JP3016662B2 - ビット誤り検出装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、信号を固定長あるい
は可変長の転送単位に分割して送受信するパケット通信
方式に適用するビット誤り検出装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】図４は例えば特開昭６３−６２４３５号
公報に示されたパケット通信方式を示すブロック図であ
り、図において、４１は送信回線、４２は受信回線、４
５は送信信号、受信信号を蓄積する送受信バッファ、４
３は送受信バッファ４５からの送信信号にシーケンス番
号及び誤り検出コードを付加して送信回線４１に転送す
る送信回路、４４は受信回線４２から情報を受信し、シ
ーケンス番号及びビット誤り検出を行う受信回路、４６
は情報のフロー制御、再送制御等を実行する第１の制御
部、４７は第１の制御部４６からの指示により送受信バ
ッファ４５から送信信号を読み出し、送信回路４３にシ
ーケンス番号を与えるとともに受信回路４４で検出した
シーケンス番号及びビット誤り検出結果を受け、第１の
制御部４６に通知する第２に制御部である。

【０００３】次に動作について説明する。パケット通信
方式は、パケット交換網を介してパケット通信を対象と
している。送信回路４３は送受信バッファ４５からのパ
ケットに対して第２の制御部４７から指示されるシーケ
ンス番号を付加し、さらに誤り検出コードを付加して送
信回路４１へ転送する。受信回路４４は受信回線４２か
ら受信したシーケンス番号及び各パケットのビット誤り
検出を上記ビット誤り検出コードを用いて行い、その結
果を第２の制御部４７へ通知すると共に受信パケットを
送受信バッファ４５へ転送する。

【０００４】第２の制御部４７は第１の制御部４６の指
示により送受信バッファ４５からの一定値Ｎ個分のパケ
ットの連続送信を制御し、かつパケット受信の際のバッ
ファ転送制御ならびにＮ個のパケット受信が正常終了し
たか、異常終了したかを検知して第１の制御部４６へ通
知する。さらに第２の制御部４７は第１の制御部４６の
指示によって、送達確認パケットや再送要求パケットを
送信回路４３を介して送信する制御も行う。ここで、パ
ケットの送信において、第２の制御部４７は送信シーケ
ンス番号を送信回路４３に通知するが、受信側では連続
するＮ個のパケットの送信シーケンス番号の順番エラー
の検知を行っている。一方、第１の制御部４６はＮ個分
の連続するパケットを制御単位としてフロー制御、再送
制御を実行する。

【０００５】次に、図５は同期通信方式において一般的
に使用される従来のビット誤り検出装置を示すブロック
図である。図において、２は試験信号生成回路、５１は
送信フレーム内に試験信号（ＰＮ信号）を挿入するフレ
ーム作成回路、４は送信フレームを回線１０４に送信す
る送信回路、５は回線１０４から信号を受信する受信回
路、５２は受信フレームを分解するフレーム分解回路、
７は受信フレーム内の試験信号に同期したリファレンス
ＰＮ信号を生成するリファレンス試験信号生成回路、８
は受信フレーム内の試験信号とリファレンスＰＮ信号と
を比較し、ビット誤り検出を行う誤り検出回路である。

【０００６】次に動作について説明する。同期通信方式
におけるビット誤り検出装置は、同期通信網による同期
通信を対象としている。試験信号生成回路２は、試験用
疑似ランダム信号（ＰＮ信号）を生成しフレーム作成回
路５１に与える。フレーム作成回路５１では回線１０４
に応じた送信フレームを作成し、その情報フィールドの
指定チャネルに上記ＰＮ信号を挿入する。フレーム作成
回路５１で作成された送信フレームは送信回路４を介し
て回線１０４に転送される。

【０００７】受信回路５は、受信フレームの同期を確立
し、フレーム分解回路５２により受信フレーム内の試験
信号を検出後、リファレンス試験信号生成回路７および
誤り検出回路８に試験信号を送る。リファレンス試験信
号生成回路７は、フレーム分解回路５２からの試験信号
を基に自己同期方式あるいはリセット方式により、リフ
ァレンスＰＮ信号の同期を確立する。リファレンスＰＮ
信号の同期確立後、リファレンス試験信号生成回路７は
自走して、リファレンスＰＮ信号を誤り検出回路８に送
る。誤り検出回路８は、フレーム分解回路５２からの試
験信号とリファレンス試験信号生成回路７からのリファ
レンスＰＮ信号とを比較してビット誤りを検出する。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】従来のビット誤り検出
装置は、以上のように構成されているので、図４におい
て、パケットの順序誤りやビット誤りに対して送達確認
や再送制御を実行するため、図５の同期通信方式におけ
るビット誤り検出装置のように、パケット内のビット誤
り数を計数するためのビット誤り検出については考慮さ
れていなかった。このため情報の紛失、順序の入れ替え
が起きるような場合には検出できないという問題点があ
った。

【０００９】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、パケット通信方式においても、
ビット誤り数を計数できるビット誤り検出装置を得るこ
とを目的としており、さらにセルの抜けや順序の逆転等
が発生してもビット誤り数を計数できるビット誤り検出
装置を得ることを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この発明に係るビット誤
り検出装置は、試験信号の初期値を生成する初期値生成
回路と、上記初期値を受けて試験信号を生成する試験信
号生成回路と、上記試験信号と上記初期値とにより送信
セルを生成するセル生成回路と、受信側で受信した受信
セルを分解するセル分解回路と、その分解により生成さ
れる受信初期値に基づいてリファレンス試験信号を生成
するリファレンス試験信号生成回路と、上記リファレン
ス試験信号と上記受信セルから得られる受信試験信号と
を比較してビット毎の誤りを検出する誤り検出回路とを
備えたものである。

【００１１】この発明に係るビット誤り検出装置は、試
験信号の初期値を生成する初期値生成回路と、上記初期
値を受けて試験信号を生成する試験信号生成回路と、上
記初期値に対する誤り検出符号を生成する初期値誤り検
出符号生成回路と、上記試験信号、初期値および誤り検
出符号により送信セルを生成するセル生成回路と、受信
側で受信した受信セルを分解するセル分解回路と、その
分解により生成される誤り検出符号に基づいて分解され
た初期値の誤りを検出する初期値誤り検出回路と、初期
値誤り検出回路から出力される初期値に基づいてリファ
レンス試験信号を生成するリファレンス試験信号生成回
路と、上記初期値誤り検出回路で誤りが検出されないと
きに上記リファレンス試験信号と上記受信セルから得ら
れる受信試験信号とを比較してビット毎の誤りを検出す
る誤り検出回路とを備えたものである。

【００１２】この発明に係るビット誤り検出装置は、初
期値生成回路が、セル生成回路における送信セルの順序
を示すシーケンス番号を試験信号の初期値として生成す
るものである。

【００１３】この発明に係るビット誤り検出装置は、初
期値生成回路が、試験信号生成回路により生成されて１
つ前の送信セルに挿入された試験信号の最終情報を試験
信号の初期値として生成するものである。

【００１４】

【作用】この発明におけるビット誤り検出装置は、初期
値生成回路で生成された試験信号の初期値およびこの初
期値を受けて試験信号生成回路で生成された試験信号を
送信セルに挿入する。受信側では受信セルを分解してえ
られた受信初期値に基づいてリファレンス試験信号生成
回路がリファレンス試験信号を生成し、誤り検出回路が
リファレンス試験信号と上記受信セルから得られる受信
試験信号とを比較してビット毎の誤りを検出する。

【００１５】この発明におけるビット誤り検出装置は、
試験信号の初期値や試験信号とともに、初期値誤り検出
符号生成回路で生成された初期値に対する誤り検出符号
を送信セルに挿入する。受信側では受信セルを分解して
えられた誤り検出符号に基づいて初期値誤り検出回路が
初期値の誤りを検出し、その後、受信初期値に基づいて
リファレンス試験信号生成回路がリファレンス試験信号
を生成し、上記初期値誤り検出回路で誤りが検出されな
いときに誤り検出回路がリファレンス試験信号と上記受
信セルから得られる受信試験信号とを比較してビット毎
の誤りを検出する。

【００１６】この発明におけるビット誤り検出装置は、
初期値生成回路が、セル生成回路における送信セルの順
序を示すシーケンス番号を試験信号の初期値として生成
する。シーケンス番号は、セル毎に異なった値となるた
め、セル毎にＰＮ信号の初期値が変化する。したがっ
て、セル内のＰＮ信号はセル毎に異なるパターンとする
ことができる。

【００１７】この発明におけるビット誤り検出装置は、
初期値生成回路が、試験信号生成回路により生成されて
１つ前の送信セルに挿入された試験信号の最終情報を試
験信号の初期値として生成する。この場合、セル毎にＰ
Ｎ信号が異なると同時に、連続するセル間でＰＮ信号が
連続するため、一連のＰＮ信号系列を使用したビット誤
り検出が実現できる。

【００１８】

【実施例】実施例１． 以下、この発明の一実施例を図について説明する。図１
はこの発明の実施例によるビット誤り検出装置を示すブ
ロック図である。図１において、１は試験信号の所定の
初期値１０１を生成する初期値生成回路、２は初期値生
成回路１で生成された初期値１０１を受けて試験信号を
生成する試験信号生成回路、３は初期値生成回路１で生
成された初期値１０１および試験信号生成回路２で生成
された所定パターンを有する試験信号１０２を受けて送
信セル１０３を組み立てるセル生成回路、４はセル生成
回路３により作成された送信セル１０３を回線１０４に
転送する送信回路である。

【００１９】５は回線１０４からセルを受信する受信回
路、６は受信回路５からの受信セル１０５を受け、セル
を分解するセル分解回路、７はセル分解回路６で受信セ
ル１０５から分解された受信初期値１０６を使用してリ
ファレンスの疑似ランダム信号（リファレンス試験信号
１０８）を生成するリファレンス試験信号生成回路、８
はセル分解回路６で分解された受信試験信号１０７とリ
ファレンス試験信号生成回路７で生成されたリファレン
ス試験信号１０８とを比較してビット毎の誤りを検出す
る誤り検出回路である。

【００２０】次に動作について説明する。図２は図１の
信号の流れを示し、この図２において図１と同一の部分
には同一の符号を付す。送信側の初期値生成回路１で生
成された所定の初期値１０１は、試験信号生成回路２に
おいて疑似ランダム信号（試験信号１０２）の初期値と
して使用される。初期値１０１および試験信号１０２は
セルのヘッダ情報などとともにセル生成回路３にて送信
セル１０３として組立てられる。送信セル１０３は送信
回路４によって回線１０４に転送される。送信側では以
上の動作をセルの発生毎に行う為、セル毎に初期値１０
１および試験信号１０２が挿入される。

【００２１】受信側では、受信回路５で回線１０４から
受信セル１０５を検出しセル分解回路６に送る。セル分
解回路６では受信セル１０５の中から受信初期値１０６
および受信試験信号１０７を検出し、各々リファレンス
試験信号生成回路７および誤り検出回路８に送る。リフ
ァレンス試験信号生成回路７では、受信初期値１０６を
もとにリファレンスの疑似ランダム信号を生成し、リフ
ァレンス試験信号１０８として誤り検出回路８に送る。
誤り検出回路８は、受信試験信号１０７とリファレンス
試験信号１０８とをビット毎に比較し、ビット誤り数を
計数する。受信側においても以上の動作をセルの到着毎
に行う為、セル毎に受信初期値１０６は更新され、リフ
ァレンス試験信号１０８も再生成される。

【００２２】実施例２． 以下、この発明の一実施例を図について説明する。図３
はこの発明の実施例によるビット誤り検出装置を示すブ
ロック図である。なお、この図３において図１と同一の
部分または相当部分には同一の符号を付して説明を省略
する。この実施例２では、初期値生成回路１で生成され
た初期値１０１に対して誤り検出符号を付与する。図３
において、３１は初期値１０１をもとに誤り検出符号を
生成し、初期値誤り検出符号３０１をセル生成回路３に
送る初期値誤り検出符号生成回路である。セル生成回路
３では、初期値１０１とともに初期値誤り検出符号３０
１を送信セル内に挿入する。

【００２３】受信側では、セル分解回路６で分解された
誤り検出符号付初期値３０２は初期値誤り検出回路３２
に入力され、初期値の誤り検出を行う。初期値誤り検出
回路３２で初期値の誤り検出を行った結果は、初期値誤
り検出結果３０３として誤り検出回路８に通知する。誤
り検出回路８では、初期値誤り検出結果３０３により、
初期値に誤りがある場合には、リファレンス試験信号生
成回路７で生成されるリファレンス試験信号１０８が異
常となる為、ビット誤り数の計数を行わない等の制御を
行う。したがって、初期値に誤りが発生した場合は、ビ
ット誤り数の計数結果が異常になることを防止できる。

【００２４】また、上記実施例２では初期値誤り検出回
路３２により誤りを検出する場合について説明したが、
誤り訂正符号を用いることによって初期値の誤りを訂正
してもよく、上記実施例２と同様の効果を奏する。

【００２５】実施例３． 次に、この発明の一実施例について説明する。図１およ
び図３において、初期値発生回路１により生成される初
期値１０１として、セル毎に付与するシーケンス番号を
用いることにより、セル毎に異なった試験信号１０２を
生成することができる。

【００２６】実施例４． 次に、この発明の一実施例について説明する。図１およ
び図３において、初期値発生回路１により発生する初期
値１０１として、試験信号生成回路２により生成された
１つ前のセルの最終情報を用いることにより、連続する
セル毎に連続した試験信号１０２を生成することができ
る。

【００２７】

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、初期
値生成回路で生成された試験信号の初期値およびこの初
期値を受けて試験信号生成回路で生成された試験信号を
それぞれの送信セルに挿入するとともに、受信側では受
信セルを分解してえられた受信初期値に基づいてリファ
レンス試験信号生成回路がリファレンス試験信号を生成
し、更に誤り検出回路がリファレンス試験信号と上記受
信セルから得られる受信試験信号とを比較してビット毎
の誤りを検出するので、各セル毎に送信側の初期値と受
信側の初期値とを同期させ、更に試験信号生成回路が生
成する試験信号とリファレンス試験信号生成回路が生成
するリファレンス試験信号との同期を各セル毎に確立す
ることができる。そして、このようにセル毎に初期値お
よび試験信号を挿入するように構成することで、パケッ
ト通信方式において生じるセルの損失や到着順序の逆転
などが発生してしまったとしてもリファレンス試験信号
の同期が外れてしまうことはなくなってビット誤り数を
計数することができ、情報を固定長あるいは可変長の転
送単位に分割して送受信するパケット通信方式に適した
ビット誤り検出を実現することができる効果がある。

【００２８】また、この発明によれば更に、初期値の誤
り検出符号をもセル内に挿入するとともに、受信側では
最初に受信セルを分解してえられた誤り検出符号に基づ
いて初期値誤り検出回路が初期値の誤りを検出し、この
初期値に誤りが検出された場合にはビット誤りの検出を
しないように構成したので、初期値そのものに誤りが生
じた場合においてリファレンス試験信号が誤同期してし
まうことを避けることができ、上記効果に加えてより安
全性や信頼性が高い、精度の高いビット誤り検出ができ
る効果がある。

【００２９】さらに、この発明によれば、セル内に挿入
する試験信号の初期値として、セル毎に異なるシーケン
ス番号を使用するように構成したので、セル毎に異なっ
た試験パターンによりビット誤り数計数が可能となる。
したがって、種々のパターンに対するビット誤り検出が
できる効果がある。

【００３０】この発明によれば、セル内に挿入する試験
信号の初期値として、１つ前のセル内試験信号の最終情
報を使用するように構成したので、試験信号として用い
る疑似ランダム信号系列が連続するセルにおいて連続す
る。したがって、セルが順番に受信されている場合に
は、セルが変わってもリファレンス試験信号生成回路が
出力するリファレンス試験信号が連続連続した疑似ラン
ダム信号系列となり、パケット通信方式であったとして
も同期通信におけるビット誤り検出方式と同様に連続し
た疑似ランダム信号系列によるビット誤り検出ができる
効果がある。その結果、誤り検出回路はセル内のビット
誤りだけでなくセルの受信順を検出することができる効
果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例によるビット誤り検出装置
を示すブロック図である。

【図２】この発明の一実施例によるビット誤り検出装置
の各信号の流れを示す構成図である。

【図３】この発明の一実施例によるビット誤り検出装置
を示すブロック図である。

【図４】従来のパケット通信方式を示すブロック図であ
る。

【図５】従来の同期通信方式におけるビット誤り検出装
置を示すブロック図である。

【符号の説明】

２ 試験信号生成回路 ３ セル生成回路 ７ リファレンス試験信号生成回路 ８ 誤り検出回路 ３２ 初期値誤り検出回路 １０１ 初期値 １０２ 試験信号 １０３ 送信セル １０５ 受信セル １０６ 受信初期値 １０７ 受信試験信号 １０８ リファレンス試験信号

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ▲高▼木 康志 東京都武蔵野市緑町３−９−11 日本電 信電話株式会社 ＮＴＴ交換システム研 究所 広帯域システム研究部内 (72)発明者 小口 喜美夫 神奈川県横須賀市武１−2356 日本電信 電話株式会社 ＮＴＴ伝送システム研究 所 伝送処理研究部内 (72)発明者 上田 広之 尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三菱電 機株式会社 通信機製作所内 (72)発明者 羽根 稔尚 尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三菱電 機株式会社 通信機製作所内 (72)発明者 福田 雅裕 鎌倉市大船五丁目１番１号 三菱電機株 式会社 通信システム研究所内 (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H04L 1/00 H04L 29/14

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 試験信号の初期値を生成する初期値生成
   回路と、 上記初期値を受けて試験信号を生成する試験信号生成回
   路と、 上記試験信号と上記初期値とにより送信セルを生成する
   セル生成回路と、 受信側で受信した受信セルを分解するセル分解回路と、 その分解により生成される受信初期値に基づいてリファ
   レンス試験信号を生成するリファレンス試験信号生成回
   路と、 上記リファレンス試験信号と上記受信セルから得られる
   受信試験信号とを比較してビット毎の誤りを検出する誤
   り検出回路とを備えたビット誤り検出装置。
2. 【請求項２】 試験信号の初期値を生成する初期値生成
   回路と、 上記初期値を受けて試験信号を生成する試験信号生成回
   路と、 上記初期値に対する誤り検出符号を生成する初期値誤り
   検出符号生成回路と、 上記試験信号、初期値および誤り検出符号により送信セ
   ルを生成するセル生成回路と、 受信側で受信した受信セルを分解するセル分解回路と、 その分解により生成される誤り検出符号に基づいて分解
   された初期値の誤りを検出する初期値誤り検出回路と、 初期値誤り検出回路から出力される初期値に基づいてリ
   ファレンス試験信号を生成するリファレンス試験信号生
   成回路と、 上記初期値誤り検出回路で誤りが検出されないときに上
   記リファレンス試験信号と上記受信セルから得られる受
   信試験信号とを比較してビット毎の誤りを検出する誤り
   検出回路とを備えたビット誤り検出装置。
3. 【請求項３】 初期値生成回路は、セル生成回路におけ
   る送信セルの順序を示すシーケンス番号を試験信号の初
   期値として生成することを特徴とする請求項１または請
   求項２記載のビット誤り検出装置。
4. 【請求項４】 初期値生成回路は、試験信号生成回路に
   より生成されて１つ前の送信セルに挿入された試験信号
   の最終情報を試験信号の初期値として生成することを特
   徴とする請求項１または請求項２記載のビット誤り検出
   装置。