JP3046017B1 - コパッケ―ジmos―ゲ―トデバイスおよび制御ic - Google Patents
コパッケ―ジmos―ゲ―トデバイスおよび制御icInfo
- Publication number
- JP3046017B1 JP3046017B1 JP11049000A JP4900099A JP3046017B1 JP 3046017 B1 JP3046017 B1 JP 3046017B1 JP 11049000 A JP11049000 A JP 11049000A JP 4900099 A JP4900099 A JP 4900099A JP 3046017 B1 JP3046017 B1 JP 3046017B1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gate
- mos gate
- semiconductor die
- control
- opposing surfaces
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32135—Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/32145—Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L24/10, H01L24/18, H01L24/26, H01L24/34, H01L24/42, H01L24/50, H01L24/63, H01L24/71
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1203—Rectifying Diode
- H01L2924/12032—Schottky diode
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1304—Transistor
- H01L2924/1306—Field-effect transistor [FET]
- H01L2924/13091—Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/30—Technical effects
- H01L2924/301—Electrical effects
- H01L2924/30107—Inductance
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
Abstract
ージを提供する。 【解決手段】 パワートランジスタダイが下面と上面を
有し、パワートランジスタダイの下面が基板上にマウン
トされる。パワートランジスタを制御する制御回路が、
絶縁性エポキシを使用してパワートランジスタダイの上
面にマウントされる。
Description
ためのコパッケージFET(field-effect transistor
)およびIC(integrated circuit)に関し、より詳
細には、少なくとも1つのFETと、ショットキーダイ
オードと、適切な制御回路ICとを使用するスイッチン
グ電源などのコパッケージFETおよびICに関する。
k)電源10であるフォワードスイッチング電源では、
FETトランジスタの使用が知られている。この電源1
0は、プラス端子とマイナス端子を有する入力直流電源
Vinに結合されている。Vinのプラス端子とマイナ
ス端子の間に入力フィルタキャパシタ12が結合され、
ローカルなエネルギー蓄積源として機能する。
に、第1および第2のスイッチングトランジスタQ1、
Q2が直列に結合されている。トランジスタQ1および
Q2を、ゲートと、ドレインと、ソースを有するMOS
ゲートFETとすることができることが知られている。
当技術分野では周知のことであるが、制御IC16が、
それぞれ、トランジスタQ1およびQ2のゲートG1、
G2にゲート信号を供給し、トランジスタQ1、Q2の
接続点から変調された(PWM)パルス信号を発生させ
る。
ンジスタを分路させるフリーホイール電流パスを設ける
ために、トランジスタQ2にはショットキーダイオード
D1が逆並列に結合されている。
つ円滑に供給するため、当技術分野でも周知のことであ
るが、直列結合されたインダクタLと、シャント結合さ
れたキャパシタ14とを使用する2次フィルタを備えて
いる。この2次フィルタは、PWM信号の高周波成分を
ほぼすべて減衰させて、Voのプラス端子とマイナス端
子の間に直流出力電圧を発生させる。
電流を示す電圧を生じさせることができるように、イン
ダクタLと直列に検出抵抗器Rsが設けられる。検出さ
れた電圧は制御IC16に入力され、それによってスイ
ッチングトランジスタQ1およびQ2を、例えば電流モ
ード制御によって適切に制御することができる。さら
に、Voのプラス端子からマイナス端子まで抵抗器分割
器を結合し、抵抗器R1とR2を使用する。検出された
電圧が抵抗器R1およびR2の接合部から取り出され、
制御IC16に入力される。検出された電圧は、Voに
おける電圧レベルに関する情報を提供し、制御IC16
がトランジスタQ1およびQ2を、例えば、電圧モード
制御によって適正にバイアスさせるためにも使用され
る。
グ周波数が比較的高く、トランジスタを流れる電流のレ
ベルも比較的高いため、パッケージ化に関する考慮が重
要になる。例えば、トランジスタQ1およびQ2とダイ
オードD1は、スイッチング頻度が高く、電流条件が高
いため、高温で動作する可能性がある。さらに、トラン
ジスタQ1およびQ2と、制御IC16と、ダイオード
D1を相互接続した長さによって、望ましくない浮遊イ
ンダクタンスが生じ、この浮遊インダクタンスによって
過度の雑音と、過度の放熱と、スプリアスな回路動作が
起こる可能性がある。
携帯用電子装置である電子装置に組み込む場合、回路基
板の総面積のうちの電源10に割り振られる面積が重要
になる。一般に、トランジスタQ1およびQ2と、ダイ
オードD1などの電源構成要素は、比較的大きなフット
プリント(footprint )を有する。トランジスタQ1お
よびQ2を収容するのにTO−220パッケージが使用
されることが多い。このパッケージは占有面積に対して
サイズが比較的大きく、シリコン対フットプリント比が
比較的小さい(約15%)。
る、電源10に使用される面積および/または体積を削
減するという圧力が益々大きくなっている。
野では、寄生インダクタンスを最小限に抑えることによ
ってパッケージの大きさを縮小し重さを軽減するととも
に、回路性能を向上させるように電源構成要素と制御回
路をカプセル封止する新規なパッケージが必要である。
るために、本発明は、上面と下面とを有し、パワートラ
ンジスタダイの下面が基板上に装着されたパワートラン
ジスタダイと、パワートランジスタを制御し、絶縁性エ
ポキシを使用してパワートランジスタダイの上面に装着
された制御回路とを含む携帯用電子装置用の電子パッケ
ージを提供する。
上のパッド領域を有する導体リードフレームを含む。第
1の半導体ダイが、相対する表面を有するMOSゲート
半導体デバイスを含む。第1の面は、主パッド領域と電
気的に接触して配置された少なくとも1つの電極を有す
る。相対する面のうちの第2の面は、少なくとも1つの
ゲートを有する。第2の半導体ダイはMOSゲートデバ
イスの第2の面に接触しているが電気的には分離されて
配置された第1の面を有する制御ICを含む。制御IC
の第2の面はMOSゲート半導体デバイスのゲートに電
気的に結合された少なくとも1つの電極を有する。
図面を参照する、本発明の以下の記述から明らかになろ
う。
態様を図面に示すが、本発明は図示した厳密な配置構成
および手段に限定されないことは当然のことである。
2において、同一符号は同一要素を示す。図を明瞭にす
るため、図2に示すパッケージ20は、通常は、パッケ
ージ20の電子構成要素をカプセル封止するためのカバ
ーを含ませていない。図2には下部22Aのみを示す。
この下部22Aには、リードフレームと、基板と、パタ
ーン形成可能相互接続(別々に図示されていない)を有
する。パターン形成可能相互接続上には、本発明の電子
構成要素がマウントされている。
ETまたはその他のMOSゲートパワーデバイスとする
ことができる第1のトランジスタQ1および第2のトラ
ンジスタQ2と、制御IC16と、ショットキーダイオ
ードであることが好ましいダイオードD1とを含む。ト
ランジスタQ1およびQ2は、周知の技法を使用して、
例えば接続エポキシおよび/またはハンダによって基板
に接続されている。ダイオードD1も同様にして基板に
接続することができる。
好ましくはソース結合されたS1およびS2を含む上面
と、好ましくはドレイン結合されたD1およびD2を含
む下面を有するMOSFETが好ましい。
に、適正な相互結合媒体を用いてマウントされている。
この相互結合媒体は周知の供給源から入手可能な絶縁性
エポキシであることが好ましい。さらに、この絶縁性エ
ポキシとしては、電気的な絶縁特性を有するが、制御I
C16とトランジスタQ2との間で熱伝導が行われるも
のが好ましい。
す。パッケージ20は下部22Aと上部22Bを含み、
下部22Aと上部22Bにより内部空間28を有するエ
ンクロージャが形成されている。端子24はパッケージ
内の回路を外部回路に相互接続するものであって、内部
空間28に進入され、リードフレーム40の一部を形成
している。トランジスタQ2の下面は、全体的に、例え
ば導電性エポキシを使用して、界面42においてリード
フレーム40のパッド領域に電気的に接続されている。
しかし、IC16は界面44でトランジスタQ2の上面
に、絶縁性エポキシを用いて結合されている。ボンディ
ングワイヤ26により必要に応じて制御回路IC16が
端子24に接続されている。
などの熱伝導性充填材30でほぼ満たされているのが好
ましい。充填材30はパッケージの電子構成要素からパ
ッケージ20の上部および下部22a、22bと端子2
4に熱が伝わるように保証し、それによってパッケージ
20の熱効率を向上させる。
を含み、その上にアルミニウム層が配置されるのが好ま
しい。したがって、トランジスタQ2の上面は制御IC
16のヒートシンクとなる。
レーム40とそれにマウントされた電子構成要素の配置
を示す。リードフレーム40は3つの独立したパッドま
たは受け入れ領域48A、48B、および48Cを含
む。独立したパッド領域48A、48B、および48C
は、電子構成要素と外部電子デバイスとの間と、電子構
成要素がマウントされた受け入れ領域との電気的な接続
を可能にする。
がパッド48A、48B、および48Cのうちの少なく
とも1つのパッドに結合された外部接続リードまたはピ
ン46を含む。例えばリードD1、S1/D2、S2な
ど、接続リード46のうちのいくつかは、パッド48
A、48B、48Cのうちの1つと一体になっている。
他のリード46は、パッド48A、48B、48Cか、
制御IC16、トランジスタQ1、Q2か、ダイオード
D1上の接続点に、1つ以上のボンディングワイヤ26
により電気的に接続されている。パッド48A、48
B、48C間の相互接続も、1つ以上のボンディングワ
イヤ26を使用して行うことができる。
は、トランジスタQ1の下面を受け入れるように適合化
されており、トランジスタQ1の下面は周知の方法、好
ましくは導電性エポキシを使用して、パッド48Aに接
着される。トランジスタQ1の下面はドレインD1接続
を含むことが好ましく、したがって、受け入れ領域48
Aと一体になったリードにD1と符号が付してある。
2を受け入れるように適合化されている。トランジスタ
Q1の場合と同様、トランジスタQ2の下面は、適正な
方法を用いてパッド48Bに適切に固着されるドレイン
D2を含むことが好ましい。リードS1/D2は受け入
れパッド48Bに直接結合される。受け入れパッド48
Bは、パッド領域48Bに導電固着されたマイナス端子
と、ボンディングワイヤによってトランジスタQ2のソ
ースS2に接続されたプラス端子とを有するショットキ
ーダイオードD3も受け入れる。
26Bを介してトランジスタQ2のソースS2への接続
が可能になる。
り、トランジスタQ1およびQ2とダイオードD3が容
易に互いに近接して相互接続され、相互接続の長さを最
小限にするようなサイズおよび形状が有利である。例え
ば、トランジスタQ1のソースS1は比較的短い多数の
ボンディングワイヤ26AによってトランジスタQ2の
ドレインD2に結合される。トランジスタQ2のソース
S2とパッド48Cとの間の相互接続は、やはり比較的
短い多数のボンディングワイヤ26Bが使用される。そ
の結果、回路内に生じる浮遊インダクタンスが最小化さ
れ、したがって回路の動作が改良される。
り、制御回路IC16と、トランジスタQ1のゲートG
1およびソースS1との間が接続されて、ゲート−ソー
スループが形成され、ボンディングワイヤ26Cはゲー
ト−ソースループ内の寄生インダクタンスを低減し、ト
ランジスタQ1の高速オン/オフが可能になるほど極め
て短い。同様に、制御IC16とトランジスタQ2のゲ
ートG2およびソースS2との間の相互接続はボンディ
ングワイヤ26Dによって行われて、ゲート−ソースル
ープが形成され、浮遊インダクタンスが低減されるほど
極めて短い。
は次の通りである。1)トランジスタQ1は約140×
80ミル(約3.556mm×約2.032mm)、
2)トランジスタQ2は約140×169ミル(約3.
556mm×約4.293mm)、3)制御IC16は
約80×120ミル(約2.032mm×約3.048
mm)、4)ダイオードD1は約36×36ミル(約
0.914mm×約0.914mm)である。上述した
ことから当業者にとって明らかなことであるが、制御I
C16の表面積はトランジスタQ2の表面積ぐらいにし
かできない。
である。 1.パッケージ20のフットプリント面積が大幅に削減
される。 2.パッケージ20のシリコン面積とフットプリント面
積の比が約50%を超える(約75%とすることが可能
である)。 3.パッケージ20のフットプリントの総面積が慣用の
パッケージングと比較して約47%削減される。 4.3つの独立したパッド48A、48B、および48
Cにより、電子構成要素に必要な受け入れ領域が提供さ
れ、同様に、ドレインD1と、S1/D2接続部と、ソ
ースS2とが電源接続される。 5.ショットキーダイオードD3を普通なら使用不能な
場所に配置することができる。 6.実質的に短いゲート−ソースループによって、寄生
インダクタンスが低減され、スイッチング性能が向上す
るとともに、トランジスタQ1およびQ2のゲートおよ
びソースへのケルビン接続が容易になる。 7.トランジスタQ2と制御回路IC16との間の電気
特性が整合される。 8.パッケージの総重量が軽くなる。
ング電源10の回路のすべてを含めることができる。電
源10は、約5から24ボルトの入力電圧により、約7
アンペアで約1.2ボルトから2.0ボルトの出力電圧
を出力し、公称電圧は1.6ボルトである。
ドフレーム140は図4の実施形態に関して説明したの
と同じ方式で接続を行う3つの独立したパッド148
A、148B、および148Cを含む。リードフレーム
140は前述の方式と同じ方式で接続を行う接続リード
146も含む。
2に代えて、トランジスタQ11およびQ12を設け、
トランジスタQ11およびQ12はデュアルゲートによ
って制御される。トランジスタQ11は、図4の方式と
同様の方式でボンディングワイヤ126Cによって制御
IC116に接続された内部制御ゲートG11Aを備え
る。トランジスタQ11はワイヤ126Eによって外部
ピン128に接続された外部接続下ゲートG11Bも備
える。同様に、トランジスタQ12はワイヤボンド12
6Dによって制御IC116に接続された内部接続ゲー
トG12Aを備える。トランジスタQ12はリード12
6Fによって外部ピン114に接続された外部接続ゲー
トG12Bも備える。
1は、多数のボンディングワイヤ126Aによってパッ
ド領域148Bに接続され、パッド領域148Bにはト
ランジスタQ12のドレインが接続されている。トラン
ジスタQ11のドレインはパッド領域148Aに接続さ
れ、パッド領域148Aは一体型ピン101および10
2へ外部接続される。トランジスタQ12のドレイン
は、ピン121、122、および123を介して外部接
続され、トランジスタQ12のソースS12は多数のボ
ンディングワイヤ126Bによってパッド領域148C
に接続され、制御IC116にボンディングワイヤによ
って接続されている。
ジスタQ12のソースS12に接続される多数のボンデ
ィングワイヤによって、トランジスタQ12に逆並列に
接続され、パッド領域148Bに直接接続されている。
8A、148B、および148Cにより、トランジスタ
Q11およびQ12とダイオードD13が容易に互いに
近接して相互接続され、構成要素間の接続の長さが最小
限になるようなサイズおよび形状になっている。
ードD13の間の接続と、それらの外部接続を示す回路
図を図6に示す。トランジスタQ11およびQ12のゲ
ートがそれぞれ外部ピン128および114に接続さ
れ、内部接続によって制御ICに接続されていることに
留意されたい。さらに、接続が図示されていない各ピン
は、制御IC116のそれぞれの端子に接続されてい
る。
Q1またはQ11をパッケージ40または140から除
き、TO−220パッケージ内などの個別トランジスタ
を使用して実施することも可能であることに留意された
い。
領域248Aにマウントされた単一のトランジスタQ2
1と、トランジスタQ21の上にマウントされた制御I
C216を図7に示す。この実施形態では、制御IC2
16はリードワイヤ226Aを介してトランジスタQ2
1のゲートG21に接続されている。トランジスタQ2
1のソースS21は、多数のボンディングワイヤ226
Bおよび226Cによって、一体型外部ピンを有するパ
ッド領域248Bおよび248Cにそれぞれ接続されて
いる。トランジスタQ21のドレインは、やはり2本の
一体型外部ピンを有するパッド領域248Aに接続され
ている。制御IC216のそれぞれのパッド領域を他の
分離された外部ピンに接続するボンディングワイヤも備
えられている。
B、および248Cは、制御ICおよびトランジスタと
の接続の長さが最小限になるように構成されている。
C316がマウントされ、図7と類似した相互接続およ
び外部接続を備えた本発明の他の実施形態を示す。しか
し、この実施形態では、パッド348Aの上にダイオー
ドD31も設けられ、その下面はパッド領域に電気的に
接続されたマイナス端子を含み、その上面はボンディン
グワイヤによってトランジスタQ31のソースS31に
接続されたプラス端子を含む。さらに、ボンディングワ
イヤ326Dによって制御IC316の端子に接続され
た第4のパッド領域348Dも備える。パッド領域34
8Aおよび348Dの上にシャント容量性要素C31も
設けられ、この2つのパッド領域が接続してある。
448C、448Dと、制御IC416と、トランジス
タQ41と、ダイオードD41と、容量性要素C41
と、図8のものと類似したそれらの相互接続426A、
426B、426C、426D、426Eを含む、本発
明の他の実施形態を示す。さらに、第5のボンディング
パッド領域448Eを設けてあり、その上にゲートG4
2とソースS42を有する第2のトランジスタQ42が
マウントしてあり、ゲートG42とソースS42はボン
ディングワイヤ426Fによって制御IC416上のそ
れぞれのボンディングパッドに接続してある。ソースS
42は多数のワイヤ426Gによってパッド448Aに
も接続してあり、それによってトランジスタQ41のド
レインとダイオードD41に接続してある。ボンディン
グワイヤ426Hを介してソースS41の他の外部接続
を可能にする他のパッド領域448Fも設けてある。
は、例示と説明のために示したものであり、網羅的であ
ることや、本発明を、開示した厳密な態様に限定するこ
とを意図したものではない。上述の教示に照らせば多く
の変更および変形態様が可能である。本発明の範囲は、
上述の詳細な説明によってではなく、特許請求の範囲に
よって限定されるものと意図される。
る。
る。
図である。
面図である。
す回路図である。
面図である。
面図である。
面図である。
Claims (20)
- 【請求項1】 少なくとも1つのパッド領域を有する導
体リードフレームと、 相対する面を有するMOSゲート半導体デバイスを含む
第1の半導体ダイであって、相対する面のうちの第1の
面が前記1つのパッド領域と電気的に接触して配置され
た少なくとも1つの電極を有し、相対する面のうちの第
2の面が少なくとも1つのゲートを有する第1の半導体
ダイと、 相対する面を有する制御ICを含む第2の半導体ダイで
あって、制御ICの相対する面のうちの第1の面が前記
MOSゲートデバイスの前記第2の面と接触しているが
電気的に絶縁されて配置され、制御ICの相対する面の
うちの第2の面が前記MOSゲート半導体デバイスの前
記ゲートに電気的に結合された少なくとも1つの電極を
有する第2の半導体ダイとを備えたことを特徴とする半
導体デバイス。 - 【請求項2】 請求項1において、前記MOSゲートデ
バイスの前記第1の面がドレインを含み、前記MOSゲ
ートデバイスの前記第2の面がソースを含むことを特徴
とするデバイス。 - 【請求項3】 請求項1において、前記1つのパッド領
域が少なくとも1つの一体型ピンを含むことを特徴とす
るデバイス。 - 【請求項4】 請求項1において、前記リードフレーム
が複数の分離されたピンをさらに含み、前記制御IC
が、各端子が前記外部ピンのうちのそれぞれ1つの外部
ピンに電気的に接続された複数の端子を含むことを特徴
とするデバイス。 - 【請求項5】 請求項2において、前記1つのパッド領
域が、前記ドレインへの外部接続を行う少なくとも1つ
の一体型ピンを含むことを特徴とするデバイス。 - 【請求項6】 請求項1において、前記リードフレーム
が第2のパッド領域を含むことを特徴とするデバイス。 - 【請求項7】 請求項6において、前記第2のパッド領
域上に装着された第1の相対する面と、前記制御ICに
電気的に接続されたゲートを含む第2の相対する面とを
有するもう1つのMOSゲートデバイスをさらに含むこ
とを特徴とするデバイス。 - 【請求項8】 請求項7において、前記もう1つのMO
Sゲートデバイスの前記第2の面が前記1つのパッド領
域に電気的に接続されたソースを含むことを特徴とする
デバイス。 - 【請求項9】 請求項1において、前記MOSゲートデ
バイスの前記第2の相対する面が、分離された外部ピン
に電気的に接続された他のゲートを含むことを特徴とす
るデバイス。 - 【請求項10】 請求項7において、前記他のMOSゲ
ートデバイスの前記第2の相対する面が、分離された外
部ピンに電気的に接続された他のゲートを含むことを特
徴とするデバイス。 - 【請求項11】 請求項1において、前記1つのパッド
領域上に装着され、前記MOSゲートデバイスと逆並列
構成で接続されたダイオードをさらに含むことを特徴と
するデバイス。 - 【請求項12】 請求項2において、少なくとも1つの
一体型外部ピンを含み、前記MOSゲートデバイスの前
記ソースに電気的に接続された少なくとも1つの他のパ
ッド領域をさらに含むことを特徴とするデバイス。 - 【請求項13】 請求項1において、少なくとも1つの
外部ピンを有する他のパッド領域をさらに含み、前記デ
バイスが前記1つのパッド領域と前記他のパッド領域と
に電気的に結合された容量性要素をさらに含むことを特
徴とするデバイス。 - 【請求項14】 少なくとも第1および第2のパッド領
域を有する導体リードフレームと、 相対する面を有する第1のMOSゲート半導体デバイス
を含む第1の半導体ダイであって、相対する面のうちの
第1の面が前記第1のパッド領域と接触して配置された
少なくとも1つの電極を有し、相対する面のうちの第2
の面が少なくとも1つのゲートともう一つの電極とを有
する第1の半導体ダイと、 相対する面を有する制御ICを含む第2の半導体ダイで
あって、制御ICの相対する面のうちの第1の面が前記
第1のMOSゲートデバイスの前記第2の面と接触して
いるが電気的に絶縁されて配置され、制御ICの相対す
る面のうちの第2の面が前記第1のMOSゲート半導体
デバイスの前記ゲートに電気的に結合された少なくとも
1つの電極を有する第2の半導体ダイと、 相対する面を有するダイオードを含む第3の半導体ダイ
であって、ダイオードの相対する面のうちの第1の面が
前記第1の主パッド領域と電気的に接触して配置され、
相対する面のうちの第2の面が前記第1のMOSゲート
半導体デバイスの前記もう一つの電極に電気的に結合さ
れた少なくとも1つの電極を有する第3の半導体ダイ
と、 相対する面を有する第2のMOSゲート半導体デバイス
を含む第4の半導体ダイであって、第2のMOSゲート
半導体デバイスの相対する面のうちの第1の面が前記第
2のパッド領域と電気的に接触して配置された少なくと
も1つの電極を有し、相対する面のうちの第2の面が少
なくとも1つのゲートともう一つの電極とを有し、前記
第2のMOSゲート半導体デバイスの前記ゲートが前記
制御ICに電気的に結合され、前記第2のMOSゲート
半導体デバイスの前記もう一つの電極が前記第1のパッ
ド領域に電気的に結合された第4の半導体ダイとを含む
ことを特徴とする半導体デバイス。 - 【請求項15】 請求項14において、前記第1のMO
Sゲートデバイスの前記第1の面がドレインを含み、前
記第1のMOSゲートデバイスの前記第2の面の前記他
の電極がソースを含むことを特徴とするデバイス。 - 【請求項16】 請求項14において、前記第2のMO
Sゲートデバイスの前記第1の面がドレインを含み、前
記第2のMOSゲートデバイスの前記第2の面の前記他
の電極がソースを含むことを特徴とするデバイス。 - 【請求項17】 請求項14において、前記ダイオード
の前記第1の面がマイナス極を含み、前記ダイオードの
第2の面がプラス極を含むことを特徴とするデバイス。 - 【請求項18】 請求項14において、前記リードフレ
ームが、前記第1のMOSゲート半導体デバイスの前記
他の電極に電気的に接続された第3のパッド領域を含む
ことを特徴とするデバイス。 - 【請求項19】 請求項14において、前記第1のMO
Sゲートデバイスの前記第2の面が、分離された外部ピ
ンに電気的に接続された他のゲートを含むことを特徴と
するデバイス。 - 【請求項20】 請求項14において、前記第2のMO
Sゲートデバイスの前記第2の相対する面が、分離され
た外部ピンに電気的に接続された他のゲートを含むこと
を特徴とするデバイス。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11049000A JP3046017B1 (ja) | 1999-02-25 | 1999-02-25 | コパッケ―ジmos―ゲ―トデバイスおよび制御ic |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11049000A JP3046017B1 (ja) | 1999-02-25 | 1999-02-25 | コパッケ―ジmos―ゲ―トデバイスおよび制御ic |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP3046017B1 true JP3046017B1 (ja) | 2000-05-29 |
JP2000252417A JP2000252417A (ja) | 2000-09-14 |
Family
ID=12818932
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11049000A Expired - Fee Related JP3046017B1 (ja) | 1999-02-25 | 1999-02-25 | コパッケ―ジmos―ゲ―トデバイスおよび制御ic |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3046017B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2763160A4 (en) * | 2011-09-30 | 2016-01-13 | Renesas Electronics Corp | SEMICONDUCTOR DEVICE |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4565879B2 (ja) * | 2004-04-19 | 2010-10-20 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
JP2007116015A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Mitsubishi Electric Corp | 電子装置 |
JP5123966B2 (ja) * | 2010-03-04 | 2013-01-23 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
-
1999
- 1999-02-25 JP JP11049000A patent/JP3046017B1/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2763160A4 (en) * | 2011-09-30 | 2016-01-13 | Renesas Electronics Corp | SEMICONDUCTOR DEVICE |
US9263435B2 (en) | 2011-09-30 | 2016-02-16 | Renesas Electronics Corporation | Switching element with a series-connected junction FET (JFET) and MOSFET achieving both improved withstand voltage and reduced on-resistance |
US9502388B2 (en) | 2011-09-30 | 2016-11-22 | Renesas Electronics Corporation | Switching element with a series-connected junction FET (JFET) and MOSFET achieving both improved withstand voltage and reduced on-resistance |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2000252417A (ja) | 2000-09-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6184585B1 (en) | Co-packaged MOS-gated device and control integrated circuit | |
US9837393B2 (en) | Semiconductor package with integrated semiconductor devices and passive component | |
US7202557B2 (en) | Co-packaged control circuit, transistor and inverted diode | |
JP2896126B2 (ja) | 半導体デバイスおよび表面実装パッケージ | |
US8188596B2 (en) | Multi-chip module | |
US7002249B2 (en) | Microelectronic component with reduced parasitic inductance and method of fabricating | |
KR100616129B1 (ko) | 고 전력 mcm 패키지 | |
US6919643B2 (en) | Multi-chip module semiconductor devices | |
US7763974B2 (en) | Integrated circuit for driving semiconductor device and power converter | |
US9468087B1 (en) | Power module with improved cooling and method for making | |
TW200913220A (en) | High efficiency module | |
TW201145477A (en) | Semiconductor device and power supply system | |
US20020096748A1 (en) | Back-to -back connected power semiconductor device package | |
US20220254764A1 (en) | Semiconductor device | |
CN116435278A (zh) | 功率半导体器件模块中的杂散电感降低 | |
Reiner et al. | PCB-embedding for GaN-on-Si power devices and ICs | |
US20060071238A1 (en) | Power module | |
JP2001068498A (ja) | 半導体装置 | |
JP3046017B1 (ja) | コパッケ―ジmos―ゲ―トデバイスおよび制御ic | |
US6822399B2 (en) | Half-bridge circuit | |
JP2002057282A (ja) | 半導体装置およびそれを用いたインバータ回路 | |
US20220139797A1 (en) | Semiconductor module, power semiconductor module, and power electronic equipment using the semiconductor module or the power semiconductor module | |
WO2020227589A1 (en) | Electronic device with double-sided cooling | |
US6388319B1 (en) | Three commonly housed diverse semiconductor dice | |
JP2020162354A (ja) | 半導体モジュールの製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090317 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100317 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100317 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110317 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120317 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130317 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140317 Year of fee payment: 14 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |