-band (center area) 34, 35, 72 73, 74: Control logic part 35a, 35b: Short side of chip 36, 37, 38, 39, 40, 44, 45 ... Power supply wiring (Al wiring) 41, 42, 43 ... Grounding wiring 46, 47, 75 ... Array of output signal electrodes 48a to 48d, 73a, 73b ... Dummy electrodes (dummy pads) 51 ... Bumps 52, 60, 92 ... Tape carrier (film) 52a ... Sprocket holes 2b, 92b: Device hole 53a, 53b, 93a, 93b: Slit 54: Plastic film 55: Adhesive layer 56, 61: Finger lead (inner lead) 57: Outer lead 58, 88: Lead-out lead 59: Molding resin 60a , 60b ... frame region 76,77,78,79,80,84,85 ... power supply wiring of the opening edge portion 62 ... liquid crystal panel 81, 82, 83 ... ground line L 1, L 2 ... center line Y N ... driver output Y 1, Y 2 ... cantilever length of the finger leads (overhang length) V H, V CC, V 0, V 3, V 2, V 5 ... power supply voltage

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 配線パターンが形成された基板と、長方
形状の平面を有し前記平面に外部接続用電極を有する半
導体チップとを有し、前記基板と前記半導体チップの外
部接続用電極の形成面とを相対向させて実装する半導体
チップの実装体であって、前記外部接続用電極は前記半導体チップの第1の長辺と
第2の長辺と間の仮想中心線に沿って概略配置され、 前記外部接続用電極に接続された前記配線パターンのう
ち、長辺側に延びた少なくとも一部の前記配線パターン
、前記配線パターンにおける前記チップと相重なる領
域に位置する部位に屈曲部が形成されてなることを特徴
とする半導体チップの実装体。
1. A and the substrate on which a wiring pattern is formed, rectangular
Half having a plane of shape and having electrodes for external connection on said plane
A conductor chip, outside the substrate and the semiconductor chip.
The mounting of the semiconductor chip to be mounted by opposed the forming surface parts connecting electrodes, said external connection electrode and the first long side of the semiconductor chip
The wiring pattern roughly arranged along the virtual center line between the second long side and the wiring pattern connected to the external connection electrode.
That is, at least a part of the wiring pattern extending to the long side
The implementation of the semiconductor chip, characterized in that the bent portion at a site located in the tip and the phase overlap region in the wiring pattern is formed.
【請求項2】 前記基板がガラス基板であることを特徴
とする請求項1記載の半導体チップの実装体。
2. The semiconductor chip package according to claim 1, wherein said substrate is a glass substrate.
【請求項3】 前記チップは多ビット駆動型ICである
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体チップ
の実装体。
3. The semiconductor chip package according to claim 1, wherein the chip is a multi-bit drive type IC.
【請求項4】 前記チップはディスプレイドライバIC
であることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体
チップの実装体。
4. The chip is a display driver IC.
The semiconductor chip package according to claim 1, wherein:
【請求項5】 前記チップはプリンタドライバICであ
ることを特徴とする請求項1又は2に記載の半導体チッ
プの実装体。
5. The semiconductor chip package according to claim 1, wherein the chip is a printer driver IC.
【請求項6】 前記チップは多入出力型ICであること
を特徴とする請求項1又は2に記載の半導体チップの実
装体。
6. The semiconductor chip package according to claim 1, wherein the chip is a multi-input / output type IC.
【請求項7】 請求項4に記載の半導体チップの実装体
を有し、前記基板は液晶表示パネルであることを特徴と
する表示体。
7. A display comprising a semiconductor chip mounted body according to claim 4, wherein said substrate is a liquid crystal display panel.
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