JP3023023B2 - 半導体封止用樹脂組成物 - Google Patents

半導体封止用樹脂組成物

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JP3023023B2
JP3023023B2 JP03315667A JP31566791A JP3023023B2 JP 3023023 B2 JP3023023 B2 JP 3023023B2 JP 03315667 A JP03315667 A JP 03315667A JP 31566791 A JP31566791 A JP 31566791A JP 3023023 B2 JP3023023 B2 JP 3023023B2
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  • Epoxy Resins (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、耐半田ストレス性及び
耐湿性に優れた半導体封止用樹脂組成物に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来、ダイオード、トランジスタ、集積
回路等の電子部品を熱硬化性樹脂で封止しているが、特
に集積回路では耐熱性、耐湿性に優れたO−クレゾール
ノボラックエポキシ樹脂をノボラック型フェノール樹脂
で硬化させたエポキシ樹脂組成物が用いられている。
【0003】ところが、半導体パッケージの実装方法と
しては、従来のスルーホール実装から表面実装へ変わっ
てきている。又、半導体パッケージの最近の傾向として
は、チップの大型化、パッケージの薄型化である。
特に、パッケージの薄型化は著しく、1mm厚のTSOP
やTQFPの実用化が相次いでいる。表面実装化によ
り、半田付けの工程において急激に200℃以上の高温
にさらされることによりパッケージの割れやチップと封
止樹脂の界面が剥離するといった現象がおこり、耐湿性
が劣化してしまうといった問題がおこっている。そのた
め、耐半田耐熱性と耐湿性の2点をクリアーする封止樹
脂の開発が急がれている。
【0004】これらの問題を解決するために半田付け時
の熱衝撃を緩和する目的で、熱可塑性オリゴマーの添加
(特開昭62−115849号公報)や各種シリコーン
化合物の添加(特開昭62−11585号公報、62−
116654号公報、62−128162号公報)、更
にはシリコーン変性(特開昭62−136860号公
報)などの手法で対処しているがいずれも半田付け時に
パッケージにクラックが生じてしまい信頼性の優れた半
導体封止用エポキシ樹脂組成物を得るまでには至らなか
った。
【0005】一方、耐半田ストレス性に優れた耐熱性エ
ポキシ樹脂組成物を得る為に、樹脂系としては多官能エ
ポキシ樹脂の使用(特開昭61−168620号公報)
等が検討されてきたが、多官能エポキシ樹脂の使用によ
り架橋密度が上がり耐熱性が向上するが、特に200〜
300℃のような高温にさらされた場合においては耐半
田ストレス性が不充分であった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
問題に対して耐半田ストレス性及び耐湿性が著しく優れ
た半導体封止用樹脂組成物を提供するものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、これらの
問題を解決するために鋭意研究を進め、次の組成を持つ
樹脂組成物を見い出した。即ち、本発明は、(A)エポ
キシ樹脂として、[1]の化学構造式で示される3,
3′,5,5′−テトラメチル−4,4′−ジヒドロキ
シビフェニルグリシジルエーテルと
【0008】
【化4】
【0009】[2]の化学構造式で示される4,4′−
ジヒドロキシビフェニルグリシジルエーテル
【0010】
【化5】
【0011】の重量比[1]/[2]=70/30〜3
0/70からなる混合物を総エポキシ量に対して50〜
100重量%含むエポキシ樹脂、(B)フェノール樹脂
硬化剤として式[3]で示される構造のジシクロペンタ
ジエン変性フェノール樹脂硬化剤、
【0012】
【化6】 (nは整数であり、n=0〜5、Rは水素原子、ハロゲ
ン原子、炭素数1〜4のアルキル基の中から選択される
原子または基)を総フェノール樹脂硬化剤量に対して5
0〜100重量%含むフェノール樹脂硬化剤、(C)無
機充填材および(D)硬化促進剤を必須成分とする半導
体封止用樹脂組成物である。
【0013】本発明において用いられる式[1],
[2]で示される構造のビフェニル型エポキシ化合物は
従来のエポキシ樹脂に比べ非常に低粘度を有する。その
ため、充填材の含有量を大幅に増加させることが可能で
あり、樹脂組成物の衝撃強度を向上させ、半田耐熱性に
優れるという特徴を有している。式[1]と式[2]の
混合重量比、[1]/[2]は70/30〜30/70
であることが望ましい。式[1]が70%を超えると硬
化性、成形性が悪くなり好ましくない。式[1]が30
%未満だと流動性の悪い樹脂組成物となる。
【0014】併用するエポキシ樹脂としては、O−クレ
ゾールノボラックエポキシ樹脂、3官能エポキシ樹脂な
どが挙げられ、これらは1種または2種以上混合して用
いてもよい。式[3]で示される構造のジシクロペンタ
ジエン変性フェノール樹脂硬化剤は、分子中に可撓性を
有するジシクロペンタジエン構造を有することを特徴と
するものであり、これを用いることにより可撓性に富
み、耐半田ストレス性に良好なエポキシ樹脂組成物を得
ることができる。
【0015】ジシクロペンタジエン変性フェノール樹脂
硬化剤の使用量は、これを調節することにより耐半田ス
トレス性を最大限に引き出すことができる。耐半田スト
レス性の効果を出す為にはジシクロペンタジエン変性フ
ェノール樹脂硬化剤を全硬化剤に対して50重量%以
上、好ましくは70重量%以上の使用が望ましい。50
重量%未満だと可撓性が上がらず耐半田ストレス性が不
充分である。式[3]で示される構造のジシクロペンタ
ジエン変性フェノール樹脂硬化剤と併用する硬化剤とし
ては、エポキシ樹脂と反応する硬化剤全般をいい例え
ば、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック
樹脂、トリス(ヒドロキシアルキルフェニル)メタン型
フェノール樹脂、パラキシレン変性フェノール樹脂等を
用いることができる。
【0016】エポキシ樹脂とフェノール樹脂硬化剤の配
合比は、硬化剤の水酸基数1に対し、エポキシ樹脂のエ
ポキシ基数を0.5〜2の範囲内になるように配合を調
製する必要がある。0.5未満または2を超えたものは
耐湿性、成形作業性及び硬化物の電気特性が悪くなる。
好ましくは、硬化剤の水酸基数1に対し、エポキシ樹脂
のエポキシ基数1.1〜1.3の範囲内とする配合が好
適である。1.1未満または1.3を超えたものは、吸
水性が上がり半田浸漬時の熱衝撃が増加し、耐半田スト
レス性が悪くなる傾向がある。
【0017】本発明で用いる無機充填材としては、溶融
シリカ粉末、球状シリカ粉末、結晶シリカ粉末、2次凝
集シリカ粉末、多孔質シリカ粉末、2次凝集シリカ粉末
または多孔質シリカ粉末を粉砕したシリカ粉末、アルミ
ナ等が挙げられ、特に溶融シリカ粉末が好ましい。
【0018】本発明に使用される硬化促進剤はエポキシ
基とフェノール性水酸基との反応を促進するものであれ
ばよく、一般に封止用材料に使用されているものを広く
使用することができ、例えばジアザビシクロウンデセン
(DBU)、トリフェニルホスフィン(TPP)、ジメ
チルベンジルアミン(BDMA)や2メチルイミダゾー
ル(2MZ)等が単独もしくは2種類以上混合して用い
られる。本発明の封止用エポキシ樹脂組成物はエポキシ
樹脂、硬化剤、無機充填材及び硬化促進剤を必須成分と
するが、これ以外に必要に応じてシランカップリング
剤、ブロム化エポキシ樹脂、三酸化アンチモン、ヘキサ
ブロムベンゼン等の難燃剤、カーボンブラック、ベンガ
ラ等の着色剤、天然ワックス、合成ワックス等の離型剤
及びシリコーンオイル、ゴム等の低応力添加剤等の種々
の添加剤を適宜配合しても差し支えがない。
【0019】又、本発明の封止用エポキシ樹脂組成物を
成形材料として製造するには、エポキシ樹脂、硬化剤、
硬化促進剤、充填剤、その他の添加剤をミキサー等によ
って十分に均一に混合した後、さらに熱ロールまたはニ
ーダー等で溶融混練し、冷却後粉砕して成形材料とする
ことができる。これらの成形材料は電子部品あるいは電
気部品の封止、被覆、絶縁等に適用することができる。
【0020】
【実施例】以下、本発明を実施例で示す。配合割合は重
量部とする。 実施例1〜6、比較例1〜4 表1,2に示したそれぞれの配合割合の組成物を常温に
て十分に混合し、更に95〜100℃で2軸ロールによ
り混練し、冷却後粉砕して成形材料とし、これをタブレ
ット化して半導体封止用エポキシ樹脂組成物を得た。
【0021】
【化7】 (n=1,3,4の化合物の割合が2:6:2の混合
物)
【0022】この材料をトランスファー成形機(成形条
件:金型温度175℃、硬化時間2分)を用いて成形
し、得られた成形品を175℃、8時間で後硬化し評価
した。結果を表1,2に示す。
【0023】評価方法 ※1 スパイラルフロー EMMI−I−66に準じたスパイラルフロー観測用金
型を用い、試料を15g、成形温度175℃、成形圧力
7.0Pa、成形時間2分で成形したときの成形品の長
さ ※2 半田耐熱性試験 成形品(チップサイズ36mm2 、パッケージ厚2.05
mm)20個について85℃、85%RHの水蒸気下で7
2時間処理後、240℃の半田槽に10秒間浸漬し、ク
ラックの発生した成形品の個数を示す。 ※3 半田耐湿性試験 封止したテスト用素子を85℃で、85%RHの環境下
で72Hr処理し、その後250℃の半田槽に10秒間
浸漬後、プレッシャークッカー試験(125℃、100
%RH)を行い回路のオープン不良を測定した。
【0024】
【表1】
【0025】
【表2】
【0026】
【発明の効果】本発明による半導体封止用樹脂組成物
は、半田耐熱性及び耐湿性に極めて優れていることによ
り表面実装封止用樹脂組成物として非常に信頼性の高い
ものである。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)エポキシ樹脂として、[1]の化
    学構造式で示される3,3′,5,5′−テトラメチル
    −4,4′−ジヒドロキシビフェニルグリシジルエーテ
    ルと 【化1】 [2]の化学構造式で示される4,4′−ジヒドロキシ
    ビフェニルグリシジルエーテル 【化2】 の重量比[1]/[2]=70/30〜30/70から
    なる混合物を総エポキシ量に対して50〜100重量%
    含むエポキシ樹脂、 (B)フェノール樹脂硬化剤として式[3]で示される
    構造のジシクロペンタジエン変性フェノール樹脂硬化
    剤、 【化3】 (nは整数であり、n=0〜5、Rは水素原子、ハロゲ
    ン原子、炭素数1〜4のアルキル基の中から選択される
    原子または基)を総フェノール樹脂硬化剤量に対して5
    0〜100重量%含むフェノール樹脂硬化剤、(C)無
    機充填材および(D)硬化促進剤を必須成分とする半導
    体封止用樹脂組成物。
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