JP3155969U - 被測定デバイスの試験システム - Google Patents

Abstract

【課題】ＡＣデバイス試験を高速で行うことのできる、低価格な被測定デバイスの試験システムを提供する。【解決手段】操作用ＰＣ２６と、操作用ＰＣ２６に接続される表示装置２８と、操作用ＰＣ２６とＬＡＮ２７を介して接続される測定用ＰＣ２１と、測定用ＰＣ２１と試験装置バス２２を介して接続される資源モジュール２３、２４及び試験装置側デジタルＩ／Ｏ２５とを有する試験装置２と、操作用ＰＣ２６と外部測定器バス４を介して接続される資源モジュール３１、３２及び試験装置側デジタルＩ／Ｏ２５と接続される外部測定器側デジタルＩ／Ｏ３３を有する外部測定器３と、を備えことを特徴とする被測定デバイスの試験システムである。【選択図】図１

Description

本考案は、被測定デバイスの試験システムに係わり、特に、試験装置と外部測定器とを同期させて被測定デバイスを試験する試験システムに関する。

ビデオ、オーディオ機器等の製品には多くのＡＣデバイスが使用されているが、これらの製品は国内、海外メーカの価格競争が激しく、デバイスメーカは製品メーカからデバイスのコストダウンの要求を受けている。デバイスの量産時のコストは、試験装置の導入コスト、試験時間、歩留まり率等の要素から構成されている。一般的にＡＣデバイスの試験は高価なミックスドデバイステスタが必要となるため、試験装置の導入コストによるデバイスコストの上昇がデバイスメーカの負担となっており、デバイスメーカから低価格なＡＣデバイステスタが要求されている。通常、試験に必要な機能を試験装置が持っていない場合、試験装置に単体の外部測定器を接続し、試験装置と単体の外部測定器とを同期させて試験を行うことにより、試験装置に不足している機能を単体の外部測定器で補って試験を行っている。しかし、単体の外部測定器に一般的に付属しているＧＰＩＢ（Ｇｅｎｅｒａｌ Ｐｕｒｐｏｓｅ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ Ｂｕｓ）インターフェースのデータ転送速度は１ＭＢ／秒と低速であるため、データ転送時間による試験時間の増加が問題となることが多い。

図７は、従来技術に係わる被測定デバイスの試験システムの一例を示す図である。
同図に示すように、従来より、被測定デバイス１０１を試験する際に、試験装置１０２が持っていない機能が必要な場合、必要な機能を持つ単体の外部測定器１０３を試験装置１０２に追加して試験システムを構築している。信号発生器１３１やオシロスコープ１３２等の単体の外部測定器１０３である信号の制御は、ＧＰＩＢインターフェース１０４が一般に多く使用され、ＧＰＩＢインターフェース１０４の規格はＩＥＥＥ ４８８にて標準化されている。

試験装置１０２における測定用ＰＣ１２１は、試験装置バス１２２を介して、試験装置１０２の資源モジュールであるＤＣ電源１２３、リレーコントロールボード１２４に接続されると共に、ＧＰＩＢインターフェース１０４を介して、外部測定器１０３である信号発生器１３１、オシロスコープ１３２に接続される。また、測定用ＰＣ１２１は、ＬＡＮ１２６を介して操作用ＰＣ１２５と通信を行う。

被測定デバイス１０１の試験を行う試験装置制御プログラムは、１つのプログラムで構成され、試験装置１０２と、ＧＰＩＢインターフェース１０４を介して信号発生器１３１やオシロスコープ１３２等の単体の外部測定器１０３の制御を行う。試験装置制御プログラムは、操作用ＰＣ１２５で作成され、測定用ＰＣ１２１が受け取ることができる形式に操作用ＰＣ１２５でコンパイルされ、ＬＡＮ１２６を介して測定用ＰＣ１２１に送られる。操作用ＰＣ１２５からＬＡＮ１２６を介して測定用ＰＣ１２１に試験開始命令が送られると、測定用ＰＣ１２１は試験を開始する。

試験終了後、試験終了信号と結果データが測定用ＰＣ１２１からＬＡＮ１２６を介して操作用ＰＣ１２５に送られ、操作用ＰＣ１２５にて結果データの合否判定、結果データの統計解析処理等が行われ、その結果が、表示装置１２７に表示される。被測定デバイス１０１の試験態様として、試験装置１０２のみを使用する試験、外部測定器１０３のみを使用する試験、試験装置１０２と外部測定器１０３の両方を使用する試験があり、測定用ＰＣ１２１は、これらの試験態様に応じて、試験装置１０２と外部測定器１０３を適宜に制御することにより試験を行う。

特開平９−２１８４６号公報 特表２００７−５１８０６１号公報 特表２００９−５０３４２６号公報

ところで、図７に示すような、従来技術に係る試験システムにおいては、外部測定器１０３の制御にＧＰＩＢ インターフェース１０４が使用されている。しかし、ＧＰＩＢ インターフェース１０４のデータ転送速度は１ＭＢ／秒と低速のため、外部測定器１０３と測定用ＰＣ１２１間のデータ転送に時間を要し、試験時間が長くなる問題があった。ここで、外部測定器１０３と測定用ＰＣ１２１間のデータ転送に要する時間は、測定用ＰＣ１２１が外部測定器１０３から生データを取得する時間である。

以前から、ナショナルインスツルメンツ社のＰＸＩ（ＰＣＩ ｅＸｔｅｎｓｉｏｎｓ ｆｏｒ Ｉｎｓｔｒｕｍｅｎｔａｔｉｏｎ）システムが単体の外部測定器と同等の機能・性能を持った様々なモジュールが存在し、データ転送速度が１３２ＭＢ／秒と高速であることを知見していたが、これまで他の試験装置からＰＸＩシステムを制御する方法がなく、試験装置とＰＸＩシステムとを同期させて被測定デバイスの試験を行うことができなかった。
そこで、本考案の目的は、オーディオからＲＦ帯域まで様々なＡＣ試験のアプリケーションに対応可能なＰＸＩシステム等の外部測定器とＤＣ電源のバリエーション豊富な本件出願人等が有する試験装置とを同期動作させることにより、高速で低価格なＡＣデバイス試験が可能な被測定デバイスの試験システムを提供することにある。

本考案は、上記の課題を解決するために、次のような手段を採用した。
第１の手段は、操作用ＰＣと、該操作用ＰＣに接続される表示装置と、前記操作用ＰＣとＬＡＮを介して接続される測定用ＰＣと、該測定用ＰＣと試験装置バスを介して接続される資源モジュール及び試験装置側デジタルＩ／Ｏとを有する試験装置と、前記操作用ＰＣと外部測定器バスを介して接続される資源モジュール及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと接続される外部測定器側デジタルＩ／Ｏを有する外部測定器と、を備えることを特徴とする被測定デバイスの試験システムである。
第２の手段は、操作用ＰＣと、該操作用ＰＣに接続される表示装置と、前記操作用ＰＣとＬＡＮを介して接続される測定用ＰＣと、該測定用ＰＣと試験装置バスを介して接続される資源モジュール及び試験装置側デジタルＩ／Ｏとを有する試験装置と、前記操作用ＰＣと外部測定器バスを介して接続される資源モジュール及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと接続される外部測定器側デジタルＩ／Ｏを有する外部測定器と、を備え、前記操作用ＰＣは、前記試験装置における試験を行うための試験装置制御プログラムと前記外部測定器における試験を行うための外部測定器制御プログラムを作成する機能と、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏにおいて受信された試験開始命令等の信号を前記外部測定器バスを経由して受け取る機能と、前記測定用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された測定データの合否判定や測定データの統計解析処理を行い、前記表示装置にその結果を表示する機能とを有し、前記測定用ＰＣは、前記操作用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された前記試験装置制御プログラムに従って、前記試験装置における前記資源モジュールによって試験を開始し、前記資源モジュールにおいて測定された被測定デバイスの測定データを収集する機能と、前記外部測定器における前記資源モジュールによって測定された前記被測定デバイスの測定生データを前記外部測定器バスを経由して前記操作用ＰＣにおいて計算処理し、計算処理後の測定データを前記外部測定器バス、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏ及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏを経由して収集する機能と、前記試験装置の前記資源モジュール及び前記外部測定器の前記資源モジュールにおいて測定された前記被測定デバイスの測定データを前記ＬＡＮを経由して前記操作用ＰＣに送信する機能とを有し、前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏは、前記測定用ＰＣからの試験開始命令等の信号を送受信する機能を有し、前記外部測定器は、前記操作用ＰＣにおける前記外部測定器制御プログラムに従って、該外部測定器の前記資源モジュールにおいて前記被測定デバイスの試験を行う機能を有する、ことを特徴とする被測定デバイスの試験システムである。
第３の手段は、操作用ＰＣと、操作用ＰＣに接続される表示装置と、前記操作用ＰＣとＬＡＮを介して接続される測定用ＰＣと、該測定用ＰＣと試験装置バスを介して接続される複数種類の資源モジュールを複数組有する資源モジュール群及び試験装置側デジタルＩ／Ｏとを有する試験装置と、前記操作用ＰＣと外部測定器バスを介して接続される資源モジュール、マルチプレクサ及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと接続される外部測定器側デジタルＩ／Ｏを有する外部測定器と、を備え、前記操作用ＰＣは、前記試験装置における試験を行うための試験装置制御プログラムと前記外部測定器における試験を行うための外部測定器制御プログラムを作成する機能と、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏにおいて受信された試験開始命令等の信号を前記外部測定器バスを経由して受け取る機能と、前記測定用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された測定データの合否判定や測定データの統計解析処理を行い、前記表示装置にその結果を表示する機能とを有し、前記測定用ＰＣは、前記操作用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された前記試験装置制御プログラムに従って、前記試験装置における前記同一の複数の資源モジュールによって試験を開始し、前記複数組の資源モジュール群の各群に対応する複数の各被測定デバイスから測定された測定データを収集する機能と、前記外部測定器における前記資源モジュール群によって測定された前記複数の各被測定デバイスの測定生データを前記外部測定器バスを経由して前記操作用ＰＣにおいて計算処理し、計算処理後の測定データを前記外部測定器バス、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏ及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏを経由して収集する機能と、前記試験装置の前記資源モジュール及び前記外部測定器の前記資源モジュール群において測定された前記被測定デバイスの測定データを前記ＬＡＮを経由して前記操作用ＰＣに送信する機能とを有し、前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏは、前記測定用ＰＣからの試験開始命令等の信号を送受信する機能を有し、前記外部測定器は、前記操作用ＰＣにおける前記外部測定器制御プログラムに従って、該外部測定器における前記マルチプレクサを切り換えて前記資源モジュールにおいて前記複数の被測定デバイスの試験を行う機能を有する、ことを特徴とする被測定デバイスの試験システムである。
第４の手段は、操作用ＰＣと、操作用ＰＣに接続される表示装置と、前記操作用ＰＣとＬＡＮを介して接続される測定用ＰＣと、該測定用ＰＣと試験装置バスを介して接続される複数種類の資源モジュールを複数組有する資源モジュール群及び試験装置側デジタルＩ／Ｏとを有する試験装置と、前記操作用ＰＣと外部測定器バスを介して接続される複数種類の資源モジュールを複数組有する資源モジュール群及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと接続される外部測定器側デジタルＩ／Ｏを有する外部測定器と、を備え、前記操作用ＰＣは、前記試験装置における試験を行うための試験装置制御プログラムと前記外部測定器における試験を行うための外部測定器制御プログラムを作成する機能と、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏにおいて受信された試験開始命令等の信号を前記外部測定器バスを経由して受け取る機能と、前記測定用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された測定データの合否判定や測定データの統計解析処理を行い、前記表示装置にその結果を表示する機能とを有し、前記測定用ＰＣは、前記操作用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された前記試験装置制御プログラムに従って、前記試験装置における前記同一の複数の資源モジュールによって試験を開始し、前記複数組の資源モジュール群の各群に対応する複数の各被測定デバイスから測定された測定データを収集する機能と、前記外部測定器における前記複数組の資源モジュール群の各群に対応する前記複数の各被測定デバイスから測定された測定生データを前記外部測定器バスを経由して前記操作用ＰＣにおいて計算処理し、計算処理後の測定データを前記外部測定器バス、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏ及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏを経由して収集する機能と、前記試験装置の前記資源モジュール群及び前記外部測定器の前記資源モジュール群において測定された前記被測定デバイスの測定データを前記ＬＡＮを経由して前記操作用ＰＣに送信する機能とを有し、前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏは、前記測定用ＰＣからの試験開始命令等の信号を送受信する機能を有し、前記外部測定器は、前記操作用ＰＣにおける前記外部測定器制御プログラムに従って、該外部測定器の前記同一の複数の資源モジュールのそれぞれに対応する前記複数の被測定デバイスの試験を行う機能を有する、ことを特徴とする被測定デバイスの試験システムである。
第５の手段は、第１の手段ないし第４の手段のいずれか１つの手段において、前記外部測定器は、ＰＸＩシステムであることを特徴とする被測定デバイスの試験システムである。
第６の手段は、第１の手段ないし第５の手段のいずれか１つの手段において、前記試験装置における資源モジュールがＤＣ電源、リレーコントロール等であり、前記外部測定器における資源モジュールがＡＷＧ、デジタイザ等であることを特徴とする被測定デバイスの試験システムである。

本考案によれば、ＡＣデバイス試験を高速で行うことのできる、低価格な被測定デバイスの試験システムを提供することができる。

第１の実施形態に係る被測定デバイスの試験システムの構成を示す図である。 第１の実施形態に係る試験システムのデジタルＩ／Ｏ２５、３３間の通信例を示す図である。 第２の実施形態に係る被測定デバイスの試験システムの構成を示す図である。 第２の実施形態に係る試験システムのデジタルＩ／Ｏ２５、３３間の通信例を示す図である。 第３の実施形態に係る被測定デバイスの試験システムの構成を示す図である。 第３の実施形態に係る試験システムのデジタルＩ／Ｏ２５、３３間の通信例を示す図である。 従来技術に係る被測定デバイスの試験システムの構成を示す図である。

本願考案の第１の実施形態を図１及び図２を参照して説明する。
図１は、本実施形態に係る被測定デバイスの試験システムの構成を示す図であり、単一の被測定デバイスを、試験装置における資源モジュールで試験、及び／又は外部測定器における資源モジュールで試験する場合の構成を示す図である。
同図において、測定用ＰＣ２１と試験装置２の資源モジュールであるＤＣ電源２３、リレーコントロール２４、デジタルＩ／Ｏ２５は、試験装置バス２２で接続され、測定用ＰＣ２１から制御される。また、操作用ＰＣ２１と外部測定器３の資源モジュールであるＡＷＧ（Ａｒｂｉｔａｒｙ Ｗａｖｅ Ｇｅｎｅｒａｔｏｒ、任意波形発生器）３１、デジタイザ３２、デジタルＩ／Ｏ３３は外部測定器バス４で接続され、操作用ＰＣ２６から制御される。操作用ＰＣ２６と測定用ＰＣ２１とはＬＡＮ２７を介して通信を行う。

被測定デバイス１は、例えば、ＤＵＴボード（Ｄｅｖｉｃｅ Ｕｎｄｅｒ Ｔｅｓｔ Ｂｏａｒｄ）上に配置された半導体集積回路である。また、試験装置２のリレーコントロール２４は、被測定デバイス１の入力又は出力に接続するＤＣ電源２３や、外部測定器３の資源モジュールであるＡＷＧ３１やデジタイザ３２のＡＣ信号や、ＤＵＴボードの接続を切換えを行うためのリレードライバーである。外部測定器３は、例えば、ＰＸＩシステムが用いられる。

被測定デバイス１の試験を行うプログラムは、試験装置２を制御する試験装置制御プログラムと外部測定器３を制御する外部測定器制御プログラムの２つのプログラムから構成される。試験装置制御プログラムは、操作用ＰＣ２６で作成され、測定用ＰＣ２１が受け取ることができる形式にコンパイルされ、ＬＡＮ２７を介して測定用ＰＣ２１に送られる。外部測定器制御プログラムは、操作用ＰＣ２６で作成され、外部測定器バス４を介して外部測定器３の制御を行う。

試験装置２における試験は、操作用ＰＣ２６からＬＡＮ２７を介して測定用ＰＣ２１に試験開始命令が送られることによって、測定用ＰＣ２１は試験を開始する。例えば、被測定デバイス１のＤＣ特性の試験は、試験装置２のＤＣ電源２３から被測定デバイス１にＤＣ電圧やＤＣ電流を印加し、ＤＣ電源２３にて被測定デバイス１の入力や出力のＤＣ電圧やＤＣ電流を測定する。

一方、外部測定器３による試験は、試験装置２のデジタルＩ／Ｏ２５から外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３にテスト番号と試験開始命令が送られると、操作用ＰＣ２６は、外部測定器バス４を経由してテスト番号と試験開始命令を受け取り、テスト番号に応じた外部測定器３による試験を開始する。例えば、ＡＣ特性の試験は、試験装置２のＤＣ電源２３から被測定デバイス１の電源ピン等にＤＣ電圧や電流を印加し、外部測定器３のＡＷＧ３１から被測定デバイス１の入力にＡＣ電圧を印加し、被測定デバイス１の出力のＡＣ電圧を外部測定器３のデジタイザ３２にてデータを取り込んで行う。ＡＣ特性の試験においては、試験装置２と外部測定器３のそれぞれのデジタルＩ／Ｏ２５、３３を接続し、通信を行うことにより試験装置２と外部測定器３を同期させる。

外部測定器３による試験終了後、操作用ＰＣ２６は測定データを外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３から試験装置２のデジタルＩ／Ｏ２５に送り、測定用ＰＣ２１は測定データを取り込む。ここで外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３から送られる測定データは、外部測定器３で測定した生のデータではなく、生のデータを操作側ＰＣ２６で計算処理をした後の結果データである。試験終了後、試験終了信号、及び試験装置２による試験と外部測定器３による試験の結果データが、測定用ＰＣ２１からＬＡＮ２７を介して操作用ＰＣ２７に送られ、操作用ＰＣ２６において、結果データの合否判定、結果データの統計解析処理が行われ、表示装置２８にそれらの結果が表示される。

被測定デバイス１の試験態様としては、試験装置２のみを使用する試験、外部測定器３のみを使用する試験、試験装置２と外部測定器３の両方を使用する試験とがあり、測定用ＰＣ２１は、これらの試験態様に応じて、試験装置２のデジタルＩ／Ｏ２５と外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３を適宜に制御することにより試験を行う。外部測定器３としてＰＸＩシステムを使用すると、外部測定器バス４はＰＣＩバスインターフェースとなる。ＰＣＩバスインターフェースのデータ転送速度は１３２ＭＢ／秒と高速であるため、外部測定器３と操作用ＰＣ２６間のデータ転送に要する時間は、従来技術に示したＧＰＩＢインターフェースを使用した場合と比較して、１／１００程度に短縮することができる。なお、外部測定器３と操作用ＰＣ２６間のデータ転送とは、操作用ＰＣ２６が外部測定器３から生データを取得する時間となる。

図２は、本実施形態に係る被測定デバイスの試験システムのデジタルＩ／Ｏ２５、３３間の通信例を示す図である。
ここでは、被測定デバイス１は１個であり、外部測定器３はＡＷＧ３１、デジタイザ３２がそれぞれ１台の場合のシングル試験時を示している。デジタルＩ／Ｏ２５、３３による試験装置２と外部測定器３間の通信信号として、試験装置２から外部測定器３へはテスト番号、設定データ、試験開始の信号があり、外部測定器３から試験装置２へは試験終了、測定データの信号がある。ここで、設定データとは、試験装置２から外部測定器３にデジタルＩ／Ｏ２５、３３で送る信号で、外部測定器３のＡＷＧ３１やデジタイザ３２等に設定する周波数やレベル等の値である。
試験が開始されると、試験装置２は外部測定器３にテスト番号と設定データと試験開始を送る。外部測定器３はテスト番号と設定データを取込んで、テスト番号に応じた試験を設定データを設定後、試験開始の立下りで開始する。外部測定器３による試験が終了すると、外部測定器３は試験装置２に試験終了と測定データを送る。試験装置２は測定データを試験終了の立下りで取込む。破線のテストの部分が外部測定器３による１回の試験時間であり、１回の試験が開始し、終了した後に次の試験が始まる。

本願考案によれば、上述のごとく、外部測定器３としてＰＸＩシステムを使用した場合、ＰＸＩシステムの計測モジュールは、数多くの種類が世の中に存在するため、試験装置２の一部としてこれらの計測モジュールを使用することにより、始めから同じ計測器を開発することに比べて、開発期間を大幅に短縮することができ、モジュールの開発費を低減させることができ、経済的である。また、試験装置２と外部測定器３を同期させる方法として、一般的に使用されているＧＰＩＢインターフェースによる通信は、データ転送速度が１ＭＢ／秒と低速であるのに比べて、ＰＸＩシステムのデータ転送速度は１３２ＭＢ／秒と高速となり、試験を高速に処理することができる。なお、従来は、試験装置２とＰＸＩシステムの外部測定器３を通信させることは考えられていなかった。

本願考案の第２の実施形態を図３及び図４を参照して説明する。
図３は、本実施形態に係る被測定デバイスの試験システムの構成を示す図であり、複数の被測定デバイスを、各被測定デバイスに対応する試験装置における資源モジュールで試験、及び／又は各被測定デバイスを外部測定器における単一の資源モジュールをマルチプレクサで切り換えて利用して試験する場合の構成を示す図である。
同図において、測定用ＰＣ２１と試験装置２の資源モジュールである複数のＤＣ電源（１）２３、ＤＣ電源（２）２３・・・ＤＣ電源（ｎ）２３、複数のリレーコントロール（１）２４、リレーコントロール（２）２４、・・・リレーコントロール（ｎ）２４、デジタルＩ／Ｏ２５は、試験装置バス２２で接続され、測定用ＰＣ２１から制御される。また、操作用ＰＣ２１と１台の外部測定器３の資源モジュールである１台のＡＷＧ３１、１台のデジタイザ３２、デジタルＩ／Ｏ３３とは、外部測定器バス４で接続され、操作用ＰＣ２６から制御される。操作用ＰＣ２６と測定用ＰＣ２１はＬＡＮ２７を介して通信を行う。複数の被測定デバイス（１）１、被測定デバイス（２）１・・・被測定デバイス（ｎ）１は、例えば、ＤＵＴボード上に配置された半導体集積回路である。また、試験装置２の複数の各リレーコントロール２４は、複数の各被測定デバイス１の入力又は出力に接続する複数の各ＤＣ電源２３や、１台の外部測定器３の資源モジュールである１台のＡＷＧ３１や１台のデジタイザ３２のＡＣ信号の切換えを行うためのリレードライバーである。外部測定器３は、例えば、第１の実施形態と同様に、ＰＸＩシステムが用いられる。

被測定デバイス１の試験を行うプログラムは、第１の実施形態と同様に、試験装置２を制御する試験装置制御プログラムと外部測定器３を制御する外部測定器制御プログラムの２つのプログラムから構成される。試験装置制御プログラムは、操作用ＰＣ２６で作成され、測定用ＰＣ２１が受け取ることができる形式にコンパイルされ、ＬＡＮ２７を介して測定用ＰＣ２１に送られる。外部測定器制御プログラムは、操作用ＰＣ２６で作成され外部測定器バス４を介して外部測定器３の制御を行う。

試験装置２における試験は、操作用ＰＣ２６からＬＡＮ２７を介して測定用ＰＣ２１に試験開始命令が送られることによって、測定用ＰＣ２１は試験を開始する。例えば、被測定デバイス（１）のＤＣ特性の試験は、試験装置２のＤＣ電源（１）２３から被測定デバイス（１）１にＤＣ電圧やＤＣ電流を印加し、ＤＣ電源（１）２３にて被測定デバイス１の入力や出力のＤＣ電圧やＤＣ電流を測定し、同様に、被測定デバイス（ｎ）１のＤＣ特性の試験は、試験装置２のＤＣ電源（ｎ）２３から被測定デバイス（ｎ）１にＤＣ電圧やＤＣ電流を印加し、ＤＣ電源（ｎ）２３にて被測定デバイス（ｎ）１の入力や出力のＤＣ電圧やＤＣ電流を測定する。

一方、外部測定器３による試験は、試験装置２のデジタルＩ／Ｏ２５から外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３にテスト番号と試験開始命令が送られると、操作用ＰＣ２６は、外部測定器バス４を経由してテスト番号と試験開始命令を受け取り、テスト番号に応じた外部測定器３による試験を開始する。例えば、被測定デバイス（１）１のＡＣ特性の試験は、試験装置２のＤＣ電源（１）２３から被測定デバイス（１）１の電源ピン等にＤＣ電圧や電流を印加し、外部測定器３のマルチプレクサ３４を介してＡＷＧ３１から被測定デバイス（１）の入力にＡＣ電圧を印加し、被測定デバイス（１）１の出力のＡＣ電圧を外部測定器３のデジタイザ３２にてデータを取り込んで行い、同様に、被測定デバイス（ｎ）１のＡＣ特性の試験は、試験装置２のＤＣ電源（ｎ）２３から被測定デバイス（ｎ）１の電源ピン等にＤＣ電圧や電流を印加し、外部測定器３のマルチプレクサ３４を切り換えてＡＷＧ３１から被測定デバイス（ｎ）の入力にＡＣ電圧を印加し、被測定デバイス（ｎ）１の出力のＡＣ電圧を外部測定器３のデジタイザ３２にてデータを取り込んで行う。ＡＣ特性の試験においては、第１の実施形態と同様に、試験装置２と外部測定器３のそれぞれのデジタルＩ／Ｏ２５、３３を接続し、通信を行うことにより試験装置２と外部測定器３を同期させる。

外部測定器３による試験終了後は、第１の実施形態と同様に、操作用ＰＣ２６は測定データを外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３から試験装置２のデジタルＩ／Ｏ２５に送り、測定用ＰＣ２１は測定データを取り込む。ここで外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３から送られる測定データは、外部測定器３で測定した生のデータではなく、生のデータを操作側ＰＣ２６で計算処理をした後の結果データである。試験終了後、試験終了信号、及び試験装置２による試験と外部測定器３による試験の結果データが、測定用ＰＣ２１からＬＡＮ２７を介して操作用ＰＣ２７に送られ、操作用ＰＣ２６において、結果データの合否判定、結果データの統計解析処理が行われ、表示装置２８にそれらの結果が表示される。

被測定デバイス１の試験態様としては、第１の実施形態と同様に、試験装置２のみを使用する試験、外部測定器３のみを使用する試験、試験装置２と外部測定器３の両方を使用する試験とがあり、測定用ＰＣ２１は、これらの試験態様に応じて、試験装置２のデジタルＩ／Ｏ２５と外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３を適宜に制御することにより試験を行う。外部測定器３としてＰＸＩシステムを使用すると、外部測定器バス４はＰＣＩバスインターフェースとなるため、データ転送速度は１３２ＭＢ／秒と高速となり、外部測定器３と操作用ＰＣ２６間のデータ転送に要する時間は、従来技術に示したＧＰＩＢインターフェースを使用した場合と比較して、１／１００程度に短縮することができるので、複数の被測定デバイス１の試験を高速に行うことができる。なお、外部測定器３と操作用ＰＣ２６間のデータ転送とは、操作用ＰＣ２６が外部測定器３から生データを取得する時間となる。

図４は、本実施形態に係る被測定デバイスの試験システムのデジタルＩ／Ｏ２５、３３間の通信例を示す図である。
ここでは、被測定デバイス１は複数個あり、外部測定器３はＡＷＧ３１、デジタイザ３２がそれぞれ１台の場合のダブル試験時を示している。デジタルＩ／Ｏ２５、３３による試験装置２と外部測定器３間の通信信号として、被測定デバイス（１）１の試験時は、試験装置２から外部測定器３へは被測定デバイス番号１、テスト番号１、設定データ１、試験開始１の信号があり、外部測定器３から試験装置２へは試験終了１、測定データ１の信号があり、同様に、被測定デバイス（ｎ）１の試験時は、試験装置２から外部測定器３へは被測定デバイス番号ｎ、テスト番号ｎ、設定データｎ、試験開始ｎの信号があり、外部測定器３から試験装置２へは試験終了ｎ、測定データｎの信号がある。
試験の開始は、試験装置２が外部測定器３に被測定デバイス番号とテスト番号と設定データと試験開始を送る。外部測定器３は被測定デバイス番号とテスト番号と設定データを取込んで、被測定デバイス番号とテスト番号に応じた試験を設定データを設定後、試験開始の立下りで開始する。外部測定器３による試験が終了すると、外部測定器３は試験装置２に試験終了と測定データを送る。試験装置２は測定データを試験終了の立下りで取込む。破線のテストの部分が外部測定器３による１回の試験時間であり、１回の試験が開始、終了した後に次の試験が始まる。

本願考案の第３の実施形態を図５及び図６を参照して説明する。
図５は、本実施形態に係る被測定デバイスの試験システムの構成を示す図であり、複数の被測定デバイスを、各被測定デバイスに対応する試験装置における各資源モジュールで試験、及び／又は各被測定デバイスに対応する外部測定器における各資源モジュールで試験する場合の構成を示す図である。
同図において、測定用ＰＣ２１と試験装置２の資源モジュールである複数のＤＣ電源（１）２３、ＤＣ電源（２）２３・・・ＤＣ電源（ｎ）２３、複数のリレーコントロール（１）２４、リレーコントロール（２）２４、・・・リレーコントロール（ｎ）２４、デジタルＩ／Ｏ２５は、試験装置バス２２で接続され、測定用ＰＣ２１から制御される。また、操作用ＰＣ２１と外部測定器３の資源モジュールである複数のＡＷＧ（１）３１、ＡＷＧ（２）３１・・・ＡＷＧ（ｎ）３１、複数のデジタイザ（１）３２、デジタイザ（２）３２、・・・デジタイザ（ｎ）３２、デジタルＩ／Ｏ３３とは、外部測定器バス４で接続され、操作用ＰＣ２６から制御される。操作用ＰＣ２６と測定用ＰＣ２１はＬＡＮ２７を介して通信を行う。複数の被測定デバイス（１）１、被測定デバイス（２）１・・・被測定デバイス（ｎ）１は、例えば、ＤＵＴボード上に配置された半導体集積回路である。また、試験装置２の複数のリレーコントロール２４は、複数の被測定デバイス１の入力又は出力に接続する複数のＤＣ電源２３や、外部測定器３の資源モジュールである複数のＡＷＧ３１や複数のデジタイザ３２のＡＣ信号の切換えを行うためのリレードライバーである。外部測定器３は、例えば、第１の実施形態と同様に、ＰＸＩシステムが用いられる。

被測定デバイス１の試験を行うプログラムは、第１の実施形態と同様に、試験装置２を制御する試験装置制御プログラムと外部測定器３を制御する外部測定器制御プログラムの２つのプログラムから構成される。試験装置制御プログラムは、操作用ＰＣ２６で作成され、測定用ＰＣ２１が受け取ることができる形式にコンパイルされ、ＬＡＮ２７を介して測定用ＰＣ２１に送られる。外部測定器制御プログラムは、操作用ＰＣ２６で作成され外部測定器バス４を介して外部測定器３の制御を行う。

試験装置２における試験は、操作用ＰＣ２６からＬＡＮ２７を介して測定用ＰＣ２１に試験開始命令が送られることによって、測定用ＰＣ２１は試験を開始する。例えば、被測定デバイス（１）のＤＣ特性の試験は、試験装置２のＤＣ電源（１）２３から被測定デバイス（１）１にＤＣ電圧やＤＣ電流を印加し、ＤＣ電源（１）２３にて被測定デバイス１の入力や出力のＤＣ電圧やＤＣ電流を測定し、同様に、被測定デバイス（ｎ）１のＤＣ特性の試験は、試験装置２のＤＣ電源（ｎ）２３から被測定デバイス（ｎ）１にＤＣ電圧やＤＣ電流を印加し、ＤＣ電源（ｎ）２３にて被測定デバイス（ｎ）１の入力や出力のＤＣ電圧やＤＣ電流を測定する。

一方、外部測定器３による試験は、試験装置２のデジタルＩ／Ｏ２５から外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３にテスト番号と試験開始命令が送られると、操作用ＰＣ２６は、外部測定器バス４を経由してテスト番号と試験開始命令を受け取り、テスト番号に応じた外部測定器３による試験を開始する。例えば、被測定デバイス（１）１のＡＣ特性の試験は、試験装置２のＤＣ電源（１）２３から被測定デバイス（１）１の電源ピン等にＤＣ電圧や電流を印加し、外部測定器３のＡＷＧ（１）３１から被測定デバイス（１）の入力にＡＣ電圧を印加し、被測定デバイス（１）１の出力のＡＣ電圧を外部測定器３のデジタイザ（１）３２にてデータを取り込んで行い、同様に、被測定デバイス（ｎ）１のＡＣ特性の試験は、試験装置２のＤＣ電源（ｎ）２３から被測定デバイス（ｎ）１の電源ピン等にＤＣ電圧や電流を印加し、外部測定器３のＡＷＧ（ｎ）３１から被測定デバイス（ｎ）の入力にＡＣ電圧を印加し、被測定デバイス（ｎ）１の出力のＡＣ電圧を外部測定器３のデジタイザ（ｎ）３２にてデータを取り込んで行う。ＡＣ特性の試験においては、第１の実施形態と同様に、試験装置２と外部測定器３のそれぞれのデジタルＩ／Ｏ２５、３３を接続し、通信を行うことにより試験装置２と外部測定器３を同期させる。

外部測定器３による試験終了後は、第１の実施形態と同様に、操作用ＰＣ２６は測定データを外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３から試験装置２のデジタルＩ／Ｏ２５に送り、測定用ＰＣ２１は測定データを取り込む。ここでも外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３から送られる測定データは、外部測定器３で測定した生の測定データではなく、生の測定データを操作側ＰＣ２６で計算処理をした後の結果データである。試験終了後、試験終了信号、及び試験装置２による試験と外部測定器３による試験の結果データが、測定用ＰＣ２１からＬＡＮ２７を介して操作用ＰＣ２７に送られ、操作用ＰＣ２６において、結果データの合否判定、結果データの統計解析処理が行われ、表示装置２８にそれらの結果が表示される。

被測定デバイス１の試験態様としては、第１の実施形態と同様に、試験装置２のみを使用する試験、外部測定器３のみを使用する試験、試験装置２と外部測定器３の両方を使用する試験とがあり、測定用ＰＣ２１は、これらの試験態様に応じて、試験装置２のデジタルＩ／Ｏ２５と外部測定器３のデジタルＩ／Ｏ３３を適宜に制御することにより試験を行う。外部測定器３としてＰＸＩシステムを使用すると、外部測定器バス４はＰＣＩバスインターフェースとなるため、データ転送速度は１３２ＭＢ／秒と高速となり、外部測定器３と操作用ＰＣ２６間のデータ転送に要する時間は、従来技術に示したＧＰＩＢインターフェースを使用した場合と比較して、１／１００程度に短縮することができるので、複数の被測定デバイス１の試験を高速に行うことができる。なお、外部測定器３と操作用ＰＣ２６間のデータ転送とは、操作用ＰＣ２６が外部測定器３から生データを取得する時間となる。

図６は、本実施形態に係る被測定デバイスの試験システムのデジタルＩ／Ｏ２５、３３間の通信例を示す図である。
ここでは、被測定デバイス１は複数個あり、外部測定器３はＡＷＧ３１、デジタイザ３２が複数台の場合のダブル試験時を示している。デジタルＩ／Ｏ２５、３３による試験装置２と外部測定器３間の通信信号として、被測定デバイス（１）１の試験時は、試験装置２から外部測定器３へは被測定デバイス番号１、テスト番号１、設定データ１、試験開始１、試験終了応答１の信号があり、外部測定器３から試験装置２へは試験開始応答１、被測定デバイス番号応答１、試験終了１、測定データ１の信号があり、同様に、被測定デバイス（ｎ）１の試験時は、試験装置２から外部測定器３へは被測定デバイス番号ｎ、テスト番号ｎ、設定データｎ、試験開始ｎ、試験終了応答ｎの信号があり、外部測定器３から試験装置２へは試験開始応答ｎ、被測定デバイス番号応答ｎ、試験終了ｎ、測定データｎの信号がある。
試験の開始は、試験装置２が外部測定器３に被測定デバイス番号とテスト番号と設定データと試験開始を送る。外部測定器３は被測定デバイス番号とテスト番号と設定データを取込んで、被測定デバイス番号とテスト番号に応じた試験を設定データを設定後、試験開始の立下りで開始し、試験装置２に試験開始応答を送る。外部測定器３による試験が終了すると、外部測定器３は試験装置２に被測定デバイス番号応答と試験終了と測定データを送る。試験装置２は測定データを試験終了の立下りで取込み、試験装置２は外部測定器３に試験終了応答を送る。破線のテストの部分が外部測定器３による１回の試験時間となる。ここでは、試験開始が２つきた後に試験終了が２つ来ているが、試験開始と試験終了は独立して動作するので、試験開始が１つきた後に試験終了が１つ来て、次に試験開始が１つきた後に試験終了が１つ来る場合もある。複数の被測定デバイスに応じた外部測定器３内に複数組の資源モジュール群を持っているので、１つの外部測定器が試験中でも他の外部測定器は試験を行うことができる。

１ 被測定デバイス、被測定デバイス（１）・・・被測定デバイス（ｎ）
２ 試験装置
２１ 測定用ＰＣ
２２ 試験装置バス
２３ ＤＣ電源、ＤＣ電源（１）、ＤＣ電源（２）・・・ＤＣ電源（ｎ）
２４ リレーコントロール、リレーコントロール（１）、リレーコントロール（２）、・・・リレーコントロール（ｎ）
２５ デジタルＩ／Ｏ
２６ 操作用ＰＣ
２７ ＬＡＮ
２８ 表示装置
３ 外部測定器
３１ ＡＷＧ、ＡＷＧ（１）、ＡＷＧ（２）、・・・ＡＷＧ（ｎ）
３２ デジタイザ、デジタイザ（１）、デジタイザ（２）、・・・デジタイザ（ｎ）
３３ デジタルＩ／Ｏ
３４ マルチプレクサ
４ 外部測定器バス

Claims (6)

1. 操作用ＰＣと、該操作用ＰＣに接続される表示装置と、前記操作用ＰＣとＬＡＮを介して接続される測定用ＰＣと、該測定用ＰＣと試験装置バスを介して接続される資源モジュール及び試験装置側デジタルＩ／Ｏとを有する試験装置と、
   前記操作用ＰＣと外部測定器バスを介して接続される資源モジュール及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと接続される外部測定器側デジタルＩ／Ｏを有する外部測定器と、を備えることを特徴とする被測定デバイスの試験システム。
2. 操作用ＰＣと、該操作用ＰＣに接続される表示装置と、前記操作用ＰＣとＬＡＮを介して接続される測定用ＰＣと、該測定用ＰＣと試験装置バスを介して接続される資源モジュール及び試験装置側デジタルＩ／Ｏとを有する試験装置と、
   前記操作用ＰＣと外部測定器バスを介して接続される資源モジュール及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと接続される外部測定器側デジタルＩ／Ｏを有する外部測定器と、を備え、
   前記操作用ＰＣは、前記試験装置における試験を行うための試験装置制御プログラムと前記外部測定器における試験を行うための外部測定器制御プログラムを作成する機能と、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏにおいて受信された試験開始命令等の信号を前記外部測定器バスを経由して受け取る機能と、前記測定用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された測定データの合否判定や測定データの統計解析処理を行い、前記表示装置にその結果を表示する機能とを有し、
   前記測定用ＰＣは、前記操作用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された前記試験装置制御プログラムに従って、前記試験装置における前記資源モジュールによって試験を開始し、前記資源モジュールにおいて測定された被測定デバイスの測定データを収集する機能と、前記外部測定器における前記資源モジュールによって測定された前記被測定デバイスの測定生データを前記外部測定器バスを経由して前記操作用ＰＣにおいて計算処理し、計算処理後の測定データを前記外部測定器バス、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏ及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏを経由して収集する機能と、前記試験装置の前記資源モジュール及び前記外部測定器の前記資源モジュールにおいて測定された前記被測定デバイスの測定データを前記ＬＡＮを経由して前記操作用ＰＣに送信する機能とを有し、
   前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏは、前記測定用ＰＣからの試験開始命令等の信号を送受信する機能を有し、
   前記外部測定器は、前記操作用ＰＣにおける前記外部測定器制御プログラムに従って、該外部測定器の前記資源モジュールにおいて前記被測定デバイスの試験を行う機能を有する、
   ことを特徴とする被測定デバイスの試験システム。
3. 操作用ＰＣと、操作用ＰＣに接続される表示装置と、前記操作用ＰＣとＬＡＮを介して接続される測定用ＰＣと、該測定用ＰＣと試験装置バスを介して接続される複数種類の資源モジュールを複数組有する資源モジュール群及び試験装置側デジタルＩ／Ｏとを有する試験装置と、
   前記操作用ＰＣと外部測定器バスを介して接続される資源モジュール、マルチプレクサ及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと接続される外部測定器側デジタルＩ／Ｏを有する外部測定器と、を備え、
   前記操作用ＰＣは、前記試験装置における試験を行うための試験装置制御プログラムと前記外部測定器における試験を行うための外部測定器制御プログラムを作成する機能と、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏにおいて受信された試験開始命令等の信号を前記外部測定器バスを経由して受け取る機能と、前記測定用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された測定データの合否判定や測定データの統計解析処理を行い、前記表示装置にその結果を表示する機能とを有し、
   前記測定用ＰＣは、前記操作用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された前記試験装置制御プログラムに従って、前記試験装置における前記同一の複数の資源モジュールによって試験を開始し、前記複数組の資源モジュール群の各群に対応する複数の各被測定デバイスから測定された測定データを収集する機能と、前記外部測定器における前記資源モジュール群によって測定された前記複数の各被測定デバイスの測定生データを前記外部測定器バスを経由して前記操作用ＰＣにおいて計算処理し、計算処理後の測定データを前記外部測定器バス、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏ及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏを経由して収集する機能と、前記試験装置の前記資源モジュール及び前記外部測定器の前記資源モジュール群において測定された前記被測定デバイスの測定データを前記ＬＡＮを経由して前記操作用ＰＣに送信する機能とを有し、
   前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏは、前記測定用ＰＣからの試験開始命令等の信号を送受信する機能を有し、
   前記外部測定器は、前記操作用ＰＣにおける前記外部測定器制御プログラムに従って、該外部測定器における前記マルチプレクサを切り換えて前記資源モジュールにおいて前記複数の被測定デバイスの試験を行う機能を有する、
   ことを特徴とする被測定デバイスの試験システム。
4. 操作用ＰＣと、操作用ＰＣに接続される表示装置と、前記操作用ＰＣとＬＡＮを介して接続される測定用ＰＣと、該測定用ＰＣと試験装置バスを介して接続される複数種類の資源モジュールを複数組有する資源モジュール群及び試験装置側デジタルＩ／Ｏとを有する試験装置と、
   前記操作用ＰＣと外部測定器バスを介して接続される複数種類の資源モジュールを複数組有する資源モジュール群及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと接続される外部測定器側デジタルＩ／Ｏを有する外部測定器と、を備え、
   前記操作用ＰＣは、前記試験装置における試験を行うための試験装置制御プログラムと前記外部測定器における試験を行うための外部測定器制御プログラムを作成する機能と、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏにおいて受信された試験開始命令等の信号を前記外部測定器バスを経由して受け取る機能と、前記測定用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された測定データの合否判定や測定データの統計解析処理を行い、前記表示装置にその結果を表示する機能とを有し、
   前記測定用ＰＣは、前記操作用ＰＣから前記ＬＡＮを経由して受信された前記試験装置制御プログラムに従って、前記試験装置における前記同一の複数の資源モジュールによって試験を開始し、前記複数組の資源モジュール群の各群に対応する複数の各被測定デバイスから測定された測定データを収集する機能と、前記外部測定器における前記複数組の資源モジュール群の各群に対応する前記複数の各被測定デバイスから測定された測定生データを前記外部測定器バスを経由して前記操作用ＰＣにおいて計算処理し、計算処理後の測定データを前記外部測定器バス、前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏ及び前記試験装置側デジタルＩ／Ｏを経由して収集する機能と、前記試験装置の前記資源モジュール群及び前記外部測定器の前記資源モジュール群において測定された前記被測定デバイスの測定データを前記ＬＡＮを経由して前記操作用ＰＣに送信する機能とを有し、
   前記試験装置側デジタルＩ／Ｏと前記外部測定器側デジタルＩ／Ｏは、前記測定用ＰＣからの試験開始命令等の信号を送受信する機能を有し、
   前記外部測定器は、前記操作用ＰＣにおける前記外部測定器制御プログラムに従って、該外部測定器の前記同一の複数の資源モジュールのそれぞれに対応する前記複数の被測定デバイスの試験を行う機能を有する、
   ことを特徴とする被測定デバイスの試験システム。
5. 前記外部測定器は、ＰＸＩシステムであることを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれか１つの請求項に記載の被測定デバイスの試験システム。
6. 前記試験装置における資源モジュールがＤＣ電源、リレーコントロール等であり、前記外部測定器における資源モジュールがＡＷＧ、デジタイザ等であることを特徴とする請求項１ないし請求項５のいずれか１つの請求項に記載の被測定デバイスの試験システム。