JP3175380B2 - Manufacturing method of chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor - Google Patents

Manufacturing method of chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor

Info

Publication number
JP3175380B2
JP3175380B2 JP02392693A JP2392693A JP3175380B2 JP 3175380 B2 JP3175380 B2 JP 3175380B2 JP 02392693 A JP02392693 A JP 02392693A JP 2392693 A JP2392693 A JP 2392693A JP 3175380 B2 JP3175380 B2 JP 3175380B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
mold
conductor layer
cathode conductor
molding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP02392693A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH06236834A (en
Inventor
正俊 田制
謙次 上西
泰男 金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP02392693A priority Critical patent/JP3175380B2/en
Publication of JPH06236834A publication Critical patent/JPH06236834A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3175380B2 publication Critical patent/JP3175380B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はチップ状タンタル固体電
解コンデンサの製造方法に関するものである。さらに言
えば本発明の特定的な利用分野は、外装樹脂により被覆
されたコンデンサ素子を備え、かつリード線を有しない
チップ状タンタル固体電解コンデンサにおけるモールド
樹脂の成形技術に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a tantalum solid electrolytic capacitor in chip form. Furthermore, a specific application field of the present invention relates to a molding resin molding technique in a chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor having a capacitor element covered with an exterior resin and having no lead wire.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の軽薄短小化と面実装技
術の進展からリード線を有しないチップ状の電子部品が
急増している。チップ状タンタル固体電解コンデンサに
おいても小形大容量化が進展する中でチップ部品自身の
一層の小形化が要求されている。
2. Description of the Related Art In recent years, chip-shaped electronic components having no lead wires have been rapidly increasing due to the progress of light and thin electronic devices and the development of surface mounting technology. As chip-type tantalum solid electrolytic capacitors have become smaller and larger in capacity, further miniaturization of chip parts themselves is required.

【0003】従来のチップ状タンタル固体電解コンデン
サは図3に示すように構成されていた。すなわち、この
図3において、1は弁作用金属からなるタンタル金属粉
末を成形焼結した多孔質の陽極体で、この陽極体1より
導出したタンタル線からなる陽極導出線2の一部と陽極
体1の全面に陽極酸化による誘電体性酸化被膜を形成
し、この表面に二酸化マンガンなどの電解質層を形成し
ている。3は陽極導出線2に装着したテフロン板で、こ
のテフロン板3は前記電解質層の形成時に陽極導出線2
へ硝酸マンガンが這い上がって二酸化マンガンが付着す
るのを防止する絶縁板である。また前記電解質層の上に
は浸漬法によりカーボン層および銀塗料層よりなる陰極
層4を順次積層形成することによりコンデンサ素子1a
を構成している。
A conventional chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor has a configuration as shown in FIG. That is, in FIG. 3, reference numeral 1 denotes a porous anode body formed by molding and sintering a tantalum metal powder made of a valve metal, and a part of an anode lead wire 2 made of a tantalum wire led out of the anode body 1 and an anode body. A dielectric oxide film is formed on the entire surface of the substrate 1 by anodic oxidation, and an electrolyte layer such as manganese dioxide is formed on the surface. Reference numeral 3 denotes a Teflon plate attached to the anode lead wire 2, and the Teflon plate 3 is used to form the anode lead wire 2 when the electrolyte layer is formed.
An insulating plate that prevents manganese nitrate from creeping up and adhering manganese dioxide. Further, a cathode layer 4 composed of a carbon layer and a silver paint layer is sequentially formed on the electrolyte layer by an immersion method, thereby forming a capacitor element 1a.
Is composed.

【0004】そして、このコンデンサ素子1aの陰極層
4における陽極導出線2と反対側に位置する部分には、
先端部に丸みをもたせた円錐状の陰極導電体層5を形成
し、その後、コンデンサ素子1aおよび陰極導電体層5
を陽極導出線2が片側に引き出されるようにモールド樹
脂6で樹脂成形することにより外装する。そしてモール
ド樹脂6により外装された陰極導電体層5を機械的な研
削等により露出させた後、陽極導出線2の突出部2aを
含むモールド樹脂6の陽極導出線2の引き出し面と、こ
の引き出し面に隣接する周面に陽極金属層7を被覆形成
するとともに、陰極導電体層5の露出部5aを含むモー
ルド樹脂6の陰極側端面およびこの陰極側端面に隣接す
る周面に陰極金属層8を被覆形成していた。
A portion of the cathode layer 4 of the capacitor element 1a opposite to the anode lead-out line 2 includes:
A conical cathode conductor layer 5 having a rounded tip is formed, and then the capacitor element 1a and the cathode conductor layer 5 are formed.
Is formed by resin molding with a mold resin 6 so that the anode lead wire 2 is drawn out to one side. After exposing the cathode conductor layer 5 covered with the mold resin 6 by mechanical grinding or the like, the extraction surface of the anode lead-out line 2 of the mold resin 6 including the protruding portion 2a of the anode lead-out line 2 and the lead-out surface The anode metal layer 7 is coated on the peripheral surface adjacent to the surface, and the cathode metal layer 8 is formed on the cathode side end surface of the mold resin 6 including the exposed portion 5a of the cathode conductor layer 5 and the peripheral surface adjacent to the cathode side end surface. Was formed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のチップ状タンタル固体電解コンデンサにおい
ては、コンデンサ素子1aおよび陰極導電体層5をモー
ルド樹脂6で外装したモールド樹脂外装体を成形金型か
ら離型させる場合、下金型に設置した離型ピンが問題で
モールド樹脂6の下金型側の略中央部に凹部9または凸
部(図示せず)が発生するという問題点を有していた。
However, in such a conventional chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor, a molded resin outer casing in which the capacitor element 1a and the cathode conductor layer 5 are externally covered with a molding resin 6 is formed from a molding die. In the case of releasing the mold, there is a problem that a release pin provided on the lower mold causes a concave portion 9 or a convex portion (not shown) to be generated at a substantially central portion on the lower mold side of the mold resin 6. Was.

【0006】すなわち、図4は樹脂成形金型によって樹
脂成形した成形体を示したもので、この樹脂成形法は、
保持部材10に保持された陽極導出線2を成形金型の下
金型と上金型(いずれも図示せず)で水平に固定し、か
つ成形金型の下金型と上金型が閉じたときにできる空間
部にコンデンサ素子1aを装填するとともに、陽極導出
線2の一部が固定されるようにして樹脂成形するもの
で、フィルムランナー11から流れてきた注入樹脂は樹
脂注入ゲート11aから成形金型の空間部内に入り、図
4に示すモールド樹脂6で外装された成形体ができる。
That is, FIG. 4 shows a molded article formed by resin molding using a resin molding die.
The anode lead wire 2 held by the holding member 10 is horizontally fixed by a lower die and an upper die (neither is shown) of the forming die, and the lower die and the upper die of the forming die are closed. In addition, the capacitor element 1a is loaded into a space formed at the same time, and resin molding is performed so that a part of the anode lead wire 2 is fixed. The injected resin flowing from the film runner 11 flows from the resin injection gate 11a. A molded product that enters the space of the molding die and is covered with the molding resin 6 shown in FIG. 4 is obtained.

【0007】次に、陽極導出線2を保持する成形金型の
下金型と上金型について、図5を用いてさらに詳しく説
明する。
Next, the lower mold and the upper mold for holding the anode lead wire 2 will be described in more detail with reference to FIG.

【0008】図5は、下金型12aと上金型12bが閉
じて成形金型が陽極導出線2を固定した状態を示したも
のであり、この状態でトランスファー成形法により成形
金型の樹脂注入ゲート11aから樹脂を注入すると、樹
脂成形圧力により溶融した樹脂が成形金型の空間部11
に装填されたコンデンサ素子1aを包み込むようにして
モールド樹脂6により外装された成形体を作製する。こ
のモールド樹脂6による外装、つまりトランスファー成
形が終われば、上金型12bを開放し、その後、下金型
12aから成形体を離型させるために、下金型12aに
設置した離型ピン13で成形体を下方から上方に押し上
げて成形体を下金型12aから離型させる。この場合、
離型ピン13は樹脂成形時には下方の定位置に下がり、
また成形体を離型させるときには上方の定位置に上がる
ものであるが、この離型ピン13が上下に動くのを妨げ
るゴミあるいは溶融樹脂バリが原因で、樹脂成形時に下
方の定位置に下がらずに上方に突出した状態で止まった
とき、そのままの状態で樹脂成形した場合、図3に示す
ように、モールド樹脂6の下方の略中央部に凹部9ある
いは凸部(図示せず)が発生するものであった。
FIG. 5 shows a state in which the lower die 12a and the upper die 12b are closed and the molding die fixes the anode lead-out line 2. In this state, the resin of the molding die is formed by the transfer molding method. When the resin is injected from the injection gate 11a, the resin melted by the resin molding pressure becomes the space 11 of the molding die.
Then, a molded article covered with the mold resin 6 is produced so as to enclose the capacitor element 1a loaded in. When the exterior by the molding resin 6, that is, the transfer molding, is completed, the upper mold 12 b is opened, and then, in order to release the molded body from the lower mold 12 a, the release pins 13 installed on the lower mold 12 a are used. The molded body is pushed upward from below to release the molded body from the lower mold 12a. in this case,
The release pin 13 is lowered to a fixed position below during resin molding,
When the molded product is released from the mold, it is raised to an upper fixed position. However, due to dust or molten resin burr that prevents the release pin 13 from moving up and down, the molded product does not drop to a lower fixed position during resin molding. When the resin is molded as it is when it stops in the state of protruding upward, as shown in FIG. 3, a concave portion 9 or a convex portion (not shown) is generated at a substantially central portion below the mold resin 6. Was something.

【0009】この凹部9はプリント基板にクリームハン
ダ等でチップ状タンタル固体電解コンデンサを実装した
後、実装評価のプリント基板をたわみ試験した場合、凹
部9によるモールド樹脂6の厚みの薄い部分で樹脂クラ
ックが発生していた。また、この部分に凸部ができると
チップ状タンタル固体電解コンデンサとしては実装機に
よる実装時のマウントが不安定となり、プリント基板に
実装できないという問題が発生していた。
When a chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor is mounted on a printed board with cream solder or the like, and the printed board for mounting evaluation is subjected to a bending test, a resin crack is formed in the thin portion of the mold resin 6 due to the recess 9. Had occurred. Further, if a convex portion is formed in this portion, the mounting of the chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor at the time of mounting by a mounting machine becomes unstable, and there has been a problem that it cannot be mounted on a printed circuit board.

【0010】本発明はこのような問題点を解決するもの
で、たわみ試験等における機械強度的な信頼性にも優
れ、かつ実装機による実装性についても安定したものを
得ることができるチップ状タンタル固体電解コンデンサ
の製造方法を提供することを目的とするものである。
The present invention solves such a problem, and provides a chip-shaped tantalum having excellent mechanical strength reliability in a deflection test and the like, and having a stable mountability by a mounting machine. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a solid electrolytic capacitor.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明のチップ状タンタル固体電解コンデンサの製造
方法は、陽極体の内部に埋設された陽極導出線の一部が
一端に表出し、他端に先端部に丸味をもたせた円錐状の
陰極導電体層が形成されたコンデンサ素子を樹脂モール
ド用の成形金型の上金型と下金型を閉じた状態で形成さ
れる空間部内に装填すると共に、上記陽極導出線を上金
型と下金型により圧接固定し、この状態で上記空間部内
のコンデンサ素子の陰極導電体層側に設けられた樹脂注
入ゲートを介して溶融した外装樹脂を圧入することによ
りコンデンサ素子をモールド外装し、続いて上記成形金
型を開いて下金型の陰極導電体層側に連通して設けられ
た離型ピンを押し上げてモールド外装された成形体を取
り出した後、この成形体の上記離型ピン跡部を含む外装
樹脂ならびに陰極導電体層の一部を研削等により除去し
て陰極導電体層を露出させることにより陰極取り出し部
を形成するようにしたものである。
In order to solve the above-mentioned problems, a method for manufacturing a chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor according to the present invention is characterized in that a part of an anode lead wire embedded inside an anode body is formed.
Conical shape with one end exposed and the other end rounded
Capacitor element with cathode conductor layer formed
The mold is formed with the upper and lower dies closed.
The anode lead-out wire
Press and fix with the mold and the lower mold, and in this state,
Of the capacitor provided on the cathode conductor layer side of the capacitor element
By pressing the melted exterior resin through the entrance gate
The capacitor element in a mold,
The mold is opened and provided to communicate with the cathode conductor layer side of the lower mold.
Push up the release pin to remove the molded
After release, the package containing the release pin traces of this molded product
Remove resin and part of cathode conductor layer by grinding etc.
The cathode extraction part is exposed by exposing the cathode conductor layer
Is formed .

【0012】[0012]

【作用】上記製造方法によれば、従来のようにモールド
樹脂外装体の下方の略中央部に凹部あるいは凸部の欠陥
部分が発生することはなくなり、そして、万一、離型ピ
ンの故障によりモールド樹脂外装体における陰極導電体
層側に凹部あるいは凸部の欠陥部分が発生したとして
も、このモールド樹脂外装体における陰極導電体層は、
その一部を外部に露出させるために削り取られるため、
記凹部あるいは凸部の欠陥部分はこれによって取り除
かれることになり、その結果、モールド樹脂外装体の外
表面は凹部あるいは凸部の欠陥部分がないフラットなも
のを得ることができ、かつモールド樹脂の肉厚もほぼ均
一なものが得られるため、たわみ試験等における機械強
度的な信頼性にも優れ、かつ実装機による実装性につい
ても安定したものを得ることができるものである。
According to the above-described manufacturing method, unlike the conventional case, a defective portion such as a concave portion or a convex portion does not occur at a substantially central portion below the mold resin outer package. Cathode conductor in molded resin sheath
Even if a defect portion such as a concave portion or a convex portion occurs on the layer side , the cathode conductor layer in this molded resin outer package is
Because the scraped to expose a part of the outside,
Defect portion above Symbol concave or convex portion is to be removed by hand, as a result, the outer surface of the molded resin sheathing body can get what flat no defect portion of the concave or convex portion, and the mold resin Since a substantially uniform thickness can be obtained, it is possible to obtain excellent mechanical strength reliability in a deflection test and the like, and also obtain a stable mountability by a mounting machine.

【0013】[0013]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら説明する。図1は本発明の一実施例における製造
方法により得られたチップ状タンタル固体電解コンデン
サを示したもので、図1において、21は弁作用金属か
らなるタンタル金属粉末を成形焼結した多孔質の陽極体
で、この陽極体21より導出したタンタル線からなる陽
極導出線22の一部と陽極体21の全面に陽極酸化によ
る誘電体性酸化被膜を形成し、この表面に二酸化マンガ
ンなどの電解質層を形成している。23は陽極導出線2
2に装着したテフロン板で、このテフロン板22は前記
電解質層の形成時に陽極導出線22へ硝酸マンガンが這
い上がって二酸化マンガンが付着するのを防止する絶縁
板である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor obtained by the manufacturing method according to one embodiment of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 21 denotes a porous tantalum metal powder formed by molding and sintering a tantalum metal powder composed of a valve action metal. On the anode body, a dielectric oxide film is formed by anodic oxidation on a part of an anode lead wire 22 composed of a tantalum wire led out of the anode body 21 and the entire surface of the anode body 21, and an electrolyte layer such as manganese dioxide is formed on the surface. Is formed. 23 is an anode lead wire 2
2, the Teflon plate 22 is an insulating plate for preventing manganese nitrate from creeping up to the anode lead wire 22 during the formation of the electrolyte layer and preventing manganese dioxide from adhering.

【0014】また前記電解質層の上には浸漬法によりカ
ーボン層および銀塗料層よりなる陰極層24を順次積層
形成することによりコンデンサ素子21aを構成してい
る。そして、このコンデンサ素子21aの陰極層24に
おける陽極導出線22と反対側に位置する部分には、先
端部に丸みをもたせた円錐状の陰極導電体層25を形成
し、その後、コンデンサ素子21aおよび陰極導電体層
25を陽極導出線22が片側に引き出されるようにモー
ルド樹脂26で樹脂成形することにより外装している。
そしてこのモールド樹脂26により外装された陰極導電
体層25を機械的な研削等によってモールド樹脂26を
分厚く削り取ることにより露出させた後、陽極導出線2
2の突出分22aを含むモールド樹脂26の陽極導出線
22の引き出し面と、この引き出し面に隣接する周面に
陽極金属層27を被覆形成するとともに、陰極導電体層
25の露出部25aを含むモールド樹脂26の陰極側端
面およびこの陰極側端面に隣接する周面に陰極金属層2
8を被覆形成している。
A capacitor element 21a is formed by sequentially laminating a cathode layer 24 composed of a carbon layer and a silver paint layer on the electrolyte layer by an immersion method. A conical cathode conductor layer 25 having a rounded tip is formed in a portion of the capacitor element 21a opposite to the anode lead-out line 22 in the cathode layer 24. Thereafter, the capacitor element 21a and the The cathode conductor layer 25 is packaged by molding with a molding resin 26 so that the anode lead-out wire 22 is drawn out to one side.
After exposing the cathode conductor layer 25 covered with the mold resin 26 by shaving the mold resin 26 thick by mechanical grinding or the like, the anode lead wire 2
An anode metal layer 27 is formed on the lead surface of the anode lead-out line 22 of the mold resin 26 including the two protrusions 22a, and a peripheral surface adjacent to the lead surface is covered with an exposed portion 25a of the cathode conductor layer 25. The cathode metal layer 2 is formed on the cathode side end surface of the mold resin 26 and the peripheral surface adjacent to the cathode side end surface.
8 is coated.

【0015】図2は、図1に示すチップ状タンタル固体
電解コンデンサを製造するための樹脂成形工程で用いる
トランスファー成形法の成形金型を示したものである。
図2において、保持部材29に保持された陽極導出線2
2を成形金型の下金型30aと上金型30bで水平に固
定してモールド成形する場合、成形金型の下金型30a
と上金型30bが閉じたときにできる空間部31に樹脂
注入ゲート32から樹脂を注入することにより、空間部
31内に装填されたコンデンサ素子21aを包み込むよ
うにしてモールド樹脂26により外装されたモールド樹
脂外装体を成形する。
FIG. 2 shows a molding die of a transfer molding method used in a resin molding step for manufacturing the chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor shown in FIG.
In FIG. 2, the anode lead wire 2 held by the holding member 29 is shown.
When the mold 2 is horizontally fixed with the lower mold 30a and the upper mold 30b of the molding mold and the molding is performed, the lower mold 30a of the molding mold is used.
The resin is injected from the resin injection gate 32 into the space 31 formed when the upper mold 30b is closed, so that the capacitor element 21a loaded in the space 31 is enveloped by the mold resin 26. A molded resin outer body is formed.

【0016】そしてこの成形後は上金型30bは上方に
上がり、モールド成形する前の状態となり待機した状態
となる。この待機状態のときに下金型30aに設置した
離型ピン33を下方から上方、すなわち矢印Y方向に動
かすことにより、モールド樹脂成形体を下方から上方に
押し上げてモールド樹脂外装体を成形金型の下金型30
aから離型させる。
After the molding, the upper mold 30b rises upward, and is in a state before the molding, and is in a standby state. In this standby state, the release pin 33 installed on the lower mold 30a is moved upward from below, that is, in the direction of arrow Y, thereby pushing up the molded resin molded body from below to move the molded resin exterior body to the molding die. Lower mold 30
Release from a.

【0017】この場合、前記樹脂注入ゲート32は、コ
ンデンサ素子21aが装填される成形金型の陽極導出線
22と対向する面側に位置させ、かつこの樹脂注入ゲー
ト32は樹脂が流れてくるフィルムランナー34と連通
している。また前記離型ピン33はモールド樹脂外装体
における前記樹脂注入ゲート32側の先端近傍部、すな
わちコンデンサ素子21aにおける陰極導電体層25と
対応する部分を押し上げるように、下金型30aに設置
している。
In this case, the resin injection gate 32 is located on the side of the molding die in which the capacitor element 21a is to be mounted, facing the anode lead-out line 22, and the resin injection gate 32 is a film through which the resin flows. It communicates with the runner 34. The release pin 33 is installed on the lower mold 30a so as to push up the vicinity of the tip on the resin injection gate 32 side of the molded resin exterior body, that is, the portion corresponding to the cathode conductor layer 25 in the capacitor element 21a. I have.

【0018】上記したように、樹脂注入ゲート32より
樹脂を注入して作製したコンデンサ素子21aを内装す
るモールド樹脂外装体における前記樹脂注入ゲート32
側の先端近傍部を離型ピン33で押し上げて前記下金型
30aからモールド樹脂外装体を離型させるようにして
いるため、従来のようにモールド樹脂外装体の下方の略
中央部に凹部あるいは凸部の欠陥部分が発生することは
なくなる。
As described above, the resin injection gate 32 in the molded resin exterior body in which the capacitor element 21a manufactured by injecting the resin from the resin injection gate 32 is provided.
The vicinity of the tip of the side is pushed up by the release pin 33 to release the mold resin exterior body from the lower mold 30a. The occurrence of a defective portion of the convex portion is eliminated.

【0019】また、万一、離型ピン33が何らかのトラ
ブルにより、樹脂成形時に下方の定位置に下がらずに上
方に突出した状態で止まったときは、そのままの状態で
樹脂成形した場合、モールド樹脂外装体における樹脂注
入ゲート32側の先端近傍部に凹部あるいは凸部の欠陥
部分が発生することになるが、この先端近傍部はコンデ
ンサ素子21aにおける陰極導電体層25と対応する部
分であり、かつこの先端近傍部は、陰極導電体層25の
一部を外部に露出させるために機械域な研削等により削
り取られるため、前記凹部あるいは凸部の欠陥部分はこ
れによって取り除かれることになる。その結果、モール
ド樹脂外装体の外表面は凹部あるいは凸部の欠陥部分が
ないフラットなものを得ることができる。また、これに
よりモールド樹脂の肉厚もほぼ均一なものが得られるた
め、たわみ試験等における機械強度的な信頼性にも優
れ、かつ実装機による実装性についても安定したものを
得ることができる。
Also, if the release pin 33 stops due to some trouble in a state of protruding upward without lowering down to a fixed position at the time of resin molding, if the resin is molded as it is, the molding resin Defects such as concave portions or convex portions are generated near the tip of the exterior body on the side of the resin injection gate 32, and the vicinity of the tip is a portion corresponding to the cathode conductor layer 25 in the capacitor element 21a, and Since the vicinity of the tip is shaved off by mechanical grinding or the like in order to expose a part of the cathode conductor layer 25 to the outside, the defective portion of the concave portion or the convex portion is removed by this. As a result, it is possible to obtain a flat outer surface of the molded resin outer casing without any defective portions such as concave portions or convex portions. In addition, since the thickness of the mold resin can be substantially uniform, the reliability of the mechanical strength in a deflection test or the like is excellent, and the moldability of the mounting machine can be stabilized.

【0020】なお、上記実施例においては、樹脂成形を
行う場合、トランスファー成形法で樹脂成形したものを
説明したが、液晶ポリマー,PPS樹脂などの熱可塑性
樹脂を用いた射出成形法で樹脂成形してもよいものであ
る。
In the above embodiment, when resin molding is performed, resin molding is performed by transfer molding. However, resin molding is performed by injection molding using a thermoplastic resin such as a liquid crystal polymer or a PPS resin. It may be.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上のように本発明の製造方法によれ
ば、離型ピンをコンデンサ素子の陰極導電体層側に配置
し、この離型ピン跡部を除去するようにしたため、従来
のようにモールド樹脂外装体の下方の略中央部に凹部あ
るいは凸部の欠陥部分が発生することはなくなり、そし
て、万一、離型ピンの故障によりモールド樹脂外装体に
おける陰極導電体層側に凹部あるいは凸部の欠陥部分が
発生したとしても、このモールド樹脂外装体における
極導電体層は、その一部を外部に露出させるために削り
取られるため、記凹部あるいは凸部の欠陥部分はこれ
によって取り除かれることになり、その結果、モールド
樹脂外装体の外表面は凹部あるいは凸部の欠陥部分がな
いフラットなものを得ることができ、かつモールド樹脂
の肉厚もほぼ均一なものが得られるため、たわみ試験等
における機械強度的な信頼性にも優れ、かつ実装機によ
る実装性についても安定したものを得ることができるも
のである。
As described above, according to the manufacturing method of the present invention, the release pin is arranged on the cathode conductor layer side of the capacitor element.
However, since the traces of the release pin are removed, a defective portion such as a concave portion or a convex portion does not occur at a substantially central portion below the mold resin outer body as in the conventional case, and Even if a defect of a concave portion or a convex portion occurs on the cathode conductor layer side of the molded resin outer casing due to a failure of the pin, the shade of the molded resin outer casing is not affected.
For Gokushirube conductor layer to be scraped away to expose a part of the outside, the defect portion above Symbol concave or convex portion is to be removed by this, the outer surface of the result, the molded resin sheathing body recess Alternatively, it is possible to obtain a flat product having no defective portion of the convex portion, and to obtain a product having a substantially uniform thickness of the mold resin. With respect to the mounting performance, a stable one can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例における製造方法により得ら
れたチップ状タンタル固体電解コンデンサの断面図
FIG. 1 is a cross-sectional view of a chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor obtained by a manufacturing method according to an embodiment of the present invention.

【図2】同タンタル固体電解コンデンサを製造するため
の樹脂成形金型を示す部分断面図
FIG. 2 is a partial cross-sectional view showing a resin molding die for manufacturing the tantalum solid electrolytic capacitor.

【図3】従来の製造方法により得られたチップ状タンタ
ル固体電解コンデンサの断面図
FIG. 3 is a cross-sectional view of a chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor obtained by a conventional manufacturing method.

【図4】同タンタル固体電解コンデンサの樹脂成形体を
示す斜視図
FIG. 4 is a perspective view showing a resin molded body of the tantalum solid electrolytic capacitor.

【図5】同タンタル固体電解コンデンサを製造するため
の樹脂成形金型を示す部分断面図
FIG. 5 is a partial cross-sectional view showing a resin molding die for manufacturing the tantalum solid electrolytic capacitor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21a コンデンサ素子 22 陽極導出線 25 陰極導電体層 26 モールド樹脂 29 保持部材 30a 下金型 30b 上金型 31 空間部 32 樹脂注入ゲート 33 離型ピン 21a Capacitor element 22 Anode lead wire 25 Cathode conductor layer 26 Mold resin 29 Holding member 30a Lower die 30b Upper die 31 Space 32 Resin injection gate 33 Release pin

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平3−30412(JP,A) 実開 昭59−33235(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01G 9/08 H01G 9/00 H01G 9/004 H01G 13/00 321 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (56) References JP-A-3-30412 (JP, A) JP-A-59-33235 (JP, U) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01G 9/08 H01G 9/00 H01G 9/004 H01G 13/00 321

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 陽極体の内部に埋設された陽極導出線の
一部が一端に表出し、他端に先端部に丸味をもたせた円
錐状の陰極導電体層が形成されたコンデンサ素子を樹脂
モールド用の成形金型の上金型と下金型を閉じた状態で
形成される空間部内に装填すると共に、上記陽極導出線
を上金型と下金型により圧接固定し、この状態で上記空
間部内のコンデンサ素子の陰極導電体層側に設けられた
樹脂注入ゲートを介して溶融した外装樹脂を圧入するこ
とによりコンデンサ素子をモールド外装し、続いて上記
成形金型を開いて下金型の陰極導電体層側に連通して設
けられた離型ピンを押し上げてモールド外装された成形
体を取り出した後、この成形体の上記離型ピン跡部を含
む外装樹脂ならびに陰極導電体層の一部を研削等により
除去して陰極導電体層を露出させることにより陰極取り
出し部を形成するようにしたチップ状タンタル固体電解
コンデンサの製造方法。
1. An anode lead wire embedded in an anode body.
A circle with a part exposed at one end and a rounded tip at the other end
Capacitor element with cone-shaped cathode conductor layer
With the upper and lower dies closed for the mold for molding
Load into the space to be formed
With the upper mold and the lower mold.
Provided on the cathode conductor layer side of the capacitor element in the space
Press the molten exterior resin through the resin injection gate.
And mold the capacitor element with
Open the molding die and install it in communication with the cathode conductor layer side of the lower die.
Pressing up the released release pin and forming the mold exterior
After removing the molded product, the molded product including the release pin traces
Of the exterior resin and part of the cathode conductor layer by grinding, etc.
Cathode removal by removing and exposing the cathode conductor layer
A method for manufacturing a chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor in which a protruding portion is formed .
JP02392693A 1993-02-12 1993-02-12 Manufacturing method of chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor Expired - Fee Related JP3175380B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP02392693A JP3175380B2 (en) 1993-02-12 1993-02-12 Manufacturing method of chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP02392693A JP3175380B2 (en) 1993-02-12 1993-02-12 Manufacturing method of chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06236834A JPH06236834A (en) 1994-08-23
JP3175380B2 true JP3175380B2 (en) 2001-06-11

Family

ID=12124139

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP02392693A Expired - Fee Related JP3175380B2 (en) 1993-02-12 1993-02-12 Manufacturing method of chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3175380B2 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5837010B2 (en) * 2013-08-01 2015-12-24 日本合成化工株式会社 Resin sealing method for electronic parts
JP6664087B2 (en) * 2015-06-30 2020-03-13 パナソニックIpマネジメント株式会社 Electrolytic capacitor and method of manufacturing the same

Also Published As

Publication number Publication date
JPH06236834A (en) 1994-08-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7158368B2 (en) Process for producing solid electrolytic capacitor and solid electrolytic capacitor
US6188566B1 (en) Solid electrolytic capacitor having a second lead with a throughhole filled with an arc-extinguishing material
US5390074A (en) Chip-type solid electrolytic capacitor and method of manufacturing the same
US5654869A (en) Chip-formed solid electrolytic capacitor without an anode lead projecting from anode member
JP4393738B2 (en) Manufacturing method of solid capacitor
JP3229121B2 (en) Structure of solid electrolytic capacitor
JP2005252261A (en) Surface mount flip-chip capacitor
JP2008135427A (en) Chip-type solid electrolytic capacitor and manufacturing method therefor
JP3175380B2 (en) Manufacturing method of chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor
JP2001358041A (en) Method for manufacturing tantalum electrolytic capacitor
JP3132053B2 (en) Solid electrolytic capacitors
JP3175379B2 (en) Manufacturing method of chip-shaped tantalum solid electrolytic capacitor
JP4104803B2 (en) Manufacturing method for solid electrolytic capacitors
JP2003197485A (en) Chip solid electrolytic capacitor and manufacturing method therefor
JP2001110691A (en) Solid-state electrolytic capacitor and manufacturing method therefor
JP2001358038A (en) Method of manufacturing tantalum electrolytic capacitor
JP2877004B2 (en) Manufacturing method of chip type solid electrolytic capacitor
JP3191715B2 (en) Solid electrolytic capacitor and manufacturing method thereof
JP3433479B2 (en) Method for manufacturing solid electrolytic capacitor
JP2001167985A (en) Solid electrolytic capacitor
JP2003100555A (en) Chip solid electrolytic capacitor and its manufacturing method
JP3515329B2 (en) Chip-shaped electronic component and manufacturing method thereof
JP3185275B2 (en) Manufacturing method of chip-shaped solid electrolytic capacitor
JPH06244062A (en) Method for forming electrode of electronic component
JPH04710A (en) Solid electrolytic capacitor and manufacture thereof

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees