JP3157738B2 - Wafer transfer device and transfer method - Google Patents

Wafer transfer device and transfer method

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JP3157738B2
JP3157738B2 JP4414297A JP4414297A JP3157738B2 JP 3157738 B2 JP3157738 B2 JP 3157738B2 JP 4414297 A JP4414297 A JP 4414297A JP 4414297 A JP4414297 A JP 4414297A JP 3157738 B2 JP3157738 B2 JP 3157738B2
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一郎 菅原
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山形日本電気株式会社
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ウエハの熱処理や
化学気相成長を行う際に縦型炉とキャリアとの間でウエ
ハの移載を行うウエハ移載装置および移載方法に関す
る。
The present invention relates to a wafer transfer apparatus and method for transferring a wafer between a vertical furnace and a carrier when performing a heat treatment or a chemical vapor deposition of the wafer.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に半導体ウエハの熱処理用縦型炉に
おいては、熱処理での耐熱性や汚染防止のためにウエハ
を高純度の石英や炭化珪素からなるボ−トに移載し、こ
のボ−トを炉内にセットして処理する。また、処理時間
が長いことから複数枚のウエハを同時に処理するため、
ボ−トは上下方向に等ピッチで配列した複数のウエハ保
持板を有し、このウエハ保持板はウエハの面内均一性を
向上させるためにリング状や円盤状にしている。
2. Description of the Related Art Generally, in a vertical furnace for heat treatment of a semiconductor wafer, the wafer is transferred to a boat made of high-purity quartz or silicon carbide in order to prevent heat resistance and contamination during the heat treatment. Set in a furnace and process. In addition, because the processing time is long, to process multiple wafers simultaneously,
The boat has a plurality of wafer holding plates arranged at equal pitches in the vertical direction. The wafer holding plates are formed in a ring shape or a disk shape in order to improve in-plane uniformity of the wafer.

【0003】このようなボ−トを用いた従来の縦型炉用
ウエハ移載装置は、ウエハの工程間の搬送に用いるプラ
スチック製のキャリアと呼ばれるウエハ収納容器から、
上下、前後、旋回動作が可能な移載ロボットに装着され
た移載用フォ−クによって、ウエハを直接ボ−トのウエ
ハ保持板に移載するようになっている。
A conventional vertical furnace wafer transfer apparatus using such a boat is provided with a wafer storage container called a plastic carrier used for transferring wafers between processes.
A wafer is directly transferred to a wafer holding plate of a boat by a transfer fork mounted on a transfer robot capable of up, down, front and back, and turning operations.

【0004】図13,図14および図15の斜視図を用
いて前記ボ−ト形状に対応した従来装置のウエハ移載動
作の一例を説明する。図13は、リング状のウエハ保持
板1a上に3〜4点の爪16を有した爪付きリングボ−
ト14を示している。この爪16は、上下、前後、旋回
可能な移載用フォ−ク3をウエハ2の下に挿入し搬送を
可能にするために設けたもので、ウエハ2はリング上面
から爪16の高さ分の隙間をおいて爪16の上にセット
される。この爪付きリングボ−ト14を用いた移載装置
としては、たとえば特開平3−263317がある。
An example of the wafer transfer operation of the conventional apparatus corresponding to the boat shape will be described with reference to the perspective views of FIGS. 13, 14 and 15. FIG. 13 shows a ringboad with claws having three to four claws 16 on a ring-shaped wafer holding plate 1a.
14 is shown. The claw 16 is provided for inserting the transfer fork 3 which can be turned up and down, back and forth, and under the wafer 2 so as to be able to carry the wafer. It is set on the nail 16 with a minute gap. As a transfer device using the ring boat 14 with a claw, there is, for example, JP-A-3-263317.

【0005】図14は、リングの一部に切り欠き17を
設けた切り欠きリング状のウエハ保持板1bを有する切
り欠きリング付きリングボ−ト15を示している。この
リングの切り欠き17も、図13と同様に移載用フォ−
ク3をウエハ2の下に挿入し搬送を可能にするために設
けたものであり、前記の爪付きリングボ−ト14のよう
にウエハ2をリング面から離す必要が無く、そのままリ
ング上面にセットされる。この切り欠きリング状のウエ
ハ保持板1bについては、たとえば特開平7−7877
7に示されている。
FIG. 14 shows a ring boat 15 with a notch ring having a notch ring-shaped wafer holding plate 1b in which a notch 17 is provided in a part of the ring. The notch 17 of this ring is also used for the transfer
The wafer 3 is provided below the wafer 2 so that it can be transported by being inserted under the wafer 2. There is no need to separate the wafer 2 from the ring surface as in the case of the ring boat 14 with claws, and the wafer 3 is set on the ring upper surface as it is. Is done. The notched ring-shaped wafer holding plate 1b is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-7877.
It is shown in FIG.

【0006】図15は、切り欠きのない連続したリング
状のウエハ保持板1cを有するリングボ−ト6を示して
いる。このボ−トの場合、移載用フォ−ク3をウエハ2
の下に直接挿入できないため、移載用フォ−ク3とは別
にリングの下からウエハ2を突き上げる機構18を有す
る突き上げ用フォ−ク4を設けている。これによってウ
エハ2をリング上面から移載用フォ−ク3が挿入できる
高さまで持ち上げた状態で移載用フォ−ク3との受け渡
しを行い、この突き上げ用フォ−ク4が下降することに
よってウエハ2がリング上面にセットされる。このリン
グボ−ト6を用いた移載装置としては、たとえば特開平
5−13547がある。
FIG. 15 shows a ring boat 6 having a continuous ring-shaped wafer holding plate 1c without a notch. In the case of this boat, the transfer fork 3 is
Since it is impossible to insert the wafer 2 directly under the ring, a fork 4 having a mechanism 18 for lifting the wafer 2 from below the ring is provided separately from the fork 3 for transfer. In this way, the wafer 2 is transferred from the upper surface of the ring to the height where the transfer fork 3 can be inserted, and is transferred to the transfer fork 3. 2 is set on the ring upper surface. As a transfer apparatus using the ring boat 6, there is, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-13547.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】第1の問題点は、図1
3及び図14に示す従来のリングボ−トを扱う移載装置
では、ウエハ1a、1bをリング形状にして面内均一性
の向上を図るという本来のウエハ熱処理の効果を完全に
満たせないことである。特に大口径のウエハでは、熱処
理の際に結晶のスリップ現象が発生する。これらの理由
としては、爪や切り欠きなど、ウエハとの接触が不均一
となる特異点ができるため、ウエハ面内の温度や応力の
分布にムラが生じるからである。
The first problem is that FIG.
The conventional transfer apparatus for handling a ring boat shown in FIG. 3 and FIG. 14 cannot completely satisfy the original effect of the wafer heat treatment in which the wafers 1a and 1b are formed in a ring shape to improve the in-plane uniformity. . Particularly, in the case of a large-diameter wafer, a crystal slip phenomenon occurs during the heat treatment. The reason for this is that a singular point such as a nail or a notch that makes the contact with the wafer non-uniform is formed, so that the distribution of temperature and stress in the wafer surface becomes uneven.

【0008】第2の問題点は、図15に示す従来のリン
グボ−トを扱う移載装置では、前述のような問題点がな
いかわりに移載装置の機構が複雑になることである。そ
の理由は、ウエハを突き上げる機構を有する突き上げ用
フォ−ク4が移載用フォ−ク3とは別に必要となるから
である。
A second problem is that the conventional transfer apparatus for handling a ring boat shown in FIG. 15 does not have the above-described problems but has a complicated mechanism of the transfer apparatus. The reason for this is that the fork 4 for lifting having a mechanism for lifting the wafer is required separately from the fork 3 for transfer.

【0009】本発明の目的は、ウエハの面内均一性の向
上を図ることができるように特異点のないリングボ−ト
を採用すると同時に、機構を簡素化したウエハ移載装置
及び移載方法を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a wafer transfer apparatus and a transfer method which employ a ring boat having no singular point so that the in-plane uniformity of the wafer can be improved and at the same time simplify the mechanism. To provide.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明のウエハ移載装置
および移載方法は、ウエハ保持板が着脱可能なリングボ
−トとキャリアを有し、ウエハ保持板へのウエハの移載
をボ−ト上ではなく動作機構を備えない固定ブロックと
固定ピンからなるプリセット部を設けて行うものであ
る。また、リングボ−トのウエハ保持板は、切り欠きの
ない連続したリング形状もしくはプリセット部の固定ピ
ンの通し穴のみあいている中空円盤状のものを採用す
る。
A wafer transfer device and a transfer method according to the present invention have a ring boat and a carrier to which a wafer holding plate is detachable, and transfer a wafer to a wafer holding plate. Is performed not by using a boat but by providing a preset section including a fixed block and a fixed pin having no operation mechanism. Further, the wafer holding plate of the ring boat adopts a continuous ring shape without a notch or a hollow disk shape having only through holes for fixing pins of the preset portion.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】次に本発明の実施の形態について
図面を参照して詳細に説明する。図1を参照すると本発
明の最良の実施の形態は、まず固定ブロック9と複数の
固定ピン10からなるプリセット部8を、上下、前後及
び旋回動作可能な移載ロボット5の移載用フォ−ク3の
動作範囲内に配置する。またプリセット部8の固定ブロ
ック9と固定ピン10は、耐熱性を有し金属汚染の少な
い高純度の石英、炭化珪素、窒化珪素、アルミナ、ジル
コニア等のセラミックスからなることが望ましい。さら
に固定ブロック9の上面は、ウエハ保持板1の重量に耐
えうる強度を有し、固定ピン10の先端面はウエハ2の
重量に耐えうる最小の接触面積とし、ピンの先端は水平
に揃える。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. Referring to FIG. 1, in a preferred embodiment of the present invention, first, a preset section 8 comprising a fixed block 9 and a plurality of fixed pins 10 is moved to a transfer form of a transfer robot 5 capable of moving up and down, back and forth, and turning. It is arranged within the operation range of the step 3. The fixing block 9 and the fixing pin 10 of the preset section 8 are desirably made of ceramics such as high-purity quartz, silicon carbide, silicon nitride, alumina, zirconia, etc., which have heat resistance and little metal contamination. Further, the upper surface of the fixing block 9 has a strength capable of withstanding the weight of the wafer holding plate 1, the tip surface of the fixing pin 10 has a minimum contact area capable of withstanding the weight of the wafer 2, and the tips of the pins are aligned horizontally.

【0012】リングボ−ト6は、上下で一体に支持され
た支柱7と、支柱7から個々に分離可能な複数のウエハ
保持板1からなる。支柱7は、ウエハ保持板1が等間隔
で配置及び脱着可能なように溝または突起を有する。ウ
エハ保持板1はリング状とし、支柱7との接触による特
異点がウエハ面内の温度や応力の分布ムラとして影響し
ない距離までウエハ2より外形を大きくする。また内径
は、ウエハ2の全周形状がすべて乗り、処理されるプロ
セスでの面内均一性が得られるレベルで最大の大きさが
望ましい。
The ring boat 6 is composed of a column 7 which is integrally supported vertically and a plurality of wafer holding plates 1 which can be separated from the column 7 individually. The column 7 has a groove or a projection so that the wafer holding plate 1 can be arranged and detached at equal intervals. The wafer holding plate 1 is formed in a ring shape, and has an outer shape larger than that of the wafer 2 up to a distance at which a singular point due to contact with the column 7 does not affect the uneven distribution of temperature and stress in the wafer surface. Also, the inner diameter is desirably the largest at a level at which in-plane uniformity is obtained in a process in which the entire peripheral shape of the wafer 2 is mounted and processed.

【0013】移載用フォ−ク3は、上下、前後および旋
回動作可能な移載ロボット5に装着され、工程間搬送の
際ウエハ収納容器として用いるプラスチック製のキャリ
ア11と前記プリセット部8との間で行うウエハ2の搬
送移載と、このプリセット部8とリングボ−ト6の支柱
7との間で行うウエハ保持板1の搬送移載とを実行す
る。この移載用フォ−ク3もまた、耐熱性を有し金属汚
染の少ない高純度の石英、炭化珪素、窒化珪素、アルミ
ナまたはジルコニア等のセラミックスからなることが望
ましい。
The transfer fork 3 is mounted on a transfer robot 5 which can be moved up and down, back and forth and pivotally, and is connected to a plastic carrier 11 used as a wafer storage container during the transfer between processes and the preset section 8. The transfer and transfer of the wafer 2 performed between the wafer holder 2 and the transfer and transfer of the wafer holding plate 1 between the preset unit 8 and the column 7 of the ring boat 6 are executed. This transfer fork 3 is also preferably made of ceramics such as high-purity quartz, silicon carbide, silicon nitride, alumina or zirconia which has heat resistance and little metal contamination.

【0014】また移載用フォ−ク3の形状は、プリセッ
ト部8において固定ピン10上に乗ったウエハ2と固定
ブロック9に乗ったウエハ保持板1の上面との隙間に挿
入できることと、リングボ−トの支柱7に等間隔に配置
したウエハ保持板1間の隙間に挿入できることが必要な
ため、ウエハ2を載せたウエハ保持板1を持ち上げて搬
送できる精度と強度を有する範囲での薄板とし、さらに
この薄板上にウエハ2またはウエハ保持板1を載せるた
めの接触部をそれぞれ異にする凹状の段差または突起を
有することが望ましい。
The shape of the transfer fork 3 is such that it can be inserted into the gap between the wafer 2 on the fixing pins 10 and the upper surface of the wafer holding plate 1 on the fixing block 9 in the preset section 8, Since it is necessary to be able to insert the wafer holding plate 1 on which the wafer 2 is placed into the gap between the wafer holding plates 1 arranged at equal intervals on the support 7 of the Further, it is desirable to have concave steps or projections having different contact portions for placing the wafer 2 or the wafer holding plate 1 on this thin plate.

【0015】さらにその平面形状は、プリセット部8に
挿入するときに固定ブロック9及び固定ピン10と干渉
しない範囲で任意形状をとり得るが、降下塵の堆積を少
なくする意味では強度の許す範囲で小面積にすることが
望ましい。
Further, the plane shape can take an arbitrary shape as long as it does not interfere with the fixing block 9 and the fixing pin 10 when it is inserted into the preset portion 8, but in the sense that the strength is permitted in order to reduce the accumulation of dust falling. It is desirable to reduce the area.

【0016】次に本発明の実施の形態の動作について図
1,図2を参照して詳細に説明する。まずキャリア11
からリングボ−ト6へウエハ2を移載するロ−ディング
動作〜について説明する。
Next, the operation of the embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. First, carrier 11
The loading operation for transferring the wafer 2 to the ring boat 6 will be described.

【0017】ウエハ保持板1が組み立てられた状態のリ
ングボ−ト6に移載用フォ−ク3が前進移動し、移載対
象のウエハ保持板1の下の隙間に挿入される。次に上
昇動作により対象ウエハ保持板1を持ち上げた後、後
退、旋回してプリセット部8にウエハ保持板1を搬送す
る。プリセット部8では、ウエハ保持板1がゆっくり
と下降して固定ブロック9の上に載せられる。このと
き、固定ピン10はウエハ保持板1の上面より突き出し
た状態となる。
The transfer fork 3 moves forward on the ring boat 6 in a state where the wafer holding plate 1 is assembled, and is inserted into a gap below the wafer holding plate 1 to be transferred. Next, after the target wafer holding plate 1 is lifted by a lifting operation, the wafer holding plate 1 is conveyed to the preset section 8 by retreating and turning. In the preset section 8, the wafer holding plate 1 is slowly moved down and placed on the fixed block 9. At this time, the fixing pins 10 project from the upper surface of the wafer holding plate 1.

【0018】移載用フォ−ク3はプリセット部8から後
退し、次にウエハ2が収納してあるキャリア11の方向
に旋回して移載対象のウエハ2を取りに行く。このとき
の移載用フォ−ク3の動作は、リングボ−ト6に対象ウ
エハ保持板1を取りに行った動作と同じである。
The transfer fork 3 retreats from the preset section 8, and then turns in the direction of the carrier 11 in which the wafer 2 is stored to pick up the wafer 2 to be transferred. The operation of the transfer fork 3 at this time is the same as the operation performed to take the target wafer holding plate 1 on the ring boat 6.

【0019】ウエハ2を載せた移載用フォ−ク3は、プ
リセット部8にセットされたウエハ保持板1の上に搬送
され、その上面より突き出した固定ピン10の上にゆ
っくりと下降してウエハ2を載せた後、ウエハ保持板1
に当たらない位置まで後退してからその場で下降し、そ
の後ウエハ保持板1の下に前進挿入する。ここで移載
用フォ−ク3の上昇動作によりウエハ保持板1を持ち上
げると、固定ピン10上のウエハ2はウエハ保持板1に
すくい上げられ、ウエハ保持板1上に移載される。
The transfer fork 3 on which the wafer 2 is mounted is transported onto the wafer holding plate 1 set in the preset section 8 and slowly descends onto the fixing pins 10 protruding from the upper surface thereof. After placing the wafer 2, the wafer holding plate 1
After retreating to a position where the wafer does not hit, it is lowered on the spot, and then inserted forward under the wafer holding plate 1. Here, when the transfer fork 3 is lifted to lift the wafer holding plate 1, the wafer 2 on the fixing pins 10 is scooped up on the wafer holding plate 1 and transferred onto the wafer holding plate 1.

【0020】ウエハ保持板1を載せた移載用フォ−ク3
は、旋回、前進動作によりリングボ−ト6の支柱7へと
向かい、先に取り出したウエハ保持板1の位置にこのウ
エハ2を載せたウエハ保持板1をセットする。このと
き移載用フォ−ク3の動作は、前進挿入後下降してウエ
ハ保持板1をリングボ−ト6の支柱7に設けられた溝ま
たは突起に載せるものである。その後、移載用フォ−ク
3は後退し、次の対象ウエハ保持板1へと向かう。
Transfer fork 3 on which wafer holding plate 1 is mounted
Then, the wafer holding plate 1 on which the wafer 2 is placed is set at the position of the wafer holding plate 1 previously taken out by moving toward the support 7 of the ring boat 6 by turning and moving forward. At this time, the operation of the transfer fork 3 is to lower after the forward insertion, and to place the wafer holding plate 1 on the groove or projection provided on the support 7 of the ring boat 6. Thereafter, the transfer fork 3 retreats toward the next target wafer holding plate 1.

【0021】次に、熱処理後のウエハ2をリングボ−ト
6からキャリア11に戻すアンロ−ディング動作〜
について説明する。リングボ−ト6からウエハ2が載っ
ているウエハ保持板1をプリセット部8まで移載用フォ
−ク3で搬送する動作は、前述のロ−ディング時の動作
と同じである。
Next, an unloading operation for returning the heat-treated wafer 2 from the ring boat 6 to the carrier 11
Will be described. The operation of transferring the wafer holding plate 1 on which the wafer 2 is mounted from the ring boat 6 to the preset unit 8 by the transfer fork 3 is the same as the operation at the time of loading described above.

【0022】プリセット部8の固定ブロック9上でウエ
ハ2が載っているウエハ保持板1を下降させると,前
述と同じく固定ピン10がウエハ保持板1の上面まで突
き出し、載っていたウエハ2を持ち上げる。移載用フ
ォ−ク3はウエハ保持板1の下から後退後上昇し、この
ウエハ保持板1と固定ピン10で持ち上げられたウエハ
2の間の隙間に前進挿入する。その後、上昇により固定
ピン10上のウエハ2を移載用フォ−ク3に載せ、後
退、旋回してキャリア11へと向かう。
When the wafer holding plate 1 on which the wafer 2 is mounted is lowered on the fixed block 9 of the preset section 8, the fixing pins 10 protrude to the upper surface of the wafer holding plate 1 as described above, and lift the mounted wafer 2. . The transfer fork 3 rises after retreating from below the wafer holding plate 1 and is inserted forward into a gap between the wafer holding plate 1 and the wafer 2 lifted by the fixing pins 10. Thereafter, the wafer 2 on the fixing pin 10 is placed on the transfer fork 3 by ascending, and retreats and turns toward the carrier 11.

【0023】キャリア11へのウエハ2の収納動作につ
いては、リングボ−ト6にウエハ保持板1をセットした
動作と同じである。プリセット部8にウエハ保持板1が
残るが、このウエハ保持板1をリングボ−ト6に戻す動
作はロ−ディング時の動作と同じである。ただし、次の
処理工程が連続してある場合は、前記ロ−ディング時の
キャリア11からプリセット部8までウエハ2を搬送
し、ウエハ2をウエハ保持板1に載せた状態でリングボ
−ト6にセットするロ−ディング動作となる。
The operation of storing the wafer 2 in the carrier 11 is the same as the operation of setting the wafer holding plate 1 on the ring boat 6. Although the wafer holding plate 1 remains in the preset section 8, the operation of returning the wafer holding plate 1 to the ring boat 6 is the same as the operation at the time of loading. However, if the next processing step is continuous, the wafer 2 is transported from the carrier 11 at the time of loading to the preset section 8 and the wafer 2 is placed on the wafer holding plate 1 and placed on the ring boat 6. This is a loading operation for setting.

【0024】[0024]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。図3は本発明の実施例に用いるプリ
セット部8の断面図である。図4はこのプリセット部8
にリングボ−ト6より分離したウエハ保持板1をセット
したときの断面図であり、図5はさらにこのプリセット
部8にウエハ2をセットしたときの断面図である。
Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 3 is a sectional view of the preset unit 8 used in the embodiment of the present invention. FIG. 4 shows the preset section 8
FIG. 5 is a cross-sectional view when the wafer holding plate 1 separated from the ring boat 6 is set, and FIG. 5 is a cross-sectional view when the wafer 2 is further set on the preset unit 8.

【0025】まず図3を参照すると、本発明の実施例の
プリセット部8は、1つの固定ブロック9と4本の固定
ピン10により構成される。固定ブロック9は高純度の
アルミナ、固定ピン10は高純度の石英からなり、それ
ぞれの先端上面は同一水平面上にある。4本の固定ピン
10の上面を結ぶ水平面は、固定ブロック9上面に対し
10〜15mm上に突き出している。
First, referring to FIG. 3, the preset section 8 according to the embodiment of the present invention includes one fixing block 9 and four fixing pins 10. The fixing block 9 is made of high-purity alumina and the fixing pin 10 is made of high-purity quartz, and the top surfaces of the respective tips are on the same horizontal plane. The horizontal plane connecting the upper surfaces of the four fixing pins 10 protrudes 10 to 15 mm above the upper surface of the fixing block 9.

【0026】この固定ブロック9には、移載用フォ−ク
3が挿入できる溝19が形成され、この溝19をまたい
で固定ブロック9の上面にウエハ保持板1を載置する円
弧状凹部20を設け、この凹部20内でかつウエハ保持
板1の内径よりも内側に、固定ピン10が立てられてい
る。
A groove 19 into which the transfer fork 3 can be inserted is formed in the fixed block 9, and an arc-shaped recess 20 for mounting the wafer holding plate 1 on the upper surface of the fixed block 9 across the groove 19. The fixing pin 10 is set up inside the concave portion 20 and inside the inner diameter of the wafer holding plate 1.

【0027】図4を参照すると、このプリセット部8の
固定ブロック9上にウエハ保持板1が図1における移載
用フォ−ク3にて搬送されセットされている。ウエハ保
持板1は高純度の石英からなり、厚さが1〜3mmのリ
ング状のものである。従って、この状態でも4本の固定
ピン10の上面は、ウエハ保持板1の上面より7〜14
mm上に突き出している。図5を参照すると、さらにこ
のプリセット部8の固定ピン10上にウエハ2が図1に
おける移載用フォ−ク3にて搬送されセットされてい
る。このとき、ウエハ2とウエハ保持板1上面との隙間
は、前述の突き出し分である7〜14mmである。
Referring to FIG. 4, the wafer holding plate 1 is carried and set by the transfer fork 3 in FIG. The wafer holding plate 1 is made of high-purity quartz and has a ring shape with a thickness of 1 to 3 mm. Therefore, even in this state, the upper surfaces of the four fixing pins 10 are 7-14 times higher than the upper surface of the wafer holding plate 1.
mm above. Referring to FIG. 5, the wafer 2 is further conveyed and set on the fixing pins 10 of the preset section 8 by the transfer fork 3 in FIG. At this time, the gap between the wafer 2 and the upper surface of the wafer holding plate 1 is 7 to 14 mm, which is the amount of protrusion described above.

【0028】図6はプリセット部8を1つの固定ブロッ
ク9のみで構成した断面図である。
FIG. 6 is a sectional view in which the preset section 8 is constituted by only one fixed block 9.

【0029】図7は図1における本発明の実施例の移載
用フォ−ク3の断面図であり、ウエハ保持板1が載って
いる状態を想像線で示したものである。図8は同様にウ
エハ2が載っている状態を想像線で示したものである。
FIG. 7 is a cross-sectional view of the transfer fork 3 of the embodiment of the present invention in FIG. 1, showing a state where the wafer holding plate 1 is mounted by imaginary lines. FIG. 8 similarly shows the state where the wafer 2 is mounted by imaginary lines.

【0030】この移載用フォ−ク3は高純度の石英また
はアルミナからなり、厚さが3〜5mmの平板である。
ただし、上面に深さ0.3〜0.5mmの円弧状の段差
を設け、ウエハ2とウエハ保持板1を載せる接触部を別
々にしている。また発明の実施の形態の項でも述べたと
おり、移載用フォ−ク3は上下、前後、旋回動作か可能
な移載ロボット5に装着され、工程間搬送に用いるウエ
ハ収納容器であるプラスチック製のキャリア11とプリ
セット部8との間でのウエハ2の搬送移載と、プリセッ
ト部8とリングボ−ト6の支柱7との間でのウエハ保持
板1の搬送移載を行う往復動作を可能とする。
The transfer fork 3 is made of high-purity quartz or alumina and is a flat plate having a thickness of 3 to 5 mm.
However, an arc-shaped step having a depth of 0.3 to 0.5 mm is provided on the upper surface, and a contact portion on which the wafer 2 and the wafer holding plate 1 are placed is separated. Further, as described in the embodiment of the invention, the transfer fork 3 is mounted on the transfer robot 5 which can be moved up and down, back and forth, and pivotally, and is made of plastic which is a wafer container used for transfer between processes. Reciprocating operation for carrying and transferring the wafer 2 between the carrier 11 and the preset unit 8 and carrying and transferring the wafer holding plate 1 between the preset unit 8 and the support 7 of the ring boat 6 are possible. And

【0031】図9は、図1における本発明の実施例のリ
ングボ−ト6の支柱7にウエハ保持板1をセットした状
態の断面図である。また想像線で示した部分は、ウエハ
保持板1を支柱7より離脱した状態を示している。リン
グボ−ト6の支柱7には、ウエハ保持板1を位置決めし
支持する溝が等ピッチで設けられている。
FIG. 9 is a sectional view showing a state in which the wafer holding plate 1 is set on the column 7 of the ring boat 6 according to the embodiment of the present invention in FIG. The part shown by the imaginary line shows a state in which the wafer holding plate 1 has been separated from the column 7. Grooves for positioning and supporting the wafer holding plate 1 are provided at equal pitches in the column 7 of the ring boat 6.

【0032】図10は、図9におけるA−A断面矢視図
であり、リングボ−ト6の横断面図である。リングボ−
ト6は支柱7も含めウエハ保持板1同様、高純度の石英
からなる。リングボ−ト6の支柱7に設けた溝のピッチ
は、処理するプロセスによっても異なるが通常10〜1
5mmであり、ウエハ保持板1をセットすると各々のウ
エハ保持板1の間の隙間は7〜14mmとなる。
FIG. 10 is a cross-sectional view of the ring boat 6 taken along the line AA in FIG. Ringbo
The wafer 6 is made of high-purity quartz as well as the wafer holding plate 1 including the support 7. The pitch of the grooves provided in the column 7 of the ring boat 6 varies depending on the process to be processed, but is usually 10-1.
When the wafer holding plates 1 are set, the gap between the respective wafer holding plates 1 is 7 to 14 mm.

【0033】次に、本発明の実施例の動作について説明
する。基本的には図2を参照して説明した発明の実施の
形態における動作の説明と全く同じであり、ここでは図
4及び図5を参照してプリセット部8におけるウエハ2
とウエハ保持板1との受け渡し動作後の状態について説
明する。
Next, the operation of the embodiment of the present invention will be described. The operation is basically the same as that of the embodiment of the invention described with reference to FIG. 2, and here, the wafer 2 in the preset unit 8 is described with reference to FIGS.
The state after the transfer operation between the wafer and the wafer holding plate 1 will be described.

【0034】まず、ウエハ2をウエハ保持板1に移載す
るロ−ディング動作後の状態について説明する。リング
ボ−ト6から移載用フォ−ク3にて分離搬送されてきた
ウエハ保持板1は、図4のようにプリセット部の固定ブ
ロック9上に置かれる。その後、キャリア11からウエ
ハ2が移載用フォ−ク3にて搬送され、図5のようにプ
リセット部の固定ピン10上に置かれる。この状態で、
次にウエハ保持板1を移載用フォ−ク3にて持ち上げる
と、ウエハ2は持ち上げられたウエハ保持板1上にその
まま搭載され、リングボ−ト6へと搬送される。
First, the state after the loading operation for transferring the wafer 2 to the wafer holding plate 1 will be described. The wafer holding plate 1 separated and conveyed from the ring boat 6 by the transfer fork 3 is placed on the fixed block 9 of the preset section as shown in FIG. Thereafter, the wafer 2 is transferred from the carrier 11 by the transfer fork 3 and is placed on the fixing pins 10 of the preset section as shown in FIG. In this state,
Next, when the wafer holding plate 1 is lifted by the transfer fork 3, the wafer 2 is mounted as it is on the lifted wafer holding plate 1 and is conveyed to the ring boat 6.

【0035】次に、ウエハ2が載ったウエハ保持板1か
らウエハ2を取り出すアンロ−ディング動作について説
明する。リングボ−ト6から移載用フォ−ク3にて分離
搬送されウエハ2を載せたウエハ保持板1は、図5のよ
うにプリセット部の固定ブロック9上に置かれるが、ウ
エハ保持板1上に載ったウエハ2は固定ピン10に突き
上げられ、ウエハ保持板1から離れる。その後、この隙
間に移載用フォ−ク3を挿入し、ウエハ2のみキャリア
11へと搬送される。
Next, an unloading operation for taking out the wafer 2 from the wafer holding plate 1 on which the wafer 2 is placed will be described. The wafer holding plate 1 on which the wafers 2 are separated and conveyed from the ring boat 6 by the transfer forks 3 and on which the wafers 2 are placed is placed on the fixed block 9 of the preset portion as shown in FIG. Is pushed up by the fixing pins 10 and is separated from the wafer holding plate 1. Thereafter, the transfer fork 3 is inserted into this gap, and only the wafer 2 is transferred to the carrier 11.

【0036】次に、本発明の他の実施の形態について図
面を参照して説明する。図11は本発明の他の実施の形
態における2段のプリセット部12の構成斜視図であ
る。また、図12は図11で示した2段のプリセット部
12に対応した2段の移載用フォ−クの構成斜視図であ
る。本構成によれば、プリセット部及び移載用フォ−ク
が2段になっており、2段の移載用フォ−ク13が前述
の一連の動作と同様に同時に2枚のウエハあるいはウエ
ハ保持板の移載が可能となる。
Next, another embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 11 is a configuration perspective view of a two-stage preset unit 12 according to another embodiment of the present invention. FIG. 12 is a configuration perspective view of a two-stage transfer fork corresponding to the two-stage preset unit 12 shown in FIG. According to this configuration, the preset section and the transfer fork are formed in two stages, and the two-stage transfer fork 13 simultaneously holds two wafers or wafers in a manner similar to the above-described series of operations. Transfer of boards becomes possible.

【0037】[0037]

【発明の効果】本発明のウエハ移載装置及び移載方法に
よれば、爪や切り欠きのないリング状のウエハ保持板を
用いているので、ウエハ面上にウエハ保持板との接触が
不均一となるような特異点が発生しない。その結果、ウ
エハ面内の温度や応力の分布にムラが生じなくなり、面
内均一性が向上し、特に大口径ウエハの熱処理では、特
異点のないリングボ−トを採用することでウエハの支持
応力を分散させることができ、結晶スリップ現象を防止
できる。
According to the wafer transfer apparatus and the transfer method of the present invention, since the ring-shaped wafer holding plate without claws or notches is used, contact with the wafer holding plate on the wafer surface does not occur. A singular point that becomes uniform does not occur. As a result, unevenness in the distribution of temperature and stress in the wafer surface does not occur, and the uniformity in the surface is improved. Can be dispersed, and the crystal slip phenomenon can be prevented.

【0038】また、図15に示したような従来のリング
ボ−トを扱うウエハ移載装置では、ウエハを突き上げる
機構を有する突き上げ用フォ−クが移載用フォ−クとは
別に必要になるが、本発明によれば、動作機構を備えな
い単純な固定ブロックと固定ピンからなるプリセット部
を設けるだけで対応できるので、移載装置の機構が簡単
になる。
Further, in the conventional wafer transfer apparatus for handling a ring boat as shown in FIG. 15, a push-up fork having a mechanism for pushing up a wafer is required separately from the transfer fork. According to the present invention, it is possible to cope with this simply by providing a simple fixed block having no operation mechanism and a preset portion including a fixed pin, so that the mechanism of the transfer device is simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態を示す斜視図である。FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態の動作を示す断面図であ
る。
FIG. 2 is a sectional view showing the operation of the embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施例に用いるプリセット部の断面図
である。
FIG. 3 is a sectional view of a preset unit used in the embodiment of the present invention.

【図4】図3のプリセット部にウエハ保持板をセットし
たときの断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view when a wafer holding plate is set in a preset unit in FIG. 3;

【図5】図4のプリセット部にウエハをセットしたとき
の断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view when a wafer is set in a preset unit of FIG. 4;

【図6】本発明の他の実施例に用いるプリセット部の断
面図である。
FIG. 6 is a sectional view of a preset unit used in another embodiment of the present invention.

【図7】本発明の実施例に用いる移載用フォ−クにウエ
ハ保持板を搭載した断面図である。
FIG. 7 is a sectional view in which a wafer holding plate is mounted on a transfer fork used in an embodiment of the present invention.

【図8】本発明の実施例に用いる移載用フォ−クにウエ
ハを搭載した断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view in which a wafer is mounted on a transfer fork used in an embodiment of the present invention.

【図9】本発明の実施例に用いるリングボ−トにウエハ
保持板をセットした断面図である。
FIG. 9 is a sectional view in which a wafer holding plate is set on a ring boat used in the embodiment of the present invention.

【図10】図9におけるA−A矢視図である。FIG. 10 is a view taken in the direction of arrows AA in FIG. 9;

【図11】本発明の他の実施例に用いる2段プリセット
部の斜視図である。
FIG. 11 is a perspective view of a two-stage preset unit used in another embodiment of the present invention.

【図12】本発明の他の実施例に用いる2段移載用フォ
−クの斜視図である。
FIG. 12 is a perspective view of a two-stage transfer fork used in another embodiment of the present invention.

【図13】従来の爪付きリングボ−トを使用したウエハ
移載方法を示す斜視図である。
FIG. 13 is a perspective view showing a conventional wafer transfer method using a claw ring boat.

【図14】従来の切り欠きリングのリングボ−トを使用
したウエハ移載方法を示す斜視図である。
FIG. 14 is a perspective view showing a conventional wafer transfer method using a notch ring ring boat.

【図15】従来の連続したリングのリングボ−トを使用
したウエハ移載方法を示す斜視図である。
FIG. 15 is a perspective view showing a conventional wafer transfer method using a ring boat of a continuous ring.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ウエハ保持板 1a 爪付きリング状ウエハ保持板 1b 切り欠きリング状ウエハ保持板 1c リング状ウエハ保持板 2 ウエハ 3 移載用フォ−ク 4 突き上げ用フォ−ク 5 移載ロボット 6 リングボ−ト 7 支柱 8 プリセット部 9 固定ブロック 10 固定ピン 11 キャリア 12 2段のプリセット部 13 2段の移載用フォ−ク 14 爪付きリングボ−ト 15 切り欠き付きリングボ−ト 16 爪 17 切り欠き 18 突き上げ機構 19 溝 20 円弧状凹部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wafer holding plate 1a Ring-shaped wafer holding plate with a claw 1b Notched ring-shaped wafer holding plate 1c Ring-shaped wafer holding plate 2 Wafer 3 Transfer fork 4 Push-up fork 5 Transfer robot 6 Ring boat 7 Support 8 Preset portion 9 Fixed block 10 Fixing pin 11 Carrier 12 Two-stage preset portion 13 Two-stage transfer fork 14 Ring boat with claw 15 Ring boat with notch 16 Claw 17 Notch 18 Push-up mechanism 19 Groove 20 Arc-shaped recess

Claims (9)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 ウエハを水平等間隔に収納するキャリア
と、ウエハを水平等間隔に収納し縦型炉に出し入れする
リングボートと、前記キャリアと前記リングボートとの
間でウエハの受け渡しを行なう上下、前後、旋回動作可
能な移載用フォークとを有するウエハ移載装置におい
て、 前記キャリアと前記リングボートとの中間位置にウエハ
の移載を行なうプリセット部を有し、 かつ前記リングボートは、ウエハを載置する着脱自在な
リング状のウエハ保持板を有し、 前記プリセット部において、ウエハをウエハ保持板へ移
載するように構成した ことを特徴とするウエハ移載装
置。
1. A carrier for accommodating wafers at equal horizontal intervals, a ring boat for accommodating wafers at equal horizontal intervals and taking in and out of a vertical furnace, and upper and lower carriers for transferring wafers between the carrier and the ring boat. A wafer transfer device having a transfer fork capable of rotating back and forth, a preset portion for transferring a wafer at an intermediate position between the carrier and the ring boat , and the ring boat includes a wafer. Put on detachable
A wafer holding plate having a ring shape, wherein the wafer is transferred to the wafer holding plate in the preset section;
A wafer transfer device configured to be mounted .
【請求項2】 前記リングボートは、複数本の支柱を有
し、前記ウエハ保持板は前記支柱に設けた溝または突起
に水平等間隔かつ着脱自在に支持されている請求項1記
載のウエハ移載装置。
Wherein said ring boat has a plurality of supports, the wafer holding plate wafer transfer according to claim 1, wherein is supported horizontally at equal intervals removably in the grooves or projections provided on said post Loading device.
【請求項3】 前記プリセット部は固定ブロックと固定
ピンからなり、この固定ブロック上面側に前記移載用フ
ォークが挿入可能な溝を設け、この溝をまたいで固定ブ
ロック上面に前記ウエハ保持板を載置する円弧状凹部を
設け、この凹部内でかつ前記ウエハ保持板の内径よりも
内側に、前記溝をはさんで前記固定ピンが立てられてい
る請求項1記載のウエハ移載装置。
3. The preset section comprises a fixed block and a fixed pin, a groove on which the transfer fork can be inserted is provided on the upper surface of the fixed block, and the wafer holding plate is mounted on the upper surface of the fixed block across the groove. 2. The wafer transfer device according to claim 1, wherein an arc-shaped concave portion for mounting is provided, and the fixing pin is erected in the concave portion and inside the inner diameter of the wafer holding plate with the groove interposed therebetween.
【請求項4】 前記固定ピンの高さは、前記移載用フォ
ークの厚さより大きい請求項3記載のウエハ移載装置。
4. The wafer transfer device according to claim 3, wherein a height of the fixing pin is larger than a thickness of the transfer fork.
【請求項5】 前記プリセット部は、固定ブロックと固
定ピンが一体成形されている請求項1記載のウエハ移載
装置。
5. The wafer transfer apparatus according to claim 1, wherein the preset section has a fixed block and a fixed pin integrally formed.
【請求項6】 前記プリセット部は、それぞれに固定ピ
ンを有する複数段の固定ブロックからなる請求項1記載
のウエハ移載装置。
6. The wafer transfer apparatus according to claim 1, wherein the preset unit includes a plurality of fixed blocks each having a fixed pin.
【請求項7】 前記移載用フォークは、前記ウエハ保持
板を載置する第1の円弧状凹部と、この凹部の内側でか
つこの凹部と同心円状に形成されウエハを載置する第2
の円弧状凹部とを有する請求項1記載のウエハ移載装
置。
7. The transfer fork includes a first arc-shaped concave portion on which the wafer holding plate is mounted, and a second arc-shaped concave portion formed inside the concave portion and concentric with the concave portion, for mounting a wafer.
2. The wafer transfer device according to claim 1, further comprising: an arc-shaped concave portion.
【請求項8】 前記リングボートからウエハ保持板を前
記プリセット部の固定ブロック上に移載する工程と、前
記キャリアからウエハを前記プリセット部の固定ピン上
に移載する工程と、前記固定ブロックの前記溝に前記ウ
エハ移載用フォークを挿入しウエハ保持板を持ち上げる
工程と、さらにウエハ保持板を上昇させて前記固定ピン
上のウエハをそのままウエハ保持板に移載する工程と、
このウエハを載置したウエハ保持板を前記プリセット部
から前記リングボートに搬送し収納する工程とを有する
ことを特徴とするウエハ移載方法。
8. A step of transferring a wafer holding plate from the ring boat onto a fixed block of the preset unit; a step of transferring a wafer from the carrier onto a fixed pin of the preset unit; A step of inserting the wafer transfer fork into the groove and lifting the wafer holding plate, and a step of further raising the wafer holding plate and transferring the wafer on the fixing pin to the wafer holding plate as it is,
Transporting and holding the wafer holding plate on which the wafer is mounted from the preset section to the ring boat.
【請求項9】 熱処理終了後の前記リングボートからウ
エハを載置したウエハ保持板を前記プリセット部に搬送
する工程と、このプリセット部においてウエハ保持板を
固定ブロック上に降下させ、ウエハ保持板を固定ブロッ
ク上に載置するとともにウエハを固定ピン上に載置する
工程と、固定ピン間にウエハ載置用フォークを挿入しそ
のまま上昇させてウエハをウエハ載置用フォークに載置
し前記キャリアに搬送して収納することを特徴とするウ
エハ移載方法。
9. A step of transferring a wafer holding plate on which a wafer is placed from the ring boat after the heat treatment to the preset section, and lowering the wafer holding plate on a fixed block in the preset section, A step of placing the wafer on the fixed block and placing the wafer on the fixed pin, inserting a wafer mounting fork between the fixed pins, raising the wafer as it is, placing the wafer on the wafer mounting fork, and placing the wafer on the carrier. A wafer transfer method, wherein the wafer is transferred and stored.
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