JP3194246B2 - X−yステージの制御装置 - Google Patents

X−yステージの制御装置

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はX−Yステージの制
御装置に関し、特にレーザ加工システムにおいて用いら
れるワーク位置決め用のX−Yステージに適した制御装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザ加工システムに用いられるワーク
位置決め用のX−Yステージでは、広い加工範囲(スト
ローク)を有すること並びに、加速・減速時及び高速運
動時を含めた運動精度がストローク内で変化の無いこと
が要求される。
【0003】この種のX−Yステージの一例を図6を参
照して説明する。図6において、このX−Yステージ
は、サーボモータ61とボールねじ62とを組み合わせ
たX軸ステージ60に、サーボモータ71とボールねじ
72とを組み合わせたY軸ステージ70を積み上げるよ
うに構成している。ボールねじ62には、図示していな
いが、その回転によりX軸方向に駆動される被駆動部材
が組み合わされており、この被駆動部材にY軸ステージ
70が搭載された構成となっている。そして、Y軸ステ
ージ70のボールねじ72にはトッププレート80が組
み合わされ、ボールねじ72の回転によりトッププレー
ト80がY軸方向に駆動される。結果として、X軸ステ
ージ60とY軸ステージ70との組み合わせにより、ト
ッププレート80はX軸方向及びY軸方向に駆動され
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】トッププレート80の
位置制御方式としては、サーボモータ61、71のそれ
ぞれに設けられたエンコーダ63、73からの回転検出
信号に基づいてトッププレート80のX軸方向、Y軸方
向に関する位置を検出し、これを目標値と一致するよう
に制御するセミクローズドループ位置制御方式が採用さ
れている。しかし、この方式では、ボールねじ部分の剛
性やバックラッシュの影響がフィードバックされないた
めに、トッププレート80の位置に誤差が生じる。
【0005】このため、上記の方式に代えて、トッププ
レート80の位置を直接検出してフィードバックするフ
ルクローズドループ位置制御方式が採用される場合もあ
るが、この方式では高速移動時のボールねじ部分の振動
による制御ループの安定性が確保できず、応答性をあげ
られないという問題がある。
【0006】そこで、本発明の課題は、ストローク内で
の制御特性の変動を無くし、一様な制御特性、運動精度
を確保できるようなX−Yステージの制御装置を提供す
ることにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、X軸方
向及びY軸方向に駆動可能にされたトッププレートと、
ベース上に設置され、前記トッププレートをX軸、Y軸
の一方の軸方向に駆動する1つのリニアモータと、前記
ベース上に設置され、前記トッププレートをX軸、Y軸
の他方の軸方向に駆動するように互いに平行に構成され
た第1、第2のリニアモータと、前記ベース上に設けら
れて前記トッププレートの一方の軸方向の位置を検出す
るための1つの位置検出器と、前記第1、第2のリニア
モータのそれぞれに対応して前記ベース上に設けられて
互いに離れた位置で前記トッププレートの他方の軸方向
の位置を検出するための第1、第2の位置検出器と、前
1つのリニアモータ、前記第1、第2のリニアモータ
をそれぞれ、対応する位置検出器からの位置検出値と対
応する位置指令値とに基づいて制御する3つのフィード
バック制御系とを備え、前記3つのフィードバック制御
系はそれぞれ、前記位置検出値と前記位置指令値とによ
り制御量指令値を作成する位置制御器を含み、前記第
1、第2のリニアモータの前記フィードバック制御系に
はそれぞれ、前記位置制御器の後段に前記1つの位置検
出器の位置検出値に応じてゲイン量が決定される補正ゲ
イン要素を付加したことを特徴とするX−Yステージの
制御装置が提供される。
【0008】上記の構成により、X、Y方向ともに60
0(mm)の加工範囲(ストローク)を有し、かつ高速
運動に適した高精度なX−Yステージが得られ、このよ
うなX−Yステージは、特にレーザを用いたクリーム半
田印刷用のメタルマスク加工機に最適である。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明によるX−Yステージの一
例を図2を参照して説明する。図2において、このX−
Yステージは、ベース20上に、トッププレート21と
それをX軸方向−Y軸方向に案内するリニアベアリング
と3組のリニアモータとを組み合わせて構成される。ベ
ース20上に配置された2本のYリニアベアリング22
とY軸方向駆動用の2組のY1リニアモータ23、Y2
リニアモータ24とその可動部を共用するYリニアベア
リング25とによりY軸方向の案内系が構成されてい
る。なお、トッププレート21は、これに搭載されるワ
ークよりもやや小さくなるような開口を有している。こ
れは、レーザ加工時にはレーザ光がワークを透過するか
らである。
【0010】これらの案内系の可動部に中間プレート2
6が締結されると共にXリニアモータ27が設けられ、
中間プレート26の上面に2組のXリニアベアリング2
8によりX軸方向の案内系が構成されている。X軸方向
の案内系の可動部に、ワークが固定されるトッププレー
ト21が締結されている。
【0011】このX−Yステージにおいては、トッププ
レート21のY軸方向の駆動は2組のY1リニアモータ
23、Y2リニアモータ24によりXリニアベアリング
28を介して行われる。このような構造により、各リニ
アモータはX−Yステージの構造の一部(ビルトイン
型)となり、機構の単純化、負荷の軽量化が図られてい
る。一方、トッププレート21のX軸方向の駆動は、X
リニアモータ27によりトッププレート21の側面に取
り付けられたリニアベアリング29を介して行われる。
このようにして、Y1リニアモータ23、Y2リニアモ
ータ24によりトッププレート21と中間プレート26
とがベース20上においてY軸方向に駆動され、Xリニ
アモータ27によりトッププレート21上においてX軸
方向に駆動される。
【0012】トッププレート21の位置検出は、Y1リ
ニアモータ23の側面に取り付けられたY1リニアエン
コーダ31及びY2リニアモータ24の側面に取り付け
られたY2リニアエンコーダ32と,Xリニアモータ2
7の側面に取り付けられたXリニアエンコーダ33とに
より行われる。このようにして、一定の距離をおいたY
1リニアエンコーダ31とY2リニアエンコーダ32と
でY軸方向の位置を検出することで、それぞれの検出値
の差によりトッププレート21のヨーイング運動を検出
することができる。
【0013】図1を参照して、本発明の好ましい実施の
形態による位置制御装置について説明する。前述したよ
うに、トッププレート21の位置検出を、Y1リニアモ
ータ23側面のY1リニアエンコーダ31及びY2リニ
アモータ24側面のY2リニアエンコーダ32と、Xリ
ニアモータ27側面のXリニアエンコーダ33とで行
う。Xリニアモータ27に対する制御は、Xリニアエン
コーダ33の位置検出値をフィードバックしてX軸位置
指令値との偏差を検出し、この偏差をX位置制御器11
に与える。X位置制御器11では、この偏差に基づいて
X軸に関する制御量指令値を作成する。一方、Y1リニ
アモータ23に対する制御は、Y1リニアエンコーダ3
1の位置検出値をフィードバックしてY軸位置指令値と
の偏差を検出し、この偏差をY1位置制御器12に与え
る。Y1位置制御器12では、この偏差に基づいてY1
軸に関する制御量指令値を作成する。同様にして、Y2
リニアモータ24に対する制御は、Y2リニアエンコー
ダ32の位置検出値をフィードバックしてY軸位置指令
値との偏差を検出し、この偏差をY2位置制御器13に
与える。Y2位置制御器13では、この偏差に基づいて
Y2軸に関する制御量指令値を作成する。
【0014】ここで、Y1リニアモータ23,Y2リニ
アモータ24のフィードバック制御ループには、Y1位
置制御器12、Y2位置制御器13の後段にそれぞれ、
トッププレート21のX軸方向の位置検出値に応じた補
正ゲイン要素14,15を付加して、Y1位置制御器1
2、Y2位置制御器13からの制御量指令値に補正ゲイ
ンを乗算することで、加工点回りの回転運動の発生を防
ぐ構成としている。
【0015】また、Xリニアモータ27,Y1リニアモ
ータ23,Y2リニアモータ24の各制御ループにそれ
ぞれ、外乱オブザーバを用いた外乱補償器16,17,
18を付加し、リニアベアリングガイドの摩擦特性の変
動等の外乱要因をキャンセルする構成としている。外乱
補償器16,17,18から出力される電流指令値はそ
れぞれ、Xリニアモータ27用のモータアンプ19−
1、Y1リニアモータ23用のモータアンプ19−2、
Y2リニアモータ24用のモータアンプ19−3に与え
られ、各モータアンプは与えられた電流指令値に基づい
て対応するリニアモータの制御を行う。
【0016】以上の構成による本発明の位置制御装置の
作用について説明する。
【0017】本制御装置によれば、これまで述べてきた
各要素の構成により、全ストローク範囲において高い運
動精度を確保できる。まず、トッププレート21の位置
はXリニアエンコーダ33、Y1リニアエンコーダ3
1,Y2リニアエンコーダ32により検出される。この
とき、平行に一定距離をおいて配置されたY1リニアエ
ンコーダ31,Y2リニアエンコーダ32に、トッププ
レート21のヨーイング運動が検出値の差として計測さ
れる。
【0018】図3に補正ゲイン要素14、15の原理モ
デルを示す。ここで、M1 ,M2 はそれぞれY1リニア
モータ23,Y2リニアモータ24の負荷であり、K
は、Y1リニアモータ23,Y2リニアモータ24間の
剛性である。K1 ,K2 はそれぞれ、Y1リニアモータ
23,Y2リニアモータ24の補正ゲインである。図3
において、推力指令値f* からY1軸に関する位置検出
値への伝達関係は、次式(1)で与えられる。
【0019】
【数1】 このときのトッププレート21のヨーイング運動のモー
ドの共振周波数は以下の式(2)、(3)で与えられ
る。
【0020】
【数2】
【数3】 ここで、Y1リニアモータ23,Y2リニアモータ24
の補正ゲインの比を各負荷質量の比と同一にする。すな
わち、次の式(4)とする。
【0021】
【数4】 このようにすると、極周波数=零点周波数となり、トッ
ププレート21のヨーイング運動のモードが極零キャン
セルされる。したがって、推力指令値f* からY1軸に
関する位置検出値への伝達関数は次の式(5)となり、
モータの負荷は見かけ上質量のみとして扱える。
【0022】
【数5】
【0023】本発明のステージでは、Y1リニアモータ
23,Y2リニアモータ24から見た負荷質量は、トッ
ププレート21のX軸方向の位置によりほぼ比例的に変
化するため、補正ゲイン量K1 及びK2 は、図4に示す
ようにトッププレート21のX軸方向の位置検出値に応
じて決定される。すなわち、Y1位置制御器12、Y2
位置制御器13からの制御量指令値に補正ゲイン要素1
4,15により補正ゲイン量K1 及びK2 が乗算され、
トッププレート21のY軸方向の運動と加工点回りの回
転運動を非干渉化し、トッププレート21の加工点回り
の回転運動の発生を防ぐ構成としている。
【0024】更に、Xリニアモータ27,Y1リニアモ
ータ23,Y2リニアモータ24の各制御系に付加され
た外乱補償器16,17,18の詳細を、Xリニアモー
タ27に適用した場合について図5に示す。まず、2次
低域通過型フィルタ(Gs)からなるフィルタ16−1
を用いて、位置制御器から出力された制御量指令値をフ
ィルタリングする。また、Xリニアモータ27及び負荷
を擬似した制御対象の逆モデル(Ms2 /Kf、ここ
で、MsはXリニアモータ27及び負荷の質量、Kfは
モータ推力定数)及び2次低域通過型フィルタ(Gs)
から成るフィルタ16−2を用いて、Xリニアエンコー
ダ33にて検出された位置検出値より制御対象に印加さ
れている実推力値指令値を推定する。
【0025】そして、減算器16−3によりフィルタ1
6−1、16−2の出力の差分をとることにより、制御
対象に印加されている外乱力を推定し、この推定外乱力
を減算器16−4により制御量指令値から減算すること
により、外乱力を補償する。このように、実推力推定時
の制御対象モデルとして、リニアモータ及び負荷の質量
からなるモデルを用いることで、リニアベアリングの案
内摩擦の変動等を外乱力として推定し補償することがで
きる。これは、Y1リニアモータ23,Y2リニアモー
タ24の場合についても同様である。
【0026】以上のように、本発明では、トッププレー
ト21のX軸方向の位置検出値に応じてY1リニアモー
タ23,Y2リニアモータ24の制御ゲインを可変させ
ることで、トッププレート21の加工点回りの回転運動
の発生を防ぎ、それに起因する誤差を減少させることが
できる。これにより、トッププレート21のX軸方向の
位置の変化に伴うトッププレート21の加工点回りの回
転運動誤差を減少させることができる。
【0027】また、外乱オブザーバを用いた外乱補償器
により、トッププレート位置で変動するリニアベアリン
グの案内摩擦の変動等を外乱として推定し、これら外乱
要因を補償することができる。
【0028】なお、本発明は、対象物を移動及び走査さ
せる装置の制御装置に広く応用可能である。例えば、各
種のレーザ加工機のワーク位置決め装置、液晶パネル製
造装置及び検査装置などに適用できる。
【0029】
【発明の効果】本発明によれば、広い範囲のストローク
にわたって制御特性の変動を無くし、一様な制御特性・
運動精度を確保できる。また、従来の位置制御器に対し
て、構成要素を付加する構成で、優れた制御特性を持つ
制御装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の好ましい実施の形態による位置制御装
置の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明によるX−Yステージの構成を示す図で
あり、図(a)は平面図、図(b)は正面図、図(c)
は側面図である。
【図3】図1に示された補正ゲイン要素の原理モデルに
ついて説明するための図である。
【図4】図1に示されたY1リニアモータ、Y2リニア
モータの制御系について示したブロック図である。
【図5】図1に示された外乱補償器について説明するた
めのブロック図である。
【図6】従来のX−Yステージの構成を示す図である。
【符号の説明】
20 ベース 21 トッププレート 22、25 Yリニアベアリング 23 Y1リニアモータ 24 Y2リニアモータ 26 中間プレート 27 Xリニアモータ 28 Xリニアベアリング 29 リニアベアリング
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI G05D 3/12 305 G05D 3/12 305V (56)参考文献 特開 昭63−109956(JP,A) 特開 昭61−159349(JP,A) 特開 平5−173639(JP,A) 特開 平6−95744(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B23K 26/00 - 26/18 B23Q 5/00 - 5/58 G05B 11/00 - 13/04 G05D 3/00 - 3/20

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X軸方向及びY軸方向に駆動可能にされ
    たトッププレートと、ベース上に設置され、前記トップ
    プレートをX軸、Y軸の一方の軸方向に駆動する1つの
    リニアモータと、前記ベース上に設置され、 前記トッププレートをX軸、
    Y軸の他方の軸方向に駆動するように互いに平行に構成
    された第1、第2のリニアモータと、 前記ベース上に設けられて前記トッププレートの一方の
    軸方向の位置を検出するための1つの位置検出器と、 前記第1、第2のリニアモータのそれぞれに対応して前
    記ベース上に設けられて互いに離れた位置で前記トップ
    プレートの他方の軸方向の位置を検出するための第1、
    第2の位置検出器と、 前記1つのリニアモータ、前記第1、第2のリニアモー
    タをそれぞれ、対応する位置検出器からの位置検出値と
    対応する位置指令値とに基づいて制御する3つのフィー
    ドバック制御系とを備え、 前記3つのフィードバック制御系はそれぞれ、前記位置
    検出値と前記位置指令値とにより制御量指令値を作成す
    る位置制御器を含み、 前記第1、第2のリニアモータの前記フィードバック制
    御系にはそれぞれ、前記位置制御器の後段に前記1つの
    位置検出器の位置検出値に応じてゲイン量が決定される
    補正ゲイン要素を付加したことを特徴とするX−Yステ
    ージの制御装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の制御装置において、前記
    補正ゲイン要素のゲイン量を、前記トッププレートの
    方の軸方向のストローク量と前記1つの位置検出器の位
    置検出値との比に基づいて決定することを特徴とするX
    −Yステージの制御装置。
  3. 【請求項3】 請求項1あるいは2記載の制御装置にお
    いて、前記3つのフィードバック制御系にそれぞれ、前
    記制御量指令値を2次低域通過型フィルタにてフィルタ
    リングした制御量指令推定値と、対応するモータおよび
    負荷を擬似した制御対象の逆モデル及び2次低域通過型
    フィルタにて対応する位置検出値より推定した実推力値
    指令との差分により外乱力を推定する外乱オブザーバ
    と、前記外乱力を対応する前記制御量指令値から減算す
    ることで外乱を補償する減算器とを含む外乱補償器を設
    けたことを特徴とするX−Yステージの制御装置。
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