JP3122157U - 材料試験機 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】供試体SPを設置する際、クロスヘッド15の高さ位置を上部圧盤17aが邪魔にならない位置に手動で移動する。そして、そのクロスヘッド15の位置にホームポジションセンサ111を設置する。試験終了後、高速リターンボタンを押圧するとクロスヘッド15はホームポジションセンサ111の設置された位置に移動する。そして、供試体SPを交換後、試験開始を指示すると、上部圧盤17aの下面が供試体SPの上面に接する位置までクロスヘッド15が速やかに移動し、その後、予め設定した試験速度で供試体SPに負荷が与えられる。
【選択図】図2
Description
(2)請求項2の考案は、請求項1の材料試験機において、制御手段は、圧縮試験時、復帰指令により治具を供試体の交換位置である第1位置である供試体交換位置まで移動させ、引張試験時、復帰指令により治具を第2位置である試験開始位置まで移動させることを特徴とする。
(3)請求項3の考案は、請求項1または2の材料試験機において、制御手段は、圧縮試験時、試験開始指令により治具を第1位置から高速度で移動させ、第2位置である試験開始位置まで移動すると治具を予め定めた試験速度で移動させることを特徴とする。
(4)請求項4の考案は、上下治具の間で供試体を負荷する材料試験機において、試験開始指令を出力する開始指令手段と、試験開始指令に応じて、上下治具のいずれか一方の治具を所定の速度で駆動して供試体に負荷を与える負荷手段と、治具の移動に関する第1および第2位置を設定する位置設定手段と、治具が第1位置および第2位置に位置することをそれぞれ検出する検出手段と、治具を第1位置および第2位置のいずれか一方の位置へ復帰させる復帰指令を出力する復帰指令手段と、治具の移動を制御する制御手段とを備え、制御手段は、(1)圧縮試験においては、復帰指令の出力により移動する治具が供試体の交換位置である第1位置に到達すると治具の移動を停止し、試験開始指令が出力されると、治具を交換位置から高速で移動させ、試験開始位置である第2位置に達すると治具を予め定めた試験速度で移動させて供試体を負荷し、(2)引張試験においては、復帰指令の出力により移動する治具が試験開始位置である第2位置に位置することが検出されると治具の移動を停止し、試験開始指令が出力されると、治具を試験開始位置から予め定めた試験速度で移動させて供試体を負荷するように負荷手段を制御することを特徴とする。
図1に示す材料試験機は、材料試験機本体10と、本体10を駆動制御する制御系20とで構成される。材料試験機本体10は、ベッド11と、このベッド11上に設置され、タイミングベルト13を介してねじ支柱12a,12bを回転させるモータ14と、モータ14の側方でベッド11に立設する一対のねじ支柱12a,12bと、このねじ支柱12a,12bに昇降可能に保持されるクロスヘッド15と、クロスヘッド15の中心下部に設けられたロードセル16と、ロードセル16に連結された上部圧盤17aと、テーブル18に立設する下部圧盤17bと、ねじ支柱12bの上端に設けられた回転数センサ19と、ねじ支柱12bと並列してテーブル18に立設された支柱110に設けられたホームポジションセンサ111とを備える。
まず、制御回路11に試験条件を入力し、試験条件を設定する。次に、図2に示すようにクロスヘッド15の高さ位置を、供試体SPを下部圧盤上に設置しやすい位置、つまり供試体SPを設置する際、上部圧盤17aが邪魔にならない位置に移動する。このとき、供試体SPの交換の際にすぐにクロスヘッド15をその交換位置に移動できるようにするため、ホームポジションセンサ111の位置をクロスヘッド15と同じ高さに移動し、ホームポジションを設定する。
(1)クロスヘッド15の位置を、供試体SPの設置作業をしたときのホームポジションと変位ゼロボタン42bを押圧したときの位置、すなわち試験開始位置とに復帰させることによって、上部圧盤17aを異なる2位置にそれぞれ復帰することができるので、使い勝手の良い試験機を提供できる。とくに手動運転の操作をなくすことができ、操作過誤を防止できる。
(1)高速リターンボタン43aを押圧することによって治具17a,31aが所定の位置に復帰するようにしたが、高速リターンボタン43aを押圧しなくても、試験終了後、自動的に治具17a,31aが所定の位置に復帰するようにしてもよい。ユーザは、供試体SPを設置する操作と試験開始ボタン43bを押圧する操作のみで材料試験を行うことができるので、材料試験の効率性が上がる。
17a 上部圧盤 17b 下部圧盤
21 制御回路 22 入出力装置
22a タッチパネル 22c 表示モニタ
31a 上部治具 31b 下部治具
111 ホームポジションセンサ SP 供試体
Claims (4)
- 上下治具の間で供試体を負荷する材料試験機において、
試験開始指令に応じて、前記治具を所定の速度で駆動して供試体に負荷を与える負荷手段と、
前記治具の移動に関する第1および第2位置を設定する位置設定手段と、
前記治具が前記第1位置および第2位置に位置することをそれぞれ検出する検出手段と、
前記治具を所定位置へ復帰させる復帰指令を出力する復帰指令出力手段と、
前記復帰指令により、前記治具を前記第1位置または第2位置まで移動する制御手段とを備えることを特徴とする材料試験機。 - 請求項1の材料試験機において、
前記制御手段は、圧縮試験時、前記復帰指令により前記治具を前記供試体の交換位置である第1位置である供試体交換位置まで移動させ、引張試験時、前記復帰指令により前記治具を第2位置である試験開始位置まで移動させることを特徴とする材料試験機。 - 請求項1または2の材料試験機において、
前記制御手段は、圧縮試験時、前記試験開始指令により前記治具を前記第1位置から高速度で移動させ、前記第2位置である試験開始位置まで移動すると前記治具を予め定めた試験速度で移動させることを特徴とする材料試験機。 - 上下治具の間で供試体を負荷する材料試験機において、
試験開始指令を出力する開始指令手段と、
前記試験開始指令に応じて、前記上下治具のいずれか一方の治具を所定の速度で駆動して供試体に負荷を与える負荷手段と、
前記治具の移動に関する第1および第2位置を設定する位置設定手段と、
前記治具が前記第1位置および第2位置に位置することをそれぞれ検出する検出手段と、
前記治具を前記第1位置および第2位置のいずれか一方の位置へ復帰させる復帰指令を出力する復帰指令手段と、
前記治具の移動を制御する制御手段とを備え、
前記制御手段は、
(1)圧縮試験においては、前記復帰指令の出力により移動する治具が前記供試体の交換位置である前記第1位置に到達すると前記治具の移動を停止し、前記試験開始指令が出力されると、前記治具を前記交換位置から高速で移動させ、試験開始位置である前記第2位置に達すると前記治具を予め定めた試験速度で移動させて前記供試体を負荷し、
(2)引張試験においては、前記復帰指令の出力により移動する治具が試験開始位置である前記第2位置に位置することが検出されると前記治具の移動を停止し、前記試験開始指令が出力されると、前記治具を前記試験開始位置から予め定めた試験速度で移動させて前記供試体を負荷するように前記負荷手段を制御することを特徴とする材料試験機。
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JP2006002125U JP3122157U (ja) | 2006-03-24 | 2006-03-24 | 材料試験機 |
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---|---|---|---|---|
KR100825272B1 (ko) * | 2007-01-19 | 2008-04-25 | 울산과학대학 산학협력단 | 점재하 시험기 |
JP2008298974A (ja) * | 2007-05-30 | 2008-12-11 | Funai Electric Co Ltd | ディスプレイ装置 |
CN112716638A (zh) * | 2020-12-28 | 2021-04-30 | 深圳市宝丽洁科技有限公司 | 一种保压设备及按键保压方法 |
CN115824777A (zh) * | 2022-11-25 | 2023-03-21 | 海口雯露菖电子科技有限公司 | 一种新能源汽车零部件刚性检测器具 |
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