JPH07101798A - Production of diamond film and device therefor - Google Patents

Production of diamond film and device therefor

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JPH07101798A
JPH07101798A JP27498593A JP27498593A JPH07101798A JP H07101798 A JPH07101798 A JP H07101798A JP 27498593 A JP27498593 A JP 27498593A JP 27498593 A JP27498593 A JP 27498593A JP H07101798 A JPH07101798 A JP H07101798A
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JP
Japan
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gas
diamond film
substrate
inlet
plasma
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Application number
JP27498593A
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Japanese (ja)
Inventor
Minoru Yamamoto
稔 山元
Satoshi Nakamura
中村  聡
Nobue Ito
信衛 伊藤
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Denso Corp
Original Assignee
NipponDenso Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To form a high-quality diamond film having good flatness at a high rate. CONSTITUTION:A boron nitride insulator 40, a carbon source gas inlet 32, a substrate 2 and a copper substrate holder 3 are set below the plasma jet(PJ) gas 1 in a vacuum chamber 5, an electrode 10 (positive electrode) has a plasma nozzle 18 to throttle a plasma gas into the PJ gas, a carbon source gas inlet 19 is concentrically arranged, and a gaseous mixture of hydrogen and hydrocarbons is supplied to the PJ gas. The gaseous mixture is also supplied around the PJ gas from a gas inlet 32 on the downstream side. Although the optimum distance between the gas inlet 32 and the substrate 2 depends on the inside of a vacuum chamber 5, arc power and the cooled state of the substrate 2, the gas inlet 32 is set 10-80mm above the substrate 2 to efficiently flatten the formed diamond film. The carbon source gas is distributed from the inlet 19 of the gas inlet 32, and the distribution ratio affects the flatness of the formed film and is controlled to 1:1 to 1:4 to produce an intended effect.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はダイヤモンド膜の製造装
置および製造方法に関し、特にアーク放電によるプラズ
マジェットを利用してダイヤモンド膜を気相合成する製
造装置および製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a diamond film manufacturing apparatus and manufacturing method, and more particularly to a manufacturing apparatus and manufacturing method for vapor phase synthesizing a diamond film using a plasma jet by arc discharge.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、ダイヤモンド膜の低圧気相合成方
法として種々提案され、主に三種類あげられる。まず、
第一に、熱フィラメントCVD法がある。これは、800
〜1000℃に加熱した基板の直上にタングステンフィラメ
ントを設け、フィラメントを2000℃以上に加熱し、水素
と炭化水素ガス(例えばCH4)をフィラメントを通して基
板に吹きつけ、基板上にダイヤモンド膜を成長させる方
法である。
2. Description of the Related Art In recent years, various low-pressure vapor phase synthesis methods for diamond films have been proposed, and there are mainly three types. First,
First, there is the hot filament CVD method. This is 800
Providing a tungsten filament directly above the substrate heated to ~ 1000 ° C, heating the filament to 2000 ° C or higher, and blowing hydrogen and hydrocarbon gas (for example CH 4 ) through the filament onto the substrate to grow a diamond film on the substrate. Is the way.

【0003】第二の方法として、マイクロ波プラズマC
VD法が知られている。これは、数百ワットのマイクロ
波により水素と炭化水素ガスの混合ガス気体にプラズマ
を発生させ、プラズマ内に設置された基板上にダイヤモ
ンド膜を成長させる方法で、基板はマイクロ波により加
熱され、700 〜900 ℃程度の温度になっている。
As a second method, microwave plasma C
The VD method is known. This is a method of generating plasma in a mixed gas of hydrogen and a hydrocarbon gas by a microwave of several hundred watts and growing a diamond film on a substrate placed in the plasma. The substrate is heated by the microwave, The temperature is about 700 to 900 ° C.

【0004】これら二種類の合成法では、原子状水素が
CH4の分解を促進し、さらに無定形炭素などダイヤモン
ド以外の合成物質を選択的にエッチングする作用を担っ
ており、この原子状水素が重要な役割をしている。しか
しながら、フィラメントを高温にする熱フィラメントC
VD法では、フィラメントが断線するトラブルが多く実
用的とは言えない。又、タングステンの融点を考えると
フィラメントの温度は2000℃程度で、それ以上の温度で
は断線を招いてしまい、十分な原料ガス分解ができない
という問題がある。またマイクロ波プラズマを用いた合
成法では、プラズマ室の寸法が制約されることにより大
面積の試料への適用が困難であり、さらに原料ガス、特
に水素の分解が不十分であるという問題がある。
In these two synthetic methods, atomic hydrogen is
This atomic hydrogen plays an important role in promoting the decomposition of CH 4 and also in selectively etching synthetic materials such as amorphous carbon other than diamond. However, a hot filament C that heats the filament to a high temperature
In the VD method, there are many troubles in which the filament is broken, which is not practical. Further, considering the melting point of tungsten, the filament temperature is about 2000 ° C., and at a temperature higher than that, there is a problem that the wire breaks and the raw material gas cannot be decomposed sufficiently. In addition, the synthesis method using microwave plasma has a problem that it is difficult to apply it to a large-area sample due to the restriction of the size of the plasma chamber, and the decomposition of the source gas, especially hydrogen, is insufficient. .

【0005】その他に第三の方法としてイオンビームを
用いた合成法がある。これは炭素のイオンビームを基板
にあてることでダイヤモンド膜を成長させようとするも
のである。しかし、アモルファス等の不純物を多く含む
ダイヤモンドとなってしまうという問題があった。
A third method is a synthesis method using an ion beam. This is to grow a diamond film by applying a carbon ion beam to the substrate. However, there is a problem that the diamond becomes a large amount of impurities such as amorphous.

【0006】そこで、例えば特開昭63-176399 号公報あ
るいは特開平1-201097号公報にて提案されているよう
に、原料ガスを有効に活用できる方法として、対向した
電極にアーク放電を生じさせ、原料ガスをアーク放電内
に通過せしめてガスプラズマとし、このガスプラズマを
絞り部によりプラズマジェットガスとして基板に吹きつ
けることにより、この基板上にダイヤモンドを析出形成
する合成方法が知られている。このプラズマジェット法
によるダイヤモンド膜の成膜は、図2に示す構成が一般
的である。この合成法は、最も高速かつ高純度のダイヤ
モンド膜が得られる成膜法と考えられている。
Therefore, as proposed in Japanese Patent Laid-Open No. 63-176399 or Japanese Patent Laid-Open No. 1-201097, for example, a method of effectively utilizing the raw material gas is to generate an arc discharge in the opposing electrodes. There is known a synthesis method in which a raw material gas is passed through an arc discharge to form a gas plasma, and the gas plasma is blown as a plasma jet gas to a substrate by a narrowing portion to deposit and form diamond on the substrate. The formation of the diamond film by the plasma jet method generally has the configuration shown in FIG. This synthesizing method is considered to be a film forming method capable of obtaining a diamond film of the highest speed and high purity.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかし、このアーク放
電を用いたプラズマジェット法でも、そのプラズマ径に
よって差が生じ、基板上に成膜した膜厚分布は中心部が
厚く、周辺部が薄い分布となる。従って、広面積に成膜
させようとしても広さに限度があり、また例えばヒート
シンクや工具などダイヤモンド膜を成膜させる工程に実
施する場合、その膜厚不均一を直すための後工程が必要
となるので利用上問題があり、大きなコストアップ要因
ともなる。本発明は、上述した事情を鑑みてなされたも
ので、高品質なダイヤモンド膜を高効率で合成し、かつ
膜厚分布の良いダイヤモンド膜の製造装置および製造方
法を提供することを目的とするものである。
However, even in the plasma jet method using this arc discharge, a difference occurs depending on the plasma diameter, and the film thickness distribution formed on the substrate is thick in the central portion and thin in the peripheral portion. Becomes Therefore, there is a limit to the width even if it is attempted to form a large area, and if it is carried out in the step of forming a diamond film such as a heat sink or a tool, a post-process for correcting the uneven film thickness is required. Therefore, there is a problem in use, which causes a large cost increase. The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a manufacturing apparatus and a manufacturing method of a diamond film that synthesizes a high-quality diamond film with high efficiency and has a good film thickness distribution. Is.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第一発明に係るダイヤモンド膜の製造装置は次の構
成を有している。即ち、真空容器と、該真空容器内に対
置させた正極部および負極間にアーク放電を起こすアー
ク放電機構とを有し、アーク放電時に少なくとも非成膜
性のプラズマ源ガスを噴流させると共に前記正極部分よ
り炭素源ガスを含流させて、該ガスプラズマ下流に配置
した基板に吹き付けるガス供給手段を備えたダイヤモン
ド膜製造装置において、前記炭素源ガスの導入口が、前
記正極部の第一の正極に設けられた第一導入口と、第二
の正極に設けられた第二導入口とから成り、前記第二導
入口の位置が、前記第一導入口の位置と前記基板との中
間の位置に設置されていることである。
In order to achieve the above object, the diamond film manufacturing apparatus according to the first invention has the following constitution. That is, it has a vacuum container and an arc discharge mechanism that causes an arc discharge between a positive electrode portion and a negative electrode opposite to each other in the vacuum container, and at least a non-film forming plasma source gas is jetted at the time of arc discharge and the positive electrode is In a diamond film manufacturing apparatus including a gas supply means for causing a carbon source gas to flow from a portion and spraying the gas plasma on a substrate arranged downstream of the gas plasma, the inlet of the carbon source gas is the first positive electrode of the positive electrode portion. And a second inlet provided in the second positive electrode, the position of the second inlet is an intermediate position between the position of the first inlet and the substrate. It is installed in.

【0009】また、製造装置の第二の発明の構成は、前
記炭素源ガスの第一導入口が、前記アーク放電の箇所の
直下の前記プラズマ噴出口部に対して均等に吹き出す環
状形状であり、前記第二導入口が、前記アーク放電直下
より離れた前記基板の近くに、当該ガスプラズマ噴流に
対して均等に吹き出す環状形状であることを特徴として
いる。さらに関連する第三の発明の構成は、前記第一導
入口の位置が前記プラズマ噴出口部であって、該プラズ
マ噴出口と前記基板との間の距離が、10mmを越え、およ
そ100mm までの高さであり、前記第二導入口の位置が、
前記基板の上方の10〜80mmの間に設置されることであ
る。さらに関連する第四の発明の構成は、前記第二の正
極の前記基板からの高さが前記中間の位置のいずれかに
固定され、該第二の正極の内径が前記噴出口の内径の2
〜5倍の大きさとなっていることである。さらに関連す
る第五の発明の構成は、前記炭素源ガスが、炭化水素ガ
スないし有機化合物のガス体、または炭化水素ガスない
し有機化合物のガス体と水素ガスとの混合ガス、または
炭化水素ガスないし有機化合物のガス体と0族元素ガス
との混合ガス、のいずれかであることを特徴とする。
Further, in the second invention of the manufacturing apparatus, the first inlet of the carbon source gas has an annular shape which blows out evenly to the plasma jet portion directly below the arc discharge location. The second introduction port has an annular shape that blows out evenly with respect to the gas plasma jet in the vicinity of the substrate away from directly below the arc discharge. A further related configuration of the third invention is that the position of the first introduction port is the plasma ejection port, and the distance between the plasma ejection port and the substrate exceeds 10 mm and is approximately 100 mm. Is the height, the position of the second introduction port,
It is installed between 10 and 80 mm above the substrate. In a further related configuration of the fourth invention, the height of the second positive electrode from the substrate is fixed at any of the intermediate positions, and the inner diameter of the second positive electrode is 2 times the inner diameter of the ejection port.
It is about 5 times larger. In a further related configuration of the fifth invention, the carbon source gas is a hydrocarbon gas or a gas body of an organic compound, or a mixed gas of a hydrocarbon gas or a gas body of an organic compound and hydrogen gas, or a hydrocarbon gas or It is characterized in that it is one of a mixed gas of a gas body of an organic compound and a group 0 element gas.

【0010】第二発明としてダイヤモンド膜の製造方法
の構成は、真空容器内に対置させた正極および負極の空
間にアーク放電を起こし、前記アーク放電時に少なくと
もプラズマ源ガスを流すと共に前記正極より炭素源ガス
を含流させて、該ガスプラズマ下流に配置した基板に吹
き付け、ダイヤモンド膜を成膜するダイヤモンド膜製造
方法において、前記アーク放電部直下の第一導入口から
の炭素源ガスに対する、前記基板の上に設けられた第二
導入口からの炭素源ガスとの流量の比率が1:1から
1:4の間となっていることである。この製造方法の関
連発明の構成は、前記第一導入口からの炭素源ガスおよ
び前記第二導入口からの炭素源ガスとして、炭化水素ガ
スないし有機化合物のガス体、または炭化水素ガスない
し有機化合物のガス体と水素ガスとの混合ガス、または
炭化水素ガスないし有機化合物のガス体と0族元素ガス
との混合ガス、のいずれかを用いることを特徴とする。
As a second aspect of the invention, the method for producing a diamond film is such that an arc discharge is generated in the space of a positive electrode and a negative electrode which are placed opposite to each other in a vacuum container, and at least a plasma source gas is flown during the arc discharge and a carbon source is supplied from the positive electrode. Including a gas, spraying the substrate placed downstream of the gas plasma, in the diamond film manufacturing method of forming a diamond film, in the carbon source gas from the first inlet directly under the arc discharge portion, the substrate That is, the ratio of the flow rate with the carbon source gas from the second inlet provided above is between 1: 1 and 1: 4. The configuration of the related invention of this production method is such that a carbon source gas from the first inlet and a carbon source gas from the second inlet are a gas body of a hydrocarbon gas or an organic compound, or a hydrocarbon gas or an organic compound. It is characterized in that either a mixed gas of the above gas body and hydrogen gas or a mixed gas of a hydrocarbon gas or an organic compound gas body and a Group 0 element gas is used.

【0011】[0011]

【作用】真空容器内で、負極と正極間にアーク放電を発
生させ、プラズマ源ガスとして0族元素ガスと水素ガス
の混合ガスをプラズマ源ガス導入口より電極間に導入し
て水素ガスを高解離させると同時に、炭素を含有する原
料ガスを原料ガス導入口より導入することで、炭素を含
有するガスを分解させ、このガスプラズマを電極端の噴
出口より噴出させてプラズマジェットとし、基板に吹き
付けてダイヤモンドを基板上に成膜する。この方法でダ
イヤモンドを成膜すると、プラズマジェットの中心部が
厚くその周辺が薄くなる膜厚分布の膜が得られる。ま
た、第二の正極を上記の正極の下部に配置して別の電源
でプラズマジェットを形成し、ダイヤモンド膜を成膜す
ると今度は基板の周辺部の膜厚が厚く、中央部が薄くな
る。それで、基板からの第二の正極の高さを所定の値に
して、両正極によるプラズマジェットによりダイヤモン
ド膜を成膜すると両者の合成膜厚となり、ほぼ均一な膜
厚となる。二重に成膜させるので成膜速度も早い。装置
上、高さが限定される場合等は、第二の正極の内径を調
節したものを用いることで実現する。また炭素源ガスの
供給を均等になるような導入口とするのでより均質な膜
ができる。
[Operation] In a vacuum container, an arc discharge is generated between the negative electrode and the positive electrode, and a mixed gas of a Group 0 element gas and hydrogen gas is introduced as a plasma source gas from the plasma source gas introduction port between the electrodes to enhance the hydrogen gas. At the same time as dissociating, by introducing a raw material gas containing carbon from the raw material gas introduction port, the gas containing carbon is decomposed, and this gas plasma is ejected from the ejection port of the electrode end to form a plasma jet, which is applied to the substrate. The diamond is sprayed to form a film on the substrate. When diamond is formed by this method, a film having a film thickness distribution in which the central portion of the plasma jet is thick and the peripheral portion thereof is thin is obtained. Further, if the second positive electrode is arranged below the positive electrode and a plasma jet is formed by another power source and a diamond film is formed, then the peripheral portion of the substrate becomes thicker and the central portion becomes thinner. Therefore, when the height of the second positive electrode from the substrate is set to a predetermined value and the diamond film is formed by the plasma jet of the both positive electrodes, the combined film thickness of the two becomes a substantially uniform film thickness. Since the film is formed in double, the film formation speed is high. In the case where the height is limited due to the device, it is realized by using the second positive electrode whose inner diameter is adjusted. Further, since the introduction of the carbon source gas is uniform so that the supply of the carbon source gas is uniform, a more uniform film can be formed.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて説明する。
図1は本発明の一実施例の製造装置の模式的構造断面図
である。図1において、プラズマジェットガン1、窒化
ボロンよりなるリング状の絶縁体40、銅よりなるシリ
ンダ状の正電極10、基板2及び銅から成る基板支持台
3が、5Torr〜5気圧(3800Torr)の範囲内の所定の圧
力に維持される真空容器5内に設けられている。このプ
ラズマジェットガン1は、一端が鋭角な針状に形成され
た先端部7aと他端がフランジ部7bとに形成されたタ
ングステンよりなる棒状電極(負極)7を軸として、フ
ランジ部7b側から銅製の電極冷却部8、テフロンより
なるガス導入部9、および銅製のシリンダ状電極(正
極)10が設けられている。なお、このプラズマジェッ
トガン1の主要な構造は図2に示す従来構造とほぼ同様
のままである。
EXAMPLES The present invention will be described below based on examples.
FIG. 1 is a schematic structural sectional view of a manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, a plasma jet gun 1, a ring-shaped insulator 40 made of boron nitride, a cylindrical positive electrode 10 made of copper, a substrate 2 and a substrate support 3 made of copper have a pressure of 5 Torr to 5 atmospheres (3800 Torr). It is provided in the vacuum container 5 which is maintained at a predetermined pressure within the range. The plasma jet gun 1 has a rod-shaped electrode (negative electrode) 7 made of tungsten formed on a tip portion 7a having one end formed in a needle shape with an acute angle and a flange portion 7b formed at the other end from the flange portion 7b side. An electrode cooling part 8 made of copper, a gas introduction part 9 made of Teflon, and a cylindrical electrode (positive electrode) 10 made of copper are provided. The main structure of the plasma jet gun 1 remains almost the same as the conventional structure shown in FIG.

【0013】また電極冷却部8およびシリンダ状電極1
0には、それぞれ中空部108、110が設けられてい
る。シリンダ状電極10に接続された冷却水パイプ14
bより供給される冷却水がシリンダ状電極10の中空部
110から冷却水パイプ14aに流れ出る。同様に、電
極冷却部8に接続された冷却水パイプ15bより供給さ
れる冷却水が電極冷却部8の中空部108に供給され、
電極冷却部8に接続される冷却水パイプ15aより排出
され、この冷却水によって棒状電極7とシリンダ状電極
10との間に生ずるアーク放電の熱による両電極の損耗
を防ぐ。
The electrode cooling section 8 and the cylindrical electrode 1 are also provided.
0 are provided with hollow portions 108 and 110, respectively. Cooling water pipe 14 connected to the cylindrical electrode 10
The cooling water supplied from b flows out from the hollow portion 110 of the cylindrical electrode 10 to the cooling water pipe 14a. Similarly, the cooling water supplied from the cooling water pipe 15b connected to the electrode cooling unit 8 is supplied to the hollow portion 108 of the electrode cooling unit 8,
The cooling water pipe 15a connected to the electrode cooling section 8 discharges the cooling water to prevent wear of both electrodes due to heat of arc discharge generated between the rod-shaped electrode 7 and the cylindrical electrode 10.

【0014】ガス導入部9には、原料ガス導入パイプ1
6が設けられており、さらに、このガス導入パイプ16
より供給されたガスを棒状電極7の先端部7aに送るよ
うにする開口部が棒状電極7の一端側において構成され
ている。さらに、棒状電極7とシリンダ状電極10の間
でアーク放電を起こすために、棒状電極7とシリンダ状
電極10とはアーク放電用電源17に接続されている。
このアーク放電用電源17は、アーク放電を効果的に発
生させるために、鋭角に形成された先端部7aを有する
棒状電極7側を負電位にするように接続されている。ま
た、シリンダ状電極10において、そのガス導入部9と
反対側の面には、ガスプラズマを絞ることによりプラズ
マジェットガスとするプラズマ噴出口18が設けられて
いる。このプラズマ噴出口18と重なるようにして炭素
源ガス導入口19が配設されている。この導入口19は
プラズマ噴出口18と同心で内径も同じに形成され、外
部からのガス供給パイプ19aからの炭素源ガスが噴出
口18の周囲に至るように中空に穿たれ、噴出口18に
対して導入口19が均等に開けられている。
The gas introducing section 9 has a raw material gas introducing pipe 1
6 is provided, and further, this gas introduction pipe 16
An opening is formed at one end of the rod-shaped electrode 7 so that the gas supplied from the rod-shaped electrode 7 is sent to the tip portion 7a of the rod-shaped electrode 7. Further, in order to cause arc discharge between the rod-shaped electrode 7 and the cylinder-shaped electrode 10, the rod-shaped electrode 7 and the cylinder-shaped electrode 10 are connected to an arc discharge power supply 17.
The arc discharge power source 17 is connected so that the rod-shaped electrode 7 side having the tip portion 7a formed at an acute angle has a negative potential in order to effectively generate the arc discharge. Further, in the cylindrical electrode 10, on the surface opposite to the gas introduction portion 9, there is provided a plasma ejection port 18 for narrowing gas plasma to generate plasma jet gas. A carbon source gas introduction port 19 is arranged so as to overlap with the plasma ejection port 18. The inlet 19 is concentric with the plasma jet 18 and has the same inner diameter, and the carbon source gas from the gas supply pipe 19 a from the outside is hollowed out so as to reach the periphery of the jet 18 and is introduced into the jet 18. On the other hand, the introduction ports 19 are evenly opened.

【0015】このプラズマ噴出口18と連通して、プラ
ズマ通過口を構成するリング状絶縁体40が接続され、
さらに銅製のリング状の炭素源ガス導入部32が設けら
れ、第二の正極となっている。また放電用電源21が、
第一の正極であるシリンダ状電極10とは別に、棒状電
極(負極)7に対して接続される。そしてこの炭素源ガ
ス導入部32にガス導入パイプ32aが接続されて、外
部から炭素源ガスが供給される。銅製リング状のガス導
入部32にはガス供給口32bが、やはり噴出口18の
周囲に均等になるように設けられる。このガス導入部3
2はプラズマ噴出口18の下流に配置しているので、プ
ラズマジェットガスの周辺に水素と炭化水素の混合ガス
を供給する。なお、リング状の炭素源ガス導入部32
は、図示していないが冷却水が導入されて冷却されてお
り、プラズマによる加熱は抑制されていてリング状の原
料ガス導入部32の損耗は防がれる。
A ring-shaped insulator 40 forming a plasma passage is connected to communicate with the plasma jet port 18.
Further, a ring-shaped carbon source gas introduction part 32 made of copper is provided, which serves as a second positive electrode. In addition, the discharge power source 21
In addition to the cylindrical electrode 10 that is the first positive electrode, it is connected to the rod-shaped electrode (negative electrode) 7. Then, a gas introduction pipe 32a is connected to the carbon source gas introduction part 32, and a carbon source gas is supplied from the outside. The copper ring-shaped gas introduction portion 32 is provided with gas supply ports 32b evenly around the ejection port 18. This gas introduction part 3
Since No. 2 is arranged downstream of the plasma jet port 18, a mixed gas of hydrogen and hydrocarbon is supplied to the periphery of the plasma jet gas. In addition, the ring-shaped carbon source gas introduction part 32
Although not shown in the figure, cooling water is introduced and cooled, heating by plasma is suppressed, and wear of the ring-shaped source gas introduction part 32 is prevented.

【0016】プラズマ噴出口18の下流には、これらリ
ング状絶縁体40及びリング状のガス導入部32の下部
に基板支持台3が設置されており、該基板支持台3には
基板2が配置されている。この基板支持台3は、この基
板2を所定温度(本実施例では約800 ℃)に維持するた
めに、冷却水が冷却水パイプ20bにより供給され20
aより排出できるよう、中空となっている。これは、プ
ラズマ噴出口18より噴き出されるプラズマジェットの
気体温度が数千〜数万度に達してしまうため、基板温度
をダイヤモンドの合成域である600 〜1100℃にするため
に、基板2を冷却する必要があるからである。
A substrate support 3 is installed below the ring-shaped insulator 40 and the ring-shaped gas inlet 32 downstream of the plasma jet port 18, and the substrate 2 is placed on the substrate support 3. Has been done. The substrate support 3 is supplied with cooling water by a cooling water pipe 20b in order to maintain the substrate 2 at a predetermined temperature (about 800 ° C. in this embodiment).
It is hollow so that it can be discharged from a. This is because the gas temperature of the plasma jet ejected from the plasma ejection port 18 reaches several thousands to several tens of thousands of degrees, so that the substrate 2 should be heated in order to bring the substrate temperature to 600 to 1100 ° C. which is the synthesis range of diamond. This is because it needs to be cooled.

【0017】なお、プラズマ噴出口18と基板2との間
の距離は、真空容器5内やアーク電力、基板2の冷却状
態により変化するが、我々の実験では10〜100mm でダイ
ヤモンドの成膜は可能であった。そして、リング状のガ
ス導入部32は基板2の上方の10〜80mmの間に設置する
ことで、成膜するダイヤモンド膜の平坦化効果が得られ
ている。ガス導入部32の高さが20mmにおいては、ガス
導入部32の内径は10mmが最適であった。また、リング
状ガス導入部32の位置を固定して最適な成膜条件とす
る場合には、リング径を変化させることで対応が可能で
ある。上記の比率にも依存するが、プラズマ噴出口18
に対してリング状ガス導入部32の内径がおよそ2〜5
倍の大きさで対応できる。これ以外の範囲ではダイヤモ
ンド膜の均一な成膜が得られにくい。
The distance between the plasma ejection port 18 and the substrate 2 changes depending on the inside of the vacuum chamber 5, the arc power, and the cooling condition of the substrate 2. In our experiment, the diamond film formation was 10 to 100 mm. It was possible. The ring-shaped gas introduction part 32 is installed between 10 and 80 mm above the substrate 2 to obtain the flattening effect of the diamond film to be formed. When the height of the gas introducing portion 32 was 20 mm, the inner diameter of the gas introducing portion 32 was optimally 10 mm. In addition, when the position of the ring-shaped gas introduction part 32 is fixed and the optimum film forming condition is set, it is possible to deal with it by changing the ring diameter. Depending on the above ratio, the plasma jet 18
The inner diameter of the ring-shaped gas introducing portion 32 is about 2 to 5
It can be doubled in size. In the range other than this, it is difficult to obtain a uniform diamond film.

【0018】また炭素源ガスの導入は、炭素源ガス導入
口19とリング状ガス導入部32の2箇所より分配する
が、その分配比率も成膜する膜の平坦化効果に影響し、
炭素源ガス導入口19に対するリング状ガス導入部32
へのガス導入量の比率は、1:1から1:4の範囲で効
果が得られた。本実施例においては、プラズマ噴出口1
8と基板2との間の距離を40mmとし、リング状ガス導入
部32は基板2上20mmの距離をおいてプラズマ噴出口1
8と同心軸上に設置している。また、炭素源ガス導入口
19に対するリング状ガス導入部32への炭素を含むガ
ス導入量の分配比率は1:2とした。
Further, the introduction of the carbon source gas is distributed from two places of the carbon source gas introduction port 19 and the ring-shaped gas introduction part 32, and the distribution ratio also affects the flattening effect of the film to be formed,
Ring-shaped gas introduction part 32 for carbon source gas introduction port 19
The effect was obtained in the ratio of the amount of gas introduced into the range of 1: 1 to 1: 4. In this embodiment, the plasma jet 1
The distance between the substrate 8 and the substrate 2 is 40 mm, and the ring-shaped gas introduction part 32 is placed at a distance of 20 mm above the substrate 2 and the plasma ejection port 1
It is installed on the same axis as 8. Further, the distribution ratio of the gas introduction amount containing carbon to the ring-shaped gas introduction part 32 to the carbon source gas introduction port 19 was set to 1: 2.

【0019】次に、本実施例のダイヤモンド膜の合成方
法を説明する。まず初めに、真空容器5内を排気した
後、電離度の高い0族元素ガスであるアルゴンをガス導
入パイプ16からプラズマジェットガン1に導入し、か
つ真空容器5内の圧力を40Torrに設定する。その後、ア
ーク放電用電源17により棒状電極7(負極)とシリン
ダ状電極10(正極)との間にアーク放電を発生させ
る。アーク放電を発生させるには、これら棒状電極7と
シリンダ状電極10との間に高周波を重畳させるか、イ
グナイタ等で火花放電を発生させて、その後アーク放電
に移行させるようにすればよい。なお本実施例では、ア
ーク放電は直流電圧40Vで電流60Aの条件としている。
Next, the method for synthesizing the diamond film of this embodiment will be described. First, after evacuating the vacuum vessel 5, argon, which is a group 0 element gas having a high ionization degree, is introduced into the plasma jet gun 1 through the gas introduction pipe 16, and the pressure in the vacuum vessel 5 is set to 40 Torr. . After that, an arc discharge is generated by the arc discharge power supply 17 between the rod-shaped electrode 7 (negative electrode) and the cylindrical electrode 10 (positive electrode). In order to generate an arc discharge, a high frequency wave may be superposed between the rod-shaped electrode 7 and the cylindrical electrode 10, or a spark discharge may be generated by an igniter or the like, and then the arc discharge may be transferred. In this embodiment, arc discharge is performed under the conditions of a DC voltage of 40 V and a current of 60 A.

【0020】放電が安定したところで、このアーク放電
にガス導入パイプ16より、プラズマ源ガス、一例とし
てアルゴン 50 vol %、H2ガス 50 vol %の混合ガスを
毎分12リットルの流量で流してガスプラズマとし、この
ガスプラズマをプラズマ噴出口18の絞り部を通過せし
めてプラズマジェットとする。なお、炭素源ガス導入口
19からはメタンガス80cc/min と水素ガス 120cc/mi
n の混合ガスが導入される。ここで、メタンガスに代表
される炭素源ガスとしての炭化水素ガスは、ガス導入パ
イプ16から導入してもよいが、タングステン電極棒が
炭化されて長時間放電が安定しなくなることがあるた
め、炭化水素ガスは放電部下流にガス導入口を設けてそ
こから導入するようにするのが望ましい。そして、この
炭素源ガス導入口19より導入したメタンガスを上述の
プラズマ源ガスのプラズマジェットに吹きつけプラズマ
ジェットガスとする。さらに、リング状の原料ガス導入
部32よりメタンガス 160cc/min と水素ガス40cc/mi
n の混合ガスを導入しプラズマジェット周辺に供給す
る。以上の条件で60分間成膜を行った。なお、本実施例
ではプラズマ中心部の温度は3000℃以上であり、またプ
ラズマガン内部の放電部はそれ以上に上昇している。
When the discharge is stable, a plasma source gas, for example, a mixed gas of 50 vol% of argon and 50 vol% of H 2 gas is flowed through this gas discharge pipe 16 at a flow rate of 12 liters per minute. Plasma is generated, and this gas plasma is passed through the narrowed portion of the plasma ejection port 18 to form a plasma jet. From the carbon source gas inlet 19, methane gas 80cc / min and hydrogen gas 120cc / mi
A mixed gas of n is introduced. Here, the hydrocarbon gas as a carbon source gas represented by methane gas may be introduced from the gas introduction pipe 16, but since the tungsten electrode rod may be carbonized and the discharge may not be stable for a long time, carbonization may occur. It is desirable that a hydrogen gas is provided at the downstream of the discharge part and introduced from there. Then, the methane gas introduced from the carbon source gas inlet 19 is blown onto the plasma jet of the above-mentioned plasma source gas to form a plasma jet gas. Furthermore, 160cc / min of methane gas and 40cc / mi of hydrogen gas were introduced from the ring-shaped raw material gas inlet 32.
An n 2 mixed gas is introduced and supplied around the plasma jet. Film formation was performed for 60 minutes under the above conditions. In the present embodiment, the temperature of the central part of the plasma is 3000 ° C. or higher, and the discharge part inside the plasma gun rises more than that.

【0021】次に、リング状のガス導入部32を基板の
上方に設置すること、及び、炭素源ガス導入口19に対
するリング状ガス導入部32へのガス導入量の比率を調
整することでダイヤモンド膜の平坦化効果が得られる理
由に付いて、以下に説明する。従来のDCアークプラズ
マジェット法により、ダイヤモンドを成膜すると図3
(1) に示すような膜厚分布を持つダイヤモンド膜が得ら
れる。このような膜厚分布を持つ原因は、炭素を含有す
るガスをプラズマ噴出部で、プラズマ源ガスである水素
と0族のガスがアーク放電の熱で熱分解し、ジェット化
したプラズマと混合するために、ダイヤモンド合成に寄
与する炭素活性種がプラズマジェットの中心に集まるこ
と、及び基板の温度分布はプラズマジェットの中心部が
高く、その周辺が低くなるためと考えられる。しかし、
基板温度の分布は中心部と中心から10mm離れた位置では
50℃程度しか低下しておらず、主要因としてはダイヤモ
ンドの原料である炭素活性種の空間分布にあるものと思
われる。
Next, the ring-shaped gas introduction part 32 is installed above the substrate, and the ratio of the gas introduction amount to the ring-shaped gas introduction part 32 with respect to the carbon source gas introduction port 19 is adjusted. The reason why the film flattening effect is obtained will be described below. A diamond film is formed by the conventional DC arc plasma jet method.
A diamond film having a film thickness distribution as shown in (1) can be obtained. The cause of having such a film thickness distribution is that the gas containing carbon is plasma-ejected, and the hydrogen as the plasma source gas and the group 0 gas are thermally decomposed by the heat of arc discharge and mixed with the jetted plasma. Therefore, it is considered that the carbon active species that contribute to diamond synthesis are concentrated in the center of the plasma jet, and the temperature distribution of the substrate is high in the central portion of the plasma jet and low in the periphery thereof. But,
The substrate temperature distribution is at the center and 10mm away from the center.
The temperature decreased only by about 50 ℃, and the main factor seems to be the spatial distribution of active carbon species that are the raw material of diamond.

【0022】そこで、プラズマジェット周辺部に炭素を
含有するガスを第二のガス導入口から供給することで、
成膜するダイヤモンド膜の膜厚分布がどのようになるか
を調べた結果、図3(2) に示すように、中心部が成膜さ
れずに周辺部のみ、つまりクレータ状に成長するダイヤ
モンド膜の分布が得られることが確認できた。そして、
このクレータ状分布は、炭素源ガスをプラズマジェット
上流側で供給する程、クレータの径が小さくなり、プラ
ズマジェット下流で基板に近づくところで炭素源ガスを
供給する程、クレータの径が大きくなる傾向が明らかに
なった。従って、従来の炭素源ガスの導入口であるプラ
ズマ噴出部から炭素源ガスを供給してできるダイヤモン
ド膜の分布(図3(1))と、その下流側でプラズマジェッ
トの周辺部に第二の導入口から炭素源ガスを供給するこ
とで得られるダイヤモンド膜の分布(図3(2))を組み合
わせることで、成膜するダイヤモンド膜の平坦化、つま
り図3(3) に示すような平坦化が可能となる。つまり、
上方からのプラズマガスの供給量により、この第二の導
入口の高さを適切にすることで、基板に対するダイヤモ
ンド膜厚をほぼ均一に成膜させることが実現する。
Therefore, by supplying a gas containing carbon to the periphery of the plasma jet from the second gas inlet,
As a result of investigating the film thickness distribution of the diamond film to be formed, as shown in FIG. 3 (2), the diamond film growing only in the peripheral part, that is, in the crater shape without forming the central part. It was confirmed that the distribution of was obtained. And
This crater-like distribution tends to have a smaller crater diameter as the carbon source gas is supplied on the upstream side of the plasma jet, and a larger crater diameter as the carbon source gas is supplied closer to the substrate downstream of the plasma jet. It was revealed. Therefore, the distribution of the diamond film formed by supplying the carbon source gas from the plasma ejection portion, which is the conventional inlet of the carbon source gas (Fig. 3 (1)), and the second side in the peripheral portion of the plasma jet on the downstream side of the distribution By combining the distribution of the diamond film obtained by supplying the carbon source gas from the inlet (Fig. 3 (2)), the diamond film to be formed is flattened, that is, flattened as shown in Fig. 3 (3). Is possible. That is,
By appropriately adjusting the height of the second inlet by adjusting the amount of plasma gas supplied from above, it is possible to achieve a substantially uniform diamond film thickness on the substrate.

【0023】実際に以上の条件で60分間成膜を行った基
板2の表面付着物の評価結果について説明する。なお、
基板2としてはタングステン金属板で大きさは25mm角の
ものを用い、表面にはあらかじめ研磨により微細な傷が
つけ、ダイヤモンド膜が合成し易いようにしてある。そ
して、基板2上の付着物の観察にはラマン分光装置と電
子顕微鏡を用いた。
The evaluation results of surface deposits on the substrate 2 actually formed under the above conditions for 60 minutes will be described. In addition,
As the substrate 2, a tungsten metal plate having a size of 25 mm square is used, and the surface is preliminarily finely scratched by polishing so that a diamond film can be easily synthesized. A Raman spectroscope and an electron microscope were used to observe the deposits on the substrate 2.

【0024】図4に、成膜したダイヤモンド膜の中心及
び(図4(a))、中心から 5mm(図4(b))、中心から10mm
の位置(図4(c))のラマンスペクトルを示す。この結果
より、ダイヤモンドのピークを示す1333cm-1付近の鋭い
ピークが各位置において同様に観察されており、極めて
高品質なダイヤモンド膜が均質に成膜していることがわ
かる。また図5には、得られた膜の面分布を測定した結
果を示す。この測定結果からも膜の平坦性が良好である
ことがわかる。さらに得られた膜を電子顕微鏡により観
察したが、ダイヤモンド多結晶を示す自形面がはっきり
と成長していることも確認できた。また、ダイヤモンド
膜の合成速度は、本実施例では最も厚い部分で80μmの
厚さを得ており1μm/min 以上という十分に速い合成
速度にて成膜できている。
FIG. 4 shows the center of the diamond film formed (FIG. 4 (a)), 5 mm from the center (FIG. 4 (b)), and 10 mm from the center.
The Raman spectrum at the position (Fig. 4 (c)) is shown. From these results, sharp peaks near 1333 cm −1, which show the peak of diamond, were similarly observed at each position, and it is understood that an extremely high-quality diamond film is uniformly formed. Further, FIG. 5 shows the results of measuring the surface distribution of the obtained film. From this measurement result, it can be seen that the flatness of the film is good. Further, the obtained film was observed by an electron microscope, and it was also confirmed that an automorphic surface showing a diamond polycrystal was clearly grown. Further, regarding the synthesis rate of the diamond film, in the present embodiment, the thickest portion has a thickness of 80 μm, and the diamond film can be deposited at a sufficiently high synthesis rate of 1 μm / min or more.

【0025】[0025]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、ガ
スプラズマを発生する領域のプラズマ噴出口に、原料ガ
スである炭素源ガスを導入すると同時に、プラズマ噴出
口と基板との間に配置した原料ガス導入部より炭素源ガ
スを導入することで、高品質のダイヤモンド膜を高速か
つ平坦性よく成膜することができる。この効果により、
ダイヤモンド膜のヒートシンクや切削工具等へ応用する
場合の加工コストの低減に大きく寄与できる。
As described above, according to the present invention, the carbon source gas which is the source gas is introduced into the plasma jet port in the region where the gas plasma is generated, and at the same time, the space between the plasma jet port and the substrate is increased. By introducing the carbon source gas from the arranged source gas introduction part, a high quality diamond film can be formed at high speed and with good flatness. Due to this effect,
It can greatly contribute to the reduction of processing cost when applied to a heat sink of diamond film, a cutting tool, or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明第1実施例のダイヤモンド膜製造装置の
模式的構造断面図。
FIG. 1 is a schematic structural sectional view of a diamond film manufacturing apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】従来のプラズマジェット法によるダイヤモンド
成膜装置の主要部一例図。
FIG. 2 is an example of a main part of a conventional diamond film forming apparatus using a plasma jet method.

【図3】炭素を含有するガスの導入位置によるダイヤモ
ンド膜の膜厚分布とその組み合わせによる平坦化効果を
示す説明図。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a film thickness distribution of a diamond film depending on the introduction position of a gas containing carbon and a flattening effect by the combination thereof.

【図4】成膜したダイヤモンド膜のラマンスぺクトルを
示す特性図で、(a) は膜の中心部、(b) は中心から 5mm
の位置、(c) は中心から10mmの位置でのラマンスペクト
ルを示す。
FIG. 4 is a characteristic diagram showing the Raman spectrum of the formed diamond film. (A) is the center of the film, (b) is 5 mm from the center.
Position, (c) shows the Raman spectrum at a position 10 mm from the center.

【図5】成膜したダイヤモンド膜の面分布の測定結果を
示す特性図。
FIG. 5 is a characteristic diagram showing the measurement results of the surface distribution of the formed diamond film.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、1' プラズマジェットガン 2 基板 3 基板支持台 5 真空容器 7 棒状電極(負極) 8 電極冷却部 9 プラズマ源ガス導入部 10 シリンダ状電極 14、15 冷却水通路(a、b) 16 ガス導入パイプ 17 アーク放電用電源 18 プラズマ噴出口 19 炭素源ガス導入口(第一の正極) 19a ガス供給パイプ 20a、20b 冷却水通路 21 プラズマ電流用電源 32a ガス供給パイプ 32b リング状の炭素源ガス導入口(第二の正極) 40 リング状絶縁体 1, 1'Plasma jet gun 2 Substrate 3 Substrate support 5 Vacuum container 7 Rod-shaped electrode (negative electrode) 8 Electrode cooling part 9 Plasma source gas introduction part 10 Cylinder-shaped electrodes 14, 15 Cooling water passage (a, b) 16 Gas introduction Pipe 17 Power source for arc discharge 18 Plasma jet 19 Carbon source gas inlet (first positive electrode) 19a Gas supply pipes 20a, 20b Cooling water passage 21 Power source for plasma current 32a Gas supply pipe 32b Ring-shaped carbon source gas inlet (Second positive electrode) 40 Ring-shaped insulator

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 真空容器と、該真空容器内に対置させた
正極部および負極間にアーク放電を起こすアーク放電機
構とを有し、アーク放電時に少なくとも非成膜性のプラ
ズマ源ガスを噴流させると共に前記正極部分より炭素源
ガスを含流させて、該ガスプラズマ下流に配置した基板
に吹き付けるガス供給手段を備えたダイヤモンド膜製造
装置において、 前記炭素源ガスの導入口が、前記正極部の第一の正極に
設けられた第一導入口と、第二の正極に設けられた第二
導入口とから成り、 前記第二導入口の位置が、前記第一導入口の位置と前記
基板との中間の位置に設置されていることを特徴とする
ダイヤモンド膜製造装置。
1. A vacuum container and an arc discharge mechanism for causing an arc discharge between a positive electrode portion and a negative electrode opposite to each other in the vacuum container, and at least a non-film forming plasma source gas is jetted at the time of arc discharge. With the carbon source gas from the positive electrode portion together with, in the diamond film manufacturing apparatus provided with a gas supply means for spraying the substrate arranged in the gas plasma downstream, the inlet of the carbon source gas, the positive electrode portion of the One of the first inlet provided in the positive electrode and the second inlet provided in the second positive electrode, the position of the second inlet, the position of the first inlet and the substrate A diamond film manufacturing apparatus, which is installed at an intermediate position.
【請求項2】 前記炭素源ガスの第一導入口が、前記ア
ーク放電の箇所の直下の前記プラズマ噴出口部に対して
均等に吹き出す環状形状であり、 前記第二導入口が、前記アーク放電直下より離れた前記
基板の近くに、当該ガスプラズマ噴流に対して均等に吹
き出す環状形状であることを特徴とする請求項1に記載
のダイヤモンド膜製造装置。
2. The first inlet of the carbon source gas has an annular shape that uniformly blows out to the plasma jet portion directly below the location of the arc discharge, and the second inlet is the arc discharge. The diamond film manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the diamond film manufacturing apparatus has an annular shape that blows out evenly with respect to the gas plasma jet near the substrate that is separated from immediately below.
【請求項3】 前記第一導入口の位置が前記プラズマ噴
出口部であって、該プラズマ噴出口と前記基板との間の
距離が、10mmを越え、およそ100mm までの高さであり、 前記第二導入口の位置が、前記基板の上方の10〜80mmの
間に設置される、ことを特徴とする請求項1または2に
記載のダイヤモンド膜製造装置。
3. The position of the first introduction port is the plasma ejection port portion, and the distance between the plasma ejection port and the substrate is more than 10 mm and up to about 100 mm, The diamond film manufacturing apparatus according to claim 1 or 2, wherein the position of the second inlet is set between 10 and 80 mm above the substrate.
【請求項4】 前記炭素源ガスが、 炭化水素ガスないし有機化合物のガス体、または炭化水
素ガスないし有機化合物のガス体と水素ガスとの混合ガ
ス、または炭化水素ガスないし有機化合物のガス体と0
族元素ガスとの混合ガス、のいずれかであることを特徴
とする請求項1乃至3いずれかに記載のダイヤモンド膜
製造装置。
4. The carbon source gas is a hydrocarbon gas or an organic compound gas body, or a mixed gas of a hydrocarbon gas or an organic compound gas body and hydrogen gas, or a hydrocarbon gas or an organic compound gas body. 0
The diamond film manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the diamond film manufacturing apparatus is a mixed gas with a group element gas.
【請求項5】 前記第二の正極の前記基板からの高さが
前記中間の位置のいずれかに固定され、 該第二の正極の内径が前記噴出口の内径の2〜5倍の大
きさであることを特徴とする請求項1に記載のダイヤモ
ンド膜製造装置。
5. The height of the second positive electrode from the substrate is fixed at any of the intermediate positions, and the inner diameter of the second positive electrode is 2 to 5 times larger than the inner diameter of the ejection port. The diamond film manufacturing apparatus according to claim 1, wherein
【請求項6】 真空容器内に対置させた正極および負極
の空間にアーク放電を起こし、前記アーク放電時に少な
くともプラズマ源ガスを流すと共に前記正極より炭素源
ガスを含流させて、該ガスプラズマ下流に配置した基板
に吹き付け、ダイヤモンド膜を成膜するダイヤモンド膜
製造方法において、 前記アーク放電部直下の第一導入口からの炭素源ガスに
対する、前記基板の上に設けられた第二導入口からの炭
素源ガスとの流量の比率が1:1から1:4の間である
ことを特徴とするダイヤモンド膜製造方法。
6. An arc discharge is caused in a space of a positive electrode and a negative electrode which are opposed to each other in a vacuum container, and at least a plasma source gas is caused to flow at the time of the arc discharge, and a carbon source gas is caused to flow from the positive electrode, so that the gas plasma is downstream. In a diamond film manufacturing method of forming a diamond film by spraying on the substrate arranged in, the carbon source gas from the first inlet directly under the arc discharge part, from the second inlet provided on the substrate A diamond film manufacturing method, characterized in that the ratio of the flow rate with the carbon source gas is between 1: 1 and 1: 4.
【請求項7】 前記第一導入口からの炭素源ガスおよび
前記第二導入口からの炭素源ガスとして、 炭化水素ガスないし有機化合物のガス体、または炭化水
素ガスないし有機化合物のガス体と水素ガスとの混合ガ
ス、または炭化水素ガスないし有機化合物のガス体と0
族元素ガスとの混合ガス、のいずれかを用いることを特
徴とする請求項6に記載のダイヤモンド膜製造方法。
7. The carbon source gas from the first inlet and the carbon source gas from the second inlet are a hydrocarbon gas or an organic compound gas body, or a hydrocarbon gas or an organic compound gas body and hydrogen. Mixed gas with gas, or hydrocarbon gas or gas of organic compound and 0
The method for producing a diamond film according to claim 6, wherein any one of a mixed gas with a group element gas is used.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6110759A (en) * 1997-05-02 2000-08-29 Daimlerchrysler Ag Composite structure with a growth substrate having a diamond layer and a plurality of microelectronic components, and process for producing such a composite structure
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