JP3098069B2 - Defect detection device in metal - Google Patents
Defect detection device in metalInfo
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Description
【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、金属材中に混入して
いる欠陥を検出する欠陥検出装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a defect detecting device for detecting a defect mixed in a metal material.
【0002】[0002]
【従来の技術】銅線等の製造工程においては、銅線中に
鉄片等の非磁性異物が混入していると、これが各伸線工
程等における断線の原因となる。したがって、各伸線工
程等に入る前に予め磁性異物の有無を検査することが必
要である。従来、この磁性異物の検査には次の様な方法
が採られている。すなわち、図3に示すように直流高磁
界Ho中において銅線1を高速度、例えば、V=900
m/mmで走行させる。また、直流高磁界Ho中の銅線
1の走行経路に沿って、検出コイル2を配置する。そし
て、銅線1中に磁性異物3が混入していると、この磁性
異物3が磁界Ho中を通過する際、検出コイル2内の磁
束φが変化し、この結果、同検出コイル2に、下記数1
によって示される起電力が発生する。2. Description of the Related Art In a manufacturing process of a copper wire or the like, if a non-magnetic foreign material such as an iron piece is mixed in the copper wire, this causes a disconnection in each drawing process or the like. Therefore, it is necessary to inspect the presence or absence of a magnetic foreign substance before starting each wire drawing step. Conventionally, the following method has been adopted for inspection of this magnetic foreign matter. That is, high speed copper wire 1 in a DC high a magnetic field H o, as shown in FIG. 3, for example, V = 900
Run at m / mm. Also, along the travel path of the copper wire 1 in the DC high magnetic field H o, placing the detection coil 2. When the magnetic foreign object 3 in the copper wire 1 is mixed, when the magnetic foreign object 3 passes through the magnetic field H o, the magnetic flux φ is varied in the detection coil 2, as a result, in the detection coil 2 , The following number 1
Generates an electromotive force represented by.
【数1】 ただし、上記において、Nは検出コイル2のターン数で
ある。この検出コイル2に発生した起電力に基づいて磁
性異物3の検出を行なう。(Equation 1) Here, in the above, N is the number of turns of the detection coil 2. The detection of the magnetic foreign substance 3 is performed based on the electromotive force generated in the detection coil 2.
【0003】ところで、上述した磁性異物の検出方法に
おける問題点は、銅線1の振動に起因する雑音である。
すなわち、磁界Ho中の銅線1が振動すると、銅線1に
渦電流が発生し、この渦電流によって検出コイル2内の
磁束φが変化し、検出コイル2に雑音電圧が発生する。
このような雑音には、大きく分けて次の2種類がある。
その1は、銅線1が比較的波長の長い振動を行なうこと
によって発生する雑音(以下、長波長雑音と称す)であ
り、この長波長雑音は比較的低い周波数の雑音となる。
また、その2は、銅線1に波長の短い進行波が生ずるこ
とにより発生する雑音(以下、進行波雑音と称す)であ
り、この進行波雑音は比較的高い周波数の雑音となる。
なお、上述した2種類の雑音の周波数成分および鉄片3
によって発生する検出信号の周波数成分を図4に示す。
この図において曲線Aは長波長雑音の周波数成分を、曲
線Bは検出信号の周波数成分を各々示している。また、
実際の雑音は、上述した2種類の雑音が複雑に入り組ん
だものとなる。これら2種類の雑音が検出信号と共に検
出されてしまうため、図3に示す検出コイル1個による
磁性異物検出方法は、実用上充分な検出能力、言い換え
れば満足すべきS/N(信号成分対雑音成分比)を得る
ことができない。A problem in the above-described method for detecting a magnetic foreign matter is noise caused by vibration of the copper wire 1.
That is, when the copper wire 1 in a magnetic field H o vibrates, eddy current is generated in the copper wire 1, the magnetic flux of the eddy current in the detection coil 2 phi is changed, the noise voltage is generated in the detection coil 2.
Such noise is roughly classified into the following two types.
No. 1 is noise generated by the copper wire 1 oscillating with a relatively long wavelength (hereinafter, referred to as long wavelength noise), and the long wavelength noise is noise of a relatively low frequency.
No. 2 is noise (hereinafter, referred to as traveling wave noise) generated when a traveling wave having a short wavelength is generated in the copper wire 1, and this traveling wave noise becomes relatively high frequency noise.
The frequency components of the two types of noise and the iron piece 3
FIG. 4 shows frequency components of the detection signal generated by the above.
In this figure, the curve A shows the frequency component of the long wavelength noise, and the curve B shows the frequency component of the detection signal. Also,
Actual noise is a complex combination of the above two types of noise. Since these two kinds of noise are detected together with the detection signal, the magnetic foreign matter detection method using one detection coil shown in FIG. 3 has a practically sufficient detection capability, in other words, a satisfactory S / N (signal component to noise). Component ratio) cannot be obtained.
【0004】そこで、従来、これらの雑音を除去するた
めに、種々の構成が考えられた。例えば図5は、銅線1
の走行経路に沿って位置をずらして2個の検出コイル2
aおよび2bを配置し、これらの検出コイル2aおよび
2bを差動結合したもので、この構成によって長波長雑
音を除去することが可能である。すなわち、銅線1が振
動し、この振動によって検出コイル2aに例えば図6
(イ)に示す雑音信号が発生したとする。この場合、銅
線1の振動の波長が比較的長いとすると、検出コイル2
bにも図6(ロ)に示すように検出コイル2aに発生す
る雑音信号と同相の雑音信号が略同時に発生する。これ
らの雑音信号は、検出コイル2aおよび2bが差動結合
されていることから、検出コイル2aおよび2b内で互
いに打消され、外部に出力されることはない。このよう
な構成を採ることにより、長波長雑音を図3の構成の場
合の1/10〜1/20にすることが可能である。Therefore, conventionally, various configurations have been considered to remove these noises. For example, FIG.
The two detection coils 2 are displaced along the travel path of
a and 2b are arranged, and these detection coils 2a and 2b are differentially coupled. With this configuration, it is possible to remove long-wavelength noise. That is, the copper wire 1 vibrates, and the vibration causes the detection coil 2a to have, for example, the state shown in FIG.
It is assumed that the noise signal shown in FIG. In this case, assuming that the wavelength of the vibration of the copper wire 1 is relatively long, the detection coil 2
As shown in FIG. 6B, a noise signal having the same phase as that of the noise signal generated in the detection coil 2a is generated substantially simultaneously in b. Since these noise signals are differentially coupled to the detection coils 2a and 2b, they are mutually canceled in the detection coils 2a and 2b and are not output to the outside. By adopting such a configuration, it is possible to reduce long-wavelength noise to 1/10 to 1/20 of the case of the configuration in FIG.
【0005】しかしながら、上述した構成によっても進
行波雑音を除去することは不可能である。すなわち、銅
線1に波長の短い進行波が生じた場合、この進行波によ
って検出コイル2aおよび2bに各々生じる雑音信号
は、図7(イ)、(ロ)に例示するように位相がずれた
ものとなる。従って、これらの雑音信号を差動結合によ
って打消すことは、不可能である。However, it is impossible to remove traveling wave noise by the above-mentioned configuration. That is, when a traveling wave having a short wavelength is generated in the copper wire 1, the noise signal generated in each of the detection coils 2a and 2b due to the traveling wave has a phase shift as illustrated in FIGS. 7A and 7B. It will be. Therefore, it is impossible to cancel these noise signals by differential coupling.
【0006】そこで、本願出願人は、上記問題を解決す
るため、特願昭55−136105号(特公平2−11
864号)にて、図8に構成を示す磁性異物検出装置を
提案するに至った。この図において、直流高磁界H中を
走行する銅線11(非磁性材)の走行経路に沿って、互
いに位置をずらして3個の検出コイル12a,12b,
12cが各々等間隔で配置されている。そして、検出コ
イル12aの出力は演算回路13の同相増幅器14へ、
検出コイル12bの出力は演算回路13の反転増幅器1
5および演算回路16の反転増幅器17へ、また、検出
コイル12cの出力は演算回路16の同相増幅器18へ
各々供給される。また、同相増幅器14の出力および反
転増幅器15の出力は各々加算回路19へ供給され、反
転増幅器17の出力および同相増幅器18の出力は各々
加算回路20へ供給される。加算回路19は同相増幅器
14の出力および反転増幅器15の出力を加算するもの
で、その出力は加算回路33へ供給される。加算回路2
0は反転増幅器17の出力および同相増幅器18の出力
を加算するもので、その出力は加算回路33へ供給され
る。加算回路33は加算回路19および20の出力を加
算し、加算結果を信号処理回路(図示略)へ出力する。In order to solve the above-mentioned problems, the applicant of the present application has filed Japanese Patent Application No. 55-136105 (Japanese Patent Publication No.
No. 864) has come to propose a magnetic foreign matter detection device having the configuration shown in FIG. In this figure, three detection coils 12a, 12b, and 3a are displaced from each other along a traveling path of a copper wire 11 (non-magnetic material) traveling in a DC high magnetic field H.
12c are arranged at equal intervals. Then, the output of the detection coil 12a is sent to the in-phase amplifier 14 of the arithmetic circuit 13.
The output of the detection coil 12b is the inverting amplifier 1 of the arithmetic circuit 13.
5 and the output of the detection coil 12c are supplied to the inverting amplifier 17 of the arithmetic circuit 16 and the in-phase amplifier 18 of the arithmetic circuit 16, respectively. The output of the in-phase amplifier 14 and the output of the inverting amplifier 15 are respectively supplied to an adding circuit 19, and the output of the inverting amplifier 17 and the output of the in-phase amplifier 18 are each supplied to an adding circuit 20. The adding circuit 19 adds the output of the in-phase amplifier 14 and the output of the inverting amplifier 15, and the output is supplied to the adding circuit 33. Addition circuit 2
0 adds the output of the inverting amplifier 17 and the output of the in-phase amplifier 18, and the output is supplied to the adding circuit 33. The addition circuit 33 adds the outputs of the addition circuits 19 and 20, and outputs the addition result to a signal processing circuit (not shown).
【0007】以上の構成において、検出コイル12a,
12b、演算回路13および検出コイル12b,12
c,演算回路16は各々差動ブリッジ回路を構成してお
り、この回路構成によって長波長雑音を除去することが
可能である。すなわち、銅線11が比較的長い波長で振
動し、これにより、検出コイル12a,12bに各々図
9(イ)および(ロ)に示す同相の雑音信号が発生した
場合、これらの雑音信号は各々同相増幅器14および反
転増幅器15によって増幅され、図9(ハ)および
(ニ)に示す信号となる。すなわち、同相増幅器14お
よび反転増幅器15の各出力が互いに逆相となる。そし
て、これらの出力が加算回路19によって加算される
と、同加算回路19の出力は図9(ホ)に示すように略
零となる。このようにして、検出コイル12a,12b
に各々生じた長波長雑音は加算回路19の出力端に表わ
れない。同様に、検出コイル12bおよび12cに生じ
た長波長雑音は加算回路20によって相殺され、加算回
路20の出力端には表われない。In the above configuration, the detection coils 12a,
12b, arithmetic circuit 13 and detection coils 12b, 12
c and the arithmetic circuit 16 each constitute a differential bridge circuit, and it is possible to remove long-wavelength noise by this circuit configuration. That is, when the copper wire 11 oscillates at a relatively long wavelength, thereby generating in-phase noise signals shown in FIGS. 9A and 9B in the detection coils 12a and 12b, these noise signals are The signal is amplified by the in-phase amplifier 14 and the inverting amplifier 15 and becomes a signal shown in FIGS. That is, the outputs of the in-phase amplifier 14 and the inverting amplifier 15 have phases opposite to each other. Then, when these outputs are added by the adding circuit 19, the output of the adding circuit 19 becomes substantially zero as shown in FIG. Thus, the detection coils 12a, 12b
Does not appear at the output terminal of the adder circuit 19. Similarly, the long-wavelength noise generated in the detection coils 12b and 12c is canceled by the addition circuit 20, and does not appear at the output terminal of the addition circuit 20.
【0008】すなわち、検出コイル12a〜12cに生
じた同相の長波長雑音は、いずれも演算回路13および
16によって除去される。次に、銅線11中に混入して
いる鉄片23(磁性異物)を検出する場合について説明
する。鉄片23が検出コイル12a〜12cを順次通過
すると、検出コイル12a〜12cに各々図10(イ)
〜(ハ)に示す位相が180°づつずれた検出信号が発
生する。これらの検出信号は各々同相増幅器14、反転
増幅器15,17、同相増幅器18によって増幅され、
図10(ニ)〜(ヘ)に示す信号となる。なお、図10
(ホ)は反転増幅器15,17の出力を共に示してい
る。そして、図10(ニ)に示す信号と(ホ)に示す信
号とが加算回路19によって加算されると、図10
(ト)に示す信号が加算回路19から出力され、また、
図10(ホ)に示す信号と(ヘ)に示す信号とが加算回
路20によって加算されると、図10(チ)に示す信号
が加算回路20から出力される。これら加算回路19,
20の各出力(図10(ト),(チ))は加算回路33
よって加算され、同加算回路33から図10(リ)に示
す磁性異物検出信号が出力される。That is, the in-phase long-wavelength noise generated in the detection coils 12 a to 12 c is removed by the arithmetic circuits 13 and 16. Next, the case of detecting the iron piece 23 (magnetic foreign matter) mixed in the copper wire 11 will be described. When the iron piece 23 sequentially passes through the detection coils 12a to 12c, the detection coils 12a to 12c are respectively applied to the detection coils 12a to 12c as shown in FIG.
(C) The detection signals whose phases are shifted by 180 ° are generated. These detection signals are amplified by a common mode amplifier 14, inverting amplifiers 15, 17 and a common mode amplifier 18, respectively.
The signals shown in FIGS. Note that FIG.
(E) shows the outputs of the inverting amplifiers 15 and 17 together. Then, when the signal shown in FIG. 10D and the signal shown in FIG.
The signal shown in (g) is output from the addition circuit 19, and
When the signal shown in FIG. 10E and the signal shown in FIG. 10F are added by the adding circuit 20, the signal shown in FIG. 10H is output from the adding circuit 20. These adders 19,
20 (FIGS. 10 (G) and 10 (H)) are added to an adder circuit 33.
Accordingly, the addition is performed, and a magnetic foreign matter detection signal shown in FIG.
【0009】ここで、この磁性異物検出信号の振幅につ
いて考察する。例えば、図5に示す構成において、鉄片
3が検出コイル2a,2bを順次通過したとき、検出コ
イル2a,2bに各々図10(イ),(ロ)に示す検出
信号が得られたとする。これらの検出信号は検出コイル
2a,2bが差動結合されていることから反転加算さ
れ、端子T1,T2(図5)間に図10(ト)に示す信号
が得られる。この図10(ト)に示す信号と図10
(リ)に示す磁性異物検出信号とを比較することにより
明らかなように、図10(リ)に示す磁性異物検出信号
は図5に示す構成による検出出力の2倍の振幅を得るこ
とができる。Here, the amplitude of the magnetic foreign matter detection signal will be considered. For example, in the configuration shown in FIG. 5, it is assumed that when the iron piece 3 sequentially passes through the detection coils 2a and 2b, the detection signals shown in FIGS. 10A and 10B are obtained in the detection coils 2a and 2b, respectively. These detection signals are inverted and added because the detection coils 2a and 2b are differentially coupled, and a signal shown in FIG. 10G is obtained between the terminals T1 and T2 (FIG. 5). The signal shown in FIG.
As is clear from comparison with the magnetic foreign matter detection signal shown in (i), the magnetic foreign matter detection signal shown in (i) of FIG. 10 can obtain twice the amplitude of the detection output by the configuration shown in FIG. .
【0010】次に、進行波雑音を除去するための構成を
説明する。図8において、符号26,27は各々同一構
成の加算・反転回路である。加算・反転回路26はハイ
バスフィルタ(以下、HPFと略称する)28a,29
aと、これらHPF28a,29aの各出力を加算する
加算回路30aと、この加算回路30aの出力を反転し
て出力する反転回路31aとから構成されており、ま
た、HPF28a,29aのカットオフ周波数は図4に
示す曲線BとCとの交点の周波数となっている。そし
て、HPF28a,29aには各々同相増幅器14、反
転増幅器15の各出力が供給され、反転回路31aの出
力は加算回路33へ供給される。また、反転・加算回路
27のHPF28b,29bには、各々反転増幅器1
7、同相増幅器18の各出力が供給され、反転回路31
bの出力は加算回路33へ供給される。加算回路33は
上述した反転回路31a,31bの各出力および加算回
路19,20の各出力を共に加算するもので、その出力
は信号処理回路(図示略)へ供給される。Next, a configuration for removing traveling wave noise will be described. In FIG. 8, reference numerals 26 and 27 denote addition / inversion circuits each having the same configuration. The addition / inversion circuit 26 includes high-pass filters (hereinafter abbreviated as HPFs) 28a and 29
a, an adding circuit 30a for adding the outputs of the HPFs 28a and 29a, and an inverting circuit 31a for inverting and outputting the output of the adding circuit 30a. The cutoff frequency of the HPFs 28a and 29a is It is the frequency at the intersection of curves B and C shown in FIG. The outputs of the in-phase amplifier 14 and the inverting amplifier 15 are supplied to the HPFs 28a and 29a, respectively, and the output of the inverting circuit 31a is supplied to the adding circuit 33. The HPFs 28b and 29b of the inverting / adding circuit 27 have inverting amplifiers 1 respectively.
7. Each output of the common mode amplifier 18 is supplied to the inverting circuit 31
The output of b is supplied to the addition circuit 33. The addition circuit 33 adds together the outputs of the inversion circuits 31a and 31b and the outputs of the addition circuits 19 and 20, and the output is supplied to a signal processing circuit (not shown).
【0011】以上の構成において、銅線11の波長の短
かい進行波が発生し、これにより検出コイル12a〜1
2cに各々図11(イ)〜(ハ)に示す進行波雑音信号
が発生した場合について説明する。これらの雑音信号は
各々同相増幅器14、反転増幅器15,17、同相増幅
器18によって増幅された後、加算回路19、20およ
びHPF28a,29a,28b,29bの各入力端へ
供給される。加算回路19は同相増幅器14および反転
増幅器15の各出力端を加算し、図10(ニ)に示す信
号として、加算回路33へ出力する。加算回路21は反
転増幅器17および同相増幅器18の各出力を加算し、
図11(ホ)に示す信号として、加算回路33へ出力す
る。一方、HPF28a,29aの各入力端へ供給され
た信号は各々、これらの信号の周波数がHPF28a,
29aのカットオフ周波数より高いことから(第2図参
照)、HPF28a,29aを介して加算回路30aへ
供給され、この結果、加算回路30aの出力端から図1
1(ニ)に示す信号と略同一の信号が出力される。そし
て、この信号は反転回路31aによって反転され、第1
0図へ示す信号として加算回路33へ印加される。同様
に、HPF28b,29bの各入力端へ印加された信号
は、加算回路30bによって加算された後、反転回路3
1bによって反転され、第10図(ト)に示す信号とし
て加算回路33へ印加される。そして、上述した加算回
路19,20の出力および反転回路31a,31bの出
力(図11図(ニ)〜(ト)に示す信号)が加算回路3
3によって加算されると、加算回路33の出力が零とな
る。すなわち、検出コイル12a〜12cの各々進行波
雑音信号が生じた場合、これらの雑音信号はいずれも加
算回路33によって相殺され、加算回路33の出力端に
表われることはない。なお、銅線11に混入している鉄
片23が検出コイル12a,12b,12cを通過する
ことにより発せられた信号は、HPF28a,29a,
28b,29bにも供給されるが、HPF28a〜29
bのカットオフ周波数が鉄片23によって発生する信号
の周波数より大に設定されているから、そこで遮断され
る。In the above configuration, a traveling wave having a short wavelength of the copper wire 11 is generated, whereby the detection coils 12a to 1a are generated.
The case where the traveling wave noise signals shown in FIGS. 11A to 11C are generated in FIG. 2C will be described. These noise signals are amplified by the in-phase amplifier 14, the inverting amplifiers 15, 17 and the in-phase amplifier 18, respectively, and then supplied to the input terminals of the adders 19 and 20, and the HPFs 28a, 29a, 28b and 29b. The addition circuit 19 adds the output terminals of the in-phase amplifier 14 and the inverting amplifier 15 and outputs the result to the addition circuit 33 as a signal shown in FIG. The addition circuit 21 adds the outputs of the inverting amplifier 17 and the in-phase amplifier 18,
The signal is output to the addition circuit 33 as a signal shown in FIG. On the other hand, the signals supplied to the respective input terminals of the HPFs 28a and 29a have the frequencies of these signals, respectively.
Since the cutoff frequency is higher than the cutoff frequency of the adder circuit 29a (see FIG. 2), it is supplied to the adder circuit 30a via the HPFs 28a and 29a.
A signal substantially the same as the signal shown in FIG. Then, this signal is inverted by the inverting circuit 31a, and the first
The signal shown in FIG. Similarly, the signals applied to the respective input terminals of the HPFs 28b and 29b are added by an adding circuit 30b and then added to the inverting circuit 3
The signal is inverted by 1b and applied to the adder circuit 33 as a signal shown in FIG. The outputs of the adders 19 and 20 and the outputs of the inverting circuits 31a and 31b (the signals shown in FIGS.
When they are added by 3, the output of the adding circuit 33 becomes zero. That is, when traveling wave noise signals are generated in each of the detection coils 12a to 12c, these noise signals are all canceled by the addition circuit 33 and do not appear at the output terminal of the addition circuit 33. The signal generated when the iron piece 23 mixed in the copper wire 11 passes through the detection coils 12a, 12b, 12c is output from the HPFs 28a, 29a,
28b, 29b.
Since the cutoff frequency of b is set higher than the frequency of the signal generated by the iron piece 23, the cutoff frequency is cut off there.
【0012】[0012]
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
図8に示す構成によれば、磁性異物検出信号の振幅を、
図5に示す構成に比較し2倍とすることができると共
に、長波長雑音、進行波雑音を共に除去することが可能
である。しかしながら、同相増幅器14および反転増幅
器15等はそれら自体が遅延要素を含んでいる。このた
め、磁性異物の通過に伴って各検出コイルから発生され
る各信号が、同相増幅器14および反転増幅器15等に
よって増幅される際に位相回転が生じ、しかも、この位
相回転の量は各検出コイルから得られる信号の周波数に
依存する。従って、各検出コイルから得られる信号が相
互に180゜位相がずれた状態で加算回路19に入力さ
れるようにすることは難しく、大きな振幅の磁性異物検
出信号が得られないことが多い。また、銅線11の走行
状態によっては、極めて大きなレベルの雑音が検出コイ
ルによって検出されることがある。このような場合、図
8の構成を以てしても、充分な大きさの磁性異物検出信
号が得られず、除去されずに残った雑音信号中に磁性異
物検出信号が埋れてしまい、磁性異物を検出することが
できないことがあるという問題があった。この発明は上
述した事情に鑑みてなされたものであり、より大きな振
幅の検出信号が得られる欠陥検出装置を提供することを
目的とする。As described above,
According to the configuration shown in FIG. 8, the amplitude of the magnetic foreign matter detection signal is
In addition to being twice as large as the configuration shown in FIG. 5, it is possible to remove both long-wave noise and traveling-wave noise. However, the in-phase amplifier 14 and the inverting amplifier 15, etc., themselves include delay elements. For this reason, when each signal generated from each detection coil due to the passage of the magnetic foreign matter is amplified by the in-phase amplifier 14 and the inverting amplifier 15, etc., a phase rotation occurs, and the amount of this phase rotation is determined by each detection. It depends on the frequency of the signal obtained from the coil. Therefore, it is difficult to input the signals obtained from the respective detection coils to the adder circuit 19 in a state where the signals are 180 ° out of phase with each other, and in many cases, a magnetic foreign matter detection signal having a large amplitude cannot be obtained. Also, depending on the traveling state of the copper wire 11, an extremely large level of noise may be detected by the detection coil. In such a case, even with the configuration of FIG. 8, a sufficiently large magnetic foreign matter detection signal cannot be obtained, and the magnetic foreign matter detection signal is buried in the noise signal remaining without being removed. There has been a problem that detection may not be possible. The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a defect detection device capable of obtaining a detection signal having a larger amplitude.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】請求項1に係る発明によ
る欠陥検出装置は、直流磁界中に金属材を走行させ、前
記金属材中に混入している欠陥を、同欠陥によって生じ
る前記直流磁界の変化に基づいて検出する欠陥検出装置
において、(a)前記直流磁界中の、前記金属材の走行
経路に沿って、互いに位置をずらして配置された複数の
検出コイルと、(b)互いに隣り合った2個の前記検出
コイルのうち、一方の検出コイルの出力を反転すると共
に、この反転出力および他方の検出コイルの出力のうち
一方の位相をシフトして両者を加算して出力する回路で
あって、前記位相をシフトする際のシフト量を調整し得
るように構成された少なくとも1個の第1の演算回路と
を具備することを特徴とする。請求項2に係る発明によ
る欠陥検出装置は、前記請求項1に係る発明による欠陥
検出装置において、前記互いに隣り合った2個の検出コ
イルのうち、一方の検出コイルの出力を反転し、他方の
検出コイルの出力と加算する少なくとも1個の第2の演
算回路と、前記第1および第2の演算回路の各出力を加
算する加算回路とを具備することを特徴とする。請求項
3に係る発明による欠陥検出装置は、前記請求項2に係
る発明による欠陥検出装置において、少なくとも3個の
前記検出コイルを有すると共に、これらの検出コイルの
うち互いに隣り合った2個の検出コイルからなる各組に
対して接続される複数組の前記第1および第2の演算回
路と、これら各組における第1および第2の演算回路の
各出力を加算する加算回路とを具備することを特徴とす
る。According to a first aspect of the present invention, there is provided a defect detecting apparatus for driving a metal material in a direct current magnetic field to detect a defect mixed in the metal material with the direct current magnetic field generated by the defect. (A) a plurality of detection coils which are arranged at positions shifted from each other along a traveling path of the metal material in the DC magnetic field; A circuit that inverts the output of one of the two detection coils, shifts the phase of one of the inverted output and the output of the other detection coil, adds the two, and outputs the result. And at least one first arithmetic circuit configured to adjust a shift amount when the phase is shifted. A defect detection device according to a second aspect of the present invention is the defect detection device according to the first aspect, wherein the output of one of the two detection coils adjacent to each other is inverted, and the output of the other detection coil is inverted. It is characterized by comprising at least one second arithmetic circuit for adding to the output of the detection coil, and an adding circuit for adding each output of the first and second arithmetic circuits. A defect detecting device according to a third aspect of the present invention is the defect detecting device according to the second aspect of the present invention, wherein the defect detecting device includes at least three detection coils and detects two adjacent detection coils among these detection coils. A plurality of sets of the first and second arithmetic circuits connected to each set of coils, and an adder circuit for adding each output of the first and second arithmetic circuits in each set. It is characterized by.
【0014】[0014]
【作用】上記各構成によれば、上記第1の演算回路にお
ける位相のシフト量を調整することにより、欠陥の通過
に伴って各検出コイルから得られる信号を相互に位相が
180゜ずれた状態で加算することができる。従って、
大きな振幅の検出信号が得られる。According to each of the above arrangements, the signals obtained from the respective detection coils are shifted by 180 ° from each other with the passage of the defect by adjusting the amount of phase shift in the first arithmetic circuit. Can be added. Therefore,
A large amplitude detection signal is obtained.
【0015】[0015]
【実施例】以下、図面を参照し、この発明の一実施例を
説明する。図1はこの発明の一実施例による磁性異物検
出装置の構成を示すブロック図である。この図に示すよ
うに、銅線11が走行する経路に沿って、互いに位置を
ずらして4個の検出コイル12a,12b,12c,1
2dが配置されている。ここで、検出コイル12aおよ
び12b間の距離と検出コイル12cおよび12d間の
距離は略等しく、検出コイル12bおよび12cの距離
よりも短くなっている。また、検出コイル12aおよび
12bと検出コイル12cおよび12dは、各々差動結
合されている。そして、差動結合された検出コイル12
aおよび12bには検出ユニット100が接続され、差
動結合された検出コイル12cおよび12dには検出ユ
ニット100と全く同じ構成の検出ユニット200が接
続されている。An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a magnetic foreign matter detection device according to one embodiment of the present invention. As shown in this figure, four detection coils 12a, 12b, 12c, 1 are displaced from each other along the path along which copper wire 11 travels.
2d are arranged. Here, the distance between the detection coils 12a and 12b and the distance between the detection coils 12c and 12d are substantially equal and shorter than the distance between the detection coils 12b and 12c. The detection coils 12a and 12b and the detection coils 12c and 12d are each differentially coupled. Then, the differentially coupled detection coil 12
A detection unit 100 is connected to a and 12b, and a detection unit 200 having exactly the same configuration as the detection unit 100 is connected to the differentially coupled detection coils 12c and 12d.
【0016】次に検出ユニット100の構成を説明す
る。検出コイル12aの出力は同相増幅器101へ、ま
た、検出コイル12bの出力は反転増幅器102へ、各
々供給される。また、同相増幅器101は各々入力信号
に対して同相の出力信号CおよびDを位相シフト加算回
路103および加算回路104の各々の第1入力端へ供
給する。また、反転増幅器102は各々入力信号に対し
て逆相の出力信号EおよびFを位相シフト加算回路10
3および加算回路104の各々の第2入力端へ供給す
る。ここで、位相シフト加算回路103は、第1入力端
への入力信号を時間軸上においてシフトさせ、第2入力
端への入力信号と加算して出力するものであり、該シフ
ト量をボリューム調整等によって調整し得るように構成
されている。位相シフト加算回路103および加算回路
104の各出力は加算回路105によって加算され、こ
の加算結果が磁性異物検出信号として検出ユニット10
0から出力される。各検出ユニット100および200
の各磁性異物検出信号は差動増幅器300によって差動
増幅されて出力される。Next, the configuration of the detection unit 100 will be described. The output of the detection coil 12a is supplied to the in-phase amplifier 101, and the output of the detection coil 12b is supplied to the inverting amplifier 102. Further, the in-phase amplifier 101 supplies output signals C and D, which are in phase with respect to the input signal, to first input terminals of the phase shift addition circuit 103 and the addition circuit 104, respectively. The inverting amplifier 102 outputs the output signals E and F, each having a phase opposite to that of the input signal, to the phase shift addition
3 and the second input terminal of each of the adders 104. Here, the phase shift addition circuit 103 shifts the input signal to the first input terminal on the time axis, adds the input signal to the second input terminal, and outputs the resultant signal. It is configured to be able to be adjusted by the above. The outputs of the phase shift addition circuit 103 and the addition circuit 104 are added by an addition circuit 105, and the addition result is used as a magnetic foreign matter detection signal by the detection unit 10.
Output from 0. Each detection unit 100 and 200
Are differentially amplified by the differential amplifier 300 and output.
【0017】以下、この磁性異物検出装置の動作を説明
する。銅線11において比較的長い波長の振動が発生し
た場合、検出コイル12aおよび12b から略同相の
信号AおよびBが各々出力される。この場合、位相シフ
ト加算回路103においては、信号Aに対して同相の信
号Cを所定量シフトしたものと信号Bに対して逆相の信
号Eとが加算される。ここで、信号Cの波長が長いの
で、信号Cのシフト動作は全く無視してよく、位相シフ
ト加算回路103においては、略逆相関係にある2つの
信号が加算されると考えてよい。従って、位相シフト加
算回路103における加算結果は0になり、長波長雑音
は位相シフト加算回路103より後段へは伝播しない。
また、加算回路104においては、信号Aに対して同相
の信号Dと信号Bに対して逆相の信号Fとが加算される
ので加算結果は0になる。従って、長波長雑音は位相シ
フト加算回路104より後段へは伝播しない。このよう
に、長波長雑音は検出ユニット100内において除去さ
れ、検出ユニット100から出力されることはない。The operation of the magnetic foreign matter detecting device will be described below. When vibration of a relatively long wavelength occurs in the copper wire 11, signals A and B having substantially the same phase are output from the detection coils 12a and 12b, respectively. In this case, the phase shift addition circuit 103 adds the signal A in phase with the signal A by a predetermined amount and the signal E in phase opposite to the signal B. Here, since the wavelength of the signal C is long, the shift operation of the signal C may be neglected at all, and it may be considered that the phase shift addition circuit 103 adds two signals having substantially opposite phases. Therefore, the addition result in the phase shift addition circuit 103 becomes 0, and the long wavelength noise does not propagate to the subsequent stage from the phase shift addition circuit 103.
In addition, in the adder circuit 104, the signal D having the same phase as the signal A and the signal F having the opposite phase with respect to the signal B are added, so that the addition result becomes zero. Therefore, the long-wavelength noise does not propagate to a stage subsequent to the phase shift adding circuit 104. As described above, the long wavelength noise is removed in the detection unit 100 and is not output from the detection unit 100.
【0018】次に図2を参照し、鉄片23を検出する動
作について説明する。鉄片23が検出コイル12a〜1
2dを順次通過したとする。この結果、検出コイル12
aから図2(イ)に示す信号Aが出力され、次いで図2
(ロ)に示すように、信号Aよりも位相の遅れた信号B
が検出コイル12bから出力される。そして、信号Aに
対して同相の増幅出力CおよびDが同相増幅器101か
ら出力され(図2(ハ))、信号Bに対して逆相の増幅
出力EおよびFが反転増幅器102から出力される(図
2(ニ))。そして、位相シフト加算回路Cにより、信
号Cが位相角φ相当シフトされてから信号Eと加算され
る。ここで、信号Cをシフトする際の位相角φは、信号
Cをシフトした結果得られる波形と、信号Eとの位相差
が180度になるようにボリューム調整により調整され
る。このように調整することにより、図2(ホ)に示す
ように大きな振幅の出力信号Gが位相シフト加算回路1
03から得られる。一方、加算回路104では信号Dお
よびFが加算される。ここで、信号Fの信号Dに対する
位相遅れが180度よりも大きい場合、図2(へ)に示
すように、加算器104の出力信号Hの振幅は位相シフ
ト加算回路103の出力信号Gの振幅よりは小さなもの
となる。そして、信号GおよびHが加算回路105によ
って加算され、図2(ト)に示す磁性異物検出信号Kが
加算回路105から出力される。このように、磁性異物
が通過することによって信号CおよびEが得られた場合
に、信号Cと信号Eとの位相差が180度になるように
信号Cの位相をシフトした後、信号Eとの加算を行うの
で、大きな振幅の磁性異物検出信号を得ることができ
る。Next, the operation of detecting the iron piece 23 will be described with reference to FIG. The iron piece 23 is the detection coil 12a-1.
It is assumed that 2d passes sequentially. As a result, the detection coil 12
The signal A shown in FIG. 2 (a) is output from FIG.
As shown in (b), the signal B having a phase delayed from the signal A
Is output from the detection coil 12b. Amplified outputs C and D in phase with respect to signal A are output from in-phase amplifier 101 (FIG. 2C), and amplified outputs E and F in phase opposite to signal B are output from inverting amplifier 102. (FIG. 2 (d)). Then, the signal C is shifted by the phase angle φ by the phase shift addition circuit C and then added to the signal E. Here, the phase angle φ when shifting the signal C is adjusted by volume adjustment so that the phase difference between the waveform obtained as a result of shifting the signal C and the signal E becomes 180 degrees. By performing such adjustment, the output signal G having a large amplitude is supplied to the phase shift addition circuit 1 as shown in FIG.
03. On the other hand, the signals D and F are added in the adding circuit 104. Here, when the phase delay of the signal F with respect to the signal D is larger than 180 degrees, the amplitude of the output signal H of the adder 104 is equal to the amplitude of the output signal G of the phase shift addition circuit 103, as shown in FIG. It is smaller than that. Then, the signals G and H are added by the adding circuit 105, and the magnetic foreign matter detection signal K shown in FIG. As described above, when the signals C and E are obtained by the passage of the magnetic foreign matter, the phase of the signal C is shifted so that the phase difference between the signal C and the signal E becomes 180 degrees. Is added, a magnetic foreign matter detection signal having a large amplitude can be obtained.
【0019】また、この磁性異物検出装置によれば、各
検出コイル12a〜12dを介して周波数の高い進行波
雑音が入力された場合においても、これらの雑音を低減
することができる。すなわち、検出コイル12aを介し
て入力される進行波雑音は、同相増幅器101を介した
後、位相シフト加算回路103および加算回路104と
いった各々別の経路を通過し、各々異なった遅延時間で
遅延されて加算回路105に入力される。このため、加
算回路105においては、進行波雑音と、この進行波雑
音に対して微妙に入力タイミングのずれた進行波雑音と
の加算が行われることとなる。進行波雑音は各種周波数
成分を含んでいるが、これら各周波数成分の中には上記
入力タイミングのずれ量が略半周期に一致するものが相
当数含まれている。従って、進行波雑音を構成する各周
波数成分のうち相当数のものは互いに逆相関係で加算さ
れ、打消し合うこととなる。検出コイル12bを介して
入力されてくる進行波雑音も、上述と同様、位相シフト
加算回路103および加算回路104を各々介した後で
加算されることにより低減される。以上、検出ユニット
100における動作について説明したが検出ユニット2
00においても上述と同様な動作が行われる。検出ユニ
ット100および200が出力する各磁性異物検出信号
は差動増幅器300によって差動増幅される。この場
合、検出ユニット100および200の各磁性異物検出
信号は180゜以上位相がずれているので、差動増幅器
300によって相殺されることなく出力される。また、
不均一な間隔で配置された各検出コイル12a〜12d
において進行波雑音が検出された場合、各進行波雑音は
各々異なった複数の経路を伝播して差動増幅器300に
入力される結果、進行波雑音における一部の周波数成分
が打消し合って除去される。以上、銅線中の磁性異物を
検出する場合を例に説明したが、本発明によれば、金属
材中に存在する空洞、局部的に透磁率の異なった箇所等
を検出することが可能であることは言うまでもない。Further, according to the magnetic foreign matter detecting device, even when high-frequency traveling wave noise is input via the detection coils 12a to 12d, these noises can be reduced. That is, the traveling wave noise input via the detection coil 12a passes through the in-phase amplifier 101, then passes through separate paths such as the phase shift addition circuit 103 and the addition circuit 104, and is delayed by different delay times. And input to the addition circuit 105. Therefore, the addition circuit 105 adds the traveling wave noise and the traveling wave noise whose input timing is slightly shifted from the traveling wave noise. The traveling wave noise includes various frequency components, and among these frequency components, a considerable number of components having the input timing shift amount substantially equal to the half cycle are included. Therefore, a considerable number of the frequency components constituting the traveling wave noise are added in an anti-phase relationship and cancel each other. Similarly to the above, traveling wave noise input via the detection coil 12b is also reduced by being added after passing through the phase shift addition circuit 103 and the addition circuit 104, respectively. The operation of the detection unit 100 has been described above.
At 00, the same operation as described above is performed. Each magnetic foreign matter detection signal output from the detection units 100 and 200 is differentially amplified by the differential amplifier 300. In this case, since the magnetic foreign matter detection signals of the detection units 100 and 200 are 180 ° or more out of phase, they are output without being canceled by the differential amplifier 300. Also,
Each detection coil 12a to 12d arranged at uneven intervals
When traveling wave noise is detected in step (1), each traveling wave noise propagates through a plurality of different paths and is input to the differential amplifier 300. As a result, some frequency components in the traveling wave noise cancel each other out and are removed. Is done. As described above, the case where the magnetic foreign substance in the copper wire is detected has been described as an example. However, according to the present invention, it is possible to detect a cavity existing in a metal material, a portion having a locally different magnetic permeability, and the like. Needless to say, there is.
【0020】[0020]
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、大きな振幅の検出信号を得ることができ、走行する
金属材中に欠陥があった場合、確実にその検出を行うこ
とができるという効果が得られる。As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a detection signal having a large amplitude, and to reliably detect a defect in a traveling metal material. The effect is obtained.
【図1】 この発明の一実施例による磁性異物検出装置
の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a magnetic foreign matter detection device according to one embodiment of the present invention.
【図2】 同実施例の動作を説明する波形図である。FIG. 2 is a waveform chart for explaining the operation of the embodiment.
【図3】 磁性異物の検出原理を説明する図である。FIG. 3 is a diagram illustrating a principle of detecting a magnetic foreign substance.
【図4】 磁性異物検出信号と各種雑音信号の各周波数
の関係を説明する図である。FIG. 4 is a diagram illustrating a relationship between each frequency of a magnetic foreign matter detection signal and various noise signals.
【図5】 長波長雑音を相殺し得る差動結合された検出
コイルを示す図である。FIG. 5 illustrates a differentially coupled detection coil that can cancel long wavelength noise.
【図6】 図5に示す構成の動作を説明する波形図であ
る。FIG. 6 is a waveform chart for explaining the operation of the configuration shown in FIG.
【図7】 図5に示す各検出コイルに生じる進行波雑音
に例示する波形図である。7 is a waveform diagram exemplifying traveling wave noise generated in each detection coil shown in FIG. 5;
【図8】 従来の磁性異物検出装置の構成を示すブロッ
ク図である。FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of a conventional magnetic foreign matter detection device.
【図9】 同磁性体異物検出装置の動作を説明する波形
図である。FIG. 9 is a waveform diagram illustrating an operation of the magnetic foreign matter detection device.
【図10】 同磁性体異物検出装置の動作を説明する波
形図である。FIG. 10 is a waveform chart for explaining the operation of the magnetic foreign matter detection device.
【図11】 同磁性体異物検出装置の動作を説明する波
形図である。FIG. 11 is a waveform chart for explaining the operation of the magnetic foreign matter detection device.
12a〜12d……検出コイル、101……同相増幅
器、102……反転増幅器、103……位相シフト加算
回路、104……加算回路、105……加算回路。12a to 12d: detection coil, 101: common-mode amplifier, 102: inverting amplifier, 103: phase shift addition circuit, 104: addition circuit, 105: addition circuit.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上野 明喜夫 兵庫県川西市下加茂1−15−7 有限会 社日本エステック内 (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 27/72 - 27/90 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Akio Ueno 1-15-7 Shimokamo, Kawanishi-shi, Hyogo Japan S-Tech Co., Ltd. (58) Field surveyed (Int. Cl. 7 , DB name) G01N 27 / 72-27/90
Claims (3)
属材中の欠陥を、同欠陥によって生じる前記直流磁界の
変化に基づいて検出する欠陥検出装置において、 (a)前記直流磁界中の、前記金属材の走行経路に沿っ
て、互いに位置をずらして配置された複数の検出コイル
と、 (b)互いに隣り合った2個の前記検出コイルのうち、
一方の検出コイルの出力を反転すると共に、この反転出
力および他方の検出コイルの出力のうち一方の位相をシ
フトして両者を加算して出力する回路であって、前記位
相をシフトする際のシフト量を調整し得るように構成さ
れた少なくとも1個の第1の演算回路とを具備すること
を特徴とする金属における欠陥検出装置。1. A defect detection apparatus for running a metal material in a DC magnetic field and detecting a defect in the metal material based on a change in the DC magnetic field caused by the defect. A plurality of detection coils that are arranged at different positions along the travel path of the metal material; and (b) among two detection coils adjacent to each other,
A circuit for inverting the output of one of the detection coils, shifting one of the inverted output and the output of the other detection coil, adding the two, and outputting the result. An apparatus for detecting a defect in a metal, comprising: at least one first arithmetic circuit configured to adjust an amount.
のうち、一方の検出コイルの出力を反転し、他方の検出
コイルの出力と加算する少なくとも1個の第2の演算回
路と、 前記第1および第2の演算回路の各出力を加算する加算
回路とを具備することを特徴とする請求項1記載の欠陥
検出装置。2. An at least one second arithmetic circuit for inverting the output of one of the two detection coils adjacent to each other and adding the output of the other detection coil to the output of the other detection coil; 2. The defect detection device according to claim 1, further comprising an addition circuit that adds each output of the first and second arithmetic circuits.
ると共に、 これらの検出コイルのうち互いに隣り合った2個の検出
コイルからなる各組に対して接続される複数組の前記第
1および第2の演算回路と、 これら各組における第1および第2の演算回路の各出力
を加算する加算回路とを具備することを特徴とする請求
項2記載の欠陥検出装置。3. A plurality of sets of the first and second coils having at least three detection coils and connected to each set of two detection coils adjacent to each other among the detection coils. 3. The defect detection device according to claim 2, further comprising: an arithmetic circuit for adding the outputs of the first and second arithmetic circuits in each set.
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JP03188023A JP3098069B2 (en) | 1991-07-02 | 1991-07-02 | Defect detection device in metal |
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