JP3022281B2 - デジタル無線周波数システムをテストする方法と装置 - Google Patents
デジタル無線周波数システムをテストする方法と装置Info
- Publication number
- JP3022281B2 JP3022281B2 JP27615595A JP27615595A JP3022281B2 JP 3022281 B2 JP3022281 B2 JP 3022281B2 JP 27615595 A JP27615595 A JP 27615595A JP 27615595 A JP27615595 A JP 27615595A JP 3022281 B2 JP3022281 B2 JP 3022281B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- radio frequency
- digital
- signal
- transmitter
- baseband processor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2822—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere of microwave or radiofrequency circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3185—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
- G01R31/318533—Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
- G01R31/318536—Scan chain arrangements, e.g. connections, test bus, analog signals
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/15—Performance testing
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
- H04B17/21—Monitoring; Testing of receivers for calibration; for correcting measurements
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/15—Performance testing
- H04B17/16—Test equipment located at the transmitter
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B17/00—Monitoring; Testing
- H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
- H04B17/15—Performance testing
- H04B17/19—Self-testing arrangements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
線周波数(RF)回路とを含むデジタル制御無線周波数
トランシーバのような電子システムを一体に組み込んだ
テストする方法と装置に関する。
と無線周波数回路とを組み込んだシステムを一般的には
デジタル制御無線周波数トランシーバの形態で利用して
いる。このようなシステムは、以降デジタル/無線シス
テムと称するが、これは情報を他の例えばデジタル/無
線システムとやり取りしている。一般的なデジタル無線
システムは、このシステム内で無線トランシーバにより
信号を伝送するために地上ネットワークから受信した入
力音声および/または、データ信号を処理するためにベ
ースバンドのプロセッサ(デジタル信号プロセッサ)
と、このようなシステムを制御するデジタルコントロー
ラとを含んでいる。このベースバンドプロセッサは、こ
のシステム内でアナログ無線受信機を介して受信した信
号を処理する機能も有する。
に際し、そして更にまたその通常の保守管理の間このシ
ステムは、その動作を確認するためにテストする必要が
ある。通常、このようなデジタルコントローラとベース
バンドプロセッサは、無線トランシーバと無線受信機と
は分離してテストされている。デジタルテスト技術、例
えばバウンダリスキャンテスト(Boundary-Scan testin
g )を用いてデジタルコントローラとベースバンドプロ
セッサを構造的にテストしている。しかし、このような
デジタルテストの技術は、無線送信機および無線受信機
をテストするには適当なものではない。
こに加えられた刺激(試験入力)に応答してその機能的
な応答を測定することによりテストされている。実際に
は、そこに加えられる入力信号は、通常の動作における
送信機および受信機に現れる実際の信号とは異なったも
のである。したがって、このテストにより得られた結果
は、送信機と受信機の実際の動作状態を必ずしも現して
いるものではない。更に、特別な器具を用いて無線トラ
ンシーバと無線受信機の機能を測定する必要があり、そ
のためこのテストは、コストが高いものとなる。
的は、デジタル/無線システム内のデジタル回路と無線
回路の両方をテストする組み込んだテスト方法と装置を
提供することである。
トローラとベースバンドプロセッサ(通常、デジタル信
号プロセッサである)とRF(無線周波数)送信機と無
線周波数受信機とからなるデジタル/無線周波数システ
ムをテストする技術を組み込んだものである。本発明に
よれば、このデジタル/無線周波数システムは、数段回
でもってテストされる。まず第1にこのデジタルコント
ローラとベースバンドプロセッサとは、例えばバウンダ
リスキャンテスト技術(Boundary-Scan test techniqu
e)のようなデジタルテスト技術を用いて構造的にテス
トされる。(このようなバウンダリスキャンテストを実
行するためには、デジタルコントローラとベースバンド
プロセッサの両方ともバウンダリスキャン構造を有して
いなければならない。)デジタル/無線周波数システム
のデジタル部分が一旦テストされると、このシステムの
無線周波数部分が次ぎにテストされる。この無線周波数
部分(すなわち送信機と受信機)のテストを実行するた
めに異なるテストパターンからなるテスト信号をデジタ
ルコントローラからベースバンドプロセッサにダウンロ
ードする。通常、このようなテストパターンは、ベース
バンドプロセッサに関連したバウンダリースキャンテス
トアクセスポート「Boundary-Scan Test Access Port
(TAP)」を介してダウンロードされる。(このテストバ
ンドプロセッサを構造的にテストしている間、ベースバ
ンドプロセッサのバウンダリスキャンTAPは、ゲイト
ウェイとして機能し、それによりテスト信号がバウンダ
リスキャンテストを実行するためにデジタルコントロー
ラから発信される。)この無線周波数テストの間、ベー
スバンドプロセッサのTAPとをゲートウェイとして用
い、このゲートウェイにより無線周波数送信機にテスト
信号が送られる。この無線周波数送信機をテストするた
めに、ベースバンドプロセッサは、少なくとも1つのテ
ストパターンを無線周波数送信機にダウンロードし、そ
してこの無線周波数送信機が対応する無線周波数信号を
生成する。その後この無線周波数信号は、第1デジタル
信号ストリームに変換され、この第1デジタル信号スト
リームは、ベースバンドプロセッサにより処理されて送
信機の動作を確認する。この送信機により生成された無
線周波数信号は、同時にまた無線周波数受信機にも送信
され、そしてこの無線周波数受信機は、アナログ信号を
生成し、その後このアナログ信号は、第2のデジタル信
号ストリームに変換される。この第2のデジタル信号ス
トリームは、ベースバンドプロセッサにより処理され
て、受信機の動作を確認する。
せず一体化された形態でデジタル/無線周波数システム
のデジタル回路と無線周波数回路の両方のテストを行う
ことができる。
した従来技術のデジタル/無線周波数システム10の動
作について説明し、その具体的な問題点を指摘する。図
1に示した従来技術のデジタル/無線周波数システム1
0は、地上ネットワーク(図示せず)から供給されたデ
ジタル音声および/またはデータを無線周波数信号に変
換して無線ターミナル(図示せず)に伝送する。この従
来技術のデジタル/無線周波数システム10は、無線周
波数信号を受信し、この無線周波数信号をデジタル音声
および/またはデータ信号に変換してそれを再び地上ネ
ットワークに送り返す。
テム10は、マイクロプロセッサ16とメモリ18とを
有するコントローラ14を有し、このコントローラ14
でもってシステムを制御し、I/Oライン19から入る
情報を通信する。特にコントローラ14は、ベースバン
ドプロセッサ20(デジタル信号プロセッサあるいはそ
のようなプロセッサ群)の動作を制御する、このベース
バンドプロセッサ20は地上ネットワークからコントロ
ーラに供給される来入音声および/またはデータ信号
(以下フォワード信号と称する)を処理する機能を有す
る。
処理されたフォワード信号をコントローラ14により制
御される無線周波数送信機24に供給する。この無線周
波数送信機24は、ベースバンドプロセッサ20からの
処理されたフォワード信号を基準キャリア信号に変調し
てTxとして示される無線周波数信号を生成する。この
無線周波数信号Txは、多重化装置26に供給され、こ
の多重化装置26は、送信信号パスと受信信号パスとを
区分する。
受信された信号を、無線周波数受信機34に送る。この
無線周波数受信機34は、アンテナ30からの無線周波
数信号を復調し、中間周波数「Intermediate Frequency
(IF) 」信号を生成する。中間周波数受信機とA/Dコ
ンバータ36は、無線周波数受信機34からのIF信号
をベースバンド信号(以下リバース信号と称する)に変
換し、この信号は、更に処理するためにベースバンドプ
ロセッサ20に送られる。このベースバンドプロセッサ
20は、中間周波数受信機とA/Dコンバータ36から
のリバース信号を処理する。
ローラ14とベースバンドプロセッサ20)は、無線周
波数回路(無線周波数送信機24と、無線周波数受信機
34と、中間周波数受信機とA/Dコンバータ36)か
ら分離してテストされていた。このような分離テストは
不都合な面がある。このような問題を解決するために、
図2に示した本発明のデジタル/無線周波数システム1
0′は、統合したテストを容易にするために設計された
ものである。この本発明のデジタル/無線周波数システ
ム10′は、図1のデジタル/無線周波数システム10
と共通の要素を有するが、更にそれ以外の装置および回
路も有する。図2に示されてはいないが、このデジタル
/無線周波数システムは図1の多重化装置26とアンテ
ナ30とを当然のことながら有する。
テム10′のコントローラ14は、図1のコントローラ
14と同様な機能を有し、制御コマンドを記憶するメモ
リ18を有する。しかし図1のメモリ18と異なり図2
のメモリ18は、無線周波数送信機24と無線周波数受
信機34と中間周波数受信機とA/Dコンバータ36と
をテストするテストパターンを記憶する専用のメモリ部
分38を有する。このコントローラ14は、制御コマン
ドと無線周波数回路のテストを行うテストパターンとの
両方を記憶する単一のメモリ18を含むように図示され
ているが、別個のメモリを用いてこれらのテストパター
ンを記憶するよう構成してもよい。更に、例えば磁気デ
ィスクドライブ(図示せず)のような大容量の記憶装置
でもってメモリ部分38を置き換えて19を介してテス
トパターンを供給してもよい。
テム10′のコントローラ14は、図1のコントローラ
14とはまた別の点でも異なる点がある。図2に示すよ
うに本発明のデジタル/無線周波数システム10′のコ
ントローラ14は、バウンダリスキャンマスター回路4
2を有する。通常このバウンダリスキャンマスター回路
42は、AT&A Microelectronics(Allentown, Pennsylv
ania)社から市販されている AT&A model 497 AA Bound
ary-Scan Master circuit でよい。このバウンダリスキ
ャンマスター回路42は、本発明のデジタル/無線周波
数システム10′のマイクロプロセッサ16と協働して
マイクロプロセッサ16以外のコントローラ14内に含
まれるデジタル回路(図示せず)のバウンダリスキャン
テストを実行してベースバンドプロセッサ20のバウン
ダリスキャンテストを行う。このためにベースバンドプ
ロセッサ20は、バウンダリスキャン構造でもって構成
されている。
に加えて、図2のコントローラ14は、マイクロプロセ
ッサ16を介してバウンダリスキャンマスター回路42
に接続されたブリッジ44を有する。このブリッジ44
は、バウンダリスキャンマスター回路42によりバウン
ダリスキャンTAP46上に生成されたバウンダリスキ
ャンテスト信号をバウンダリスキャンマスター回路42
によりバウンダリスキャンテストされるべきコントロー
ラ14内のデジタル回路に供給される。このブリッジ4
4と同一のブリッジ48をベースバンドプロセッサ20
内に配置しそしてこのブリッジ48は、バウンダリスキ
ャンTAP46を介してそこに供給されるベースバンド
プロセッサ20内のバウンダリスキャンテスト信号をベ
ースバンドプロセッサ20内に分配するよう機能する。
このブリッジ44と48の両方は、Texas Instruments
により製造されたAddressable Shadow Port (ASP) かあ
るいは、National Semiconductor Corporation により
製造された Scan Bridge device を含む。
無線周波数送信機24と、無線周波数受信機34と、中
間周波数受信機とA/Dコンバータ36と)の集積テス
トを実行するために本発明のデジタル/無線周波数シス
テム10′は、カプラ49を有し、このカプラ49で無
線周波数送信機信号Txを減衰機50に結合する。この
減衰機50は、カプラ49から受信した信号を減衰させ
てダウンコンバータ52に入力するよう強度を減少した
信号を生成する。このダウンコンバータ52は、減衰し
た送信機信号TxをA/Dコンバータ54に入力するた
めに低周波信号にダウンコンバートする。このA/Dコ
ンバータ54は、A/Dコンバータ54により生成され
たアナログ信号をベースバンドプロセッサ20に入力す
るためにデジタル信号に変換する。
Txを減衰機50に接続し、更にこの信号をループバッ
ク接続56に供給する。そしてこのループバック接続5
6は、Tx信号を無線周波数受信機34に供給する。こ
のようにして無線周波数送信機24により生成されたT
x信号は、変調用に無線周波数受信機34に供給され
る。この無線周波数受信機34により生成された復調信
号は中間周波数受信機とA/Dコンバータ36に入力さ
れ、そしてこの中間周波数受信機とA/Dコンバータ3
6は、無線周波数受信機34の信号をベースバンドプロ
セッサ20に入力されるデジタル信号に変換する。
0′の全体のテストは、以下に記述するよう実行され
る。まずコントローラ14内のデジタル回路(マイクロ
プロセッサ16以外)は、バウンダリスキャンテストを
実行することにより構造的にテストされこれは、ベース
バンドプロセッサ20と同様である。このようなテスト
は、バウンダリスキャンマスター回路42を介して実行
される。このようなバウンダリスキャンテストのより詳
細な説明は、前述したIEEE刊行物に開示されてい
る。コントローラ14内のデジタル回路のテストの終了
後、更にバウンダリスキャンマスター回路42は、バウ
ンダリスキャンテスト技術によりテストされるシステム
内の混合信号要素のバウンダリスキャンテストを容易に
する。
テム10′の構造テストがバウンダリスキャンテスト技
術により実行されると無線周波数回路が次にテストされ
る。無線周波数送信機24は、ベースバンドプロセッサ
20を介してメモリ部分38からのテストパターンをベ
ースバンドプロセッサ20にまずダウンロードすること
によりテストされる。その後このテストパターンは、多
重化装置26に供給される。このダウンロードされたテ
ストパターンにしたがって無線周波数送信機24は、無
線周波数信号Txを生成する。この無線周波数信号Tx
は、減衰機50により減衰されその後ダウンコンバータ
52によりダウンコンバートされA/Dコンバータ54
によりデジタル化される。このA/Dコンバータ54に
よりデジタル化された信号は、その後ベースバンドプロ
セッサ20により処理されて無線周波数送信機24の動
作を確認する。
ストされる。各入力されたテストパターンに応じて無線
周波数送信機24により生成された無線周波数信号Tx
は、無線周波数受信機34にループバック接続56を介
して供給される。この無線周波数受信機34により受信
されたTx信号は、そこで復調されIF(中間周波数)
信号を生成し、このIF信号は、中間周波数受信機とA
/Dコンバータ36によりダウンコンバートされ、デジ
タル化されてベースバンド信号を生成する。このベース
バンド信号は、ベースバンドプロセッサ20により処理
され中間周波数受信機とA/Dコンバータ36の動作を
確認する。
周波数システム10′は、デジタル回路と無線周波数回
路の両方がコントローラ14により特別なテスト装置を
必要とする事なくテストされる利点がある。
ブロック図
ロック図
Claims (8)
- 【請求項1】 デジタルコントローラとベースバンドプ
ロセッサと無線周波数送信機と無線周波数受信機とを有
するデジタル無線周波数システムにおいて、デジタル構
造テスト技術によりデジタルコントローラとベースバン
ドプロセッサをテストする方法において、 (1)デジタルコントローラからテストパターンをベー
スバンドプロセッサにダウンロードするステップと、 (2)送信機に無線周波数信号を送信させるために前記
テストパターンを無線周波数送信機に入力するステップ
と、 (3)前記無線周波数送信機により送信された無線周波
数信号をベースバンドプロセッサにより受信されるよう
に第1のデジタル信号ストリームに変換するステップ
と、 (4)無線周波数送信機の動作を確認するために、ベー
スバンドプロセッサにおいて前記第1デジタル信号スト
リームを処理するステップと、 (5)受信機で前記送信された無線周波数信号を受信す
るステップと、 (6)前記受信機により受信された無線周波数信号を第
2デジタル信号ストリームに変換するステップと、 (7)前記受信機の動作を確認するためにベースバンド
プロセッサにおいて前記第2デジタル信号ストリームを
処理するステップとからなることを特徴とするデジタル
無線周波数システムをテストする方法。 - 【請求項2】 前記デジタルコントローラとベースバン
ドプロセッサとは、バウンダリスキャンテスト方法によ
りテストされることを特徴とする請求項1の方法。 - 【請求項3】 前記送信機により送信された無線周波数
信号は、次のステップにより変換される、 信号を減衰するステップと、 前記信号をダウンコンバートするステップと、 前記ダウンコンバートされた信号をデジタル化するステ
ップとからなることを特徴とする請求項1の方法。 - 【請求項4】 前記(5)のステップは、無線周波数送
信機からの無線周波数信号を無線周波数受信機にルーピ
ングするステップを含むことを特徴とする請求項1の方
法。 - 【請求項5】 無線周波数送信機と、 無線周波数受信機と、 前記無線周波数送信機に入力されるフォワード音声/デ
ータ信号を処理し、前記受信機により受信されるリバー
ス音声/データ信号を処理するベースバンドプロセッサ
と、 前記送信機とベースバンドの動作を制御するデジタルコ
ントローラと、 前記デジタルコントローラ内に配置されベースバンドプ
ロセッサのデジタルテストを実行するテスト手段と、 前記デジタルコントローラに接続され前記送信機ダウン
ロードするためにベースバンドプロセッサに送信される
少なくとも1つのテストパターンを記憶する記憶手段
と、 前記無線周波数送信機に結合され、前記デジタル信号プ
ロセッサにより処理されるために前記ベースバンドプロ
セッサにより供給されるテストパターンに応答して送信
機により生成される無線周波数信号を第1デジタル信号
ストリームに変換する変換手段と、 前記無線周波数送信機を前記無線周波数受信機に結合す
る手段とからなることを特徴とするテスト可能なデジタ
ル無線周波数システム。 - 【請求項6】 前記テスト手段は、前記ベースバンドプ
ロセッサのバウンダリスキャンテストを実行するため
に、前記デジタルコントローラと協働するバウンダリス
キャンマスタ回路を有することを特徴とする請求項5の
システム。 - 【請求項7】 前記変換手段は、 減衰機と、 ダウンコンバータと、 アナログからデジタルへのコンバータとを有することを
特徴とする請求項5のシステム。 - 【請求項8】 前記結合手段は、 前記無線周波数受信機に接続されたループバック接続手
段と、 前記無線周波数送信機を変換手段とループバック接続手
段に結合するカプラとを有することを特徴とする請求項
5のシステム。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/317,070 US5481186A (en) | 1994-10-03 | 1994-10-03 | Method and apparatus for integrated testing of a system containing digital and radio frequency circuits |
US317070 | 1994-10-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08274821A JPH08274821A (ja) | 1996-10-18 |
JP3022281B2 true JP3022281B2 (ja) | 2000-03-15 |
Family
ID=23231980
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP27615595A Expired - Fee Related JP3022281B2 (ja) | 1994-10-03 | 1995-10-02 | デジタル無線周波数システムをテストする方法と装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5481186A (ja) |
EP (1) | EP0706271B1 (ja) |
JP (1) | JP3022281B2 (ja) |
CA (1) | CA2156655C (ja) |
DE (1) | DE69528333T2 (ja) |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3078177B2 (ja) * | 1994-07-01 | 2000-08-21 | 三菱電機株式会社 | 無線装置 |
SG79172A1 (en) * | 1995-10-28 | 2001-03-20 | Inst Of Microelectronics | Method and system for generating arbitrary analog waveforms |
SG64286A1 (en) * | 1995-10-28 | 1999-04-27 | Inst Of Microelectronics | Multiple clock generation in a baseband simulator for testing a radio frequency section of a mobile communications transceiver |
JPH1013181A (ja) * | 1996-06-21 | 1998-01-16 | Nec Corp | Ifフィルタ自動整合方式 |
US5835850A (en) * | 1996-08-12 | 1998-11-10 | At&T Corp | Self-testing transceiver |
KR100222001B1 (ko) * | 1997-07-02 | 1999-10-01 | 윤종용 | 이동 통신 시스템 기지국의 무선 수신 경로 중 내부 시스템에 대한 이상 유무 진단 방법 |
EP0905940A3 (en) * | 1997-09-30 | 2001-05-16 | Lucent Technologies Inc. | Loopback testing using error vector analysis |
US6311044B1 (en) * | 1998-04-20 | 2001-10-30 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for determining failure modes of a transceiver |
US6178312B1 (en) | 1999-01-15 | 2001-01-23 | Adtran, Inc. | Mechanism for automatically tuning transceiver frequency synthesizer to frequency of transmit/receiver filter |
DE19934565A1 (de) * | 1999-07-22 | 2001-02-01 | Siemens Ag | Vorrichtung und Verfahren zur Datenübertragung mit gezielter Störsignalerzeugung |
US6636722B1 (en) * | 2000-09-12 | 2003-10-21 | Tektronix, Inc. | Broadband receiver amplitude/phase normalization using a broadband temperature compensated noise source and a pseudo random sequence generator |
FI110724B (fi) | 2000-09-14 | 2003-03-14 | Patria New Technologies Oy | JTAG-testausjärjestely |
JPWO2002061591A1 (ja) | 2001-01-31 | 2004-06-03 | 株式会社ルネサステクノロジ | データ処理システム及びデータプロセッサ |
US6996057B2 (en) * | 2001-10-05 | 2006-02-07 | Adtran, Inc. | Integrated RF loopback test apparatus for redundant data radio transceiver system |
JPWO2003036895A1 (ja) * | 2001-10-25 | 2005-02-17 | 株式会社ルネサステクノロジ | 通信用半導体集積回路および変復調装置並びに通信状態診断方法 |
US6968408B2 (en) * | 2002-08-08 | 2005-11-22 | Texas Instruments Incorporated | Linking addressable shadow port and protocol for serial bus networks |
GB0222556D0 (en) * | 2002-09-28 | 2002-11-06 | Koninkl Philips Electronics Nv | RF chip testing method and system |
US20070021466A1 (en) * | 2002-11-18 | 2007-01-25 | Solomon Ungashe | CCR2 inhibitors and methods of use thereof |
EP1467583A1 (en) * | 2003-04-11 | 2004-10-13 | Nokia Corporation | Method and mobile station for testing devices within said mobile station |
US20050070268A1 (en) * | 2003-09-30 | 2005-03-31 | Juha Hakkinen | Method of testing RF circuit, and arrangement |
US7933207B2 (en) * | 2004-02-19 | 2011-04-26 | Nxp B.V. | Electronic stream processing circuit with test access |
KR100656196B1 (ko) * | 2004-08-12 | 2006-12-12 | 삼성전자주식회사 | 송수신 모드를 동시에 활용하는 시분할 복신 송수신 장치및 이를 이용한 자체 진단 방법 |
US7564893B2 (en) * | 2005-03-22 | 2009-07-21 | Agilent Technologies, Inc. | Test system and method for parallel modulation error measurement of transceivers |
US7383478B1 (en) * | 2005-07-20 | 2008-06-03 | Xilinx, Inc. | Wireless dynamic boundary-scan topologies for field |
US8131223B2 (en) * | 2006-04-14 | 2012-03-06 | Litepoint Corporation | System for testing an embedded wireless transceiver |
US7865147B2 (en) * | 2006-04-14 | 2011-01-04 | Litepoint Corporation | System for testing an embedded wireless transceiver |
EP2188925A1 (en) * | 2007-08-16 | 2010-05-26 | Litepoint Corporation | System for testing an embedded wireless transceiver |
CN101784904A (zh) * | 2007-08-16 | 2010-07-21 | Nxp股份有限公司 | 带有rf模块的集成电路、具有这种ic的电子设备和用于测试这种模块的方法 |
CN103209033B (zh) * | 2012-01-13 | 2016-05-25 | 上海华虹集成电路有限责任公司 | Cmmb接收机硬件开发装置 |
US8887016B1 (en) * | 2012-02-13 | 2014-11-11 | Altera Corporation | IC and a method of testing a transceiver of the IC |
CN103414526B (zh) * | 2013-07-24 | 2016-08-10 | 福建星网锐捷通讯股份有限公司 | 一种无线射频指标的测试系统和测试方法 |
CN103558544A (zh) * | 2013-10-25 | 2014-02-05 | 中国航空综合技术研究所 | 一种基于边界扫描的数模混合电路机内测试装置 |
US9618577B2 (en) | 2014-01-03 | 2017-04-11 | Litepoint Corporation | System and method for testing data packet transceivers having varied performance characteristics and requirements using standard test equipment |
CN103929257A (zh) * | 2014-04-28 | 2014-07-16 | 信亚美科(南京)信息技术有限公司 | 一种雷达动态频率选择测试系统 |
US9584175B2 (en) | 2014-12-16 | 2017-02-28 | Nxp Usa, Inc. | Radio frequency transceiver loopback testing |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5029166A (en) * | 1989-05-31 | 1991-07-02 | At&T Bell Laboratories | Method and apparatus for testing circuit boards |
FI89223C (fi) * | 1991-10-03 | 1993-08-25 | Nokia Mobile Phones Ltd | Digitalt audiointerface i gsm-anordning |
US5337316A (en) * | 1992-01-31 | 1994-08-09 | Motorola, Inc. | Transceiver self-diagnostic testing apparatus and method |
-
1994
- 1994-10-03 US US08/317,070 patent/US5481186A/en not_active Expired - Lifetime
-
1995
- 1995-08-22 CA CA002156655A patent/CA2156655C/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-09-20 DE DE69528333T patent/DE69528333T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1995-09-20 EP EP95306640A patent/EP0706271B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-10-02 JP JP27615595A patent/JP3022281B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA2156655C (en) | 1999-01-26 |
DE69528333T2 (de) | 2003-04-17 |
EP0706271B1 (en) | 2002-09-25 |
US5481186A (en) | 1996-01-02 |
EP0706271A2 (en) | 1996-04-10 |
CA2156655A1 (en) | 1996-04-04 |
DE69528333D1 (de) | 2002-10-31 |
EP0706271A3 (en) | 1999-03-24 |
JPH08274821A (ja) | 1996-10-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3022281B2 (ja) | デジタル無線周波数システムをテストする方法と装置 | |
JP3098037B2 (ja) | トランシーバのテスト方法及び時分割無線通信システムのベースステーション | |
US7209722B2 (en) | Method of measuring receiver sensitivity, and transceiver | |
JPH10504163A (ja) | 無線ステーションの動作を監視するテストループを確立するための方法及び装置 | |
US5953637A (en) | Time slot recovery for remote in-band translator in time division multiple access wireless system | |
US20020118780A1 (en) | Pro-active antenna switching based on relative power | |
US5507010A (en) | Arrangement for measuring at frequencies actually used for signalling, the condition of a receiving antenna positioned apart from other base station equipment at a base station of a radio system | |
US20110053518A1 (en) | Wireless communication performance test method, wireless communication test-use measurement device, and wireless communication performance test system | |
US6834078B1 (en) | Test facility for transceiver station | |
EP0890279B1 (en) | Method for measuring intermodulation | |
WO1991019366A1 (en) | Radio test loop for a radio transceiver | |
US20020176394A1 (en) | Coupling of a mobile testing system | |
JP3096178B2 (ja) | Tdma−tdd無線通信装置の送受信装置 | |
KR200210047Y1 (ko) | 방향성 결합기를 이용한 기지국 송수신 성능 점검 시스템 | |
JPH05111070A (ja) | 移動無線送受信機試験方式 | |
US6647525B1 (en) | Electronics testing circuit and method | |
JPH09130323A (ja) | 試験機能を有する移動体通信システム | |
JP2616594B2 (ja) | 移動体衛星通信システムの受信レベル情報転送方式 | |
JPS59174036A (ja) | 受信装置 | |
KR20010028133A (ko) | 이동통신 시스템의 기지국의 신호수신경로 점검장치 | |
JP2003163954A (ja) | 無線通信システムの無線回線接続制御方式 | |
JPH04196731A (ja) | 衛星通信伝送系試験方法 | |
JPH08139739A (ja) | センタ装置と複数の端末装置からなるデータ伝送システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080114 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090114 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100114 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110114 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120114 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |