JP3047486B2 - Diamond film production equipment - Google Patents

Diamond film production equipment

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JP3047486B2
JP3047486B2 JP3058825A JP5882591A JP3047486B2 JP 3047486 B2 JP3047486 B2 JP 3047486B2 JP 3058825 A JP3058825 A JP 3058825A JP 5882591 A JP5882591 A JP 5882591A JP 3047486 B2 JP3047486 B2 JP 3047486B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はダイヤモンド膜の製造装
置に関し、特にアーク放電を利用してダイヤモンド膜を
気相合成する製造装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for producing a diamond film, and more particularly to an apparatus for vapor-phase synthesizing a diamond film using arc discharge.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、ダイヤモンド膜の低圧気相合成方
法として種々提案されている。まず、第1に、熱フィラ
メントCVD法がある。これは、800〜1000℃に
加熱した基板の直上にタングステンフィラメントを設
け、フィラメントを2000℃以上に加熱し、水素と炭
化水素ガス(例えばCH4 )をフィラメントを通して基
板に吹きつけ、基板上にダイヤモンド膜を成長させる方
法である。
2. Description of the Related Art In recent years, various methods have been proposed as low-pressure vapor-phase synthesis methods for diamond films. First, there is a hot filament CVD method. In this method, a tungsten filament is provided directly above a substrate heated to 800 to 1000 ° C., the filament is heated to 2000 ° C. or higher, hydrogen and a hydrocarbon gas (eg, CH 4 ) are blown through the filament to the substrate, and diamond is placed on the substrate. This is a method of growing a film.

【0003】第2に、マイクロ波プラズマCVD法が知
られている。これは、数百ワットのマイクロ波により水
素と炭化水素ガスの混合ガス気体にプラズマを発生さ
せ、プラズマ内に設置された基板上にダイヤモンドを成
長させる方法で、基板はマイクロ波により加熱され、7
00〜900℃程度の温度になっている。
[0003] Second, a microwave plasma CVD method is known. This is a method in which plasma is generated in a mixed gas gas of hydrogen and hydrocarbon gas by a microwave of several hundred watts, and diamond is grown on a substrate placed in the plasma.
The temperature is about 00 to 900 ° C.

【0004】これら2種類の合成法では、原子状水素が
CH4 の分解を促進し、さらに無定形炭素などダイヤモ
ンド以外の合成物質を選択的にエッチングする作用を担
っており、この原子状水素が重要な役割をしている。し
かしながら、フィラメントを高温とする熱フィラメント
CVD法ではフィラメントが断線するトラブルが多く実
用的とは言えない。又、タングステンの融点を考えると
フィラメントの温度は2000℃程度でそれ以上の温度
では断線を招いてしまい、十分な原料ガス分解ができな
いという問題がある。また、マイクロ波プラズマを用い
た合成法ではプラズマ室の寸法が制約されることにより
大面積の試料への適用が困難であり、さらに原料ガス,
特に水素の分解が不十分となるという問題がある。
[0004] In these two kinds of synthesis methods, atomic hydrogen promotes the decomposition of CH 4 and further acts to selectively etch synthetic substances other than diamond such as amorphous carbon. Plays an important role. However, the hot filament CVD method in which the filament is heated to a high temperature has many problems that the filament is broken, and is not practical. Further, considering the melting point of tungsten, the temperature of the filament is about 2000 ° C., and if it is higher than that, there is a problem that disconnection is caused and sufficient decomposition of the raw material gas cannot be performed. In addition, in the synthesis method using microwave plasma, it is difficult to apply the method to a large-area sample because the size of the plasma chamber is restricted.
In particular, there is a problem that decomposition of hydrogen becomes insufficient.

【0005】第3の方法としてイオンビームを用いた合
成法である。これは炭素のイオンビームを基板にあてる
ことでダイヤモンド膜を成長させようとするものであ
る。しかし、アモルファス等の不純物を多く含むダイヤ
モンドとなってしまうという問題があった。
A third method is a synthesis method using an ion beam. This is intended to grow a diamond film by applying a carbon ion beam to a substrate. However, there is a problem that the diamond contains a large amount of impurities such as amorphous.

【0006】そこで、例えば特開昭63−176399
号公報あるいは特開平1−201097号公報にて提案
されているように原料ガスを有効に活用できる方法とし
て、対向した電極にアーク放電を生じさせ、原料ガスを
アーク放電内に通過せしめてガスプラズマとし、このガ
スプラズマを絞り部によりプラズマジェットガスとして
基板に吹きつけることにより、この基板上にダイヤモン
ドを析出形成する合成方法が知られている。
Accordingly, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-176399
As a method that can effectively utilize a source gas as proposed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H10-201097 or Japanese Unexamined Patent Application Publication No. HEI 1-220107, gas plasma is generated by causing an arc discharge in an opposed electrode and passing the source gas through the arc discharge. A synthesis method is known in which this gas plasma is sprayed onto a substrate as a plasma jet gas by means of a throttle to deposit and form diamond on the substrate.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この合
成方法においても、原料ガスを吹きつける基板付近のガ
ス分解(解離)という点では不十分であるという問題が
ある。
However, this synthesis method also has a problem that it is insufficient in terms of gas decomposition (dissociation) near the substrate to which the source gas is blown.

【0008】すなわち、ガス分解率はアーク放電を用い
ることにより著しく向上するが、それはアーク放電の発
生部付近だけであり、プラズマジェットとして基板にプ
ラズマを吹きつけるその基板付近では再結合反応等によ
り著しく低下している。図3に、プラズマジェットのノ
ズル部(プラズマ噴出口)から基板までの水素ラジカル
(分解水素)の量を水素バルマー系列の発光スペクトル
Hβのスペクトル強度で表した特性図を示す。図3より
明らかとなるようにプラズマ噴出口から離れる程,即ち
基板付近程、ガス分解率が著しく低下している。
That is, although the gas decomposition rate is significantly improved by using arc discharge, it is only in the vicinity of the arc discharge generating portion, and remarkably due to recombination reaction or the like in the vicinity of the substrate where plasma is sprayed onto the substrate as a plasma jet. Is declining. FIG. 3 shows a characteristic diagram in which the amount of hydrogen radicals (decomposed hydrogen) from the nozzle portion (plasma ejection port) of the plasma jet to the substrate is represented by the spectrum intensity of the hydrogen Balmer series emission spectrum Hβ. As is clear from FIG. 3, the gas decomposition rate decreases remarkably as the distance from the plasma outlet increases, that is, near the substrate.

【0009】ここで、基板をプラズマ噴出口へ近づけて
ガス分解率の高い位置で合成を行うことが考えられる
が、これは基板温度を上昇させることになり、ダイヤモ
ンド以外のグラファイト等の不純物炭素の生成が急増さ
れてしまうという問題がある。これはダイヤモンドの合
成時の基板温度が600〜1100℃が適しており、高
純度に合成するのは800〜1000℃が最適であるた
めである。
Here, it is conceivable to perform the synthesis at a position where the gas decomposition rate is high by bringing the substrate closer to the plasma jetting port. However, this will increase the substrate temperature, and will increase the impurity carbon such as graphite other than diamond. There is a problem that generation is rapidly increased. This is because a substrate temperature of 600 to 1100 ° C. when diamond is synthesized is suitable, and 800 to 1000 ° C. is optimum for high purity synthesis.

【0010】従って、ダイヤモンドの合成を更に高効率
で行うためには、基板温度を上昇させることなく基板付
近でのガス分解率を高める必要がある。本発明は、上述
した事情を鑑みてなされたもので、高品質なダイヤモン
ド膜を高効率で合成することのできるダイヤモンド膜の
製造装置を提供することを目的とするものである。
Therefore, in order to synthesize diamond with higher efficiency, it is necessary to increase the gas decomposition rate near the substrate without increasing the substrate temperature. The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object to provide a diamond film manufacturing apparatus capable of synthesizing a high-quality diamond film with high efficiency.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明にかかるダイヤモンド膜の製造装置は次の構
成を有している。すなわち、所定真空度に維持される真
空容器と、互いに対向するように前記真空容器内に配置
された正極および負極と、前記正極および負極に電気接
続し、該正極および負極との間の空間にアーク放電を起
こすべく所定の電力を供給するアーク放電用電源と、前
記アーク放電に少なくとも水素及び炭素を含有する原料
ガスを供給してガスプラズマを発生させるガス供給手段
と、該ガスプラズマの流れを絞り、前記ガスプラズマを
プラズマジェットとしてその下流に配置された基板に吹
きつけるプラズマ噴出手段と、前記ガスプラズマが発生
する領域側と前記基板側との間において前記プラズマジ
ェットが最大径となる位置又はその近傍に配置されると
ともに、その内部を該プラズマジェットが流通するよう
にリング状に構成され、そのリング内径Aが前記プラズ
マ噴出手段の絞り径Bに対してA≦5Bなる関係を満足
するように規定されているリング状正電極と、前記原料
ガスの分解を促進すべく前記リング状正電極から前記プ
ラズマジェット中に電流を流すためのプラズマ電流用電
源とを備えることを特徴としている。
In order to achieve the above object, a diamond film manufacturing apparatus according to the present invention has the following configuration. That is, a vacuum container maintained at a predetermined degree of vacuum, a positive electrode and a negative electrode disposed in the vacuum container so as to face each other, and electrically connected to the positive electrode and the negative electrode, and a space between the positive electrode and the negative electrode. An arc discharge power supply for supplying a predetermined electric power to cause an arc discharge, gas supply means for supplying a source gas containing at least hydrogen and carbon to the arc discharge to generate gas plasma, and a flow of the gas plasma. A diaphragm, a plasma jetting means for blowing the gas plasma as a plasma jet to a substrate arranged downstream thereof, and a position where the plasma jet has a maximum diameter between a region side where the gas plasma is generated and the substrate side or It is arranged in the vicinity thereof and is formed in a ring shape so that the plasma jet flows therethrough, and the ring A ring-shaped positive electrode whose diameter A is defined so as to satisfy a relationship of A ≦ 5B with respect to a throttle diameter B of the plasma jetting means; and a ring-shaped positive electrode for promoting decomposition of the source gas. And a plasma current power supply for flowing a current into the plasma jet.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明を図に示す実施例に基づいて説
明する。図1は本発明第1実施例の製造装置の断面構造
図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to an embodiment shown in the drawings. FIG. 1 is a sectional structural view of a manufacturing apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【0013】図1において、プラズマジェットガン1,
窒化ボロンよりなるリング状の絶縁体40,銅よりなる
リング状の正電極31,基板2及び銅から成る基板支持
台3は、5Torr〜5気圧の範囲内の所定の圧力に維持さ
れる真空容器5内に設けられている。
In FIG. 1, a plasma jet gun 1
A ring-shaped insulator 40 made of boron nitride, a ring-shaped positive electrode 31 made of copper, a substrate 2 and a substrate support 3 made of copper are vacuum containers maintained at a predetermined pressure within a range of 5 Torr to 5 atm. 5.

【0014】プラズマジェットガン1は、一端が鋭角に
形成された先端部7aと他端がフランジ部7bとに形成
されたタングステンよりなる棒状電極7を軸として、フ
ランジ部7b側から銅よりなる電極冷却部8,テフロン
(登録商標)よりなるガス導入部9および銅よりなるシ
リンダ状電極10が設けられている。電極冷却部8およ
びシリンダ状電極10には、中空である中空部108,
110が設けられている。そして、シリンダ状電極10
に接続された冷却水パイプ14より供給される冷却水が
シリンダ状電極10の中空部110から冷却水パイプ1
4aに流れ出る。同様に、電極冷却部8に接続された冷
却水パイプ15より供給される冷却水が電極冷却部8の
中空部108に供給され、電極冷却部8に接続される冷
却水パイプ15aより排出される。この冷却水によって
棒状電極7とシリンダ状電極10との間に生ずるアーク
放電の熱による両電極の損耗が防がれる。ガス導入部9
には、原料ガス導入パイプ16が設けられており、さら
に、このガス導入パイプ16より供給されたガスを棒状
電極7の先端部7aに送るようにする開口部が棒状電極
7の一端側において構成されている。
The plasma jet gun 1 has a rod-shaped electrode 7 made of tungsten formed at a tip 7a having an acute angle at one end and a flange 7b at the other end as an axis. A cooling section 8, a gas introduction section 9 made of Teflon (registered trademark), and a cylindrical electrode 10 made of copper are provided. The electrode cooling unit 8 and the cylindrical electrode 10 have hollow portions 108,
110 are provided. Then, the cylindrical electrode 10
The cooling water supplied from the cooling water pipe 14 connected to the cooling water pipe 1 extends from the hollow portion 110 of the cylindrical electrode 10.
Flows out to 4a. Similarly, the cooling water supplied from the cooling water pipe 15 connected to the electrode cooling unit 8 is supplied to the hollow portion 108 of the electrode cooling unit 8 and discharged from the cooling water pipe 15a connected to the electrode cooling unit 8. . The cooling water prevents wear of both electrodes due to heat of arc discharge generated between the rod-shaped electrode 7 and the cylindrical electrode 10. Gas inlet 9
Is provided with a raw material gas introduction pipe 16, and an opening for sending the gas supplied from the gas introduction pipe 16 to the tip 7 a of the rod-shaped electrode 7 is formed at one end of the rod-shaped electrode 7. Have been.

【0015】さらに、棒状電極7とシリンダ状電極10
の間でアーク放電を起こすために、棒状電極7とシリン
ダ状電極10とはアーク放電用電源17に接続されてい
る。なお、このアーク放電用電源17は、アーク放電を
効果的に発生させるために、鋭角に形成された先端部7
aを有する棒状電極7側を負電位にするように接続され
ている。また、シリンダ状電極10においてそのガス導
入部9と反対側の面には、ガスプラズマを絞ることによ
りプラズマジェットガスとするプラズマ噴出口18が設
けられている。そして、このプラズマ噴出口18と連通
してプラズマ通過口を構成するリング状絶縁体40及び
リング状正電極31が設けられている。また、プラズマ
噴出口18には、炭素源ガス導入口19が設けられてい
る。
Further, the rod-shaped electrode 7 and the cylindrical electrode 10
The rod electrode 7 and the cylindrical electrode 10 are connected to an arc discharge power source 17 in order to cause an arc discharge between the electrodes. The arc discharge power supply 17 has a sharply formed tip portion 7 for effectively generating arc discharge.
The rod-shaped electrode 7 having a is connected to a negative potential. Further, on the surface of the cylindrical electrode 10 opposite to the gas introduction portion 9, there is provided a plasma jet port 18 for narrowing the gas plasma to be a plasma jet gas. Further, a ring-shaped insulator 40 and a ring-shaped positive electrode 31 which are connected to the plasma outlet 18 and constitute a plasma passage are provided. Further, a carbon source gas inlet 19 is provided in the plasma outlet 18.

【0016】このリング状正電極31はプラズマ噴出口
18下流においてプラズマジェットガスが最大径となる
位置又はその近傍に配置されており、その配置設定はリ
ング状絶縁体40の長さによって与えられている。そし
て、これら窒化ボロンよりなるリング状絶縁体40及び
銅よりなるリング状正電極31のリング内径は各々プラ
ズマ噴出口18より大きな径に設定されており、特にリ
ング状正電極31のリング内径Aはプラズマ噴出口18
の内径Bに対して後述するようにA≦5Bとなる関係に
なるように決められている。そして、棒状電極7とこの
リング状正電極31との間にはプラズマ電流用電源21
が電気接続してある。これは、棒状電極7と該リング状
正電極31の間に電界を印加し、リング状正電極31か
ら棒状電極7へプラズマ中を介して電流を流すようにす
るためである。なお、リング状正電極31には中空であ
る中空部112が設けられ、該中空部112には冷却水
導入パイプ32より冷却水が供給されて冷却水パイプ3
2aへ排出される。この冷却水によってリング状正電極
31は冷却され、棒状電極7とリング状正電極31との
間に流れる電流によるリング状正電極31の加熱は抑制
されて該加熱によるリング状正電極31の損耗は防がれ
る。
The ring-shaped positive electrode 31 is arranged at or near the position where the plasma jet gas has the maximum diameter downstream of the plasma jet port 18, and the arrangement is determined by the length of the ring-shaped insulator 40. I have. The ring inner diameter of each of the ring-shaped insulator 40 made of boron nitride and the ring-shaped positive electrode 31 made of copper is set to be larger than the diameter of the plasma jet port 18. Plasma spout 18
Is determined so as to satisfy A ≦ 5B with respect to the inner diameter B. A power supply 21 for plasma current is provided between the rod-shaped electrode 7 and the ring-shaped positive electrode 31.
Is electrically connected. This is for applying an electric field between the rod-shaped electrode 7 and the ring-shaped positive electrode 31 so that a current flows from the ring-shaped positive electrode 31 to the rod-shaped electrode 7 through the plasma. The ring-shaped positive electrode 31 is provided with a hollow portion 112 which is hollow. Cooling water is supplied from the cooling water introduction pipe 32 to the hollow portion 112 so that the cooling water pipe 3
2a. The ring-shaped positive electrode 31 is cooled by the cooling water, and the heating of the ring-shaped positive electrode 31 by the current flowing between the rod-shaped electrode 7 and the ring-shaped positive electrode 31 is suppressed, and the ring-shaped positive electrode 31 is worn by the heating. Is prevented.

【0017】プラズマ噴出口18の下流にはこれらリン
グ状絶縁体40及びリング状正電極31を介して基板支
持台3が設定されており、該基板支持台3には基板2が
配置されている。この基板支持台3は、基板を所定温度
(本実施例では約800℃)に維持するために冷却水パ
イプ20より冷却水が供給され、冷却水パイプ20aよ
り排出できるよう中空となっている。これは、プラズマ
噴出口18より噴き出されるプラズマジェットの気体温
度が数千〜数万度に達してしまうため、基板温度をダイ
ヤモンドの合成域である600〜1100℃にするため
に基板2を冷却する必要があるからである。また、基板
支持台3は接地されており、基板2の電位を接地電位と
している。
A substrate support 3 is set downstream of the plasma outlet 18 via the ring-shaped insulator 40 and the ring-shaped positive electrode 31, and the substrate 2 is disposed on the substrate support 3. . The substrate support 3 is hollow so that cooling water is supplied from a cooling water pipe 20 and is discharged from a cooling water pipe 20a to maintain the substrate at a predetermined temperature (about 800 ° C. in this embodiment). This is because the gas temperature of the plasma jet ejected from the plasma ejection port 18 reaches several thousands to tens of thousands of degrees, so that the substrate 2 is cooled in order to keep the substrate temperature at 600 to 1100 ° C., which is a diamond synthesis region. It is necessary to do it. The substrate support 3 is grounded, and the potential of the substrate 2 is set to the ground potential.

【0018】なお、リング状正電極31と基板2間の距
離が10〜100mmであり、かつガスプラズマが発生
する領域側とリング状正電極31との間が5〜100m
mであれば、ダイヤモンドの合成は可能であり、本実施
例においてはプラズマ噴出口18と基板2との間の距離
を40mmとし、またリング状正電極31はプラズマ噴
出口18と10mmの距離をおいて同心軸上に設置して
いる。また、本実施例ではプラズマ噴出口18の内径は
4mmとし、リング状正電極31のリング内径は10m
mに設定されている。
The distance between the ring-shaped positive electrode 31 and the substrate 2 is 10 to 100 mm, and the distance between the region where gas plasma is generated and the ring-shaped positive electrode 31 is 5 to 100 m.
m, it is possible to synthesize diamond. In this embodiment, the distance between the plasma outlet 18 and the substrate 2 is 40 mm, and the ring-shaped positive electrode 31 has a distance of 10 mm from the plasma outlet 18. Are installed on a concentric axis. In the present embodiment, the inner diameter of the plasma outlet 18 is 4 mm, and the inner diameter of the ring-shaped positive electrode 31 is 10 m.
m.

【0019】次に、本実施例のダイヤモンド膜の合成方
法を説明する。まず初めに、真空容器5内を排気した
後、電離度の高い第0族のガスであるアルゴンをガス導
入パイプ16からプラズマジェットガン1に導入し、か
つ真空容器5内圧力を40Torrに設定する。その後、ア
ーク放電用電源17により棒状電極7(負極)とシリン
ダ状電極10(正極)との間にアーク放電を発生させ
る。アーク放電を発生させるにはこれら棒状電極7とシ
リンダ状電極10との間に高周波を重畳させるかイグナ
イタ等で火花放電を発生させてその後アーク放電に移行
させるようにすればよい。なお、本実施例では、アーク
放電は電圧40Vで電流60Aの条件としている。
Next, a method for synthesizing the diamond film of the present embodiment will be described. First, after the inside of the vacuum vessel 5 is evacuated, argon as a Group 0 gas having a high degree of ionization is introduced into the plasma jet gun 1 from the gas introduction pipe 16 and the pressure inside the vacuum vessel 5 is set to 40 Torr. . Thereafter, an arc discharge is generated between the rod-shaped electrode 7 (negative electrode) and the cylindrical electrode 10 (positive electrode) by the arc discharge power supply 17. In order to generate an arc discharge, a high frequency may be superimposed between the rod-shaped electrode 7 and the cylindrical electrode 10 or a spark discharge may be generated by an igniter or the like, and then the arc discharge may be started. In this embodiment, the arc discharge is performed under the conditions of a voltage of 40 V and a current of 60 A.

【0020】放電が安定したところで、このアーク放電
にガス導入パイプ16より、プラズマ源ガスとしてアル
ゴン50vol%,H2 50vol%の混合ガスを毎分
12リットルの流量で流しガスプラズマとし、このガス
プラズマをプラズマ噴出口18の絞りを通過せしめてプ
ラズマジェットとする。なお、炭素源ガス導入口19か
らはメタンガス240cc/min と水素ガス60cc/min
の混合ガスが導入される。ここで、メタンガスに代表さ
れる炭素源ガスとしての炭化水素ガスは、ガス導入パイ
プ16から導入してもよいが、タングステン電極棒が炭
化されて長時間放電が安定しなくなることがあるため、
炭化水素ガスは放電部下流にガス導入口を設けてそこか
ら導入するようにするのが望ましい。そして、この炭素
源ガス導入口19より導入したメタンガスを上述のプラ
ズマ源ガスのプラズマジェットに吹きつけプラズマジェ
ットガスとする。なお、ここで真空容器5内の圧力を4
0Torrに保つように適当に排気が行われている。
When the discharge was stabilized, a mixed gas of 50 vol% of argon and 50 vol% of H 2 was supplied as a plasma source gas at a flow rate of 12 liters per minute from the gas introduction pipe 16 to the gas discharge to form a gas plasma. Is passed through the restriction of the plasma jet port 18 to form a plasma jet. From the carbon source gas inlet 19, methane gas 240 cc / min and hydrogen gas 60 cc / min
Is introduced. Here, the hydrocarbon gas as a carbon source gas represented by methane gas may be introduced from the gas introduction pipe 16, but since the tungsten electrode rod is carbonized, the discharge may not be stable for a long time.
It is desirable to provide a gas inlet downstream of the discharge part and to introduce the hydrocarbon gas therefrom. Then, the methane gas introduced from the carbon source gas inlet 19 is blown onto the plasma jet of the above-mentioned plasma source gas to be a plasma jet gas. Here, the pressure in the vacuum vessel 5 is set to 4
Exhaust is properly performed to maintain 0 Torr.

【0021】ここで、棒状電極7とリング状正電極31
の間には、直流電源であるプラズマ電流用電源21によ
り電界が印加されている。本実施例では電圧として60
V,電流値40Aとし、また、基板支持台3は接地され
て基板2の電位は接地電位とされている。
Here, the rod-shaped electrode 7 and the ring-shaped positive electrode 31
Between them, an electric field is applied by a plasma current power supply 21 which is a DC power supply. In this embodiment, the voltage is 60
V, a current value of 40 A, the substrate support 3 is grounded, and the potential of the substrate 2 is set to the ground potential.

【0022】この状態で、赤紫色のプラズマジェットガ
スを基板2に吹きつけることにより基板2上にダイヤモ
ンドが析出形成される。なお、本実施例ではプラズマ中
心部の温度は3000℃以上であり、またガン内部の放
電部はそれ以上に上昇している。
In this state, a red-purple plasma jet gas is blown onto the substrate 2 to deposit and form diamond on the substrate 2. In this embodiment, the temperature at the center of the plasma is 3000 ° C. or higher, and the discharge portion inside the gun rises more.

【0023】実際に以上の条件で30分合成を行った基
板2の表面付着物の評価結果について説明する。なお、
基板2としてはタングステン金属板を用い、表面にはあ
らかじめ研磨により微細な傷がつけ、ダイヤモンド膜が
合成し易いようにしてある。そして、基板2上付着物の
観察にはラマン分光装置と電子顕微鏡を用いた。図2
(a)に本実施例におけるラマンシフトとピーク高さの
関係を示す。また、同図(b)には比較のために図1に
示す構成において、プラズマ電流用電源21により電界
を印加しなかった場合のラマンシフトとピーク高さの関
係を示す。
A description will now be given of the evaluation results of the surface deposits on the substrate 2 which were actually synthesized for 30 minutes under the above conditions. In addition,
A tungsten metal plate is used as the substrate 2, and its surface is finely scratched in advance by polishing so that a diamond film can be easily synthesized. Then, a Raman spectrometer and an electron microscope were used for observation of the deposit on the substrate 2. FIG.
(A) shows the relationship between the Raman shift and the peak height in the present embodiment. FIG. 2B shows the relationship between the Raman shift and the peak height when no electric field is applied by the plasma current power supply 21 in the configuration shown in FIG. 1 for comparison.

【0024】このラマンスペクトルからは、図2(a)
に示すように、ラマンシフトが1333cm-1付近のダ
イヤモンドの存在を示すラマンピークが確認された。ま
た、図2(b)ではこのラマンスペクトルより、黒鉛無
定形炭素,i−カーボン等を示す1400〜1600c
-1のブロードなピークが明らかに現れている。この図
2(a),(b)に示される結果から、プラズマ電流用
電源21により電界を印加すれば、高純度のダイヤモン
ド膜を析出形成できるということがわかる。なお、電子
顕微鏡の観察でも結晶粒子像が確認されており、結晶形
もマイクロ波プラズマCVD法で合成されたダイヤモン
ド粒子と同様の形態を示している。
From this Raman spectrum, FIG.
As shown in the figure, a Raman peak having a Raman shift around 1333 cm -1 indicating the presence of diamond was confirmed. In FIG. 2B, from this Raman spectrum, 1400 to 1600c indicating graphite amorphous carbon, i-carbon and the like are shown.
A broad peak at m -1 clearly appears. From the results shown in FIGS. 2A and 2B, it is understood that a high-purity diamond film can be deposited and formed by applying an electric field from the power source 21 for plasma current. Note that a crystal particle image was also confirmed by observation with an electron microscope, and the crystal form showed the same form as the diamond particles synthesized by the microwave plasma CVD method.

【0025】また、ダイヤモンド膜の合成速度について
は、従来知られているマイクロ波プラズマCVDを用い
て行ったダイヤモンド合成実験では、0.3μm/hの
合成速度であったのに対し、本実施例の合成法では10
0μm/hと十分に速い合成速度にて合成できている。
The diamond film was synthesized at a rate of 0.3 μm / h in a diamond synthesis experiment performed using microwave plasma CVD, which was conventionally known. Is 10
It can be synthesized at a sufficiently high synthesis rate of 0 μm / h.

【0026】次に、上記実施例のように、棒状電極7と
リング状正電極31との間にプラズマ電流用電源21に
て電界を印加してプラズマに電流を流すことにより、高
純度のダイヤモンド膜が速い合成速度にて析出形成でき
るようになる理由について、本発明者等の考察結果をも
とに、以下に説明する。
Next, as in the above embodiment, an electric field is applied between the rod-shaped electrode 7 and the ring-shaped positive electrode 31 by the plasma current power supply 21 to flow a current through the plasma, thereby producing a high-purity diamond. The reason why the film can be deposited and formed at a high synthesis rate will be described below based on the considerations of the present inventors.

【0027】アーク放電を利用したダイヤモンド膜の合
成法は、アーク放電の熱エネルギーによりガスを十分に
分解してダイヤモンド膜を合成する方法であり、使用ガ
スは一般には炭化水素と水素である。ガスの役割を考え
ると炭化水素はプラズマ分解により分解しダイヤモン
ド,グラファイト,無定形炭素,i−カーボンを生成す
る。一方、水素はプラズマ分解により分解し、水素ラジ
カル,水素イオン等になると考えられる。この水素ラジ
カルは還元力が大きいため、例えば炭素を還元してメタ
ン等に気化する働きがある。つまり、炭化水素がプラズ
マ分解することにより発生するダイヤモンド,グラファ
イト,無定形炭素,i−カーボン等を水素ラジカルが還
元するのである。
The method of synthesizing a diamond film using arc discharge is a method of synthesizing a diamond film by sufficiently decomposing a gas by the heat energy of the arc discharge, and the gases used are generally hydrocarbons and hydrogen. Considering the role of gas, hydrocarbons are decomposed by plasma decomposition to produce diamond, graphite, amorphous carbon, and i-carbon. On the other hand, hydrogen is considered to be decomposed by plasma decomposition to become hydrogen radicals, hydrogen ions, and the like. Since the hydrogen radical has a large reducing power, it has a function of reducing carbon and evaporating it to methane or the like. That is, the hydrogen radicals reduce diamond, graphite, amorphous carbon, i-carbon, and the like, which are generated by hydrocarbon decomposition by plasma.

【0028】ここで、上記ダイヤモンド,グラファイ
ト,無定形炭素,i−カーボンに対する水素ラジカルの
還元能力,即ち除去能力はそれぞれに対して異なり、ダ
イヤモンドに対する除去能力は他のグラファイト,無定
形炭素,i−カーボンに対する除去能力に比べ格段に低
い。したがって、プラズマ分解によるダイヤモンド合成
では、水素ラジカルによりダイヤモンド以外のグラファ
イト,無定形炭素,i−カーボン等が見かけ上選択的に
除去され、ダイヤモンドのみが合成されることになるの
である。
Here, the reducing ability of hydrogen radicals to the diamond, graphite, amorphous carbon and i-carbon, that is, the removing ability is different from each other, and the removing ability to diamond is other graphite, amorphous carbon and i-carbon. It is much lower than the removal ability for carbon. Therefore, in the synthesis of diamond by plasma decomposition, graphite other than diamond, amorphous carbon, i-carbon and the like are apparently selectively removed by hydrogen radicals, and only diamond is synthesized.

【0029】したがって、ダイヤモンドの合成速度およ
び純度を向上させるには、炭化水素の導入量を増加させ
るだけではなく、水素及び炭化水素の分解(解離)を向
上させる必要がある。例えば、統計力学により気体温度
に対する水素の解離率を計算すると、図4に示すグラフ
のようになる。このグラフより、例えば熱フィラメント
法の様に2千数百゜K程度では水素は数%も解離してい
ない。水素を高解離させるには少なくとも3千゜K以上
の気体温度が必要である。ここで、アーク放電は、数To
rrから数気圧の圧力範囲で発生し、対向電極間の電位差
が数十V程度と低いかわりに空間中を高密度の電流が流
れる放電であり、数千から数万゜Kの気体温度が得られ
るため水素を十分に解離できると考えられる。
Therefore, in order to improve the synthesis rate and purity of diamond, it is necessary not only to increase the amount of introduced hydrocarbons but also to improve the decomposition (dissociation) of hydrogen and hydrocarbons. For example, when the dissociation rate of hydrogen with respect to the gas temperature is calculated by statistical mechanics, a graph shown in FIG. 4 is obtained. According to this graph, hydrogen is not dissociated by several percent at about 2,000 and several hundreds K, for example, as in the hot filament method. In order to highly dissociate hydrogen, a gas temperature of at least 3,000 K is required. Here, the arc discharge is several To
It is a discharge that occurs in the pressure range of rr to several atmospheres and a high-density current flows in the space instead of the potential difference between the counter electrodes being as low as several tens of volts. Therefore, it is considered that hydrogen can be sufficiently dissociated.

【0030】そして、棒状電極7とリング状正電極31
との間にプラズマ電流用電源21にて電界を印加するこ
とにより、ガスプラズマ中を流れる電子がリング状正電
極31側に加速され、その電子のエネルギーが大きくな
る。そして、この電子が水素及び炭化水素に衝突するこ
とにより、そのエネルギーを水素及び炭化水素が吸収す
る結果、水素及び炭化水素が分解,解離し易くなり、し
いては高純度のダイヤモンド膜を高速で析出形成できる
ようになるものと考えられる。
Then, the rod-shaped electrode 7 and the ring-shaped positive electrode 31
When an electric field is applied by the plasma current power supply 21 during this time, the electrons flowing in the gas plasma are accelerated toward the ring-shaped positive electrode 31, and the energy of the electrons increases. When the electrons collide with hydrogen and hydrocarbons, the energy is absorbed by hydrogen and hydrocarbons. As a result, the hydrogen and hydrocarbons are easily decomposed and dissociated. It is considered that precipitation can be formed.

【0031】ここで、電流を流すのはプラズマ中であ
り、その値が大きい程析出形成されるダイヤモンド膜の
純度,合成速度は向上する。しかし、プラズマ中を流す
電流を大きくすることにより加速された電子が基板2に
到達し、基板温度を上昇させ、基板温度を上述したダイ
ヤモンドの合成域である600〜1100℃に保つこと
ができなくなることが考えられる。すなわち、本実施例
で基板電位を接地電位としたのは、基板2側よりリング
状正電極31に正電流が流れることが原因で基板温度が
上昇するのを防止するためである。
Here, the current flows in the plasma, and the larger the value, the higher the purity and the synthesis rate of the diamond film deposited and formed. However, the electrons accelerated by increasing the current flowing in the plasma reach the substrate 2 and increase the substrate temperature, so that the substrate temperature cannot be maintained at 600 to 1100 ° C., which is the above-described diamond synthesis region. It is possible. That is, the reason why the substrate potential is set to the ground potential in this embodiment is to prevent the substrate temperature from rising due to the flow of the positive current from the substrate 2 to the ring-shaped positive electrode 31.

【0032】次に、本実施例においてリング状正電極3
1のリング内径Aをプラズマ噴出口18の内径Bに対し
てA≦5Bと規定している理由について説明する。リン
グ状正電極31は、そのリング内に原料ガスのプラズマ
ジェット柱を通すように該プラズマジェット柱が最大径
となる位置またはその近傍に配されるとともに、該プラ
ズマジェット柱に電子を多量に流すことを目的とするも
のである。
Next, in this embodiment, the ring-shaped positive electrode 3
The reason why the inner diameter A of the first ring is defined as A ≦ 5B with respect to the inner diameter B of the plasma ejection port 18 will be described. The ring-shaped positive electrode 31 is disposed at or near the position where the plasma jet column has the maximum diameter so that the plasma jet column of the source gas passes through the ring, and a large amount of electrons flow through the plasma jet column. The purpose is to do so.

【0033】本発明者等は実験的考察を重ねることによ
り、プラズマ噴出口18の内径に対してこのリング状正
電極31のリング内径を変化させると合成するダイヤモ
ンド膜の合成速度及びその膜の熱拡散率が変化すること
をつきとめ、リング状正電極31の内径には制約がある
ことを見出している。図5にその関係を表す特性図を示
す。図5より明らかなように、リング状正電極31のリ
ング内径がプラズマ噴出口18の内径の5倍より大きく
なると、合成されるダイヤモンド膜の合成速度及び熱拡
散率(ダイヤモンド膜の純度に相当)は急激に低下して
しまう。即ち、リング状正電極31のリング内径Aとプ
ラズマ噴出口18の内径Bとの間には、A≦5Bという
プラズマ中に多量の電子を流すのに適する相関関係があ
る。そして、リング状正電極31のリング内径がこの相
関関係を越えて大きく設定されると、プラズマ中に電子
を流すのが困難となり、本実施例においてリング状正電
極31を設けてプラズマジェット柱に電子を多量に流し
原料ガスの分解を促進するという目的が達せられなくな
ることが考察される。
The inventors of the present invention have repeated experimental considerations, and found that, when the inner diameter of the ring-shaped positive electrode 31 is changed with respect to the inner diameter of the plasma outlet 18, the synthesis speed of the diamond film synthesized and the heat of the film are increased. The inventors have found that the diffusivity changes, and found that the inner diameter of the ring-shaped positive electrode 31 is restricted. FIG. 5 is a characteristic diagram showing the relationship. As is clear from FIG. 5, when the inner diameter of the ring of the ring-shaped positive electrode 31 is larger than 5 times the inner diameter of the plasma outlet 18, the synthesis speed and thermal diffusivity of the synthesized diamond film (corresponding to the purity of the diamond film). Drops sharply. That is, there is a correlation between the ring inner diameter A of the ring-shaped positive electrode 31 and the inner diameter B of the plasma ejection port 18 that is suitable for flowing a large amount of electrons into the plasma, where A ≦ 5B. If the inner diameter of the ring of the ring-shaped positive electrode 31 is set to be larger than this correlation, it becomes difficult to flow electrons into the plasma. In this embodiment, the ring-shaped positive electrode 31 is provided to form a plasma jet column. It is considered that the purpose of flowing a large amount of electrons to promote the decomposition of the source gas cannot be achieved.

【0034】以上、本発明を上記第1実施例を用いて説
明したが、本発明はそれに限定されることなくその趣旨
を逸脱しない限り、種々変形実施可能である。例えば、
上記第1実施例ではプラズマ電流用電源21の負(低)
電位側を棒状電極7に接続しているが、シリンダ状電極
10側に接続しても良い。また、上記第1実施例ではリ
ング状正電極31を絶縁体40を介してプラズマジェッ
トガン1に接続構成したものを示したが、リング状正電
極31はプラズマ噴出口18から絶縁されておればよ
く、絶縁体40を省いてプラズマ噴出口18と基板2と
の間の空間に保持するようにしてもよい。さらに、上記
第1実施例では基板2を接地電位とするものであった
が、これは基板に電子が到達することが原因で基板温度
が上昇してしまうのを防止できればよく、他にリング状
正電極と同電位とする,或いは該リング状正電極が基板
より高電位となるように該基板をリング状正電極より低
電位とする電源を基板保持台に接続するようにしてもよ
い。
As described above, the present invention has been described using the first embodiment, but the present invention is not limited thereto, and various modifications can be made without departing from the spirit thereof. For example,
In the first embodiment, the negative (low) voltage of the plasma current power supply 21 is used.
Although the potential side is connected to the rod-shaped electrode 7, it may be connected to the cylindrical electrode 10. In the first embodiment, the ring-shaped positive electrode 31 is connected to the plasma jet gun 1 via the insulator 40. However, if the ring-shaped positive electrode 31 is insulated from the plasma jet port 18, Alternatively, the insulator 40 may be omitted, and the insulator 40 may be held in the space between the plasma outlet 18 and the substrate 2. Further, in the first embodiment, the substrate 2 is set at the ground potential. However, it is sufficient that the substrate temperature can be prevented from rising due to electrons reaching the substrate. A power source which has the same potential as the positive electrode or which has a lower potential than the ring-shaped positive electrode so that the ring-shaped positive electrode has a higher potential than the substrate may be connected to the substrate holder.

【0035】[0035]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、ガ
スプラズマを発生する領域側と基板上方のリング状正電
極間に該電極側を高電位としてプラズマ中に電子を流す
ようにしているために、原料ガスの分解を著しく向上さ
せる,また再結合した原料ガスを再分解させることがで
きる。そして、リング状正電極のリング内径Aをプラズ
マ噴出口の絞り径Bに対してA≦5Bなる関係に設定し
ているため、プラズマ中に多量の電子を流すことが容易
にでき、しかして基板近傍におけるガスの分解率を十分
高めることができ、合成速度を速くした上で、高品質な
ダイヤモンド膜を高効率で合成することができるという
優れた効果が奏される。
As described above, according to the present invention, between the region where gas plasma is generated and the ring-shaped positive electrode above the substrate, the electrode side is set to a high potential so that electrons flow in the plasma. Therefore, the decomposition of the source gas can be remarkably improved, and the recombined source gas can be re-decomposed. Further, since the inner diameter A of the ring-shaped positive electrode is set so as to satisfy A ≦ 5B with respect to the aperture diameter B of the plasma ejection port, a large amount of electrons can easily flow in the plasma. An excellent effect is obtained in that the decomposition rate of gas in the vicinity can be sufficiently increased, the synthesis rate can be increased, and a high-quality diamond film can be synthesized with high efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明第1実施例のダイヤモンド膜製造装置の
断面図である。
FIG. 1 is a sectional view of a diamond film manufacturing apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】ラマンシフトとピーク高さとの関係を示す特性
図で、図(a)は上記第1実施例により合成した試料の
特性図、図(b)は上記第1実施例においてリング状正
電極からガスプラズマ中に電流を流さない場合に合成し
た試料の特性図である。
FIGS. 2A and 2B are characteristic diagrams showing the relationship between Raman shift and peak height. FIG. 2A is a characteristic diagram of a sample synthesized according to the first embodiment, and FIG. FIG. 4 is a characteristic diagram of a sample synthesized when no current is passed from the electrode into the gas plasma.

【図3】プラズマ噴出口から基板方向への水素(H)ラ
ジカルスペクトル強度の分布を示す特性図である。
FIG. 3 is a characteristic diagram showing a distribution of hydrogen (H) radical spectrum intensity from a plasma ejection port toward a substrate.

【図4】気体温度に対する水素の解離度を示す特性図で
ある。
FIG. 4 is a characteristic diagram showing a degree of dissociation of hydrogen with respect to a gas temperature.

【図5】リング状正電極のリング内径を変化させた時の
合成ダイヤモンド膜の合成速度と熱拡散率の変化を示す
特性図である。
FIG. 5 is a characteristic diagram showing changes in the synthesis rate and thermal diffusivity of a synthetic diamond film when the ring inner diameter of the ring-shaped positive electrode is changed.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 プラズマジェットガン 2 基板 3 基板支持台 5 真空容器 7 棒状電極 10 シリンダ状電極 16 ガス導入パイプ 17 アーク放電用電源 18 プラズマ噴出口 19 炭素源ガス導入口 21 プラズマ電流用電源 31 リング状正電極 40 リング状絶縁体 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Plasma jet gun 2 Substrate 3 Substrate support 5 Vacuum container 7 Bar electrode 10 Cylindrical electrode 16 Gas introduction pipe 17 Power supply for arc discharge 18 Plasma ejection port 19 Carbon source gas introduction port 21 Power supply for plasma current 31 Ring-shaped positive electrode 40 Ring insulator

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 服部 正 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 日本 電装株式会社内 (56)参考文献 特開 平5−213694(JP,A) 特開 平4−295092(JP,A) 特開 平4−295091(JP,A) 特開 平3−131598(JP,A) 特開 平3−88799(JP,A) 特開 平1−201097(JP,A) 特開 昭63−176399(JP,A) 特開 昭64−65093(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) C30B 1/00 - 35/00 CA(STN) 特許ファイル(PATOLIS) WPI/L(QUESTEL)──────────────────────────────────────────────────続 き Continuation of the front page (72) Inventor Tadashi Hattori 1-1-1, Showa-cho, Kariya-shi, Aichi Japan Inside Denso Co., Ltd. (56) References JP-A-5-213694 (JP, A) JP-A-4- 295092 (JP, A) JP-A-4-295091 (JP, A) JP-A-3-131598 (JP, A) JP-A-3-88799 (JP, A) JP-A-1-201097 (JP, A) JP-A-63-176399 (JP, A) JP-A-64-65093 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) C30B 1/00-35/00 CA (STN) Patent file (PATOLIS) WPI / L (QUESTEL)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 所定真空度に維持される真空容器と、互
いに対向するように前記真空容器内に配置された正極お
よび負極と、前記正極および負極に電気接続し、該正極
および負極との間の空間にアーク放電を起こすべく所定
の電力を供給するアーク放電用電源と、前記アーク放電
に少なくとも水素及び炭素を含有する原料ガスを供給し
てガスプラズマを発生させるガス供給手段と、該ガスプ
ラズマの流れを絞り、前記ガスプラズマをプラズマジェ
ットとしてその下流に配置された基板に吹きつけるプラ
ズマ噴出手段と、前記ガスプラズマが発生する領域側と
前記基板側との間において前記プラズマジェットが最大
径となる位置又はその近傍に配置されるとともに、その
内部を該プラズマジェットが流通するようにリング状に
構成され、そのリング内径Aが前記プラズマ噴出手段の
絞り径Bに対してA≦5Bなる関係を満足するように規
定されているリング状正電極と、前記原料ガスの分解を
促進すべく前記リング状正電極から前記プラズマジェッ
ト中に電流を流すためのプラズマ電流用電源とを備える
ことを特徴とするダイヤモンド膜の製造装置。
1. A vacuum vessel maintained at a predetermined degree of vacuum, a positive electrode and a negative electrode disposed in the vacuum vessel so as to face each other, and electrically connected to the positive electrode and the negative electrode, and between the positive electrode and the negative electrode. An arc discharge power supply for supplying a predetermined electric power to cause an arc discharge in the space, gas supply means for supplying a source gas containing at least hydrogen and carbon to the arc discharge to generate a gas plasma, A plasma jetting means for blowing the gas plasma as a plasma jet to a substrate disposed downstream thereof, and the plasma jet having a maximum diameter between a region side where the gas plasma is generated and the substrate side. At or near a certain position, and is formed in a ring shape so that the plasma jet flows therethrough. A ring-shaped positive electrode whose inner diameter A is defined so as to satisfy a relationship of A ≦ 5B with respect to a throttle diameter B of the plasma jetting means, and a ring-shaped positive electrode for promoting decomposition of the source gas. An apparatus for producing a diamond film, comprising: a plasma current power supply for flowing a current into the plasma jet.
【請求項2】 前記リング状正電極の電位は前記基板と
同電位,あるいは該基板電位より高電位とされているこ
とを特徴とする請求項1に記載のダイヤモンド膜の製造
装置。
2. The diamond film manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the potential of the ring-shaped positive electrode is the same as the potential of the substrate or higher than the potential of the substrate.
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