JP3003298B2 - 短時間電流試験方法 - Google Patents
短時間電流試験方法Info
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- JP3003298B2 JP3003298B2 JP19174591A JP19174591A JP3003298B2 JP 3003298 B2 JP3003298 B2 JP 3003298B2 JP 19174591 A JP19174591 A JP 19174591A JP 19174591 A JP19174591 A JP 19174591A JP 3003298 B2 JP3003298 B2 JP 3003298B2
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- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、発電及び変電機器の短
時間耐電流試験方法に関する。
時間耐電流試験方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】発電及び変電機器の事故時の故障電流通
電能力検証はそれぞれの機器の規格で定められている。
この試験は短時間耐電流試験と称し発電機，変圧器，遮
断器，電力ケーブル，柱上開閉器，断路器等殆んどの電
気機器の必須試験項目で、電気機器の設計上一番重要な
項目の一つである。
電能力検証はそれぞれの機器の規格で定められている。
この試験は短時間耐電流試験と称し発電機，変圧器，遮
断器，電力ケーブル，柱上開閉器，断路器等殆んどの電
気機器の必須試験項目で、電気機器の設計上一番重要な
項目の一つである。
【０００３】短時間耐電流試験は通常電源として短絡試
験用発電機を使用し、これに重（大）電流変圧器を接続
し、この変圧器の２次側に供試電気機器を接続した回路
が用いられる。
験用発電機を使用し、これに重（大）電流変圧器を接続
し、この変圧器の２次側に供試電気機器を接続した回路
が用いられる。
【０００４】（１）一般的には手動励磁か又はＡＶＲ制
御方法により、それぞれの規格（ＪＥＣ−２３００，Ｉ
ＥＣ５６，ＩＥＣ６９３等）に定められた試験がなされ
る。
御方法により、それぞれの規格（ＪＥＣ−２３００，Ｉ
ＥＣ５６，ＩＥＣ６９３等）に定められた試験がなされ
る。
【０００５】（２）また、投入電流と通電電流とを分離
し投入電流を規定値に合致した後は０．１〜０．３秒で
一旦遮断し、次の試験で通電電流を規定値に合致させる
べく長時間通電を行ないＩ2ｔが同一になる点まで通電
させる方法等が規格で許容されている機器もある。
し投入電流を規定値に合致した後は０．１〜０．３秒で
一旦遮断し、次の試験で通電電流を規定値に合致させる
べく長時間通電を行ないＩ2ｔが同一になる点まで通電
させる方法等が規格で許容されている機器もある。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記（１）の手動励磁
又はＡＶＲ制御による方法は、短絡電流通電時間は０．
２〜５秒の長時間通電が必要であり、図３に示すよう
に、通常１０〜２０％の電流減衰が必ずあり、このため
投入電流と通電電流の両方を規定値内に収めることが非
常に困難になる。
又はＡＶＲ制御による方法は、短絡電流通電時間は０．
２〜５秒の長時間通電が必要であり、図３に示すよう
に、通常１０〜２０％の電流減衰が必ずあり、このため
投入電流と通電電流の両方を規定値内に収めることが非
常に困難になる。
【０００７】また、上記（２）の機器によって許容され
ている試験方法は２回以上試験をしないと短時間電流性
能が求まらないという問題がある。
ている試験方法は２回以上試験をしないと短時間電流性
能が求まらないという問題がある。
【０００８】本発明は、従来のこのような問題点に鑑み
てなされたものであり、その目的とするところは、規定
の通電時間通電電流を減衰させることなく流しうる短時
間電流試験方法を提供することにある。
てなされたものであり、その目的とするところは、規定
の通電時間通電電流を減衰させることなく流しうる短時
間電流試験方法を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明における短時間電流試験方法は、短絡発電機
に投入器及び重電流変圧器を介して供試電気機器を接続
し、短絡発電機を所定の励磁状態で投入器を投入し供試
電気機器に通電する短時間耐電流試験において、短絡発
電機を過励磁制御する過励磁制御回路を設け、前記投入
器の投入の直前ないし２００ミリ秒前に通電電流の値に
比例した過励磁倍数で短絡発電機を突上げ励磁し、供試
電気機器への通電電流を規定時間内一定となるようにし
たものである。
に、本発明における短時間電流試験方法は、短絡発電機
に投入器及び重電流変圧器を介して供試電気機器を接続
し、短絡発電機を所定の励磁状態で投入器を投入し供試
電気機器に通電する短時間耐電流試験において、短絡発
電機を過励磁制御する過励磁制御回路を設け、前記投入
器の投入の直前ないし２００ミリ秒前に通電電流の値に
比例した過励磁倍数で短絡発電機を突上げ励磁し、供試
電気機器への通電電流を規定時間内一定となるようにし
たものである。
【００１０】
【作用】短絡発電機を一定の励磁電圧で励磁した状態に
おいて投入器を投入すると短絡発電機から重電流変圧器
を介して供試電気機器に通電される。この通電電流は突
上げ励磁を行なわない場合１０〜２０％減小する。
おいて投入器を投入すると短絡発電機から重電流変圧器
を介して供試電気機器に通電される。この通電電流は突
上げ励磁を行なわない場合１０〜２０％減小する。
【００１１】この投入器の投入の直前ないし２００ｍ秒
前に短絡発電機を突上げ励磁すると励磁回路の時定数に
より規定時間（０．２〜５秒）内において励磁電流は漸
増し、前記通電電流の減小は補ぎなわれる。しかして、
突上励磁を通電電流に比例した過励磁倍数で行なうこと
により通電電流を規定時間内一定にすることができる。
前に短絡発電機を突上げ励磁すると励磁回路の時定数に
より規定時間（０．２〜５秒）内において励磁電流は漸
増し、前記通電電流の減小は補ぎなわれる。しかして、
突上励磁を通電電流に比例した過励磁倍数で行なうこと
により通電電流を規定時間内一定にすることができる。
【００１２】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して説明する。
【００１３】図１は本発明方法を実施する短時間電流試
験装置の回路を示す。図１において、ＡＧは短絡発電
機、ＴＦは保護遮断器５２，投入器８９を介し短絡発電
機に接続された変圧比１０：１の重電流変圧器、ＣＢは
重電流変圧器２次側に接続された供試遮断器である。
験装置の回路を示す。図１において、ＡＧは短絡発電
機、ＴＦは保護遮断器５２，投入器８９を介し短絡発電
機に接続された変圧比１０：１の重電流変圧器、ＣＢは
重電流変圧器２次側に接続された供試遮断器である。
【００１４】ＦＣ1はＡＧ（短絡発電機）励磁コイル
で、この短絡発電機ＡＧの励磁回路は誘導電動機ＩＭに
より駆動される励磁発電機と整流用のサイリスタＳＣＲ
1からなる。このサイリスタＳＣＲ1のゲートＧはＡＶＲ
（自動電圧調整）用電動設定器ＳＤ1の電圧をダイオー
ドＤ1で整流してゲートＧに加えるＡＶＲ用ゲート回路
と、過励磁用電動設定器ＳＤ2の電圧をダイオードＤ2で
整流し過励磁投入用スイッチＳＷ1を介してゲートＧに
加える過励磁用ゲート回路からなる。なお、ＳＤ3，Ｄ3
は励磁発電機ＥＡＧの励磁コイルＦＣ2を励磁する励磁
用電圧設定器及び整流用ダイオードを示す。
で、この短絡発電機ＡＧの励磁回路は誘導電動機ＩＭに
より駆動される励磁発電機と整流用のサイリスタＳＣＲ
1からなる。このサイリスタＳＣＲ1のゲートＧはＡＶＲ
（自動電圧調整）用電動設定器ＳＤ1の電圧をダイオー
ドＤ1で整流してゲートＧに加えるＡＶＲ用ゲート回路
と、過励磁用電動設定器ＳＤ2の電圧をダイオードＤ2で
整流し過励磁投入用スイッチＳＷ1を介してゲートＧに
加える過励磁用ゲート回路からなる。なお、ＳＤ3，Ｄ3
は励磁発電機ＥＡＧの励磁コイルＦＣ2を励磁する励磁
用電圧設定器及び整流用ダイオードを示す。
【００１５】この試験回路の動作を以下に述べる。
【００１６】（１）短絡発電機ＡＧ主回路は保護遮断器
５２と供試遮断器ＣＢｔを投入状態とし、投入器８９は
遮断状態にする。
５２と供試遮断器ＣＢｔを投入状態とし、投入器８９は
遮断状態にする。
【００１７】（２）この状態で励磁発電機ＥＡＧを定格
電圧を発生させておく。
電圧を発生させておく。
【００１８】（３）短絡発電機ＡＧの励磁回路における
サイリスタＳＣＲ1のゲート電圧を０Vから規定値まで上
昇させ励磁コイルＦＣ1に３相全波整流された直流電流
を通電する。これにより短絡発電機ＡＧ主回路に電圧が
発生する。
サイリスタＳＣＲ1のゲート電圧を０Vから規定値まで上
昇させ励磁コイルＦＣ1に３相全波整流された直流電流
を通電する。これにより短絡発電機ＡＧ主回路に電圧が
発生する。
【００１９】（４）シーケンスにより投入器８９を投入
する５０〜２００ｍｓ前に過励磁投入用スイッチＳＷ1
投入し、第２の励磁回路により過励磁電圧を加えて突上
げ励磁を行う。これにより励磁電流は所定の時定数で増
加する。
する５０〜２００ｍｓ前に過励磁投入用スイッチＳＷ1
投入し、第２の励磁回路により過励磁電圧を加えて突上
げ励磁を行う。これにより励磁電流は所定の時定数で増
加する。
【００２０】（５）シーケンスにより投入器８９が投入
され主回路電流が流れる。ＡＶＲ用ゲート回路による励
磁分で流れる主回路電流は従来同様に減衰するが、この
減衰は過励磁用励磁回路による突上げ励磁により補ぎな
われる。これにより、０．２〜５．０秒の間電流を一定
にすることができた。（三相、単相１２．５〜６０KA，
０．２〜５．０秒条件）通電電流の減衰は通電電流によ
り変化するので、過励磁電圧の倍数は通電電流により増
減させる。
され主回路電流が流れる。ＡＶＲ用ゲート回路による励
磁分で流れる主回路電流は従来同様に減衰するが、この
減衰は過励磁用励磁回路による突上げ励磁により補ぎな
われる。これにより、０．２〜５．０秒の間電流を一定
にすることができた。（三相、単相１２．５〜６０KA，
０．２〜５．０秒条件）通電電流の減衰は通電電流によ
り変化するので、過励磁電圧の倍数は通電電流により増
減させる。
【００２１】この実施例による短時間電流波形を図２に
示す。従来方法では図３に示すように３．０秒間に約１
１％減小しているのに対し、実施例では３相共３．０秒
間一定電流を得ることができた。
示す。従来方法では図３に示すように３．０秒間に約１
１％減小しているのに対し、実施例では３相共３．０秒
間一定電流を得ることができた。
【００２２】
【発明の効果】本発明は、上述のとおり構成されている
ので、次に記載する効果を奏する。
ので、次に記載する効果を奏する。
【００２３】（１）短時間電流試験における通電電流を
電流減衰のない一定値で規定時間通電することが可能と
なった。
電流減衰のない一定値で規定時間通電することが可能と
なった。
【００２４】（２）このため電流値は１点を実測するだ
けでよく平均値を求める必要がない。
けでよく平均値を求める必要がない。
【００２５】（３）通電電流を一定値とすることが可能
であるため、設備容量が限られている場合実用的価値は
大きくなる。
であるため、設備容量が限られている場合実用的価値は
大きくなる。
【図１】本発明の実施例にかかる短時間電流試験装置の
回路を示すブロック回路図。
回路を示すブロック回路図。
【図２】本発明による通電電流を示す波形図。
【図３】従来法による通電電流を示す波形図。
ＡＧ…短絡発電機、５２…保護遮断器、８９…投入器、
ＴＦ…重電流変圧器、ＣＢｔ…供試遮断器、ＥＡＧ…励
磁発電機、ＩＭ…誘導電動機、ＦＣ1…ＡＧ励磁コイ
ル、ＦＣ2…ＥＡＧ励磁コイル、ＳＣＲ1…サイリスタ、
ＳＤ1…ＡＶＲ用電動設定器、ＳＤ2…過励磁用電動設定
器、ＳＤ3…ＡＧ励磁用電動設定器、Ｄ1〜Ｄ3…ダイオ
ード。
ＴＦ…重電流変圧器、ＣＢｔ…供試遮断器、ＥＡＧ…励
磁発電機、ＩＭ…誘導電動機、ＦＣ1…ＡＧ励磁コイ
ル、ＦＣ2…ＥＡＧ励磁コイル、ＳＣＲ1…サイリスタ、
ＳＤ1…ＡＶＲ用電動設定器、ＳＤ2…過励磁用電動設定
器、ＳＤ3…ＡＧ励磁用電動設定器、Ｄ1〜Ｄ3…ダイオ
ード。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 荒川 俊一 東京都品川区大崎２丁目１番17号 株式 会社明電舎内 (72)発明者 塩崎 光康 東京都品川区大崎２丁目１番17号 株式 会社明電舎内 (56)参考文献 特開 平５−172911（ＪＰ，Ａ) 特開 平５−188122（ＪＰ，Ａ) 実開 平４−3000（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G01R 31/34
Claims (1)
- 【請求項１】 短絡発電機に投入器及び重電流変圧器を
介して供試電気機器を接続し、短絡発電機を所定の励磁
状態で投入器を投入し供試電気機器に通電する短時間耐
電流試験において、 短絡発電機を過励磁制御する過励磁制御回路を設け、前
記投入器の投入の直前ないし２００ミリ秒前に通電電流
の値に比例した過励磁倍数で短絡発電機を突上げ励磁
し、供試電気機器への通電電流を規定時間内一定となる
ようにすることを特徴とした短時間電流試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19174591A JP3003298B2 (ja) | 1991-07-31 | 1991-07-31 | 短時間電流試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19174591A JP3003298B2 (ja) | 1991-07-31 | 1991-07-31 | 短時間電流試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0534422A JPH0534422A (ja) | 1993-02-09 |
| JP3003298B2 true JP3003298B2 (ja) | 2000-01-24 |
Family
ID=16279800
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19174591A Expired - Lifetime JP3003298B2 (ja) | 1991-07-31 | 1991-07-31 | 短時間電流試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3003298B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2372659A (en) * | 2001-02-23 | 2002-08-28 | Sharp Kk | A method of rectifying a stereoscopic image |
-
1991
- 1991-07-31 JP JP19174591A patent/JP3003298B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0534422A (ja) | 1993-02-09 |
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