JP3071907B2 - 非接触タッチプローブ - Google Patents

非接触タッチプローブ

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JP3071907B2
JP3071907B2 JP3298542A JP29854291A JP3071907B2 JP 3071907 B2 JP3071907 B2 JP 3071907B2 JP 3298542 A JP3298542 A JP 3298542A JP 29854291 A JP29854291 A JP 29854291A JP 3071907 B2 JP3071907 B2 JP 3071907B2
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裕士 柚中
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、合焦点方式の非接触タ
ッチプローブに係り、特に、高精度の変位計、粗さ計、
オートフォーカスの検出器として用いるのに好適な、プ
ローブが測定面に接近しているときにのみタッチ信号を
発生することが可能な非接触タッチプローブに関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】例えば、三次元測定機のタッチプローブ
として、接触式及び非接触式プローブが用いられてい
る。
【0003】前記非接触タッチプローブでは、遠点より
プローブを測定面に近づけていき、測定面がプローブの
焦点位置となったときにタッチ信号を発生させ、このタ
ッチ信号が発生したときのプローブ位置をエンコーダに
よって読取って、相対位置を求めている。プローブは、
焦点位置を通過した測定面に接触しない範囲内で止めら
れ、次の測定のため、遠点方向に移動する。
【0004】例えば、出願人が特願平2−130961
で提案した光学式変位計においては、光ビームを照射す
るプローブが測定面に接近するにつれて、対物レンズの
焦点位置の直前では負の値となり、焦点位置では零とな
り、焦点位置の直後では正の値となるSカーブ信号を発
生する非接触タッチプローブが用いられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
非接触タッチプローブでは、プローブが測定面に接近す
るときだけでなく、焦点位置通過後、次の測定のために
遠点方向に移動する際にも、再び焦点位置を通過するた
め、往復でタッチ信号が発生してしまう。
【0006】従って、従来は、ソフトウエア上で判別し
ていたが、この方法では、ソフトウエアの負担が増加
し、又、判別のための時間がかかるという問題点を有し
ていた。
【0007】本発明は、前記従来の問題点を解消するべ
くなされたもので、簡単な回路により、プローブが遠方
から測定面に接近して焦点位置に到達したときのみタッ
チ信号を発生させ、逆に近点から遠点に離れる際にはタ
ッチ信号を発生させないようにした非接触タッチプロー
ブを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、光ビームを照
射するプローブが測定面に接近するにつれて、対物レン
ズの焦点位置の直前では第1の値となり、焦点位置では
第2の値となり、焦点位置の直後では前記第2の値に関
して前記第1の値と反対側の第3の値となるSカーブ信
号を発生する合焦点方式の非接触タッチプローブにおい
て、前記Sカーブ信号を前記第2の値と比較するコンパ
レータを備え、該コンパレータの出力が、プローブが測
定面に接近している時の方向に変化した時に、タッチ信
号を発生するようにして、前記目的を達成したものであ
る。
【0009】又、前記第2の値を零とし、前記コンパレ
ータを零クロスコンパレータとしたものである。
【0010】
【作用】本発明は、光ビームを照射するプローブが測定
面に接近するにつれて、対物レンズの焦点位置の直前で
は第1の値(例えば負値)となり、焦点位置では第2の
値(例えば零)となり、焦点位置の直後では前記第2の
値に関して前記第1の値と反対側の第3の値(例えば正
値)となるSカーブ信号を、前記第2の値と比較するコ
ンパレータに通したとき、遠点から近点に近づくとき
と、近点から遠点に離れるときでは、該コンパレータの
出力の変化方向が異なる(例えば前記の場合には遠点か
ら近点に近づく方向で立上がり信号が、近点から遠点に
離れる方向では立下がり信号が得られる)を利用したも
のである。
【0011】従って、前記コンパレータの出力の変化方
向を考慮することによって、プローブが測定面に接近し
ているときにのみタッチ信号が発生するようにできる。
【0012】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳
細に説明する。
【0013】本実施例は、本発明を、出願人が特願平2
−130961で提案した非接触タッチプローブに適用
したもので、図1に示す如く、光源としての半導体レー
ザ(LD)10と、該半導体レーザ10から放射された
光を平行ビームとするためのコリメータレンズ12と、
該コリメータレンズ12によって平行光線化された光ビ
ーム14を測定面16に向けて反射するための偏光ビー
ムスプリッタ(PBS)18と、該偏光ビームスプリッ
タ18により進行方向を変えられた光ビーム14を測定
面16に集光して光スポット22を形成するための対物
レンズ20と、測定面16による散乱反射光が半導体レ
ーザ10に戻らないようにすると共に、偏光ビームスプ
リッタ18との組合わせで、ハーフミラーを用いた場合
よりも効率を高めるための1/4波長板24と、前記偏
光ビームスプリッタ18を通過した反射光を結像するた
めの結像レンズ26と、該結像レンズ26を通過した光
を分割するためのビームスプリッタ28と、該ビームス
プリッタ28により分割された各反射光の合焦位置より
も前及び後にそれぞれ配置された、2つの絞り(ピンホ
ール)30A、30Bと、各絞り30A、30Bを通過
した反射光の光量をそれぞれ検出するための、2つの受
光素子(例えばホトダイオード)32A、32Bと、各
受光素子32A、32Bの出力電流を電圧に変換するた
めの電流−電圧(I−V)変換器34A、34Bと、各
I−V変換器34A、34の出力電圧を増幅するための
増幅器36A、36Bと、該増幅器36Aと36Bの出
力の差信号(図2参照)を演算する差演算器38と、前
記増幅器36Aと36Bの出力の和信号(図2参照)を
演算する和演算器40と、前記差演算器38出力の差信
号を和演算器40出力の和信号で割ってSカーブ信号
(図2参照)とするための除算器42と、前記和演算器
40出力の和信号を設定値Vref と比較して、焦点位置
近傍でのみオンとなるゲート信号を発生するためのゲー
ト用コンパレータ44と、前記除算器42出力のSカー
ブ信号を零と比較して、零クロス信号(図2参照)を発
生するための方向判定用零クロスコンパレータ46と、
該零クロスコンパレータ46出力の零クロス信号が、前
記ゲート用コンパレータ44出力のゲート信号が零レベ
ルである焦点位置近傍において零レベルから1レベルへ
立上がったときにのみタッチ信号を発生するためのモノ
マルチバイブレータ48とから構成されている。
【0014】以下実施例の作用を説明する。
【0015】今、反射光量をQ0 とすると、ビームスプ
リッタ28の透過側(前ピン側)及び反射側(後ピン
側)には、それぞれ(1/2)Q0 の光量が向う。図3
に示す如く、前ピン側の絞り30Aの位置におけるレー
ザビームの半径をw a 、後ピン側の絞り30Bの位置で
のレーザビームの半径をw b とし(但しレーザビームの
半径は、強度分布の1/e 2とする)、絞りの半径をr
とすると、絞りを通過する光量Qa (前ピン側)、Qb
(後ピン側)は、それぞれ次式で表わされる。
【0016】 Qa =(1/2)Q0 ×[1− exp{−2(r /wa)2 }] …(1)
【0017】 Qb =(1/2)Q0 ×[1− exp{−2(r /wb)2 }] …(2)
【0018】従って、Sカーブ信号は、次式で表わされ
る。
【0019】 S=(Qb −Qa )/(Qb +Qa ) =[ exp{−2(r /wa)2 }− exp{−2(r /wb)2 }] /[2− exp{−2(r /wa)2 }− exp{−2(r /wb)2 )}] …(3)
【0020】この(3)式から明らかなように、Sカー
ブ信号は反射光量Q0と無関係となる。
【0021】今、各受光素子32A、32Bの出力が、
それぞれ図2に示す如くであったとすると、その時に得
られるSカーブ信号は、図2に示す如く、従来とほぼ同
様のS字状カーブとなり、測定面の変位に応じたSカー
ブ信号を得ることができる。
【0022】本実施例においては、増幅器36Aのゲイ
ンKを可変としているので、対物レンズ20のピント位
置で簡単にSカーブ信号を0に調整することができる。
このようにゲインKが前ピン側の反射光量Qa に乗ぜら
れている場合のSカーブ信号は、次式に示す如くとな
る。
【0023】 S=(Qb −K・Qa )/(Qb +K・Qa ) …(4)
【0024】この場合でも、(3)式と同様に、Sカー
ブ信号は反射光量Q0と無関係である。
【0025】又、前記Sカーブ信号を零と比較する零ク
ロスコンパレータ46の出力は、プローブが遠点から近
点に近づく際には、焦点位置で立上がり、逆に近点から
遠点へ離れる場合には焦点位置で立下がる。
【0026】前記モノマルチバイブレータ48は、ゲー
ト用コンパレータ44出力のゲート信号が零レベルとな
る焦点位置近傍において、零クロス信号の立上がりのみ
を捉えてタッチ信号を発生するので、プローブが遠点か
ら近点に近づいたときのみタッチ信号が発生され、逆
に、近点から遠点へ離れた場合には、零クロス信号が立
下がるため、タッチ信号は発生されない。
【0027】本実施例においては、Sカーブ信号が2つ
の絞り30A、30Bと2つの受光素子32A、32B
を用いて発生するようにされていたので、測定面性状や
鋭いエッジを持つ段差による回折像やレンズの収差等に
より、特定の受光面に強力なピーク光が入った場合で
も、その影響を小さくすることができる。なお、Sカー
ブ信号を発生する方法はこれに限定されない。
【0028】又、本実施例においては、Sカーブ信号
が、焦点位置では零となり、対物レンズの焦点位置の直
前では負値となり、焦点位置の直後では正値となるよう
にされていたが、Sカーブ信号の変化状態及びレベルは
これに限定されない。例えば、実施例とは逆に、対物レ
ンズの焦点位置の直前では正値となり、焦点位置の直後
では負値となるものであってもよい。又、焦点位置で零
でなく、特定のオフセット値を採るものであってもよ
い。
【0029】又、前記実施例においては、ビームスプリ
ッタ28が、結像レンズ26と絞り30A、30Bの間
に配設されていたが、ビームスプリッタ28の配設位置
はこれに限定されず、結像レンズ26(2枚必要とな
る)と偏光ビームスプリッタ18の間に設けてもよい。
【0030】又、偏光ビームスプリッタ18の代わりに
ハーフミラーを用いてもよい。
【0031】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、ソ
フトウエアに依ることなく、簡単な回路で、プローブが
遠方から測定面に近づく方向の焦点位置でのみタッチ信
号を発生させ、逆に近点から遠点に遠ざかる方向ではタ
ッチ信号の発生を防止することができる。
【0032】従って、ソフトウエアに余計な負担を与え
ることなく、又、判別のために時間がかかることもな
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明に係る非接触タッチプローブの
実施例の全体構成を示す、一部光路図を含むブロック線
図である。
【図2】図2は、前記実施例における各部信号波形の例
を示す線図である。
【図3】図3は、前記実施例における絞りを通過する光
ビームの光量を示す線図である。
【符号の説明】 10…半導体レーザ、 12…コリメータレンズ、 14…光ビーム、 16…測定面、 18…偏光ビームスプリッタ(PBS)、 20…対物レンズ、 22…光スポット、 26…結像レンズ、 28…ビームスプリッタ、 30A、30B…絞り、 32A、32B…受光素子、 38…差演算器、 40…和演算器、 42…除算器、 44…ゲート用コンパレータ、 46…零クロスコンパレータ、 48…モノマルチバイブレータ。
フロントページの続き (72)発明者 馬場 哲郎 神奈川県川崎市高津区坂戸165番地 株 式会社ミツトヨ 開発研究所内 (56)参考文献 特開 昭62−148909(JP,A) 特表 平2−501958(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01B 11/00 - 11/30 102 G01C 3/00 - 3/32

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】光ビームを照射するプローブが測定面に接
    近するにつれて、対物レンズの焦点位置の直前では第1
    の値となり、焦点位置では第2の値となり、焦点位置の
    直後では前記第2の値に関して前記第1の値と反対側の
    第3の値となるSカーブ信号を発生する合焦点方式の非
    接触タッチプローブにおいて、 前記Sカーブ信号を前記第2の値と比較するコンパレー
    タを備え、 該コンパレータの出力が、プローブが測定面に接近して
    いる時の方向に変化した時に、タッチ信号を発生するよ
    うにしたことを特徴とする非接触タッチプローブ。
  2. 【請求項2】請求項1において、 前記第2の値を零とし、 前記コンパレータを零クロスコンパレータとしたことを
    特徴とする非接触タッチプローブ。
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