JP3197421U - 平角エナメル線の表面検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
まず、図2に示すように、一対の環状照明(1a、1b)は、平角エナメル線10を内側に挿通するものであり、平角エナメル線10の周囲から長手方向、すなわち図のX方向に光を照射することができる。そして、一対の環状照明(1a、1b)は、光の照射方向を対向するようにして配置されている。
また、環状照明(1a、1b)は、直線状照明部と平角エナメル線10の平面10aとの間隔を、一定間隔にして配置することができる。これにより、平面10aに照射する光の照度を、平面10aの幅方向において均一にして、小突起不良の発生位置によらず、同じ照度の下、小突起不良を検出することが可能となり、小突起不良を容易に精度よく検出することができる。
また、一対の環状照明(1a、1b)を対向配置することにより、光を2方向から照射して、環状照明(1a、1b)に挟まれた区間の照度を、略均一にすることができる。これにより、平角エナメル線10の長手方向Xの位置に影響されることなく、小突起不良から同じ強さの乱反射光を得ることができ、小突起不良を精度よく検出することができる。
図2に示すように、4台の撮像装置(2a、2b、2c、2d)は、環状照明(1a、1b)間の平面10aを撮像可能に配置されていて、4台の撮像装置(2a、2b、2c、2d)それぞれが、4つの平面10aそれぞれを、撮像可能に配置されている。
撮像装置(2a、2b、2c、2d)には、小突起不良からの乱反射光を撮像できる、任意の撮像手段を用いることができる。例えば、CCDカメラ等を用いることができる。
検出装置3は、4台の撮像装置(2a、2b、2c、2d)に接続し、4台の撮像装置(2a、2b、2c、2d)が撮像した撮像データから、平角エナメル線10表面の小突起不良を検出するものである。
検出装置3が、小突起不良を検出する解析手法には、例えば、乱反射光を撮像した画像データを2値化処理し、乱反射光の大きさと形状とを閾値と比較して、小突起不良か否かを判断する手法を用いることができる。
まず、図2に示すように、平角エナメル線10を、一対の環状照明(1a、1b)の内側に挿通し、不図示の駆動部により、長手方向に一定速度で移動させる。その際、平角エナメル線10の平面10aと直線状照明部(1ac、1bc)との間隔を、一定間隔にして配置する。
そして、例えば、図4に示すように、撮像装置2aにより、乱反射光Lを含む平角エナメル線10表面を撮像し、撮像データを取得する。そして、検出装置3により、この撮像データを解析し、小突起不良を検出する。
1aa、1ba LED光源
1ab、1bb すりガラス
1ac、1bc 直線状照明部
2a、2b、2c、2d 撮像装置
3 検出装置
10 平角エナメル線
10a 平面
L 乱反射光
P 小突起不良
Claims (2)
- 平角エナメル線の周囲から平角エナメル線の長手方向に光を照射するとともに、平角エナメル線の平面に沿った直線状照明部を有する環状照明と、
前記環状照明の前方にて平角エナメル線表面を撮像する撮像装置と、
前記撮像装置の撮像結果から平角エナメル線表面の欠陥を検出する検出装置と
を具備することを特徴とする平角エナメル線の表面検査装置。 - 前記環状照明は、一対にして対向配置され、
前記撮像装置は、前記一対の環状照明間の平角エナメル線表面を撮像するものである
ことを特徴とする請求項1に記載の平角エナメル線の表面検査装置。
Priority Applications (1)
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JP2015000862U JP3197421U (ja) | 2015-02-25 | 2015-02-25 | 平角エナメル線の表面検査装置 |
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JP2015000862U JP3197421U (ja) | 2015-02-25 | 2015-02-25 | 平角エナメル線の表面検査装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP3197421U true JP3197421U (ja) | 2015-05-14 |
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ID=53277675
Family Applications (1)
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JP2015000862U Active JP3197421U (ja) | 2015-02-25 | 2015-02-25 | 平角エナメル線の表面検査装置 |
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JP (1) | JP3197421U (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN109282739A (zh) * | 2018-11-19 | 2019-01-29 | 中国科学院近代物理研究所 | 一种引张线仪 |
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2015
- 2015-02-25 JP JP2015000862U patent/JP3197421U/ja active Active
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