JP3054682B2 - 画像処理方法 - Google Patents

画像処理方法

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JP3054682B2
JP3054682B2 JP7182796A JP18279695A JP3054682B2 JP 3054682 B2 JP3054682 B2 JP 3054682B2 JP 7182796 A JP7182796 A JP 7182796A JP 18279695 A JP18279695 A JP 18279695A JP 3054682 B2 JP3054682 B2 JP 3054682B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、入力画像を物体モ
デルと照合して物体の位置姿勢を決定するための画像処
理方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】物体の入力画像からその物体の位置姿勢
を認識する場合、従来より物体の画像を得るセンサとし
て受動的な撮像装置が使用されている。そして、その入
力画像から物体の2次元的特徴を抽出し、これを物体モ
デルと照合することにより、物体の位置姿勢を決定して
いる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】入力画像から物体の位
置姿勢を認識する従来の画像処理方法にあっては、物体
モデルとの照合のための探索空間が膨大なものとなり、
システム構成が大きく、高速処理ができないという問題
点があった。
【0004】すなわち、2次元の入力画像によって3次
元物体の位置姿勢を拘束するには、例えば画像中から抽
出した少なくとも3つの特徴点を物体モデルと対応付け
る必要がある。このため、複雑なシーンを扱う場合は、
照合のための探索空間が大きくなる可能性がある。
【0005】本発明は、上記のような問題点に着目して
なされたもので、システム構成が簡単で、高速処理が可
能となり、また認識精度の向上した画像処理方法を提供
することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係る画像処理方
法は、入力画像を物体モデルと照合して物体の位置姿勢
を決定するための画像処理方法であって、物体のステレ
オ画像を入力し、このステレオ画像から該物体のエッジ
を抽出して、その局所的特徴によりセグメントに分割
し、このセグメントに頂点情報を付加して認識データを
生成し、この認識データを前記物体モデルと局所的な幾
何特徴を用いて初期照合を行うことにより対応する位置
姿勢の候補を検出するとともに、全体的な幾何特徴を用
いて各対応する位置姿勢を微調整し、この初期照合と微
調整からなる認識処理により前記物体の位置姿勢を検出
するようにしたものである。
【0007】また、上記の画像処理方法において、認識
処理の微調整は、二つの隣接するセグメント上のサンプ
ル点のみによる初期微調整と、全てのサンプル点による
主微調整とを行うようにしたものである。
【0008】
【発明の実施の形態】図1は本発明による画像処理方法
を実現するためのシステム構成を示すブロック図であ
る。同図中、1はシステム全体を制御するコンピュータ
で、データバス2を通じて各部と接続されている。
【0009】3a,3bはテレビカメラで、そのアナロ
グ出力はA/D変換器4a,4bによりデジタル信号に
変換されてデータバス2に送出される。5はテレビカメ
ラ3a,3bで撮像した物体の画像データを格納する画
像メモリ、6は画像を表示するディスプレイ装置、7は
プリンタ、8は画像データを保存するためのフロッピー
ディスク、9はキーボードターミナルで、このシステム
は更に外部のホストコンピュータと接続されている。
【0010】図2は上記構成のシステムにおける本発明
の基本的な処理の流れを示すフローチャートであり、入
力画像を物体モデルと照合して物体の位置姿勢を決定す
るための処理の流れを示している。
【0011】まず、物体のステレオ画像を入力し(S
1)、このステレオ画像から該物体のエッジを抽出して
(S2)、その局所的特徴によりセグメントに分割する
(S3)。そして、このセグメントに頂点情報を付加し
て認識データを生成し(S4)、この認識データを上記
物体モデルと局所的な幾何特徴を用いて初期照合を行う
ことにより対応する位置姿勢の候補を検出するとともに
(S5)、全体的な幾何特徴を用いて各対応する位置姿
を微調整し(S6)、この初期照合と微調整からなる
認識処理により上記物体の位置姿勢を検出する(S7)
ものである。
【0012】次に、図3〜図13を参照して上記の画像
処理を詳細に説明する。
【0013】システムにより入力した図3に示すステレ
オ画像(640×480pixels,256gray-levels )
から、まず物体の境界線(エッジ)を抽出し、特徴点
(分岐,変曲,屈曲,遷移)により分割して、セグメン
ト化する。そして、その結果を境界表現(B−REP)
データ構造で保持する。これは、“領域”,“境界
線”,“セグメント”,“点”を要素として関係付ける
グラフ構造で、トポロジー的に表現する。
【0014】図4はB−REPの点列を示したものであ
る。また、図5は左右画像のB−REPからセグメント
をステレオの対応単位として得られた3次元情報を示す
図である。
【0015】次に、照合のための幾何特徴である“頂
点”を付加し、認識データを生成する。この頂点は、3
次元座標と2つの3次元方向ベクトルからなり、3次元
空間における物体モデルの位置姿勢を拘束できる。頂点
は以下の(1)〜(4)の手順で生成される。
【0016】(1)図6に示すように、セグメントの3
次元データ点列に、直線または円をあてはめる。
【0017】(2)直線、円ともにあてはめて誤差が大
きい場合は、セグメントを2分割し、再帰的にあてはめ
を行う。各セグメントは線分、円弧あるいは両者の組み
合わせによって近似的に記述されることになる。
【0018】(3)画像B−REPの同じ境界線に属
し、隣り合う2つのセグメントにあてはめられた直線ま
たは円弧の端点における接線を求める。
【0019】(4)2接線の最短距離となる線分の中点
と各接線のベクトルから頂点を生成する。
【0020】図7は、図5の3次元B−REPから生成
した認識データの一部を拡大して示したものである。3
次元B−REPの点列と、その点列にあてはめられた直
線、及び隣り合う直線によって形成された頂点が示され
ている。
【0021】物体モデルは、基本的に上記認識データと
同じデータ構造からなるが、図6に示したように、認識
処理の微調整のための幾何特徴として、各セグメント上
に等間隔に“サンプル点”を持つ。このサンプル点は、
3次元座標と、セグメントにあてはめられた円、または
そのセグメントが構築している頂点によって決まる法線
を情報として持つ。
【0022】上記生成された認識データと物体モデルと
の照合は次のように行う。
【0023】3次元座標系x=[xyz1]t は、4×
4行列
【0024】
【数1】
【0025】によって、x’=Txに変換される。ここ
で、Rは3×3回転行列、tは3×1平行移動ベクトル
である。
【0026】そして、物体の3次元的な位置姿勢は、物
体モデルの座標系を認識データ中の対応する3次元構造
に一致させるように移動させる座標変換行列Tで記述で
きる。すなわち、認識処理は、物体モデルと認識データ
を照合し、座標変換行列Tを算出する処理過程である。
【0027】上記の認識処理は、局所的な幾何特徴を用
いてモデルとデータとの対応の候補を生成する“初期照
合”と、全体的な幾何情報を用いて各対応候補を検証
し、対応の精度を向上させる“微調整”の2つのステッ
プからなる。
【0028】まず初期照合においては、図8に示すよう
に、物体モデルと認識データの頂点を照合することによ
り、座標変換行列Tを算出する。ただし、物体モデルの
頂点と認識データの頂点との正しい対応を前もって知る
ことはできないため、可能性のある全ての頂点の組み合
わせを対応候補とする。
【0029】そして、モデル頂点VM をデータ頂点VD
に一致するよう移動させることを考える。VM とVD
3次元座標から平行移動成分tが決まる。また各頂点を
構成している2ベクトルの方向から回転移動成分Rが決
まる。
【0030】上記頂点を構成する2ベクトルのなす角θ
が大きく異なる組み合わせについては、正しい対応であ
る可能性が低いと考えられるので候補から外す。すなわ
ち、VM(i)(i=1,……,m)とVD (j)(j =1,…
…,n)について、 |θM(i)−θD(j)|<θ を満足する全ての組み合わせでP(i,j) を対応の候補と
し、Tijを算出する。ここでm,nはそれぞれ物体モデ
ル、認識データ中に存在する頂点数であり、θは経験的
に決定した閾値である。
【0031】次に微調整では、物体モデルのサンプル点
を用い、対応候補P(i,j) の妥当性を判別すると同時
に、初期照合の結果得られた座標変換行列Tij(o) に含
まれる誤差を小さくする処理を行う。
【0032】物体モデルのサンプル点S(k)(k =1,…
…,p)について、次の(1),(2)の処理を繰り返
す。
【0033】(1)2次元座標系で、認識データの3次
元B−REP点列との対応点探索を行う。
【0034】(2)3次元座標系で、最小自乗法による
座標変換行列の更新を行う。
【0035】ここで、pは物体モデルのサンプル点数で
あり、その処理過程(1)〜(7)を以下に述べる。
【0036】(1)探索用の画像平面として、認識デー
タの3次元B−REPの点の画像座標をプロットした画
像(図4の左側画像に相当)を用意する。
【0037】(2)サンプル点S(k) をTij(o) によっ
てS’に移動させる。S(k) の3次元座標S(k) と、そ
の法線方向単位ベクトルN(k) は、それぞれ、 S’(k) =Rij(o) S(k) +tij(o) N't(k) =Rij(o) Nt(k) に移動する。ここで、S(k) とN(k) は、それぞれ1×
3のベクトルである。
【0038】(3)S(k) のうち、
【0039】
【数2】
【0040】を満足するものをS(k)(k =1,……,
p; p)とする。S(k) は、Tij(o)による移動後に
観測可能なサンプル点を表している。ここで、P'(k)
は、S'(k)に対する観測方向ベクトルであり、
【0041】
【数3】
【0042】である。ここで、Cはステレオカメラシス
テムの観測位置を表す1×3ベクトルである。
【0043】(4)S'(k)を画像座標[colk ro
k ]に投影し、図9に示すように、サンプル点S(k)
に対応する認識データの点を探索する。図中矢印で示し
たように、S(k) の接線と垂直方向に画像上をトレース
し、一定の距離範囲内にデータ点D(l)(l =1,……,
q)が存在すれば、それをS(k) の対応点とする。ここ
で、qは認識データの3次元B−REP点数である。
【0044】(5)S(k) とD(l) の組み合わせQ(k,
l) について、S’(k) の3次元座標S’(k) を対応点
D(l) の3次元座標D(l) に移動させるのに最適な変換
行列T’ij(l) を、
【0045】
【数4】
【0046】を最小にする最小自乗法によって算出す
る。
【0047】(6)上記(4)における対応点探索の平
均自乗距離、すなわち
【0048】
【数5】
【0049】が閾値以下になるまで、 T(r) =T’(r) T(r−1) として上記(2)〜(5)の処理を繰り返す。ここで、
MはQ(k,l) の総数、すなわち(4)における探索処理
によって見つけられた対応点の数であり、Mpqである。
そして、観測可能なサンプル点数に対する対応点数の割
合M/pが小さい、あるいは一定回数上記の処理を繰り
返してもε2 が収束しないならば、対応候補P(i,j) は
誤りであったとみなして棄却する。
【0050】(7)全ての対応候補P(i,j) について上
記の処理を行い、Mが最大で、対応誤差の3次元平均自
乗距離、すなわち、
【0051】
【数6】
【0052】が最小であるTij(r) を認識結果として選
ぶ。
【0053】上述の初期照合は、局所構造である頂点の
みを用いた照合であるため、頂点近傍のサンプル点を除
き、図9の対応点探索が有効であるほどの認識精度を得
られないことがある。このため、上記の微調整処理は、
以下に示すようにA,Bの2段階に適用している。
【0054】A.初期微調整:VM(i)を構成する二つの
隣接するセグメント上のサンプル点のみを使って対応誤
差を大まかに調整する。
【0055】B.主微調整:全てのサンプル点を使って
さらに精度を向上させる。
【0056】図10の(a),(b)は、一つの面のみ
から構成されている平面物体(厚紙)の物体モデルと入
力ステレオ画像を示す図である。
【0057】図10の(b)のステレオ画像から構築し
た認識データに対する初期微調整、主微調整の結果を図
11の(a),(b)に示す。図では、対応探索によっ
て対応点が得られたサンプル点と、対応点が得られなか
ったサンプル点をそれぞれ示している。そして、この初
期微調整、主微調整がそれぞれ3回ずつ繰り返され、頂
点近傍のサンプル点でしか得られていなかった対応が、
モデル全体のサンプル点について得られるようになる。
【0058】図12は物体モデルを示す図であり、また
図13は本実施例によって得られた図3における認識結
果を示す図である。
【0059】このように、本実施例では初期照合によっ
て探索空間を限定できるので、システム構成が簡単で高
速処理も可能となり、また認識精度も向上する。特に2
段階の微調整を行うことにより、より認識の精度が向上
する。
【0060】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、システ
ム構成が簡単で、高速処理が可能となり、また認識精度
が向上するという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明を実施するためのシステム構成を示す
ブロック図
【図2】 本発明の基本的な処理の流れを示すフローチ
ャート
【図3】 ステレオ画像をディスプレー上に表示した中
間調画像を表す写真
【図4】 ステレオ画像の境界表現を示す図
【図5】 物体の3次元情報を示す図
【図6】 セグメントの3次元データ点列を示す図
【図7】 物体の3次元情報から生成した認識データを
示す説明図
【図8】 物体モデルと認識データの頂点照合を示す説
明図
【図9】 対応点の探索を示す説明図
【図10】 平面物体の物体モデルとステレオ画像をデ
ィスプレー上に表示した中間調画像を表す写真
【図11】 認識データに対する微調整の結果を示す図
【図12】 物体モデルを示す図
【図13】 認識結果をディスプレー上に表示した中間
調画像を表す写真
【符号の説明】
1 コンピュータ 3a テレビカメラ 3b テレビカメラ 5 画像メモリ 6 ディスプレイ装置 7 プリンタ 8 フロッピーディスク 9 キーボードターミナル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 石山 豊 神奈川県横浜市青葉区荏田西1−3−1 スタンレー電気株式会社技術研究所内 審査官 加藤 恵一 (56)参考文献 特開 平6−194138(JP,A) 特開 平5−52535(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G06T 7/00 G06T 7/60 G01B 11/24

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力画像を物体モデルと照合して物体の
    位置姿勢を決定するための画像処理方法であって、物体
    のステレオ画像を入力し、このステレオ画像から該物体
    のエッジを抽出して、その局所的特徴によりセグメント
    に分割し、このセグメントに頂点情報を付加して認識デ
    ータを生成し、この認識データを前記物体モデルと局所
    的な幾何特徴を用いて初期照合を行うことにより対応す
    位置姿勢の候補を検出するとともに、全体的な幾何特
    徴を用いて各対応する位置姿勢を微調整し、この初期照
    合と微調整からなる認識処理により前記物体の位置姿勢
    を検出することを特徴とする画像処理方法。
  2. 【請求項2】 認識処理の微調整は、二つの隣接するセ
    グメント上のサンプル点のみによる初期微調整と、全て
    のサンプル点による主微調整とを行うことを特徴とする
    請求項1記載の画像処理方法。
JP7182796A 1995-07-19 1995-07-19 画像処理方法 Expired - Lifetime JP3054682B2 (ja)

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JPH0935062A (ja) 1997-02-07

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