JP3211134B2 - 水晶振動子の発振周波数算出方法 - Google Patents
水晶振動子の発振周波数算出方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、携帯電話機等の発振回
路に使用する水晶振動子の発信周波数算出方法に関する
もので、特に周波数−温度特性を簡易な方法で算出する
水晶振動子の発振周波数算出方法に関するものである。
路に使用する水晶振動子の発信周波数算出方法に関する
もので、特に周波数−温度特性を簡易な方法で算出する
水晶振動子の発振周波数算出方法に関するものである。
【０００２】
【従来技術】従来から水晶振動子は発振周波数が非常に
安定していることで携帯電話機等の発振回路に多く利用
されており、温度特性のよいものが常に要求されてい
る。しかし、すべての物質は使用状態の周囲温度の影響
を受け、温度変化によってその寸法及び特性が少なから
ず変化する。水晶振動子用として切り出された水晶片も
同様にその発振周波数は温度変化の影響を受けて変化す
る。
安定していることで携帯電話機等の発振回路に多く利用
されており、温度特性のよいものが常に要求されてい
る。しかし、すべての物質は使用状態の周囲温度の影響
を受け、温度変化によってその寸法及び特性が少なから
ず変化する。水晶振動子用として切り出された水晶片も
同様にその発振周波数は温度変化の影響を受けて変化す
る。
【０００３】また、その特性は水晶片の切断方位によっ
て異なり、ＡＴカット、ＳＣカット、ＣＴカットの水晶
片がある。図３はＡＴカット水晶片の構造を示す図であ
る。図示するように水晶振動子は水晶片の両面に電極ａ
を設けたもので材質・形状ｃ、カッティング角度ｂ、厚
さｄによって固有の周波数が決まる。
て異なり、ＡＴカット、ＳＣカット、ＣＴカットの水晶
片がある。図３はＡＴカット水晶片の構造を示す図であ
る。図示するように水晶振動子は水晶片の両面に電極ａ
を設けたもので材質・形状ｃ、カッティング角度ｂ、厚
さｄによって固有の周波数が決まる。
【０００４】図４はＡＴカット水晶振動子の周波数偏差
−温度特性を示す図である。図示するように特性Ｂの水
晶振動子は−１０℃〜＋６０℃の温度範囲では非常によ
い特性が得られ、−５０℃〜＋１００℃の温度範囲では
特性Ａの水晶振動子の方が周波数変化が少ない。従っ
て、その使用目的、使用温度範囲に応じて適切な特性を
持つ水晶振動子が使用されている。
−温度特性を示す図である。図示するように特性Ｂの水
晶振動子は−１０℃〜＋６０℃の温度範囲では非常によ
い特性が得られ、−５０℃〜＋１００℃の温度範囲では
特性Ａの水晶振動子の方が周波数変化が少ない。従っ
て、その使用目的、使用温度範囲に応じて適切な特性を
持つ水晶振動子が使用されている。
【０００５】図４に示すようにＡＴカット水晶振動子の
周波数偏差Δｆ／ｆ（ｐｐｍ）は一般的に式（１）に示
す多項式で表される。 Δｆ／ｆ＝Ａ0＋Ａ1Ｔ＋Ａ2Ｔ2＋Ａ3Ｔ3＋Ａ4Ｔ4＋Ａ5Ｔ5＋・・・・・（１） ここでΔｆは周波数偏差、ｆは発振周波数、Ａ0〜Ａnは
係数、Ｔは温度を表す。
周波数偏差Δｆ／ｆ（ｐｐｍ）は一般的に式（１）に示
す多項式で表される。 Δｆ／ｆ＝Ａ0＋Ａ1Ｔ＋Ａ2Ｔ2＋Ａ3Ｔ3＋Ａ4Ｔ4＋Ａ5Ｔ5＋・・・・・（１） ここでΔｆは周波数偏差、ｆは発振周波数、Ａ0〜Ａnは
係数、Ｔは温度を表す。
【０００６】上記式（１）は実際の計算では４次以上の
項は小さいので無視して、周波数偏差は式（２）で示す
ように温度の３次式で十分正確に計算される。 Δｆ／ｆ＝Ａ0＋Ａ1Ｔ＋Ａ2Ｔ2＋Ａ3Ｔ3・・・・・・・・・・（２） 従って、周波数の制御は水晶振動子の定数Ａ0、係数
Ａ1、Ａ2、Ａ3を予め求めて置き、発振動作中に水晶振
動子の温度を検出し、式（２）の計算を行い周波数偏差
Δｆ／ｆを求め、図５で示す水晶発振回路で周波数偏差
を補正し一定周波数を維持する。
項は小さいので無視して、周波数偏差は式（２）で示す
ように温度の３次式で十分正確に計算される。 Δｆ／ｆ＝Ａ0＋Ａ1Ｔ＋Ａ2Ｔ2＋Ａ3Ｔ3・・・・・・・・・・（２） 従って、周波数の制御は水晶振動子の定数Ａ0、係数
Ａ1、Ａ2、Ａ3を予め求めて置き、発振動作中に水晶振
動子の温度を検出し、式（２）の計算を行い周波数偏差
Δｆ／ｆを求め、図５で示す水晶発振回路で周波数偏差
を補正し一定周波数を維持する。
【０００７】図５は水晶発振回路の構成例を示す図であ
る。発振回路の発振周波数は水晶振動子４５、コンデン
サ４３、４４、４６、４７と可変容量ダイオ−ド４２の
静電容量で決定される。水晶振動子４５で発振した周波
数信号はトランジスタ５０で増幅されコンデンサ５６を
通して出力端子から出力される。
る。発振回路の発振周波数は水晶振動子４５、コンデン
サ４３、４４、４６、４７と可変容量ダイオ−ド４２の
静電容量で決定される。水晶振動子４５で発振した周波
数信号はトランジスタ５０で増幅されコンデンサ５６を
通して出力端子から出力される。
【０００８】水晶振動子４５は前述したように温度変化
により共振周波数が変化（±１０ｐｐｍ程度）する温度
特性を有し、前記可変容量ダイオ−ド４２は制御電圧に
より静電容量が変化する素子である。この可変容量ダイ
オ−ド４２の制御電圧と出力周波数の変化特性は予め測
定し求めておく。制御装置（図示せず）を設け、発振回
路が発振動作中に水晶振動子４５の温度が変化した場
合、制御装置は式（２）で周波数偏差を計算し、周波数
偏差を修正するように入力端子の電圧を制御して出力周
波数を一定に制御することができる。
により共振周波数が変化（±１０ｐｐｍ程度）する温度
特性を有し、前記可変容量ダイオ−ド４２は制御電圧に
より静電容量が変化する素子である。この可変容量ダイ
オ−ド４２の制御電圧と出力周波数の変化特性は予め測
定し求めておく。制御装置（図示せず）を設け、発振回
路が発振動作中に水晶振動子４５の温度が変化した場
合、制御装置は式（２）で周波数偏差を計算し、周波数
偏差を修正するように入力端子の電圧を制御して出力周
波数を一定に制御することができる。
【０００９】以上説明したように、従来の発振周波数制
御は水晶振動子の定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2、Ａ3及び、可
変容量ダイオ−ド４２の特性を予め求めて格納しておく
必要があり、その為、各振動子の係数Ａ0、Ａ1、Ａ2、
Ａ3は４点以上の測定点の測定デ−タから予め求められ
ていた。なお、式（２）の定数Ａ0は水晶片の厚さｄ
（図３参照）でおおむね決まり、係数Ａ1はカッティン
グ角度ｂで決まり、係数Ａ2、Ａ3は材質・形状ｃでおお
むね決まる。
御は水晶振動子の定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2、Ａ3及び、可
変容量ダイオ−ド４２の特性を予め求めて格納しておく
必要があり、その為、各振動子の係数Ａ0、Ａ1、Ａ2、
Ａ3は４点以上の測定点の測定デ−タから予め求められ
ていた。なお、式（２）の定数Ａ0は水晶片の厚さｄ
（図３参照）でおおむね決まり、係数Ａ1はカッティン
グ角度ｂで決まり、係数Ａ2、Ａ3は材質・形状ｃでおお
むね決まる。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記Ａ
Ｔカット水晶振動子はその仕様によって温度特性が異な
り、定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2、Ａ3は水晶振動子毎に異な
る。更に、上述したように定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2、Ａ3
の４個の値を求めるには水晶振動子毎に４点以上の測定
デ−タが必要で、その作業は煩雑になり工数が増加しコ
ストが上昇し作業効率も悪く間違いの発生も多くなると
云う問題があった。
Ｔカット水晶振動子はその仕様によって温度特性が異な
り、定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2、Ａ3は水晶振動子毎に異な
る。更に、上述したように定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2、Ａ3
の４個の値を求めるには水晶振動子毎に４点以上の測定
デ−タが必要で、その作業は煩雑になり工数が増加しコ
ストが上昇し作業効率も悪く間違いの発生も多くなると
云う問題があった。
【００１１】本発明は上述の点に鑑みてなされたもの
で、上記問題点を除去し、水晶振動子の温度特性の測定
点を減らし効率のよい水晶振動子の発振周波数算出方法
を提供することを目的とする。
で、上記問題点を除去し、水晶振動子の温度特性の測定
点を減らし効率のよい水晶振動子の発振周波数算出方法
を提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、温度のｎ次多項式で表される水晶振動子の温度特性
の各係数を求め発振周波数を計算する水晶振動子の発振
周波数算出方法において、請求項１に記載の発明は、前
記ｎ次多項式の温度特性を３次式に近似し、その第３次
係数として同じ材料、同じ工程で製造された複数の水晶
振動子の第３次係数の平均値を使用し、第２次係数、第
１次係数及び、定数を３点の温度と周波数の測定データ
から求め発振周波数を計算し、請求項２に記載の発明
は、前記ｎ次多項式の温度特性を３次式に近似し、その
第２次係数として同じ材料、同じ工程で製造された複数
の水晶振動子の第２次係数の平均値を使用し、第３次係
数、第１次係数及び、定数を３点の温度と周波数の測定
データから求め発振周波数を計算することを特徴とす
る。
め、温度のｎ次多項式で表される水晶振動子の温度特性
の各係数を求め発振周波数を計算する水晶振動子の発振
周波数算出方法において、請求項１に記載の発明は、前
記ｎ次多項式の温度特性を３次式に近似し、その第３次
係数として同じ材料、同じ工程で製造された複数の水晶
振動子の第３次係数の平均値を使用し、第２次係数、第
１次係数及び、定数を３点の温度と周波数の測定データ
から求め発振周波数を計算し、請求項２に記載の発明
は、前記ｎ次多項式の温度特性を３次式に近似し、その
第２次係数として同じ材料、同じ工程で製造された複数
の水晶振動子の第２次係数の平均値を使用し、第３次係
数、第１次係数及び、定数を３点の温度と周波数の測定
データから求め発振周波数を計算することを特徴とす
る。
【００１３】請求項３に記載の発明は、温度のｎ次多項
式で表される水晶振動子の温度特性の各係数を求める発
振周波数を計算する水晶振動子の発振周波数算出方法に
おいて、前記ｎ次多項式の温度特性を３次式に近似し、
その第３次係数及び、第２次係数として同じ材料、同じ
工程で製造された複数の水晶振動子の第３次係数及び、
第２次係数の平均値を使用し、第１次係数及び、定数を
２点の温度と周波数の測定データから求め発振周波数を
計算することを特徴とする。
式で表される水晶振動子の温度特性の各係数を求める発
振周波数を計算する水晶振動子の発振周波数算出方法に
おいて、前記ｎ次多項式の温度特性を３次式に近似し、
その第３次係数及び、第２次係数として同じ材料、同じ
工程で製造された複数の水晶振動子の第３次係数及び、
第２次係数の平均値を使用し、第１次係数及び、定数を
２点の温度と周波数の測定データから求め発振周波数を
計算することを特徴とする。
【００１４】
【作用】請求項１又は２に記載の発明は、第３次係数又
は第２次係数として同じ材料、同じ工程で製造された複
数の水晶振動子の第３次係数又は第２次係数の平均値を
使用するので、従来、第３次、第２次、第１次の各係数
及び定数を求め発振周波数偏差を算出する為に４点以上
の測定点の測定データが必要であったが、３点の測定点
の測定データから各係数を求め発振周波数偏差を十分な
精度で算出することが出来る。従って、データ測定点の
減少による工数及びコストが低減される。
は第２次係数として同じ材料、同じ工程で製造された複
数の水晶振動子の第３次係数又は第２次係数の平均値を
使用するので、従来、第３次、第２次、第１次の各係数
及び定数を求め発振周波数偏差を算出する為に４点以上
の測定点の測定データが必要であったが、３点の測定点
の測定データから各係数を求め発振周波数偏差を十分な
精度で算出することが出来る。従って、データ測定点の
減少による工数及びコストが低減される。
【００１５】請求項３に記載の発明は、第３次係数及
び、第２次係数として同じ材料、同じ工程で製造された
複数の水晶振動子の第３次係数及び、第２次係数の平均
値を使用するので、２点の測定点の測定データから各係
数を求め発振周波数偏差を十分な精度で算出することが
出来る。従って、データ測定点の減少による工数及びコ
ストが低減される。
び、第２次係数として同じ材料、同じ工程で製造された
複数の水晶振動子の第３次係数及び、第２次係数の平均
値を使用するので、２点の測定点の測定データから各係
数を求め発振周波数偏差を十分な精度で算出することが
出来る。従って、データ測定点の減少による工数及びコ
ストが低減される。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。同じ材料、同じ工程により製作されたＡ
Ｔカット水晶振動子の定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2、Ａ3のバ
ラツキは比較的狭い範囲内に収まっている。例えば、係
数Ａ3は±８％の範囲に収まっている。このバラツキは
ＡＴカット水晶振動子を製造する際の製造誤差と云って
よい。
細に説明する。同じ材料、同じ工程により製作されたＡ
Ｔカット水晶振動子の定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2、Ａ3のバ
ラツキは比較的狭い範囲内に収まっている。例えば、係
数Ａ3は±８％の範囲に収まっている。このバラツキは
ＡＴカット水晶振動子を製造する際の製造誤差と云って
よい。
【００１７】図１は本発明の発振周波数算出方法で係数
Ａ3として、同じ材料、同じ工程で製造された複数（例
えば１００個）の水晶振動子の係数Ａ 3 の平均値を用い
３点の測定データから求めた特性曲線と実測値を示す図
である。同図は係数Ａ3を平均化した値（Ａ3＝−０．１
５／１０5）に固定し、測定温度−２０℃、２０℃、６
０℃の３点で周波数を測定し、式（３）から定数Ａ0、
係数Ａ1、Ａ2を求め算出した特性曲線と測定値である。
Ａ3として、同じ材料、同じ工程で製造された複数（例
えば１００個）の水晶振動子の係数Ａ 3 の平均値を用い
３点の測定データから求めた特性曲線と実測値を示す図
である。同図は係数Ａ3を平均化した値（Ａ3＝−０．１
５／１０5）に固定し、測定温度−２０℃、２０℃、６
０℃の３点で周波数を測定し、式（３）から定数Ａ0、
係数Ａ1、Ａ2を求め算出した特性曲線と測定値である。
【００１８】 Ｙ1＝Ａ0＋Ａ1Ｔ1＋Ａ2Ｔ1 2＋Ａ3Ｔ1 3 Ｙ2＝Ａ0＋Ａ1Ｔ2＋Ａ2Ｔ2 2＋Ａ3Ｔ2 3 ・・・・（３） Ｙ3＝Ａ0＋Ａ1Ｔ3＋Ａ2Ｔ3 2＋Ａ3Ｔ3 3
【００１９】ここで、Ｔ1は測定温度−２０℃ Ｔ2は測定温度２０℃ Ｔ3は測定温度６０℃ Ｙ1は測定温度−２０℃の時の周波数偏差 Ｙ2は測定温度２０℃の時の周波数偏差 Ｙ3は測定温度６０℃の時の周波数偏差 図１から分かるように、係数Ａ3を適切な値に選べば周
波数偏差を０．１ｐｐｍ以内に計算することが出来る。
波数偏差を０．１ｐｐｍ以内に計算することが出来る。
【００２０】また、測定温度は−２０℃、２０℃、６０
℃の３点に限定せず、−２０℃〜７５℃の範囲で適切な
値を選べば上記と同様に周波数偏差の計算値と実測値
（実測値省略）を０．１ｐｐｍ以内に計算することが出
来る。
℃の３点に限定せず、−２０℃〜７５℃の範囲で適切な
値を選べば上記と同様に周波数偏差の計算値と実測値
（実測値省略）を０．１ｐｐｍ以内に計算することが出
来る。
【００２１】ＡＴカット水晶振動子の温度特性の３次曲
線は略２５℃（変極点）を中心として描かれている。こ
れはなるべく常温付近の特性を平滑にするためだが、こ
のため高温、低温においては周波数変動分が大きくな
る。従って、測定温度をなるべく使用温度（携帯電話機
の使用温度範囲）の高温、低温にとった方が全体的には
均一になり、よい結果が得られる。
線は略２５℃（変極点）を中心として描かれている。こ
れはなるべく常温付近の特性を平滑にするためだが、こ
のため高温、低温においては周波数変動分が大きくな
る。従って、測定温度をなるべく使用温度（携帯電話機
の使用温度範囲）の高温、低温にとった方が全体的には
均一になり、よい結果が得られる。
【００２２】また、水晶振動子は製造的な誤差がなけれ
ば係数Ａ3の値は同じになるが、現在、仕様が同じでも
多数のＡＴカット水晶振動子を測定した結果は±８％の
製造誤差がある。図２は係数Ａ3を平均値から−８％変
化させた時の計算値と実測値を示す図である。
ば係数Ａ3の値は同じになるが、現在、仕様が同じでも
多数のＡＴカット水晶振動子を測定した結果は±８％の
製造誤差がある。図２は係数Ａ3を平均値から−８％変
化させた時の計算値と実測値を示す図である。
【００２３】図２の計算値は、式（３）から定数Ａ0、
係数Ａ1、Ａ2を求め周波数偏差の特性曲線を算出したも
のである。図から分かるように、測定温度−２０℃〜６
０℃の範囲では０．２ｐｐｍの誤差で周波数偏差を計算
することが出来る。その外側の温度に対しては−３０℃
の点で０．３５ｐｐｍ℃、７０℃の点で０．３５ｐｐｍ
℃、７５℃の点で０．６ｐｐｍ℃程度の誤差で周波数偏
差を計算することが出来る。
係数Ａ1、Ａ2を求め周波数偏差の特性曲線を算出したも
のである。図から分かるように、測定温度−２０℃〜６
０℃の範囲では０．２ｐｐｍの誤差で周波数偏差を計算
することが出来る。その外側の温度に対しては−３０℃
の点で０．３５ｐｐｍ℃、７０℃の点で０．３５ｐｐｍ
℃、７５℃の点で０．６ｐｐｍ℃程度の誤差で周波数偏
差を計算することが出来る。
【００２４】また、Ａ3の値を平均値から＋８％増加さ
せ、測定温度も−２０℃〜７５℃の範囲で２０℃離れた
３点で測定し、定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2を求め周波数偏
差を計算した結果も同様な結果を得た。これは電波規格
で決められた−２０℃〜６０℃の温度範囲で周波数偏差
が±１ｐｐｍ以内の誤差を十分満足するものである。
せ、測定温度も−２０℃〜７５℃の範囲で２０℃離れた
３点で測定し、定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2を求め周波数偏
差を計算した結果も同様な結果を得た。これは電波規格
で決められた−２０℃〜６０℃の温度範囲で周波数偏差
が±１ｐｐｍ以内の誤差を十分満足するものである。
【００２５】以上説明したように水晶振動子の係数Ａ3
の値として平均値を用いることにより、３点の測定デ−
タから他の定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2を求め容易に周波数
偏差を計算することが出来る。尚、上記説明では水晶振
動子の係数Ａ3の値として平均値を用いたが係数Ａ2の値
として平均値を使用し、３点の測定デ−タから他の定数
Ａ0、係数Ａ1、Ａ3を求めてもよく、また、水晶振動子
の係数Ａ2、Ａ3の値として各々の平均値を使用し２点の
測定デ−タから定数Ａ0、係数Ａ1を求めてもよい。
の値として平均値を用いることにより、３点の測定デ−
タから他の定数Ａ0、係数Ａ1、Ａ2を求め容易に周波数
偏差を計算することが出来る。尚、上記説明では水晶振
動子の係数Ａ3の値として平均値を用いたが係数Ａ2の値
として平均値を使用し、３点の測定デ−タから他の定数
Ａ0、係数Ａ1、Ａ3を求めてもよく、また、水晶振動子
の係数Ａ2、Ａ3の値として各々の平均値を使用し２点の
測定デ−タから定数Ａ0、係数Ａ1を求めてもよい。
【００２６】次に周波数偏差値を計算する具体例を説明
する。図５に示す水晶発振回路の入力端子に印加する制
御電圧（補正電圧）を求めるために計算するもので一般
に演算装置（ＣＰＵ）で計算される。水晶発振回路が発
振動作中に水晶振動子４５の温度が変化した場合、演算
装置（ＣＰＵ）は温度センサより情報を受け、式（２）
で示す３次式（Ａ0＋Ａ1Ｔ＋Ａ2Ｔ2＋Ａ3Ｔ3）で周波数
偏差を計算する。この演算時間の短縮を図るため、各々
の係数を１０のｎ乗倍し小数第１位で四捨五入し整数型
に変換しメモリに格納しておく。演算装置（ＣＰＵ）は
演算時に１０のｎ乗で除算することで演算結果に誤差を
生じないようにする。これにより浮動小数点演算に比べ
演算時間を１／１５にすることができ処理時間を大幅に
短縮できる。
する。図５に示す水晶発振回路の入力端子に印加する制
御電圧（補正電圧）を求めるために計算するもので一般
に演算装置（ＣＰＵ）で計算される。水晶発振回路が発
振動作中に水晶振動子４５の温度が変化した場合、演算
装置（ＣＰＵ）は温度センサより情報を受け、式（２）
で示す３次式（Ａ0＋Ａ1Ｔ＋Ａ2Ｔ2＋Ａ3Ｔ3）で周波数
偏差を計算する。この演算時間の短縮を図るため、各々
の係数を１０のｎ乗倍し小数第１位で四捨五入し整数型
に変換しメモリに格納しておく。演算装置（ＣＰＵ）は
演算時に１０のｎ乗で除算することで演算結果に誤差を
生じないようにする。これにより浮動小数点演算に比べ
演算時間を１／１５にすることができ処理時間を大幅に
短縮できる。
【００２７】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように各請求項に
記載の発明によれば、下記のような優れた効果が期待で
きる。請求項１又は２に記載の発明によれば、第３次係
数又は第２次係数として同じ材料、同じ工程で製造され
た複数の水晶振動子の第３次係数又は第２次係数の平均
値を使用するので、従来、第３次、第２次、第１次の各
係数及び定数を求め発振周波数偏差を算出する為に４点
以上の測定点の測定データが必要であったが、３点の測
定点の測定データから定数及び各係数を求め発振周波数
偏差を十分な精度で算出することが出来、データ測定点
の減少による工数及び、コストが低減出来る。
記載の発明によれば、下記のような優れた効果が期待で
きる。請求項１又は２に記載の発明によれば、第３次係
数又は第２次係数として同じ材料、同じ工程で製造され
た複数の水晶振動子の第３次係数又は第２次係数の平均
値を使用するので、従来、第３次、第２次、第１次の各
係数及び定数を求め発振周波数偏差を算出する為に４点
以上の測定点の測定データが必要であったが、３点の測
定点の測定データから定数及び各係数を求め発振周波数
偏差を十分な精度で算出することが出来、データ測定点
の減少による工数及び、コストが低減出来る。
【００２８】請求項３に記載の発明によれば、第３次係
数及び、第２次係数として同じ材料、同じ工程で製造さ
れた複数の水晶振動子の第３次係数及び、第２次係数の
平均値を使用するので、２点の測定点の測定データから
定数及び係数を求め発振周波数偏差を十分な精度で算出
することが出来、データ測定点の減少による工数及び、
コストが低減出来る。
数及び、第２次係数として同じ材料、同じ工程で製造さ
れた複数の水晶振動子の第３次係数及び、第２次係数の
平均値を使用するので、２点の測定点の測定データから
定数及び係数を求め発振周波数偏差を十分な精度で算出
することが出来、データ測定点の減少による工数及び、
コストが低減出来る。
【図１】本発明の発振周波数算出方法で係数Ａ3として
平均値を用い３点の測定デ−タから求めた特性曲線と実
測値を示す図である。
平均値を用い３点の測定デ−タから求めた特性曲線と実
測値を示す図である。
【図２】係数Ａ3を平均値から−８％変化させた時の計
算値と実測値を示す図である。
算値と実測値を示す図である。
【図３】ＡＴカットの水晶片の構造を示す図である。
【図４】ＡＴカット水晶振動子の周波数偏差−温度特性
を示す図である。
を示す図である。
【図５】水晶発振回路の例を示す図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 平本 寿一 東京都世田谷区玉川台２−14−９ 京セ ラ株式会社 東京用賀事業所内 (56)参考文献 特開 昭59−126966（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−162871（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 29/22 H03B 5/30 - 5/42
Claims (3)
- 【請求項１】 温度のｎ次多項式で表される水晶振動子
の温度特性の各係数を求める発振周波数を計算する水晶
振動子の発振周波数算出方法において、前記ｎ次多項式の温度特性を３次式に近似し、その第３
次係数として同じ材料、同じ工程で製造された複数の水
晶振動子の第３次係数の平均値を使用し、第２次係数、
第１次係数及び、定数を３ 点の温度と周波数の測定デー
タから求め発振周波数を計算することを特徴とする水晶
振動子の発振周波数算出方法。 - 【請求項２】 温度のｎ次多項式で表される水晶振動子
の温度特性の各係数を求める発振周波数を計算する水晶
振動子の発振周波数算出方法において、 前記 ｎ次多項式の温度特性を３次式に近似し、その第２
次係数として同じ材料、同じ工程で製造された複数の水
晶振動子の第２次係数の平均値を使用し、第３次係数、
第１次係数及び、定数を３点の温度と周波数の測定デー
タから求め発振周波数を計算することを特徴とする水晶
振動子の発振周波数算出方法。 - 【請求項３】 温度のｎ次多項式で表される水晶振動子
の温度特性の各係数を求める発振周波数を計算する水晶
振動子の発振周波数算出方法において、 前記 ｎ次多項式の温度特性を３次式に近似し、その第３
次係数及び、第２次係数として同じ材料、同じ工程で製
造された複数の水晶振動子の第３次係数及び、第２次係
数の平均値を使用し、第１次係数及び、定数を２点の温
度と周波数の測定データから求め発振周波数を計算する
ことを特徴とする水晶振動子の発振周波数算出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29061194A JP3211134B2 (ja) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | 水晶振動子の発振周波数算出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29061194A JP3211134B2 (ja) | 1994-10-31 | 1994-10-31 | 水晶振動子の発振周波数算出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08129036A JPH08129036A (ja) | 1996-05-21 |
| JP3211134B2 true JP3211134B2 (ja) | 2001-09-25 |
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ID=17758245
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
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|---|---|
| JP (1) | JP3211134B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5326219B2 (ja) * | 2007-03-30 | 2013-10-30 | 株式会社大真空 | 圧電振動素子の周波数測定方法 |
| US20090195322A1 (en) * | 2008-01-31 | 2009-08-06 | Qualcomm Incorporated | Crystal oscillator frequency calibration |
-
1994
- 1994-10-31 JP JP29061194A patent/JP3211134B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH08129036A (ja) | 1996-05-21 |
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