JP3193292B2 - Electronic component inspection device and electronic component delivery device - Google Patents

Electronic component inspection device and electronic component delivery device

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JP3193292B2
JP3193292B2 JP13529796A JP13529796A JP3193292B2 JP 3193292 B2 JP3193292 B2 JP 3193292B2 JP 13529796 A JP13529796 A JP 13529796A JP 13529796 A JP13529796 A JP 13529796A JP 3193292 B2 JP3193292 B2 JP 3193292B2
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recess
opening
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葉 実 千
橋 宏 禎 高
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株式会社 東京ウエルズ
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は6面体ワークの端面
を検査するワーク検査装置に係り、とりわけ端面検査を
精度良く行なうことができるワーク検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a work inspection apparatus for inspecting an end face of a hexahedral work, and more particularly to a work inspection apparatus capable of performing an end face inspection with high accuracy.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から6面体形状を有する電子部品
(ワーク)を検査するため、ワークを円板の外周に挿着
し、このワークを端面検査部により検査するワーク検査
装置が知られている。
2. Description of the Related Art There has been known a work inspecting apparatus for inspecting an electronic component (work) having a hexahedron shape, in which a work is inserted around the outer periphery of a disk and the work is inspected by an end face inspection unit. .

【0003】すなわち、ワーク検査装置は外周にワーク
挿着用の多数の凹部が形成された円板と、円板外方に設
けられるとともに、円板の凹部に挿着されたワークの端
面検査を行なう端面検査部とを備えている。この場合、
円板は水平方向に配置され、円板の上下には固定された
上板と下板が配設されている。
[0003] That is, the work inspection apparatus is provided on the outer periphery of a disk having a large number of concave portions for inserting and mounting the work, and is provided outside the disk, and performs an end surface inspection of the work inserted into the concave portion of the disk. And an end face inspection unit. in this case,
The disks are arranged in a horizontal direction, and fixed upper and lower plates are provided above and below the disks.

【0004】ワーク検査装置の作用にあたっては、まず
フィーダからワークが円板の外周に形成された凹部内に
挿着され、凹部内のワークはバキュームにより半径方向
内方へ吸着される。
In the operation of the work inspecting apparatus, first, a work is inserted from a feeder into a concave portion formed on the outer periphery of a disk, and the work in the concave portion is sucked inward in a radial direction by vacuum.

【0005】次に円板の回転し、6面体ワークのうち半
径方向外方の面、上方面および下方面の3面が端面検査
部により検査される。
[0005] Next, the disk is rotated, and three surfaces of the hexahedral work, that is, the outer surface in the radial direction, the upper surface, and the lower surface are inspected by the end surface inspection unit.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】従来のワーク検査装置
においては、上述のように6面体ワークのうち3面のみ
の端面検査しか行なうことができない。またワークは円
板の外周に設けられた凹部内に挿着されることになる
が、凹部内面とワークとの間に遊びがあるため凹部内に
おけるワークの位置精度が悪く、正確な端面検査を行な
うことができない。
As described above, in the conventional work inspection apparatus, only three end faces of the hexahedral work can be inspected. Also, the work is inserted into the recess provided on the outer periphery of the disc, but there is play between the inner surface of the recess and the work, so the position accuracy of the work in the recess is poor, and accurate end face inspection is required. Cannot do it.

【0007】本発明はこのような点を考慮してなされた
ものであり、6面体ワークの6面の端面検査を迅速かつ
精度良く行なうことができるワーク検査装置を提供する
ことを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above points, and has as its object to provide a work inspecting apparatus capable of quickly and accurately inspecting six end faces of a hexahedral work.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、6面体ワーク
を把持する多数の第1凹部が外周に形成された第1円板
と、この第1円板に対して直交して配置され、第1凹部
のワークを受け取って把持する多数の第2凹部が外周に
形成された第2円板と、第1円板の外方に設けられ、ワ
ークの3面を検査する第1端面検査部と、第2円板の外
方に設けられ、ワークの残り3面を検査する第2端面検
査部とを備え、前記第1凹部および前記第2凹部は開閉
自在となっていることを特徴とするワーク検査装置であ
る。
According to the present invention, there is provided a first disk having a plurality of first concave portions formed on an outer periphery for gripping a hexahedral work, and the first disk is disposed orthogonal to the first disk. A second disk having a plurality of second recesses formed on an outer periphery thereof for receiving and gripping the work in the first recess, and a first end surface inspection unit provided outside the first disk to inspect three surfaces of the work. And a second end surface inspection unit provided outside the second disk and inspecting the remaining three surfaces of the work, wherein the first recess and the second recess are openable and closable. This is a work inspection device.

【0009】本発明によれば、第1円板の第1凹部内に
把持されたワークは、第1端面検査部においてその3面
が検査され、その後第2円板の第2凹部に受け渡され
る。第2円板の第2凹部に把持されたワークは、第2端
面検査部において残り3面が検査される。
According to the present invention, the work gripped in the first concave portion of the first disk is inspected on its three surfaces by the first end surface inspection section, and then transferred to the second concave portion of the second disk. It is. The remaining three surfaces of the workpiece held by the second concave portion of the second disk are inspected by the second end surface inspection unit.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。図1(a)(b)および図
2は本発明によるワーク検査装置の実施の形態を示す図
である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIGS. 1A, 1B and 2 are views showing an embodiment of a work inspection apparatus according to the present invention.

【0011】まず図1(b)により、ワーク検査装置に
より検査される電子部品等のワークについて説明する。
図1(b)に示すようにワーク10は、6面体形状とな
っており、6つの面10a、10b、10c、10d、
10e、10fを有している。
First, referring to FIG. 1B, a work such as an electronic component inspected by a work inspecting apparatus will be described.
As shown in FIG. 1B, the work 10 has a hexahedral shape, and has six surfaces 10a, 10b, 10c, 10d,
10e and 10f.

【0012】次にワーク検査装置について述べる。図1
(a)に示すように、ワーク検査装置はワーク10を把
持する多数の第1凹部12が外周に形成された第1円板
11と、ワーク10を把持する多数の第2凹部22が外
周に形成された第2円板21とを備えている。このうち
第1円板11は水平方向に回転自在に配設され、また第
2円板21は垂直方向に回転自在に配設され、このため
第1円板11と第2円板21は互いに直交している。ま
た第1円板11の第1凹部12によって把持されたワー
ク10は、第2円板21の第2凹部22に受け渡される
ようになっている。なお、第1円板11および第2円板
21は、いずれも弾性を有する金属材料またはプラスチ
ック材料からなっている。
Next, a work inspection apparatus will be described. FIG.
As shown in FIG. 1A, the work inspecting apparatus includes a first disc 11 having a plurality of first recesses 12 formed on the outer periphery for gripping the work 10 and a plurality of second recesses 22 holding the work 10 on the outer periphery. And a second disk 21 formed. Of these, the first disk 11 is disposed rotatably in the horizontal direction, and the second disk 21 is disposed rotatably in the vertical direction, so that the first disk 11 and the second disk 21 are mutually rotatable. Are orthogonal. The work 10 gripped by the first recess 12 of the first disk 11 is transferred to the second recess 22 of the second disk 21. Each of the first disk 11 and the second disk 21 is made of an elastic metal material or a plastic material.

【0013】また図1(a)に示すように第1円板11
の外方には、ワーク10の6面10a、10b、10
c、10d、10e、10fのうち3つの面10a、1
0b、10cを各々検査する検査カメラ16a、16
b、16cが設けられている。さらに第2円板21の外
方には、ワーク10の6面10a、10b、10c、1
0d、10e、10fのうち残りの3つの面10d、1
0e、10fを各々検査する検査カメラ26a、26
b、26cが設けられている。さらに図1(a)に示す
ように第1円板11の側方には、ワーク10を第1円板
の第1凹部12内へ供給するフィーダ13が配設され、
また第2円板21の下方には第2円板21の第2凹部2
2内のワーク10を外方へ排出する排出装置23が配設
されている。
Further, as shown in FIG.
Outside of the work 10, the six surfaces 10a, 10b, 10
c, 10d, 10e, 10f, three faces 10a, 1
Inspection cameras 16a and 16 for inspecting 0b and 10c respectively
b, 16c are provided. Further, on the outer side of the second disk 21, the six surfaces 10a, 10b, 10c, 1
0d, 10e, and 10f, the remaining three surfaces 10d, 1d
Inspection cameras 26a and 26 for inspecting 0e and 10f, respectively
b, 26c are provided. Further, as shown in FIG. 1A, a feeder 13 for supplying the work 10 into the first concave portion 12 of the first disk is disposed on a side of the first disk 11,
The second concave portion 2 of the second disk 21 is located below the second disk 21.
A discharge device 23 that discharges the work 10 inside 2 to the outside is provided.

【0014】次に図1(a)および図2により、第1円
板11の第1凹部12および第2円板21の第2凹部2
2の構造について詳述する。ここで図2は第1円板11
の第1凹部12近傍の構造を示しているが、第2円板2
1の第2凹部22も第1円板11の第1凹部12と略同
一の構造を有している。
Next, referring to FIGS. 1A and 2, the first concave portion 12 of the first disk 11 and the second concave portion 2 of the second disk 21 will be described.
The structure of No. 2 will be described in detail. Here, FIG.
The structure near the first recess 12 is shown, but the second disk 2
The first second recess 22 also has substantially the same structure as the first recess 12 of the first disk 11.

【0015】すなわち図2に示すように、第1円板11
には各第1凹部12の中央部から半径方向内方へ延びる
第1中央スリット17が形成され、また第1円板11の
各第1凹部12間には外周縁から半径方向内方に延びる
第1境界スリット18が形成されている。また各第1中
央スリット17には、第1開閉穴19が設けられてい
る。
That is, as shown in FIG.
A first central slit 17 extending radially inward from a central portion of each first concave portion 12 is formed, and extends radially inward from an outer peripheral edge between the first concave portions 12 of the first disk 11. A first boundary slit 18 is formed. Each first central slit 17 is provided with a first opening / closing hole 19.

【0016】また第2円板21にも、第1円板11と同
様に、各第2凹部12の中央部から半径方向内方へ延び
る第2中央スリットと、各第2凹部22間に位置すると
ともに外周縁から半径方向内方に延びる第2境界スリッ
トとが形成され、また各第2中央スリットには第2開閉
穴が設けられている。
Similarly to the first disk 11, the second disk 21 has a second central slit extending radially inward from the center of each of the second concave portions 12, and a position between each of the second concave portions 22. At the same time, a second boundary slit extending radially inward from the outer peripheral edge is formed, and each second central slit is provided with a second opening / closing hole.

【0017】また、図1(a)に示すように、第1円板
11上であってフィーダ13側および第2円板21側に
は、第1円板11の第1開閉穴19に挿入されてこの第
1開閉穴19に対応する第1凹部12を開閉する第1開
閉ピン14、15が設けられている。同様に第2円板2
1の第1円板11側および排出装置23側には、第2円
板21の第2開閉穴に挿入される第2開閉ピン24、2
5が各々設けられている。
Further, as shown in FIG. 1A, on the first disk 11 and on the feeder 13 side and the second disk 21 side, a first opening / closing hole 19 of the first disk 11 is inserted. Then, first opening / closing pins 14 and 15 for opening and closing the first concave portion 12 corresponding to the first opening / closing hole 19 are provided. Similarly, the second disk 2
The first open / close pins 24 and 2 inserted into the second open / close holes of the second disk 21 are provided on the first disk 11 side and the discharge device 23 side, respectively.
5 are provided.

【0018】次にこのような構成からなる本実施の形態
の作用について説明する。まずフィーダ13から6面体
形状のワーク10が第1円板11の第1凹部12側へ供
給される。この場合、図2に示すようにフィーダ13の
幅はワーク10の幅Aより広くなっており、フィーダ1
3内をワーク10がスムースに通過することができる。
また第1円板11の第1凹部12の幅Bは、通常時、ワ
ーク10の幅Aより狭くなっている。
Next, the operation of the present embodiment having such a configuration will be described. First, a hexahedral work 10 is supplied from the feeder 13 to the first recess 12 side of the first disk 11. In this case, as shown in FIG. 2, the width of the feeder 13 is wider than the width A of the work 10, and
The work 10 can pass through the inside of the work 3 smoothly.
The width B of the first concave portion 12 of the first disk 11 is usually smaller than the width A of the work 10 at normal times.

【0019】次に第1円板11の第1開閉穴19内に第
1開閉ピン14が挿入される。この場合、第1円板11
は弾性を有しており、かつ第1円板11に第1境界スリ
ット18が形成されているため、第1開閉ピン14が挿
入された第1開閉穴19に対応する第1凹部12が開い
て幅Cとなる。
Next, the first opening / closing pin 14 is inserted into the first opening / closing hole 19 of the first disk 11. In this case, the first disk 11
Has elasticity and has a first boundary slit 18 formed in the first disk 11, so that the first concave portion 12 corresponding to the first opening / closing hole 19 into which the first opening / closing pin 14 is inserted is opened. The width C.

【0020】次にフィーダ13内のワーク10が第1凹
部12内へ挿入され、その後第1開閉ピン14が第1開
閉穴19から引き抜かれる。この場合、第1凹部12の
幅Dはワーク10の幅Aと同一となり、この第1凹部1
2によってワーク10が把持される。
Next, the work 10 in the feeder 13 is inserted into the first concave portion 12, and then the first opening / closing pin 14 is pulled out from the first opening / closing hole 19. In this case, the width D of the first concave portion 12 becomes the same as the width A of the work 10,
The workpiece 10 is gripped by 2.

【0021】次に第1円板11が回転し、ワーク10の
6つの面のうち3面10a、10b、10cが検査カメ
ラ16a、16b、16cにより外観検査される。次に
第1円板11の第1凹部12内に把持され3面10a、
10b、10cが検査されたワーク10は、第2円板2
1側へ達する。
Next, the first disk 11 rotates, and three surfaces 10a, 10b, and 10c of the six surfaces of the work 10 are inspected by the inspection cameras 16a, 16b, and 16c. Next, the three surfaces 10a are gripped in the first concave portion 12 of the first disk 11,
The work 10 for which 10b and 10c have been inspected is the second disc 2
Reach one side.

【0022】その後第2円板21の第2開閉穴内に第2
開閉ピン24が挿入され、第2円板21の第2凹部22
が開いて第1円板11側のワーク10を受け入れる。次
に第2円板21の第2開閉穴から第2開閉ピン24が引
き抜かれ、第2円板21の第2凹部22が閉じてワーク
10を把持する。同時に第1円板21の第1開閉穴19
内に第1開閉ピン15が挿入され、第1円板11の第1
凹部12が開いて、ワーク10が第1円板11の第1凹
部12から第2円板21の第2凹部22側へ受け渡され
る。
Thereafter, the second disk 21 is inserted into the second opening / closing hole of the second disk 21.
The opening / closing pin 24 is inserted, and the second concave portion 22 of the second disc 21 is inserted.
Opens to receive the work 10 on the first disk 11 side. Next, the second opening / closing pin 24 is pulled out from the second opening / closing hole of the second disk 21, the second concave portion 22 of the second disk 21 is closed, and the work 10 is gripped. At the same time, the first opening / closing hole 19 of the first disk 21
The first opening / closing pin 15 is inserted into the
The recess 12 is opened, and the work 10 is transferred from the first recess 12 of the first disk 11 to the second recess 22 of the second disk 21.

【0023】次に第2円板21が回転し、第2円板21
の第2凹部22内に把持されたワーク10は、検査カメ
ラ26a、26b、26cによって残り3面10d、1
0e、10fが外観検査される。
Next, the second disk 21 rotates, and the second disk 21
The work 10 gripped in the second concave portion 22 of the above is inspected by the inspection cameras 26a, 26b, 26c, and the remaining three surfaces 10d, 1d
0e and 10f are visually inspected.

【0024】次に第2円板21の第2凹部22内に把持
されたワーク10が排出装置23側へ達すると、第2円
板21の第2開閉穴内に第2開閉ピン25が挿入され、
第2円板21の第2凹部22が開く。このようにして第
2凹部22内のワーク10が排出装置23側へ受け渡さ
れ、ワーク10はその後排出装置23によって外方へ排
出される。
Next, when the work 10 gripped in the second concave portion 22 of the second disk 21 reaches the discharge device 23, the second opening / closing pin 25 is inserted into the second opening / closing hole of the second disk 21. ,
The second recess 22 of the second disk 21 opens. In this way, the work 10 in the second recess 22 is delivered to the discharge device 23 side, and the work 10 is thereafter discharged outward by the discharge device 23.

【0025】なお、上記実施の形態において、ワーク1
0の面10a、10b、10c、10d、10e、10
fの外観を検査カメラ16a、16b、16c、26
a、26b、26cによって検査する例を示したが、こ
れに限らずワーク10の面10a、10b、10c、1
0d、10e、10fの外観および電気的特性を検査す
るようにしてもよい。ワーク10の面10a、10b、
10c、10d、10e、10fの外観および電気的特
性を検査する場合に、各検査カメラ16a、16b、1
6c、26a、26b、26cに隣接して電気的特性検
査手段を設けるとともに、第1円板11の第1凹部12
および第2円板21の第2凹部22を絶縁体により構成
する。
In the above embodiment, the work 1
0 faces 10a, 10b, 10c, 10d, 10e, 10
inspection cameras 16a, 16b, 16c, 26
Although an example in which inspection is performed by using a, 26b, and 26c has been described, the present invention is not limited to this, and the surfaces 10a, 10b, 10c, 1
The appearance and electrical characteristics of 0d, 10e, and 10f may be inspected. The surfaces 10a, 10b of the workpiece 10
When inspecting the appearance and electrical characteristics of 10c, 10d, 10e, and 10f, the inspection cameras 16a, 16b, 1
6c, 26a, 26b, 26c, an electrical characteristic inspection means is provided adjacent to the first concave portion 12 of the first disk 11.
In addition, the second recess 22 of the second disk 21 is made of an insulator.

【0026】さらにまた、各検査カメラ16a、16
b、16c、26a、26b、26cの代わりに電気的
特性検査手段を設けて、ワーク10の面10a、10
b、10c、10d、10e、10fの電気的特性のみ
を検査するようにしてもよい。
Furthermore, each inspection camera 16a, 16
b, 16c, 26a, 26b, 26c, an electrical characteristic inspection means is provided, and the surfaces 10a, 10
Only the electrical characteristics of b, 10c, 10d, 10e, and 10f may be inspected.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、第1円板
および第2円板の第1凹部および第2凹部を開閉させる
ことにより第1凹部および第2凹部内においてワークを
遊びを生じさせることなく確実に把持することができ、
かつ第1円板の第1凹部から第2円板の第2凹部へワー
クを容易に受け渡すことができる。またワークを第1円
板の第1凹部に把持してワークの3面を第1端面検査部
により検査することができ、かつ第2円板の第2凹部に
把持してワークの残り3面を第2端面検査部により検査
することができる。このため、ワークの6面を迅速かつ
精度良く検査することができる。
As described above, according to the present invention, the first recess and the second recess of the first disk and the second disk are opened and closed to allow the workpiece to play in the first recess and the second recess. Can be securely gripped without causing
In addition, the work can be easily transferred from the first concave portion of the first disk to the second concave portion of the second disk. In addition, the work can be gripped by the first concave portion of the first disk and three surfaces of the work can be inspected by the first end face inspection section, and the remaining three surfaces of the work can be gripped by the second concave portion of the second disk. Can be inspected by the second end surface inspection unit. Therefore, the six surfaces of the work can be inspected quickly and accurately.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明によるワーク検査装置およびワークを示
す図。
FIG. 1 is a view showing a work inspection apparatus and a work according to the present invention.

【図2】ワーク検査装置の第1円板の外周部分を示す平
面図。
FIG. 2 is a plan view showing an outer peripheral portion of a first disk of the workpiece inspection device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 第1円板 12 第1凹部 13 フィーダ 14、15 開閉ピン 16a、16b、16c 検査カメラ 17 第1中央スリット 18 第1境界スリット 19 第1開閉穴 21 第2円板 22 第2凹部 23 排出装置 24、25 第2開閉ピン 26a、26b、26c 検査カメラ DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 1st disk 12 1st recessed part 13 Feeder 14, 15 Opening / closing pin 16a, 16b, 16c Inspection camera 17 1st center slit 18 1st boundary slit 19 1st opening / closing hole 21 2nd disk 22 2nd recessed part 23 Discharge device 24, 25 Second opening / closing pin 26a, 26b, 26c Inspection camera

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) B65G 47/84 - 47/86 B07C 5/00 - 5/38 ──────────────────────────────────────────────────の Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) B65G 47/84-47/86 B07C 5/00-5/38

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】6面体電子部品を把持する多数の第1凹部
が外周に形成された第1円板と、 この第1円板に対して直交して配置され、第1凹部の電
子部品を受け取って把持する多数の第2凹部が外周に形
成された第2円板と、 第1円板の外方に設けられ、電子部品の3面を検査する
第1端面検査部と、 第2円板の外方に設けられ、電子部品の残り3面を検査
する第2端面検査部とを備え、 前記第1凹部および前記第2凹部は開閉自在となってい
ることを特徴とする電子部品検査装置。
1. A first disk having a plurality of first recesses for holding a hexahedral electronic component formed on an outer periphery thereof, and a first disk disposed orthogonally to the first disk. A second disk having a plurality of second concave portions formed on an outer periphery thereof to be received and gripped; a first end surface inspection unit provided outside the first disk to inspect three surfaces of the electronic component; A second end face inspection unit provided outside the plate for inspecting the remaining three surfaces of the electronic component, wherein the first recess and the second recess are openable and closable. apparatus.
【請求項2】第1円板に各第1凹部中央部から半径方向
内方へ延びる第1中央スリットと、各第1凹部間におい
て半径方向内方へ延びる第1境界スリットとを形成し、 第2円板に各第2凹部中央部から半径方向内方へ延びる
第2中央スリットと、各第2凹部間において半径方向内
方へ延びる第2境界スリットとを形成したことを特徴と
する請求項1記載の電子部品検査装置。
2. A first disk having a first central slit extending radially inward from a central portion of each first recess and a first boundary slit extending radially inward between the first recesses. The second disk has a second central slit extending radially inward from a central portion of each second concave portion and a second boundary slit extending radially inward between the second concave portions. Item 2. The electronic component inspection device according to Item 1.
【請求項3】第1および第2中央スリットに第1および
第2開閉穴を各々設け、第1および第2円板近傍に第1
および第2開閉穴内に挿入される第1および第2開閉ピ
ンを各々設けたことを特徴とする請求項2記載の電子部
品検査装置。
3. First and second opening / closing holes are respectively provided in the first and second central slits, and the first and second opening / closing holes are provided near the first and second discs.
3. The electronic component inspection apparatus according to claim 2, further comprising first and second opening / closing pins inserted into the second opening / closing hole.
【請求項4】電子部品を把持する多数の第1凹部が外周
に形成された第1円板と、 この第1円板に対して直交して配置され、第1凹部の電
子部品を受け取って把持する多数の第2凹部が外周に形
成された第2円板とを備えたことを特徴とする電子部品
受け渡し装置。
4. A first disk having a plurality of first recesses for gripping an electronic component formed on an outer periphery thereof, the first disk being disposed orthogonal to the first disk, and receiving the electronic component in the first recess. An electronic component delivery device comprising: a plurality of second concave portions to be gripped; and a second disk formed on an outer periphery.
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