JP3095686B2 - 定寸装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、加工中に被加工物
（ワーク）の加工部分の寸法を測定し、寸法が所定の加
工寸法に達した時に定寸信号と呼ばれる測定信号を出力
する定寸装置に関し、特に円筒以外のワークの場合にも
定寸信号を出力できる定寸装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ワークの加工部分の寸法を加工中に測定
して加工精度を向上させることが行われている。例え
ば、あらかじめ目標寸法を設定し、測定した寸法がこの
目標寸法に達した時又は達する直前に加工停止信号を出
力して、加工を停止すれば高精度の加工が可能である。
このような加工中に加工部分の寸法を測定して、加工動
作を制御する信号を出力する装置を定寸装置と呼んでい
る。

【０００３】例えば、研削加工では、単位時間当たりの
加工量、すなわち、ワークに対して砥石を移動させる速
度により表面の仕上がり具合が異なる。そのため、研削
加工では、目標寸法より所定量大きな寸法までは高速に
加工し、それ以後は仕上がり具合を良好にするようにゆ
っくり加工することにより、高速で且つ正確で良好な仕
上がり具合になるようにしている。実際には、加工速度
の大きな粗研工程、加工速度の小さな精研工程、ほとん
ど加工は行われず仕上がり具合を良好にするために行わ
れるスパークアウト工程の順で加工を行うのが一般的で
ある。定寸装置には、あらかじめ粗研から精研、精研か
らスパークアウト、加工停止の寸法が設定されており、
設定された寸法に達すると定寸信号を出力するように構
成されている。

【０００４】研削加工では、回転するワークに回転する
砥石を接触させることにより加工を行うため、一般にワ
ークの外径寸法が重要であり、定寸装置も外径寸法を測
定して定寸信号を出力する。このような 定寸装置に使
用されるワークの寸法を測定する測定ヘッドは、基本的
には加工中にも加工部分の外径寸法が測定できるもので
あればどのようなものであってもかまわないが、ここで
はもっとも一般的に使用されている測子が測定する部分
に接触し、測子の変位を検出する方式の測定ヘッドを使
用した定寸装置を例として説明する。

【０００５】ワークが円筒状の回転体でその外径を測定
する場合には、外径部に接触する触針等の測定器の測子
を、回転体の回転軸に対して対称な位置にセットしてワ
ークを回転させながら測定を行う。外径の値は、２つの
測子の出力和から算出していた。通常は基準となる目標
形状を有するマスタをセットし、それを測定した時の測
定値がゼロになるように設定した上で測定を行う。この
ような設定動作をマスタセットと呼ぶ。

【０００６】図５は検出部に差動トランスを有する定寸
装置を使用した従来の加工システムの基本的な構成を示
す図である。図５に示すように、高速で回転する砥石１
１１でワーク１００を研削する。加工中のワーク１００
の外径部分には、測定ヘッド１３から延びる測子１１と
１２が接触される。ヘッド１３内には、差動トランス等
で構成される第１及び第２検出部１４と１５が設けられ
ており、測子１１と１２の変位をそれぞれ検出する。第
１及び第２検出部１４と１５の出力は、第１及び第２サ
イズシフト回路１６と１７に入力された後、第１及び第
２整流回路１８と１９で直流信号に変換され、加算回路
でそれらの和を示す信号、すなわち、ワーク１００の外
径を示す測定信号が出力される。最小値記憶回路２１
は、加算回路２０の出力の最小値を検出して記憶する回
路であり、アナログ／ディジタル（Ａ／Ｄ）変換回路２
４は最小値記憶回路２１の出力をディジタル信号に変換
し、コンピュータ２５はそれを読み取る。コンピュータ
２５では、読み取った値をあらかじめ設定されている粗
研から精研、精研からスパークアウト、加工停止の寸法
値である定寸値と比較し、その値に達した時に所定の定
寸信号を出力する。通常は、信号処理・変換部とデータ
処理部を合わせて定寸装置と呼んでいるが、測定ヘッド
１３を含めて定寸装置と呼ぶ場合もある。ここでは、測
定ヘッド１３を含めて定寸装置とするが、これに限られ
るものではない。なお、最小値記憶回路２１はＡ／Ｄ変
換回路２１の出力するディジタル信号の値から最小値を
検出して保持する回路でもよく、コンピュータ２５で実
現することも可能である。

【０００７】図５の構成では、加算回路２０の出力をＡ
／Ｄ変換回路２１でディジタル信号に変換した後、マイ
クロコンピュータなどで構成されるコンピュータ２５で
読み取り、定寸値と比較するなどの処理を行っている
が、加算回路２０の出力をあらかじめ設定された定寸値
に対応するアナログ電圧と比較する回路を設けて定寸信
号を発生させることも可能である。近年は、ディジタル
変換した測定値をコンピュータで処理するのが一般的で
あるので、以下の説明ではコンピュータ処理する例につ
いて説明するが、本発明はこれに限らず、どのような方
式にも適用可能である。

【０００８】寸法を測定する場合に問題になるのが、測
定範囲と測定精度である。変位に対して出力信号が変化
する範囲（できれば線形に変化する範囲）であれば変位
を測定することが可能であるが、後処理回路のダイナミ
ックレンジやＡ／Ｄ変換回路２１の変換範囲をこの範囲
に対応させると、十分な精度で測定することができない
という問題が生じる。そこで、測定ヘッドの出力に応じ
て後処理回路の増幅率を変化させて測定精度を可変にす
ることや、後処理回路に所定の信号値を加算して高精度
で測定できる範囲を移動（シフト）できるようにするこ
とが行われている。図５の第１及び第２サイズシフト回
路１６と１７はそのための回路である。サイズシフト回
路の詳しい構成については後述するが、図５の回路で
は、第１及び第２サイズシフト回路１６と１７は、コン
ピュータ２５からのサイズシフト信号に応じて、第１及
び第２検出部からの信号に所定の振幅の信号を加算し
て、所定範囲の振幅を有する信号に変換する。測定値
は、この時に検出した値にサイズシフト分を加えた値で
ある。サイズシフト回路の設定は、作業者があらかじめ
設定したワークの形状に応じて行われる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ワークが円筒物であれ
ば、ワークが回転しても測子の変位は小さく、マスタセ
ット時に高精度で測定できる範囲を、ワークの形状に応
じて設定すれば、図５に示すような定寸装置を用いて加
工を制御することができる。しかし、例えば、ワークが
図６に示すカムシャフトのような、方向によって大きな
径（長径）と小さな径（短径）を有するワークの場合、
同一のサイズシフト回路の設定では測定することができ
ない。加工中にワークは回転中心１０１を中心として回
転するが、第１の測子１１が上側からワーク１００に接
触するとした場合、長径の大きな半径部分が上方にきた
時には第１の測子１１は上方に大きく変位し、この状態
から長径が側方にきた時には、第１の測子１１は下方に
移動し、長径の大きな半径部分が反対側の側方にくるま
で、ほぼ同じ変位を維持する。第２の測子１２の変位
は、第１の測子１と逆である。従って、長径の大きな半
径部分が上方にきた時と長径の大きな半径部分が下方に
きた時では、第１検出部１３の出力する信号の振幅は大
きく変化し、第１サイズシフト回路の設定が同じであれ
ば、一方の状態は測定可能でももう一方の状態では測定
できないという事態が生じる。

【００１０】そのため、図６に示すカムシャフトのよう
なワークの定寸信号を発生する場合、長径の大きな半径
部分が側方にきた時には短径の寸法は測定できるので、
短径についてのみ定寸信号を発生させていた。しかし、
これでは長径方向については寸法の管理ができないた
め、高精度での加工が難しという問題があった。本発明
は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、方向によ
って定寸値が異なるワークについても定寸信号を発生す
る定寸装置を簡単な構成で実現することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の定寸装置は、測定信号を所定のしきい値と
比較して測定信号が被加工物（ワーク）のどの部分を測
定しようとしているかを判定してサイズシフト回路のシ
フト量を設定するシフト量設定手段を設け、加工目標値
である複数の寸法に応じてサイズシフト回路を切り換え
る。

【００１２】すなわち、本発明の定寸装置は、被加工物
の加工部分の寸法を示す測定信号を出力する測定ヘッド
と、測定ヘッドの出力する測定信号を処理する信号処理
回路と、信号処理回路の出力信号から、加工部分の寸法
があらかじめ設定された目標寸法に達した時に加工条件
を変化させるための定寸信号を出力する演算処理手段と
を備え、信号処理回路は、測定ヘッドの出力する測定信
号を演算処理手段で処理するのに適した信号に変換する
定寸装置であり、信号処理回路は、測定信号を演算処理
手段で処理するのに適した信号に変換できる測定信号の
最適入力範囲が制限されている。このような定寸装置に
おいて上記目的を達成するため、設定されたシフト量で
測定信号の強度をシフトさせるサイズシフト回路と、測
定信号を所定のしきい値と比較し、測定信号が最適入力
範囲内に入るように、サイズシフト回路のシフト量を設
定するシフト量設定手段とを備えることを特徴とする。

【００１３】方向によって定寸値が異なる被測定物の場
合、測定信号の値は被測定物の回転に応じて大きく変化
する。そのため、信号処理回路は、測定信号の最小値を
記憶する最小値記憶回路と、測定信号の最大値を記憶す
る最大値記憶回路とを備え、演算処理手段は、シフト量
設定手段によるサイズシフト回路のシフト量の設定に応
じて、最小値記憶回路と最大値記憶回路に記憶された最
小値と最小値のいずれを読み取るかを変化させる。

【００１４】また、通常の定寸装置の場合、測定ヘッド
は被加工物の２か所の表面位置を検出する２個の検出部
を備え、信号処理回路は２個の検出部の出力する測定信
号の和から被加工物の寸法を算出するのが一般的であ
り、その場合にはサイズシフト回路も２個の検出部の出
力する測定信号の強度をそれぞれシフトさせるように２
個設ける。この場合、シフト量設定手段は、２個のサイ
ズシフト回路のシフト量を独立に設定することが望まし
い。

【００１５】本発明の定寸装置は、シフト量設定手段に
より、測定信号を所定のしきい値と比較して測定信号が
被加工物のどの部分を測定しようとしているかを判定し
てサイズシフト回路のシフト量を設定するため、加工目
標値である複数の寸法に応じてサイズシフト回路の測定
範囲を切り換えることができる。従って、方向によって
定寸値が異なる被測定物であっても、測定が可能であ
る。

【００１６】方向によって定寸値が異なる被測定物の場
合、管理する必要のある寸法が複数存在し、測定信号の
値は、これらの複数の寸法の最小値と最大値より少し大
きな値（加工分を加えた値）の間を連続的に変化する。
従って、信号処理回路に、最小値記憶回路と最大値記憶
回路とを設け、演算処理手段は、シフト量設定手段によ
るサイズシフト回路のシフト量の設定に応じて、最小値
記憶回路と最大値記憶回路に記憶された最小値と最小値
のいずれを読み取って、対象となる加工部分の寸法があ
らかじめ設定された目標寸法に達したかを判定する。

【００１７】通常の定寸装置では、測定ヘッドは２個の
測子とその変位を検出する２個の検出部を備え、信号処
理回路は２個の検出部の出力する測定信号の和から被加
工物の寸法を算出するのが一般的である。その場合には
サイズシフト回路も２個の検出部の出力する測定信号の
強度をそれぞれシフトさせるように２個設けるが、シフ
ト量設定手段により２個のサイズシフト回路のシフト量
が独立に設定されれば、各種の形状の被測定物に対応で
きる。例えば、被加工物が図６のような形状を有するの
であれば、通常は２個のサイズシフト回路を短径に対応
したフト量に設定しておき、長径がきた時のみ長径に対
応するシフト量に設定する。従って、２個のサイズシフ
ト回路が同時に長径に対応するシフト量に設定されるこ
とはない。これに対して、例えば、楕円形状を加工する
時には、２つの測定信号は同じように変化するので、２
個のサイズシフト回路のシフト量は同時に切り換えれば
よい。

【００１８】

【発明の実施の形態】図１は本発明の実施例の加工シス
テムの全体構成を示すブロック図である。図１におい
て、参照番号１００ａはワークを、１１と１２は測子
を、１３は測定ヘッドを、１４と１５は測子１１と１２
の変位をそれぞれ検出する差動トランスで構成される第
１及び第２検出部を、１６と１７は第１及び第２検出部
１４、１５の出力する測定信号の強度をそれぞれシフト
させる第１及び第２サイズシフト回路を、１８と１９は
第１及び第２サイズシフト回路１６、１７の出力をそれ
ぞれ整流して直流信号に変換する第１及び第２整流回路
を、２０は第１及び第２整流回路１８、１９の出力を加
算して和を算出する加算回路を、２１は加算回路２０の
出力の最小値を検出して記憶する最小値記憶回路を、２
２は加算回路２０の出力の最大値を検出して記憶する最
大値記憶回路を、２３は最小値記憶回路２１と最大値記
憶回路２２のいずれかの出力を選択するスイッチを、２
４はスイッチ２３で選択した最小値記憶回路２１と最大
値記憶回路２２のいずれかの出力をディジタル信号に変
換するＡ／Ｄ変換回路を、２５は演算処理手段を構成す
るコンピュータを、２６はコンピュータ２５からの設定
値に応じて第１サイズシフト回路１６のシフト量を設定
する第１Ｄ／Ａ変換回路を、２７はコンピュータ２５か
らの設定値に応じて第２サイズシフト回路１７のシフト
量を設定する第２Ｄ／Ａ変換回路を、２８は第１シフト
量設定回路を、２９は第２シフト量設定回路を、３０か
ら３２は第１シフト量設定回路を構成する部分で、３０
は補助整流回路を、３１はしきい値設定回路を、３２は
比較回路を示す。第２シフト量設定回路２９も、第１シ
フト量設定回路２８と同様の構成を有する。

【００１９】図１に示した第１及び第２検出部１４と１
５、第１及び第２整流回路１６と１７、加算回路２０、
Ａ／Ｄ変換回路２４は従来の定寸装置に使用されている
ものと同じであるので、ここでは説明を省略する。図２
は第１検出部１４の一部と第１サイズシフト回路１６の
構成を示す図であり、第２サイズシフト回路１７も同様
の構成を有する。また、図３は図２の回路における信号
を示す図である。

【００２０】図２に示すように、参照番号４０から４４
は第１検出部１４の差動トランスを構成する部分であ
り、測子１１の一方の端に設けられた鉄心４０が、一次
コイル４１と２個の２次コイル４２と４３内を変位す
る。一次コイル４１には発振器４４から交流信号が印加
されており、鉄心４０の位置に応じて２次コイル４２と
４３に誘導される誘導起電力に差が生じる。２次コイル
４２と４３の誘導起電力の差をアンプ４５で増幅する。
アンプ４５から出力される信号は、図３の（１）に示す
ような交流信号であり、発振器４４から出力される交流
信号と同じ周期で変化する交流信号である。この交流信
号は、鉄心４０の位置に応じてその振幅を変化させる。
具体的には、鉄心４０が２つの２次コイル４２と４３の
中間位置にいる時には２つの２次コイル４２と４３に誘
導される誘導起電力は等しく、アンプ４５から出力され
る信号はゼロである。この状態から鉄心４０が変位する
に従って、アンプ４５から出力される交流信号の振幅が
増加する。鉄心４０の変位が小さい時には、図において
ｂで示すような信号になり、鉄心４０の変位が大きくな
るとａで示すような信号になる。サイズシフト回路を設
けていない場合には、アンプ４５の出力する交流信号を
整流回路で整流することにより、図３の（２）に示すよ
うな、交流信号の振幅に対応する電圧の直流信号が得ら
れる。この直流信号の電圧が変位を示すことになる。こ
れが差動トランスの動作である。

【００２１】鉄心４０の変位に応じて２つの２次コイル
４２と４３に誘導される誘導起電力の差が単純に変化す
る範囲では、線形性を有するように補正することにより
鉄心４０の変位を測定することが可能である。測定の分
解能は整流後の直流信号の変化の識別能力で決定され
る。例えば、測定信号をＡ／Ｄ変換してディジタル信号
で読み取る場合、１０ビットのディジタル信号に変換す
るとすると、１０２４レベルに分解できる。測定ヘッド
の測定範囲が±１０ｍｍとすると、約２０μｍが分解能
となる。従って、２μｍやそれ以下の分解能で測定する
必要が有る場合には、測定範囲を±１ｍｍ以下の小さな
範囲にする必要がある。逆に、測定範囲を±５０ｍｍと
するならば分解能は１００μｍと非常に大きくなる。

【００２２】そこで、測定の分解能を変化できるように
すると共に、高分解能で測定できる範囲を切り換えられ
るようにしている。測定の分解能の変化は信号の増幅率
を変えることにより行うが、高分解能で測定できる範囲
の切り換えはサイズシフト回路で行う。図２において、
サイズシフト回路は、加算回路４６と可変増幅回路４８
で構成され、サイズシフト回路におけるシフト量は、コ
ンピュータ２５からの設定値をＤ／Ａ変換回路２６でア
ナログ信号に変換して可変増幅回路４８の増幅率を設定
することにより決定される。例えば、アンプ４５の出力
が、図３の（３）にｃで示す信号である場合、可変増幅
回路４８で発振器４４からの信号を反転増幅してｄで示
すようなｃの出力に近い振幅を有する逆位相の信号を発
生させる。加算回路４６でこの逆相の信号ｄとアンプ４
５の出力ｃとを加算すると、ｅで示すような信号が出力
される。このように、アンプ４５、すなわち測定部から
の出力に応じて、コンピュータ２５からＤ／Ａ変換回路
２６への設定値を適当に設定することにより、加算回路
４６から出力される信号の振幅を常に所定の範囲にする
ことができる。このような範囲の限界値がＡ／Ｄ変換回
路の最大値と最小値になるように各回路の増幅率を設定
しておけば、すべての測定範囲において高精度での測定
が行える。これがサイズシフト回路の構成および機能で
ある。サイズシフトした時の測定値は、測定した値にサ
イズシフトした分の値を加算することにより求められ
る。

【００２３】第１検出部１４と第２検出部１５の出力に
対して上記のようなサイズシフトを行うための第１及び
第２サイズシフト回路が設けられている。第１及び第２
サイズシフト回路のシフト量は、第１Ｄ／Ａ変換回路２
６と第２Ｄ／Ａ変換回路２７への設定値により独立に設
定できるようになっている。第１及び第２サイズシフト
回路の出力は、それぞれ第１及び第２整流回路１８と１
９で直流信号に変換され、加算回路２０で第１及び第２
整流回路１８と１９の出力の和が算出される。加算回路
２０の出力は、ワーク１００の径に相当する。加算回路
２０の出力は最小値記憶回路２１と最大値記憶回路２２
に入力される。最大値記憶回路２２は、例えば、公知の
ピークホールド回路で構成され、外部から印加されるリ
セット信号によりリセットされた後の入力信号の最大値
を記憶する。最小値記憶回路２１も最大値記憶回路２２
と同様の構成を有し、入力信号が反転されている点のみ
が異なる。スイッチ２３は、最小値記憶回路２１と最大
値記憶回路２２のいずれの出力をＡ／Ｄ変換回路２４に
入力するかを選択する。

【００２４】第１シフト量設定回路２８の補助整流回路
３０は、第１及び第２整流回路１８、１９と同じ構成の
もので、第１検出部１４の出力を直流信号に変換する。
補助整流回路３０に入力される信号はサイズシフトされ
ていない信号であり、第１検出部１４の全測定範囲を示
す信号である。しきい値設定回路３１には、被加工物１
００の形状に応じてあらかじめしきい値が設定されてい
る。しきい値設定回路３１は、例えばボリュームで構成
され使用者が直接しきい値を設定できるようにすること
も、Ｄ／Ａ変換回路等を利用してコンピュータを介して
設定できるようにすることもできる。比較回路３２は補
助整流回路３０の出力をしきい値と比較してその比較結
果をコンピュータ２５に送る。

【００２５】図４は、図６に示すようなワーク１００ａ
が回転した場合の、第１及び第２シフト量設定回路２
８、２９の補助整流回路の出力変化を示す図であり、ｆ
とｇはそれぞれ第１及び第２シフト量設定回路の補助整
流回路の出力を、ｈとｉはしきい値を示す。図示のよう
に、第２シフト量設定回路２９の補助整流回路の出力
は、第１シフト量設定回路２８の補助整流回路３０の出
力に対して１８０°位相シフトしている。ここで、第１
シフト量設定回路２８の補助整流回路３０の出力ｆがし
きい値ｈより大きい時には第１Ｄ／Ａ変換回路２６に長
径の大きな半径に対応した測定範囲にする値を設定し、
それ以外の時には、第１Ｄ／Ａ変換回路２６に短径に対
応した測定範囲にする値を設定する。同様に、第２シフ
ト量設定回路２９の補助整流回路の出力ｇがしきい値ｉ
より大きい時には第２Ｄ／Ａ変換回路２７に長径の大き
な半径に対応した測定範囲にする値を設定し、それ以外
の時には、第２Ｄ／Ａ変換回路２７に短径に対応した測
定範囲にする値を設定する。

【００２６】ここで、第１及び第２サイズシフト回路１
６、１７がどちらも短径に対応した測定範囲に設定され
ている場合には、短径部分の加工状態が問題であるから
最小値記憶回路２１の出力がＡ／Ｄ変換回路２４に入力
されて、コンピュータ２５が最小値記憶回路２１の出力
を読み取れるようにし、第１及び第２サイズシフト回路
１６、１７がどちらかが長径に対応した測定範囲に設定
されている場合には、長径部分の加工状態が問題である
から最大値記憶回路２２の出力がＡ／Ｄ変換回路２４に
入力されて、コンピュータ２５が最大値記憶回路２２の
出力を読み取れるようにする。最小値記憶回路２１と最
大値記憶回路２２の値は、それぞれの値が読み出される
ように切り換えられる時にリセットされる。コンピュー
タ２５はこのようにして読み取った値に基づいて定寸信
号を発生させる。

【００２７】なお、上記の実施例では、長径の大きな半
径部分が第１及び第２測子１１、１２のいずれにきた時
にも測定ができるようにしたが、一方にきた時にのみ測
定するならば、第２シフト量設定回路はなくてもよい。
上記の実施例では、図６に示した形状を有するワークを
測定する場合について説明したが、例えば、実施例の装
置を使用して楕円形状を有するワークを加工する場合に
も定寸信号を発生させることも可能である。その場合に
は、第１及び第２シフト量設定回路はいずれか一方のみ
設ければよく、第１及び第２サイズシフト回路１６、１
７のシフト量は同じように切り換えられる。

【００２８】また、上記の実施例に限らず各種の変形例
が可能である。例えば、最小値記憶回路２１と最大値記
憶回路２２はアナログ回路により実現したが、Ａ／Ｄ変
換回路のサンプリング速度が十分に速く、コンピュータ
２５の処理速度も十分に速ければ、加算回路２０の出力
をＡ／Ｄ変換回路でディジタル信号に変換した後、ディ
ジタル処理により最小値と最大値を算出するようにして
もよい。

【００２９】また、第１及び第２シフト量設定回路２８
と２９の出力は、一旦コンピュータ２５に入力された
後、コンピュータ２５が第１及び第２Ｄ／Ａ変換回路２
６、２７に測定レンジを決定する値を設定していたが、
第１及び第２シフト量設定回路２８と２９の出力で値が
選択される回路を設けて、その出力を第１及び第２Ｄ／
Ａ変換回路２６、２７に入力するようにすることも可能
である。

【００３０】更に、第１及び第２整流回路１８、１９及
び加算回路２０が、全測定範囲にわたって十分に高精度
で、分解能を規定しているのがＡ／Ｄ変換回路のビット
数であれば、サイズシフト回路として第１及び第２整流
回路１８、１９の出力をシフトさせる回路を用いてもよ
い。更に、上記の実施例では、２個の測子を使用してワ
ークの径を測定できるようにしたが、測子を１個使用し
てその変化だけで定寸信号を発生させることも可能であ
り、その場合には、測定部、サイズシフト回路、整流回
路、Ｄ／Ａ変換回路、シフト量設定回路は一方のみがあ
ればよく、加算回路２０も必要ない。

【００３１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
方向によって異なる複数の寸法を測定して管理すること
ができるので、円筒形状以外の複数の寸法を管理して定
寸信号を発生させる必要のある被測定物（ワーク）にも
対応できる定寸装置が実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例の定寸装置の構成を示す図であ
る。

【図２】実施例におけるサイズシフト回路の構成を示す
図である。

【図３】実施例のサイズシフト回路における処理を説明
する図である。

【図４】本実施例におけるサイズシフト量の切り換え
と、最小値と最大値の読み取りの切り換えを示す図であ
る。

【図５】従来の定寸装置の構成を示す図である。

【図６】従来の定寸装置では定寸信号の発生が難しかっ
たワーク形状の例を示す図である。

【符号の説明】

１１，１２…測子 １３…測定ヘッド １４，１５…検出部 １６，１７…サイズシフト回路 １８，１９…整流回路 ２０…加算回路 ２１…最小値記憶回路 ２２…最大値記憶回路 ２４…Ａ／Ｄ変換回路 ２５…コンピュータ ２６…第１Ｄ／Ａ変換回路 ２７…第２Ｄ／Ａ変換回路 ２８，２９…シフト量設定回路 １００，１００ａ…被加工物（ワーク）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) B23Q 15/00 - 15/28 B23Q 17/00 - 23/00 B24B 41/00 - 51/00 G05B 19/18 - 19/46 G01B 5/08,21/02

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被加工物（１００）の加工部分の寸法を
   示す測定信号を出力する測定ヘッド（１３）と、 該測定ヘッド（１３）の出力する測定信号を処理する信
   号処理回路（１８、１９、２０、２１、２２）と、 該信号処理回路の出力信号から、加工部分の寸法があら
   かじめ設定された目標寸法に達した時に加工条件を変化
   させるための定寸信号を出力する演算処理手段（２５）
   とを備え、 前記信号処理回路は、前記測定ヘッド（１３）の出力す
   る前記測定信号を前記演算処理手段（２５）で処理する
   のに適した信号に変換する定寸装置において、 前記信号処理回路は、前記測定信号を前記演算処理手段
   （２５）で処理するのに適した信号に変換できる前記測
   定信号の最適入力範囲が制限されており、 設定されたシフト量で前記測定信号の強度をシフトさせ
   るサイズシフト回路（１６、１７）と、 前記測定信号を所定のしきい値と比較し、前記測定信号
   が前記最適入力範囲内に入るように、前記サイズシフト
   回路（１６、１７）の前記シフト量を設定するシフト量
   設定手段（２８、２９）とを備えることを特徴とする定
   寸装置。
2. 【請求項２】 前記信号処理回路は、前記測定信号の最
   小値を記憶する最小値記憶回路（２１）と、前記測定信
   号の最大値を記憶する最大値記憶回路（２２）とを備
   え、 前記演算処理手段（２５）は、前記シフト量設定手段に
   よる前記サイズシフト回路の前記シフト量の設定に応じ
   て、前記最小値記憶回路（２１）と前記最大値記憶回路
   （２２）に記憶された前記最小値と前記最小値のいずれ
   を読み取るかを変化させる請求項１に記載の定寸装置。
3. 【請求項３】 前記測定ヘッド（１３）は、前記加工部
   分の２か所の表面位置を検出する２個の検出部（１４、
   １５）を備え、 前記サイズシフト回路は、前記２個の検出部（１４、１
   ５）の出力する前記測定信号の強度をそれぞれシフトさ
   せる２個のサイズシフト回路（１６、１７）を備え、 前記シフト量設定手段は、前記２個のサイズシフト回路
   （１６、１７）の前記シフト量を独立に設定する請求項
   ２に記載の定寸装置。