JP3195844B2 - Transfer mold equipment - Google Patents

Transfer mold equipment

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JP3195844B2
JP3195844B2 JP3650193A JP3650193A JP3195844B2 JP 3195844 B2 JP3195844 B2 JP 3195844B2 JP 3650193 A JP3650193 A JP 3650193A JP 3650193 A JP3650193 A JP 3650193A JP 3195844 B2 JP3195844 B2 JP 3195844B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はトランスファモールド装
置に関し、一層詳細には電子部品を樹脂封止するための
トランスファモールド装置およびトランスファモールド
金型と、そのトランスファモールド装置を使用したトラ
ンスファモールド方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a transfer molding apparatus, and more particularly, to a transfer molding apparatus and a transfer mold for sealing electronic components with resin, and a transfer molding method using the transfer molding apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子部品や半導体装置を樹脂封止するた
めにトランスファモールド装置が使用されている(例え
ば特開平4−199645号公報参照)。従来のトラン
スファモールド装置では、プランジャ圧力を受けた溶融
樹脂が樹脂路を経由して金型内のキャビティへ圧送、充
填される。充填された樹脂を凝固させて樹脂封止が完了
する。
2. Description of the Related Art A transfer molding apparatus has been used for sealing electronic parts and semiconductor devices with resin (for example, see Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-199645). In a conventional transfer molding apparatus, a molten resin that has been subjected to plunger pressure is pressure-fed and filled into a cavity in a mold via a resin path. The filled resin is solidified to complete the resin sealing.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
従来のトランスファモールド装置には次のような課題が
有る。キャビティ内へ導入された溶融樹脂に含まれる気
泡は樹脂液面に浮揚している。樹脂の充填が進むと気泡
密度の高い樹脂液面は上昇し、気泡密度の高い樹脂液面
はリードフレームやウエファと接し(特に下キャビティ
側で顕著である)、両者の境界面に空気層を挟んだ状態
となる。この状態で樹脂の充填が完了しても、完了当初
はプランジャ圧が有効に作用しているので、気泡は圧縮
された状態である。ところが、樹脂の硬化が進行してゲ
ート閉塞状態になると、プランジャ圧はキャビティ内の
樹脂へは作用しない。樹脂の硬化が進行すると、樹脂は
収縮する。樹脂の硬化は外側から進行し、内部の硬化は
遅れるため、当該内部での樹脂圧力は低下する。この樹
脂圧力の低下に伴い圧縮されていた気泡が膨張し、硬化
樹脂とリードフレームやウエファとの間に剥離部分や疎
密度帯が発生する。膨張した気泡を含む樹脂封止が行わ
れた電子部品や半導体装置を実装する際、当該電子部品
や半導体装置が高温に晒されると気泡内の空気が膨張
し、いわゆるポップコーン現象が起き樹脂層を破壊した
り、クラックが発生したりするという課題がある。
However, the above-mentioned conventional transfer molding apparatus has the following problems. Bubbles contained in the molten resin introduced into the cavity float on the resin liquid surface. As the filling of the resin progresses, the resin level with a high bubble density rises, and the resin level with a high bubble density comes into contact with the lead frame or wafer (particularly remarkable on the lower cavity side). It will be in a sandwiched state. Even if the filling of the resin is completed in this state, since the plunger pressure is effectively acting at the beginning of the completion, the bubbles are in a compressed state. However, when the curing of the resin proceeds and the gate is closed, the plunger pressure does not act on the resin in the cavity. As the curing of the resin progresses, the resin shrinks. Since the curing of the resin proceeds from the outside and the curing of the inside is delayed, the resin pressure inside the inside decreases. The compressed air bubbles expand as the resin pressure decreases, and a peeled portion and a sparse band are generated between the cured resin and the lead frame or wafer. When mounting an electronic component or a semiconductor device that has been subjected to resin sealing containing expanded bubbles, when the electronic component or the semiconductor device is exposed to high temperatures, the air in the bubbles expands, and a so-called popcorn phenomenon occurs to cause the resin layer to be removed. There are problems such as breakage and cracks.

【0004】また、キャビティ内への溶融樹脂の充填完
了後、樹脂の硬化が進行すると、樹脂の体積が収縮する
ため、樹脂層内に引っ張り応力が発生し、樹脂封止部分
に反りが発生するという課題がある。特に、樹脂封止部
分の厚さが薄い電子部品や半導体装置の場合、反りが著
しい。従って、本発明は高温時における樹脂封止部分の
破壊等を防止し得ると共に、樹脂封止部分の反りの発生
を防止可能なトランスファモールド装置およびトランス
ファモールド金型と、そのトランスファモールド装置を
使用したトランスファモールド方法を提供することを目
的とする。
Further, after the filling of the molten resin into the cavity is completed, as the curing of the resin progresses, the volume of the resin shrinks, so that a tensile stress is generated in the resin layer, and the resin sealing portion is warped. There is a problem that. In particular, in the case of an electronic component or a semiconductor device in which the thickness of the resin sealing portion is small, the warpage is remarkable. Therefore, the present invention uses a transfer molding apparatus and a transfer molding die capable of preventing the destruction of the resin-sealed portion at a high temperature and preventing the occurrence of warpage of the resin-sealed portion, and the transfer mold device. An object is to provide a transfer molding method.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明は次の構成を備える。すなわち、キャビティ
が形成されると共に、一端がキャビティ内に開口した
ライド孔が穿設されている上金型及び下金型と、スライ
ド孔内にスライド可能に各々配設され、キャビティに対
して接離動可能なスライド部材と、スライド部材をキャ
ビティに対して接離動させるための駆動手段とを具備
し、駆動手段を駆動させて、各スライド部材をキャビテ
ィより離反した第1の位置へ移動させて溶融樹脂をキャ
ビティへ充填し、該溶融樹脂の充填終了後前記スライド
部材をキャビティに接近した第2の位置へ移動させて前
記溶融樹脂を硬化させることを特徴とする。
To solve the above-mentioned problems, the present invention has the following arrangement. That is, an upper mold and a lower mold in which a cavity is formed and one end of which is provided with a slide hole opened in the cavity, and slidably disposed in the slide hole, respectively . A slide member movable toward and away from the cavity; and a driving means for moving the slide member toward and away from the cavity.
Then, the driving means is driven to move each slide member into the cavity.
To the first position away from the
After filling the melted resin, the slide
Move the member to a second position close to the cavity
The molten resin is cured .

【0006】また、他の構成としては、キャビティが形
成され該キャビティ内に開口したスライド孔が穿設さ
れている金型本体部と、スライド孔内へスライド可能に
配設されると共に、キャビティに対して接離動可能なス
ライド部材と、該スライド部材を常時キャビティ方向へ
付勢し、溶融樹脂がキャビティに充填された際には、溶
融樹脂の充填圧力によりスライド部材をキャビティから
離反した第1の位置への移動を許容し、溶融樹脂のキャ
ビティへ充填終了後、溶融樹脂を硬化させる際には、ス
ライド部材をキャビティに接近した第2の位置へ移動さ
せる付勢手段とを具備したことを特徴とする。
[0006] As another configuration, the cavity is formed, and the mold body portion slide hole that opens into the cavity is drilled, while being slidably arranged to slide bore, cavity And a slide member that can move toward and away from the cavity, always biases the slide member in the cavity direction, and when the molten resin is filled in the cavity, the slide member is separated from the cavity by the filling pressure of the molten resin. to allow movement of the first position, after the completion of filling the cavity of the molten resin, in curing the molten resin, it was and a biasing means for moving the slide member to the second position close to the cavity It is characterized by.

【0007】[0007]

【作用】作用について説明する。上記トランスファモー
ルド装置において、溶融樹脂をキャビティへ充填する際
には、駆動手段を介してスライド部材をキャビティから
離反した第1の位置へ移動させ、溶融樹脂のキャビティ
への充填終了後、溶融樹脂を硬化させる際には、駆動手
段を介してスライド部材をキャビティへ接近した第2の
位置へ移動させると、溶融樹脂を硬化させる際にプラン
ジャ圧がキャビティ内へ作用しなくても、スライド部材
の押圧力が気泡内の空気の膨張を阻止することができ
る。また、溶融樹脂を硬化させる際に、スライド部材の
移動によりスライド孔内に進入していた樹脂を樹脂封止
部へ補給することが可能となる。
[Operation] The operation will be described. In the above transfer molding apparatus, when filling the cavity with the molten resin, the slide member is moved to the first position separated from the cavity via the driving means, and after the completion of the filling of the cavity with the molten resin, the molten resin is discharged. At the time of curing, if the slide member is moved to the second position close to the cavity via the driving means, even if the plunger pressure does not act on the cavity when the molten resin is cured, the slide member is pushed. The pressure can prevent the expansion of the air in the bubble. Further, when the molten resin is cured, the resin that has entered the slide hole due to the movement of the slide member can be supplied to the resin sealing portion.

【0008】また、溶融樹脂をキャビティへ充填する際
には、上下のスライド部材はキャビティから離反した第
1の位置へ移動し、溶融樹脂のキャビティへの充填終了
後、溶融樹脂を硬化させる際には、当該硬化によって体
積が縮小した分、付勢手段の付勢力によりスライド部材
はキャビティに接近した第2の位置へ移動するので、溶
融樹脂を硬化させる際に、プランジャ圧がキャビティ内
へ作用しなくても、スライド部材の押圧力が気泡内の空
気の膨張を阻止することができる。また、第2の位置へ
移動したスライド部材のスライド孔内に進入していた樹
脂を樹脂封止部へ補給することが可能となる。
Further , when filling the molten resin into the cavity, the upper and lower slide members move to the first position away from the cavity, and after the filling of the molten resin into the cavity is completed, when the molten resin is cured. Since the slide member moves to the second position close to the cavity by the urging force of the urging means by an amount corresponding to the volume reduced by the curing, the plunger pressure acts inside the cavity when the molten resin is cured. Even without this, the pressing force of the slide member can prevent the expansion of the air in the bubble. To the second position
The resin that has entered the sliding hole of the moved slide member can be supplied to the resin sealing portion.

【0009】[0009]

【実施例】以下、本発明の好適な実施例について添付図
面と共に詳述する。まず、第1実施例について図1〜図
5と共に説明する。図1において、10は上型モールド
ベースであり、金型である上型チェイス12が取り付け
られている。上型チェイス12のパーティング面(下
面)にはキャビティ14aが凹設されている。16は下
型モールドベースであり、金型である下型チェイス18
が取り付けられている。下型チェイス18のパーティン
グ面(上面)にはキャビティ14bが凹設されている。
20はポットであり、内部をプランジャ22が上下動す
ることにより、溶融樹脂24(熱硬化性樹脂、例えばエ
ポキシ系樹脂、ビフェニール系樹脂)をキャビティ14
a、14b内へ圧送可能になっている。溶融樹脂24
は、ポット20からランナ26およびゲート28を経由
して型閉した状態(図1の状態)のキャビティ14a、
14b内へ充填される。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. First, a first embodiment will be described with reference to FIGS. In FIG. 1, reference numeral 10 denotes an upper mold base to which an upper chase 12 as a mold is attached. On the parting surface (lower surface) of the upper die chase 12, a cavity 14a is formed in a concave shape. Reference numeral 16 denotes a lower mold base, which is a lower mold chase 18 which is a mold.
Is attached. On the parting surface (upper surface) of the lower die chase 18, a cavity 14b is recessed.
Reference numeral 20 denotes a pot, in which a plunger 22 moves up and down to melt a resin 24 (a thermosetting resin such as an epoxy resin or a biphenyl resin) into the cavity 14.
a, 14b. Molten resin 24
Is a cavity 14a in a state where the mold is closed from the pot 20 via the runner 26 and the gate 28 (the state of FIG. 1),
14b.

【0010】次に図2をさらに参照して金型(上型チェ
イス12および下型チェイス18)等の構造について説
明する。30aはスライド孔であり、上型チェイス12
へ上下方向に透設されている。スライド孔30aの下端
はキャビティ14aの内上面に開口している。30bは
スライド孔であり、下型チェイス18へ上下方向に透設
されている。スライド孔30bの上端はキャビティ14
bの内底面に開口している。32aはスライド部材であ
り、スライド孔30a内において上下方向へ移動可能に
配設されている。スライド部材32aは、外周面がスラ
イド孔30aの内周面とスライド可能になっており、キ
ャビティ14aに対して接離動可能になっている。
Next, the structure of a mold (upper chase 12 and lower chase 18) will be described with reference to FIG. 30a is a slide hole, and the upper chase 12
It is provided in the vertical direction. The lower end of the slide hole 30a opens on the inner upper surface of the cavity 14a. Reference numeral 30b denotes a slide hole which is vertically penetrated into the lower die chase 18. The upper end of the slide hole 30b is the cavity 14
b. Reference numeral 32a denotes a slide member, which is disposed in the slide hole 30a so as to be vertically movable. The outer peripheral surface of the slide member 32a is slidable with the inner peripheral surface of the slide hole 30a, and is movable toward and away from the cavity 14a.

【0011】32bはスライド部材であり、スライド孔
30b内において上下方向へ移動可能に配設されてい
る。スライド部材32bは、外周面がスライド孔30b
の内周面とスライド可能になっており、キャビティ14
bに対して接離動可能になっている。34aはエジェク
トピンであり、上型チェイス12へ貫挿されている。エ
ジェクトピン34aの上端はエジェクトピンプレート部
36aに固定されている。エジェクトピンプレート部3
6aは、エジェクトピン34aと一体に上型モールドベ
ース10内で上下動可能になっている。エジェクトピン
34aおよびエジェクトピンプレート部36aはスプリ
ング38aによって常時上方へ付勢されている。エジェ
クトピン34aが上型チェイス12に対して最上位置
(図2に示す位置)に在る場合、エジェクトピン34a
の下端面はキャビティ14aの内上面と面一になってい
る。
Reference numeral 32b denotes a slide member, which is disposed movably in the vertical direction in the slide hole 30b. The outer peripheral surface of the slide member 32b has a slide hole 30b.
Is slidable with the inner peripheral surface of the cavity 14.
It can be moved toward and away from b. Reference numeral 34a denotes an eject pin, which is inserted into the upper die chase 12. The upper end of the eject pin 34a is fixed to the eject pin plate 36a. Eject pin plate part 3
6a is vertically movable within the upper mold base 10 integrally with the eject pin 34a. The eject pin 34a and the eject pin plate portion 36a are constantly urged upward by a spring 38a. When the eject pin 34a is at the uppermost position (the position shown in FIG. 2) with respect to the upper die chase 12, the eject pin 34a
Is flush with the inner upper surface of the cavity 14a.

【0012】34bはエジェクトピンであり、下型チェ
イス18へ貫挿されている。エジェクトピン34bの下
端はエジェクトピンプレート部36bに固定されてい
る。エジェクトピンプレート部36bは、エジェクトピ
ン34bと一体に下型モールドベース16内で上下動可
能になっている。エジェクトピン34bおよびエジェク
トピンプレート部36bはスプリング38bによって常
時下方へ付勢されている。エジェクトピン34bが下型
チェイス18に対して最下位置(図2に示す位置)に在
る場合、エジェクトピン34bの上端面はキャビティ1
4bの内底面と面一になっている。
An eject pin 34b is inserted through the lower die chase 18. The lower end of the eject pin 34b is fixed to the eject pin plate 36b. The eject pin plate portion 36b is vertically movable within the lower mold base 16 integrally with the eject pin 34b. The eject pin 34b and the eject pin plate portion 36b are constantly urged downward by a spring 38b. When the eject pin 34b is at the lowest position (the position shown in FIG. 2) with respect to the lower die chase 18, the upper end surface of the eject pin 34b is
4b is flush with the inner bottom surface.

【0013】40は被モールド部材の一例である半導体
装置であり、上型チェイス12と下型チェイス18が型
閉状態(図2に図示する状態)において、キャビティ1
4aと14bとから形成されるキャビティ空間内に樹脂
封止される部分(インナーリード部およびICチップ部
等)が配置されている。42aは第1リンク片であり、
スライド部材32aの上端に立設されている。第1リン
ク片42aは、図1に明示されるように第2リンク片4
4aおよびトランスファモールド装置本体へ固定されて
いるエアシリンダ46aと協動してスライド部材32a
を上下動させる駆動手段を構成している。すなわち、シ
リンダロッド48aが上方へ伸長すると第2リンク片4
4aと第1リンク片42aによりスライド部材32aは
下動する。一方、シリンダロッド48aが下方へ短縮す
ると第2リンク片44aと第1リンク片42aによりス
ライド部材32aは上動する。
Reference numeral 40 denotes a semiconductor device which is an example of a member to be molded. The semiconductor device 40 has a cavity 1 when the upper die chase 12 and the lower die chase 18 are closed (the state shown in FIG. 2).
A portion (inner lead portion, IC chip portion, and the like) to be sealed with resin is arranged in a cavity space formed by 4a and 14b. 42a is a first link piece,
It is erected on the upper end of the slide member 32a. The first link piece 42a is connected to the second link piece 4 as shown in FIG.
4a and the slide member 32a in cooperation with the air cylinder 46a fixed to the transfer molding apparatus main body.
Is configured to drive up and down. That is, when the cylinder rod 48a extends upward, the second link piece 4
The slide member 32a moves down by the 4a and the first link piece 42a. On the other hand, when the cylinder rod 48a is shortened downward, the slide member 32a is moved upward by the second link piece 44a and the first link piece 42a.

【0014】スライド部材32aの上下動の際、スライ
ド部材32の上端フランジ部50aは、上型モールドベ
ース10の凹部52a内上面とエジェクトピンプレート
部36aの段差部54aへ当接するので、上下動が規制
される。フランジ部50aが、上型モールドベース10
の凹部52a内上面と当接した状態のスライド部材32
aの位置が、スライド部材32aがキャビティ14aか
ら最も離反した第1の位置である。一方、フランジ部5
0aがエジェクトピンプレート部36aの段差部54a
と当接した状態のスライド部材32aの位置が、スライ
ド部材32aがキャビティ14aへ最も接近した第2の
位置である。なお、スライド部材32aが第2の位置に
在る時、スライド部材32aの下端面はキャビティ14
aの内上面と面一になっている。
When the slide member 32a moves up and down, the upper end flange portion 50a of the slide member 32 comes into contact with the upper surface inside the concave portion 52a of the upper mold base 10 and the step portion 54a of the eject pin plate portion 36a. Be regulated. The flange portion 50a is formed of the upper mold base 10.
Of the slide member 32 in contact with the upper surface of the concave portion 52a
The position a is the first position where the slide member 32a is farthest from the cavity 14a. On the other hand, the flange 5
0a is the step portion 54a of the eject pin plate portion 36a.
The position of the slide member 32a in contact with the second position is the second position where the slide member 32a is closest to the cavity 14a. When the slide member 32a is at the second position, the lower end surface of the slide member 32a is
It is flush with the inner upper surface of a.

【0015】42bは第1リンク片であり、スライド部
材32bの下端に垂設されている。第1リンク片42b
は、図1に明示されるように第2リンク片44bおよび
トランスファモールド装置本体へ固定されているエアシ
リンダ46bと協動してスライド部材32bを上下動さ
せる駆動手段を構成している。すなわち、シリンダロッ
ド48bが下方へ伸長すると第2リンク片44bと第1
リンク片42bによりスライド部材32bは上動する。
一方、シリンダロッド48bが上方へ短縮すると第2リ
ンク片44bと第1リンク片42bによりスライド部材
32bは下動する。
Reference numeral 42b denotes a first link piece, which is suspended from the lower end of the slide member 32b. First link piece 42b
1 constitutes driving means for moving the slide member 32b up and down in cooperation with the second link piece 44b and the air cylinder 46b fixed to the transfer molding apparatus main body, as clearly shown in FIG. That is, when the cylinder rod 48b extends downward, the second link piece 44b and the first
The slide member 32b is moved upward by the link piece 42b.
On the other hand, when the cylinder rod 48b is shortened upward, the slide member 32b is moved downward by the second link piece 44b and the first link piece 42b.

【0016】スライド部材32bの上下動の際、スライ
ド部材32の下端フランジ部50bは、下型モールドベ
ース16の凹部52b内上面とエジェクトピンプレート
部36bの段差部54bへ当接するので、上下動が規制
される。フランジ部50bが、下型モールドベース16
の凹部52b内底面と当接した状態のスライド部材32
bの位置が、スライド部材32bがキャビティ14bか
ら最も離反した第1の位置である。一方、フランジ部5
0bがエジェクトピンプレート部36bの段差部54b
と当接した状態のスライド部材32bの位置が、スライ
ド部材32bがキャビティ14bへ最も接近した第2の
位置である。なお、スライド部材32bが第2の位置に
在る時、スライド部材32bの上端面はキャビティ14
bの内底面と面一になっている。
When the slide member 32b moves up and down, the lower end flange portion 50b of the slide member 32 comes into contact with the inner upper surface of the concave portion 52b of the lower mold base 16 and the step portion 54b of the eject pin plate portion 36b. Be regulated. The flange portion 50b is attached to the lower mold base 16.
Of the slide member 32 in contact with the inner bottom surface of the concave portion 52b
The position b is the first position where the slide member 32b is farthest from the cavity 14b. On the other hand, the flange 5
0b is the step 54b of the eject pin plate 36b.
The position of the slide member 32b in contact with the second position is the second position where the slide member 32b is closest to the cavity 14b. When the slide member 32b is at the second position, the upper end surface of the slide member 32b is
It is flush with the inner bottom surface of b.

【0017】上記構成を有するトランスファモールド装
置を用いたモールド方法について図2〜図5をさらに参
照して説明する。図2に示すように、樹脂封止しようと
する半導体装置40を下型チェイス18内にセットした
状態で型閉する。この時、スライド部材32a、32b
は第1の位置に在る(図2の状態)。型閉が完了したら
ポット20から溶融樹脂24がプランジャ22の圧力を
受けて圧送され、ランナ26、ゲート28を経由してキ
ャビティ14aと14bとから形成されるキャビティ空
間内に充填される。その際、スライド部材32a、32
bは第1の位置に在るため、溶融樹脂24は若干スライ
ド孔30a、30b内にも進入する(図3の状態)
A molding method using the transfer molding apparatus having the above configuration will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 2, the mold is closed while the semiconductor device 40 to be resin-sealed is set in the lower mold chase 18. At this time, the slide members 32a, 32b
Is in the first position (the state of FIG. 2). When the mold is closed, the molten resin 24 is pressure-fed from the pot 20 under the pressure of the plunger 22, and is filled into the cavity formed by the cavities 14a and 14b via the runner 26 and the gate 28. At this time, the slide members 32a, 32
Since b is in the first position, the molten resin 24 slightly enters the slide holes 30a and 30b (the state of FIG. 3).

【0018】溶融樹脂24の充填完了後、ヒータ(不図
示)により加熱されて溶融樹脂24が硬化を開始する。
ゲート28が閉塞状態になるとプランジャ22の圧力が
溶融樹脂24へ作用しなくなる。そこで、不図示のコン
プレッサから圧空がエアシリンダ46a、46bへ供給
され、スライド部材32a、32bは第2の位置へ移動
する(図4の状態)。スライド部材32a、32bの移
動はキャビティ空間内の樹脂24により、第2の位置か
ら更にキャビティ14a、14b方向への移動は規制さ
れている。スライド部材32a、32bの移動により、
未だ硬化していない内部の溶融樹脂にスライド部材32
a、32bの圧力が作用するので、溶融樹脂24内およ
び半導体装置40のリードフレームと樹脂24との境界
面に存在する気泡は圧縮された状態が継続、維持され、
気泡の膨張は発生しない。従って、リードフレームとの
間に剥離部分や疎密度帯が発生することがない。また、
溶融樹脂24の硬化に伴い体積の収縮が発生してもスラ
イド孔30a、30b内に進入していた溶融樹脂24が
スライド部材32a、32bの第2の位置への移動に伴
いキャビティ14a、14b方向へ押し出される。この
押し出しにより、収縮分の樹脂量を補給することができ
る。
After the filling of the molten resin 24 is completed, the molten resin 24 is heated by a heater (not shown) to start curing.
When the gate 28 is closed, the pressure of the plunger 22 does not act on the molten resin 24. Then, compressed air is supplied from a compressor (not shown) to the air cylinders 46a and 46b, and the slide members 32a and 32b move to the second position (the state of FIG. 4). The movement of the slide members 32a and 32b is further restricted from the second position in the direction of the cavities 14a and 14b by the resin 24 in the cavity space. By the movement of the slide members 32a and 32b,
The slide member 32 is applied to the inner molten resin which has not been cured yet.
Since the pressures of a and 32b act, the bubbles existing in the molten resin 24 and at the interface between the resin 24 and the lead frame of the semiconductor device 40 continue and are maintained in a compressed state.
No bubble expansion occurs. Therefore, a peeled portion and a sparse band do not occur between the lead frame and the lead frame. Also,
Even if the volume shrinks due to the hardening of the molten resin 24, the molten resin 24 that has entered the slide holes 30a and 30b moves toward the cavities 14a and 14b as the slide members 32a and 32b move to the second position. It is pushed out to. By this extrusion, the amount of resin corresponding to the shrinkage can be supplied.

【0019】溶融樹脂24の硬化が完了したら上型モー
ルドベース10と上型チェイス12が上動して型開され
る。型開が行われるとスライド部材32a、32bの第
2の位置からキャビティ14a、14b方向への更なる
移動が可能となるので、スライド部材32a、32bは
キャビティ14a、14b内へ突出する。その際スライ
ド部材32a、32bのフランジ部50a、50bがエ
ジェクトピンプレート部36a、36bの段差部54
a、54bと掛止しているのでエジェクトピンプレート
部36a、36bもスライド部材32a、32bと一体
に移動する。従ってエジェクトピン34a、34bもキ
ャビティ14a、14b内へ突出して樹脂封止された半
導体装置40をキャビティ14bからエジェクトするこ
とができる(図5の状態)。
When the curing of the molten resin 24 is completed, the upper mold base 10 and the upper chase 12 move upward to open the mold. When the mold is opened, further movement of the slide members 32a, 32b from the second position in the direction of the cavities 14a, 14b becomes possible, so that the slide members 32a, 32b project into the cavities 14a, 14b. At this time, the flange portions 50a, 50b of the slide members 32a, 32b are connected to the step portions 54 of the eject pin plate portions 36a, 36b.
The eject pin plate portions 36a, 36b also move integrally with the slide members 32a, 32b because they are engaged with the slide members 32a, 32b. Accordingly, the eject pins 34a and 34b also project into the cavities 14a and 14b, and the resin-sealed semiconductor device 40 can be ejected from the cavities 14b (the state of FIG. 5).

【0020】次に図6を参照して第2実施例について説
明する。第2実施例はトランスファモールド金型に関す
る実施例である。なお、第1実施例と同一の構成部材に
ついては第1実施例と同一の符号を付し、説明は省略す
る。金型本体部である上型チェイス12と下型チェイス
18のパーティング面にはキャビティ14a、14bが
形成されている。スライド孔30a、30bは上型チェ
イス12と下型チェイス18に透設されると共に、一端
はキャビティ14a、14b内に開口している。スライ
ド部材32a、32bはキャビティ14a、14b側の
一端面が閉塞された筒状に形成されている。スライド部
材32a、32bは、上型モールドベース10と下型モ
ールドベース16の凹部52a、52b内に他端部が在
り、スライド孔30a、30b内へスライド可能に配設
されている。このスライドにより、スライド部材32
a、32bはキャビティ14a、14bに対して接離動
可能になっている。
Next, a second embodiment will be described with reference to FIG. The second embodiment relates to a transfer mold. Note that the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals as those in the first embodiment, and description thereof will be omitted. Cavities 14a and 14b are formed on the parting surfaces of the upper die chase 12 and the lower die chase 18, which are the die body. The sliding holes 30a and 30b are provided through the upper die chase 12 and the lower die chase 18, and one ends are opened in the cavities 14a and 14b. The slide members 32a and 32b are formed in a cylindrical shape with one end face on the side of the cavities 14a and 14b closed. The other ends of the slide members 32a and 32b are located in the recesses 52a and 52b of the upper mold base 10 and the lower mold base 16, and are slidably disposed in the slide holes 30a and 30b. By this slide, the slide member 32
The a and 32b can move toward and away from the cavities 14a and 14b.

【0021】凹部52a、52b内部とスライド部材3
2a、32b内部との間には付勢手段の一例であるコイ
ルスプリング70a、70bが弾装されている。コイル
スプリング70a、70bは、スライド部材32a、3
2bを常時前記キャビティ14a、14b方向へ付勢す
ると共に、溶融樹脂24がキャビティ14a、14bへ
充填された際には、溶融樹脂24の充填圧力(プランジ
ャ圧)によりスライド部材32a、32bをキャビティ
14a、14bから離反した第1の位置(図6に図示す
る位置)への移動を許容する。一方、溶融樹脂24のキ
ャビティ14a、14bへの充填終了後、溶融樹脂24
が硬化する際には、弾性力でスライド部材32a、32
bをキャビティ14a、14bへ接近した第2の位置へ
移動させる。スライド部材32a、32bが第2の位置
へ到達すると、スライド部材32a、32bの外周面に
突設された突設部74a、74bが上型チェイス12、
下型チェイス18と掛止してキャビティ14a、14b
方向への移動が規制される。
The inside of the recesses 52a and 52b and the slide member 3
Coil springs 70a and 70b, which are examples of the urging means, are elastically mounted between the inside of 2a and 32b. The coil springs 70a and 70b are connected to the slide members 32a and 3a.
2b is constantly urged toward the cavities 14a, 14b, and when the molten resin 24 is charged into the cavities 14a, 14b, the slide members 32a, 32b are moved by the filling pressure (plunger pressure) of the molten resin 24. , 14b to the first position (the position shown in FIG. 6) separated from the first position. On the other hand, after filling the cavities 14a and 14b with the molten resin 24, the molten resin 24
When is hardened, the slide members 32a, 32
b is moved to a second position close to the cavities 14a, 14b. When the slide members 32a, 32b reach the second position, the projecting portions 74a, 74b projecting from the outer peripheral surfaces of the slide members 32a, 32b are moved to the upper chase 12,
The cavities 14a, 14b are engaged with the lower die chase 18
Movement in the direction is regulated.

【0022】エジェクトピン34a、34bおよびエジ
ェクトピンプレート部36a、36bの突き出しは、エ
アシリンダ72a、72bによって行われる。ロッド7
6a、76bが伸長すると押動部材78a、78bがキ
ャビティ14a、14b方向へ押動され、押動部材78
a、78bがエジェクトピンプレート部36a、36b
をキャビティ14a、14b方向へ押動するので、エジ
ェクトピン34a、34bの先端がキャビティ14a、
14b内へ突出可能になっている。
The ejection pins 34a, 34b and the ejection pin plate portions 36a, 36b are protruded by air cylinders 72a, 72b. Rod 7
When the extension members 6a and 76b extend, the pushing members 78a and 78b are pushed toward the cavities 14a and 14b, and the pushing members 78 are pushed.
a, 78b are eject pin plate portions 36a, 36b
Is pushed in the direction of the cavities 14a and 14b, so that the tips of the eject pins 34a and 34b
14b.

【0023】上記構成を有するトランスファモールド金
型を用いたモールド方法について説明する。樹脂封止し
ようとする半導体装置40を下型チェイス18内にセッ
トした状態で型閉する。この時、スライド部材32a、
32bはコイルスプリング70a、70bの弾性力によ
り第2の位置に在る。型閉が完了したら溶融樹脂24ゲ
ート28を経由してキャビティ14aと14bとから形
成されるキャビティ空間内に充填される。その際、スラ
イド部材32a、32bは溶融樹脂24の充填圧力を受
けてキャビティ14a、14bから離反した第1の位置
へ移動するため、溶融樹脂24は若干スライド孔30
a、30b内にも進入する(図6の状態)
A molding method using the transfer mold having the above configuration will be described. The mold is closed with the semiconductor device 40 to be resin-sealed set in the lower mold chase 18. At this time, the slide member 32a,
32b is located at the second position by the elastic force of the coil springs 70a and 70b. When the mold closing is completed, the mold is filled into the cavity space formed by the cavities 14a and 14b via the molten resin 24 gate 28. At this time, the sliding members 32a and 32b receive the filling pressure of the molten resin 24 and move to the first position separated from the cavities 14a and 14b.
a, 30b (state in FIG. 6)

【0024】溶融樹脂24の充填完了後、ヒータ(不図
示)により加熱されて溶融樹脂24が硬化を開始する。
ゲート28が閉塞状態になると充填圧力が溶融樹脂24
およびスライド部材32a、32bへ作用しなくなる。
従って、コイルスプリング70a、70bの付勢力を受
けたスライド部材32a、32bは第2の位置へ移動す
る。スライド部材32a、32bの移動により、未だ硬
化していない内部の溶融樹脂にスライド部材32a、3
2bの圧力が作用するので、溶融樹脂24内および半導
体装置40のリードフレームと樹脂24との境界面に存
在する気泡は圧縮された状態が継続、維持され、気泡の
膨張は発生しない。従って、リードフレームとの間に剥
離部分や疎密度帯が発生することがない。また、溶融樹
脂24の硬化に伴い体積の収縮が発生してもスライド孔
30a、30b内に進入していた溶融樹脂24がスライ
ド部材32a、32bの第2の位置への移動に伴いキャ
ビティ14a、14b方向へ押し出される。この押し出
しにより、収縮分の樹脂量を補給することができる。
After the filling of the molten resin 24 is completed, the molten resin 24 is heated by a heater (not shown) to start curing.
When the gate 28 is in the closed state, the charging pressure is reduced to the molten resin 24.
And it does not act on the slide members 32a and 32b.
Therefore, the slide members 32a, 32b that have received the urging force of the coil springs 70a, 70b move to the second position. Due to the movement of the slide members 32a, 32b, the slide members 32a, 32b
Since the pressure of 2b acts, the bubbles existing in the molten resin 24 and on the boundary surface between the resin 24 and the lead frame of the semiconductor device 40 continue and are maintained in a compressed state, and the bubbles do not expand. Therefore, a peeled portion and a sparse band do not occur between the lead frame and the lead frame. Even when the volume of the resin shrinks due to the curing of the molten resin 24, the molten resin 24 that has entered the slide holes 30a and 30b moves along with the movement of the slide members 32a and 32b to the second position. It is extruded in the 14b direction. By this extrusion, the amount of resin corresponding to the shrinkage can be supplied.

【0025】溶融樹脂24の硬化が完了したら上型モー
ルドベース10と上型チェイス12が上動して型開され
る。型開が行われたらエアシリンダ72a、72bを駆
動してエジェクトピン34a、34bをキャビティ14
a、14b内へ突出して樹脂封止された半導体装置40
をキャビティ14bからエジェクトすることができる。
When the curing of the molten resin 24 is completed, the upper mold base 10 and the upper chase 12 move upward to open the mold. When the mold is opened, the air cylinders 72a, 72b are driven to eject the eject pins 34a, 34b to the cavities 14.
a, Semiconductor Device 40 Protruding into 14b and Sealed with Resin
Can be ejected from the cavity 14b.

【0026】次に図7を参照して第3実施例について説
明する。第3実施例はトランスファモールド装置に関す
る実施例である。なお、先行実施例と同一の構成部材に
ついては先行実施例と同一の符号を付し、説明は省略す
る。第3実施例のトランスファモールド装置は、基体
(リードフレーム、基板、フィルム)80の上側にチッ
プ82が配設され、基体80の上側のみにパッケージ部
が形成される半導体装置の樹脂封止に用いられる。
Next, a third embodiment will be described with reference to FIG. The third embodiment relates to a transfer molding apparatus. Note that the same components as those of the preceding embodiment are denoted by the same reference numerals as those of the preceding embodiment, and description thereof is omitted. The transfer molding apparatus according to the third embodiment is used for resin sealing of a semiconductor device in which a chip 82 is disposed on a base (lead frame, substrate, film) 80 and a package portion is formed only on the base 80. Can be

【0027】第3実施例のトランスファモールド装置に
おいては、下側モールドベース16および下側チェイス
18内の構造が簡単になる。また、キャビティ14a内
のエアをスライド部材32aとスライド孔30aの間
隙、およびエジェクトピン34aの間隙から排出可能と
なる。さらに、溶融樹脂24の硬化に伴い体積の収縮が
発生してもスライド孔30a内に進入していた溶融樹脂
24がスライド部材32aの第2の位置への移動に伴い
キャビティ14a方向へ押し出される。この押し出しに
より、収縮分の樹脂量を補給することができ、通常は大
きく反るパッケージ部の反りを極めて抑制可能となる。
In the transfer molding apparatus of the third embodiment, the structures in the lower mold base 16 and the lower chase 18 are simplified. Further, the air in the cavity 14a can be discharged from the gap between the slide member 32a and the slide hole 30a and the gap between the eject pins 34a. Further, even if the volume of the molten resin 24 is reduced due to the curing of the molten resin 24, the molten resin 24 that has entered the slide hole 30a is pushed out toward the cavity 14a as the slide member 32a moves to the second position. By this extrusion, the amount of resin corresponding to the shrinkage can be replenished, and the warpage of the package portion, which usually warps greatly, can be extremely suppressed.

【0028】次に図8を参照して第4実施例について説
明する。第4実施例もトランスファモールド装置に関す
る実施例である。なお、先行実施例と同一の構成部材に
ついては先行実施例と同一の符号を付し、説明は省略す
る。第4実施例のトランスファモールド装置は、基体8
0の下側にチップ82が配設され、基体80の下側のみ
にパッケージ部が形成される半導体装置の樹脂封止に用
いられる。
Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIG. The fourth embodiment is also an embodiment relating to a transfer molding apparatus. Note that the same components as those of the preceding embodiment are denoted by the same reference numerals as those of the preceding embodiment, and description thereof is omitted. The transfer molding apparatus according to the fourth embodiment includes a base 8
The chip 82 is provided below the base 80 and is used for resin sealing of a semiconductor device in which a package portion is formed only below the base 80.

【0029】第4実施例のトランスファモールド装置に
おいては、上側モールドベース10および上側チェイス
12内の構造が簡単になる。また、スライド部材32b
の移動により、未だ硬化していない内部の溶融樹脂にス
ライド部材32bの圧力が作用するので、溶融樹脂24
内および基体80と樹脂24との境界面に存在する気泡
は圧縮された状態が継続、維持され、気泡の膨張は発生
しない。樹脂24の剥離部分や疎密度帯が発生すること
がない。また、キャビティ14b内のエアをスライド部
材32bとスライド孔30bの間隙、およびエジェクト
ピン34bの間隙から排出可能となる。さらに、溶融樹
脂24の硬化に伴い体積の収縮が発生してもスライド孔
30b内に進入していた溶融樹脂24がスライド部材3
2bの第2の位置への移動に伴いキャビティ14b方向
へ押し出される。この押し出しにより、収縮分の樹脂量
を補給することができ、通常は大きく反るパッケージ部
の反りを極めて抑制可能となる。
In the transfer molding apparatus of the fourth embodiment, the structures in the upper mold base 10 and the upper chase 12 are simplified. Also, the slide member 32b
The pressure of the slide member 32b acts on the internal molten resin that has not yet been cured due to the movement of the molten resin.
The air bubbles existing inside and at the boundary surface between the substrate 80 and the resin 24 continue and are maintained in a compressed state, and no expansion of the air bubbles occurs. There is no occurrence of a stripped portion of the resin 24 or a sparse band. Further, the air in the cavity 14b can be discharged from the gap between the slide member 32b and the slide hole 30b and the gap between the eject pins 34b. Further, even if the volume of the resin shrinks due to the hardening of the molten resin 24, the molten resin 24 that has entered the slide hole 30 b is removed by the slide member 3.
With the movement of 2b to the second position, it is pushed out toward the cavity 14b. By this extrusion, the amount of resin corresponding to the shrinkage can be replenished, and the warpage of the package portion, which usually warps greatly, can be extremely suppressed.

【0030】上記各実施例では、敢えてスライド部材3
2a、32bの先端面をキャビティ14a、14bの内
上面、内底面の全面に対応させていない。これは、樹脂
封止するパッケージ部の厚さが薄くなると、基体80の
上下に樹脂24が入りにくくなり、エアを巻き込み易く
なるため、キャビティ14a、14bの内上面、内底面
の全面を可動としていない。また、スライド部材32
a、32bの離型性を確実にするためエジェクトピン3
4a、34bをキャビティ14a、14b内へ突入させ
るためにもスライド部材32a、32bの先端面をキャ
ビティ14a、14bの内上面、内底面の全面に対応さ
せていない。エジェクトピン34a、34bのエジェク
ト位置が半導体装置40等のパッケージ部の端部であっ
ても、中央部もスライド部材32a、32bで押動する
ので、パッケージ部の反りの発生を抑制可能となる。以
上、本発明の好適な実施例について種々述べてきたが、
本発明は上述の実施例に限定されるのではなく発明の精
神を逸脱しない範囲で多くの改変を施し得るのはもちろ
んである。
In each of the above embodiments, the slide member 3
The front end surfaces of 2a and 32b do not correspond to the entire inner upper and lower surfaces of the cavities 14a and 14b. This is because, when the thickness of the package portion to be sealed with the resin is reduced, the resin 24 does not easily enter the upper and lower portions of the base 80, and the air is easily entangled. Not in. Also, the slide member 32
eject pin 3 to ensure the releasability of a, 32b
In order to make the 4a and 34b protrude into the cavities 14a and 14b, the tip surfaces of the slide members 32a and 32b do not correspond to the entire inner and lower surfaces of the cavities 14a and 14b. Even if the eject pins 34a and 34b are ejected at the ends of the package portion of the semiconductor device 40 or the like, the center portion is also pushed by the slide members 32a and 32b, so that the warpage of the package portion can be suppressed. As described above, various preferred embodiments of the present invention have been described.
The present invention is not limited to the above-described embodiment, but may be modified in many ways without departing from the spirit of the invention.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明に係るトランスファモールド装置
を用いると、溶融樹脂をキャビティへ充填する際には、
上金型及び下金型のスライド孔に設けられたスライド部
材はキャビティから離反した第1の位置へ移動してお
り、キャビティ内への溶融樹脂の充填終了後、溶融樹脂
を硬化させる際に、駆動手段を介してスライド部材をキ
ャビティに接近した第2の位置へ移動させるので、溶融
樹脂を硬化させる際に、プランジャ圧がキャビティ内に
作用しなくても、スライド部材の押圧力が溶融樹脂内及
びリードフレームと溶融樹脂との界面などに存在する
泡の膨張を阻止することができる。また、溶融樹脂を硬
化に伴ない体積の収縮が発生しても、第2位置へ移動し
たスライド部材のスライド孔内に進入していた樹脂を樹
脂封止部へ補給することが可能となる。
The transfer molding apparatus according to the present invention.
Being use of, in filling the molten resin into the cavity,
The slide members provided in the slide holes of the upper mold and the lower mold are moved to the first position away from the cavity, and after the filling of the molten resin into the cavity, when the molten resin is cured, Since the slide member is moved to the second position close to the cavity via the driving means, even when the plunger pressure does not act in the cavity when the molten resin is hardened, the pressing force of the slide member is reduced within the molten resin. Passing
The expansion of bubbles existing at the interface between the lead frame and the molten resin can be prevented. Further, even if the volume of the molten resin shrinks due to curing, the molten resin moves to the second position.
The resin that has entered the sliding hole of the sliding member can be supplied to the resin sealing portion.

【0032】また、他の構成によれば、溶融樹脂をキャ
ビティへ充填する際には、スライド部材はキャビティか
ら離反した第1の位置へ移動し、溶融樹脂のキャビティ
へ充填終了後、溶融樹脂を硬化させる際には、当該硬化
によって体積が縮小した分、付勢手段の付勢力によりス
ライド部材はキャビティに接近した第2の位置へ移動す
るので、溶融樹脂を硬化させる際に、プランジャ圧がキ
ャビティ内に作用しなくても、スライド部材の押圧力が
溶融樹脂内及びリードフレームと溶融樹脂との界面など
に存在する気泡の膨張を阻止することができる。また、
溶融樹脂を硬化させる際に、第2位置へ移動したスライ
ド部材のスライド孔内に進入していた樹脂を樹脂封止部
へ補給することが可能となる。
According to another configuration, when filling the molten resin into the cavity, the slide member moves to the first position separated from the cavity, and after the filling of the molten resin into the cavity, the molten resin is filled. When hardening, the slide member moves to the second position close to the cavity by the urging force of the urging means by an amount corresponding to the volume reduced by the hardening. Even if it does not act inside, the pressing force of the slide
In the molten resin, at the interface between the lead frame and the molten resin, etc.
It is possible to prevent the expansion of the air bubbles present in the. Also,
When curing the molten resin, the slide moved to the second position
It is possible to replenish the resin that has entered the slide hole of the sliding member to the resin sealing portion.

【0033】従って、硬化樹脂と樹脂封止されるリード
フレーム等との間に剥離部分や疎密度帯の発生を防止す
ることが可能となる。また、樹脂封止部分の内部に膨張
した気泡を含まないので、電子部品や半導体装置が高温
に晒されて気泡内の空気が膨張し、樹脂封止部分を破壊
したり、クラックを発生させることがない。さらに、キ
ャビティ内への溶融樹脂の充填完了後、樹脂の体積が収
縮してもスライド孔内の樹脂がキャビティ内へ補給され
るので、樹脂封止部分における引っ張り応力の発生と、
それに伴う樹脂封止部分の反りを防止可能となる等の著
効を奏する。
Therefore, it is possible to prevent the occurrence of a peeled portion or a density band between the cured resin and the lead frame to be sealed with the resin. In addition, since the inside of the resin-sealed portion does not contain expanded bubbles, the electronic components and the semiconductor device are exposed to high temperature, and the air in the bubbles expands, which may damage the resin-sealed portion or cause cracks. There is no. Furthermore, after the filling of the molten resin into the cavity is completed, even if the volume of the resin shrinks, the resin in the slide hole is replenished into the cavity.
This has a remarkable effect such as the possibility of preventing the resin sealing portion from being warped.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る第1実施例のトランスファモール
ド装置の要部を示した部分破断正面図。
FIG. 1 is a partially broken front view showing a main part of a transfer molding apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1のトランスファモールド装置のチェイス近
傍を示した部分断面図。
FIG. 2 is a partial sectional view showing the vicinity of a chase of the transfer molding apparatus of FIG.

【図3】樹脂充填状態におけるチェイス近傍を示した部
分断面図。
FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing the vicinity of a chase in a resin-filled state.

【図4】樹脂硬化状態におけるチェイス近傍を示した部
分断面図。
FIG. 4 is a partial cross-sectional view showing the vicinity of a chase in a resin cured state.

【図5】半導体装置の離型状態におけるチェイス近傍を
示した部分断面図。
FIG. 5 is a partial cross-sectional view showing the vicinity of a chase in a release state of the semiconductor device.

【図6】本発明に係る第2実施例のトランスファモール
ド金型を含むトランスファモールド装置の要部を示した
部分破断正面図。
FIG. 6 is a partially cutaway front view showing a main part of a transfer molding apparatus including a transfer mold according to a second embodiment of the present invention.

【図7】本発明に係る第3実施例のトランスファモール
ド装置の樹脂充填状態におけるチェイス近傍を示した部
分断面図。
FIG. 7 is a partial sectional view showing the vicinity of a chase in a resin-filled state of a transfer molding apparatus according to a third embodiment of the present invention.

【図8】本発明に係る第4実施例のトランスファモール
ド装置の樹脂充填状態におけるチェイス近傍を示した部
分断面図。
FIG. 8 is a partial sectional view showing the vicinity of a chase in a resin-filled state of a transfer molding apparatus according to a fourth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 上型モールドベース 12 上型チェイス 14a、14b キャビティ 16 下型モールドベース 18 下型チェイス 24 樹脂 30a、30b スライド孔 32a、32b スライド部材 40 半導体装置 42a、42b 第1のリンク片 44a、44b 第2のリンク片 46a、46b エアシリンダ 70a、70b コイルスプリング 80 基体 Reference Signs List 10 upper mold base 12 upper mold chase 14a, 14b cavity 16 lower mold base 18 lower mold chase 24 resin 30a, 30b slide hole 32a, 32b slide member 40 semiconductor device 42a, 42b first link piece 44a, 44b second Link piece 46a, 46b Air cylinder 70a, 70b Coil spring 80 Base

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B29C 45/00 - 45/84 H01L 21/56 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) B29C 45/00-45/84 H01L 21/56

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 キャビティが形成されると共に、一端が
該キャビティ内に開口したスライド孔が穿設されている
上金型及び下金型と、 前記スライド孔内にスライド可能に各々配設され、前記
キャビティに対して接離動可能なスライド部材と、 該スライド部材をキャビティに対して接離動させるため
の駆動手段とを具備し、 前記駆動手段を駆動させて、前記各スライド部材をキャ
ビティより離反した第1の位置へ移動させて溶融樹脂を
キャビティへ充填し、該溶融樹脂の充填終了後前記スラ
イド部材をキャビティに接近した第2の位置へ移動させ
て前記溶融樹脂を硬化させる ことを特徴とするトランス
ファモールド装置。
1. A cavity is formed, and a slide hole having one end opened in the cavity is formed.
An upper mold and a lower mold , a slide member which is respectively slidably provided in the slide hole, and which is movable toward and away from the cavity; and a slide member which moves the slide member toward and away from the cavity. comprising a drive means, by driving the driving means, calibration of the respective slide member
Move the molten resin to the first position away from the
Fill the cavity, and after filling the molten resin,
Moving the guide member to a second position close to the cavity,
A transfer molding apparatus, wherein the molten resin is cured by heating .
【請求項2】 キャビティが形成され、該キャビティ内
に開口したスライド孔が穿設されている金型本体部と、 前記スライド孔内へスライド可能に配設されると共に、
キャビティに対して接離動可能なスライド部材と、 該スライド部材を常時キャビティ方向へ付勢し、溶融樹
脂がキャビティに充填された際には、溶融樹脂の充填圧
力によりスライド部材をキャビティから離反した第1の
位置への移動を許容し、溶融樹脂のキャビティへ充填終
了後、溶融樹脂を硬化させる際には、スライド部材をキ
ャビティに接近した第2の位置へ移動させる付勢手段と
を具備したことを特徴とするトランスファモールド装
置。
2. A cavity is formed in the cavity.
A mold body portion having a slide hole opened therein , and slidably disposed in the slide hole,
A slide member capable of moving toward and away from the cavity;
When fat is filled in the cavity, the filling pressure of the molten resin
The first member that has separated the slide member from the cavity by force
To the position and finish filling the molten resin cavity.
After that, when the molten resin is cured,
Biasing means for moving to a second position close to the cavity;
Transfer mold equipment characterized by having
Place.
【請求項3】 前記金型本体部は、上型及び下型にスラ
イド孔が各々穿設されており、前記スライド部材及び付
勢手段は、前記各スライド孔内へ各々配設されているこ
とを特徴とする請求項2記載のトランスファモールド装
置。
3. The mold body is provided with upper and lower dies.
The slide member and the attachment
The biasing means is provided in each of the slide holes.
3. The transfer molding apparatus according to claim 2, wherein
Place.
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