JP3105390B2 - ピンホール検査装置 - Google Patents

ピンホール検査装置

Info

Publication number
JP3105390B2
JP3105390B2 JP06065926A JP6592694A JP3105390B2 JP 3105390 B2 JP3105390 B2 JP 3105390B2 JP 06065926 A JP06065926 A JP 06065926A JP 6592694 A JP6592694 A JP 6592694A JP 3105390 B2 JP3105390 B2 JP 3105390B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
digital signal
difference
small space
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP06065926A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH07280687A (ja
Inventor
弘 阿部
和彦 石尾
善浩 村川
晃 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Gunze Ltd
Otsuka Pharmaceutical Co Ltd
Original Assignee
Gunze Ltd
Otsuka Pharmaceutical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP06065926A priority Critical patent/JP3105390B2/ja
Application filed by Gunze Ltd, Otsuka Pharmaceutical Co Ltd filed Critical Gunze Ltd
Priority to PCT/JP1995/000603 priority patent/WO1995027193A1/ja
Priority to US08/537,916 priority patent/US5633454A/en
Priority to EP95913381A priority patent/EP0702222B1/en
Priority to CA002163085A priority patent/CA2163085A1/en
Priority to AT95913381T priority patent/ATE208893T1/de
Priority to ES95913381T priority patent/ES2167422T3/es
Priority to AU20842/95A priority patent/AU688483B2/en
Priority to DE69523847T priority patent/DE69523847T2/de
Publication of JPH07280687A publication Critical patent/JPH07280687A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3105390B2 publication Critical patent/JP3105390B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M3/00Investigating fluid-tightness of structures
    • G01M3/02Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum
    • G01M3/04Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point
    • G01M3/20Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material
    • G01M3/22Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material for pipes, cables or tubes; for pipe joints or seals; for valves; for welds; for containers, e.g. radiators
    • G01M3/226Investigating fluid-tightness of structures by using fluid or vacuum by detecting the presence of fluid at the leakage point using special tracer materials, e.g. dye, fluorescent material, radioactive material for pipes, cables or tubes; for pipe joints or seals; for valves; for welds; for containers, e.g. radiators for containers, e.g. radiators

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Examining Or Testing Airtightness (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Fire-Detection Mechanisms (AREA)
  • Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
  • Absorbent Articles And Supports Therefor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、柔軟性のある密封容器
のピンホールの有無を検査するピンホール検査装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、錠剤や粉末薬剤を収容し、密封
して使用するプラスチックバッグに、ピンホールが存在
すれば、重大な事態を招くことになる。したがって、斯
るプラスチックバッグの場合には、ピンホールの有無の
検査を厳重に行う必要がある。従来公知のピンホール検
査方法では、例えば酸素や湿気等により色調が変化する
物質を包装容器内に封入し、その色調の変化からピンホ
ール等の有無を判断する方法が知られている。一方、剛
性を有する容器のピンホール有無の検査方法として容器
内に検査用ガスを加圧封入し、漏れ出たガスをガス検知
装置で検知することによってピンホールの有無を知る方
法が知られている。ガス検知装置は漏れ出た検査用ガス
を、単位時間当たりの漏れ量としての電気信号に変換し
ている。本願発明者の一人はガス検知装置を用いて、プ
ラスチックバッグ等の可撓性のある容器のピンホールの
有無を検査する方法及び装置を発明して出願した(特願
平5−344297号、特願平5−339527号)。
このピンホール検査方法では、不活性ガスを封入した密
封プラスチックバッグからの不活性ガスの漏れの有無
が、電気的に調べられている。そして、この検査方法で
は、測定の都度、環境変化による電気的条件の変化に応
じたしきい値を予め決めておき、測定値がこのしきい値
を超えたか否かによってガス漏れの有無、ピンホールの
有無が判断されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のピンホール
検査方法では、しきい値を超えたか否かの判断が行われ
ているため、ピンホールが存在する場合でも、測定値が
しきい値に到達する状態になるまでには長時間待機する
必要がある。したがって、容器の良否の判定にかなりの
時間を要し、結局、製造ライン全体の生産性に悪影響を
あたえることになるという問題がある。
【0004】さらに、例えば、測定対象である容器の回
りの雰囲気中に、容器内のガスと同じガスが存在してい
た場合、ピンホールが存在しない場合にもガスが測定さ
れることとなり、正確かつ確実にピンホールの有無を検
査することが困難で、検査の信頼性の低下にもつながる
等の問題がある。本発明は、斯る従来の問題点を課題と
してなされたもので、厳しい品質性能と迅速性が問われ
る昨今において、正確かつ迅速に密封容器のピンホール
の有無の検査を可能としたピンホール検査装置を提供し
ようとするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、第一発明は、ガスが封入された密閉容器を出し入れ
可能に収容する小空間を有するとともに、この小空間毎
に吸気孔を有し、間欠的に一定のピッチずつ搬送される
パレットと、検査位置に搬送されてきた上記パレットの
上記吸気孔に順次接続して、上記小空間に連通し、この
小空間内に上記ガスと同種のガスが存在する場合には、
その単位時間当たりの漏れ量に対応した電圧を有するア
ナログ信号を発生するガス漏れ量検出部と、このアナロ
グ信号をディジタル信号に変換するA/D変換器と、こ
のディジタル信号から、このディジタル信号の大きさに
対応する電圧と時間との関係を表す回帰直線の勾配を求
め、この勾配と、空気中の上記ガスと同種のガスの場合
の回帰直線の、予め入力しておいた、勾配の最大値との
差を算出し、この差が許容範囲外にある場合は、異常信
号を出力する第一演算部とを備えた構成とした。
【0006】また、第二発明は、ガスが封入された密閉
容器を出し入れ可能に収容する小空間を有するととも
に、この小空間毎に吸気孔を有し、間欠的に一定のピッ
チずつ搬送されるパレットと、検査位置に搬送されてき
た上記パレットの上記吸気孔に順次接続して、上記小空
間に連通し、この小空間内に上記ガスと同種のガスが存
在する場合には、その単位時間当たりの漏れ量に対応し
た電圧を有するアナログ信号を発生するガス漏れ量検出
部と、このアナログ信号をディジタル信号に変換するA
/D変換器と、このディジタル信号から、このディジタ
ル信号の大きさに対応する電圧と時間との関係を表す回
帰直線の勾配を求め、この勾配と、空気中の上記ガスと
同種のガスの場合の回帰直線の、予め入力しておいた、
勾配の最大値との差を算出し、この差が許容範囲外にあ
る場合は、異常信号を出力する第一演算部と、このディ
ジタル信号と、このディジタル信号の発生の基となった
データの検出時点より、予め定めた時間だけさかのぼっ
た時点でのディジタル信号との差を算出し、この差と、
空気中の上記ガスと同種のガスの場合の、上記時間と同
じ時間だけ間隔を置いた各時点での上記ディジタル信号
と同様のディジタル信号間の差の、予め入力しておいた
最大値との差が許容範囲外にある場合は、異常信号を出
力する第二演算部とを備えた構成とした。
【0007】さらに、第三発明は、上記ガスを、ヘリウ
ムガスとした。
【0008】
【作用】上記各発明のように構成することにより、環境
の影響を受けることなく、ピンホールの有無の検査が行
えるようになる。
【0009】
【実施例】次に、本発明の一実施例を図面にしたがって
説明する。図1は、第一,第三発明に係るピンホール検
査装置を示し、本実施例では、パレット1,ガス漏れ量
検出部2,A/D変換器3,第一演算部4、および排除
部5を設けて形成してある。パレット1は、内部にピン
ホールの有無の検査対象である密閉容器11を一個、或
は複数個、本実施例では、三個、取り出し可能に収容す
る小空間12を有している。また、図1においてパレッ
ト1の上面には、各小空間12毎に吸気孔13が形成し
てある。さらに、パレット1は、間欠的に一定のピッチ
ずつ動く搬送装置14により図示する検査位置まで搬送
される。
【0010】ところで、検査対象である密閉容器11
は、固体,液体、例えば錠剤や粉末薬剤を入れて使用す
るもので、その材質,形状は何等問うものではない。具
体的には、例えばプラスチック製の各種袋状物、或は成
型物,金属製の各種容器等を挙げることができる。ま
た、密閉容器11には、ガスが封入されている。このガ
スとしては、例えばヘリウムガス,フロンガス,窒素ガ
ス,炭酸ガス,ネオンガス等を挙げることができるが、
より好ましいのはヘリウムガスである。
【0011】ガス漏れ検出部2は、ガス検出手段15、
およびこれに結合するとともに、電磁式開閉弁16を設
けた導入管17を備えている。そして、導入管17が、
検査位置に来たパレット1の小空間12の吸気孔13に
係合して、ここに漏れ出たガスをガス検出手段15に導
くようになっている。ガス検出手段15自体は公知のも
ので、例えば空気と共に吸い込まれたヘリウムガスはイ
オン化され、磁界内を通過させることによってヘリウム
イオンのみ集められる。ヘリウムイオンの集合部では単
位時間当りの漏れ出たヘリウムガス量に比例した電流が
流れ、この電流は抵抗部で電圧に変換され、この電圧の
アナログ信号を出力するように形成したものである。
【0012】さらに、本実施例では、検査位置に来た吸
気孔13を有する小空間12の上方に伸縮手段18、例
えばエアシリンダが設けてある。そして、密閉容器11
が柔軟性である場合には、上方からこの小空間12およ
び密閉容器11を押圧することにより、密閉容器11に
ピンホールが有れば、ガスの漏出を促進させ得るように
形成してある。
【0013】A/D変換器3にて、上記アナログ信号は
ディジタル信号に変換される。第一演算部4にて、上記
ディジタル信号を受け、この信号の大きさ、即ち電圧と
時間との関係を表す回帰直線の勾配、即ちy=a+b・
Xの式の勾配bを、最小二乗法により求めさせている。
一方、第一演算部4には、予め空気中の上記ガスと同種
のガスの場合の回帰直線の勾配の最大値が入力してあ
る。そして、この第一演算部4にて、上記勾配bの値と
上記最大値との差が許容範囲内にあるが否かを判断さ
せ、許容範囲外の場合には、異常信号を出力するように
なっている。即ち、検査した密閉容器11にはピンホー
ルが存在するとして異常信号を出力させるように形成し
てある。
【0014】排除部5は、制御盤21と押出し手段2
2、例えばエアシリンダを有している。そして、第一演
算部4から異常信号を制御盤21にて受けると、ここか
らの信号により押出し手段22が作動して、対応する異
常な密閉容器11を収容したパレット1をラインから排
除するようになっている。
【0015】このように、パレット1内のガスに関する
検出データに基づき回帰直線の勾配を上記最大値との差
をとるようにしてある故、環境の変化、例えば空気中
に、密閉容器11内の封入ガスと同種のガスが空気中に
存在しているか否かに影響されず、密閉容器のピンホー
ルの有無を正確かつ確実に検査できるようになり、さら
にラインからも排除されるようになる。なお、第三発明
は、上記ガスをヘリウムガスとするものであるが、第一
発明は、これに限定するものではない。
【0016】図2は、第二,第三発明に係るピンホール
検査装置を示し図1に示した装置とは、第一演算部4に
加えて、さらに第二演算部6を採用した点を除き、他は
実質的に同一であり、互いに共通する部分については同
一番号を付して説明を省略する。第二演算部6にて、A
/D変換器3からのディジタル信号を受け、このディジ
タル信号の発生の基となったデータの検出時点より、予
め定めた時間だけさかのぼった時点でのディジタル信号
との差を算出させている。一方、第二演算部6には、空
気中の上記ガスと同種のガスの場合の、上記時間と同じ
時間だけ間隔を置いた各時点での上記ディジタル信号と
同様のディジタル信号間の差の最大値が、予め入力して
ある。そして、第二演算部6にて、上記パレット1内の
ガスのデータに基づく上記差と上記最大値との差が許容
範囲内にあるか否かを判断させ、許容範囲外にある場合
は、異常信号を出力させるように形成してある。そし
て、本実施例では、第一演算部4により異常信号を出す
場合と、第二演算部6により異常信号を出す場合のいず
れにおいても異常信号を出力し、対応するパレットをラ
インから排除するようなっている。
【0017】そして、斯る構成により、環境の変化、例
えば空気中に、密閉容器11内の封入ガスと同種のガス
が空気中に存在しているか否かに影響されず、密閉容器
のピンホールの有無を図1,2に示す装置よりもさらに
正確かつ確実に検査できるようになり、さらにラインか
らも排除されるようになる。なお、第三発明は、上記ガ
スをヘリウムガスとするものであるが、第二発明は、こ
れに限定するものではない。
【0018】
【発明の効果】以上の説明より明らかなように、第一発
明によれば、ガスが封入された密閉容器を出し入れ可能
に収容する小空間を有するとともに、この小空間毎に吸
気孔を有し、間欠的に一定のピッチずつ搬送されるパレ
ットと、検査位置に搬送されてきた上記パレットの上記
吸気孔に順次接続して、上記小空間に連通し、この小空
間内に上記ガスと同種のガスが存在する場合には、その
単位時間当たりの漏れ量に対応した電圧を有するアナロ
グ信号を発生するガス漏れ量検出部と、このアナログ信
号をディジタル信号に変換するA/D変換器と、このデ
ィジタル信号から、このディジタル信号の大きさに対応
する電圧と時間との関係を表す回帰直線の勾配を求め、
この勾配と、空気中の上記ガスと同種のガスの場合の回
帰直線の、予め入力しておいた、勾配の最大値との差を
算出し、この差が許容範囲外にある場合は、異常信号を
出力する第一演算部とを備えた構成としてある。
【0019】また、第二発明によれば、ガスが封入され
た密閉容器を出し入れ可能に収容する小空間を有すると
ともに、この小空間毎に吸気孔を有し、間欠的に一定の
ピッチずつ搬送されるパレットと、検査位置に搬送され
てきた上記パレットの上記吸気孔に順次接続して、上記
小空間に連通し、この小空間内に上記ガスと同種のガス
が存在する場合には、その単位時間当たりの漏れ量に対
応した電圧を有するアナログ信号を発生するガス漏れ量
検出部と、このアナログ信号をディジタル信号に変換す
るA/D変換器と、このディジタル信号から、このディ
ジタル信号の大きさに対応する電圧と時間との関係を表
す回帰直線の勾配を求め、この勾配と、空気中の上記ガ
スと同種のガスの場合の回帰直線の、予め入力しておい
た、勾配の最大値との差を算出し、この差が許容範囲外
にある場合は、異常信号を出力する第一演算部と、この
ディジタル信号と、このディジタル信号の発生の基とな
ったデータの検出時点より、予め定めた時間だけさかの
ぼった時点でのディジタル信号との差を算出し、この差
と、空気中の上記ガスと同種のガスの場合の、上記時間
と同じ時間だけ間隔を置いた各時点での上記ディジタル
信号と同様のディジタル信号間の差の、予め入力してお
いた最大値との差が許容範囲外にある場合は、異常信号
を出力する第二演算部とを備えた構成としてある。
【0020】さらに、第三発明によれば、上記各発明の
構成に加えて、上記ガスをヘリウムガスとしてある。こ
のため、環境の変化、例えば空気中に、密閉容器内の封
入ガスと同種のガスが存在しているか否かに影響され
ず、密閉容器のピンホールの有無を正確かつ確実に検査
できるようになるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 第一,第三発明に係るピンホール検査装置の
全体構成を示す図である。
【図2】 第二,第三発明に係るピンホール検査装置の
全体構成を示す図である。
【符号の説明】
1 パレット 2 ガス漏れ量検出部 3 A/D変換器 4 第一演算部 6 第二演算部 11 密閉容器 13 吸気孔 15 ガス検出手段 17 導入管
フロントページの続き (72)発明者 村川 善浩 滋賀県栗太郡栗東町下鈎1101−1 宮ノ 東ハイツ401 (72)発明者 山本 晃 大阪府摂津市昭和園7−12−609 (56)参考文献 特開 昭58−187828(JP,A) 特開 平7−159271(JP,A) 特公 昭56−32576(JP,B2) 実公 平2−47474(JP,Y2)

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ガスが封入された密閉容器を出し入れ可
    能に収容する小空間を有するとともに、この小空間毎に
    吸気孔を有し、間欠的に一定のピッチずつ搬送されるパ
    レットと、 検査位置に搬送されてきた上記パレットの上記吸気孔に
    順次接続して、上記小空間に連通し、この小空間内に上
    記ガスと同種のガスが存在する場合には、その単位時間
    当たりの漏れ量に対応した電圧を有するアナログ信号を
    発生するガス漏れ量検出部と、 このアナログ信号をディジタル信号に変換するA/D変
    換器と、 このディジタル信号から、このディジタル信号の大きさ
    に対応する電圧と時間との関係を表す回帰直線の勾配を
    求め、この勾配と、空気中の上記ガスと同種のガスの場
    合の回帰直線の、予め入力しておいた、勾配の最大値と
    の差を算出し、この差が許容範囲外にある場合は、異常
    信号を出力する第一演算部とを備えたことを特徴とする
    ピンホール検査装置。
  2. 【請求項2】 ガスが封入された密閉容器を出し入れ可
    能に収容する小空間を有するとともに、この小空間毎に
    吸気孔を有し、間欠的に一定のピッチずつ搬送されるパ
    レットと、 検査位置に搬送されてきた上記パレットの上記吸気孔に
    順次接続して、上記小空間に連通し、この小空間内に上
    記ガスと同種のガスが存在する場合には、その単位時間
    当たりの漏れ量に対応した電圧を有するアナログ信号を
    発生するガス漏れ量検出部と、 このアナログ信号をディジタル信号に変換するA/D変
    換器と、 このディジタル信号から、このディジタル信号の大きさ
    に対応する電圧と時間との関係を表す回帰直線の勾配を
    求め、この勾配と、空気中の上記ガスと同種のガスの場
    合の回帰直線の、予め入力しておいた、勾配の最大値と
    の差を算出し、この差が許容範囲外にある場合は、異常
    信号を出力する第一演算部と、 このディジタル信号と、このディジタル信号の発生の基
    となったデータの検出時点より、予め定めた時間だけさ
    かのぼった時点でのディジタル信号との差を算出し、こ
    の差と、空気中の上記ガスと同種のガスの場合の、上記
    時間と同じ時間だけ間隔を置いた各時点での上記ディジ
    タル信号と同様のディジタル信号間の差の、予め入力し
    ておいた最大値との差が許容範囲外にある場合は、異常
    信号を出力する第二演算部とを備えたことを特徴とする
    ピンホール検査装置。
  3. 【請求項3】 上記ガスを、ヘリウムガスとしたことを
    特徴とする請求項1または2に記載のピンホール検査装
    置。
JP06065926A 1994-04-04 1994-04-04 ピンホール検査装置 Expired - Lifetime JP3105390B2 (ja)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06065926A JP3105390B2 (ja) 1994-04-04 1994-04-04 ピンホール検査装置
US08/537,916 US5633454A (en) 1994-04-04 1995-03-30 Pinhole inspecting apparatus
EP95913381A EP0702222B1 (en) 1994-04-04 1995-03-30 Pinhole detector
CA002163085A CA2163085A1 (en) 1994-04-04 1995-03-30 Pinhole inspecting apparatus
PCT/JP1995/000603 WO1995027193A1 (en) 1994-04-04 1995-03-30 Pinhole detector
AT95913381T ATE208893T1 (de) 1994-04-04 1995-03-30 Vorrichtung zur erkennung von kleinen löchern
ES95913381T ES2167422T3 (es) 1994-04-04 1995-03-30 Detector de picaduras.
AU20842/95A AU688483B2 (en) 1994-04-04 1995-03-30 Pinhole detector
DE69523847T DE69523847T2 (de) 1994-04-04 1995-03-30 Vorrichtung zur erkennung von kleinen löchern

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP06065926A JP3105390B2 (ja) 1994-04-04 1994-04-04 ピンホール検査装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9871999A Division JPH11316169A (ja) 1999-04-06 1999-04-06 ピンホール検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07280687A JPH07280687A (ja) 1995-10-27
JP3105390B2 true JP3105390B2 (ja) 2000-10-30

Family

ID=13301071

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP06065926A Expired - Lifetime JP3105390B2 (ja) 1994-04-04 1994-04-04 ピンホール検査装置

Country Status (9)

Country Link
US (1) US5633454A (ja)
EP (1) EP0702222B1 (ja)
JP (1) JP3105390B2 (ja)
AT (1) ATE208893T1 (ja)
AU (1) AU688483B2 (ja)
CA (1) CA2163085A1 (ja)
DE (1) DE69523847T2 (ja)
ES (1) ES2167422T3 (ja)
WO (1) WO1995027193A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100479009C (zh) * 2004-07-15 2009-04-15 东北先锋电子股份有限公司 具备显示屏的电子设备

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI970665A0 (fi) * 1996-04-15 1997-02-17 Espoon Paineilma Oy Foerfarande foer identifiering av laeckage i en foerpackning isynnerhet livsmedels- och laekemedelsfoerpackning samt foerbaettrande av haollbarheten hos vaetskeformiga livsmedel vilka aer foerpackade i aseptiska kartongfoerpackningar
US6351984B1 (en) * 2000-02-23 2002-03-05 Aradigm Corporation Inspection method and device for non-destructive analysis of a container material
US6763702B2 (en) * 2002-12-19 2004-07-20 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for hermeticity determination and leak detection in semiconductor packaging
DE102004050762A1 (de) * 2004-10-16 2006-04-20 Inficon Gmbh Verfahren zur Lecksuche
US7557482B2 (en) * 2006-07-31 2009-07-07 Caterpillar Inc. Axial-flux electric machine
US20080024035A1 (en) * 2006-07-31 2008-01-31 Caterpillar Inc. Power system
US8823294B2 (en) * 2007-06-27 2014-09-02 Brooks Automation, Inc. Commutation of an electromagnetic propulsion and guidance system
US9097610B2 (en) * 2011-03-16 2015-08-04 Norden Machinery Ab Method and arrangement for leak detection
US8582105B1 (en) * 2012-06-14 2013-11-12 Intermolecular, Inc. Method and apparatus for leak detection in H2Se furnace

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3591944A (en) * 1969-03-03 1971-07-13 Safeway Stores Method and apparatus for detection of leaks in seals of packages
US3744210A (en) * 1971-06-28 1973-07-10 Standard Packaging Corp Packaging machine and method
JPS53113351A (en) * 1977-03-15 1978-10-03 Toshiba Corp Auomatic leak inspecting device
JPS5459191A (en) * 1977-10-19 1979-05-12 Toshiba Corp Method and apparatus for detection of minute leakage
JPS58158533A (ja) * 1982-03-16 1983-09-20 Toshiba Corp リ−クテスト方法
JPS5983118A (ja) * 1982-11-05 1984-05-14 Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> 光海底中継器用ジヨイントチヤンバ
JPH0737912B2 (ja) * 1987-09-22 1995-04-26 食品産業オンラインセンサー技術研究組合 窒素ガス充填包装体におけるリークの検査方法
JPH01270632A (ja) * 1988-04-22 1989-10-27 Mitsubishi Electric Corp 漏洩検知装置
US4905505A (en) * 1989-03-03 1990-03-06 Atlantic Richfield Company Method and system for determining vapor pressure of liquid compositions
US5029463A (en) * 1990-03-01 1991-07-09 American Air Liquide Leak detection device for in-line measurement of package integrity

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100479009C (zh) * 2004-07-15 2009-04-15 东北先锋电子股份有限公司 具备显示屏的电子设备

Also Published As

Publication number Publication date
EP0702222A4 (en) 1998-09-16
EP0702222A1 (en) 1996-03-20
ATE208893T1 (de) 2001-11-15
EP0702222B1 (en) 2001-11-14
DE69523847T2 (de) 2002-06-27
AU688483B2 (en) 1998-03-12
DE69523847D1 (de) 2001-12-20
US5633454A (en) 1997-05-27
AU2084295A (en) 1995-10-23
JPH07280687A (ja) 1995-10-27
CA2163085A1 (en) 1995-10-12
WO1995027193A1 (en) 1995-10-12
ES2167422T3 (es) 2002-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3105390B2 (ja) ピンホール検査装置
JP3001820B2 (ja) 容器の漏れ試験方法及び装置
JP2009244284A (ja) 漏れを検査しかつ漏れの箇所をつきとめるための方法ならびに該方法を実施するために適した装置
JP4637949B2 (ja) 閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験システム
US20050115306A1 (en) Method for testing containers, use of the method, and a testing device
JPH0257533A (ja) 密閉容器のリーク検査方法
CN107003204B (zh) 用箔室内运载气体进行无泄漏测试
US8955370B1 (en) Detection of gas leakage
JP2583880B2 (ja) パックの気密性検査方法及び装置
US20190226939A1 (en) Method for inspecting a seal of a flexible container
US3805595A (en) Apparatus for testing leakage
US20030033857A1 (en) Apparatus and method to detect leaks in sealed packages
JP4167900B2 (ja) 多層複合材およびこれから作られた容器の試験方法および装置
CN113825992A (zh) 用于识别密封容器是否存在泄漏的方法和装置
JPH11316169A (ja) ピンホール検査装置
JPS60127438A (ja) 密封容器の漏洩検査方法及びその装置
JP4091367B2 (ja) リーク検査方法
JP2001004481A (ja) 漏れ量計測装置、および漏れ検査装置
WO1998026265A3 (de) Verfahren und vorrichtung zur zerstörungsfreien dichtigkeitsprüfung von mit flüssigkeit gefüllten behältnissen
JP2002134164A (ja) 密封容器のリーク検知方法及びリーク検知装置
JPH09115555A (ja) 電池の気密性の検査方法及び検査装置
JPS5844325A (ja) 容器の漏れ検査装置
JPS63101728A (ja) 密封包装体のピンホ−ル有無検査装置
EP1469296A1 (en) Process and apparatus for checking sealor tightness of a package made of flexible or semirigid material
JPH07286933A (ja) 洩れ検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090901

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120901

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140901

Year of fee payment: 14

EXPY Cancellation because of completion of term