JP3218720B2 - Input signal edge time measuring circuit and digital PLL device - Google Patents

Input signal edge time measuring circuit and digital PLL device

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JP3218720B2
JP3218720B2 JP25010992A JP25010992A JP3218720B2 JP 3218720 B2 JP3218720 B2 JP 3218720B2 JP 25010992 A JP25010992 A JP 25010992A JP 25010992 A JP25010992 A JP 25010992A JP 3218720 B2 JP3218720 B2 JP 3218720B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、入力信号のエッジ時刻
測定回路及びディジタルPLL装置に関し、特に、入力
信号波形のエッジ位置を検出すると共にこの検出された
エッジ位置に基づいてPLL動作をディジタル的に行わ
せるような入力信号のエッジ時刻測定回路及びディジタ
ルPLL装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an input signal edge time measuring circuit and a digital PLL device, and more particularly, to detecting an edge position of an input signal waveform and digitally controlling a PLL operation based on the detected edge position. And a digital PLL device.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般にPLL(位相ロックループ)回路
は、入力信号の位相に追従する位相同期回路であり、ア
ナログ的な位相比較器、ローパスフィルタ、電圧制御発
振器等を用いて構成されているが、近年において、この
PLL回路内部の動作をディジタル的に行わせるような
ディジタルPLL回路が提案されている。
2. Description of the Related Art Generally, a PLL (Phase Locked Loop) circuit is a phase locked loop circuit that follows the phase of an input signal, and is configured using an analog phase comparator, a low-pass filter, a voltage controlled oscillator, and the like. In recent years, digital PLL circuits have been proposed in which the operation inside the PLL circuit is performed digitally.

【0003】このディジタルPLL回路においては、例
えばPLL出力信号と入力信号との位相差を高速な(ハ
イレートの)マスタクロックを用いて計測するような構
成が採用されることが多い。すなわち、入力信号のエッ
ジ(トランジェント)と当該PLL回路内部で生成した
出力クロックとの時間差いわゆる位相差を、高速のマス
タクロックの精度でカウントして検出し、上記回路内部
からの出力クロックの位相を制御して上記入力信号のク
ロックに同調させるものである。この場合のマスタクロ
ックに対しては、上記入力信号のビットクロックに比べ
て1桁以上高い精度が要求される。
In this digital PLL circuit, for example, a configuration is often adopted in which the phase difference between a PLL output signal and an input signal is measured using a high-speed (high-rate) master clock. That is, the time difference between the edge (transient) of the input signal and the output clock generated inside the PLL circuit, that is, the phase difference, is detected and counted with the accuracy of the high-speed master clock, and the phase of the output clock from inside the circuit is detected. It is controlled to synchronize with the clock of the input signal. In this case, the master clock is required to have an accuracy higher by one digit or more than the bit clock of the input signal.

【0004】しかしながら、上記入力信号のクロック周
波数が高くなってくると、上記マスタクロックの周波数
を1桁以上高くとることが困難となる。これは、半導体
プロセスの制限で動作クロック周波数を極端に上げられ
ないからである。そこで、マスタクロック周波数を極端
に高めることなく有効な位相差検出が可能なディジタル
PLL装置を構成することが望まれている。
However, when the clock frequency of the input signal increases, it becomes difficult to increase the frequency of the master clock by one digit or more. This is because the operating clock frequency cannot be extremely increased due to the limitation of the semiconductor process. Therefore, it is desired to configure a digital PLL device capable of detecting an effective phase difference without extremely increasing the master clock frequency.

【0005】すなわち、ディジタルPLL装置において
は、入力された信号を先ずマスタクロックでサンプリン
グする。この過程で得られた入力信号のエッジ時刻に
は、マスタクロックの周期の幅で誤差が含まれる。従っ
て、できるだけ細かい周期でサンプリングし、エッジ時
刻を精度良く取り込まないと、PLLによるデータのエ
ラーが増加する。近年のように、要求される再生クロッ
ク周波数は上昇するがマスタクロック周波数は半導体プ
ロセスの制限でむやみに上げられないという状況を解決
するため、例えば、マスタクロック周波数/PLL出力
クロック周波数の比が2を少々越える程度でも、良好な
エラーレートを確保できるような回路の提供が望まれて
いる。
That is, in a digital PLL device, an input signal is first sampled by a master clock. The edge time of the input signal obtained in this process includes an error in the width of the period of the master clock. Therefore, unless sampling is performed at a cycle as small as possible and edge times are not accurately captured, errors in data due to the PLL increase. In order to solve the situation where the required reproduction clock frequency increases but the master clock frequency cannot be increased unnecessarily due to the limitation of the semiconductor process, for example, the ratio of the master clock frequency / PLL output clock frequency is 2 It is desired to provide a circuit that can secure a good error rate even if the error rate slightly exceeds.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】ここで本件発明者は、
特開昭63−292825号公報において、PLL出力
クロックのN個のクロックパルスが出力される期間を所
定周波数のマスタクロックを用いて検出し、この期間を
1/Nすることで、該PLLクロック周期をマスタクロ
ックのN倍の精度で求める技術を開示している。また、
特開昭64−19826号公報においては、PLL出力
クロックのN/K個のパルスが出力される期間を順次連
続的に検出し、これらの検出された各期間の連続するK
回分を順次1期間ずつずらしながら加算し、その加算結
果を1/Nして上記出力クロック周期データを求める技
術を開示している。これらの技術によれば、比較的低い
周波数のマスタクロックを用いてディジタルPLLを構
成できる。
SUMMARY OF THE INVENTION Here, the present inventor
In JP-A-63-292825, a period during which N clock pulses of a PLL output clock are output is detected by using a master clock having a predetermined frequency, and the period is reduced by 1 / N to obtain the PLL clock cycle. Is obtained with N times the accuracy of the master clock. Also,
In Japanese Patent Application Laid-Open No. 64-19826, periods during which N / K pulses of a PLL output clock are output are sequentially and successively detected, and a continuous K period of each of these detected periods is detected.
A technique is disclosed in which batches are sequentially shifted by one period and added, and the addition result is 1 / N to obtain the output clock cycle data. According to these techniques, a digital PLL can be configured using a master clock having a relatively low frequency.

【0007】しかしながら、PLL出力クロック(再生
クロック)は、システムの高性能化に伴って上昇し、上
述したように、マスタクロック周波数/PLL出力クロ
ック周波数の比が2〜3程度のものが要求されてきてい
る。このような状況においては、上述した先願技術では
エラーレートが大きくなる等の不具合も生じるようにな
り、さらなる改善が望まれている。
However, the PLL output clock (reproduced clock) increases with the performance of the system, and as described above, a clock having a ratio of master clock frequency / PLL output clock frequency of about 2 to 3 is required. Is coming. In such a situation, problems such as an increase in an error rate occur in the above-mentioned prior art, and further improvement is desired.

【0008】本発明は、このような実情に鑑みてなされ
たものであり、入力信号のクロック周波数に対してマス
タクロック周波数の比率が2〜3程度でも正常なPLL
動作が行われ、さらには再生クロック周波数に対するマ
スタクロック周波数の比率が1より大きい程度でも良好
なエラーレートを確保できるようなディジタルPLL装
置の提供と、このディジタルPLL装置に適用して好ま
しい入力信号のエッジ時刻測定回路の提供を目的とする
ものである。
The present invention has been made in view of such circumstances, and a normal PLL is used even when the ratio of the master clock frequency to the clock frequency of the input signal is about 2 to 3.
The present invention provides a digital PLL device capable of ensuring a good error rate even when the operation is performed and the ratio of the master clock frequency to the reproduction clock frequency is greater than 1, and a preferable input signal applied to the digital PLL device. An object is to provide an edge time measuring circuit.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明に係る入力信号の
エッジ時刻測定回路によれば、奇数個の反転素子を環状
に接続して成るリングオシレータ(例えば図1のリング
オシレータ30)と、入力信号のエッジを検出する手段
(図1のディレイ素子21及び排他的論理和回路22)
と、上記リングオシレータの各段の状態を入力信号の上
記検出されたエッジのタイミングで取り込む第1のラッ
チ手段(フリップフロップ回路に23)と、上記リング
オシレータの各段の状態をマスタクロックのタイミング
で取り込む第2のラッチ手段(フリップフロップ回路部
27)と、上記第1のラッチ手段により取り込まれた上
記リングオシレータの各段の状態と上記第2のラッチ手
段により取り込まれた上記リングオシレータの各段の状
態とを比較しこれらの状態の差を時間で表してエッジ位
置信号として出力するエッジ位置算出手段(減算器2
6、乗算器36等)とを有して成ることにより、上述の
課題を解決する。
According to the input signal edge time measuring circuit of the present invention, a ring oscillator (for example, the ring oscillator 30 in FIG. 1) formed by connecting an odd number of inverting elements in a ring is provided. Means for detecting signal edge (delay element 21 and exclusive OR circuit 22 in FIG. 1)
First latch means (flip-flop circuit 23) for taking in the state of each stage of the ring oscillator at the timing of the detected edge of the input signal; and timing of the master clock for each stage of the ring oscillator. The second latch means (flip-flop circuit unit 27), the state of each stage of the ring oscillator captured by the first latch means, and the state of each of the ring oscillators captured by the second latch means. Edge position calculating means (subtractor 2
6, the multiplier 36) solves the above-mentioned problem.

【0010】ここで、上記エッジ位置算出手段は、上記
第1のラッチ手段(例えば図15のフリップフロップ回
路部23)からの出力を上記マスタクロックの立ち上が
りタイミングで取り込む第3のラッチ手段(図15のフ
リップフロップ回路部24A)と、上記第1のラッチ手
段からの出力を上記マスタクロックの立ち下がりタイミ
ングで取り込む第4のラッチ手段(図15のフリップフ
ロップ回路部24B)とを有し、上記入力信号のエッジ
が上記マスタクロックの“H”(ハイレベル)区間にあ
るときには上記第3のラッチ手段からの出力を、上記入
力信号のエッジが上記マスタクロックの“L”(ローレ
ベル)区間にあるときには上記第4のラッチ手段からの
出力をそれぞれ選択して、上記第2のラッチ手段からの
出力と比較するようにすることが好ましい。
Here, the edge position calculating means takes in the output from the first latch means (for example, the flip-flop circuit section 23 in FIG. 15) at the rising timing of the master clock. And a fourth latch means (flip-flop circuit part 24B in FIG. 15) for taking in the output from the first latch means at the falling timing of the master clock. When the signal edge is in the "H" (high level) section of the master clock, the output from the third latch means is in the "L" (low level) section of the master clock. Sometimes, the output from the fourth latch means is selected and compared with the output from the second latch means. It is preferable to.

【0011】また、上記リングオシレータは、遅延時間
が可変の反転素子(例えば図20の構成)を用いて成
り、マスタクロック周期とリングオシレータの発振動作
周期との比率に応じて上記遅延時間を切換選択すること
が好ましい。
The ring oscillator comprises an inverting element having a variable delay time (for example, the configuration shown in FIG. 20), and switches the delay time according to a ratio between a master clock cycle and an oscillation operation cycle of the ring oscillator. It is preferable to select.

【0012】次に、本発明に係るディジタルPLL装置
は、上記特徴を有する入力信号のエッジ時刻測定回路
に、上記入力信号をマスタクロックでサンプリングして
マスタクロック単位で入力信号のエッジの有無を検出し
てエッジ検出信号として出力する手段(例えば図1のフ
リップフロップ13、14及び排他的論理和回路15)
を設けると共に、位相誤差データと再生クロック周期デ
ータとに基づいて再生クロックを出力する再生クロック
発生手段(例えば図7の加算器62、ラッチ回路63、
加算器64等)と、上記エッジ位置信号とエッジ検出信
号とに基づいて再生クロックと入力信号エッジとの位相
誤差データを求めて上記再生クロック発生手段に送る位
相誤差検出手段(図7のシフトレジスタ51、ウィンド
ウ回路52、ラッチ回路53、デコーダ54、減算器5
5、シフトレジスタ56、セレクタ57等)と、上記再
生クロック発生手段からの再生クロックの周期データを
検出して上記再生クロック発生手段に送る再生クロック
周期検出手段(例えば図13の構成)とを有して成るこ
とにより、上述の課題を解決する。
Next, in the digital PLL device according to the present invention, the input signal edge time measuring circuit having the above-described features samples the input signal with a master clock and detects the presence or absence of an edge of the input signal in master clock units. (For example, flip-flops 13 and 14 and exclusive OR circuit 15 in FIG. 1)
And a reproduction clock generating means (for example, adder 62, latch circuit 63,
An adder 64 and the like, and phase error detecting means (shift register in FIG. 7) for obtaining phase error data between the reproduced clock and the input signal edge based on the edge position signal and the edge detection signal and transmitting the data to the reproduced clock generating means. 51, window circuit 52, latch circuit 53, decoder 54, subtractor 5
5, a shift register 56, a selector 57, etc.), and a reproduction clock cycle detection means (for example, the configuration shown in FIG. 13) which detects the reproduction clock cycle data from the reproduction clock generation means and sends the data to the reproduction clock generation means. By doing so, the above-mentioned problem is solved.

【0013】ここで、上記エッジ位置算出手段は、上記
第1のラッチ手段からの出力を上記マスタクロックの立
ち上がりタイミングで取り込む第3のラッチ手段と、上
記第1のラッチ手段からの出力を上記マスタクロックの
立ち下がりタイミングで取り込む第4のラッチ手段とを
有し、上記入力信号のエッジが上記マスタクロックの
“H”(ハイレベル)区間にあるときには上記第3のラ
ッチ手段からの出力を、上記入力信号のエッジが上記マ
スタクロックの“L”(ローレベル)区間にあるときに
は上記第4のラッチ手段からの出力をそれぞれ選択し
て、上記第2のラッチ手段からの出力と比較するように
することが好ましい。
The edge position calculating means includes a third latch means for taking in an output from the first latch means at a rising timing of the master clock, and an output from the first latch means to the master. And fourth latch means for taking in at the falling timing of the clock, wherein when the edge of the input signal is in the "H" (high level) section of the master clock, the output from the third latch means is output to the third latch means. When the edge of the input signal is in the "L" (low level) section of the master clock, the output from the fourth latch means is selected and compared with the output from the second latch means. Is preferred.

【0014】また、上記リングオシレータは、遅延時間
が可変の反転素子を用いて成り、上記マスタクロックの
周期に対するリングオシレータの発振動作周期の比率に
応じて上記遅延時間を切換選択することが好ましい。
It is preferable that the ring oscillator includes an inverting element having a variable delay time, and that the delay time is switched and selected according to a ratio of an oscillation operation cycle of the ring oscillator to a cycle of the master clock.

【0015】[0015]

【作用】上記リングオシレータの各段の状態(状態の集
合)は、該リングオシレータの発振動作周期を段数(上
記反転素子の個数)で割った時間(これを測定単位時間
τUNとする。)を単位として変化するから、上記第1、
第2のラッチ手段により取り込まれた状態の差を上記測
定単位時間τUNで表すことができ、これにより、マスタ
クロック周期内のエッジ位置を測定単位時間τUNを単位
として、高精度に表すことができる。
The state (set of states) of each stage of the ring oscillator is obtained by dividing the oscillation operation cycle of the ring oscillator by the number of stages (the number of the inverting elements) (this is referred to as a measurement unit time τ UN ). Is changed in units of
The difference between the states captured by the second latch means can be represented by the measurement unit time τ UN , whereby the edge position within the master clock cycle can be represented with high accuracy using the measurement unit time τ UN as a unit. Can be.

【0016】また、上記測定単位時間τUNを単位として
表された入力エッジ位置に基づいて再生クロックと入力
エッジとの位相誤差を同じく測定単位時間τUNの精度で
求めることができ、マスタクロック周期が再生クロック
周期に近付いても良好なPLL動作を保つことができ
る。
[0016] can be obtained by also the accuracy of the measurement unit time tau UN a phase error between the input edge and the reproduction clock based on the input edge position represented the measurement unit time tau UN units, a master clock period Can maintain a good PLL operation even when the clock approaches the reproduction clock cycle.

【0017】[0017]

【実施例】図1は、本発明の一実施例として、ディジタ
ルPLL装置に用いられる入力信号のエッジ時刻測定回
路の概略構成を示すブロック回路図である。
FIG. 1 is a block circuit diagram showing a schematic configuration of an input signal edge time measuring circuit used in a digital PLL device according to an embodiment of the present invention.

【0018】この図1において、入力端子11にはクロ
ックを再生しようとするRF(高周波)入力信号RFin
供給され、入力端子12には基準となるマスタクロック
信号MCKが供給されている。上記RF入力信号RFinは、
上記マスタクロック信号MCKがクロックとして入力され
ているフリップフロップ13のデータ入力端子Dに供給
されることにより、このマスタクロックのタイミングで
取り込まれる。このフリップフロップ13からの出力信
号は、当該信号とフリップフロップ14で1マスタクロ
ック周期分だけ遅延された信号とが排他的論理和(Ex
−OR)回路15に送られることにより、エッジ検出が
行われる。このマスタクロック信号MCKに同期した入力
エッジの有無の検出信号EDは、出力端子16を介して
取り出される。
[0018] In FIG. 1, the input terminal 11 RF (radio frequency) input signal RF in is supplied to be reproduced clock, the master clock signal MCK as a reference is supplied to the input terminal 12. The RF input signal RF in is
The master clock signal MCK is supplied to the data input terminal D of the flip-flop 13, which is input as a clock, and is taken in at the timing of the master clock. The output signal from the flip-flop 13 is an exclusive OR (Ex) of the signal and the signal delayed by one master clock cycle in the flip-flop 14.
-OR) circuit 15 to perform edge detection. The detection signal ED for the presence / absence of an input edge synchronized with the master clock signal MCK is taken out via the output terminal 16.

【0019】また、入力端子11からのRF入力信号RF
inは、上記マスタクロック周期TMCより十分に短い遅延
時間のディレイ素子21と排他的論理和(Ex−OR)
回路22とによりエッジ検出がなされ、フリップフロッ
プ回路部23のクロック入力端子に送られる。フリップ
フロップ回路部23は、リングオシレータ30の段数n
(nは奇数、例えばn=15)に応じて、n個のフリッ
プフロップが並列に設けられている。すなわち、これら
n個のフリップフロップを有するフリップフロップ回路
部23は、n段の反転素子を環状に接続して成る(nビ
ットの)リングオシレータ30の各段の状態を上記入力
信号RFinのエッジ検出出力に応じて各データ入力端子D
に取り込むものである。この実施例においては、n=1
5すなわち15ビットのリングオシレータ30を想定し
ており、内部の15段の状態を取り込むために、フリッ
プフロップ回路部23は15個のフリップフロップが並
列に設けられたものとしている。
An RF input signal RF from the input terminal 11
in is the exclusive OR (Ex-OR) with the delay element 21 having a delay time sufficiently shorter than the master clock cycle T MC.
The edge is detected by the circuit 22 and sent to the clock input terminal of the flip-flop circuit unit 23. The flip-flop circuit unit 23 includes the number n of stages of the ring oscillator 30.
According to (n is an odd number, for example, n = 15), n flip-flops are provided in parallel. That is, the flip-flop circuit 23 having these n pieces of flip-flops, the inverting element n stages formed by connecting in a ring (n bits) edge of the input signal RF in the state of each stage of the ring oscillator 30 Each data input terminal D according to the detection output
It is to take in. In this embodiment, n = 1
It is assumed that the ring oscillator 30 is 5 bits, that is, 15 bits, and the flip-flop circuit unit 23 is provided with 15 flip-flops in parallel in order to capture the internal 15 stages.

【0020】ここで、上記リングオシレータ30につい
て図2を参照しながら説明する。この図2の例において
は、説明を簡略化するために上記段数nを5としたリン
グオシレータ30’を示している。この図2に示すよう
に、5段(一般には奇数段)あるいは5ビットのリング
オシレータ30’は、5個の反転素子(インバータ)3
a 、31b 、31c 、31d 、31e が環状に接続さ
れて構成されている。奇数個の反転素子を接続している
から、入力が例えば“H”に変化しても出力は同じ極性
例えば“H”のままで変化していない論理矛盾の素子が
常に1個存在し、該素子の遅延時間後に出力が“L”に
変化すると、論理矛盾は次の素子に移る。このようにし
て安定な発振が得られる。ここで図2の例では、リング
オシレータ30’の発振動作をスタート、ストップさせ
るために、素子31a として2入力NAND(論理積の
否定)ゲートを用いており、このNANDゲート31a
の一端にインバータ31e からの出力信号を送り、他端
に信号STOPSTOPは停止信号STOPの極性を反転した信号
を表す)を送っている。
Here, the ring oscillator 30 will be described with reference to FIG. In the example of FIG. 2, a ring oscillator 30 'in which the number of stages n is 5 is shown to simplify the description. As shown in FIG. 2, a five-stage (generally an odd-number stage) or a five-bit ring oscillator 30 ′ includes five inverting elements (inverters) 3.
1 a , 31 b , 31 c , 31 d , and 31 e are connected in a ring shape. Since an odd number of inverting elements are connected, even if the input changes to, for example, "H", there is always one logically inconsistent element whose output has the same polarity, for example, "H" and remains unchanged. If the output changes to "L" after the delay time of the element, the logical contradiction moves to the next element. In this way, stable oscillation can be obtained. Here, in the example of FIG. 2, in order to start and stop the oscillation operation of the ring oscillator 30 ′, a two-input NAND (negation of logical product) gate is used as the element 31a, and this NAND gate 31 a
One end sends an output signal from the inverter 31 e, the signal STOP to the other end (STOP represents the signal obtained by inverting the polarity of the stop signal STOP) is sending.

【0021】図3は、上記図2の構成の動作を説明する
ための各部の信号波形を示す図であり、上記信号STOP
と、各素子31a 、31b 、31c 、31d 、31e
らの各出力信号a、b、c、d、eとを示している。こ
こで、各素子31a 、31b 、31c 、31d 、31e
の遅延時間をそれぞれτa 、τb 、τc 、τd 、τe
している。上記信号STOPが立ち上がると、時間τa 経過
後に素子31a からの反転出力信号aが立ち下がり、以
下順次各素子31b 、31c 、31d 、31e により反
転されて、図3のb〜eに示すような出力信号波形が得
られる。これらの出力信号の1周期TRNは、リングオシ
レータ30’の5素子を伝播する論理矛盾の2回転分に
相当し、 TRN=2(τa +τb +τc +τd +τe ) である。各素子の遅延時間τa 、τb 、τc 、τd 、τ
e が互いに等しく、例えばτ0 (τa =τb =τc =τ
d =τe =τ0 )であるときには、 TRN=10τ0 この論理矛盾が2回転して元に戻るまでの時間(リング
オシレータの発振動作の1回転分の時間、すなわち発振
動作周期)TRNが上記マスタクロックMCKの周期TMC
りも長くなるように、1素子当りの遅延量と段数が設定
される。これは、マスタクロックMCK内にリングオシレ
ータの同じ状態が2度以上現れては時刻の決定ができな
いからである。
FIG. 3 illustrates the operation of the configuration of FIG.
FIG. 3 is a diagram showing signal waveforms of various parts forSTOP
And each element 31a, 31b, 31c, 31d, 31eOr
These output signals a, b, c, d, and e are shown. This
Here, each element 31a, 31b, 31c, 31d, 31e
Τa, Τb, Τc, Τd, ΤeWhen
are doing. The above signalSTOPRises, the time τaPassage
Later element 31aThe inverted output signal a from
Each element 31 in descending orderb, 31c, 31d, 31eBy anti
To obtain output signal waveforms as shown in FIG.
Can be One cycle T of these output signalsRNIs a ring os
Two rotations of the logic contradiction propagating through the five elements of the
Equivalent, TRN= 2 (τa+ Τb+ Τc+ Τd+ Τe). Delay time of each element τa, Τb, Τc, Τd, Τ
eAre equal to each other, for example, τ0a= Τb= Τc= Τ
d= Τe= Τ0), TRN= 10τ0 The time required for this logical contradiction to return to its original state after two rotations (ring
The time for one rotation of the oscillator's oscillation operation, that is, oscillation
Operation cycle) TRNIs the period T of the master clock MCK.MCYo
Delay and the number of stages per element are set so that
Is done. This is because the ring oscillator is included in the master clock MCK.
If the same state of the data appears more than once, the time cannot be determined.
Because it is.

【0022】この図3の各出力信号a〜eの立ち上がり
(図中の矢印参照)のみに注目すると、信号b、信号
d、信号a、信号c、信号eの順に現れ、これらの1回
転が上記1周期TRNとなる。これらの信号b、d、a、
c、eを順次リングオシレータ出力S1 、S2 、S3
4 、S5 として、各出力端子321 、322 、3
3、324 、325 より取り出している。これらの出
力信号S1 〜S5 が、上記フリップフロップ回路部を構
成する複数個(この場合には例えば5個)の各フリップ
フロップにそれぞれ送られるわけである。図1の実施例
では、リングオシレータ30として15段(15素子)
のものを用い、各素子からの15の出力信号S 1 〜S15
をフリップフロップ回路部23の15個のフリップフロ
ップの各データ入力端子Dにそれぞれ送っているわけで
ある。フリップフロップ回路部23では、リングオシレ
ータ30からの各出力信号S1 〜S15を上記RF入力信
号RFinのタイミングでそれぞれのフリップフロップに取
り込むことにより、後述する微細な時間測定、特にマス
タクロックMCKの立ち上がりエッジに対する入力信号エ
ッジの位置の検出を行うようにしている。このように、
リングオシレータの各素子の状態(各出力信号)につい
て、上述のように例えば信号の立ち上がりにのみ着目す
るとき、後述する入力信号エッジ位置を測定するための
単位となる測定単位時間τUNは、上記素子遅延時間τ0
の2個分(τUN=2τ0 )となる。
The rise of each of the output signals a to e in FIG.
Focusing on only (see the arrow in the figure), the signal b and the signal
d, signal a, signal c, and signal e appear in this order.
Rolling is one cycle TRNBecomes These signals b, d, a,
c and e are sequentially output from the ring oscillator S1, STwo, SThree,
SFour, SFiveAs each output terminal 321, 32Two, 3
2Three, 32Four, 32FiveMore out. These out
Force signal S1~ SFiveConstitutes the flip-flop circuit section.
A plurality of (in this case, for example, five) flips to be formed
Each is sent to the flop. Embodiment of FIG.
Then, the ring oscillator 30 has 15 stages (15 elements).
And 15 output signals S from each element 1~ SFifteen
To the 15 flip-flop circuits of the flip-flop circuit section 23.
Is sent to each data input terminal D of the
is there. In the flip-flop circuit unit 23, the ring oscillator
Output signal S from the data 301~ SFifteenThe above RF input signal
Issue RFinAt the timing of each flip-flop.
By doing so, fine time measurement described later, especially
Input signal to the rising edge of
The position of the carriage is detected. in this way,
The state of each element (each output signal) of the ring oscillator
Therefore, as described above, for example, attention is focused only on the rising edge of the signal.
When measuring the input signal edge position described later.
Unit measurement time τUNIs the element delay time τ0
UN= 2τ0).

【0023】次に図4は、上記図1のフリップフロップ
13、14及びEx−OR回路15によるマスタクロッ
ク単位の入力エッジ検出動作を説明するための信号波形
を示している。この図4において、上記フリップフロッ
プ13は、上記図1の入力端子11からのRF入力信号
RFinを上記マスタクロック信号MCKの立ち上がりのタイ
ミングで取り込んで信号FF13を出力する。上記フリップ
フロップ14は、この出力信号FF13を1クロック(マス
タクロック)周期TMC分だけ遅らせて信号FF14を出力す
る。上記Ex−OR回路15は、これらの信号FF13、FF
14の排他的論理和をとって、信号EX15を出力端子16に
送る。この出力信号EX15の“H”(ハイレベル)状態
が、直前のクロック周期でのエッジ検出状態を表してい
る。これによって、マスタクロック単位での入力信号の
エッジの有無の検出が行える。
Next, FIG. 4 shows signal waveforms for explaining an input edge detecting operation in units of a master clock by the flip-flops 13 and 14 and the Ex-OR circuit 15 of FIG. In FIG. 4, the flip-flop 13 is connected to an RF input signal from the input terminal 11 of FIG.
The RF in and outputs a signal FF 13 takes in at the rising edge of the master clock signal MCK. The flip-flop 14 outputs a signal FF 14 the output signal FF 13 is delayed by one clock (master clock) period T MC content. The Ex-OR circuit 15 outputs these signals FF 13 , FF
Taking an exclusive OR of 14, it sends a signal EX 15 to the output terminal 16. "H" (high level) state of this output signal EX 15 is, represents the edge detection state at clock period immediately before. This makes it possible to detect the presence or absence of an edge of the input signal in master clock units.

【0024】次に図5に示す信号波形を参照しながら、
上記図1の15素子のリングオシレータ30によるエッ
ジ時刻の計測動作、すなわちマスタクロック周期TMC
での微細なエッジ位置を計測する動作について説明す
る。この図5において、15素子のリングオシレータ3
0は出力信号RSのように上記マスタクロックMCKよりも
細かい上記測定単位時間τUNで時を刻んでいる。このと
きのマスタクロックMCKの立ち上がりエッジと上記RF
入力信号RFinの立ち上がり又は立ち下がりエッジとの時
間差dをリングオシレータ出力信号RSにより上記測定単
位時間τUNで計測する。
Next, referring to the signal waveform shown in FIG.
The operation of measuring the edge time by the 15-element ring oscillator 30 of FIG. 1, that is, the operation of measuring a fine edge position within the master clock cycle TMC will be described. In FIG. 5, a 15-element ring oscillator 3
0 is ticked by the measurement unit time τ UN which is finer than the master clock MCK like the output signal RS. At this time, the rising edge of the master clock MCK and the RF
Input signal RF in of the rise or fall time difference d of the ring oscillator output signal RS of the edge by measuring by the measuring unit time tau UN.

【0025】具体的には、リングオシレータ30の各素
子の状態を取り込むための素子数分(15個分)のフリ
ップフロップより成るフリップフロップ回路部27に
は、上記入力端子12からのマスタクロックMCKがクロ
ックとして供給されており、このマスタクロックMCKの
立ち上がりエッジのタイミングで上記リングオシレータ
30の各素子の状態が各フリップフロップにそれぞれ取
り込まれ(ラッチされ)る。このフリップフロップ回路
部27からの出力の一例を図5の信号FF27に示してい
る。
More specifically, the master clock MCK from the input terminal 12 is provided in the flip-flop circuit section 27 composed of flip-flops of the number of elements (15) for capturing the state of each element of the ring oscillator 30. Is supplied as a clock, and the state of each element of the ring oscillator 30 is captured (latched) by each flip-flop at the timing of the rising edge of the master clock MCK. An example of an output from the flip-flop circuit unit 27 is shown as a signal FF 27 in FIG.

【0026】上記ディレイ素子21と排他的論理和(E
x−OR)回路22とにより入力端子11からのRF入
力信号RFinのエッジ検出がなされ、このエッジ検出信号
EX22がフリップフロップ回路部23の各フリップフロッ
プのクロック入力端子に送られることで、この入力信号
のエッジのタイミングで上記リングオシレータの各素子
の状態が各フリップフロップにそれぞれ取り込まれる。
フリップフロップ回路部23の各フリップフロップから
の出力信号FF23は、次段のフリップフロップ回路部24
の各フリップフロップにそれぞれ送られており、このフ
リップフロップ回路部24には上記マスタクロックMCK
がクロックとして供給されているから、このマスタクロ
ックMCKの立ち上がりエッジのタイミングで上記信号FF
23の再取り込み(再ラッチ)が行われ、このフリップフ
ロップ回路部24からは出力信号FF24が得られる。
The exclusive OR (E)
x-OR) edge detection of the RF input signal RF in from the input terminal 11 by the circuit 22 is made, the edge detection signal
When EX 22 is sent to the clock input terminal of each flip-flop of the flip-flop circuit unit 23, the state of each element of the ring oscillator is taken into each flip-flop at the timing of the edge of this input signal.
An output signal FF 23 from each flip-flop of the flip-flop circuit unit 23 is output to the next-stage flip-flop circuit unit 24.
, And the flip-flop circuit section 24 supplies the master clock MCK
Is supplied as a clock, the signal FF is generated at the timing of the rising edge of the master clock MCK.
Re-acquisition (re-latch) of 23 is performed, and an output signal FF 24 is obtained from the flip-flop circuit section 24.

【0027】ここで、図5のリングオシレータ出力信号
RSについては、上記15素子のリングオシレータの内部
の各状態、すなわち、リングオシレータの1周期(発振
動作周期)TRN内を素子数で分割した各状態(15個の
状態)に対応する数字(1〜15)を付して示してお
り、各フリップフロップ回路部の出力信号FF23、FF24
FF27についても、このリングオシレータの内部状態に対
応する数字を付して示している。例えば、図5のマスタ
クロックMCKの立ち上がり時刻t1 での上記リングオシ
レータ出力RSの状態は“1”であり、この状態“1”が
フリップフロップ回路部27(の15個のフリップフロ
ップ)により取り込まれるから、この時刻t1 以降のフ
リップフロップ回路部27からの出力(15個のフリッ
プフロップの出力)は“1”の状態となる。
Here, the output signal of the ring oscillator shown in FIG.
Regarding RS, a number (15 states) corresponding to each state inside the ring oscillator of 15 elements, that is, each state (15 states) obtained by dividing one cycle (oscillation operation cycle) T RN of the ring oscillator by the number of elements. 1 to 15), and output signals FF 23 , FF 24 ,
FF 27 is also shown with a numeral corresponding to the internal state of the ring oscillator. For example, the state of the ring oscillator output RS at the rising time t 1 of the master clock MCK in FIG. 5 is “1”, and this state “1” is taken in by the flip-flop circuit unit 27 (15 flip-flops). Therefore, the output from the flip-flop circuit unit 27 after this time t 1 (the output of the 15 flip-flops) is “1”.

【0028】この図5において、上記マスタクロック周
期TMC内での微細位置の計測動作の一具体例として、入
力信号RFinの立ち上がりエッジ時刻t11から次のマスタ
クロックMCKの立ち上がり時刻t2 までの時間d1の計
測動作について説明する。
[0028] In FIG. 5, as one specific example of the measurement operation of the fine position in the master clock period T in MC, the rising edge time t 11 of the input signal RF in to the rising time t 2 of the next master clock MCK The operation of measuring the time d1 will be described.

【0029】上記入力信号RFinのエッジ時刻t11では、
上記リングオシレータ出力RSの状態は“2”であり、こ
の状態“2”がフリップフロップ回路部23で取り込ま
れて出力が“2”となる。このフリップフロップ回路部
23からの出力“2”が上記時刻t2 でフリップフロッ
プ回路部24に取り込まれて、バイナリ変換回路25に
送られる。この時刻t2 でのリングオシレータ出力RSの
状態は“9”であり、この状態“9”がフリップフロッ
プ回路部27で取り込まれるから、出力“9”がバイナ
リ変換回路28に送られる。これらのフリップフロップ
回路部27、24からの出力は、それぞれ複数個(15
個)ずつのフリップフロップの出力の状態であるから、
これらの状態をバイナリ変換回路28、25によりそれ
ぞれ数値データBN28、BN25に変換し、図5の例では
それぞれ数値“9”及び“2”として減算器26に送っ
ている。なお、上記バイナリ変換回路28、25の具体
的な構成例については、図6を参照しながら後で説明す
る。
[0029] In the edge time t 11 of the input signal RF in,
The state of the ring oscillator output RS is “2”, and this state “2” is taken in by the flip-flop circuit section 23 and the output becomes “2”. The output “2” from the flip-flop circuit section 23 is taken into the flip-flop circuit section 24 at the time t 2 and sent to the binary conversion circuit 25. The state of the ring oscillator output RS at time t 2 is “9”, and this state “9” is captured by the flip-flop circuit unit 27, so that the output “9” is sent to the binary conversion circuit 28. The outputs from these flip-flop circuit units 27 and 24 are plural (15
Output state of each flip-flop,
These states are converted into numerical data BN 28 and BN 25 by binary conversion circuits 28 and 25 , respectively, and are sent to the subtracter 26 as numerical values “9” and “2” in the example of FIG. Note that a specific configuration example of the binary conversion circuits 28 and 25 will be described later with reference to FIG.

【0030】この減算器26からの出力の値が上記入力
エッジの微細位置を示す時間d1を上記測定単位時間τ
UNで表した数値に相当し、上記時刻t2 から次のマスタ
クロックMCKの立ち上がり時刻t3 までの間は“7”
(=9−2)となる。すなわち、上記入力エッジ時刻t
11からマスタクロック立ち上がり時刻t2 までの時間d
1は、リングオシレータ30の上記測定単位時間τ
UN(=2τ0 )の7個分に対応する遅延時間7τUN(=
14τ0 )にほぼ等しいことが計測される。
The time d1 at which the value of the output from the subtractor 26 indicates the fine position of the input edge is referred to as the measurement unit time τ.
Corresponds to the values expressed in UN, during the period from the time t 2 to the rise time t 3 of the next master clock MCK is "7"
(= 9-2). That is, the input edge time t
Time d from 11 to master clock rise time t 2
1 is the measurement unit time τ of the ring oscillator 30
Delay time 7τ UN (= 7) corresponding to seven UN (= 2τ 0 )
14τ 0 ).

【0031】同様に、入力信号RFinの立ち下がりエッジ
時刻t12からマスタクロックMCKの次の立ち上がり時刻
4 までの間の時間d2は、各時刻t12、t4 でのリン
グオシレータ出力RSの状態“7”、“10”が取り込ま
れて時刻t4 以降で減算器26にて減算されることによ
り、減算器26からの出力値“3”(=10−7)とし
て求められる。
[0031] Similarly, the time d2 between the falling edge time t 12 of the input signal RF in to the next rising time t 4 of the master clock MCK, the ring oscillator output RS at each time t 12, t 4 The states “7” and “10” are fetched and subtracted by the subtractor 26 after time t 4 , thereby obtaining an output value “3” (= 10−7) from the subtractor 26.

【0032】次に、上記バイナリ変換回路27、25の
具体的な構成例について、図6を参照しながら説明す
る。この図6においては、説明を簡略化するために、7
素子のインバータより成るリングオシレータからの7つ
の状態をバイナリ変換する構成を示している。
Next, a specific configuration example of the binary conversion circuits 27 and 25 will be described with reference to FIG. In FIG. 6, in order to simplify the description, 7
A configuration for performing binary conversion of seven states from a ring oscillator composed of element inverters is shown.

【0033】この図6において、7個のフリップフロッ
プF1〜F7は、上記フリップフロップ回路部24ある
いは27に相当するものであり、これらのフリップフロ
ップF1〜F7により各入力信号S1 〜S7 の状態がマ
スタクロックMCKの立ち上がりエッジのタイミングで取
り込まれる。これらのフリップフロップF1〜F7から
の各出力は、先頭(信号の立ち上がり部分)検出回路部
41に送られて、各信号S1 〜S7 の内の立ち上がり直
後の部分(先頭)となっている信号が検出される。すな
わち、各信号S1 〜S7 の内で上記先頭である信号に対
応する出力のみが“1”となり、他の出力が“0”とな
る。これは、各信号S1 〜S7 が時間経過に従って信号
が立ち上がる順に並んでいることより、一の信号Sk
“H”でかつ次の信号Sk+1 が“L”の状態のとき、信
号Sk が上記先頭(立ち上がり直後の部分)である。こ
こで、kは1〜7の値であり、k=7のときk+1=1
となる。このように、一の信号Sk が“H”かつ次の信
号Sk+1 が“L”の条件を判別するために、先頭検出回
路部41内に否定ゲート(インバータ)N1〜N7及び
アンドゲートA1〜A7が設けられている。
[0033] In FIG. 6, seven flip-flops F1~F7 is equivalent to the flip-flop circuit 24 or 27, these flip-flops F1~F7 of each input signal S 1 to S 7 The state is acquired at the timing of the rising edge of the master clock MCK. Each output from these flip-flops F1~F7 is first sent to a detection circuit 41 (the rising portion of the signal), and has a rising immediately after the portion of the respective signal S 1 to S 7 (top) A signal is detected. That is, among the signals S 1 to S 7 , only the output corresponding to the first signal is “1”, and the other outputs are “0”. This is because the signals S 1 to S 7 are arranged in the order in which the signals rise as time elapses, so that one signal S k is “H” and the next signal S k + 1 is “L”. , The signal Sk is the top (the part immediately after the rise). Here, k is a value of 1 to 7, and when k = 7, k + 1 = 1.
Becomes Thus, in order to determine the condition that one signal S k is “H” and the next signal S k + 1 is “L”, the negation gates (inverters) N1 to N7 and AND Gates A1 to A7 are provided.

【0034】先頭検出回路部41からの出力について
は、上記各信号S1 〜S7 の内の先頭が検出された信号
に対応する出力のみが“H”(“1”)となり、他の出
力は全て“L”(“0”)となっているから、これをバ
イナリ(2進数)表現にするために、アンドゲートA1
0〜A12より成る7−3エンコーダ42が設けられて
いる。この7−3エンコーダ42は、最下位ビット(L
SB)B0 側のアンドゲートA10に先頭検出回路部H
Dの第2、第4、第6のアンドゲートA2、A4、A6
からの出力が供給され、次の桁のアンドゲートA11に
先頭検出回路部41の第3、第4、第7のアンドゲート
A3、A4、A7からの出力が供給され、最上位ビット
(MSB)側のアンドゲートA12に先頭検出回路部H
Dの第5、第6、第7のアンドゲートA5、A6、A7
からの出力が供給されて、7ラインの入力を3ビットの
バイナリコードに変換している。従って、先頭検出回路
部41のアンドゲートA1からの出力が“1”となると
きには、7−3エンコーダ42からの3ビット出力は
“000”となり、以下、アンドゲートA2〜A7の出
力が順次“1”となるときには、3ビット出力が順次
“001”〜“110”となってゆく。
As for the output from the head detection circuit 41, only the output corresponding to the signal whose head is detected among the signals S 1 to S 7 becomes “H” (“1”), and the other outputs Are all "L"("0"). To convert this into a binary (binary) representation, the AND gate A1
A 7-3 encoder 42 including 0 to A12 is provided. The 7-3 encoder 42 outputs the least significant bit (L
Top AND gate A10 of SB) B 0 side detecting circuit section H
D second, fourth, and sixth AND gates A2, A4, A6
And the output from the third, fourth, and seventh AND gates A3, A4, and A7 of the head detection circuit section 41 is supplied to the next digit AND gate A11, and the most significant bit (MSB) The head detection circuit unit H is connected to the AND gate A12 on the side.
D fifth, sixth, and seventh AND gates A5, A6, A7
Is supplied to convert the input of 7 lines into a 3-bit binary code. Therefore, when the output from the AND gate A1 of the head detection circuit unit 41 becomes "1", the 3-bit output from the 7-3 encoder 42 becomes "000", and thereafter, the outputs of the AND gates A2 to A7 sequentially become "000". When it becomes "1", the 3-bit output sequentially becomes "001" to "110".

【0035】このように、上記各フリップフロップ2
7、24からの出力の状態が上記各バイナリ変換回路2
8、25でそれぞれバイナリ(2進数)値に変換され、
これらの値が減算器26に送られて、バイナリ変換回路
28の出力値からバイナリ変換回路25の出力値が減算
される。この減算器26からの出力値は、上記入力信号
RFinのエッジからマスタクロックMCKの次の立ち上がり
までの時間(上述した図5の時間d1やd2)をリング
オシレータ30の上記測定単位時間τUNで表した値とな
っており、この減算出力値は乗算器36に送られてい
る。
As described above, each of the flip-flops 2
The state of the output from each of the binary conversion circuits 2 and 7 is
Converted to binary (binary) values at 8, 25 respectively
These values are sent to the subtractor 26, and the output value of the binary conversion circuit 25 is subtracted from the output value of the binary conversion circuit 28. The output value from the subtracter 26 is calculated based on the input signal
The time from the edge of RF in to the next rise of the master clock MCK (the above-mentioned time d1 or d2 in FIG. 5) is a value represented by the above-mentioned measurement unit time τ UN of the ring oscillator 30, and this subtracted output value Is sent to the multiplier 36.

【0036】乗算器36においては、原理的にはリング
オシレータ30の各素子状態に基づく上記測定単位時間
τUNを上記減算出力値に乗算することにより、上記入力
エッジ微細位置時間d1やd2を算出する。この微細位
置時間は、後のブロックでの処理に便利なので、マスタ
クロック周期TMCを1とした数字で表すようにしてい
る。ここで本実施例においては、リング遅延時間測定回
路33からのリングオシレータ30の動作の1周期TRN
を乗算器36に送るようにしている。乗算出力の数字
は、インバータ37での1/0反転により、入力エッジ
時刻とその直前のマスタクロックMCKの立ち上がりエッ
ジとの間の時間(例えばTMC−d1、TMC−d2等)に
変換する。これがエッジ位置信号EPとして出力端子3
8より取り出される。例えば、このエッジ位置信号EP
が6ビットの場合、マスタクロック周期TMCを1とし
て、マスタクロックMCKの立ち上がりエッジから次の立
ち上がりエッジまでを、(0.)000000〜(0.)111111の2進
小数値(ただし、実際には先頭の整数部の0は使用しな
い)で表したものとなる。
The multiplier 36 calculates the input edge fine position times d1 and d2 by multiplying the subtraction output value by the measurement unit time τ UN based on each element state of the ring oscillator 30 in principle. I do. Since the fine position time is convenient for processing in a subsequent block, it is represented by a number with the master clock period T MC being 1. Here, in the present embodiment, one cycle T RN of the operation of the ring oscillator 30 from the ring delay time measuring circuit 33.
Is sent to the multiplier 36. Digit multiplication output by 1/0 inverted in the inverter 37, into a time between the input edge time and the master clock MCK of the rising edge of the immediately preceding (e.g. T MC -d1, T MC -d2 etc.) . This is output terminal 3 as edge position signal EP.
Take out from 8. For example, the edge position signal EP
Is a 6-bit value, the master clock cycle T MC is set to 1, and from the rising edge of the master clock MCK to the next rising edge, the binary decimal value of (0.) 000000 to (0.) 111111 (however, actually Does not use the leading integer part 0).

【0037】次に、位相同期回路の構成例について、図
7を参照しながら説明する。この図7において、端子1
2には上記マスタクロックMCKが、端子16には上記入
力信号RFinエッジの有無を検出したエッジ検出信号ED
が、また端子38には上記入力エッジ位置をマスタクロ
ック周期TMCを1として表したエッジ位置信号EPがそ
れぞれ供給されている。
Next, an example of the configuration of the phase locked loop will be described with reference to FIG. In FIG. 7, terminal 1
The master clock MCK to 2, the edge detection signal ED to the terminal 16 which detects the presence or absence of the input signal RF in edges
The terminal 38 is supplied with an edge position signal EP representing the input edge position with the master clock period T MC being 1.

【0038】端子16に供給された上記エッジ検出信号
EDは、複数ビット、例えば9ビットのシフトレジスタ
51に入力され、時刻順に複数ビット(9ビット)が並
列に出力され、再生クロック1周期長ウィンドウ回路5
2を介して再生クロック周期ラッチ回路53に送られて
いる。再生クロック周期ラッチ回路53からの9ビット
出力は、エッジ位置整数部デコーダ54で例えば4ビッ
トのバイナリ値に変換され、減算器55に送られてい
る。また端子38に供給された上記エッジ位置信号EP
は、上述したようにマスタクロック周期TMCを1とする
ときのエッジ位置を複数ビット(例えば6ビット)で表
したデータであり、この複数ビット(6ビット)パラレ
ルで複数段(例えば9段)のシフトレジスタ56に送ら
れている。このシフトレジスタ56からの例えば6ビッ
トパラレルで9段並列の出力は、セレクタ57に送られ
ることにより、上記入力エッジが存在したビットに対応
する段の複数ビット(6ビット)のエッジ位置データが
選択されて、再生クロック周期ラッチ回路53に送られ
る。これがエッジ位置の小数部データ(6ビット)とし
て上記エッジ位置整数部デコーダ54からの整数部デー
タ(4ビット)の下位側に結合され、減算器55に送ら
れている。
The edge detection signal ED supplied to the terminal 16 is input to a shift register 51 of a plurality of bits, for example, 9 bits, and a plurality of bits (9 bits) are output in parallel in the order of time. Circuit 5
2 to the reproduction clock cycle latch circuit 53. The 9-bit output from the reproduction clock cycle latch circuit 53 is converted into, for example, a 4-bit binary value by the edge position integer part decoder 54 and sent to the subtractor 55. Further, the edge position signal EP supplied to the terminal 38
Is data representing the edge position when the master clock period T MC is set to 1 as described above by a plurality of bits (for example, 6 bits). To the shift register 56. The output of the shift register 56, for example, 6-bit parallel and 9-stage parallel, is sent to the selector 57, and the edge position data of a plurality of bits (6 bits) of the stage corresponding to the bit where the input edge exists is selected. Then, it is sent to the reproduction clock cycle latch circuit 53. This is coupled to the lower part of the integer part data (4 bits) from the edge position integer part decoder 54 as decimal part data (6 bits) of the edge position, and sent to the subtractor 55.

【0039】次に端子61には、後述する再生クロック
周期データTRCが供給されており、この再生クロック周
期データTRCは、加算器62に送られている。この加算
器62は、ラッチ回路63、加算器64を含むループを
構成しており、このループがPLLの心臓部ともえいる
VCO(電圧制御型発振器)に相当している。すなわち
このループの1巡の間に、加算器62で再生クロック周
期データが加算され、加算器64で位相誤差補正データ
が加算される。加算器64への位相誤差補正データは、
上記減算器55から例えば1/4回路58を介し、フリ
ップフロップ回路部59を介して与えられる。この加算
器64には、上記エッジ位置整数部デコーダ54からの
ウィンドウ内エッジ検出信号が加算制御信号として供給
されており、ウィンドウ内にエッジがある時はラッチ回
路63の出力データとフリップフロップ回路部59から
の誤差補正信号データとを加算して出力し、ウィンドウ
内にエッジが無い時にはラッチ回路63からの出力デー
タをそのまま出力する。
Next, the terminal 61 is supplied with reproduced clock cycle data T RC described later, and this reproduced clock cycle data T RC is sent to the adder 62. The adder 62 forms a loop including a latch circuit 63 and an adder 64, and this loop corresponds to a VCO (Voltage Controlled Oscillator) which is also the heart of the PLL. That is, during one round of this loop, the reproduction clock cycle data is added by the adder 62, and the phase error correction data is added by the adder 64. The phase error correction data to the adder 64 is
The signal is supplied from the subtracter 55 through, for example, a 回路 circuit 58 and a flip-flop circuit unit 59. The in-window edge detection signal from the edge position integer part decoder 54 is supplied to the adder 64 as an addition control signal. When an edge exists in the window, the output data of the latch circuit 63 and the flip-flop circuit The error correction signal data from 59 is added and output, and when there is no edge in the window, the output data from latch circuit 63 is output as it is.

【0040】端子61からの再生クロック周期データT
RCは、1/2回路65で1/2されることで再生クロッ
ク半周期データTRC/2とされ、ラッチ回路63を介し
て加算器66に送られている。この加算器66には、加
算器64からの例えば9ビット出力データの下位6ビッ
トのデータが供給され、加算結果出力はウィンドウジェ
ネレータ67に送られている。ウィンドウジェネレータ
67には、上記6ビットパラレル9段並列シフトレジス
タ56の下位側(入力段側)4段分、すなわち24ビッ
ト分のデータが供給され、このウィンドウジェネレータ
67からの出力が上記再生クロック1周期長ウィンドウ
回路52に送られている。
The reproduced clock cycle data T from the terminal 61
The RC is halved by the 回路 circuit 65 to be half-cycle data T RC / 2 of the reproduction clock, and is sent to the adder 66 via the latch circuit 63. The adder 66 is supplied with, for example, the lower 6 bits of the 9-bit output data from the adder 64, and outputs the addition result to the window generator 67. The window generator 67 is supplied with data of the lower four stages (input stage side) of the 6-bit parallel 9-stage parallel shift register 56, that is, data of 24 bits. It is sent to the cycle length window circuit 52.

【0041】次に、加算器64からの例えば9ビット出
力中の上位3ビットは、比較器71に送られている。ま
た、端子12からのマスタクロックMCKが3ビットカウ
ンタ72に送られ、この3ビットカウンタ72からの出
力信号が比較器71に送られている。比較器71のこれ
らの2入力が一致したとき、一致出力が再生クロック周
期イネーブル信号RCEとして再生クロック周期ラッチ回
路53、ラッチ回路63の各イネーブル端子や、出力端
子73に送られる。また、この再生クロック周期イネー
ブル信号RCEは、フリップフロップ74を介して出力端
子75より再生クロック出力信号RCKとして取り出され
る。さらに、比較器71からの一致出力(上記再生クロ
ック周期イネーブル信号RCE)は、アンドゲート76に
送られ、フリップフロップ77、78を介し、整形RF
出力信号RFout として出力端子79より取り出される。
フリップフロップ74、77、78のクロック入力端子
には、端子12からのマスタクロックMCKが供給され、
アンドゲート76には、上記エッジ位置整数部デコーダ
54からのウィンドウ内エッジ検出信号が供給されてい
る。
Next, the upper 3 bits in the output of, for example, 9 bits from the adder 64 are sent to the comparator 71. Further, the master clock MCK from the terminal 12 is sent to the 3-bit counter 72, and the output signal from the 3-bit counter 72 is sent to the comparator 71. When these two inputs of the comparator 71 match, a match output is sent as a recovered clock cycle enable signal RCE to each enable terminal of the recovered clock cycle latch circuit 53, the latch circuit 63, and the output terminal 73. Further, the reproduced clock cycle enable signal RCE is taken out from the output terminal 75 via the flip-flop 74 as the reproduced clock output signal RCK. Further, the coincidence output from the comparator 71 (the above-described recovered clock cycle enable signal RCE) is sent to the AND gate 76, and the shaped RF signal is output through the flip-flops 77 and 78.
It is taken out from the output terminal 79 as an output signal RF out .
The clock input terminals of the flip-flops 74, 77 and 78 are supplied with the master clock MCK from the terminal 12,
The AND gate 76 is supplied with an in-window edge detection signal from the edge position integer part decoder 54.

【0042】ここで、一般にディジタルPLLは、入力
エッジが「本来あるべき入力エッジの位置(時刻)」か
らどのくらいずれたかをマスタクロック単位で検出し、
ずれ量に応じて再生クロック位相を変化させている。上
記「本来あるべき入力エッジ位置」は、1周期長をマス
タクロックより細かく測りそれを積算することで細かく
計算できるのだが、入力エッジ時刻は最小単位がマスタ
クロックであるから、1マスタクロック周期TMCの幅の
時間誤差を含んでいる。エッジはマスタクロック周期T
MCの丁度中心位置にあるものとして計算するが、結局1
マスタクロック周期TMCの周期の幅の誤差は含まれたま
まである。これに対して、本発明実施例では、上記エッ
ジ位置信号EPによりエッジの細かい位置が決定でき
る。これを利用することで2つの利点が生じる。1つは
正確なエッジ位置の誤差の計算であり、もう1つは正確
なウィンドウ境界の計算である。これらの利点に着目し
ながら以下動作を説明する。
Here, in general, the digital PLL detects how much the input edge is from “the position (time) of the input edge that should be originally” in units of a master clock,
The reproduction clock phase is changed according to the shift amount. The above-mentioned “input edge position that should be originally” can be finely calculated by measuring one cycle length more finely than the master clock and integrating it, but since the minimum unit of the input edge time is the master clock, one master clock period T Includes time error in MC width. The edge is the master clock period T
Calculate as if it is exactly at the center of MC , but eventually 1
The error of the width of the period of the master clock period T MC remains included. In contrast, in the embodiment of the present invention, a fine edge position can be determined by the edge position signal EP. The use of this has two advantages. One is accurate edge position error calculation, and the other is accurate window boundary calculation. The operation will be described below focusing on these advantages.

【0043】図7の端子16に供給された上記エッジ検
出信号EDは、上記例えば9ビットのシフトレジスタ5
1に入力されて時刻順に9ビットの並列出力とされて、
再生クロック1周期長ウィンドウ回路52を介して再生
クロック周期ラッチ回路53に送られる。シフトレジス
タ51からの9ビット並列出力は、PLLがロックして
いて入力エッジの位相誤差も0の場合、所定位置(通常
中心位置)の出力ビットにエッジ有り信号が立つタイミ
ングでラッチされる。ラッチする間隔は再生クロックR
CKの周期TRCである。
The edge detection signal ED supplied to the terminal 16 in FIG.
1 is input and is made a parallel output of 9 bits in time order.
The signal is sent to the reproduction clock cycle latch circuit 53 via the reproduction clock 1 cycle length window circuit 52. When the PLL is locked and the phase error of the input edge is 0, the 9-bit parallel output from the shift register 51 is latched at the timing when the edge-present signal rises at the output bit at a predetermined position (normal center position). The latching interval is the reproduction clock R
CK is the period T RC of.

【0044】また、図7の端子38を介して供給された
例えば6ビットの上記エッジ位置信号EPは、該6ビッ
トパラレルで複数段(例えば9段)のシフトレジスタ5
6に入力されている。このシフトレジスタ56からの6
ビットパラレルで9段並列の出力は、セレクタ57に送
られ、上記エッジ検出信号EDについての上記シフトレ
ジスタ51からウィンドウ回路52を介して得られた出
力の内のエッジ有りの極性となっているビットに対応す
る段の6ビットパラレル出力が選択される。セレクタ5
7の6ビットパラレル出力は、再生クロックRCKの周期
RCで上記再生クロック周期ラッチ回路53に取り込ま
れる。
The edge position signal EP of, for example, 6 bits supplied through the terminal 38 of FIG. 7 is supplied to the shift register 5 of a plurality of stages (for example, 9 stages) in parallel with the 6 bits.
6 has been entered. 6 from this shift register 56
The bit-parallel and nine-stage parallel outputs are sent to the selector 57, and the bits having the edge-existing polarity in the output of the edge detection signal ED obtained from the shift register 51 via the window circuit 52 are output. Is selected as the 6-bit parallel output of the stage corresponding to. Selector 5
6-bit parallel output 7 is taken into the reproducing clock period latch circuit 53 in the period T RC of the reproduction clock RCK.

【0045】ラッチするタイミングは、位相同期回路で
入力信号のエッジのレートと位相に合うように作られて
おり、レートと位相が合うと、エッジ有無信号のシフト
レジスタ出力の(通常は中央の)所定の位置にエッジ有
り信号が現れる時、入力エッジは位相誤差の無い予定通
りのタイミングという関係になる。逆にいうと、入力エ
ッジにピークシフト等の時間ずれが無い場合、必ずシフ
トレジスタの所定の位置にエッジ有りの信号が出力され
た時にラッチされる関係にある。従って、ラッチしたエ
ッジ有無信号が所定の位置より1ビットずれたところに
あった場合、マスタクロック周期TMC単位で1ビット前
後位相ずれ(時間ずれ)があったということになる。1
ビット前後とは、これだけでは正確な位置がわからない
ことを示している。しかし、同時にラッチしたエッジ位
置信号は、エッジ有無信号にエッジがありとでたタイミ
ングのものであるから、これを見ればマスタクロック内
のどの位置にあるかがわかるのである。
The latch timing is set so as to match the edge rate and phase of the input signal by the phase synchronization circuit. When the rate matches the phase, the shift register output (usually at the center) of the edge presence / absence signal is output. When an edge presence signal appears at a predetermined position, the input edge has a relationship of a predetermined timing with no phase error. In other words, if there is no time lag such as a peak shift in the input edge, the input edge is always latched when a signal indicating an edge is output at a predetermined position of the shift register. Therefore, when the latched edge presence / absence signal is shifted by one bit from the predetermined position, it means that there is a phase shift (time shift) of about one bit in the unit of the master clock cycle TMC . 1
The expression “before and after the bit” indicates that an accurate position cannot be determined by this alone. However, since the edge position signal latched at the same time is at the timing when the edge presence / absence signal has an edge, it can be seen from this that the position in the master clock is located.

【0046】ここで、マスタクロック単位のエッジの位
置を、ラッチ中心を0として時間的に遅い(未来)方向
に1、2、・・・、また時間的に早い(過去)方向に−
1、−2、・・・のように整数で表す。一方、マスタク
ロック内の位置を表すエッジ位置信号は、時間の流れに
従って、早いほうから遅いほうへ、0から1未満の小数
で表すようにする。これらの整数部と小数部とを結合す
ることによって、入力エッジ位置を数値として表すこと
ができる。これは、例えば図8に示すように、中央のビ
ット内の時間的に最も早い位置が0.0となる。なお、
図8の具体例では、図示を簡略化するために、シフトレ
ジスタの段数を7段として整数部を3ビットで表すよう
にし、エッジ位置信号を4ビット(0000〜1111)で表す
ようにしている。
Here, the position of the edge in the unit of master clock is set to 1, 2,...
It is represented by an integer such as 1, -2, .... On the other hand, the edge position signal representing the position in the master clock is represented by a decimal number from 0 to less than 1 from the earlier to the later according to the flow of time. By combining the integer part and the decimal part, the input edge position can be represented as a numerical value. For example, as shown in FIG. 8, the earliest temporal position in the center bit is 0.0. In addition,
In the specific example of FIG. 8, for simplicity of illustration, the number of stages of the shift register is seven, the integer part is represented by 3 bits, and the edge position signal is represented by 4 bits (0000 to 1111). .

【0047】一方、ラッチするタイミングはビット単位
ではなくもっと細かく計算される。すなわち、再生クロ
ック周期TRCは、マスタクロック周期TMCで例えば5T
MCとか6TMC等のように整数倍で表される値でなく、小
数部のある値である。これが積算されて、積算結果の整
数部がラッチするタイミングを作るが、当然小数部も存
在し、ラッチしたとき、位相誤差の無い入力エッジは、
エッジ有無信号としては中央位置に取り込まれ、エッジ
位置信号は、ラッチタイミングを作る数値の小数部の位
置に一致する。これの具体例を図9に示す。この図9の
具体例では、図示を簡略化するために、整数部を3ビッ
ト、小数部を3ビットとし、再生クロックの1周期長T
RCを、100.011としている。
On the other hand, the latch timing is calculated not in units of bits but in more detail. That is, the reproduction clock cycle TRC is, for example, 5T in the master clock cycle TMC.
It is not a value represented by an integer multiple such as MC or 6T MC , but a value with a decimal part. This is integrated to create a timing at which the integer part of the integration result is latched, but naturally there is also a decimal part, and when latched, the input edge without phase error is
The edge presence / absence signal is captured at the center position, and the edge position signal coincides with the position of the decimal part of the numerical value forming the latch timing. FIG. 9 shows a specific example of this. In the specific example of FIG. 9, for simplicity of illustration, the integer part is 3 bits, the decimal part is 3 bits, and one cycle length T of the reproduced clock is set.
RC is set to 100.111.

【0048】従って、先に求めたエッジの位置を表す数
値から、ラッチのタイミングを作る数値の小数部を引く
ことで、エッジが本来無くてはいけない時刻からどの程
度ずれていたかがわかる。引く値が小数部だけでよいの
は、整数部はラッチのタイミングを決めるために使わ
れ、ラッチされたエッジのマスタクロック単位の信号の
位置は誤差0のとき中央にくるように調整される段階で
既に引かれているのと等価だからである。このようにし
て、入力されたエッジ位置信号の持つ精度(マスタクロ
ックより十分に高い精度)でエッジの位相誤差を求める
ことができる。
Therefore, by subtracting the decimal part of the numerical value forming the latch timing from the numerical value representing the position of the edge previously obtained, it is possible to know how much the edge has shifted from the time when the edge should be essential. The reason that the value to be subtracted is only a decimal part is that the integer part is used to determine the latch timing, and the position of the signal of the master clock unit of the latched edge is adjusted to be centered when the error is 0. Because it is equivalent to being already drawn. In this way, the phase error of the edge can be obtained with the accuracy of the input edge position signal (accuracy sufficiently higher than the master clock).

【0049】以上の動作をまとめると、上記エッジ検出
信号EDの入力されたシフトレジスタ51からの出力
は、上記ウィンドウ回路52を介して再生クロック周期
イネーブル信号RCE毎にラッチ回路53にラッチされ、
それとは別に、このシフトレジスタ出力にエッジ検出フ
ラグが立ったビットに対応するエッジ位置信号EPがシ
フトレジスタ56からセレクタ57を介して選択され
て、当該ラッチ回路53に同様にラッチされる。なお、
再生クロック周期イネーブル信号RCEは、位相同期回路
内部で計算された「本来あるべきエッジ位置」に応じて
発生するイネーブル信号である。ラッチ回路53に取り
込まれた上記シフトレジスタ51からの出力は、もしP
LLがロックしていて入力エッジが丁度(ジャスト)の
タイミングである(上記「本来あるべき位置」と同じ位
置にある)場合に、必ず中心のビット(例えば9ビット
シフトレジスタの5ビット目)に立つようになってい
る。ラッチ回路53からの出力を受けるデコーダ54で
は、上記中心の位置を0として、それから早い(右側)
ビットにずれるに従って−1、−2、・・・のように負
側に数値が増え、遅い(左側)ビットにずれるに従って
+1、+2、・・・のように正側に数値が増えるような
値を出力する。このデコーダ54では、さらに上記ウィ
ンドウ内のいずれかのビットにエッジ検出フラグがあっ
たか否かのウィンドウ内エッジ有無検出結果も出力す
る。そして、エッジのビット位置の値に、同時にラッチ
回路53にラッチされた上記エッジ位置信号の値を小数
点以下に付け足すことにより、正確な入力エッジ位置を
得ている。この数字は、上記中央のビットの時間内の先
頭が0.0となる。この数字から、上記「本来あるべき
エッジ位置」を引く(ただし整数部は0だから小数部だ
け引く)と、入力エッジの誤差が高い精度で求められ
る。この誤差量を適当なループゲインにするために適当
に減衰、例えば1/4回路58で1/4に減衰して誤差
補正信号を作り、「本来あるべきエッジの位置」を計算
するループに加えることで位相制御をする。このように
すれば、エッジの誤差量が正確なので、位相制御の反応
が鈍かったり過敏だったりすることがなくなる。
To summarize the above operation, the output from the shift register 51 to which the edge detection signal ED has been input is latched by the latch circuit 53 for each reproduction clock cycle enable signal RCE via the window circuit 52,
Separately, an edge position signal EP corresponding to a bit for which an edge detection flag is set in the output of the shift register is selected from the shift register 56 via the selector 57, and is similarly latched by the latch circuit 53. In addition,
The reproduction clock cycle enable signal RCE is an enable signal generated in accordance with the "edge position" which is calculated inside the phase locked loop. If the output from the shift register 51 taken into the latch circuit 53 is P
When the LL is locked and the input edge is just (just) timing (at the same position as the above “desired position”), be sure to set the center bit (for example, the fifth bit of a 9-bit shift register). I'm standing. In the decoder 54 that receives the output from the latch circuit 53, the center position is set to 0, and the center position is set earlier (right side).
A numerical value increases to the negative side such as -1, -2, ... as the bit shifts, and a positive value increases as the value shifts to a slower (left) bit, such as +1, +2, ... Is output. The decoder 54 also outputs a window edge presence / absence detection result indicating whether or not any bit in the window has an edge detection flag. Then, an accurate input edge position is obtained by adding the value of the edge position signal, which is simultaneously latched by the latch circuit 53, to the value of the edge bit position below the decimal point. This number is 0.0 at the beginning of the time of the center bit. By subtracting the above-mentioned “edge position that should be” from this number (however, only the decimal part is subtracted because the integer part is 0), the error of the input edge can be obtained with high accuracy. This error amount is appropriately attenuated in order to obtain an appropriate loop gain, for example, is attenuated to 1/4 by a 1/4 circuit 58 to generate an error correction signal, and is added to a loop for calculating "the position of an originally expected edge". Phase control. In this case, since the error amount of the edge is accurate, the response of the phase control does not become slow or too sensitive.

【0050】上記エッジ位置信号EPを用いることによ
るもう1つの利点である正確なウィンドウ境界の計算に
ついて、以下説明する。
The following describes another advantage of using the edge position signal EP, which is accurate window boundary calculation.

【0051】図7の端子16に供給された上記エッジ検
出信号EDは、上記例えば9ビットのシフトレジスタ5
1に入力されて時刻順に9ビットの並列出力とされて、
再生クロック1周期長ウィンドウ回路52を介して再生
クロック周期ラッチ回路53に送られる。シフトレジス
タ51からの9ビット並列出力は、PLLがロックして
いて入力エッジの位相誤差も0の場合、所定位置(通常
中心位置)の出力ビットにエッジ有り信号が立つタイミ
ングでラッチされる。ラッチする間隔は再生クロックR
CKの周期TRCである。再生クロック周期TRC毎にラッチ
するわけであるから、次の取り込みまでにシフトレジス
タ51は該再生クロック周期TRC分だけしか進まないの
で、出力を全ビット(9ビット)取り込んでいると、ラ
ッチ回路53に1度取り込まれたエッジが次の取り込み
でも再度取り込まれ、1つのエッジが2回カウントされ
ることが起こる。これを避けるために、再生クロック1
周期長ウィンドウ回路52をシフトレジスタ51とラッ
チ回路53との間に挿入配置し、シフトレジスタ51の
所定のビットを中心として±1/2再生クロック周期
(±TRC/2)分に相当するビットの出力のみを通し、
その外は通さないようにしている。
The edge detection signal ED supplied to the terminal 16 in FIG.
1 is input and is made a parallel output of 9 bits in time order.
The signal is sent to the reproduction clock cycle latch circuit 53 via the reproduction clock 1 cycle length window circuit 52. When the PLL is locked and the phase error of the input edge is 0, the 9-bit parallel output from the shift register 51 is latched at the timing when the edge-present signal rises at the output bit at a predetermined position (normal center position). The latching interval is the reproduction clock R
CK is the period T RC of. Since it is not latched at every reproducing clock period T RC, since the shift register 51 until the next fetching only travels regeneration clock period T RC content only when the output is capturing all bits (9 bits), the latch The edge once captured by the circuit 53 is captured again in the next capture, and one edge is counted twice. To avoid this, the playback clock 1
A cycle length window circuit 52 is inserted between the shift register 51 and the latch circuit 53, and a bit corresponding to ± 1/2 reproduced clock cycle (± TRC / 2) centered on a predetermined bit of the shift register 51. Only through the output of
The outside is not allowed to pass.

【0052】上記ラッチするタイミングの信号は、位相
同期回路(の比較器71)から再生クロック周期イネー
ブル信号RCEとして得られるが、この再生クロック周期
イネーブル信号RCEは、上記マスタクロック周期TMC
位ではなく、マスタクロック周期TMC内の位置まで上記
測定単位時間τUNの単位で細かく得られる。これは、再
生クロック周期TRCが、マスタクロック周期TMCを1と
したとき、小数点以下を持つ数値で得られるからであ
り、また位相補正信号も小数点以下の小さな単位で再生
クロックRCKを動かすからである。従って、次にラッチ
する入力エッジ有無信号が誤差無しの場合、所定の(中
心の)ビットに取り込まれるが、さらにそのエッジのマ
スタクロック内の位置まで予想しているのであり、それ
が本来あるべき(位相誤差0の)エッジの位置となる。
The latch timing signal is obtained from the phase synchronization circuit (comparator 71) as a recovered clock cycle enable signal RCE. The recovered clock cycle enable signal RCE is not a unit of the master clock cycle TMC. To the position within the master clock period TMC in the unit of the measurement unit time τ UN . This is because, when the master clock cycle TMC is set to 1, the reproduced clock cycle TRC can be obtained by a numerical value having a decimal part, and the phase correction signal also moves the reproduced clock RCK in small units after the decimal point. It is. Therefore, when the input edge presence / absence signal to be latched next has no error, it is taken in a predetermined (center) bit, but the position of the edge in the master clock is further predicted, which should be the original. This is the position of the edge (with zero phase error).

【0053】再生クロック1周期長ウィンドウ回路52
におけるウィンドウの境界は、その本来あるべきエッジ
位置から±1/2再生クロック周期(±TRC/2)のと
ころにある。図7の左側の境界は1/2再生クロック周
期(TRC/2)を加えて作るが、右側の境界は前回のラ
ッチの左側の境界が前回のラッチと今回のラッチとのビ
ット数の差の分だけシフトした場所を使うことができ
る。また右側の境界は、前回のラッチの際ウィンドウを
通過したビットについて、シフトレジスタをシフトする
信号を、エッジ無しの極性に統一する(エッジを消して
しまう)ことで、省略することができる。
Reproduction clock 1 cycle length window circuit 52
Is located at ± 1/2 recovered clock cycle (± T RC / 2) from the original edge position. The left boundary in FIG. 7 is created by adding a 1/2 recovered clock period ( TRC / 2), while the right boundary is the difference between the number of bits between the previous latch and the current latch on the left boundary of the previous latch. You can use the location shifted by. The right boundary can be omitted by unifying the signal for shifting the shift register to the polarity having no edge (eliminating the edge) for the bit that has passed through the window at the time of the previous latch.

【0054】1/2再生クロックを加えた結果が丁度境
界に当たるビットをウィンドウ内に含めるか否かについ
て、四捨五入で決めることも考えられるが、本実施例で
は、境界の位置するビットはそのエッジ位置信号EPで
入力エッジの位置を見て、境界値の小数部より小さい時
はウィンドウに含め、大きい時はそのビットはウィンド
ウ外として次のラッチの時取り込むように次回に回して
いる。こうして、ウィンドウは、エッジ位置信号の持つ
精度と同じ精度で求められる。
It is conceivable to determine whether or not to include, in the window, a bit corresponding to the boundary of the result of adding the 1/2 reproduced clock, by rounding off. In this embodiment, the bit located at the boundary is determined by the edge position. Looking at the position of the input edge with the signal EP, if it is smaller than the fractional part of the boundary value, it is included in the window, and if larger, the bit is outside the window and is taken in the next latch so as to be taken in the next latch. In this way, the window is obtained with the same accuracy as that of the edge position signal.

【0055】図10、図11は、上述したようなウィン
ドウ範囲を計算するためのウィンドウジェネレータ67
の具体例を示すブロック回路図及びその動作を説明する
ための説明図である。先ず図10の加算器66には、上
記図7と共に説明したように、上記1/2回路65から
ラッチ回路63を介して得られた再生クロック半周期T
RC/2を示すデータXA と、加算器64からの9ビット
出力の内の下位6ビットの上記中央ビット内のあるべき
エッジ位置を表すデータXB とが供給されている。これ
らの加算結果の9ビットの内、上位3ビットのデータX
C が、上記境界のあるビットを示す情報であり、下位6
ビットのデータXD が、この境界ビット内の境界の位置
を示す情報である。これらの各データ値XA 〜XD を図
11内に示している。
FIGS. 10 and 11 show a window generator 67 for calculating the window range as described above.
FIG. 3 is a block circuit diagram showing a specific example of FIG. First, as described with reference to FIG. 7, the adder 66 shown in FIG. 10 includes the half cycle T of the reproduced clock obtained from the half circuit 65 via the latch circuit 63.
And data X A indicating the RC / 2, and the data X B representing a certain should edge position of the 9-bit output within the central bit of the lower 6 bits of the from the adder 64 is supplied. Of the 9 bits of these addition results, the upper three bits of data X
C is information indicating a bit having the boundary, and
The bit data XD is information indicating the position of the boundary within the boundary bit. Each of these data values X A to X D is shown in Figure 11.

【0056】図10のシフトレジスタ56の中心位置
(JUST)から時間的に遅い左側の4つの6ビットパ
ラレル出力がそれぞれ比較器68a、68b、68c、
68dに送られている。これらの比較器68a、68
b、68c、68dにおいて、加算器66からの9ビッ
ト出力の内の下位6ビット出力、すなわち上記境界ビッ
ト内の境界の位置を示すデータXD とそれぞれ比較さ
れ、XD の方が大きいときに“H”(ハイレベル、又は
“1”)が出力される。加算器66の上位3ビット出力
である上記境界のあるビットを示すデータXC は、デコ
ーダ68eに送られ、このデータXC が1以上のときア
ンドゲート69aに、XC が2以上のときアンドゲート
69b及びオアゲート69eに、XC が3以上のときア
ンドゲート69c及びオアゲート69fに、XC が4の
ときアンドゲート69d及びオアゲート69gにそれぞ
れ“H”が送られる。比較器68aからの出力はオアゲ
ート69eを介してアンドゲート69aに送られ、比較
器68bからの出力はオアゲート69fを介してアンド
ゲート69bに送られ、比較器68cからの出力はオア
ゲート69gを介してアンドゲート69cに送られ、比
較器68dからの出力は直接アンドゲート69dに送ら
れている。これらのアンドゲート69a〜69dからの
出力が、ウィンドウ信号W1〜W4として取り出され、
上記図7の再生クロック1周期長ウィンドウ回路52に
送られる。
The four left 6-bit parallel outputs that are temporally slower than the center position (JUST) of the shift register 56 in FIG. 10 are output from comparators 68a, 68b, 68c, respectively.
68d. These comparators 68a, 68
b, 68c, the 68d, the lower 6-bit output of the 9-bit output from the adder 66, that is, compared respectively data X D indicating the position of the boundary in the boundary bit, when towards the X D is large “H” (high level or “1”) is output. The data X C indicating the above-mentioned bounded bit, which is the upper 3 bits output from the adder 66, is sent to the decoder 68 e, and is supplied to the AND gate 69 a when the data X C is 1 or more, and to the AND gate 69 a when X C is 2 or more. When X C is 3 or more, “H” is sent to the AND gate 69c and the OR gate 69f, respectively, and when X C is 4, “H” is sent to the AND gate 69d and the OR gate 69g. The output from the comparator 68a is sent to an AND gate 69a via an OR gate 69e, the output from the comparator 68b is sent to the AND gate 69b via an OR gate 69f, and the output from the comparator 68c is sent via an OR gate 69g. The output from the comparator 68d is sent directly to the AND gate 69d. Outputs from these AND gates 69a to 69d are taken out as window signals W1 to W4,
The reproduced clock is sent to the one-cycle length window circuit 52 shown in FIG.

【0057】図11において、前回のあるべきエッジ位
置が入力エッジ情報列の点p2にあるとき、前回ラッチ
される対象の9ビットは、この点p2を含むビット(セ
ンタビット)から前後に4ビットずつの点p1から点p
5までの範囲となる。このとき、ウィンドウの左側(時
間的に遅い未来側)の境界は、上記センタビットのある
べきエッジ位置(点p2)に上記再生クロック半周期デ
ータXA 分を加算して作ることにより、図11の点p4
が得られる。なお、右側の境界は、さらに前回(前々
回)の左側の境界をそのまま使用すればよい。ここで、
今回のエッジのあるべき位置は、上記点p2からほぼ再
生クロック周期TRC、すなわち上記半周期データXA
2倍だけ加算した点p7となり、この点p7のあるビッ
トをセンタとして、今回ラッチされる対象の9ビット
は、点p3から点p9までの範囲となる。この今回のエ
ッジのあるべき位置(点p7)から左側(未来側)に上
記半周期データXA を加算した点p8が左側の境界の位
置となる。右側の境界の位置は上記前回の左側の境界で
ある点p4を使えばよい。
In FIG. 11, when the previous desired edge position is at point p2 in the input edge information sequence, the 9 bits to be latched last time are 4 bits before and after the bit (center bit) including this point p2. From point p1 to point p
The range is up to 5. In this case, the boundary of the left side of the window (time slow future side), by making by adding the reproduction clock half-period data X A content in the edge position to a said center bit (point p2), 11 Point p4
Is obtained. The right boundary may be the same as the previous left boundary. here,
Position to a current edge is substantially reproduced clock period T RC from the point p2, i.e. as by twice adding the point p7, and the bit with the point p7 center of the half-period data X A, is now latched The target 9 bits range from point p3 to point p9. This position should a current edge (point p7) points obtained by adding the half-cycle data X A on the left side (the future side) from p8 is the position of the left boundary. The position of the right boundary may use the point p4 which is the previous left boundary.

【0058】このような上記境界に当たるビットをウィ
ンドウ内に含めるか否かは、例えば四捨五入で決めると
精度が出せないわけであるが、本発明の実施例において
は、境界に当たるビットの上記エッジ位置信号と、上述
のようにして計算された境界のビット内での位置(小数
点以下の成分)とを比較し、エッジが境界より内側にあ
ればそのビットをエインドウ内に含め、外側ならウィン
ドウ外として次のタイミングで取り込むようにしてい
る。なお、境界のビットにエッジが無く、エッジ位置信
号がでたらめな値であっても、エッジが無いのであるか
ら境界のビットがウィンドウ内となるか否かは意味のな
いことであり、境界のビットにエッジがある場合にのみ
有効なものである。実際の再生しんごうのランダムエラ
ーは、ピークシフト現象によりエッジがずれ、それにノ
イズがずれを拡大する方向に乗ったときに、エッジを1
再生クロック周期TRC分ずれた位置に検出してしまうた
めに起こるケースがほとんどである。従ってウィンドウ
の境界の正確さによりエラーレートが改善される。
It is impossible to determine whether or not to include such a bit corresponding to the above boundary in the window, for example, by rounding off. Is compared with the position in the bit of the boundary calculated as described above (the component after the decimal point). If the edge is inside the boundary, the bit is included in the window. I take in at the timing of. Even if the boundary bit has no edge and the edge position signal has a random value, it is meaningless whether or not the boundary bit is within the window because there is no edge. This is effective only when there is an edge in. An actual reproduction random error is caused by an edge shift due to a peak shift phenomenon, and when the noise rides in a direction to increase the shift, the edge is shifted by one.
In most cases, the error occurs due to detection at a position shifted by the reproduction clock cycle TRC . The accuracy of the window boundaries thus improves the error rate.

【0059】また、上記右側の境界は、前回のラッチの
際にウィンドウを通過したビットについて、シフトレジ
スタをシフトする信号を、エッジ無しの極性に統一する
ことにより、すなわちエッジを消してしまうことによ
り、省略することができる。このための具体的な構成例
を図12に示す。この図12において、ウィンドウ回路
52を通過してラッチ回路53にラッチされたエッジ検
出信号は、シフトレジスタ51の次段には0にクリアさ
れて(エッジが無い状態とされて)伝わる。1度ラッチ
されたエッジ有り信号は、シフトレジスタ51でそれ以
上伝わらないから、センタより右側のウィンドウ回路構
成を省略できる。
The right boundary is defined by unifying the signal for shifting the shift register to the polarity having no edge, that is, erasing the edge for the bit that has passed through the window at the time of the previous latch. Can be omitted. FIG. 12 shows a specific configuration example for this purpose. In FIG. 12, the edge detection signal that has passed through the window circuit 52 and is latched by the latch circuit 53 is transmitted to the next stage of the shift register 51 after being cleared to 0 (without an edge). The signal with the edge once latched is not transmitted further by the shift register 51, so that the window circuit configuration on the right side of the center can be omitted.

【0060】このようにして精度の良いウィンドウが作
れるから、入力のエッジを正しいタイミングの再生クロ
ックと位相比較ができる。すなわち、タイミング的に正
しい再生クロックに対応したエッジと見なせ、ビットシ
フトによりPLLで作り出す信号エラーが少なくなる。
Since an accurate window can be created in this way, the phase of the input edge can be compared with the phase of the recovered clock at the correct timing. In other words, it can be regarded as an edge corresponding to a reproduced clock which is correct in timing, and a signal error generated by the PLL by bit shift is reduced.

【0061】再び図7に戻って、減算器55にて求めら
れた高精度の入力エッジの誤差量が1/4回路58で1
/4に減衰されることで適当なループゲインとされて誤
差補正信号となり、フリップフロップ回路部59を介し
て加算器64に送られている。この加算器64は、加算
器62、ラッチ回路63と共にPLLの心臓ともなるル
ープを構成しており、加算器62には再生クロック1周
期TRCが、加算器64には上記正確な誤差補正量がそれ
ぞれ加えられる。ラッチ回路63は、再生クロック周期
イネーブル信号RCEをイネーブル信号としたフリップフ
ロップで、再生クロック周期TRC毎にデータを取り入れ
る。もし上記誤差補正量が常に0の場合には、このルー
プ内での数字は再生クロック周期TRCの1周期分ずつ増
えていくだけである。
Returning to FIG. 7 again, the error amount of the high-precision input edge obtained by the subtractor 55 is
The signal is attenuated to / 4, so that an appropriate loop gain is obtained and an error correction signal is sent to the adder 64 via the flip-flop circuit unit 59. The adder 64, the adder 62 constitutes a also loops PLL heart with the latch circuit 63, the reproduction clock one period T RC to the adder 62, the exact error correction amount to the adder 64 Are added respectively. Latch circuit 63, a flip-flop that is enabled signal reproducing clock period enable signal RCE, incorporate data for each reproduction clock period T RC. If the error correction amount is always 0, the number in this loop simply increases by one period of the reproduction clock period TRC .

【0062】一方、マスタクロックMCK毎にカウントア
ップする例えば3ビットのカウンタ72が設けられてお
り、これが時間のものさしとなる。このカウンタ72か
らの出力が上記ループからの出力値(9ビット)のビッ
ト単位量(上位3ビットの上記整数部)と一致したとき
に、比較器71から再生クロック周期イネーブル信号RC
Eを出力し、上記エッジ検出信号EDのシフトレジスタ
51の出力信号等を取り込んだり、上記ループ内の数値
を再生クロック1周期長分増加したものに更新したりす
る。ここで更新された上記ループ内の数値(加算器64
からの出力値)は、次に再生クロック周期イネーブル信
号を出力すべき時刻の値になっており、カウンタ72の
カウント値がその値になったとき比較器71が次の再生
クロック周期イネーブル信号RCEを出力する。
On the other hand, for example, a 3-bit counter 72 is provided which counts up for each master clock MCK, and this is a measure of time. When the output from the counter 72 matches the bit unit amount (the above-mentioned integer part of the upper 3 bits) of the output value (9 bits) from the loop, the comparator 71 outputs the reproduced clock cycle enable signal RC.
E is output to take in the output signal of the shift register 51 of the edge detection signal ED or the like, or update the value in the loop to a value increased by one cycle length of the reproduction clock. The updated numerical value in the loop (adder 64
Is the value of the time at which the next recovered clock cycle enable signal is to be output, and when the count value of the counter 72 reaches that value, the comparator 71 sets the next recovered clock cycle enable signal RCE. Is output.

【0063】上記ループの数値は、「本来エッジのある
べき位置」を示す値でもある。すなわち、上記ループの
加算器64からの出力9ビットの内、上位3ビットの整
数部は、上記再生クロック周期イネーブル信号RCEを出
力する時刻をコントロールすることで、ジャストの入力
エッジがシフトレジスタ51の中央に出たときに取り込
むタイミングとなり、下位6ビットの小数部は入力エッ
ジの位置の値から減ずることで誤差量を求めるのに使わ
れる。ウィンドウジェネレータ67では、上記ループの
数値に再生クロック半周期分が加えられ、整数部はビッ
ト単位のウィンドウ境界を、小数部はビット内の詳しい
境界値を示すことになる。
The numerical value of the above-mentioned loop is also a value indicating “a position where an edge should be originally”. That is, of the 9 bits output from the adder 64 of the loop, the upper 3 bits of the integer part controls the time at which the reproduced clock cycle enable signal RCE is output, so that the just input edge of the shift register 51 The timing of taking in when it comes to the center is the timing, and the decimal part of the lower 6 bits is used to calculate the error amount by subtracting it from the value of the position of the input edge. In the window generator 67, a half cycle of the reproduction clock is added to the numerical value of the loop, and the integer part indicates the window boundary in bits, and the decimal part indicates the detailed boundary value in bits.

【0064】最終的な再生クロックRCKは、上記再生ク
ロック周期イネーブル信号RCEを上記マスタクロックM
CKでたたいて作っている。すなわち、マスタクロックM
CKがクロックとされるフリップフロップ74に再生クロ
ック周期イネーブル信号RCEを送ることで、このフリッ
プフロップ74からマスタクロックMCKに同期のとられ
た再生クロック出力RCKを得ている。またデータ出力と
しては、上記エッジ位置整数部デコーダ54からのウィ
ンドウ内エッジ有無検出信号を再生クロック周期イネー
ブル信号RCEを上記マスタクロックMCKでたたいて作っ
ている。このアンドゲート76からの出力を、フリップ
フロップ77、78を介して、整形RF出力信号RFout
として端子79より取り出している。
The final reproduced clock RCK is obtained by converting the reproduced clock cycle enable signal RCE into the master clock MCK.
I make it with CK. That is, the master clock M
By sending the reproduction clock cycle enable signal RCE to the flip-flop 74 clocked by CK, a reproduction clock output RCK synchronized with the master clock MCK is obtained from the flip-flop 74. As a data output, the in-window edge presence / absence detection signal from the edge position integer part decoder 54 is generated by hitting the reproduction clock cycle enable signal RCE with the master clock MCK. The output from the AND gate 76 is supplied to the shaped RF output signal RF out via flip-flops 77 and 78.
From the terminal 79.

【0065】次に、上記端子61に供給する再生クロッ
ク1周期長データ(TRC)を得るための再生クロック1
周期長測定回路の一具体例について、図13を参照しな
がら説明する。
Next, a reproduction clock 1 for obtaining one cycle length data ( TRC ) of the reproduction clock supplied to the terminal 61 is described.
A specific example of the cycle length measurement circuit will be described with reference to FIG.

【0066】図13において、端子12からのマスタク
ロックMCKは、6ビットカウンタ81、10ビットカウ
ンタ82、及び10ビットラッチ回路83の各クロック
入力端子にそれぞれ送られている。端子73からの上記
再生クロック周期イネーブル信号RCEが6ビットカウン
タ81のイネーブル端子に送られ、6ビットカウンタ8
1からのカウント出力が10ビットカウンタ82のロー
ド端子及び10ビットラッチ回路83のイネーブル端子
にそれぞれ送られている。10ビットカウンタ82のデ
ータ入力端子には常に“1”が供給されている。10ビ
ットカウンタ82からの出力は10ビットラッチ回路8
3を介し、比較器84及びセレクタ85にそれぞれ送ら
れている。比較器84には、定数発生器86、87から
の比較最小(下限)値となる定数K1 、最大(上限)値
となる定数K2 がそれぞれ送られており、これらの範囲
内にあるか否かの比較出力がセレクタ85に送られる。
セレクタ85は、上記10ビットラッチ回路83からの
出力と、定数発生器88からの定数K3 とを、上記比較
器84からの出力に応じて切換選択し、端子61に再生
クロック1周期長データ(TRC)として送る。
In FIG. 13, the master clock MCK from the terminal 12 is sent to each clock input terminal of a 6-bit counter 81, a 10-bit counter 82 and a 10-bit latch circuit 83, respectively. The recovered clock cycle enable signal RCE from the terminal 73 is sent to the enable terminal of the 6-bit counter 81,
The count output from 1 is sent to the load terminal of the 10-bit counter 82 and the enable terminal of the 10-bit latch circuit 83, respectively. “1” is always supplied to the data input terminal of the 10-bit counter 82. The output from the 10-bit counter 82 is a 10-bit latch circuit 8
3 are sent to the comparator 84 and the selector 85, respectively. Or to the comparator 84, the constant K 1 as a comparative minimum (lowest) value from the constant generator 86, constant K 2 to the maximum (upper limit) value are sent respectively, are within these ranges The comparison output of whether or not the signal is sent to the selector 85.
The selector 85 switches and selects the output from the 10-bit latch circuit 83 and the constant K 3 from the constant generator 88 in accordance with the output from the comparator 84, and outputs the reproduced clock 1 cycle length data to the terminal 61. ( TRC ).

【0067】次に動作を説明する。再生クロック1周期
長データ(TRC)は、マスタクロック周期TRCを1とし
た数字で表される。再生クロック1周期だけで見ると、
その中のマスタクロックの数は多くないので精度の高い
測定はできない。そこで、再生クロックの複数個、好ま
しくは2n (nは2以上の整数)個の中に入るマスタク
ロックの数をカウントし、その値を2n で割る。2n
割るには、nビットシフトすればよく、容易に精度の高
い測定が行える。
Next, the operation will be described. The reproduction clock one cycle length data ( TRC ) is represented by a number with the master clock cycle TRC being one. Looking at only one cycle of the playback clock,
Since the number of master clocks among them is not large, highly accurate measurement cannot be performed. Therefore, the number of master clocks included in a plurality of reproduction clocks, preferably 2 n (n is an integer of 2 or more) is counted, and the value is divided by 2 n . To divide by 2 n , it is sufficient to shift by n bits, and highly accurate measurement can be easily performed.

【0068】その値をそのまま再生クロック1周期長と
せず、ロックレンジに入っているか否かをチェックす
る。すなわち、比較器84において予め設定された周期
の下限値K1 、上限値K2 と比較し、これらの値K1
2 の範囲に入っていれば、セレクタ85により10ビ
ットラッチ回路83からの出力を選択するようにし、範
囲外であれば、定数発生器88からの予め設定されたセ
ンタ周期の値K3 を測定値に代えて再生クロック1周期
長データとして選択し出力している。ロックレンジを制
限していないと、ロックするまでの時間が長くかかった
り、いわゆる疑似ロックが起こり易くなる等の弊害があ
るからである。なお、再生クロック1周期長測定回路の
具体例は、上記図13の例に限定されないことは勿論で
ある。
The value is not directly used as one cycle of the reproduction clock, but it is checked whether or not the value is within the lock range. That is, the comparator 84 compares the values with the lower limit value K 1 and the upper limit value K 2 of the preset cycle, and compares these values K 1 to K 1 .
If it is within the range of K 2 , the output from the 10-bit latch circuit 83 is selected by the selector 85, and if it is outside the range, the preset center cycle value K 3 from the constant generator 88 is changed. Instead of the measured value, it is selected and output as one cycle length data of the reproduction clock. If the lock range is not limited, there are adverse effects such as a long time until locking or a so-called pseudo lock is likely to occur. It is needless to say that a specific example of the reproduction clock 1 cycle length measuring circuit is not limited to the example of FIG.

【0069】ところで、上記図1に戻って、入力エッジ
で取り込んだリングオシレータ30の値(上記出力RSの
状態)と、マスタクロックMCKで取り込んだリングオシ
レータ30の値との差をとれば入力エッジの位置がわか
るわけであるが、差をとるためには、フリップフロップ
回路部23により入力エッジで取り込んだ信号をさらに
フリップフロップ回路部24によりマスタクロックMCK
で取り込み直してマスタクロック同期信号とする必要が
ある。しかし、マスタクロックで取り込み直す信号はマ
スタクロック非同期の入力エッジのタイミングで変化す
る信号である。このため、運悪くマスタクロック取り込
み直し用フリップフロップ回路部24のセットアップタ
イムやホールドタイム内においてそのフリップフロップ
回路部24への入力が変化した場合、変化する前と変化
した後とのいずれの入力を取り込むかが不定となる。こ
のフリップフロップ回路部24は、上述したようにリン
グオシレータ30の段数分だけのフリップフロップから
成っているため、ビット毎に新旧のデータが入り混じる
ことになる。
Returning to FIG. 1, the difference between the value of the ring oscillator 30 taken at the input edge (the state of the output RS) and the value of the ring oscillator 30 taken at the master clock MCK is calculated. In order to obtain the difference, the signal fetched at the input edge by the flip-flop circuit unit 23 is further transferred to the master clock MCK by the flip-flop circuit unit 24.
It is necessary to re-acquire as a master clock synchronization signal. However, the signal recaptured by the master clock is a signal that changes at the timing of the input edge that is asynchronous with the master clock. For this reason, if the input to the flip-flop circuit section 24 changes during the setup time or the hold time of the flip-flop circuit section 24 for re-fetching the master clock, either of the input before and after the change is changed. It is uncertain whether to import. Since the flip-flop circuit section 24 is composed of flip-flops of the same number as the number of stages of the ring oscillator 30 as described above, new and old data are mixed for each bit.

【0070】すなわち、例えば図14は、入力RF信号
RFinに対して、フリップフロップ回路部23からの出力
FF23、マスタクロックMCK、フリップフロップ回路部2
4からの出力FF24をそれぞれ示しており、図中の
“a”、“b”、“c”等は上記リングオシレータ30
の値(状態)を示している。この図14において、例え
ばフリップフロップ回路部23がリングオシレータ値
(状態)“a”を取り込んでいる間の時刻t1 でマスタ
クロックMCKが立ち上がってフリップフロップ回路部2
4が値“a”を取り込んでいる。入力信号RFinの立ち上
がりエッジ時刻t11でフリップフロップ回路部23はリ
ングオシレータ値“b”を取り込み、これをフリップフ
ロップ回路部24がマスタクロックMCKの立ち上がり時
刻t2 で取り込んでいる。ここで、入力信号RFinの立ち
下がりエッジ時刻t12の直後の時刻t3 でマスタクロッ
クMCKが立ち上がった場合には、時刻t12でのリングオ
シレータ値“c”をフリップフロップ回路部23が取り
込む間のホールドタイム内においてフリップフロップ回
路部24による取り込みが行われることになり、時刻t
3 以降のフリップフロップ回路部24からの出力は、上
記値“b”と値“c”とがビット毎に入り混じったもの
となる虞れがある。
That is, for example, FIG.
Output from flip-flop circuit unit 23 for RF in
FF 23 , master clock MCK, flip-flop circuit 2
4 shows the output FF 24, and “a”, “b”, “c”, etc. in FIG.
(State). In FIG. 14, for example, the master clock MCK rises at time t 1 while the flip-flop circuit unit 23 is taking in the ring oscillator value (state) “a” and the flip-flop circuit unit 2
4 takes on the value "a". Flip-flop circuit 23 at the rising edge time t 11 of the input signal RF in takes in the ring oscillator value "b", this flip-flop circuit 24 is capturing the rising time t 2 of the master clock MCK. Here, if the master clock MCK rises at time t 3 immediately after the falling edge time t 12 of the input signal RF in, the ring oscillator value "c" at time t 12 the flip-flop circuit 23 captures During the hold time between, the fetch by the flip-flop circuit unit 24 is performed, and the time t
The output from the flip-flop circuit unit 24 after 3 may be a mixture of the value “b” and the value “c” on a bit-by-bit basis.

【0071】そこで、本発明実施例においては、図15
に示すような回路構成を用いることで、上記非同期信号
取り込みによる欠点を回避している。この図15中で、
図1の構成に対して変更した部分は、フリップフロップ
回路部23と減算器26との間の構成、及びフリップフ
ロップ13A、13Bからオアゲート15Cまでの構成
である。他の部分については、上記図1の各部構成と同
じ部分に同じ指示符号を付して説明を省略する。なおリ
ング遅延選択回路34については、リングオシレータ3
0の素子遅延時間を切換選択するためのものであり、後
で説明する。
Therefore, in the embodiment of the present invention, FIG.
By using the circuit configuration shown in (1), the drawback caused by the asynchronous signal capture is avoided. In this FIG.
The parts changed from the configuration in FIG. 1 are the configuration between the flip-flop circuit unit 23 and the subtractor 26, and the configuration from the flip-flops 13A and 13B to the OR gate 15C. About the other part, the same part as the above-mentioned each part structure of FIG. Note that the ring delay selection circuit 34 includes the ring oscillator 3
This is for switching and selecting the element delay time of 0, and will be described later.

【0072】図15において、フリップフロップ回路部
23からの出力は、マスタクロックMCKの立ち上がりで
取り込むフリップフロップ回路部24A及びマスタクロ
ックMCKの立ち下がりで取り込むフリップフロップ回路
部24Bにそれぞれ送られている。フリップフロップ回
路部24Aからの出力はバイナリ変換回路25Aを介
し、またフリップフロップ回路部24Bからの出力はバ
イナリ変換回路25Bを介し、それぞれセレクタ25C
に送られる。セレクタ25Cからの出力は減算器26に
送られ、バイナリ変換回路28の出力から減算される。
また、入力端子11からの入力RF信号RFinは、マスタ
クロックMCKの立ち上がりで取り込むフリップフロップ
13A及びマスタクロックMCKの立ち下がりで取り込む
フリップフロップ13Bにそれぞれ送られている。フリ
ップフロップ13Aからの出力は、フリップフロップ1
4A及び排他的論理和(Ex−OR)回路15Aに送ら
れ、フリップフロップ13Bからの出力はフリップフロ
ップ14Bに送られている。フリップフロップ14Aか
らの出力はEx−OR回路15Bに送られ、Ex−OR
回路15A、15Bにはフリップフロップ14Bからの
出力がそれぞれ送られている。Ex−OR回路15A、
15Bからの出力は、セレクタ25Cに選択制御信号と
して送られると共に、オアゲート15Cに送られてい
る。オアゲート15Cからの出力は、エッジ検出信号E
Dとして端子16より取り出される。
In FIG. 15, the output from the flip-flop circuit unit 23 is sent to a flip-flop circuit unit 24A which takes in at the rise of the master clock MCK and a flip-flop circuit unit 24B which takes in at the fall of the master clock MCK. The output from the flip-flop circuit unit 24A passes through a binary conversion circuit 25A, and the output from the flip-flop circuit unit 24B passes through a binary conversion circuit 25B.
Sent to The output from the selector 25C is sent to the subtracter 26, and is subtracted from the output of the binary conversion circuit 28.
Further, the input RF signal RF in from the input terminal 11 are sent respectively to the flip-flop 13B to capture the falling of the flip-flops 13A and a master clock MCK to capture at the rising edge of the master clock MCK. The output from the flip-flop 13A is the flip-flop 1
4A and the exclusive OR (Ex-OR) circuit 15A, and the output from the flip-flop 13B is sent to the flip-flop 14B. The output from the flip-flop 14A is sent to the Ex-OR circuit 15B,
The outputs from the flip-flop 14B are sent to the circuits 15A and 15B, respectively. Ex-OR circuit 15A,
The output from 15B is sent to the selector 25C as a selection control signal, and is also sent to the OR gate 15C. The output from the OR gate 15C is the edge detection signal E
It is taken out from the terminal 16 as D.

【0073】以上のような構成の基本的な考え方は、フ
リップフロップ回路部23からの入力エッジでのラッチ
出力データについて、マスタクロックMCKの立ち上がり
で取り込んだ時にエラーとなるタイミングで変化するよ
うなデータは、マスタクロックMCKの次の立ち下がりで
取り込めばエラーとはならないことを考慮したものであ
る。ここで、単純にマスタクロックMCKの立ち下がりの
みで取り込むようにすると、立ち下がりで取り込んでエ
ラーとなるタイミングのデータが新たに問題となるか
ら、マスタクロックMCKの立ち上がりと立ち下がりとの
内のエラーとならない方のタイミングで取り込んだデー
タを選択するようにしている。
The basic concept of the above configuration is such that the latch output data at the input edge from the flip-flop circuit unit 23 is changed at an error-prone timing when it is captured at the rising edge of the master clock MCK. Takes into account that an error does not occur if the data is taken in at the next falling edge of the master clock MCK. Here, if the data is simply taken in only at the falling edge of the master clock MCK, data at the timing of being taken in at the falling edge and causing an error becomes a new problem. The data that is fetched is selected at the timing that does not occur.

【0074】すなわち、図16は図15の各部の信号の
波形や状態(値)を示すタイムチャートであり、信号FF
23等はフリップフロップ回路部23等からの出力を示
し、信号EX15B 等はEx−OR回路15B等からの出力
を示し、信号SL25C はセレクタ25Cからの出力を示し
ている。この図16の例においては、入力エッジの立ち
下がり時刻t12の直後の時刻t02にマスタクロックMCK
が立ち下がっており、入力エッジの立ち上がり時刻t13
の直後の時刻t4 にマスタクロックMCKが立ち上がって
いる。
That is, FIG. 16 is a time chart showing the waveforms and states (values) of the signals at various parts in FIG.
23 such shows an output from the flip-flop circuit 23 or the like, the signal EX 15B, etc. indicates the output from the Ex-OR circuit 15B, etc., the signal SL 25C shows the output from the selector 25C. In the example of FIG. 16, the master clock MCK at time t 02 immediately after the fall time t 12 of the input edge
Falls, and the rising time t 13 of the input edge
The master clock MCK is up to time t 4 immediately after.

【0075】この図16に示すような例において、マス
タクロックMCKが“L”(ローレベル)となっている区
間、すなわち時刻t01〜t2 間、t02〜t3 間等に遷移
した入力エッジによるフリップフロップ回路部23から
のラッチデータ(例えば、時刻t03〜t4 間の時刻t13
で立ち上がった入力エッジでフリップフロップ回路部2
3に取り込まれたデータ“d”)については、マスタク
ロックMCKが立ち上がり(時刻t4 )により再ラッチす
ると、入力エッジがマスタクロック立ち上がりの直前に
あった時、フリップフロップ回路部23のセットアップ
タイム(ホールドタイム)を満たさず正しく取り込めな
いことがあるので、次のマスタクロックMCKの立ち下が
り(時刻t04)でフリップフロップ回路部24Bに取り
込む。
[0075] In the example shown in this FIG. 16, the master clock MCK is "L" (low level) and going on interval, i.e. between time t 01 ~t 2, input transition between t 02 ~t 3 etc. latching data from the flip-flop circuit 23 by the edge (e.g., time t 13 between the time t 03 ~t 4
Flip-flop circuit section 2 at the input edge rising at
When the master clock MCK rises (time t 4 ) and the input edge is immediately before the master clock rises, the setup time of the flip-flop circuit unit 23 (data “d”) taken in by the master clock MCK rises (time t 4 ). Since the hold time is not satisfied and the data cannot be correctly captured, the data is captured in the flip-flop circuit unit 24B at the next falling edge of the master clock MCK (time t 04 ).

【0076】これとは逆に、マスタクロックMCKが
“H”(ハイレベル)となっている区間、すなわち時刻
1 〜t01間、t2 〜t02間等に遷移した入力エッジに
よるラッチデータ(例えば、時刻t2 〜t02間の時刻t
12で立ち下がった入力エッジでフリップフロップ回路部
23に取り込まれたデータ“c”)については、マスタ
クロックMCKが立ち下がり(時刻t02)により再ラッチ
すると、入力エッジがマスタクロック立ち下がりの直前
にあった時、セットアップタイムを満たさず正しく取り
込めないことがあるので、次のマスタクロックMCKの立
ち上がり(時刻t3)でフリップフロップ回路部24A
に取り込む。
[0076] On the contrary, the master clock MCK is "H" (high level) and going on interval, i.e. between time t 1 ~t 01, latch data by the input edge transition between t 2 ~t 02 etc. (For example, a time t between times t 2 and t 02
With respect to the data “c” captured by the flip-flop circuit unit 23 at the input edge falling at 12 ), when the master clock MCK falls again (time t 02 ), the input edge becomes immediately before the master clock falls. when there, since it may not be captured correctly not satisfy the setup time, the flip-flop circuit 24A at the rising edge of the next master clock MCK (time t 3)
Take in.

【0077】これらの考え方をまとめると、例えばマス
タクロックMCKが“L”の区間の入力エッジによるラッ
チデータは、マスタクロックMCKが“H”の区間ねかせ
ておき、次の立ち下がりエッジで再ラッチするというも
のであるから、マスタクロックMCKが“L”の区間に入
力エッジがあれば次のマスタクロックMCKが“H”の区
間には入力信号のエッジが来ないことが前提である。マ
スタクロック周期TMCより再生クロック周期TRCの方が
長くなくてはいけないから、入力信号のエッジ間隔は基
本的にマスタクロック周期TMCより長い。少なくとも、
マスタクロック周波数/再生クロック周波数の比率が1
より大きければよく、2以上であればこの影響は決定的
なものとはならない。
To summarize these ideas, for example, the latch data due to the input edge in the section in which the master clock MCK is "L" is left in the section in which the master clock MCK is "H" and re-latched at the next falling edge. Therefore, if there is an input edge in the section where the master clock MCK is "L", it is assumed that the edge of the input signal does not come in the next section where the master clock MCK is "H". Since the direction of the master clock period T MC than the playback clock cycle T RC should not be longer, the edge interval of the input signal is essentially longer than the master clock period T MC. at least,
The ratio of master clock frequency / reproduction clock frequency is 1
The larger the better, the more than 2 this effect is not decisive.

【0078】ここで、マスタクロック半周期(TMC
2)単位で見て入力エッジが連続(2連続)した場合に
は、例えば次の図17に示すような回路を用いて両エッ
ジともキャンセルすることができる。この図17に示す
回路は、図15の端子11、12から端子16までの構
成に対応する部分のみを示したものであり、各フリップ
フロップ回路からの出力信号等を図18に示している。
Here, the master clock half cycle ( TMC /
2) When the input edges are continuous (two continuous) in unit, both edges can be canceled by using, for example, a circuit as shown in FIG. The circuit shown in FIG. 17 shows only a portion corresponding to the configuration of the terminals 11 and 12 to the terminal 16 in FIG. 15, and FIG. 18 shows output signals from each flip-flop circuit.

【0079】これらの図17及び図18において、4個
のEx−OR(排他的論理和)回路91、92、93、
94の内、Ex−OR回路93が図15のEx−OR回
路15Aに、Ex−OR回路92が図15のEx−OR
回路15Bにそれぞれ対応するものであり、マスタクロ
ック半周期(TMC/2)単位でその前後のエッジも見て
いる。アンドゲート96はEx−OR回路91の出力の
否定と、Ex−OR回路92の出力と、Ex−OR回路
93の出力の否定との論理積をとることで、マスタクロ
ックMCKの“H”区間内での入力エッジ検出を行い、ア
ンドゲート96はEx−OR回路92の出力の否定と、
Ex−OR回路93の出力と、Ex−OR回路94の出
力の否定との論理積をとることで、“L”区間内でのエ
ッジ検出を行っている。このようにすると、エッジがあ
った半周期区間の前後の区間にエッジが無いときのみ、
エッジ検出信号EDが立つ。
17 and 18, four Ex-OR (exclusive OR) circuits 91, 92, 93,
Of the 94, the Ex-OR circuit 93 is the Ex-OR circuit 15A of FIG. 15, and the Ex-OR circuit 92 is the Ex-OR circuit of FIG.
The circuit corresponds to the circuit 15B, and the edges before and after the master clock half cycle ( TMC / 2) are also seen. The AND gate 96 calculates the logical product of the negation of the output of the Ex-OR circuit 91, the output of the Ex-OR circuit 92, and the negation of the output of the Ex-OR circuit 93, so that the “H” period of the master clock MCK is obtained. , And the AND gate 96 determines that the output of the Ex-OR circuit 92 is negated,
By taking the logical product of the output of the Ex-OR circuit 93 and the negation of the output of the Ex-OR circuit 94, the edge detection in the "L" section is performed. In this way, only when there is no edge in the section before and after the half cycle section where the edge was,
The edge detection signal ED rises.

【0080】次に、図15のリング遅延選択回路34に
ついて説明する。上述したように、リングオシレータ3
0をディジタルPLLに応用すると、精度良い入力エッ
ジ時刻の計測が可能となり、低い周波数のマスタクロッ
クで済むという利点がある。しかし、このリングオシレ
ータは、反転ゲート素子の遅延を使用しており、この遅
延が半導体製造プロセスのばらつき、使用電源電圧、使
用温度等により大きく変化する。また、PLLに入力さ
れるディジタル信号のレートが変化すると、その再生ク
ロック変化を回路的な中心周波数の変化で対応するのは
回路の大幅な増加を招くので、マスタクロックを再生ク
ロックと同じような比率で変化させるのが好ましい。こ
こで、PLLに入力されるディジタル信号のレートの変
化の比率の具体例としては1:8程度が想定されてお
り、このときのマスタクロック周波数の変化の比率は
1:4程度とすることが好ましい。
Next, the ring delay selection circuit 34 shown in FIG. 15 will be described. As described above, the ring oscillator 3
If 0 is applied to a digital PLL, it is possible to accurately measure the input edge time, and there is an advantage that a master clock having a low frequency is sufficient. However, this ring oscillator uses the delay of the inverting gate element, and this delay greatly changes depending on variations in the semiconductor manufacturing process, the power supply voltage used, the temperature used, and the like. Also, if the rate of the digital signal input to the PLL changes, responding to the change in the reproduction clock by the change in the center frequency of the circuit causes a large increase in the circuit. It is preferable to change the ratio. Here, a specific example of the rate of change of the rate of the digital signal input to the PLL is assumed to be about 1: 8, and the rate of change of the master clock frequency at this time may be about 1: 4. preferable.

【0081】このように、反転ゲート素子の遅延や、マ
スタクロック周期TMCが一定でないシステムにおいて、
マスタクロック周期TMCが短いときに十分な分解能を持
つような短いゲート遅延と、マスタクロック周期TMC
長いときにそれでもリングオシレータがマスタクロック
周期TMC内に1周しないほど長い1周期時間を持つの
は、リングオシレータの段数が膨大になってしまい現実
的でない。そこで、リングオシレータとして1段当りの
遅延量をステップ的に切り換えられる機能を持つものを
用い、リング遅延量選択回路34により、マスタクロッ
ク周期TMC内にリングオシレータが1周以上しない範囲
で、最も小さな上記1段当りの遅延量を選択するように
している。
As described above, in a system where the delay of the inverting gate element and the master clock cycle T MC are not constant,
When the master clock period TMC is short, a short gate delay that has sufficient resolution when the master clock period TMC is short, and when the master clock period TMC is long, one cycle time that is so long that the ring oscillator does not make one turn within the master clock period TMC . It is not realistic to have a ring oscillator with a huge number of stages. Therefore, a ring oscillator having a function of switching the delay amount per stage in a stepwise manner is used, and the ring delay amount selection circuit 34 sets the ring oscillator to a maximum within a range in which the ring oscillator does not make one or more rounds within the master clock cycle TMC . The small delay amount per stage is selected.

【0082】このようなリングオシレータの遅延量の自
動切換あるいは自動選択について、図19〜図21を参
照しながら説明する。図19は、図15のリング遅延時
間測定回路33及びリング遅延選択回路34の具体例を
示すブロック回路図である。この図19において、リン
グ遅延時間測定回路33の入力端子101には上記図1
5のリングオシレータ30(ただし具体的な構成は図2
0のリングオシレータ30”とするのが好ましい)から
の任意の1素子からの出力信号が供給されており、出力
端子109からの例えば11ビットの測定出力が上記図
15の乗算器36に送られている。図20は、図19の
リング遅延選択回路34により遅延時間が選択制御され
るようなリングオシレータ30”の具体的な構成例を示
し、図21は該リングオシレータ30”に使用可能な反
転素子の1具体例を示している。
The automatic switching or automatic selection of the delay amount of the ring oscillator will be described with reference to FIGS. FIG. 19 is a block circuit diagram showing a specific example of the ring delay time measurement circuit 33 and the ring delay selection circuit 34 of FIG. In FIG. 19, the input terminal 101 of the ring delay time measurement circuit 33 is
5 ring oscillator 30 (a specific configuration is shown in FIG.
An output signal from any one element is preferably supplied from the ring oscillator 30 ″ of 0). For example, an 11-bit measurement output from the output terminal 109 is sent to the multiplier 36 in FIG. 20 shows a specific configuration example of a ring oscillator 30 "whose delay time is selectively controlled by the ring delay selection circuit 34 of FIG. 19, and FIG. 21 can be used for the ring oscillator 30". One specific example of the inversion element is shown.

【0083】ここでリング遅延時間測定回路33は、上
記リングオシレータの動作の1周期(1回転)TRNを、
マスタクロック周期TMCを単位として計測する。計測波
形としては、リングオシレータのどれか1つの反転素子
の出力波形を用いる。ただし1波形(1周期)では精度
が出ないため、複数波形(複数周期)の長さを測り波形
の数で割ることにより、1波形(1周期)分を求めてい
る。実際には、2N 個(Nは自然数)の波形の時間を測
り、それをNビットシフトすることで1/2Nした値を
求めるようにすればよい。図19の例においては、N=
6としており、64波形の間にマスタクロックが何発入
るかを測定している。
Here, the ring delay time measuring circuit 33 calculates one cycle (one rotation) T RN of the operation of the ring oscillator,
It is measured in units of the master clock cycle T MC . As a measurement waveform, an output waveform of any one inversion element of the ring oscillator is used. However, since accuracy is not obtained with one waveform (one cycle), the length of a plurality of waveforms (a plurality of cycles) is measured and divided by the number of waveforms to obtain one waveform (one cycle). In practice, the time of 2 N (N is a natural number) waveforms may be measured, and the values may be shifted by N bits to obtain a value obtained by N N. In the example of FIG. 19, N =
The number is set to 6, and the number of master clocks between 64 waveforms is measured.

【0084】すなわち図19において、端子101を介
して供給された上記リングオシレータの任意の1素子か
らの出力信号は、例えば6ビットのカウンタ102に供
給され、そのMSB(最上位ビット)出力(いわゆるQ
6 )がフリップフロップ103に送られてラッチされ、
フリップフロップ104、インバータ(反転素子)10
5、アンドゲート106により微分されてエッジ(立ち
下がりエッジ)検出がなされる。各フリップフロップ1
02、103のクロックとしては、マスタクロックMCK
が用いられている。アンドゲート106からの出力信号
は、パルス周期が上記リングオシレータ周期TRNの64
倍の64TRNで、パルス幅が1マスタクロック周期TMC
となっている。この出力信号を例えば11ビットカウン
タ107のロード端子及び11ビットラッチ回路108
のイネーブル端子に送ることで、上記64TRNの時間内
でのマスタクロックMCKの個数を求めている。これは具
体的には、上記アンドゲート106からの出力パルスに
より11ビットカウンタ107に“1”をロード(初期
値“1”にリセット)し、リセットする直前の値をラッ
チ回路108に取り込むようにしている。このラッチ回
路108からの11ビット出力のLSB(最下位ビッ
ト)から6ビット目と7ビット目との間を小数点とみな
すと、11ビットの整数値出力の小数点の位置を6ビッ
トだけ上位側にシフトしたことになり、1/64倍した
ことになる。これは、上記リングオシレータの動作の1
回転の周期TRNをマスタクロック周期TMCの1/64の
精度で測定したことになる。
That is, in FIG. 19, the output signal from any one element of the ring oscillator supplied via the terminal 101 is supplied to, for example, a 6-bit counter 102, and its MSB (most significant bit) output (so-called Q
6 ) is sent to the flip-flop 103 and latched,
Flip-flop 104, inverter (inverting element) 10
5. An edge (falling edge) is detected by differentiation by the AND gate 106. Each flip-flop 1
As the clocks 02 and 103, the master clock MCK
Is used. The output signal from the AND gate 106 has a pulse cycle of 64 of the ring oscillator cycle T RN .
Double 64T RN , pulse width is one master clock period T MC
It has become. This output signal is supplied to, for example, a load terminal of an 11-bit counter 107 and an 11-bit latch circuit 108.
, The number of master clocks MCK within the time of 64 T RN is obtained. Specifically, the 11-bit counter 107 is loaded with "1" (reset to the initial value "1") by the output pulse from the AND gate 106, and the value immediately before the reset is taken into the latch circuit 108. ing. Assuming that a portion between the sixth and seventh bits from the LSB (least significant bit) of the 11-bit output from the latch circuit 108 is a decimal point, the position of the decimal point of the 11-bit integer value output is shifted upward by 6 bits. This means that it has shifted, and has been multiplied by 1/64. This is one of the operations of the ring oscillator.
This means that the rotation period T RN is measured with an accuracy of 1/64 of the master clock period T MC .

【0085】リング遅延選択回路34は、上記リングオ
シレータの遅延量を適切な値に選ぶためのものである。
例えば、リング遅延時間測定回路33での測定値が1以
下となるとき、マスタクロックの1周期TMC内にリング
オシレータが1回転以上するわけであるから、1ランク
大きな遅延量を選ぶことが必要である。このとき、上記
測定値が1に達しなくとも例えば1.2程度の所定の下
限値kMIN を下回ったときに1ランク大きな遅延量に切
り換えるように、余裕を持った切換を行わせることが好
ましい。また、上記測定値があまり大きいと、リングオ
シレータの動作の1回転の周期TRNが不必要に大きいわ
けであるから、これをリングオシレータ段数で割った上
記測定単位時間τUNが大きくなって測定精度(マスタク
ロック周期TMC内の分解能)が低下することになる。こ
のため、上限値kMAX も設定しておき、この上限値k
MAX を越えたとき1ランク小さな遅延量に切換制御する
ことが好ましい。
The ring delay selection circuit 34 is for selecting the delay amount of the ring oscillator to an appropriate value.
For example, when the value measured by the ring delay time measurement circuit 33 is 1 or less, the ring oscillator rotates one or more times within one cycle TMC of the master clock, so it is necessary to select a delay amount one rank larger. It is. At this time, even if the measured value does not reach 1, it is preferable to perform switching with a margin so as to switch to a delay amount larger by one rank when the measured value falls below a predetermined lower limit value k MIN of about 1.2, for example. . Also, if the measured value is too large, the period T RN of one rotation of the ring oscillator operation is unnecessarily large, so that the measurement unit time τ UN obtained by dividing this by the number of ring oscillator stages becomes large. The accuracy (the resolution within the master clock cycle TMC ) will be reduced. Therefore, an upper limit value k MAX is also set, and the upper limit value k MAX is set.
It is preferable to control switching to a delay amount smaller by one rank when exceeding MAX .

【0086】図19のリング遅延選択回路34において
は、比較器111において、ラッチ回路108からの測
定出力値を、上記例えば1.2程度の下限値kMIN 及び
上記上限値kMAX (例えば2程度)と比較し、これらの
下限値kMIN 〜上限値kMAXの範囲内にあるときには
“0”を、下限値kMIN より小さいときには“+1”
を、上限値kMAX より大きいときには“−1”をそれぞ
れ加算器112に送るようにしている。加算器112か
らの加算出力は、上記アンドゲート106からの上記6
4TRN周期のパルス出力がイネーブル端子に入力される
ラッチ回路113に送られ、ラッチ回路113からの出
力が上記加算器112及びデコーダ114に送られてい
る。デコーダ114では、ラッチ回路113からの出力
信号を例えば5つの信号X1 〜X5 にデコードして出力
している。
In the ring delay selection circuit 34 shown in FIG. 19, the comparator 111 compares the measured output value from the latch circuit 108 with the lower limit value k MIN of, for example, about 1.2 and the upper limit value k MAX (for example, of about 2). ) Is compared with the lower limit value k MIN to the upper limit value k MAX , “0” is set, and when it is smaller than the lower limit value k MIN, “+1” is set.
Is transmitted to the adder 112 when the value is larger than the upper limit value k MAX . The addition output from the adder 112 is the above-mentioned 6 from the AND gate 106.
The pulse output of the 4T RN cycle is sent to the latch circuit 113 input to the enable terminal, and the output from the latch circuit 113 is sent to the adder 112 and the decoder 114. The decoder 114 decodes the output signal from the latch circuit 113 into, for example, five signals X 1 to X 5 and outputs the signals.

【0087】次に、図20は上記信号X1 〜X5 により
遅延量が切換制御されるリングオシレータ30”の例を
示し、n個(nは奇数)の反転(インバータ)回路31
1 〜31n がリング状に接続されて、各接続点から出力
信号S1 〜Sn が取り出されている。これらの各反転回
路311 〜31n は、いずれも上記図19のリング遅延
選択回路34からの信号X1 〜X5 により、遅延時間が
5段階に切換可能な構成を有している。このような遅延
時間を5段階に切換可能な反転回路31の具体例を図2
1に示している。
FIG. 20 shows an example of a ring oscillator 30 "whose delay amount is switched and controlled by the signals X 1 to X 5 , wherein n (n is an odd number) inverting (inverter) circuits 31
1 to 31 n are connected in a ring, the output signal S 1 to S n from each connection point has been removed. Each of these inverting circuits 31 1 to 31 n has a configuration in which the delay time can be switched to five stages by the signals X 1 to X 5 from the ring delay selecting circuit 34 in FIG. FIG. 2 shows a specific example of the inverting circuit 31 capable of switching the delay time in five stages.
It is shown in FIG.

【0088】図21の反転回路31の入力端子120
は、遅延時間がそれぞれτ1 、τ2 、τ3 の遅延素子1
21、122、123の直列接続回路の一端に接続され
ると共に、アンドゲート124、及びアンドゲート12
5にそれぞれ接続されている。遅延素子121の出力端
子はアンドゲート126に、遅延素子122の出力端子
はアンドゲート127に、遅延素子123の出力端子は
アンドゲート128に、それぞれ接続されている。アン
ドゲート124〜128には、それぞれ上記信号X1
5 が供給されており、信号X1 〜X5 の内のいずれか
1つが“H”となってアンドゲートが導通状態となる。
アンドゲート125〜128からの各出力がオアゲート
129を介しNORゲート130に送られ、アンドゲー
ト124からの出力がNORゲート130に送られてい
る。このNORゲート130からの出力が反転回路31
の出力として端子131より取り出される。
Input terminal 120 of inverting circuit 31 in FIG.
Is a delay element 1 having delay times τ 1 , τ 2 , τ 3 respectively.
21, 122, and 123, and AND gate 124 and AND gate 12
5 respectively. The output terminal of the delay element 121 is connected to the AND gate 126, the output terminal of the delay element 122 is connected to the AND gate 127, and the output terminal of the delay element 123 is connected to the AND gate 128. The AND gates 124 to 128 have the above signals X 1 to X 1 respectively.
X 5 are supplied, the AND gate is turned any one of the signals X 1 to X 5 is to "H".
Each output from the AND gates 125 to 128 is sent to the NOR gate 130 via the OR gate 129, and the output from the AND gate 124 is sent to the NOR gate 130. The output from the NOR gate 130 is the inverted circuit 31
Is taken out from the terminal 131 as an output.

【0089】この図21の構成において、各アンドゲー
ト124〜128の遅延時間を互いに等しくτAND
し、オアゲート129の遅延時間をτORとし、NORゲ
ート130の遅延時間をτNOR とするとき、信号X1
選択されて“1”となったときの反転回路31の遅延量
τX1は、 τX1=τAND +τNOR となる。以下同様に、信号X2 、X3 、X4 、X5 がそ
れぞれ選択されて“1”となったときの反転回路31の
遅延量τX2、τX3、τX4、τX5は、それぞれ τX2=τAND +τOR+τNOR τX3=τ1 +τAND +τOR+τNOR τX4=τ1 +τ2 +τAND +τOR+τNOR τX5=τ1 +τ2 +τ3 +τAND +τOR+τNOR となる。従って、X1 からX2 、X3 、X4 、X5 が選
択される順に、遅延量が増加することになる。
In the configuration of FIG. 21, when the delay times of the AND gates 124 to 128 are equal to each other, τ AND , the delay time of the OR gate 129 is τ OR, and the delay time of the NOR gate 130 is τ NOR , The delay amount τ X1 of the inverting circuit 31 when X 1 is selected and becomes “1” is τ X1 = τ AND + τ NOR . Similarly, the delay amounts τ X2 , τ X3 , τ X4 , τ X5 of the inverting circuit 31 when the signals X 2 , X 3 , X 4 , X 5 are respectively selected and become “1” are τ X2 = τ AND + τ OR + τ NOR τ X3 = τ 1 + τ AND + τ OR + τ NOR τ X4 = τ 1 + τ 2 + τ AND + τ OR + τ NOR τ X5 = τ 1 + τ 2 + τ 3 + τ AND + τ OR + τ NOR Therefore, the amount of delay increases in the order in which X 1 , X 2 , X 3 , X 4 , and X 5 are selected from X 1 .

【0090】この場合の切換選択可能な上記各遅延量τ
X1〜τX5を設定する際には、隣合った遅延量の比率、例
えばτX2/τX1、τX3/τX2等を、所定値R以下に揃え
るのが好ましい。そして、リング遅延時間の切換条件
は、例えばリングオシレータ周期TRNの上記測定値(マ
スタクロック周期TMCを1としたときの値)が上記下限
値kMIN 以下となるとき遅延量を1段階増加させ、上記
上限値kMAX より大きくなるとき遅延量を1段階減少さ
せるものとすると、kMAX /kMIN >Rの関係を満足さ
せることが必要となる。これは、この関係を満足しない
場合、例えばR=2とし、kMIN =1.2、kMAX
2.0とする場合において、上記X1 選択時からリング
遅延時間測定出力が上記下限値kMIN =1.2より小さ
いが1.2に非常に近い値となるときに遅延時間を1段
階増加させると、上記X2 が選択されるが、R=τX2
τX1=2であるから、リング遅延時間測定出力は2.4
より僅かに小さい値となる。これは上記上限値kMAX
2.0より大きい値であるから遅延時間を1段階減少さ
せるような切換制御が自動的に行われ、測定出力は再び
上記下限値kMIN =1.2より小さいが1.2に近い値
となり、上記動作を繰り返すことになる。すなわち、遅
延量切換動作が不安定となる。このことからも、上記k
MAX /kMIN >Rの関係を満足させる必要性が明らかで
ある。
In this case, each of the above-mentioned delay amounts τ selectable for switching.
When setting the X1 ~τ X5 is Tonaria' delay amount ratio, for example, tau X2 / tau X1, the tau X3 / tau X2, etc., preferably aligned below the predetermined value R. The switching condition of the ring delay time is such that, for example, when the measured value of the ring oscillator cycle T RN (the value when the master clock cycle T MC is 1) is equal to or less than the lower limit value k MIN, the delay amount is increased by one step. If the delay amount is reduced by one step when the delay time is larger than the upper limit value k MAX, it is necessary to satisfy the relationship of k MAX / k MIN > R. This means that if this relationship is not satisfied, for example, R = 2, k MIN = 1.2, k MAX =
In the case of 2.0, the delay time is increased by one step when the ring delay time measurement output becomes smaller than the lower limit value k MIN = 1.2 but very close to 1.2 from the above X 1 selection. Then, the above X 2 is selected, but R = τ X2 /
Since τ X1 = 2, the ring delay time measurement output is 2.4
It becomes a slightly smaller value. This is the upper limit value k MAX =
Since the value is larger than 2.0, switching control for reducing the delay time by one step is automatically performed, and the measured output again becomes smaller than the lower limit value k MIN = 1.2 but closer to 1.2. The above operation is repeated. That is, the delay amount switching operation becomes unstable. From this, the above k
The need to satisfy the relationship MAX / k MIN > R is apparent.

【0091】以上説明したように、リングオシレータの
遅延時間の自動切換を行わせることにより、半導体のば
らつきや、温度変化、電源電圧変動等による素子遅延の
ばらつきがあっても、正常なPLL動作を保つことがで
き、例えば実際にLSIとしての量産設計が可能とな
る。また、PLLに応用したとき、PLLの入力信号レ
ートの変化に対しマスタクロックを変化させることで対
応でき、回路構成を簡素化できる。
As described above, by automatically switching the delay time of the ring oscillator, a normal PLL operation can be performed even if there are variations in semiconductors, variations in elements due to temperature changes, power supply voltage variations, and the like. For example, mass production design as an LSI can be actually performed. Further, when applied to a PLL, it is possible to cope with a change in the input signal rate of the PLL by changing the master clock, thereby simplifying the circuit configuration.

【0092】なお、本発明は上記実施例のみに限定され
るものではなく、例えばリングオシレータのビット数
(段数、素子数)、リング遅延時間測定出力のビット
数、エッジ位置信号、エッジ検出信号等を取り込むため
のシフトレジスタやラッチ回路等のビット数や段数、そ
の他のデータのビット数等は、図示の例に限定されな
い。この他、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種
々の変更が可能であることは勿論である。
The present invention is not limited to only the above-described embodiment. For example, the number of bits (the number of stages and the number of elements) of a ring oscillator, the number of bits of a ring delay time measurement output, an edge position signal, an edge detection signal, and the like. The number of bits and the number of stages of a shift register, a latch circuit, and the like for capturing data, the number of bits of other data, and the like are not limited to the illustrated example. In addition, it goes without saying that various changes can be made without departing from the spirit of the present invention.

【0093】[0093]

【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明に係る入力信号のエッジ時刻測定回路によれば、奇数
個の反転素子を環状に接続して成るリングオシレータの
内部状態を、RF入力信号RFinのエッジ検出タイミン
グで第1のラッチ手段に、またマスタクロックMCKのタ
イミングで第2のラッチ手段にそれぞれ取り込み、これ
らの第1、第2のラッチ手段に取り込まれた各状態の差
を時間で表してエッジ位置信号として取り出すことによ
り、リングオシレータの内部状態の変化の時間、すなわ
ちリングオシレータの発振動作周期を反転素子数(段
数)で割った時間を単位として入力エッジ位置(エッジ
時刻)を測定することができ、高い精度での入力信号の
エッジ時刻の測定が行える。
As is apparent from the above description, according to the input signal edge time measuring circuit according to the present invention, the internal state of the ring oscillator formed by connecting an odd number of inverting elements in a ring shape is represented by RF. the first latch means in edge detection timing of the input signal RF in, also takes in each second latching means at the timing of the master clock MCK, the first of these, the difference in the state of being incorporated into the second latch means Is expressed as time and taken out as an edge position signal, so that the input edge position (edge time ) Can be measured, and the edge time of the input signal can be measured with high accuracy.

【0094】この入力信号のエッジ時刻測定回路をディ
ジタルPLL装置に適用することにより、マスタクロッ
クの周波数に関係なく(再生クロック周波数に近い周波
数であっても)、良好な動作が可能であり、マスタクロ
ック周波数が低くともエッジ時刻の精度は変わらないか
らエラーレートもマスタクロックが高いときに比べて悪
化することのないディジタルPLL装置を提供できる。
By applying this input signal edge time measuring circuit to a digital PLL device, good operation is possible regardless of the master clock frequency (even if the frequency is close to the reproduction clock frequency). Even if the clock frequency is low, the accuracy of the edge time does not change, so that it is possible to provide a digital PLL device in which the error rate does not deteriorate as compared with the case where the master clock is high.

【0095】ここで、上記第1、第2のラッチ手段に取
り込まれた各状態の差を求めるためのエッジ位置算出手
段として、上記第1のラッチ手段からの出力を上記マス
タクロックの立ち上がりタイミングで取り込む第3のラ
ッチ手段と、上記第1のラッチ手段からの出力を上記マ
スタクロックの立ち下がりタイミングで取り込む第4の
ラッチ手段とを用い、上記入力信号のエッジが上記マス
タクロックの“H”(ハイレベル)区間にあるときには
上記第3のラッチ手段からの出力を、上記入力信号のエ
ッジが上記マスタクロックの“L”(ローレベル)区間
にあるときには上記第4のラッチ手段からの出力をそれ
ぞれ選択して、上記第2のラッチ手段からの出力と比較
するようにすることにより、マスタクロックエッジが入
力エッジに接近することによる誤動作を防止することが
できる。
Here, the output from the first latch means is used as an edge position calculating means for determining the difference between the states taken in the first and second latch means at the rising timing of the master clock. The third latch means for taking in and the fourth latch means for taking in the output from the first latch means at the falling timing of the master clock, and the edge of the input signal is "H"("H") of the master clock. The output from the third latch means is provided during the high level section, and the output from the fourth latch means is provided when the edge of the input signal is in the "L" (low level) section of the master clock. By selecting and comparing the output with the output from the second latch means, the master clock edge approaches the input edge. It is possible to prevent malfunction due to.

【0096】また、上記リングオシレータとして、遅延
時間が可変の反転素子を用いて構成し、マスタクロック
周期とリングオシレータの発振動作周期との比率に応じ
て上記遅延時間を切換選択することにより、素子遅延時
間のばらつきがあっても正常な動作が保証され、LSI
の量産設計が可能となる。
Further, the ring oscillator is constituted by using an inverting element having a variable delay time, and the delay time is switched and selected according to the ratio between the master clock cycle and the oscillation operation cycle of the ring oscillator. Normal operation is guaranteed even if the delay time varies, and the LSI
Mass production design becomes possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る一実施例としてのディジタルPL
L装置の入力信号のエッジ時刻測定回路部の概略構成を
示すブロック回路図である。
FIG. 1 shows a digital PL as an embodiment according to the present invention.
FIG. 3 is a block circuit diagram illustrating a schematic configuration of an edge time measuring circuit section of an input signal of the L device.

【図2】該実施例に用いられるリングオシレータの構成
例を示す回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of a ring oscillator used in the embodiment.

【図3】図2に示すリングオシレータの動作を説明する
ためのタイミングチャートである。
FIG. 3 is a timing chart for explaining an operation of the ring oscillator shown in FIG. 2;

【図4】入力信号のエッジ検出動作を説明するためのタ
イミングチャートである。
FIG. 4 is a timing chart for explaining an edge detection operation of an input signal.

【図5】入力信号のエッジ位置検出動作を説明するため
のタイミングチャートである。
FIG. 5 is a timing chart for explaining an edge position detection operation of an input signal.

【図6】バイナリ変換回路の具体例を示す回路図であ
る。
FIG. 6 is a circuit diagram showing a specific example of a binary conversion circuit.

【図7】本発明に係る一実施例としてのディジタルPL
L装置の位相同期回路部の概略構成を示すブロック回路
図である。
FIG. 7 shows a digital PL as one embodiment according to the present invention.
FIG. 3 is a block circuit diagram illustrating a schematic configuration of a phase synchronization circuit unit of the L device.

【図8】エッジ位置を表す信号の値の具体例を示す図で
ある。
FIG. 8 is a diagram illustrating a specific example of a signal value representing an edge position.

【図9】位相誤差が0のエッジ位置の計算を説明するた
めの図である。
FIG. 9 is a diagram for explaining calculation of an edge position where a phase error is 0;

【図10】図7中のウィンドウジェネレータの具体例を
示すブロック回路図である。
FIG. 10 is a block circuit diagram showing a specific example of a window generator in FIG. 7;

【図11】図10のウィンドウジェネレータの動作を説
明するための図である。
11 is a diagram for explaining the operation of the window generator in FIG.

【図12】図7中のウィンドウ回路及びその近傍の回路
の具体的な構成例を示すブロック回路図である。
FIG. 12 is a block circuit diagram showing a specific configuration example of a window circuit in FIG. 7 and circuits in the vicinity thereof.

【図13】再生クロック1周期長測定回路の具体例を示
すブロック回路図である。
FIG. 13 is a block circuit diagram showing a specific example of a reproduction clock one cycle length measuring circuit.

【図14】入力エッジ位置の誤検出を説明するためのタ
イミングチャートである。
FIG. 14 is a timing chart for explaining erroneous detection of an input edge position.

【図15】入力エッジ位置の誤検出を防止した入力信号
のエッジ時刻測定回路部の概略構成を示すブロック回路
図である。
FIG. 15 is a block circuit diagram showing a schematic configuration of an input signal edge time measurement circuit unit which prevents erroneous detection of an input edge position.

【図16】図15の回路の動作を説明するためのタイミ
ングチャートである。
FIG. 16 is a timing chart for explaining the operation of the circuit of FIG. 15;

【図17】入力エッジ位置の誤検出を防止するための他
の具体例の要部構成を示す回路図である。
FIG. 17 is a circuit diagram showing a main configuration of another specific example for preventing erroneous detection of an input edge position.

【図18】図17の回路の動作を説明するためのタイミ
ングチャートである。
FIG. 18 is a timing chart for explaining the operation of the circuit in FIG. 17;

【図19】図15中のリング遅延時間測定回路及びリン
グ遅延選択回路の具体的な構成例を示すブロック回路図
である。
FIG. 19 is a block circuit diagram showing a specific configuration example of a ring delay time measurement circuit and a ring delay selection circuit in FIG.

【図20】遅延時間が切換選択可能なリングオシレータ
の具体例を示すブロック回路図である。
FIG. 20 is a block circuit diagram showing a specific example of a ring oscillator capable of switching and selecting a delay time.

【図21】遅延時間が切換選択可能なリングオシレータ
に用いられる反転回路の具体例を示す回路図である。
FIG. 21 is a circuit diagram showing a specific example of an inverting circuit used in a ring oscillator capable of switching and selecting a delay time.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11・・・・・RF信号入力端子 12・・・・・マスタクロック信号入力端子 13、14、74、77、78・・・・・フリップフロ
ップ 15、22・・・・・排他的論理和(Ex−OR)回路 23、24、27、59・・・・・フリップフロップ回
路部 25、28・・・・・バイナリ変換回路 26、55・・・・・減算器 30、30’、30”・・・・・リングオシレータ 33・・・・・リング遅延時間測定回路 34・・・・・リング遅延選択回路 36・・・・・乗算器 51・・・・・9ビットシフトレジスタ 52・・・・・再生クロック1周期長ウィンドウ回路 53・・・・・再生クロック周期ラッチ回路 54・・・・・エッジ位置整数部デコーダ 56・・・・・6ビットパラレル9ビットシフトレジス
タ 57・・・・・セレクタ 58・・・・・1/4回路 61・・・・・再生クロック1周期長測定値供給端子 62、64、66・・・・・加算器 63・・・・・ラッチ回路 67・・・・・ウィンドウジェネレータ 71・・・・・比較器 72・・・・・3ビットカウンタ
11 RF signal input terminal 12 Master clock signal input terminal 13, 14, 74, 77, 78 ... Flip-flop 15, 22 ... Exclusive OR ( Ex-OR) circuit 23, 24, 27, 59 ... flip-flop circuit unit 25, 28 ... binary conversion circuit 26, 55 ... subtractor 30, 30 ', 30 " ············································································································· 9-bit shift register 52 ········· ... Reproduction clock 1 cycle length window circuit 53... Reproduction clock cycle latch circuit 54... Edge position integer part decoder 56... 6-bit parallel 9-bit shift register 57. ······ 1/4 circuit 61 ··· Reproduced clock 1 cycle length measurement value supply terminal 62, 64, 66 ··· Adder 63 ··· Latch circuit 67 ··· ..Window generator 71... Comparator 72... 3 bit counter

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 奇数個の反転素子を環状に接続して成る
リングオシレータと、 入力信号のエッジを検出する手段と、 上記リングオシレータの各段の状態を入力信号の上記検
出されたエッジのタイミングで取り込む第1のラッチ手
段と、 上記リングオシレータの各段の状態をマスタクロックの
タイミングで取り込む第2のラッチ手段と、 上記第1のラッチ手段により取り込まれた上記リングオ
シレータの各段の状態と上記第2のラッチ手段により取
り込まれた上記リングオシレータの各段の状態とを比較
しこれらの状態の差を時間で表してエッジ位置信号とし
て出力するエッジ位置算出手段とを有して成ることを特
徴とする入力信号のエッジ時刻測定回路。
1. A ring oscillator comprising an odd number of inverting elements connected in a ring, means for detecting an edge of an input signal, and the state of each stage of the ring oscillator is determined by the timing of the detected edge of the input signal. A first latch means for capturing the state of each stage of the ring oscillator at a master clock timing, and a state of each stage of the ring oscillator captured by the first latch means. Edge position calculating means for comparing the state of each stage of the ring oscillator taken in by the second latch means, expressing the difference between these states in time, and outputting it as an edge position signal. Characteristic input signal edge time measurement circuit.
【請求項2】 上記エッジ位置算出手段は、上記第1の
ラッチ手段からの出力を上記マスタクロックの立ち上が
りタイミングで取り込む第3のラッチ手段と、上記第1
のラッチ手段からの出力を上記マスタクロックの立ち下
がりタイミングで取り込む第4のラッチ手段とを有し、
上記入力信号のエッジが上記マスタクロックの“H”
(ハイレベル)区間にあるときには上記第3のラッチ手
段からの出力を、上記入力信号のエッジが上記マスタク
ロックの“L”(ローレベル)区間にあるときには上記
第4のラッチ手段からの出力をそれぞれ選択して、上記
第2のラッチ手段からの出力と比較することを特徴とす
る請求項1記載の入力信号のエッジ時刻測定回路。
2. The edge position calculation means includes: third latch means for taking in an output from the first latch means at a rising timing of the master clock;
And a fourth latch means for taking in the output from the latch means at the falling timing of the master clock.
The edge of the input signal is "H" of the master clock.
The output from the third latch means is in the (high level) section, and the output from the fourth latch means is in the "L" (low level) section of the master clock when the edge of the input signal is in the "L" (low level) section. 2. The circuit for measuring the edge time of an input signal according to claim 1, wherein each of them is selected and compared with an output from said second latch means.
【請求項3】 上記リングオシレータは、遅延時間が可
変の反転素子を用いて成り、上記マスタクロックの周期
に対するリングオシレータの発振動作周期の比率に応じ
て上記遅延時間を切換選択することを特徴とする請求項
1記載の入力信号のエッジ時刻測定回路。
3. The ring oscillator comprises an inverting element having a variable delay time, and switches and selects the delay time according to a ratio of an oscillation operation cycle of the ring oscillator to a cycle of the master clock. The edge time measuring circuit for an input signal according to claim 1.
【請求項4】 奇数個の反転素子を環状に接続して成る
リングオシレータと、 入力信号のエッジを検出する手段と、 上記リングオシレータの各段の状態を入力信号の上記検
出されたエッジのタイミングで取り込む第1のラッチ手
段と、 上記リングオシレータの各段の状態をマスタクロックの
タイミングで取り込む第2のラッチ手段と、 上記第1のラッチ手段により取り込まれた上記リングオ
シレータの各段の状態と上記第2のラッチ手段により取
り込まれた上記リングオシレータの各段の状態とを比較
しこれらの状態の差を時間で表してエッジ位置信号とし
て出力するエッジ位置算出手段と入力信号をマスタクロ
ックでサンプリングしてマスタクロック単位で入力信号
のエッジの有無を検出してエッジ検出信号として出力す
る手段と、 位相誤差データと再生クロック周期データとに基づいて
再生クロックを出力する再生クロック発生手段と、 上記エッジ位置信号とエッジ検出信号とに基づいて再生
クロックと入力信号エッジとの位相誤差データを求めて
上記再生クロック発生手段に送る位相誤差検出手段と、 上記再生クロック発生手段からの再生クロックの周期デ
ータを検出して上記再生クロック発生手段に送る再生ク
ロック周期検出手段とを有して成ることを特徴とするデ
ィジタルPLL装置。
4. A ring oscillator comprising an odd number of inverting elements connected in a ring, means for detecting an edge of an input signal, and the state of each stage of the ring oscillator is determined by the timing of the detected edge of the input signal. A first latch means for capturing the state of each stage of the ring oscillator at a master clock timing, and a state of each stage of the ring oscillator captured by the first latch means. Edge position calculating means for comparing the states of the respective stages of the ring oscillator taken in by the second latch means, expressing the difference between these states in time and outputting them as edge position signals, and sampling the input signal with a master clock Means for detecting the presence or absence of an edge of the input signal in master clock units and outputting the same as an edge detection signal; Reproduction clock generating means for outputting a reproduction clock based on the difference data and the reproduction clock cycle data; and obtaining the phase error data between the reproduction clock and an input signal edge based on the edge position signal and the edge detection signal. A phase error detecting means for transmitting to the clock generating means; and a reproduced clock cycle detecting means for detecting periodic data of the reproduced clock from the reproduced clock generating means and transmitting the data to the reproduced clock generating means. Digital PLL device.
【請求項5】 上記エッジ位置算出手段は、上記第1の
ラッチ手段からの出力を上記マスタクロックの立ち上が
りタイミングで取り込む第3のラッチ手段と、上記第1
のラッチ手段からの出力を上記マスタクロックの立ち下
がりタイミングで取り込む第4のラッチ手段とを有し、
上記入力信号のエッジが上記マスタクロックの“H”
(ハイレベル)区間にあるときには上記第3のラッチ手
段からの出力を、上記入力信号のエッジが上記マスタク
ロックの“L”(ローレベル)区間にあるときには上記
第4のラッチ手段からの出力をそれぞれ選択して、上記
第2のラッチ手段からの出力と比較することを特徴とす
る請求項4記載のディジタルPLL装置。
5. The edge position calculating means includes: third latch means for capturing an output from the first latch means at a rising timing of the master clock;
And a fourth latch means for taking in the output from the latch means at the falling timing of the master clock.
The edge of the input signal is "H" of the master clock.
The output from the third latch means is in the (high level) section, and the output from the fourth latch means is in the "L" (low level) section of the master clock when the edge of the input signal is in the "L" (low level) section. 5. The digital PLL device according to claim 4, wherein each of the selected signals is selected and compared with an output from said second latch means.
【請求項6】 上記リングオシレータは、遅延時間が可
変の反転素子を用いて成り、上記マスタクロックの周期
に対するリングオシレータの発振動作周期の比率に応じ
て上記遅延時間を切換選択することを特徴とする請求項
4記載のディジタルPLL装置。
6. The ring oscillator includes an inverting element having a variable delay time, and switches and selects the delay time in accordance with a ratio of an oscillation operation cycle of the ring oscillator to a cycle of the master clock. The digital PLL device according to claim 4, wherein
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