JP3230586B2 - 非可逆回路素子用中心導体及び非可逆回路素子 - Google Patents

非可逆回路素子用中心導体及び非可逆回路素子

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JP3230586B2
JP3230586B2 JP14665191A JP14665191A JP3230586B2 JP 3230586 B2 JP3230586 B2 JP 3230586B2 JP 14665191 A JP14665191 A JP 14665191A JP 14665191 A JP14665191 A JP 14665191A JP 3230586 B2 JP3230586 B2 JP 3230586B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、アイソレータまたはサ
ーキュレータとして使用される集中定数型非可逆回路素
子用中心導体に関し、3つのストリップ導体の組を複数
備え、各組は電気絶縁層を介して積層し、電気的に互い
に並列に接続することにより、ストリップ導体の平面占
有面積の増大及び大型化を招くことなく、ストリップ導
体のインダクタンス成分及び直流抵抗値を低下させ、高
周波特性に優れた非可逆回路素子用中心導体及び非可逆
回路素子を提供できるようにしたものである。
【0002】
【従来の技術】この種の非可逆回路素子の従来技術とし
ては、例えば実開昭62ー127107号、実開昭56
ー2603号及び実開平2ー23104号公報記載のも
のが知られている。その一般的な構成は、一枚の基板上
に設けられた非可逆回路素子用中心導体の両側に、ガー
ネットまたはフェライト等の磁性体を配置し、更にその
外側に永久磁石を配置し、直流磁界を垂直に印加するよ
うになっている。非可逆回路素子用中心導体は、一枚の
基板上で互いに120度の角度で交叉するよう配置され
た3つのストリップ導体を含んでいる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
非可逆回路素子には次のような問題点があった。 (A)この種の非可逆回路素子の周波数領域は、1.5
GHzから例えば2.4GHzのような高周波領域に移
行しつつある。このため、一枚の基板上に3つのストリ
ップ導体を形成した従来の中心導体では、使用高周波領
域におけるインダクタンス成分が大きくなり、特性が悪
化する。 (B)非可逆回路素子は自動車電話やコードレス電話用
としての重要な用途があり、その小型化は極めて重要な
事項である。小型化を図る手段として、従来は、ストリ
ップ導体間の間隔を狭くしたり、或いはストリップ導体
の幅を狭くする等の手段をとっていた。ところがストリ
ップ導体間の間隔は、沿面距離を確保するのに必要な寸
法以下には小さくできない。一方、ストリップ導体の幅
を小さくすると、2.4GHz等のような高周波領域に
おいて、インダクタンス成分及び直流抵抗値が益々増大
し、満足できる特性が得られにくくなる。このため、小
型化を図りながら、高周波特性を向上させることが困難
であった。
【0004】そこで、本発明の課題は、上述する従来の
問題点を解決し、大型化を招くことなく、ストリップ導
体のインダクタンス成分及び直流抵抗値を低下させ、高
周波特性に優れた非可逆回路素子用中心導体及び非可逆
回路素子を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上述した課題解決のた
め、本発明は、互いに約120度の角度で交叉する3つ
のストリップ導体を有する非可逆回路素子用中心導体で
あって、前記3つのストリップ導体は、複数組備えられ
ており、各組は電気絶縁層を介して積層され、電気的に
互いに並列に接続されていることを特徴とする。
【0006】
【作用】3つのストリップ導体は、複数組備えられてお
り、各組は電気絶縁層を介して積層され、電気的に互い
に並列に接続されているから、ストリップ導体の平面占
有面積の増大及び大型化を招くことなく、ストリップ導
体のインダクタンス成分及び直流抵抗値を低下させ、高
周波特性を向上させることができる。
【0007】
【実施例】図1は本発明に係る非可逆回路素子用中心導
体の正面図、図2は同じくその平面図、図3は図1のA
1ーA1線上における断面図、図4は図1のA2ーA2
線上における断面図である。図において、1は第1のス
トリップ導体組、2は第2のストリップ導体組、3は絶
縁層、41〜46は貫通導体、51〜56は貫通導体、
61〜64は外部接続端子取付用孔として兼用される貫
通導体、71〜73は貫通孔である。第1のストリップ
導体組1は、絶縁基板100に互いに約120度の角度
で交叉する3つのストリップ導体110〜130を設け
て構成されている。第2のストリップ導体組2も、第1
のストリップ導体組1と全く同様に、絶縁基板200の
上に、互いに約120度の角度で交叉する3つのストリ
ップ導体210〜230を設けた構成となっている。図
示では、第1のストリップ導体組1及び第2のストリッ
プ導体組2の2組の組合せ例を示しているが、より多く
の組合せが可能である。
【0008】第1のストリップ導体組1を構成するスト
リップ導体110〜130及び第2のストリップ導体組
2を構成するストリップ導体210〜230は、絶縁層
3を介して積層され、電気的に互いに並列に接続されて
いる。従って、中心導体全体として、ストリップ導体1
10とストリップ導体210、ストリップ導体120と
ストリップ導体220、及び、ストリップ導体130と
ストリップ導体230とを互いに電気的に並列に接続し
た回路構成となる。このため、中心導体を構成するスト
リップ導体の断面積が、層数に比例して増大し、インダ
クタンス成分及び直流抵抗値が低下し、高周波特性が向
上する。
【0009】しかも、ストリップ導体110〜130及
びストリップ導体210〜230は、絶縁層3を介して
積層されているから、厚みは少々増すものの、平面占有
面積は殆ど増大しない。もし、使用周波数が比較的低
く、インダクタンス成分及び直流抵抗値を低下させる必
要がないならば、ストリップ導体110〜130及びス
トリップ導体210〜230の導体幅またはストリップ
導体間の配置間隔を縮小できるから、小型化が可能にな
る。
【0010】ストリップ導体110〜130のそれぞれ
は、基板100の表面及び裏面に2分割して配置し、分
割片111ー112、121ー122及び131ー13
2ー132を貫通導体41〜46によって導通させてあ
る。例えば、ストリップ導体110に注目すると、基板
100の表面側の分割片111と裏面側の分割片112
とに分割し、両分割片111ー112間を貫通導体4
1、42によって導通させる。他のストリップ導体12
0、130も同様であって、基板100の表面側の分割
片121または131と裏面側の分割片122または1
32とに分割して、これらを貫通導体43、44によっ
て接続し、ストリップ導体130の分割片131ー13
2間を貫通導体45、46によって接続してある。
【0011】ストリップ導体210〜230も、ストリ
ップ導体110〜130と同様に、基板20の表面及び
裏面に2分割して配置し、分割片211ー212、22
1ー222及び231ー232を貫通導体51〜56に
よって導通させてある。分割片212、222、232
は、図3と同様の配置パターンとなる。
【0012】そして、ストリップ導体110とストリッ
プ導体210を貫通導体61、62によって導通接続
し、ストリップ導体120とストリップ導体220を貫
通導体63によって接続し、ストリップ導体130とス
トリップ導体230を貫通導体64によって導通接続し
てある。これにより、第1のストリップ導体組1と第2
のストリップ導体組2とが、絶縁層3を介して、電気的
に並列に接続される。
【0013】ストリップ導体110〜130及びストリ
ップ導体210〜230のそれぞれは、他のストリップ
導体における貫通導体のまわりに形成されているランド
と隣接する部分が、ランドに対して所定の間隔を保つよ
うに湾曲させた円弧状となっている。従って、ストリッ
プ導体110〜130及びストリップ導体210〜23
0の全体配置を小型化しつつ、ランドと他のストリップ
導体との間に充分な沿面距離を確保できる。
【0014】図5は本発明に係る非可逆回路素子用中心
導体の別の実施例を示す正面図、図6は同じくその平面
図または図5のA5ーA5線上における断面図、図7は
図5のA3ーA3線上またはA6ーA6線上における断
面図、図8は図5のA4ーA4線上またはA7ーA7線
における断面図である。この実施例では、ストリップ導
体毎に分離して基板上に形成し、この基板を順次に積層
した例を示している。まず、第1のストリップ導体組1
は、ストリップ導体110を形成した基板101(図6
参照)、ストリップ導体12を形成した基板102(図
7参照)、及び、ストリップ導体130を形成した基板
103(図8参照)を、ストリップ導体110〜130
が互いに120度の角度で交叉するようにして順次積層
する。第2のストリップ導体組2も、ストリップ導体2
1を形成した基板201(図6参照)、ストリップ導体
22を形成した基板202(図7参照)、及び、ストリ
ップ導体23を形成した基板203(図8参照)を、ス
トリップ導体210〜230が互いに120度の角度で
交叉するようにして順次積層する。そして、第1のスト
リップ導体組1を構成する3つのストリップ導体110
〜130及び第2のストリップ導体組2を構成する3つ
のストリップ導体210〜230を、貫通導体61〜6
4により、電気的に互いに並列に接続する。ストリップ
導体110〜130、210〜230は、これらを支持
する基板101〜103、201〜203を電気絶縁層
として積層される。
【0015】図9は本発明に係る非可逆回路素子の分解
斜視図、図10は同じくその組立状態での断面図であ
る。実施例はアイソレータとして用いられる非可逆回路
素子の例を示している。図において、8は積層体、9は
シールド導体、10は回路基板、11はマグネット、1
2は磁性体、13はケース、14は蓋、15は図1〜図
8で説明した本発明に係る非可逆回路素子用中心導体、
161、162は外部接続用端子である。
【0016】積層体8は、コンデンサ層801〜803
を積層して構成されており、積層方向の両面のそれぞれ
に接地用導体81、82を有している。コンデンサ層8
01〜803の積層化に当って、接地用導体81、82
は、積層体8の積層方向に貫通する貫通導体83によっ
て互いに導通させてある。積層体8は例えばガラス基材
フッ素樹脂銅張積層板によって構成できる。貫通導体8
3は、上述した積層板に予め設けられた貫通孔内にメッ
キを施すことによって形成できる。
【0017】シールド導体9は薄い銅板等を用いて構成
されている。シールド導体9の周辺部には3つの突片9
1〜93〜が立設されている。
【0018】回路基板10の中央部には、磁性体12を
挿入配置する孔181が設けられており、また、その表
面には、導体パターン182〜185が設けられてい
る。回路基板10はアルミナ基板または誘電体基板等に
よって構成されている。また、回路基板10には中心導
体15に含まれるストリップ導体の一つを終端する抵抗
189が設けられている。抵抗189は、通常、印刷抵
抗体によって構成される。抵抗189を設けずに、抵抗
189で終端していたストリップ導体を、新たに設けら
れた端子に接続することにより、サーキュレータを得る
ことができる。
【0019】組立に当っては、積層体8の一面側に設け
られた接地用導体81をケース1の底面に接触させて接
地すると共に、他面側に設けられた接地用導体82にシ
ールド導体9、回路基板10、その孔181内に挿入し
た磁性体12及び中心導体15を、所定の位置関係で載
せる。シールド導体9の突片91〜93は回路基板10
の孔181内を通り、中心導体15に設けられた孔71
〜73を貫通して導出し、その先端部を中心導体15上
で折曲げ固定する。
【0020】中心導体15は、図1〜図4で説明した構
造のもを用いている。従って、第1のストリップ導体組
1と第2のストリップ導体組2とが、絶縁層3を介し
て、電気的に並列に接続され、大型化を招くことなく、
ストリップ導体のインダクタンス成分及び直流抵抗値を
低下させ、高周波特性を向上させた非可逆回路素子を得
ることができる。図示は省略するが、図5〜図8に示し
た中心導体を用いてもよい。
【0021】シールド導体9は、積層体8の表面に設け
られた接地用導体82に接触して導通すると共に、接地
用導体82から貫通導体83を通して裏面側の接地用導
体81に電気的に導通接続され、接地用導体81を介し
て、ケース13に接地される。このため、積層体8に孔
を設ける必要がなくなり、積層体8の面積を、コンデン
サ層801〜803における容量取得に最大限活用し、
小型化に対応できる。具体例として、従来、15mm角〜
20mm角が限界であったが、本実施例によれば、10mm
角以下と、従来の占有面積の1/3以下まで縮小するこ
とができた。
【0022】図11〜図14は積層体8の積層構造を示
している。図11は積層体8を表面側から見た平面図
で、ガラス基材フッ素樹脂等の誘電体基板等で構成され
た誘電体層841の表面上に接地用導体82を形成して
ある。851〜853は誘電体層891を貫通導体する
貫通導体であり、貫通導体83と同様に、メッキによっ
て形成できる。
【0023】図12は誘電体層841と誘電体層842
との間に位置するコンデンサ電極パターンを示してい
る。861〜863はコンデンサ電極である。コンデン
サ電極861〜863は、それぞれ、貫通導体851〜
853によって誘電体層841の表面側に導出(図11
参照)されている。
【0024】図13は誘電体層842と誘電体層843
との間に位置するコンデンサ電極パターンを示す。86
4〜866はコンデンサ電極である。コンデンサ電極8
64はコンデンサ電極851と対向し、誘電体層842
を貫通導体する貫通導体852によってコンデンサ電極
852に導通接続されている。コンデンサ電極865は
コンデンサ電極852と対向し、誘電体層842を貫通
導体する貫通導体853によってコンデンサ電極863
と導通接続されている。コンデンサ電極866はコンデ
ンサ電極863と対向し、誘電体層842を貫通導体す
る貫通導体851によってコンデンサ電極851と導通
している。
【0025】図14は積層体8を裏面側から見た図で、
誘電体層843の裏面に形成された接地用導体81が示
されている。
【0026】図15は図11〜図14に示した構造を有
する積層体8の電気的等価回路を示すために用いられた
展開図である。a、b、cは貫通導体851、852及
び853によって形成される端子を示している。端子a
ーb間にコンデンサ電極861とコンデンサ電極864
とによる端子間容量C11が形成され、端子bーC間にコ
ンデンサ電極862とコンデンサ電極865による端子
間容量C12が形成され、端子cーa間にコンデンサ電極
863とコンデンサ電極866とによる端子間容量C13
が形成される。また、接地用導体81、82とコンデン
サ電極(861、866)、(862、864)及び
(863、865)との間に接地容量C01、C02、C03
がそれぞれ形成される。
【0027】図16は図11〜図15に示した積層体を
用いたサーキュレータの回路図を示し、端子aーb間に
端子間容量C11を接続し、端子bーC間に端子間容量C
12を接続し、端子cーa間に端子間容量C13を接続する
と共に、端子a、b、cのそれぞれに接地容量C01、C
02、C03をそれぞれ接続した回路が得られる。
【0028】図17〜図21は積層体8の別の実施例を
示す図である。図において、図11〜図14と同一の参
照符号は同一性ある構成部分を示している。図17は積
層体表面の平面図であり、誘電体層840の表面にコン
デンサ電極871〜873及び中継用電極874〜87
6を有している。接地用導体82は誘電体層840の表
面に形成されている。
【0029】図18は誘電体層840と誘電体層841
との間に位置するコンデンサ電極877〜879の配置
パターンを示している。コンデンサ電極877は誘電体
層840を介してコンデンサ電極871と対向すると共
に、誘電体層840を貫通導体する貫通導体851によ
って中継電極874に導通している。コンデンサ電極8
78は誘電体層840を介してコンデンサ電極872と
対向すると共に、誘電体層840を貫通導体する貫通導
体852により中継電極875に導通している。コンデ
ンサ電極879は誘電体層840を介してコンデンサ電
極873と対向すると共に、誘電体層840を貫通導体
する貫通導体853によって中継電極876に導通して
いる。
【0030】図19〜図21はコンデンサ電極851〜
866の配置パターンを示している。実質的に、図12
〜図14と同じであるので、説明は省略する。
【0031】図22は図17〜図21に示した積層体8
の電気的等価回路を示す展開図である。図において、図
15と同一の参照符号は同一性ある構成部分を示し、端
子間容量C11〜C13及び接地容量C01〜C03の他に、コ
ンデンサ電極871ー874による直列容量C21、コン
デンサ電極872ー875による直列容量C22、コンデ
ンサ電極873ー876による直列容量C23を付加した
回路構成となる。
【0032】図23は図17〜図22に示した積層体を
用いたサーキュレータの回路図を示している。端子a2
ーb2 間に端子間容量C11を接続し、端子b2 ーc2 間
に端子間容量C12を接続し、端子c2 ーa2 間に端子間
容量C13を接続すると共に、端子a2 、b2 、c2 のそ
れぞれに接地容量C01、C02、C03をそれぞれ接続した
回路に対し、コンデンサ電極871ー874による直列
容量C21、コンデンサ電極872ー875による直列容
量C22、コンデンサ電極873ー876による直列容量
C23を付加した回路構成が得られる。図示はされていな
いが、端子a1、b1 、c1 に外付けのインダクタンス
を付加することもできる。
【0033】
【発明の効果】以上述べたように、本発明は、互いに約
120度の角度で交叉する3つのストリップ導体を有す
る非可逆回路素子用中心導体及びこの中心導体を有する
非可逆回路素子であって、3つのストリップ導体は、複
数組備えられており、各組は電気絶縁層を介して積層さ
れ、電気的に互いに並列に接続されているから、大型化
を招くことなく、ストリップ導体のインダクタンス成分
及び直流抵抗値を低下させ、高周波特性に優れた非可逆
回路素子用中心導体及び非可逆回路素子を提供すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る非可逆回路素子用中心導体の正面
図である。
【図2】本発明に係る非可逆回路素子用中心導体の平面
図である。
【図3】図1のA1ーA1線上における断面図である。
【図4】図1のA2ーA2線上における断面図である。
【図5】本発明に係る非可逆回路素子用中心導体の別の
実施例を示す正面図である。
【図6】図5に示した非可逆回路素子用中心導体の平面
図または図5のA5ーA5線上における断面図である。
【図7】図5のA3ーA3線上またはA6ーA6線上に
おける断面図である。
【図8】図5のA4ーA4線上またはA7ーA7線上に
おける断面図である。
【図9】本発明に係る非可逆回路素子の分解斜視図であ
る。
【図10】本発明に係る非可逆回路素子の組立状態での
断面図である。
【図11】本発明に係る非可逆回路素子に組込まれる積
層体を表面側から見た平面図である。
【図12】本発明に係る非可逆回路素子に組込まれる積
層体のコンデンサ電極パターンを示す図である。
【図13】本発明に係る非可逆回路素子に組込まれる積
層体のコンデンサ電極パターンを示す図である。
【図14】本発明に係る非可逆回路素子に組込まれる積
層体を裏面側から見た図である。
【図15】図11〜図14に示した積層体の電気的等価
回路を示すために用いられた展開図である。
【図16】図11〜図15に示した積層体を用いたサー
キュレータの回路図を示す図である。
【図17】本発明に係る非可逆回路素子に組込まれる積
層体の別の実施例を示す平面図である。
【図18】図17に示した積層体のコンデンサ電極の配
置パターンを示す図である。
【図19】図17に示した積層体のコンデンサ電極の配
置パターンを示す図である。
【図20】図17に示した積層体のコンデンサ電極の配
置パターンを示す図である。
【図21】図17に示した積層体のコンデンサ電極の配
置パターンを示す図である。
【図22】図17〜図21に示した積層体の電気的等価
回路を示す展開図である。
【図23】図17〜図22に示した積層体を用いたサー
キュレータの回路図である。
【符号の説明】
1 第1のストリップ導体組 2 第2のストリップ導体組 3 絶縁層 110、120、130 ストリップ導体 210、220、230 ストリップ導体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 猪野 美明 東京都中央区日本橋1丁目13番1号 テ ィーディーケイ株式会社内 (56)参考文献 特開 昭57−61314(JP,A) 特開 昭62−258503(JP,A) 実開 平2−24602(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01P 1/22 - 1/397

Claims (7)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非可逆回路素子用中心導体と、磁性体
    と、永久磁石と、コンデンサとを含む非可逆回路素子で
    あって、 前記非可逆回路素子用中心導体は、互いに約120度の
    角度で交叉する3つのストリップ導体の組を複数組有し
    ており、 各組は電気絶縁層を介して積層され、電気的に互いに並
    列に接続されており、 前記磁性体は、前記非可逆回路素子用中心導体と対向す
    るように配置されており、 前記永久磁石は前記磁性体に直流磁界を印加するもので
    あり、 前記コンデンサは、前記ストリップ導体の各端子に接続
    されるものであって、複数のコンデンサ層の積層体とし
    て構成され、前記積層体が積層方向の両面のそれぞれに
    接地用導体を有し、前記接地用導体が積層方向に貫通す
    る貫通導体によって互いに導通している非可逆回路素
    子。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載された非可逆回路素子で
    あって、 第1のストリップ導体組と、第2のストリップ導体組
    と、第1の絶縁基板と、第2の絶縁基板とを含んでお
    り、 前記第1のストリップ導体組に属する3つのストリップ
    導体のそれぞれは、前記第1の絶縁基板の表面及び裏面
    に2分割して配置され、分割片は前記第1の絶縁基板を
    貫通する貫通導体によって導通させてあり、 前記第2のストリップ導体組に属する3つのストリップ
    導体は、前記第2の絶縁基板の表面及び裏面に2分割し
    て配置し、分割片は、前記第2の絶縁基板を貫通する貫
    通導体によって導通させてあり、 前記第1の絶縁基板及び前記第2の絶縁基板は、絶縁層
    を介して積層されている非可逆回路素子。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載された非可逆回路素子で
    あって、 各組の前記3つのストリップ導体は、各ストリップ導体
    毎に異なる絶縁基板に形成されて積層されている非可逆
    回路素子。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載された非可逆回路素子で
    あって、 第1のストリップ導体組1と、第2のストリップ導体組
    2とを含んでおり、 前記第1のストリップ導体組に属する3つのストリップ
    導体のそれぞれは、各ストリップ導体毎に異なる絶縁基
    板に形成されて順次に積層されており、 前記第2のストリップ導体組に属する3つのストリップ
    導体は、各ストリップ導体毎に異なる絶縁基板に形成さ
    れて順次に積層されており、 前記第1のストリップ導体組及び前記第2のストリップ
    導体組は、互いに積層され、前記絶縁基板を貫通する貫
    通導体により互いに電気的に並列に接続されている非可
    逆回路素子。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至4の何れかに記載された非
    可逆回路素子であって、前記コンデンサは、前記ストリ
    ップ導体の端子間に接続されるコンデンサ、及び、前記
    ストリップ導体の端子と接地との間に接続されるコンデ
    ンサの少なくとも一方を含む非可逆回路素子。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載された非可逆回路素子で
    あって、 前記コンデンサは、3つの誘電体層(841〜843)
    を含んでおり、 前記3つの誘電体層(841〜843)は、順次に積層
    され、共通に貫通する第1の貫通導体(83)を有して
    おり、 前記第1及び第2の誘電体層(841、842)は、共
    通に貫通する第2乃至第4の貫通導体(851〜85
    3)を有しており、 前記第1の誘電体層(841)は、表面に第1の接地用
    導体(82)を有しており、 前記第2乃至第4の貫通導体(851〜853)は、一
    端が前記第1の接地用導体(82)から電気絶縁して前
    記第1の誘電体層(841)の前記表面上に導出されて
    おり、 第2の誘電体層(842)は、表面が、互いに独立する
    第1乃至第3のコンデンサ電極(861〜863)を介
    して、前記第1の誘電体層(841)の裏面に隣接して
    おり、 前記第1乃至第3のコンデンサ電極(861〜863)
    のそれぞれは、前記第2乃至第4の貫通導体(851〜
    853)と電気的に導通しており、 前記第3の誘電体層(843)は、表面が、互いに独立
    する第4乃至第6のコンデンサ電極(864〜866)
    を介して、前記第2の誘電体層(842)の裏面と隣接
    し、裏面に第2の接地用導体(81)を有しており、 前記第4のコンデンサ電極(864)は、第1のコンデ
    ンサ電極(861)と対向し、かつ、前記第3の貫通導
    体(852)によって、前記第2のコンデンサ電極(8
    62)と電気的に導通しており、 第5のコンデンサ電極(865)は、第2のコンデンサ
    電極(862)と対向し、前記第4の貫通導体(85
    3)によって前記第3のコンデンサ電極(863)と電
    気的に導通しており、 前記第6のコンデンサ電極(866)は、前記第3のコ
    ンデンサ電極(863)と対向し、前記第2の貫通導体
    (851)によって、前記第1のコンデンサ電極(86
    1)と電気的に導通しており、 前記第1の貫通導体(83)は、一端が前記第1の接地
    用導体(82)に電気的に導通し、他端が前記第2の接
    地用導体(81)に電気的に導通し、前記第1のコンデ
    ンサ電極乃至第6のコンデンサ電極(861〜866)
    から電気絶縁されている非可逆回路素子。
  7. 【請求項7】 請求項5に記載された非可逆回路素子で
    あって、 前記コンデンサは、4つの誘電体層(840〜843)
    を含んでおり、 前記4つの誘電体層(840〜843)は、順次に積層
    され、共通に貫通する第1の貫通導体(83)を有して
    おり、 第1乃至第3の誘電体層(840〜842)は、共通に
    貫通する第2乃至第4の貫通導体(851〜853)を
    有しており、 前記第1の誘電体層(840)は、表面に、互いに独立
    する第1乃至第3のコンデンサ電極(871〜873)
    と、第1の接地用導体82とを有し、 前記第2乃至第4の貫通導体(851〜853)は、一
    端が前記第1の接地用導体(82)から電気絶縁して、
    前記第1の誘電体層(840)の前記表面上に導出され
    ており、 前記第2の誘電体層(841)は、表面が、互いに独立
    する第4乃至第6のコンデンサ電極(877〜879)
    を介して、前記第1の誘電体層(840)の裏面に隣接
    しており、 前記第4のコンデンサ電極(877)は、前記第1のコ
    ンデンサ電極(871)と対向すると共に、前記第2の
    貫通導体(851)と電気的に導通しており、前記第5
    のコンデンサ電極(878)は、前記第1の誘電体層
    (840)を介して前記第2のコンデンサ電極(87
    2)と対向すると共に、前記第3の貫通導体(852)
    と電気的に導通しており、 前記第6のコンデンサ電極(879)は、前記第1の誘
    電体層(840)を介して前記第3のコンデンサ電極
    (873)と対向すると共に、前記第4の貫通導体(8
    53)と電気的に導通しており、 第3の誘電体層(842)は、表面が、互いに独立する
    第7乃至第9のコンデンサ電極(861〜863)を介
    して、前記第2の誘電体層(841)の裏面に隣接して
    おり、 前記第7乃至第9のコンデンサ電極(861〜863)
    のそれぞれは、前記第2乃至第4の貫通導体(851〜
    853)に電気的に導通しており、 前記第4の誘電体層(843)は、表面が、互いに独立
    する第10乃至第12のコンデンサ電極(864〜86
    6)を介して、前記第3の誘電体層(842)の裏面と
    隣接し、裏面に第2の接地用導体(81)を有してお
    り、 前記第10のコンデンサ電極(864)は、前記第7の
    コンデンサ電極(861)と対向し、かつ、前記第3の
    貫通導体(852)によって、前記第8のコンデンサ電
    極(862)に電気的に導通しており、 前記第11のコンデンサ電極(865)は、前記第8の
    コンデンサ電極(862)と対向し、前記第4の貫通導
    体(853)によって前記第9のコンデンサ電極(86
    3)と電気的に導通しており、 前記第12のコンデンサ電極(866)は、前記第9の
    コンデンサ電極(863)と対向し、前記第2の貫通導
    体(851)によって、前記第7のコンデンサ電極(8
    61)と電気的に導通しており、 前記第1の貫通導体(83)は、一端が前記第1の接地
    用導体(82)に電気的に導通し、他端が前記第2の接
    地用導体(81)に電気的に導通し、前記第1乃至第3
    のコンデンサ電極(871〜873)、前記第4乃至第
    6のコンデンサ電極(877〜879)、前記第7乃至
    第9のコンデンサ電極(861〜863)、及び、第1
    0乃至第12のコンデンサ電極(864〜866)から
    電気絶縁されている非可逆回路素子。
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