JP3138704U - HGA(HeadGimbalAssembly)の特性検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】画像処理部20は、側面カメラ22及び正面カメラ24によって撮像された画像を基に浮上型磁気ヘッドスライダのxy座標を特定し、上方カメラ26によって撮像された画像を基にディンプル中心(目標搭載点)のxy座標を特定し、浮上型磁気ヘッドスライダの位置誤差を求める。データ処理部14は、レーザ変位計28の測定結果とHGA1の直線移動距離とを基に浮上型磁気ヘッドスライダの角度誤差を求める。
【選択図】図1
Description
前記HGAによってデータの書込み及び読出しが実行される擬似メディアと、
前記擬似メディアを回転駆動する駆動モータと、
前記HGAを前記HGAの長手方向に直線移動可能に保持するホルダと、
前記ホルダに保持される前記HGAを側面、正面及び上方からそれぞれ撮像する第1から第3の撮像部と、
前記第1から第3の撮像部によって撮像された画像を処理する画像処理部と、
前記ホルダに保持される前記HGAの側方に配置され、前記HGAの浮上型磁気ヘッドスライダ側面の変位を測定する非接触変位計と、
前記ホルダに保持される前記HGAの前記擬似メディアに対するデータの書込み及び読出しの実行結果から前記HGAの特性を評価する測定器と、
前記画像処理部における処理結果、前記非接触変位計における変位測定結果、及び前記測定器における特性評価結果を記憶する記憶部と、
前記記憶部の記憶データを処理するデータ処理部とを備える。
前記画像処理部は、前記第1及び第2の撮像装置によって撮像された画像を基に前記浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標を特定し、前記第3の撮像装置によって撮像された画像を基に前記第1及び第2の基準マークと所定位置関係にある目標搭載点の2次元座標を特定し、前記目標搭載点の2次元座標に対する前記浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標の位置誤差を求めるとともに、前記ホルダによる前記HGAの直線移動前後に前記第3の撮像装置によって撮像された画像を基に前記第1及び第2の基準マークを結ぶ直線と前記HGAの直線移動方向とが成す第1の角度を特定するものであり、
前記データ処理部は、前記ホルダによる前記HGAの直線移動前後に前記非接触変位計によって測定された前記浮上型磁気ヘッドスライダ側面の変位と、前記HGAの直線移動距離とを基に、前記浮上型磁気ヘッドスライダの側面と前記HGAの直線移動方向とが成す第2の角度を特定し、この第2の角度と、前記画像処理部によって特定された前記第1の角度とを基に、前記第1及び第2の基準マークを結ぶ直線に対する前記浮上型磁気ヘッドスライダ側面の角度誤差を求め、前記位置誤差及び前記角度誤差を前記記憶部に記憶してもよい。
前記画像処理部は、前記第1及び第2の撮像装置によって撮像された画像を基に前記浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標を特定し、前記第3の撮像装置によって撮像された画像を基に前記ディンプルの2次元座標を特定し、前記ディンプルの2次元座標に対する前記浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標の位置誤差を求めるとともに、前記ホルダによる前記HGAの直線移動前後に前記第3の撮像装置によって撮像された画像を基に前記ディンプル及び前記基準マークを結ぶ直線と前記HGAの直線移動方向とが成す第1の角度を特定するものであり、
前記データ処理部は、前記ホルダによる前記HGAの直線移動前後に前記非接触変位計によって測定された前記浮上型磁気ヘッドスライダ側面の変位と、前記HGAの直線移動距離とを基に、前記浮上型磁気ヘッドスライダの側面と前記HGAの直線移動方向とが成す第2の角度を特定し、この第2の角度と、前記画像処理部によって特定された前記第1の角度とを基に、前記ディンプル及び前記基準マークを結ぶ直線に対する前記浮上型磁気ヘッドスライダ側面の角度誤差を求め、前記位置誤差及び前記角度誤差を前記記憶部に記憶してもよい。
所定位置に保持される前記HGAによってデータの書込み及び読出しが実行される擬似メディアと、
前記擬似メディアを回転駆動する駆動モータと、
前記HGAの浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標を特定する手段と、
前記浮上型磁気ヘッドスライダの目標搭載点の2次元座標を特定する手段と、
前記目標搭載点の2次元座標に対する前記浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標の位置誤差を求める手段と、
前記浮上型磁気ヘッドスライダ側面の基準方向に対する角度誤差を特定する手段と、
前記HGAの前記擬似メディアに対するデータの書込み及び読出しの実行結果から前記HGAの特性を評価する測定器と、
前記位置誤差、前記角度誤差、及び前記測定器における特性評価結果を記憶する記憶部と、
前記記憶部の記憶データを処理するデータ処理部とを備える。
手順1:図1のホルダ34によるHGA1の直線移動方向に対するビューホール7a及びツーリングホール7bを結ぶ直線の角度(以下「第1の角度」)を特定する。
手順2:HGA1の前記直線移動方向に対する浮上型磁気ヘッドスライダ2の側面の角度(以下「第2の角度」)を特定する。
手順3:手順1及び2で特定された第1及び第2の角度を基に、ビューホール7a及びツーリングホール7bを結ぶ直線に対する浮上型磁気ヘッドスライダ2の側面の角度(すなわち角度誤差)を求める。
なお、ホルダ34はHGA1をHGA1長手方向に直線移動するが、この直線移動方向は多くの場合ビューホール7a及びツーリングホール7bを結ぶ直線の方向と厳密には一致しない。以下、各手順について詳細に説明する。
図6は上述の第1の角度の説明図である。図1の画像処理部20は、ホルダ34によってHGA1がHGA1長手方向に直線移動される前後にそれぞれ上方カメラ26によって撮像された2枚の画像を基に、HGA1の直線移動方向と、ビューホール7a及びツーリングホール7bを結ぶ直線(図5のx軸)とが成す角度(第1の角度、図6のθX)を特定する。ここで、HGA1の直線移動方向は、HGA1の直線移動前後におけるHGA1の所定点(例えばビューホール7a)の移動方向という形で特定される。なお、図6では理解を助けるためにθXを実際の角度より大きくとってある(図7中の拡大図と図8についても同様)。
図7は上述の第2の角度の説明図である。ΔXSは、レーザ変位計28による2回の変位測定間におけるホルダ34によるHGA1の直線移動距離(図中、HGAの直線移動(2)の距離)である。なお、これに先だって、HGA1はホルダ34によってレーザ変位計28による変位測定が可能となる位置まで移動されている(図中、HGAの直線移動(1))。図1のデータ処理部14は、ホルダ34によってHGA1がHGA1長手方向に直線移動される前後それぞれにレーザ変位計28によって測定された浮上型磁気ヘッドスライダ2の側面の変位(図7のYS1及びYS2)と、HGA1の直線移動距離(同図のΔXS)とを基に、浮上型磁気ヘッドスライダ2の側面とHGA1の直線移動方向とが成す角度(第2の角度、図7のθS)を特定する。このとき、tanθS=ΔYS/ΔXSの関係が利用される(但し、ΔYS=YS1−YS2)。
図8は、図4の浮上型磁気ヘッドスライダ2の角度誤差の説明図である。図1のデータ処理部14は、手順1及び2で特定された第1及び第2の角度(θX及びθS)を基に角度誤差を求め、この角度誤差を記憶部16に記憶する。角度誤差は、図8に示すように、Δθ=θX+θSである。
3 ロードビーム
5 フレキシャ
7 サスペンション
10 筐体
12 制御部
14 データ処理部
16 記憶部
18 測定器
20 画像処理部
22 側面カメラ
24 正面カメラ
26 上方カメラ
28 レーザ変位計
30 擬似メディア
32 駆動モータ
34 ホルダ
36 ローダ
38 操作ボックス
100 特性検査装置
Claims (6)
- HGA(Head Gimbal Assembly)の特性を検査する装置であって、
前記HGAによってデータの書込み及び読出しが実行される擬似メディアと、
前記擬似メディアを回転駆動する駆動モータと、
前記HGAを前記HGAの長手方向に直線移動可能に保持するホルダと、
前記ホルダに保持される前記HGAを側面、正面及び上方からそれぞれ撮像する第1から第3の撮像部と、
前記第1から第3の撮像部によって撮像された画像を処理する画像処理部と、
前記ホルダに保持される前記HGAの側方に配置され、前記HGAの浮上型磁気ヘッドスライダ側面の変位を測定する非接触変位計と、
前記ホルダに保持される前記HGAの前記擬似メディアに対するデータの書込み及び読出しの実行結果から前記HGAの特性を評価する測定器と、
前記画像処理部における処理結果、前記非接触変位計における変位測定結果、及び前記測定器における特性評価結果を記憶する記憶部と、
前記記憶部の記憶データを処理するデータ処理部とを備える、HGAの特性検査装置。 - 請求項1に記載の特性検査装置において、この特性検査装置が検査対象とするHGAのサスペンションは第1及び第2の基準マークを有し、
前記画像処理部は、前記第1及び第2の撮像装置によって撮像された画像を基に前記浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標を特定し、前記第3の撮像装置によって撮像された画像を基に前記第1及び第2の基準マークと所定位置関係にある目標搭載点の2次元座標を特定し、前記目標搭載点の2次元座標に対する前記浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標の位置誤差を求めるとともに、前記ホルダによる前記HGAの直線移動前後に前記第3の撮像装置によって撮像された画像を基に前記第1及び第2の基準マークを結ぶ直線と前記HGAの直線移動方向とが成す第1の角度を特定するものであり、
前記データ処理部は、前記ホルダによる前記HGAの直線移動前後に前記非接触変位計によって測定された前記浮上型磁気ヘッドスライダ側面の変位と、前記HGAの直線移動距離とを基に、前記浮上型磁気ヘッドスライダの側面と前記HGAの直線移動方向とが成す第2の角度を特定し、この第2の角度と、前記画像処理部によって特定された前記第1の角度とを基に、前記第1及び第2の基準マークを結ぶ直線に対する前記浮上型磁気ヘッドスライダ側面の角度誤差を求め、前記位置誤差及び前記角度誤差を前記記憶部に記憶することを特徴とする、HGAの特性検査装置。 - 請求項2に記載の特性検査装置において、前記第1及び第2の基準マークが貫通孔であることを特徴とする、HGAの特性検査装置。
- 請求項1に記載の特性検査装置において、この特性検査装置が検査対象とするHGAのサスペンションは、浮上型磁気ヘッドスライダ搭載面の背後に接するように形成されたディンプルと、基準マークとを有し、
前記画像処理部は、前記第1及び第2の撮像装置によって撮像された画像を基に前記浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標を特定し、前記第3の撮像装置によって撮像された画像を基に前記ディンプルの2次元座標を特定し、前記ディンプルの2次元座標に対する前記浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標の位置誤差を求めるとともに、前記ホルダによる前記HGAの直線移動前後に前記第3の撮像装置によって撮像された画像を基に前記ディンプル及び前記基準マークを結ぶ直線と前記HGAの直線移動方向とが成す第1の角度を特定するものであり、
前記データ処理部は、前記ホルダによる前記HGAの直線移動前後に前記非接触変位計によって測定された前記浮上型磁気ヘッドスライダ側面の変位と、前記HGAの直線移動距離とを基に、前記浮上型磁気ヘッドスライダの側面と前記HGAの直線移動方向とが成す第2の角度を特定し、この第2の角度と、前記画像処理部によって特定された前記第1の角度とを基に、前記ディンプル及び前記基準マークを結ぶ直線に対する前記浮上型磁気ヘッドスライダ側面の角度誤差を求め、前記位置誤差及び前記角度誤差を前記記憶部に記憶することを特徴とする、HGAの特性検査装置。 - 請求項2から4のいずれかに記載の特性検査装置において、前記データ処理部は、複数のHGAについて求められた前記位置誤差及び前記角度誤差と、前記複数のHGAについての前記測定器における前記特性評価結果とを基に、前記位置誤差及び前記角度誤差と前記特性評価結果との相関を導出することを特徴とする、HGAの特性検査装置。
- HGA(Head Gimbal Assembly)の特性を検査する装置であって、
所定位置に保持される前記HGAによってデータの書込み及び読出しが実行される擬似メディアと、
前記擬似メディアを回転駆動する駆動モータと、
前記HGAの浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標を特定する手段と、
前記浮上型磁気ヘッドスライダの目標搭載点の2次元座標を特定する手段と、
前記目標搭載点の2次元座標に対する前記浮上型磁気ヘッドスライダの2次元座標の位置誤差を求める手段と、
前記浮上型磁気ヘッドスライダ側面の基準方向に対する角度誤差を特定する手段と、
前記HGAの前記擬似メディアに対するデータの書込み及び読出しの実行結果から前記HGAの特性を評価する測定器と、
前記位置誤差、前記角度誤差、及び前記測定器における特性評価結果を記憶する記憶部と、
前記記憶部の記憶データを処理するデータ処理部とを備える、HGAの特性検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007008349U JP3138704U (ja) | 2007-10-30 | 2007-10-30 | HGA(HeadGimbalAssembly)の特性検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007008349U JP3138704U (ja) | 2007-10-30 | 2007-10-30 | HGA(HeadGimbalAssembly)の特性検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP3138704U true JP3138704U (ja) | 2008-01-17 |
Family
ID=43288986
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007008349U Expired - Lifetime JP3138704U (ja) | 2007-10-30 | 2007-10-30 | HGA(HeadGimbalAssembly)の特性検査装置 |
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JP (1) | JP3138704U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009300172A (ja) * | 2008-06-11 | 2009-12-24 | Nhk Spring Co Ltd | ディンプル位置検出装置とディンプル位置検出方法 |
JP2010055723A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Nhk Spring Co Ltd | ヘッド・ジンバル・アッセンブリの運動特性測定用駆動装置及び運動特性測定方法 |
-
2007
- 2007-10-30 JP JP2007008349U patent/JP3138704U/ja not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2010055723A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Nhk Spring Co Ltd | ヘッド・ジンバル・アッセンブリの運動特性測定用駆動装置及び運動特性測定方法 |
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