JP3094952B2 - Liquid crystal injection method, liquid crystal specific resistance monitoring device and monitoring method - Google Patents
Liquid crystal injection method, liquid crystal specific resistance monitoring device and monitoring methodInfo
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Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は液晶パネルに注入さ
れる液晶の比抵抗を測定する方法、装置、及び液晶パネ
ルに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for measuring the specific resistance of a liquid crystal injected into a liquid crystal panel, and to a liquid crystal panel.
【0002】[0002]
【従来の技術】液晶パネルにおいて高品位表示を行うた
めには比抵抗の値の大きい液晶を注入しなければならな
い。そして、液晶の比抵抗を低下させるものはイオン性
不純物や低比抵抗の有機不純物であり、プロセス的に判
断するとこれら不純物は、液晶自体に含まれていたも
の、液晶注入器において使用される液晶皿の汚れから混
入したもの、注入する液晶パネル内の液晶パネル基板表
面の汚染によるものに大別することができる。2. Description of the Related Art In order to perform high-quality display on a liquid crystal panel, it is necessary to inject a liquid crystal having a large specific resistance. What lowers the specific resistance of the liquid crystal are ionic impurities and low-resistivity organic impurities. Judging by the process, these impurities are included in the liquid crystal itself and the liquid crystal used in the liquid crystal injector. It can be broadly classified into those that are mixed in from the dish of the dish and those that are caused by contamination of the liquid crystal panel substrate surface in the liquid crystal panel to be injected.
【0003】これまでは前者2つが注視され、液晶注入
時にこれら不純物を取り除く技術、特にイオン性不純物
の除去技術が開発されてきた。しかし、これらの不純物
除去を目的とする装置や方法では不純物除去後の液晶の
注入時における比抵抗の測定が無視されており、実際に
注入されている液晶の比抵抗の値を知ることができな
い。Heretofore, attention has been paid to the former two, and techniques for removing these impurities at the time of liquid crystal injection, particularly techniques for removing ionic impurities, have been developed. However, in these devices and methods for removing impurities, the measurement of the specific resistance at the time of injecting the liquid crystal after removing the impurities is ignored, and the value of the specific resistance of the liquid crystal actually injected cannot be known. .
【0004】しかし、注入される液晶の比抵抗モニタを
行うことができる比抵抗モニタ装置が、実開平5−75
742号公報に記載されている。この比抵抗モニタ装置
は、液晶の比抵抗を測定するためのモニタ用電極を液晶
皿に設けたものである。そして、この従来の比抵抗モニ
タ装置を用いて液晶皿の比抵抗を常時測定することによ
り、液晶に何か異常が発生し比抵抗が変化した場合に液
晶注入作業をすぐに中止することができるので作成して
しまう不良品の数を最小限に押さえることができる。し
かし、この比抵抗モニタ装置では注入後の液晶パネル内
の液晶の比抵抗を測定することはできないため、液晶パ
ネル内に不純物が存在するときはこの異常を検出するこ
とができない。However, a specific resistance monitoring device capable of monitoring the specific resistance of the injected liquid crystal is disclosed in Japanese Utility Model Laid-Open No. 5-75.
742. In this specific resistance monitoring device, a monitoring electrode for measuring the specific resistance of a liquid crystal is provided on a liquid crystal dish. Then, by constantly measuring the specific resistance of the liquid crystal dish using this conventional specific resistance monitor device, when something abnormal occurs in the liquid crystal and the specific resistance changes, the liquid crystal injection operation can be immediately stopped. Therefore, the number of defective products created can be minimized. However, this specific resistance monitor cannot measure the specific resistance of the liquid crystal in the liquid crystal panel after the injection, and therefore cannot detect this abnormality when impurities exist in the liquid crystal panel.
【0005】また、液晶皿の液晶の比抵抗を測定しよう
として、液晶皿に直接電極を露出させて比抵抗を測定し
ようとした場合には、実際に使用される状態での液晶の
比抵抗を測定することができないため、正確な比抵抗の
測定を行うことができない。When the specific resistance of the liquid crystal in the liquid crystal dish is measured and the specific resistance is measured by exposing the electrode directly to the liquid crystal dish, the specific resistance of the liquid crystal in an actually used state is measured. Since measurement cannot be performed, accurate measurement of specific resistance cannot be performed.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の液晶の比抵抗モニタ装置および方法では下記のような
問題があった。 (1)液晶注入時の液晶皿内にある液晶の比抵抗を測定
することはできるが、液晶パネル内の液晶の比抵抗をモ
ニタすることはできないため、液晶パネル内に起因する
異常を検出することができない。 (2)液晶皿に直接電極を露出させて比抵抗を測定して
いるので、正確な比抵抗の測定を行うことができない。As described above, the conventional liquid crystal resistivity monitor and method have the following problems. (1) Although the specific resistance of the liquid crystal in the liquid crystal dish at the time of liquid crystal injection can be measured, the specific resistance of the liquid crystal in the liquid crystal panel cannot be monitored. Can not do. (2) Since the specific resistance is measured by exposing the electrodes directly to the liquid crystal dish, accurate measurement of specific resistance cannot be performed.
【0007】本発明の目的は、液晶パネル内の液晶の比
抵抗を液晶の注入と同時にモニタすることができる液晶
パネルを提供することである。An object of the present invention is to provide a liquid crystal panel capable of monitoring the specific resistance of the liquid crystal in the liquid crystal panel simultaneously with the injection of the liquid crystal.
【0008】また、本発明の他の目的は、液晶皿内の液
晶の比抵抗を正確に測定することができる液晶の比抵抗
モニタ装置および方法を提供することである。It is another object of the present invention to provide an apparatus and a method for monitoring the specific resistance of a liquid crystal which can accurately measure the specific resistance of the liquid crystal in a liquid crystal dish.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の液晶パネルは、2枚の液晶パネル基板を有
し、前記液晶パネル基板に挟まれた領域に液晶が満たさ
れている液晶パネルにおいて、前記液晶の比抵抗を測定
するための1組または複数組のモニタ用電極が、前記液
晶パネル基板の表示部位外に設けられていることを特徴
とする。In order to achieve the above object, a liquid crystal panel according to the present invention has two liquid crystal panel substrates, and a region sandwiched between the liquid crystal panel substrates is filled with liquid crystal. In the liquid crystal panel, one or more sets of monitoring electrodes for measuring the specific resistance of the liquid crystal are provided outside a display portion of the liquid crystal panel substrate.
【0010】本発明は、液晶パネルの表示部位外に液晶
の比抵抗を測定するためのモニタ用電極を設け、液晶を
注入しながらでも注入された液晶の比抵抗を測定するこ
とができるようにしたものである。According to the present invention, a monitor electrode for measuring the specific resistance of the liquid crystal is provided outside the display portion of the liquid crystal panel so that the specific resistance of the injected liquid crystal can be measured while the liquid crystal is being injected. It was done.
【0011】したがって、注入する前に液晶皿にある液
晶の比抵抗を測定しておけば、注入される液晶中の不純
物とパネル内汚染に起因する不純物との切り分けができ
る。Therefore, if the specific resistance of the liquid crystal in the liquid crystal dish is measured before the injection, impurities in the injected liquid crystal and impurities caused by contamination in the panel can be separated.
【0012】本発明の実施態様によれば、前記各モニタ
用電極の組が、一方のモニタ用電極が前記一方の液晶パ
ネル基板に設けられ、他方のモニタ用電極が前記一方の
モニタ用電極と対向するように前記他方の液晶パネル基
板に設けられている。According to an embodiment of the present invention, each of the sets of monitor electrodes is provided such that one monitor electrode is provided on the one liquid crystal panel substrate, and the other monitor electrode is provided on the one monitor electrode. The other liquid crystal panel substrate is provided so as to face the other liquid crystal panel substrate.
【0013】本発明は、モニタ用電極の組の2つの電極
をそれぞれ異なる液晶パネル基板に対向するように設け
たものである。According to the present invention, two electrodes of a set of monitor electrodes are provided so as to face different liquid crystal panel substrates.
【0014】したがって、液晶面に垂直に電界を印加し
て比抵抗を測定するため、液晶面に垂直に電界を印加し
て液晶表示を行う液晶パネルの液晶の比抵抗を実際に使
用される状態で測定することができる。Therefore, since an electric field is applied perpendicularly to the liquid crystal surface to measure the specific resistance, the specific resistance of the liquid crystal of the liquid crystal panel for performing liquid crystal display by applying an electric field perpendicular to the liquid crystal surface is used. Can be measured.
【0015】また、本発明の他の実施態様によれば、前
記各モニタ用電極の組が、2つのモニタ用電極がともに
同一の液晶パネル基板に隣接して設けられている。According to another embodiment of the present invention, in each of the sets of monitor electrodes, both monitor electrodes are provided adjacent to the same liquid crystal panel substrate.
【0016】本発明は、モニタ用電極の組の2つの電極
をそれぞれ同一の液晶パネル基板に隣接して設けたもの
である。According to the present invention, two electrodes of a set of monitor electrodes are provided adjacent to the same liquid crystal panel substrate.
【0017】したがって、液晶面に平行に電界を印加し
て比抵抗を測定するため、液晶面に平行に電界を印加し
て液晶表示を行う液晶パネルの液晶の比抵抗を実際に使
用される状態で測定することができる。Therefore, since the specific resistance is measured by applying an electric field parallel to the liquid crystal surface, the specific resistance of the liquid crystal of the liquid crystal panel for performing the liquid crystal display by applying the electric field parallel to the liquid crystal surface is used. Can be measured.
【0018】また、本発明の液晶の比抵抗モニタ装置
は、液晶パネルに注入するための液晶が満たされた液晶
皿に隣接して設けられ、表面に絶縁膜が塗布された電極
がそれぞれ設けられた2枚の液晶パネル基板が重ね合わ
されることにより構成されているモニタ用セルを有す
る。Further, the liquid crystal resistivity monitor of the present invention is provided adjacent to a liquid crystal dish filled with liquid crystal to be injected into a liquid crystal panel, and has electrodes each having an insulating film applied on the surface. And a monitor cell configured by stacking two liquid crystal panel substrates.
【0019】本発明は、液晶パネルと同様な構造のモニ
タ用セルを、液晶皿に隣接して設けたものである。した
がって、液晶皿の液晶の比抵抗を実際に使用されるのと
同じ状態で測定することができるため、正確な比抵抗を
測定することができる。According to the present invention, a monitor cell having the same structure as a liquid crystal panel is provided adjacent to a liquid crystal dish. Therefore, since the specific resistance of the liquid crystal of the liquid crystal dish can be measured in the same state as actually used, the specific resistance can be accurately measured.
【0020】また、本発明の液晶の比抵抗モニタ方法
は、液晶パネルに注入するための液晶が満たされた液晶
皿から液晶注入チューブにより前記液晶を減圧吸収し、
減圧吸収された前記液晶を、前記液晶注入チューブから
陽圧吐出することにより前記液晶皿に隣接して設けら
れ、表面に絶縁膜塗布が施された電極がそれぞれ設けら
れた2枚の液晶パネル基板が重ね合わされているモニタ
用セルに注入し、前記モニタ用セルに設けられている2
つの電極間に電圧を印加して流れる電流値を測定するこ
とにより前記液晶の比抵抗を測定する。Further, according to the method of monitoring the specific resistance of a liquid crystal of the present invention, the liquid crystal is filled with liquid crystal to be injected into a liquid crystal panel, and the liquid crystal is absorbed under reduced pressure by a liquid crystal injection tube.
Two liquid crystal panel substrates provided adjacent to the liquid crystal dish by discharging the liquid crystal absorbed under reduced pressure from the liquid crystal injection tube by positive pressure, and provided with electrodes each having a surface coated with an insulating film. Is injected into the superimposed monitoring cell, and 2 provided in the monitoring cell is provided.
The specific resistance of the liquid crystal is measured by measuring the value of a current flowing by applying a voltage between the two electrodes.
【0021】本発明は、液晶皿に隣接して設けられた、
液晶パネルと同様な構造のモニタ用セルにより液晶皿に
の液晶の比抵抗を測定するようにしたものである。した
がって、液晶皿の液晶の比抵抗を実際に使用されるのと
同じ状態で測定することができるため、正確な比抵抗を
測定することができる。According to the present invention, there is provided a liquid crystal display provided adjacent to a liquid crystal dish.
The specific resistance of the liquid crystal on the liquid crystal dish is measured by a monitor cell having the same structure as the liquid crystal panel. Therefore, since the specific resistance of the liquid crystal of the liquid crystal dish can be measured in the same state as actually used, the specific resistance can be accurately measured.
【0022】[0022]
【発明の実施の形態】本発明の実施形態について図面を
参照して詳細に説明する。Embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
【0023】(第1の実施形態)先ず、本発明の第1の
実施形態の液晶の比抵抗のモニタ装置および方法を説明
する。図1は、本発明の第1の実施形態の比抵抗モニタ
方法を説明するための比抵抗モニタ装置の構造を示す図
である。(First Embodiment) First, a device and method for monitoring the specific resistance of a liquid crystal according to a first embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a diagram showing a structure of a specific resistance monitoring device for explaining a specific resistance monitoring method according to a first embodiment of the present invention.
【0024】本実施形態の液晶の比抵抗モニタ装置は、
液晶16が満たされている液晶皿13と、液晶皿13内
の液晶16の比抵抗をモニタするためのモニタ用セル1
8およびモニタ用セル18を液晶皿13の縁に固定し比
抵抗を測定するための導線をモニタ用セル18に接続す
るためのセルストッパ24とから構成されている。The liquid crystal resistivity monitor according to the present embodiment comprises:
A liquid crystal dish 13 filled with liquid crystal 16 and a monitoring cell 1 for monitoring the specific resistance of the liquid crystal 16 in the liquid crystal dish 13
8 and a cell stopper 24 for fixing the monitor cell 18 to the edge of the liquid crystal dish 13 and connecting a conductor for measuring the specific resistance to the monitor cell 18.
【0025】また、モニタ用セル18には、セルストッ
パ24を介して電源12により電圧印加されるようにな
っている。そして、電源12により印加された電圧を電
圧計14により測定し、その時に流れる電流を電流計1
5により測定しその電圧と電流からモニタ用セル18内
に注入された液晶16の比抵抗を測定する。A voltage is applied to the monitor cell 18 from the power supply 12 via a cell stopper 24. The voltage applied by the power supply 12 is measured by the voltmeter 14, and the current flowing at that time is measured by the ammeter 1.
5, the specific resistance of the liquid crystal 16 injected into the monitor cell 18 is measured from the voltage and the current.
【0026】液晶パネル17には、各部位の比抵抗を測
定するために、6組のモニタ用電極1〜6が設けられて
いる。各モニタ用電極1〜6は、それぞれ対向した液晶
パネル基板に設けられた2枚の電極から構成されてい
る。そして、モニタ用電極1〜6は表示部外に100μ
mx3cmの大きさで作製されている。The liquid crystal panel 17 is provided with six sets of monitoring electrodes 1 to 6 for measuring the specific resistance of each part. Each of the monitoring electrodes 1 to 6 is composed of two electrodes provided on the liquid crystal panel substrate facing each other. Then, the monitoring electrodes 1 to 6 are set to 100 μm outside the display unit.
It is manufactured in a size of mx3 cm.
【0027】また、液晶パネル17の下部には注入口4
6が設けられていて、この注入口46から液晶皿13内
の液晶16が注入される。そして対向して設けられたそ
れぞれのモニタ用電極1〜6には、電源9により電圧が
印加されるようになっていて、液晶面に垂直に電界を印
加する。そして、電源9により印加された電圧を電圧計
7により測定し、その時に流れる電流を電流計8により
測定しその電圧と電流から液晶パネル17内の液晶の比
抵抗を測定する。The injection port 4 is provided below the liquid crystal panel 17.
The liquid crystal 16 in the liquid crystal dish 13 is injected from the injection port 46. A voltage is applied from a power supply 9 to each of the monitoring electrodes 1 to 6 provided opposite to each other, and an electric field is applied perpendicularly to the liquid crystal surface. Then, the voltage applied by the power supply 9 is measured by the voltmeter 7, the current flowing at that time is measured by the ammeter 8, and the specific resistance of the liquid crystal in the liquid crystal panel 17 is measured from the voltage and the current.
【0028】また、図1では、モニタ用電極1の組に電
圧が印加されている場合を示しているが、どのモニタ用
電極1〜6の組に電圧を印加するかを切り替えることが
できるようになっていて、注入された液晶の量等により
任意の部位の比抵抗を測定することができる。そのた
め、モニタ用電極1〜6の組の2つ以上の組に電圧が同
時に印加される場合はない。FIG. 1 shows a case where a voltage is applied to a set of monitoring electrodes 1. However, it is possible to switch which set of monitoring electrodes 1 to 6 is to be applied with a voltage. The specific resistance at an arbitrary site can be measured by the amount of the injected liquid crystal or the like. Therefore, there is no case where a voltage is simultaneously applied to two or more sets of the set of monitoring electrodes 1 to 6.
【0029】次に、モニタ用セル18の構造について、
図2を用いて説明する。図2(a)は、モニタ用セル1
8の上面図であり、図2(b)は図2(a)のA−Bに
おける断面図である。Next, the structure of the monitor cell 18 will be described.
This will be described with reference to FIG. FIG. 2A shows a monitoring cell 1.
8 is a top view, and FIG. 2B is a cross-sectional view taken along a line AB in FIG. 2A.
【0030】モニタ用セル18は、1cmx1cmのI
TO(インジウム/スズ酸化物)電極19、20がそれ
ぞれ形成された2枚のガラス基板10、11が貼り合わ
されたもので、注入口はガラス基板11の両側に2つあ
るため、注入口28上に垂らされた液晶は毛細管現象に
より常圧で内部へ均一に注入されていく。また、ITO
電極19、20は100nmの厚さのポリイミドで絶縁
コートされている。The monitoring cell 18 has a 1 cm × 1 cm I
Since two glass substrates 10 and 11 on which TO (indium / tin oxide) electrodes 19 and 20 are respectively formed are bonded, and two injection ports are provided on both sides of the glass substrate 11, the two Liquid crystal is uniformly injected into the interior at normal pressure by capillary action. In addition, ITO
The electrodes 19 and 20 are insulated and coated with a 100 nm thick polyimide.
【0031】次に、セルストッパ24の構造について、
図3を用いて説明する。図3(a)は、セルストッパ2
4の上面図であり、図3(b)は図3(a)のC−Dに
おける断面図である。Next, regarding the structure of the cell stopper 24,
This will be described with reference to FIG. FIG. 3A shows the cell stopper 2.
4 is a top view, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line CD of FIG. 3A.
【0032】セルストッパ24は、比抵抗を測定するた
めの電流計15、電圧計14および電源12を導線27
により接続するための端子22、23を有している。そ
して、この端子22、23は、それぞれ金属球25とバ
ネ26とを有していて、バネ26の力を用いて金属球2
5によりモニタ用セル18を固定している。また、金属
球25には導線27が接続されており、金属球25がI
TO電極19、20と接触することにより導線27はI
TO電極19、29と導通するようになっている。The cell stopper 24 connects the ammeter 15 for measuring the specific resistance, the voltmeter 14 and the power source 12 to a conducting wire 27.
Have terminals 22 and 23 for connection. Each of the terminals 22 and 23 has a metal ball 25 and a spring 26, and the metal balls 2 and
5, the monitor cell 18 is fixed. A lead 27 is connected to the metal ball 25, and the metal ball 25 is
By contacting the TO electrodes 19 and 20, the conducting wire 27 becomes I
It is configured to conduct with the TO electrodes 19 and 29.
【0033】また、本実施形態では、比抵抗の測定を行
うために、電源、電圧計および電流計を用いたが、電源
の替りに電圧波形発生器を用い、電圧計および電流計の
替りにオシロスコープを用いても比抵抗を測定すること
ができる。In this embodiment, a power supply, a voltmeter and an ammeter are used to measure the specific resistance. However, a voltage waveform generator is used instead of the power supply, and the voltmeter and the ammeter are used instead. The specific resistance can be measured using an oscilloscope.
【0034】次に、本実施形態における比抵抗の測定方
法を図5のフローチャートを用いて説明する。Next, a method of measuring the specific resistance in the present embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG.
【0035】先ず、図1において、液晶皿13内の液晶
16をモニタ用セル11に注入する。この液晶16をモ
ニタ用セル18に注入する方法を図4に示す。テフロン
製の液晶注入チューブ21により液晶皿13中の液晶1
6を約50μl減圧吸収することにより採取し、その液
晶16を陽圧吐出することによりモニタ用セル18の注
入口28上へ垂らす。First, in FIG. 1, the liquid crystal 16 in the liquid crystal dish 13 is injected into the monitoring cell 11. FIG. 4 shows a method of injecting the liquid crystal 16 into the monitor cell 18. The liquid crystal 1 in the liquid crystal dish 13 is controlled by a liquid crystal injection tube 21 made of Teflon.
6 is collected by absorbing about 50 μl under reduced pressure, and the liquid crystal 16 is dropped on the inlet 28 of the monitor cell 18 by discharging the liquid crystal 16 under a positive pressure.
【0036】そして電源12からの電圧印加に対する応
答電流値から比抵抗の値を測定する(ステップ30)。
そして、測定された比抵抗の値が正常な値でない場合は
(ステップ31)、液晶パネル17への液晶16の注入
は中止する(ステップ32)。ステップ31において、
測定された比抵抗が正常な値であると判定された場合は
引き続き液晶パネル17への液晶16の注入を行う(ス
テップ33)。Then, the value of the specific resistance is measured from the response current value to the voltage application from the power supply 12 (step 30).
If the measured specific resistance value is not a normal value (step 31), the injection of the liquid crystal 16 into the liquid crystal panel 17 is stopped (step 32). In step 31,
When it is determined that the measured specific resistance is a normal value, the liquid crystal 16 is continuously injected into the liquid crystal panel 17 (step 33).
【0037】そして、液晶16を注入しながら液晶パネ
ル17内の液晶16の比抵抗を測定し(ステップ3
4)、測定された比抵抗が異常な値の場合は液晶16の
注入を中止する(ステップ36)。そして、ステップ3
5において測定された比抵抗が正常な値であると判定さ
れた場合は、引続き液晶パネル17への液晶16の注入
を行う(ステップ37)。 そして、液晶パネル17が
液晶16で満たされるまで上記の動作が行われる。Then, while injecting the liquid crystal 16, the specific resistance of the liquid crystal 16 in the liquid crystal panel 17 is measured (step 3).
4) If the measured specific resistance is an abnormal value, the injection of the liquid crystal 16 is stopped (step 36). And step 3
If it is determined in step 5 that the measured specific resistance is a normal value, the liquid crystal 16 is continuously injected into the liquid crystal panel 17 (step 37). The above operation is performed until the liquid crystal panel 17 is filled with the liquid crystal 16.
【0038】本実施形態では、液晶パネル17に液晶1
6を注入する前に液晶皿13にある液晶16の比抵抗を
モニタ用セル18により測定して異常が無いことを確認
しているので、液晶パネル17に液晶16が注入された
後に不純物による汚染が発見されれば、その汚染は液晶
パネル17内の汚染に起因するものと判定することがで
きる。In this embodiment, the liquid crystal panel 17 is
Before injecting the liquid crystal 6, the specific resistance of the liquid crystal 16 in the liquid crystal dish 13 is measured by the monitoring cell 18 to confirm that there is no abnormality. Is found, it can be determined that the contamination is caused by the contamination in the liquid crystal panel 17.
【0039】次に、モニタ用電極1〜6を用いた、液晶
の比抵抗モニタ方法について、図6を用いて説明する。Next, a method of monitoring the specific resistance of the liquid crystal using the monitoring electrodes 1 to 6 will be described with reference to FIG.
【0040】図6において、液晶は液晶パネル17に注
入口46から図の上側に向かって注入され、このときモ
ニタ用電極1〜6で液晶の比抵抗がモニタされている。
ここで、液晶が図6の液面54まで注入された時は電極
5、6で測定された比抵抗に異常がなく、液面55まで
液晶が注入されたときに電極3、4で測定された比抵抗
に異常が検出されたとする。この場合、比抵抗の異常原
因はモニタ用電極5、6とモニタ用電極3、4の間にあ
ることとなる。そして、この情報は、異常原因の対策を
行う際の貴重な情報となる。In FIG. 6, the liquid crystal is injected into the liquid crystal panel 17 from the injection port 46 toward the upper side of the figure. At this time, the specific resistance of the liquid crystal is monitored by the monitoring electrodes 1 to 6.
Here, when the liquid crystal is injected to the liquid surface 54 in FIG. 6, there is no abnormality in the specific resistance measured at the electrodes 5 and 6, and when the liquid crystal is injected to the liquid surface 55, the specific resistance is measured at the electrodes 3 and 4. It is assumed that an abnormality is detected in the specific resistance. In this case, the abnormal cause of the specific resistance is between the monitoring electrodes 5 and 6 and the monitoring electrodes 3 and 4. This information is valuable information when taking measures against the cause of the abnormality.
【0041】このように複数組のモニタ用電極1〜6を
設置した本実施形態の液晶パネル17においては、液晶
16の注入時にその液晶16の比抵抗を液晶パネル17
の部分ごとに順次モニタすることができる。そのため、
液晶パネル17内のどこかに汚染があり比抵抗の低下が
認められた場合には、即時注入作業を中止できるうえ、
電極組間で測定された比抵抗を比較することで異常の発
生原因となった部位を予測することができ、対策への重
要な情報を得ることができる。In the liquid crystal panel 17 according to the present embodiment in which a plurality of sets of monitoring electrodes 1 to 6 are provided as described above, the specific resistance of the liquid crystal 16 when the liquid crystal 16 is injected is changed.
Can be monitored sequentially for each part of. for that reason,
When contamination is found somewhere in the liquid crystal panel 17 and a decrease in specific resistance is observed, the injection operation can be immediately stopped, and
By comparing the measured specific resistances between the electrode sets, it is possible to predict a portion that has caused an abnormality, and to obtain important information on countermeasures.
【0042】次に、本実施形態の液晶の比抵抗モニタ装
置を用いて実際に比抵抗を測定した結果について説明す
る。Next, the results of actual measurement of the specific resistance using the liquid crystal specific resistance monitor of the present embodiment will be described.
【0043】先ず、清浄なままの液晶皿と故意に汚染を
行った液晶皿を用いて液晶皿中の液晶の比抵抗を測定し
た。ここで、10mmol/lの安息香酸ナトリウムの
メタノール溶液10mlを入れ、メタノールを蒸発させ
た後、清浄な液晶を入れたものを故意に汚染を行った液
晶皿として実験を行った。この液晶の比抵抗と正常作業
の液晶の比抵抗の比較を行った結果を表1に示す。First, the specific resistance of the liquid crystal in the liquid crystal dish was measured using the liquid crystal dish that was kept clean and the liquid crystal dish that was intentionally contaminated. Here, 10 ml of a 10 mmol / l sodium benzoate methanol solution was added, and after methanol was evaporated, an experiment was performed using a liquid crystal dish containing clean liquid crystal as a deliberately contaminated liquid crystal dish. Table 1 shows the result of comparison between the specific resistance of the liquid crystal and the specific resistance of the liquid crystal in a normal operation.
【0044】[0044]
【表1】 この実験結果から、本実施形態の液晶の比抵抗モニタ用
装置により液晶皿の汚染を検出することができることが
わかる。[Table 1] From this experimental result, it is understood that contamination of the liquid crystal dish can be detected by the device for monitoring the specific resistance of the liquid crystal of the present embodiment.
【0045】次に液晶を故意に汚染し上記とと同様な実
験を行った。液晶に対する濃度が0.1%となるように
アニリンを混合し液晶を汚染した液晶として比抵抗を測
定した。この実験結果を表2に示す。Next, the liquid crystal was intentionally contaminated, and the same experiment as above was performed. Aniline was mixed so that the concentration with respect to the liquid crystal was 0.1%, and the specific resistance was measured as a liquid crystal contaminating the liquid crystal. Table 2 shows the results of this experiment.
【0046】[0046]
【表2】 この実験結果から、本実施形態の液晶の比抵抗モニタ用
装置により液晶が汚染されている場合もその異常を検出
することができることがわかる。[Table 2] From this experimental result, it can be seen that even when the liquid crystal is contaminated by the liquid crystal resistivity monitor of the present embodiment, the abnormality can be detected.
【0047】さらに、表1の実験結果を得た際と同じ条
件の各液晶を図3で示した液晶パネル17に注入したと
きにモニタした比抵抗の結果を表3に示す。Further, Table 3 shows the results of the specific resistance monitored when each liquid crystal was injected into the liquid crystal panel 17 shown in FIG. 3 under the same conditions as when the experimental results in Table 1 were obtained.
【0048】比抵抗の測定は各モニタ用電極1〜6が液
晶16で満たされた時点に測定した。その結果を表3に
示す。但し、この実験では説明を簡単にするため、モニ
タ用電極1、3、5における比抵抗のみを測定した。The specific resistance was measured when each of the monitoring electrodes 1 to 6 was filled with the liquid crystal 16. Table 3 shows the results. However, in this experiment, for the sake of simplicity, only the specific resistance of the monitoring electrodes 1, 3, and 5 was measured.
【0049】[0049]
【表3】 正常作業を行ったものは、液晶パネル17の上部ほど比
抵抗がわずかに低下する傾向が見られた。これは液晶パ
ネル17内のわずかな汚染によるものと考えられる。汚
染実験を行った際の実験結果においてこの比抵抗の低下
が見られないのは、液晶パネル17内の汚染が、注入し
た液晶の汚染レベルよりも非常に低いからである。[Table 3] In the case of normal operation, the specific resistance tended to decrease slightly toward the upper part of the liquid crystal panel 17. This is considered to be due to slight contamination in the liquid crystal panel 17. The reason why the specific resistance does not decrease in the results of the contamination experiment is that the contamination in the liquid crystal panel 17 is much lower than the contamination level of the injected liquid crystal.
【0050】さらに、表2の実験結果を得た際と同じ条
件の各液晶を上の実験と同様に液晶パネル17に注入
し、注入過程で比抵抗をモニタした結果を表4に示す。Further, each liquid crystal under the same conditions as when the experimental results in Table 2 were obtained was injected into the liquid crystal panel 17 in the same manner as in the above experiment, and the results of monitoring the specific resistance during the injection process are shown in Table 4.
【0051】[0051]
【表4】 この実験結果には、表3で見られた液晶パネルの汚染は
検出されていない。この場合、パネルには汚染がなく注
入した液晶または液晶皿に比抵抗低下の原因があること
が分かる。[Table 4] In this experimental result, the contamination of the liquid crystal panel shown in Table 3 was not detected. In this case, it can be understood that the liquid crystal or the liquid crystal dish injected without contamination has a cause of a decrease in specific resistance.
【0052】次に、パネルの部分的な汚染を検出した例
を示す。パネル基板を貼り合わせる前に図7に示すよう
に液晶パネル17の一部分に汚染部41として1mmo
l/lの安息香酸ナトリウムのメタノール溶液を垂ら
し、メタノールを蒸発させた後に基板を貼り合わせて実
験用の液晶パネルとした。この液晶パネルに正常な液晶
を注入したときの比抵抗のモニタ結果を表5に示す。Next, an example in which partial contamination of the panel is detected will be described. Before bonding the panel substrate, as shown in FIG.
A 1 / l solution of sodium benzoate in methanol was dropped, and after evaporating the methanol, the substrates were attached to form a liquid crystal panel for experiments. Table 5 shows the results of monitoring the specific resistance when normal liquid crystal was injected into the liquid crystal panel.
【0053】[0053]
【表5】 汚染実験において、モニタ用電極1で測定された液晶は
汚染部分41に達しておらず、清浄なままであるから正
常パネルと同等の比抵抗を保っている。しかし、モニタ
用電極3、4と液面55に達した液晶は、汚染部分41
を通過しているので安息香酸ナトリウムによる汚染を受
けており、比抵抗が低下している。このように比抵抗の
モニタから汚染部を予想することができる。[Table 5] In the contamination experiment, the liquid crystal measured by the monitor electrode 1 did not reach the contaminated portion 41 and remained clean, so that the specific resistance was maintained at the same level as that of the normal panel. However, the monitor electrodes 3 and 4 and the liquid crystal that has reached the liquid level 55 are contaminated portions 41.
, It is contaminated by sodium benzoate, and its specific resistance is low. Thus, the contaminated portion can be predicted from the monitor of the specific resistance.
【0054】(第2の実施形態)次に、本発明の第2の
実施形態について、図8を用いて説明する。(Second Embodiment) Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
【0055】図1の第1の実施形態では、モニタ用電極
1〜6は対向する液晶パネル基板にそれぞれ組として設
けられていたが、本実施形態は、モニタ用電極61〜7
2を同一の液晶パネル基板に並べて設けるようにしたも
のである。In the first embodiment shown in FIG. 1, the monitor electrodes 1 to 6 are provided as a set on the liquid crystal panel substrates facing each other, but in the present embodiment, the monitor electrodes 61 to 7 are provided.
2 are provided side by side on the same liquid crystal panel substrate.
【0056】図8では、モニタ用電極61、66間に電
圧が印加された状態を示している。FIG. 8 shows a state where a voltage is applied between the monitoring electrodes 61 and 66.
【0057】本実施形態の液晶パネルにおける比抵抗の
測定方法は、上記第1の実施形態の液晶パネルと同様な
ため省略する。The method for measuring the specific resistance of the liquid crystal panel of the present embodiment is the same as that of the liquid crystal panel of the first embodiment, and therefore will not be described.
【0058】本実施形態の液晶パネルでは、液晶表面に
水平に電界をかけることができるため、液晶表面に水平
に電界をかけて液晶表示を行うタイプの液晶パネルでは
実際の動作に近い状態で比抵抗の測定を行うことができ
る。In the liquid crystal panel of this embodiment, an electric field can be applied horizontally to the surface of the liquid crystal. Therefore, in a liquid crystal panel of the type in which an electric field is applied horizontally to the liquid crystal surface to perform liquid crystal display, the ratio can be reduced in a state close to the actual operation. Resistance measurements can be made.
【0059】[0059]
【発明の効果】以上のように、本発明は、下記のような
効果を有する。 (1)液晶パネル内部の液晶の比抵抗を測定することが
できるため、不良品の制作数を低減することができるば
かりでなく、異常原因が液晶皿と液晶そのもの、パネル
のどちらにあるのかを明らかにすることができる。 (2)液晶パネルに原因がある場合は、おおよその場所
を推定することができるのでその後の対策を効率よく行
うことができる。 (3)液晶皿内の液晶の正確な比抵抗を測定することが
できる。As described above, the present invention has the following effects. (1) Since the specific resistance of the liquid crystal inside the liquid crystal panel can be measured, not only can the number of defective products be reduced, but also whether the abnormality is caused by the liquid crystal plate, the liquid crystal itself, or the panel. Can be clarified. (2) When there is a cause in the liquid crystal panel, an approximate location can be estimated, so that subsequent measures can be taken efficiently. (3) Accurate specific resistance of the liquid crystal in the liquid crystal dish can be measured.
【図1】本発明の第1の実施形態の比抵抗モニタ方法を
説明するための比抵抗モニタ装置と液晶パネルの構造を
示す図である。FIG. 1 is a diagram showing the structure of a specific resistance monitoring device and a liquid crystal panel for explaining a specific resistance monitoring method according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1のモニタ用セル18の上面図(図2
(a))および断面図(図2(b))である。2 is a top view of the monitoring cell 18 of FIG. 1 (FIG. 2);
(A)) and sectional drawing (FIG. 2 (b)).
【図3】図1のセルストッパ24の上面図(図3
(a))および断面図(図3(b))である。FIG. 3 is a top view of the cell stopper 24 of FIG. 1 (FIG. 3);
(A)) and sectional drawing (FIG. 3 (b)).
【図4】モニタ用セル18に液晶16を注入する方法を
示した図である。FIG. 4 is a diagram showing a method of injecting a liquid crystal 16 into a monitor cell 18.
【図5】比抵抗のモニタ方法を示したフローチャートで
ある。FIG. 5 is a flowchart showing a method of monitoring a specific resistance.
【図6】液晶注入時の比抵抗モニタ方法を説明するため
の図である。FIG. 6 is a diagram for explaining a method of monitoring a specific resistance during liquid crystal injection.
【図7】液晶パネル17内に汚染部41がある場合の液
晶注入時の比抵抗モニタ方法を説明するための図であ
る。FIG. 7 is a diagram for explaining a method of monitoring a specific resistance at the time of injecting liquid crystal when there is a contaminated portion 41 in the liquid crystal panel 17.
【図8】本発明の第2の実施形態の液晶パネルの構造を
示す図である。FIG. 8 is a diagram illustrating a structure of a liquid crystal panel according to a second embodiment of the present invention.
1〜6 モニタ用電極 7 電圧計 8 電流計 9 電源 10、11 ガラス基板 12 電源 13 液晶皿 14 電圧計 15 電流計 16 液晶 17 液晶パネル 18 モニタ用セル 19 ITO電極 20 ITO電極 21 液晶注入チューブ 22、23 端子 24 セルストッパ 25 金属球 26 バネ 27 導線 28 注入口 30〜37 ステップ 41 汚染部 46 注入口 54、55 液面 61〜72 モニタ用電極 1-6 Monitor electrode 7 Voltmeter 8 Ammeter 9 Power supply 10, 11 Glass substrate 12 Power supply 13 Liquid crystal dish 14 Voltmeter 15 Ammeter 16 Liquid crystal 17 Liquid crystal panel 18 Monitor cell 19 ITO electrode 20 ITO electrode 21 Liquid crystal injection tube 22 , 23 Terminal 24 Cell stopper 25 Metal ball 26 Spring 27 Conductor 28 Inlet 30-37 Step 41 Contaminated part 46 Inlet 54, 55 Liquid surface 61-72 Monitor electrode
Claims (5)
パネル基板に挟まれた領域に液晶を注入するための液晶
注入方法において、前記液晶を前記液晶パネルに注入する前に、前記液晶が
満たされた液晶皿から採取する工程と、 前記採取した液晶を前記液晶パネル近傍で前記採取した
液晶の比抵抗を測定する工程と、 前記液晶パネル基板の表示部位外に設けたモニタ用電極
と、 前記液晶パネル内に注入された前記液晶の比抵抗を前記
モニタ用電極にて測定しながら、前記液晶パネルへの液
晶の注入を行うことを特徴とする液晶注入方法。 1. A liquid crystal display device comprising: two liquid crystal panel substrates;
Area sandwiched between panel substratesLiquidLiquid crystal for crystal injection
In the injection method,Before injecting the liquid crystal into the liquid crystal panel, the liquid crystal is
Collecting from a filled liquid crystal dish; The collected liquid crystal was collected near the liquid crystal panel.
Measuring the specific resistance of the liquid crystal; A monitor electrode provided outside a display portion of the liquid crystal panel substrate
When, The specific resistance of the liquid crystal injected into the liquid crystal panel is
While measuring with the monitor electrode, the liquid
A method for injecting a liquid crystal, comprising injecting a crystal.
板の表示部位外に設ける際に、前記各モニタ用電極の組
を、一方のモニタ用電極が前記一方の液晶パネル基板に
設け、他方のモニタ用電極が前記一方のモニタ用電極と
対向するように前記他方の液晶パネル基板に設ける請求
項1記載の液晶注入方法。2. When the monitor electrode is provided outside a display portion of the liquid crystal panel substrate, the set of monitor electrodes is provided by one monitor electrode provided on the one liquid crystal panel substrate and the other monitor electrode provided on the other liquid crystal panel substrate. 2. The liquid crystal injection method according to claim 1, wherein a monitor electrode is provided on the other liquid crystal panel substrate so as to face the one monitor electrode.
板の表示部位外に設ける際に、前記各モニタ用電極の組
を、2つのモニタ用電極がともに同一の液晶パネル基板
に隣接して設ける請求項1記載の液晶注入方法。3. When the monitor electrode is provided outside a display portion of the liquid crystal panel substrate, the set of each monitor electrode is provided adjacent to the same liquid crystal panel substrate in which two monitor electrodes are both provided. The liquid crystal injection method according to claim 1.
された液晶皿に隣接して設けられ、表面に絶縁膜が塗布
された電極がそれぞれ設けられた2枚の液晶パネル基板
が重ね合わされることにより構成されているモニタ用セ
ルを有する液晶の比抵抗モニタ装置。4. A liquid crystal panel substrate, which is provided adjacent to a liquid crystal dish filled with liquid crystal to be injected into a liquid crystal panel and provided with electrodes each having a surface coated with an insulating film, is superposed. A liquid crystal specific resistance monitoring device having a monitoring cell configured as described above.
された液晶皿から液晶注入チューブにより前記液晶を減
圧吸収し、 減圧吸収された前記液晶を、前記液晶注入チューブから
陽圧吐出することにより前記液晶皿に隣接して設けら
れ、表面に絶縁膜塗布が施された電極がそれぞれ設けら
れた2枚の液晶パネル基板が重ね合わされているモニタ
用セルに注入し、前記モニタ用セルに設けられている2
つの電極間に電圧を印加して流れる電流値を測定するこ
とにより前記液晶の比抵抗を測定する液晶の比抵抗モニ
タ方法。5. A liquid crystal dish filled with liquid crystal to be injected into a liquid crystal panel, wherein the liquid crystal is decompressed and absorbed by a liquid crystal injection tube, and the decompressed liquid crystal is discharged from the liquid crystal injection tube by positive pressure. The liquid crystal panel is provided adjacent to the liquid crystal dish, and is injected into a monitor cell in which two liquid crystal panel substrates provided with electrodes each having a surface coated with an insulating film are superimposed, and provided in the monitor cell. 2
A method for monitoring a specific resistance of a liquid crystal, wherein a specific resistance of the liquid crystal is measured by measuring a current value flowing by applying a voltage between two electrodes.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09153865A JP3094952B2 (en) | 1997-06-11 | 1997-06-11 | Liquid crystal injection method, liquid crystal specific resistance monitoring device and monitoring method |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP09153865A JP3094952B2 (en) | 1997-06-11 | 1997-06-11 | Liquid crystal injection method, liquid crystal specific resistance monitoring device and monitoring method |
Publications (2)
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JPH112829A JPH112829A (en) | 1999-01-06 |
JP3094952B2 true JP3094952B2 (en) | 2000-10-03 |
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