JP3010741B2 - ノッチフィルタを用いる化学的イオン化質量分析法 - Google Patents
ノッチフィルタを用いる化学的イオン化質量分析法Info
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Description
る質量分析法に関する。更に詳しく言うと、本発明の質
量分析法においては、選択された試薬及び前駆物質イオ
ン以外のイオンをトラップから放出させるためにノッチ
フィルタで濾波された雑音がイオントラップに印加され
る。
は、選択された範囲内の質量対電荷比を有するイオン
(「親イオン」として知られる)は、イオントラップ内
で隔離される。その後捕捉された親イオンは、解離する
ようにされ(例えば、トラップ内のバックグラウンドガ
ス分子と衝突させることによって)、 「娘イオン」として周知のイオンが生成するようにさ
れる。その後娘イオンは、トラップから放出されて検出
される。
4,736,101号は、イオン(所定の範囲内の質量対電荷比
を有する)が3次元の4極子捕捉フィールド内で捕捉さ
れるMS/MS法を開示している。その後捕捉フィールドが
走査され、不要な親イオン(望ましい質量対電荷比を有
する親イオン以外のイオン)をトラップから順次放出さ
せるようにする。次いで捕捉フィールドが再び変えら
れ、興味のある娘イオンが貯蔵できるようにする。その
後捕捉された親イオンが解離するようにされて娘イオン
を生成するようにし、そして検出のために娘イオンが順
次トラップから放出される 親イオンを解離に先立って不要な親イオンをトラップ
から放出するために、米国特許第4,736,101号は、捕捉
フィールドを定める基本電圧の振幅を掃引することによ
って捕捉フィールドを走査すべきであることを教示して
いる。
いる期間中トラップに補足交流フィールドを加えること
ができることも教示している。これは解離工程(5欄の
43行−62行参照)を促進させるか又は特定のイオンをト
ラップから放出させて、放出されたイオンが次の放出及
びサンプルイオン検出中(4欄の60行−5欄の6行参
照)に検出されないようにすることを目的としている。
味のあるイオンの研究を妨害する特殊なイオン(特にさ
もなければ大量に存在するイオン)を放出させるため
に、初期イオン化期間中トラップに補足交流フィールド
を加えることができることも示唆している(5欄の7行
−12行参照)。
11日公開)は、広周波数帯域信号(「広帯域信号」)が
四極子イオントラップの端電極に印加され、サンプルイ
オン蓄積段階中にすべての不要イオンをトラップ内から
外へ同時に共振させることができるようにすることを開
示している(例えば、3欄56行乃至4欄3行)。EPA第3
62,432号は、化学的イオン化操作の予備段階として、不
要な第1イオンを除去するために広帯域信号が印加され
得ること及び広帯域信号の振幅は約0.1V乃至100Vの範囲
とすべきことを教示している。
数スペクトルを有する雑音)がノッチフィルタを通して
イオントラップに印加され、選択された親イオンを除く
すべてのイオンをトラップ内から外へ共振させるように
する。この様なノッチフィルタで濾波された広帯域信号
は、本明細書では「濾波された雑音」と呼ぶ。
環状電極及び一対の端電極によって定められる四極子捕
捉フィールドであるのが好ましく、また濾波された雑音
は環状電極(端電極よりはむしろ)に印加され、z軸に
沿って取り付けられる検出器に向けてz方向よりはむし
ろ半径方向(環状電極に向けて)に不要イオンを放出す
るようにするのが望ましい。この方法で濾波された雑音
を印加することで、このようなイオン検出器の動作寿命
を著しく延ばすことができる。
フィールドが高周波数及び低周波数の両方の遮断特性を
持つと共に低遮断周波数よりも低いか若しくは高遮断周
波数よりも高い共振周波数を持つイオンの捕捉ができな
いようにするのが望ましい。本発明の濾波された雑音信
号を捕捉フィールドに印加することは、捕捉されたイオ
ンをこのような高周波数及び低周波数の遮断特性を有す
るノッチ帯域通過フィルタを通して濾波することと同等
である。
が取って代わった従来の技法に対し幾つかの顕著な利点
がある。本発明的方法のすべての実施例において濾波さ
れた雑音信号は、選択された範囲内(ノッチフィルタの
ノッチによって定められる小「ウインドウ」を占める)
の質量対電荷比を有する親イオンを除いて、すべてのイ
オンをトラップ内から外へ共振させるために印加され
る。選択された質量対電荷比を有するイオン以外のイオ
ンを放出させるため捕捉フィールドが走査される先行技
法においては、走査動作は、本発明による濾波された雑
音を印加する場合よりも遥かに長い時間を必要とする。
このような先行技法の長時間継続するフィールド走査中
に汚染されたイオンがトラップ内に不可避的に生成さ
れ、さらにこれらの汚染イオンの多くは、それらをトラ
ップから放出するのに十分なフィールド条件を経ていな
いであろう。本発明による濾波された雑音の印加動作
は、このような汚染イオンの蓄積を回避する。
オンを放出し、イオン検出器の動作寿命を延ばすことを
可能にすると共に濾波された雑音信号によって定められ
る最小値以下、最大値以上及びウインドウの外部(最小
値と最大値の間)の質量対電荷比を有する不要イオンを
急速に放出できるようにしている。
加されて選択された親イオンがトラップ内に蓄積された
(かつ不要イオンが放出された)後、補足交流電圧がト
ラップに印加されて蓄積された親イオンを解離させるよ
うにする。結果として生じる娘イオンは、トラップ内に
蓄積され、その後トラップ内又はトラップ外検出器によ
って検出される。
するために有用な装置の単純化した概念図である。
成される信号を表す図表である。
タで濾波された広帯域信号の好ましい実施例を表す図表
である。
成される信号を表す図表である。
ましい実施例の1つの種類を実施するために有用であ
る。図1の装置には、環状電極11と、端電極12及び13と
が含まれる。3次元四極子捕捉フィールドは、基本電圧
発生器14のスイッチが入って電極11と電極12及び13との
間に基本無線周波数電圧(無線周波数成分、及び任意的
に直流をも具える)が印加されると、電極11から13まで
によって取り囲まれる区域16の中に生成される。イオン
貯蔵区域16は、(図1では垂直方向の)z方向の寸法z0
と、(環状電極11の中心を通るz軸から環状電極11の内
壁までの半径方向の)半径r0とを有する。電極11、12、
及び13は、結合変圧器32を介して共通に接地される。
り、(本発明の濾波された雑音のような)望ましい補足
交流電圧信号を端電極12及び13を横切って印加すること
ができる。補足交流電圧信号は、望ましい捕捉されたイ
オンを軸方向共振周波数で共振させるべく(以下で詳細
に説明する方法で)選択することができる。これに替え
て、補足交流電圧発生器35(若しくは、図1には示され
ていない第2の交流発生器)を、環状電極11と接地との
間に接続し、不要イオンをトラップで軸半径方向に(半
径方向共振周波数で)共振させることができる。
れると、これによりイオン化電子ビームが端電極12の開
口部を通して区域16に向けられる。電子ビームによって
区域16内のサンプルの分子がイオン化され、結果のイオ
ンを四極子捕捉フィールドによって区域16内に捕捉する
ことができる。円筒状ゲート電極及びレンズ19がフィラ
メント・レンズ制御回路21によって制御され、これによ
り電子ビームを望むようにゲート制御で開閉する。
の電子増倍管検出器24によって検出するために区域16か
ら通して(z方向に)放出させるパーフォレーション23
が具えられている。電気メータ27では、検出器24の出力
で集められる電流信号を受け取り、電圧信号に変換す
る。電圧信号はプロセッサ29内で処理するために、合計
され、回路28の中に記憶される。
は省略され、トラップ内イオン検出器によって代替され
る。かかるトラップ内検出器は、トラップの電極自体で
構成することができる。例えば、端電極の1つ又は両方
を、電極の1つの表面でイオンの入射に応答して光子を
放出する蛍光材料で構成する(若しくは部分的に構成す
る)こともできる。実施例のもう1つの種類において
は、トラップ内イオン検出器は、端電極とは明確に区別
されるが、端電極の1つ又は両方に(端電極に衝突する
イオンを、区域16に面する端電極表面の形状に著しい歪
みを与えることなしに検出するように)統合的に取り付
けられる。この形式のトラップ内イオン検出器の1つの
例は、電気的に絶縁された導電性のピンが先端を端電極
表面と面位置にして(好ましくは、端電極13の中心のZ
軸に沿った位置で)取り付けられるファラデー効果検出
器である。これに替えて、検出器に直接衝突しない共振
的に励振されたイオンを検出できるイオン検出装置のよ
うな、別の種類のトラップ内イオン検出装置を用いるこ
とができる(この後者の形式の検出装置の例には、共振
電力吸収検出装置、及びイメージ電流検出装置が含まれ
る)。各トラップ内イオン検出器の出力は、適切な検出
器電子回路を介してプロセッサ29に供給される。
ト・レンズ制御回路21、及び補足交流電圧発生器35を制
御するための制御信号が生成される。回路31によって、
プロセッサ29から受け取る指令に応答して、回路14、2
1、及び35へ制御信号が送り出され、プロセッサ29から
の要求に応答して、プロセッサ29へデータが送り出され
る。
図2を参照して叙述する。図2に示すように、(期間A
の間に進行する)この方法の第1段階は、トラップの中
に試薬イオンを貯蔵することである。これは、基本電圧
信号を(図1の装置の基本電圧発生器14を起動させるこ
とにより)トラップに印加して四極子捕捉フィールドを
確定し、イオン化電子ビームを貯蔵区域16に導入するこ
とによって達成することができる。これに替えて、試薬
イオンを外部で生成させ、これを貯蔵区域16に注入する
こともできる。
電子ビームによって生成される、サンプル分子と前駆物
質試薬イオンとの間の相互作用から生じる試薬イオンの
ような)試薬イオンが、望ましい範囲の質量対電荷比
(したがって、共振周波数)を有する(期間Bの間に生
成される)結果イオンと共に(貯蔵区域16内に)貯蔵さ
れるように選ばれる。基本電圧信号は、無線周波数成分
を有し、また捕捉フィールドで貯蔵できるイオンに対す
る高い周波数の遮断特性と低い周波数の遮断特性との両
方を捕捉フィールドに具えるように振幅が選択される直
流成分をも有することが望ましい。かかる低い周波数の
遮断特性及び高い周波数の遮断特性は、それぞれ(周知
の方法で)、特定の最大及び最小の質量対電荷比のイオ
ンに相当する。
音信号(図2における「濾波された雑音」信号)がトラ
ップに印加される。図3には、かかる濾波された雑音の
好ましい実施例の周波数対振幅スペクトルが、環状電極
11に印加される基本電圧信号の無線周波数成分が1.0MHz
の周波数を持つ場合と、基本電圧信号が(例えば、全く
直流成分がない)非最適直流成分を持つ場合とに使用さ
れるように示されている。「最適直流成分」という語句
については、以下で説明する。図3に示すように、濾波
された雑音信号の帯域幅は、約10kHzから約500kHzまで
(質量対電荷比の低下するイオンに相当する周波数の上
昇の成分と共に)広がる。濾波された雑音信号には、ト
ラップの中に貯蔵される特定の試薬及び前駆物質イオン
の軸方向共振周波数に相当する(10kHzと約500kHzの間
の)周波数に(1kHzにほぼ等しい帯域幅を持つ)ノッチ
が存在する。
ラップの中に貯蔵される試薬及び試薬イオンの半径方向
共振周波数に相当する周波数を持たせる(これは、濾波
された雑音信号を、四極子イオントラップの端電極にで
はなく、かかるトラップの環状電極に印加する、以下で
論考する実施例の1つの種類において有用である)1つ
のノッチを持たせるか、或いは、各々がトラップの中に
貯蔵される異なる試薬イオンの(軸方向又は半径方向
の)共振周波数に相当する、2つ又はそれ以上のノッチ
を持たせることもできる。
ルドに対して望ましい高い周波数の遮断特性と望ましい
低い周波数の遮断特性との両方を確定すべく選択される
直流成分)を有する場合には、図3に示すような周波数
帯域幅ではなく、より狭い周波数帯域幅の濾波された雑
音を本発明を実施する間に用いることができる。かかる
狭周波数帯域幅の濾波された雑音信号は、(最適直流成
分が印加されたと仮定して)十分である。何故ならば、
低い周波数の遮断特性に相当する、最大質量対電荷比以
上の質量対電荷比を有するイオンは、捕捉区域内で安定
な軌道を持たないので、濾波された雑音信号を一切印加
しなくても期間Aの間にトラップから逸出するからであ
る。実質的に10kHz以上(例えば、100kHz)の最低周波
数成分を有する濾波された雑音信号は、もし基本電圧信
号が最適直流成分を持っていれば、典型的には、不要試
薬イオンをトラップで共振させるに十分である。
によって規定される)望ましい範囲外の質量対電荷比を
有する、期間Aの間にトラップの中に生成される(或い
は、注入される)イオンは、区域16から逸出し、図2に
示す「イオン信号」の値によって指示されるように、期
間Aの間に、これらのイオンが逸出するにつれて検出器
24を飽和させる。
閉じられる前に、イオン化電子ビームはゲート制御で遮
断される。
分子がトラップ区域16内に導入される。サンプル分子が
期間Aの間に導入されても、サンプル分子の大多数は、
イオン化されないので、トラップ区域からは放出されな
い。
貯蔵されている試薬イオンと反応することが可能にな
る。この反応から生じる結果イオンは、(もし質量対電
荷比が、期間Aの間に確定される捕捉フィールドによっ
て貯蔵され得る範囲内にあれば)トラップ区域の中に貯
蔵される。
これは、図2に示すように、基本電圧信号の無線周波数
成分の振幅(或いは、基本電圧信号の高周波及び直流成
分の両方の振幅)を走査して、異なる質量対電荷比を有
する結果イオンをトラップ外での(例えば、図1に示す
ような電子増倍管検出器24による)検出のためにトラッ
プから継続的に放出させることによって達成することが
できる。図2の期間C内に示されるイオン信号には、順
次検出された異なる質量対電荷比を有する結果イオンを
各々が表す、3つのピークがある。
とすれば、結果イオンを、z軸に沿って配置される検出
器(電子増倍管検出器24のような)に向けてz方向にト
ラップから放出することが好ましい。これは、合計共振
技法、質量選択的不安定放出技法、組み合わされた捕捉
フィールド及び補足交流フィールドを掃引若しくは走査
して結果イオンをz方向に継続的に放出させる共振放出
技法を用いるか、或いはその他のイオン放出技法によっ
て達成することができる。
結果イオンを、トラップの端電極の1つ又は両方に配置
される(更に好ましくは、z軸に中心を置く)トラップ
内検出器で検出することが好ましい。かかるトラップ内
検出器の例については、以上で論考した。
プ内又はトラップ外検出器の動作寿命を延ばすために、
期間Aに間に(濾波された雑音信号によって)共振させ
られる不要イオンは、段階Aの間に検出器に衝突しない
ように半径方向(端電極にではなく、環状電極に向け
て)に放出されなければならない。図1に関連して上で
示したように、これは、濾波された雑音信号を四極子イ
オントラップの環状電極に印加して不要イオンをトラッ
プで(検出器から離れる)半径方向に(半径方向共振周
波数で)共振させることによって達成することができ
る。
オン化電子ビーム)は閉じられている。ここで、本発明
の方法を反復することができる(すなわち、図2の期間
Dの間)。
4を参照して叙述する。期間A及びBの間に行われる図
4の方法は、以下の条件の下で、期間A及びBの間に行
われる図2の方法と同等である。図4の期間Aの間、捕
捉フィールドを、段階Bの間に生成される結果イオンの
望ましい娘イオンを(期間A及びBの間に貯蔵される試
薬及び前駆物質イオンと同様に)貯蔵できるように(す
なわち、基本電圧信号の無線周波数及び直流成分を選ん
で)、確定することが望ましい。
蔵できるように確定されなければ、期間Cの間に捕捉フ
ィールドは娘イオンを貯蔵できるように(図4の期間B
及びCの間に示すような基本電圧信号の変更によって指
示されるように)変更される。期間Cの間にはまた、第
2の濾波された雑音信号をトラップに印加して、期間B
の間に生成される望ましい結果イオンの質量対電荷比以
外の質量対電荷比を有する不要イオンをトラップで共振
させる。
装置の発生器35、又は適切な電極に接続される第2の補
足交流電圧発生器を起動するようなことによって)トラ
ップに印加する。補足交流電圧信号の電力(印加される
出力電圧)は、濾波された雑音信号の電力よりも小さい
(典型的には、補足交流電圧信号の電力は100mVの規模
であるが、濾波された雑音信号の電力は10Vの規模であ
る)。補足交流電圧信号は、(娘イオンを生成させるべ
く)特定の貯蔵された結果イオンの解離を誘導させるべ
く選択される周波数を具えるが、この電力によって顕著
な数のイオンが励起されてトラップ内又はトラップ外で
検出されるに足る程度にまで共振させられない位の小さ
い振幅(すなわち、電力)を有する。
れは、図4に示すように、基本電圧信号の高周波成分の
振幅(或いは、基本電圧信号の高周波及び直流成分の両
方の振幅)を走査して、異なる質量対電荷比を有する娘
イオンをトラップ外での(例えば、図1に示すような電
子増倍管検出器24による)検出のためにトラップから継
続的に放出することによって達成することができる。図
2の期間C内に示される「イオン信号」部分には、順次
検出された異なる質量対電荷比を有する娘イオンを各々
が表す、4つのピークがある。
すれば、娘イオンを、z軸に沿って配置される(電子増
倍管検出器24のような)検出器に向けてz方向にトラッ
プから放出することが好ましい。これは、合計共振技
法、質量選択的不安定放出技法、組み合わされた捕捉フ
ィールド及び補足交流フィールドを掃引若しくは走査し
て娘イオンをz方向に継続的に放出させる共振放出技法
を用いるか、或いはその他のイオン放出技法によって達
成することができる。
娘イオンを、トラップの端電極の1つ又は両方に配置さ
れる(更に好ましくは、z軸に中心を置く)トラップ内
検出器によって検出することが好ましい。かかるトラッ
プ内検出器の例については、以上で論考した。
親娘イオンの孫娘イオンのような)娘イオンの継承的世
代をトラップの中で隔絶し、その後検出する、図4の方
法の変形が含まれる。例えば、図4の方法の段階Dの間
の補足交流電圧の初期印加の後、別の濾波された雑音を
トラップに印加して、選択された娘イオン(すなわち、
望ましい範囲内の質量対電荷比を有する娘イオン)以外
の総てのイオンを放出させることができる。その後、ト
ラップの中でこのように隔絶された娘イオンを解離(或
いは、解離すべぐ誘導)させて孫娘イオンを生成させ、
その後期間Eの間に孫娘イオンを順次検出することがで
きる。
を、早期部分には(親イオンの解離による)娘イオンの
生成を誘導すべく選択される周波数を有し、後期部分に
は(娘イオンの解離による)孫娘イオンの生成を誘導す
べく選択される周波数を有する、早期部分と後期部分と
を持たせることができる。かかる早期部分の印加と後期
部分の印加との間に、濾波された雑音信号を印加して娘
イオン以外のイオンを共振させることもできる。
世代の娘イオンと共に、孫娘イオン(娘イオンの次世
代)及び後続(第3又はその後継)の世代の娘イオンを
呼ぶことを意図している。
形を、本発明の範囲及び神髄から逸脱せずに行えること
は、当業者にとっては明白である。本発明を、特定の好
ましい実施例に関して叙述したが、請求する本発明はか
かる特定の実施例に不当に限定されるものではないこと
を理解して置くべきである。
Claims (19)
- 【請求項1】(a) 1組の電極で境界づけられた捕捉
区域において、選択された範囲内の質量対電荷比を有す
る試薬イオン及び生成イオンを蓄積できる捕捉フィール
ドを設定し、 (b) ノッチ瀘波された広帯域信号を該電極の少なく
とも1つに印加し、該ノッチ濾波された広帯域信号の周
波数に対応した共振周波数を有する、第2の選択された
範囲の質量対電荷比内の不要イオンを該捕捉区域から外
へ共振させるようにする段階において、該ノッチ瀘波さ
れた広帯域信号が、第1周波数からノッチ周波数帯域ま
での低周波数範囲内の周波数成分及び該ノッチ周波数帯
域から第2周端数までの高周波数範囲内の周波数成分を
有し、該第1周波数及び該第2周波数にわたる周波数範
囲が該捕捉フィールドの捕捉イオンに対応した共振周波
数範囲を含むようにすることから成る質量分析方法。 - 【請求項2】該第1周波数が10kHzと等しく、該第2周
波数が500kHzと等しく、該ノッチ周波数帯域が1kHzと等
しい帯域幅を有する、請求項1の方法。 - 【請求項3】該ノッチ瀘波された広帯域信号の周波数成
分が、10V水準の振幅を有する、請求項2の方法。 - 【請求項4】該捕捉フィールドが、3次元4極子電極捕
捉フィールドであり、(a)段階が、 該電極の少なくとも1つに基本電圧信号を印加する段階
において、該基本電圧信号が無線周波数成分及び直流成
分を有し、該直流成分が、捕捉フィールドの共振周波数
に対して所望の低遮断周波数及び所望の高遮断周波数の
両方を設定するように選択され、該第1周波数が該低遮
断周波数よりも著しくは低くなく、該第2周波数が該高
遮断周波数よりも著しくは高くないようにすることを含
む、請求項1の方法。 - 【請求項5】(a) 1組の電極で境界づけられた捕捉
区域において、選択された範囲内の質量対電荷比の範囲
を有する試薬イオン及び生成イオンを蓄積できる捕捉フ
ィールドを設定し、 (b) ノッチ瀘波された広帯域信号を該電極の少なく
とも1つに印加し、該ノッチ濾波された広帯域信号の周
波数に対応した共振周波数を有する第2の選択された範
囲の質量対電荷比内の不要イオンを該捕捉区域から外へ
共振させるようにする段階において、該捕捉フィールド
が3次元4極子電極捕捉フィールドであり、該電極が環
状電極及び1組の端電極を含み、(a)段階が捕捉フィ
ールドを設定するために該環状電極に基本電圧信号を印
加することを含むようにし、(b)段階が、 該ノッチ瀘波された広帯域信号を該環状電極に印加し、
該不要なイオンを該環状電極に向けて半径方向に該捕捉
区域内から外へ共振させるようにすることを含むように
することから成る質量分析方法。 - 【請求項6】(b)段階後試薬イオンが該捕捉区域内に
捕捉され、 (c) サンプル分子を該捕捉区域内に導入し、 (d) (b)及び(c)段階後該サンプル分子及び捕
捉された試薬イオンを反応させ、選択された範囲内の質
量対電荷比を有する生成イオンを生成させるようにし、 (e) (d)段階後該環状電極から離れて配置された
検出器を用いて該生成イオンを検出することをさらに含
む、請求項5の方法。 - 【請求項7】該検出器が該端電極の1つで構成されるか
若しくは該端電極の1つと一体的に取り付けられる、請
求項6の方法。 - 【請求項8】該環状電極が長手方向の中央z軸を有し、
該端電極及び該検出器が該z軸に沿って配置される、請
求項6の方法。 - 【請求項9】(a) 1組の電極で境界づけられた捕捉
区域において、選択された範囲内の質量対電荷比の範囲
を有する試薬イオン及び生成イオンを蓄積できる捕捉フ
ィールドを設定し、 (b) ノッチ瀘波された広帯域信号を該電極の少なく
とも1つに印加し、該ノッチ濾波された広帯域信号の周
波数に対応した共振周波数を有する、選択された第2範
囲の質量対電荷比内の不要イオンを該捕捉区域内から外
へ共振させるようにする段階において、該捕捉フィール
ドが3次元4極子電極捕捉フィールドであり、該電極が
環状電極及び1組の端電極を含み、(a)段階が捕捉フ
ィールドを設定するために該環状電極に基本電圧信号を
印加することを含むようにし、(b)段階が、 該ノッチ瀘波された広帯域信号を該環状電極に印加し、
該不要なイオンを該環状電極に向けて半径方向に該捕捉
区域内から外へ共振させるようにする段階において、該
ノッチ瀘波された広帯域信号が、第1周波数からノッチ
周波数帯域までの低周波数範囲内の周波数成分及び該ノ
ッチ周波数帯域から第2周波数までの高周波数範囲内の
周波数成分を有し、該第1周波数から該第2周波数にわ
たる周波数範囲が該捕捉フィールドの捕捉イオンに対応
した共振捕捉周波数範囲を含み、該基本電圧信号が無線
周波数成分及び直流成分を有し、該直流成分が、捕捉フ
ィールドに対して所望の低遮断周波数及び所望の高遮断
周波数の両方を設定するように選択され、該第1周波数
が該低遮断周波数よりも著しくは低くなくかつ該第2周
波数が該高遮断周波数よりも著しくは高くないようにす
ることを含むことから成る質量分析方法。 - 【請求項10】(a) 環状電極と1組の端電極で境界
づけられた捕捉区域内に選択された範囲内の共振周波数
を有するイオンを蓄積できる3次元4極子電極捕捉フィ
ールドを設定し、 (b) ノッチ周波数帯域内に共振周波数を有する試薬
イオンを該捕捉区域内に導入しかつノッチ瀘波された広
帯域信号を該電極の少なくとも1つに印加する段階にお
いて、第1の周波数から該ノッチ周波数帯域までの低周
波数範囲内の共振周波数と、該のノッチ周波数帯域から
第2周波数までの高周波数範囲内の共振周波数とを有す
る不要なイオンを捕捉区域内から外へ共振させると共に
該ノッチ周波数帯域が該選択された範囲内にあるように
し、 (c) サンプル分子を該捕捉領域内へ導入し、 (d) 該サンプル分子を該試薬イオンと反応させ、該
選択された範囲内に少なくとも1つの共振周波数を有す
る生成イオンを生成させるようにし、 (e) (d)段階後該生成イオンを検出することから
成る質量分析方法。 - 【請求項11】該環状電極が長手方向の中央該z軸を有
し、該端電極が該z軸に沿って配置され、該(e)段階
が、 該生成イオンを該捕捉区域からz軸に平行な方向に放出
し、 該z軸に沿って配置される検出器を用いて該放出された
生成イオンを検出することを含む、請求項10の方法。 - 【請求項12】該環状電極が長手方向の中央z軸を有
し、該端電極該z軸に沿って配置され、該(e)段階
が、 該生成イオンを該z軸に平行な方向に共振させ、 該放出された生成イオンを、該端電極の少なくとも1つ
で構成されるか若しくは該端電極の1つと一体的に取り
付けられる、検出器を用いて検出することを含む、請求
項10の方法。 - 【請求項13】該環状電極が長手方向の中央z軸を有
し、該端電極が該z軸に沿って配置され、該(e)段階
が、 該生成イオンを該z軸に平行な方向に共振させ、 該z軸に沿って配置され検出器を用いて該放出された生
成イオンを検出することを含む、請求項10の方法。 - 【請求項14】該第1周波数が10kHzと等しく、該第2
周波数が500kHzと等しく、該ノッチ周波数帯域が1kHzと
等しい帯域幅を有する、請求項10の方法。 - 【請求項15】該ノッチ瀘波された広帯域信号の周波数
成分が、10V水準の振幅を有する、請求項14の方法。 - 【請求項16】(a)段階が、 該電極の少なくとも1つに基本電圧信号を印加する段階
において、該基本電圧信号が無線周波数成分及び直流成
分を有し、該直流成分が捕捉フィールドに対して所望の
低遮断周波数及び所望の高遮断周波数の両方を設定する
ように選択され、該第1周波数が該低遮断周波数よりも
著しくは低くなくかつ該第2周波数が該高遮断周波数よ
りも著しくは高くないようにすることを含む、請求項10
の方法。 - 【請求項17】(a)段階が、該捕捉フィールドを設定
するために基本電圧信号を該環状電極に印加することを
含み、(b)段階が、 該ノッチ瀘波された広帯域信号を該環状電極に印加し、
該不要なイオンを該環状電極に向けて半径方向に該捕捉
区域内から外へ共振させることを含む、請求項10の方
法。 - 【請求項18】(a) 環状電極と1組の端電極で境界
づけられた捕捉区域内に選択された範囲内の共振周波数
を有するイオンを蓄積できる3次元4極子電極捕捉フィ
ールドを設定し、 (b) ノッチ周波数帯域内に共振周波数を有する試薬
イオンを該捕捉区域内に導入しかつノッチ瀘波された広
帯域信号を該電極の少なくとも1つに印加し、第1周波
数から該ノッチ周波数帯域までの低周数範囲内及び該ノ
ッチ周波数帯域から第2周波数までの高周波数範囲内に
共振周波数を有する不要イオンを該捕捉区域外へ共振さ
せようにする段階において、該ノッチ周波数帯域が該選
択された範囲内にあるようにし、 (c) 該捕捉領域内へサンプル分子を導入し、 (d) 該サンプル分子を該試薬イオンと反応させ、該
選択された範囲内共振周波数を有する生成イオンを生成
させるようにし、 (e) 該トラップから、該生成イオン以外の不要なイ
オンを放出し、 (f) (e)段階後該電極の少なくとも1つに補足交
流電圧信号を印加し、該生成イオンを娘イオンに解離さ
せるように誘導する段階において、前記補足交流電圧信
号が該生成イオンの共振周波数と整合する周波数を有す
るようにし、 (g) (f)段階後該娘イオンを検出することから成
る質量分析方法。 - 【請求項19】(d)段階中より遅くない段階で、該捕
足フィールドを変化させ、該捕足フィールドが該娘イオ
ンを蓄積できるようにさせることをさらに含む、請求項
18の方法。
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US5381007A (en) * | 1991-02-28 | 1995-01-10 | Teledyne Mec A Division Of Teledyne Industries, Inc. | Mass spectrometry method with two applied trapping fields having same spatial form |
US5451782A (en) * | 1991-02-28 | 1995-09-19 | Teledyne Et | Mass spectometry method with applied signal having off-resonance frequency |
US5381006A (en) * | 1992-05-29 | 1995-01-10 | Varian Associates, Inc. | Methods of using ion trap mass spectrometers |
US5397894A (en) * | 1993-05-28 | 1995-03-14 | Varian Associates, Inc. | Method of high mass resolution scanning of an ion trap mass spectrometer |
DE4324233C1 (de) * | 1993-07-20 | 1995-01-19 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren zur Auswahl der Reaktionspfade in Ionenfallen |
US5396064A (en) * | 1994-01-11 | 1995-03-07 | Varian Associates, Inc. | Quadrupole trap ion isolation method |
JP3756365B2 (ja) * | 1999-12-02 | 2006-03-15 | 株式会社日立製作所 | イオントラップ質量分析方法 |
JP3791455B2 (ja) * | 2002-05-20 | 2006-06-28 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ型質量分析装置 |
JP2005108578A (ja) * | 2003-09-30 | 2005-04-21 | Hitachi Ltd | 質量分析装置 |
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US7656236B2 (en) * | 2007-05-15 | 2010-02-02 | Teledyne Wireless, Llc | Noise canceling technique for frequency synthesizer |
US8334506B2 (en) | 2007-12-10 | 2012-12-18 | 1St Detect Corporation | End cap voltage control of ion traps |
US8179045B2 (en) * | 2008-04-22 | 2012-05-15 | Teledyne Wireless, Llc | Slow wave structure having offset projections comprised of a metal-dielectric composite stack |
US7973277B2 (en) * | 2008-05-27 | 2011-07-05 | 1St Detect Corporation | Driving a mass spectrometer ion trap or mass filter |
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Family Cites Families (13)
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US4540884A (en) * | 1982-12-29 | 1985-09-10 | Finnigan Corporation | Method of mass analyzing a sample by use of a quadrupole ion trap |
US4650999A (en) * | 1984-10-22 | 1987-03-17 | Finnigan Corporation | Method of mass analyzing a sample over a wide mass range by use of a quadrupole ion trap |
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US4686367A (en) * | 1985-09-06 | 1987-08-11 | Finnigan Corporation | Method of operating quadrupole ion trap chemical ionization mass spectrometry |
US4761545A (en) * | 1986-05-23 | 1988-08-02 | The Ohio State University Research Foundation | Tailored excitation for trapped ion mass spectrometry |
US4749860A (en) * | 1986-06-05 | 1988-06-07 | Finnigan Corporation | Method of isolating a single mass in a quadrupole ion trap |
US4755670A (en) * | 1986-10-01 | 1988-07-05 | Finnigan Corporation | Fourtier transform quadrupole mass spectrometer and method |
US4771172A (en) * | 1987-05-22 | 1988-09-13 | Finnigan Corporation | Method of increasing the dynamic range and sensitivity of a quadrupole ion trap mass spectrometer operating in the chemical ionization mode |
US4818869A (en) * | 1987-05-22 | 1989-04-04 | Finnigan Corporation | Method of isolating a single mass or narrow range of masses and/or enhancing the sensitivity of an ion trap mass spectrometer |
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ATE101942T1 (de) * | 1989-02-18 | 1994-03-15 | Bruker Franzen Analytik Gmbh | Verfahren und geraet zur massenbestimmung von proben mittels eines quistors. |
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