JP3173992U - 分光分析装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】ダイクロイックミラーを交換可能とし、汎用性を高めた分光光度計を提供する。
【解決手段】ダイクロイックミラーを含むミラー組立体と、ミラー組立体を測定光の光路内に装着する装着部を備え、ミラー組立体はダイクロイックミラーを保持するとともに測定光の他の一部を後方に通過させるための開口部を有する保持枠と、保持枠に固定された弾性体からなり、ミラー組立体を装着部に装着する際には弾性体の弾性力によりミラー組立体が前記装着部に係止される。
【選択図】図1

Description

本考案は、ダイクロイックミラーを用いた多波長同時分光分析装置に関する。
光分析法で所定の単一波長の発光強度を測定する場合、測定対象波長のみを通すバンドパスフィルターを用い、バンドパスフィルターを通った光を検出器に投光し光分析を行う方法が一般に行われている。
しかしながら対象となる波長は一つとは限らず、複数波長を同時計測する必要性は高い。例えば、特許文献1に紹介されている例では、半導体ウェハ上の異物を検出するにあたって、異なる波長特性を用いて分光分析を行い、異物の特定を行うものである。
多波長分光分析を可能とする方法として、特定波長より長い光を通し、より短い波長の光を反射するダイクロイックミラーを複数組み合わせた分光分析装置が既に実用化されている。
例えば図3に示す例では、三種の波長に関し同時分析する例を示すが、分析を行う波長に応じて反射波長が適切なダイクロイックミラーを用意し、ダイクロイックミラーの反射波長が短波長から長波長の順にダイクロイックミラー301a、301b、301cを配置する。
試料からの光306はダイクロイックミラー301aに入射し、ダイクロイックミラー301b、301cには、ダイクロイックミラーの波長分離特性に従い、順に短波長から長波長の透過光304a、304bが到達することになる。
次に、各ダイクロイックミラーで反射された反射光305a、305b、305cが目的の波長のみを透過するバンドパスフィルター302a、302b、302cを通り、夫々の検出器に投光されるようダイクロイックミラーを設置することで前記三種の波長の光が検出器303a、303b、303cに到達し、光分析が行われる。
即ち多波長同時分光分析では、測定波長の数分ダイクロイックミラーとバンドパスフィルターを用意する必要があるが、ダイクロイックミラーは試料からの光がダイクロイックミラーを透過した後、次のダイクロイックミラーに入射すると共に、ダイクロイックミラーで反射された光がバンドパスフィルターを透過した後、検出器を照射するべく正確に配置される必要がある。
このため光路に対するダイクロイックミラーの配置は機械的な精度が求められるので、一体物として作られることが一般的である。以下においてはこの一体物を分光部ハウジングと称する。
特開平01−191046号公報
図4は、二波長同時測定の分光部ハウジングの例を示す。試料からの光404は1段目のダイクロイックミラー401aを照らし、1段目のダイクロイックミラー401aを透過した透過光405は2段目のダイクロイックミラー401bに入る。1段目のダイクロイックミラー401aの反射光406aはバンドパスフィルター403aを通り1段目用の検出器に入る。2段目のダイクロイックミラー401bの反射光406bは2段目のバンドパスフィルター403bを通り2段目用の検出器に入る必要があり、光路に対しダイクロイックミラーを正確に配置する必要があるのでダイクロイックミラーは分光部ハウジング402に固定されている。
しかし、ダイクロイックミラーが分光部ハウジングに接着やねじなどの手段で固定されていると、その固定されたダイクロイックミラーに固有の特定波長(ダイクロイックミラーが反射した波長)とバンドパスフィルターを透過した波長でしか測定できない。
試料に応じて測定したい波長は異なるので、様々な試料に対応できる分光分析装置を提供するには、予想される波長の種類分ダイクロイックミラーとバンドパスフィルターを装着した分光分析装置を準備し、目的とする波長に対応した検出器からの信号を処理することになるが、装置が大型化し、高価となる。
本考案による分光分析装置は、測定光の一部を反射するダイクロイックミラーと、ダイクロイックミラーで反射された光を検出する検出器を有し、前記ダイクロイックミラーを含むミラー組立体と、前記ミラー組立体を前記測定光の光路内に装着する装着部を備える。
前記ミラー組立体は、ダイクロイックミラーを保持するとともにダイクロイックミラーの透過光を通過させる開口部を有する保持枠と、保持枠に固定された弾性体からなり、前記ミラー組立体を前記装着部に装着する際には前記弾性体の弾性力により前記ミラー組立体が前記装着部に係止される。
以上の説明により本考案に於いては、ダイクロイックミラーを開口部を有し弾性体を持つ保持枠に取り付け、反射光は検出器を、透過光は次段のダイクロイックミラーを照射できる位置関係を保ちながら挿脱が可能となる。その結果、分析条件に応じた分離波長特性を持つダイクロイックミラーの選択使用が可能となり、小型で拡張性が高い分光分析装置が実現できる。
本考案による分光分析装置の概略構成図である。 本考案のミラー組立体の例を示す。(A)は表面図、(B)は側面図、(C)は裏面図である。 三波長分光分析の概要を示す図である。 従来の分光部ハウジングの例を示す図である。
本考案を実施する形態の例を図1と図2に示す。
図2はミラー組立体の一例を示す。保持枠201の中央には試料からの光を通す開口部205が設けられ、図2(A)に示す開口部の左右の保持枠上には円弧状の板バネ203(付勢バネ)が固定されている。板バネ203が固定されている保持枠の反対面にはダイクロイックミラー202が貼着された構造である。また、ミラー組立体は、図2(A)〜(C)の204に示す押圧片を備える。この押圧片を手でつまむことによって、ミラー組立体の挿脱を容易に行うことができる。
以下、ダイクロイックミラーが貼着されている面をミラー組立体の表面、バネが装着されている面をミラー組立体の裏面と称する。
図1は本考案による分光分析装置の概略構成図である。分光部ハウジング105は、二つのミラー組立体が挿脱可能であり、試料からの光110を通す光路109、ミラー組立体が嵌挿される装着部107a、107b、ダイクロイックミラー101a、101bで反射された光が検出器に向かうための光路108a、108bが設けられている。
装着部107a、107bと試料からの光110の光路109の成す角度は、試料からの光110が挿着されたミラー組立体のダイクロイックミラー101a、101bで反射された反射光112a、112bが検出器114a、114bに向かう角度である。一般的には試料からの光路とダイクロイックミラーで反射された光が検出器に向かう光路のなす角度は90°であるので、装着部107a、107bと試料からの光110の光路109の成す角度は45°である。
ミラー組立体が挿着される装着部の長径の長さは、ミラー組立体が嵌挿できる大きさで、装着部の短径の長さはミラー組立体の板バネ102a、102b、102c、102dの圧力に逆らいながらも押圧片104a、104bを使って指の力で圧入できる大きさで、且つ挿着後、ダイクロイックミラーは前記バネ力により係止される大きさである。
以上の構造を持つ分光分析装置では、試料からの光110が導入され、導入光に対しダイクロイックミラー101aの持つ特定波長より短い光は反射してバンドパスフィルター106aを通り、検出器114aへ届き、より長い波長光は透過して2段目のダイクロイックミラー101bへ向かい、ダイクロイックミラー101bからの反射光112bはバンドパスフィルター106bを通り、2段目の検出器114bに到達する。検出器114a、114bからの信号は信号処理及び制御部115で処理し、データ表示部116に分析結果を表示する。
以上の如く本考案により、ダイクロイックミラーは保持枠に配設された弾性体の弾力で分光部ハウジングの装着部に係止するので、工具を用いることなく、分析条件に応じた分離波長特性を持つダイクロイックミラーの選択使用が可能となり、分光分析装置の汎用性が高まる。
なお、装着部の形状はミラー組立体の表裏の形状に応じたものとすることで、ミラー組立体の表裏に適合して嵌挿されることは明らかである。
101a、101b ダイクロイックミラー
102a、102b、102c、102d 板バネ
104a、104b 押圧片
105 分光部ハウジング
106a、106b バンドパスフィルター
107a、107b 装着部
108a、108b 光路
109 光路
110 試料からの光
112a、112b 反射光
114a、114b 検出器
115 信号処理及び制御部
116 データ表示部
201 保持枠
202 ダイクロイックミラー
203 板バネ
204 押圧片
205 開口部
301a、301b、301c ダイクロイックミラー
302a、302b、302c バンドパスフィルター
303a、303b、303c 検出器
304a、304b 透過光
305a、305b、305c 反射光
306 試料からの光
401a、401b ダイクロイックミラー
402 分光部ハウジング
403a、403b バンドパスフィルター
404 試料からの光
405 透過光
406a、406b 反射光

Claims (4)

  1. 測定光の一部を反射するダイクロイックミラーと、前記ダイクロイックミラーで反射された光を検出する検出器を備えた分光光度計において、前記ダイクロイックミラーを含むミラー組立体と、前記ミラー組立体を前記測定光の光路内に装着する装着部を備え、前記ミラー組立体は、前記ダイクロイックミラーを保持するとともに測定光の他の一部を後方に通過させるための開口部を有する保持枠と、前記保持枠に固定された弾性体とからなり、前記ミラー組立体を前記装着部に装着する際には前記弾性体の弾性力により前記ミラー組立体が前記装着部に係止されることを特徴とする分光光度計。
  2. 前記弾性体は板バネを円弧状に形成したものであることを特徴とする請求項1に記載された分光光度計。
  3. 前記保持枠には前記ミラー組立体を前記装着部に挿抜するための押圧片を備えることを特徴とする請求項1または請求項2に記載された分光光度計。
  4. 前記ミラー組立体と前記装着部の組を複数組備えることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載された分光光度計。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015025773A (ja) * 2013-07-29 2015-02-05 セイコーエプソン株式会社 光学モジュール及び電子機器

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