JP3009367U - 記憶性断面スケ−ル - Google Patents

記憶性断面スケ−ル

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JP3009367U
JP3009367U JP1994010130U JP1013094U JP3009367U JP 3009367 U JP3009367 U JP 3009367U JP 1994010130 U JP1994010130 U JP 1994010130U JP 1013094 U JP1013094 U JP 1013094U JP 3009367 U JP3009367 U JP 3009367U
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JP1994010130U
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杏一 前田
達夫 前田
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有限会社テクノウ
達夫 前田
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】容易に曲面を測定し、大きな形状も特別な測定
具も必要とせずに身近なもので測定する。 【構成】バネ性と伸びが少ない金属板又はプラスチック
板等を芯(変形したらその形状を維持する記憶機能を有
する材料)として、表面に目盛(目盛つき片面粘着型の
プラ スチックシ−トを張るか又は彫刻やエッチング、
レ−ザマ−キングで形成)を設ける。スケ−ル1上の1
0mm単位の位置に、ア−ムの指に一時固定されるよ
う、半球状のダボまたは穴を施す。スケ−ルが曲面形状
を記憶したら、ア−ム8,9を連結して自在具を構成
し、ア−ムの先端に装着した指10でスケ−ルを固定す
る。その状態で、簡単には面スケ−ルまたはセクション
ペ−パ上に置き、座標や長さ等を読み取る。

Description

【考案の詳細な説明】
本考案の詳細例を以下に述べる。 基本構成の形状記憶部材は、図1の如く、中にバネ性のない柔らかい金属2でそ の表面を粘着シ−ト4、5または塗装で被覆し、その上または下面に1mm単位 目盛をつけたスケ−ル1を構成し、スケ−ル1の目盛に10mm毎の半球状のミ ゾ4(または円形の穴)を装着し、そのミゾをどぎめにしてスケ−ルの記憶を変 形自在具で測定開始点と終点等を固定したスケ−ルの例を図2に示す。 図2はプラスチック外装の内部に形成された自由曲面の形状を測定する例を示し ている。図2の内面の高さは簡単には測定が行えない。外側から順番に測定し、 内部の高さを算出しなければならない。
【0005】 図2の8、9は、変形自在具ア−ムを示している。8は基本ア−ムである。図3 に詳細図例を示す。長さは約20〜25mm、断面は3〜5mm角で形成してい る。材質は金属またはプラスチックでもよい。必要に応じて材質は選択する。図 2の9のア−ムは、スケ−ルの長さが20cm以上の場合、補助ア−ムとして使 用する。基本ア−ム2〜6個分の長さに構成する。更に、スケ−ルの記憶を保持 するためにスケ−ルの測定開始点と終点の中間を固定できるように図2の9のよ うなT字形ア−ムを構成する。必要な長さに応じて複数箇所に使用する。図2の 7は、被測定物の変形断面例である。その断面形状を1の記憶スケ−ルに記憶さ せその記憶を変形自在具を使用し固定する。図2の10は記憶材を固定する変形 自在具の指を示す。図1のスケ−ルの窪みまたは穴にかん合し接着材で一時固定 する。変形自在具を記憶スケ−ルに固定したら、そのまま取外し机上の2次元目 盛付板状の上に置きあるいはデジタイザ、イメ−ジリ−ダ上に置き座標を読み取 る。デジタルカメラその他の道具を使用することも可能である。本考案では目安 精度が主で、0.1〜0.3mm程度の目安精度が目標である。
【0006】 図1で示すスケ−ルの例では、記憶部に相当する非磁性金属材で環境にやさしい (例えば、スズ、インジウムハンダ等)の薄い板(板厚約0.5mm以下)(図 1の2)の上下面に片面接着材つきで1mm単位の目盛と数字が描画してあるプ ラスチックシ−ト(図1の3、4)等で構成している。この目盛等は、彫刻、レ −ザマ−キング、エッチング等を使用し薄い板金属に直接マ−クしてもよい。図 1の3はスケ−ル上の窪み穴または円形穴である。変形自在具の指等を固定、位 置ずれを防止する為に使用する。その指の構成図例を図4の13、14に示す。 スケ−ル窪み穴へかん合するよう図4の14の突起は構成している。図4の13 の板状の面にエマルジョン系の接着剤を付着してある。この図4の13と14で 記憶スケ−ルを固定する。図4の13、14は15のネジ等を介して180度回 転が行えるよう構成している。詳細図を図5に示す。図5の16はネジが貫通す る穴である。指を固定しネジを締めると図5の板17がア−ムに締め付けられ固 定される。図3は図2のア−ム8の詳細図例である。図3の11は別部品の図3 の12の形状の箇所への結合とア−ムの指への結合に用いる。
【0007】 図6では、プラスチックの被測定物7の穴の深さを測定する例である。深い穴例 えば径が3mmで15cm程度の深さを直接測るのはノギス等を使用する。道具 がない場合、細い棒や型をとる型材を挿入し間接測定する方法を使用する。本考 案では、細い穴の深さが30cm以上のような長穴でも容易に測ることが可能で ある。細い2〜3mmの剛性のある板か丸棒に記憶断面スケ−ルを貼り付け穴の 深さが容易に測定ができる。高価なノギスを何種類も取り揃える必要がない。
【0008】 図7の例では、大きい円筒形例えばビルの柱の径(3〜5m程度)を測る例をし めす。この場合20m巻きの長いメジャ−などでは容易に測定出来るが、一般的 には約3m以下の巻尺が身近には多用されている。この場合、測るには長さが短 すぎる。本考案では、1m程度の短いスケ−ルでもスケ−ルに記憶性が有るため 円弧の長さと弦の長さ、円弧の高さを机上で測定することにより、簡単な計算で 容易に柱の直径の算出が行える。
【0009】 本考案では、スケ−ルは0.5mm以下の薄い物が好ましい。薄くすることによ り図2で示す板が曲がったときの延び縮誤差の影響を少なくするためである。 図1示すスケ−ル状の窪み3または穴の形状は、半球または円形でなくてもよく コ−ナ−にア−ルの付いた四角形状でも、三角形状その他形状等でもよい。 図1のスケ−ルの4、5は2枚のシ−トを使用している。これは、板の側面を被 覆すると、スケ−ルの剛性が上がり精度が悪くなるためである。
【0010】
【産業上の利用分野】
1 工業分野では、図面がない製品の寸法採取やデザイン分野で使用が行える。 2 医療、衣料、考古学などの生物の曲線計測などに利用できる。 特に人体の曲線や文化財などを安全に計測が行え、数値化が行える。 3 民生分野でも、万能スケ−ルとして利用が行える。 4 建築等の分野でも、屋外の曲線物の計測が容易に採寸できる。 5 土木などで、道路のへこみ具合が容易に計測できる。
【0011】
【従来の技術】
従来は、直線上の金属スケ−ル(ノギスも含む)、プラスチックスケ−ル、木質 (竹も含む)スケ−ルで30cmのものが広く使用されている。長いものは1m 以上のもある。これに代わり金属や布、紙、プラスチック材、糸で作られた巻尺 も広く使用されている。巻尺は広くは3m以下のものが広く使用されている。近 年になり、鉛材を使用した自在曲線定規もデザイン分野などで使用されている。 また、電子スケ−ルとして、超音波やレ−ザ光を利用した高価なスケ−ルも利用 されている。超音波は精度が悪く、直線状しか計測は行えない。レ−ザは反射光 を利用するため反射光が凸面の様なものにあたると計測は難しい。特別の工夫が ないと直線状しか計測は行えない。 自在曲線定規は,鉛入であるが用途が異なり自由曲線と同じ形状を型どりその型 を写し取り曲線を描画する用途のためスケ−ルの太さが大きく(4〜5mm角 )、微細な寸法を採寸することは難しい。鉛板とスケ−ル目盛板を固定するため やわらかいプラスチックで被覆しているため10mm以下の径の測定が困難であ る。また鉛は折れ曲がりに弱く伸びやすい。
【0012】
【考案が解決しようとする課題】 従来の課題点は以下の点である。 1 変形物の形状が正確で簡単に測れない。 2 1つのスケ−ルのみで大きな円筒形物(1m以上)から小さい円筒物(1m m程度)の径までを測定できず、それぞれ個別な測定具が必要である。 3 電話機の受話器、コンピュ−タ外装のコ−ナ−ア−ル、3mm程度までの細 い溝の深さ、外装内面の傾斜の付いた深さ、建築物の円筒柱の径等大きいも のから小さいもの、人体や自動車等の曲線付のものまで1つのスケ−ルで採 寸が行えない。 4 正確な2次元断面形状を測定できない。
【0013】
【課題を解決するための手段】
本考案では、以下の説明の如く従来の課題の解決を行うものである。 記憶性断面スケ−ル例は、バネ性のない薄い金属(0.5mm以下のヤニのない スズ、インジウムハンダ板等)を薄い(30μm〜70μm程度)片面粘着性の あるプラスチックシ−ト(ポリカ−ボネ−ト、ポリエステル、合成紙、ポリフッ 化ビニル、ポリプロピレン、塩化ビニ−ル、その他)や塗装でサンドイッチにし たもので構成している。
【0014】 このように構成したものは変形してもその状態を保ち(記憶機能)、その時の必 要な目盛を判読して測れる。製品等の外装で安全性や強度保持などのためつけて いる小さなア−ル面の径の測定が薄いスケ−ルのため容易に行える。 また、人体などの測定には安全性が求められる。それらの凹凸の形状、人体の足 等の長手方向の形状等の採寸が安全かつ簡単に行える。
【0015】 本スケ−ルをメジャ−の様に構成し長さを5m位にしておけば、必要に応じて切 断し短いスケ−ルで細かな部分の計測が行える。また長尺で大きな円弧を採寸し たとき、短いスケ−ルで円弧の高さ等の測定が行える。
【0016】
【作用】 本考案の構造にすれば、変形体にスケ−ルを密着し記憶するため屋内、外で使用 する断面スケ−ルとして使用できる。実物から変形体の曲線が正確に測れ実物体 の合同モデルが作成できる。
【0017】
【実施例】
1 橋梁とかビル柱の様な2〜3mの円筒物の測定 この場合、全周を測り径を計算で算出するか、周囲の部分を測定して計測す るかである。橋のような危険な橋梁は、全周を測定するには危険である。 また、一般のメジャ−は長さが短いので全周は測定できない。本考案では周 囲の部分を測定して、円弧の高さはかり、計算から直径を容易に算出でき る。この例では、図7、図8から半径を以下の式から算出する。 計算式 半径 =h/2+l×l/(8×h) 2 深穴の測定 従来では、ノギスを使用するか、棒等をいれてその長さを測定する方法がと られてきたが、本考案では棒状のものに貼り付けて置くことで容易に深さを 測れる。標準のノギスの場合、穴の深さが15cm以上はサイズの大きいノ ギスに代えなければならない。 3 自由曲線、角の円形面取りの測定 車の屋根の曲線、フロントガラスの曲線、その他車の曲線は通常のスケ−ル では測定が困難である。また、テレビ、掃除機、ラジカセ、パソコン等外形 を測定するのは大変不都合なスケ−ルしかない。 本考案では、記憶性があり、薄型のためコ−ナ−が2mm程度のア−ル形状 でも、変形形状でもスケ−ルをその曲面に沿わせて変形させその形状を机上 で自由に描画、計算測定が行える。 4 人体の足のX却、O却等の形状測定。鼻の形状、胸部の形状、肩の筋肉の形 状、腹部の形状等が容易に測定が可能である。従来は高さ、膨らみ、全周な どのポイントのみの測定しか簡単には出来なかった。
【0018】
【考案の効果】 1)自由曲線の測定が容易に計測でき省力化が計れる。 2)スケ−ル、曲線尺を本考案スケ−ル1つでかねそなえ、複数の類似器具を必 要としない。 3)立体物の曲面(面取り曲面)測定が簡単、安全に行え、立体物を再現する事 が容易である。 4)直方体などの2面以上を同時に測定が行え、角度も測定が容易である。 5)大、小を問わず円筒、球状の物が容易に計測できる。 6)不要になったらハンダとして使用ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 記憶性断面スケ−ル構成図
【図2】 記憶性断面スケ−ル測定外観図
【図3】 変形自在ア−ムの斜視図
【図4】 変形自在ア−ムと指の斜視図
【図5】 指の斜視図
【図6】 深穴を持つ外装断面の測定図
【図7】 大きな円柱の径の測定図
【図8】 図7の記憶性断面スケ−ルの机上での読取例
【符号の説明】
番号は、すべて図中共通である。図2の1は、スケ−ル
(上下面は1mm単位の目盛つき)。図2の8、9は変
形自在ア−ム。10はア−ムの指。図1の4、5は片面
粘着材つきプラスチックシ−ト。図1の2は、バネ性の
ない金属(例、スズ、インジウムハンダシ−ト等)。図
1の3は、スケ−ルの窪みまたは円形穴。図3の11、
12はア−ムの結合部。図4の13、14、15は記憶
スケ−ルと結合する指の構成例。13は板状で接着剤が
塗布してある。14はスケ−ルの窪み穴へのかん合突起
である。15は指の回転軸用ネジで指を固定する。図5
は指の詳細図例である。図6の7は深穴を持った被測定
物断面例。17は板材または丸棒。図7の18は、1m
以上の建築物の円柱。図8は、図7で記憶したスケ−ル
の弦の長さlと円弧の高さhを示す。

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】 【0001】
  1. 【請求項1】形状の記憶は、非磁性、バネ性の極めて少
    なく延び縮の小さい薄い板(巾5mm以下、厚み500
    μm以下、材質は環境にやさしいスズ、インジウムハン
    ダ等)で行い、記憶材の巾対厚みの比は4〜50対1程
    度に構成し、記憶の固定に人の指のような変形自在具を
    使用する記憶性断面スケ−ルである。 【0002】
  2. 【請求項2】スケ−ル板の面に10mmおきに窪みまた
    は穴、磁性体埋め込み穴等をつけ、この複数穴等に合う
    よう変形自在具の指で測定開始点と終点間の複数カ所の
    記憶を接着剤(アクリルエマルジョン系,その他)、磁
    性体等で固定する記憶性断面スケ−ルである。 【0003】
  3. 【請求項3】スケ−ル板が薄く、柔らかいため鋏、カッ
    タ−などで刃を傷めず容易に切断して使用が行える記憶
    性断面スケ−ルである。 【0004】
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011133263A (ja) * 2009-12-22 2011-07-07 Ihi Corp 計測器
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US10982334B2 (en) 2001-11-15 2021-04-20 Renishaw Plc Substrate treatment device and method and encoder scale treated by this method

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