JP2977593B2 - Icテスタの3値出力回路 - Google Patents

Icテスタの3値出力回路

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JP2977593B2 JP2254552A JP25455290A JP2977593B2 JP 2977593 B2 JP2977593 B2 JP 2977593B2 JP 2254552 A JP2254552 A JP 2254552A JP 25455290 A JP25455290 A JP 25455290A JP 2977593 B2 JP2977593 B2 JP 2977593B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、ICテスタのドライバ回路に使用され、I/
Oピンの高速度測定に対応できる3値出力回路について
のものである。
[従来の技術] 次に、従来技術による3値出力回路の構成を第4図に
より説明する。
第4図の3は2値出力回路、4は抵抗、5はスイッチ
回路、6は判定回路、7と8は論理入力端子、9は出力
端子である。
2値出力回路3は、端子7に「H」レベルが入力され
ると、レベルVIHが出力9に出力され、端子7に「L」
レベルが入力されると、レベルVILが出力9に出力され
る。このとき、端子8には、「H」レベルが入力されて
いて、スイッチ回路5は動作しいない。この場合、2値
出力回路3がデバイスの入力に対して、レベルを供給で
きる状態となる。
次に、端子8に「L」レベルが入力されると、端子7
の入力に関係なく2値出力回路3の出力は高インピーダ
ンス状態となり、さらにスイッチ回路5が動作し、レベ
ルVTが抵抗4を通して出力9に出力される。
この場合、レベルVTをデバイスの終端電圧、抵抗4を
終端抵抗としてデバイスの出力を駆動できる状態にな
り、駆動されたデバイスの出力は、高インピーダンス入
力の判定回路6で測定される。
出力9にデバイスのI/Oピンが接続された場合、2値
出力回路3とスイッチ回路5を高速に切換えなければな
らない。
[発明が解決しようとする課題] 第4図では、スイッチ回路5を使用しているので高速
に動作させることができず、立上り立下りが切れの悪い
ものとなる。また、2値出力回路3とは独立したスイッ
チ回路5を用いているので、切換え時間が10ns程度であ
り、高速のデバイスに対応できない。
この発明は、差動するトランジスタ(以下、TRとい
う。)で構成されるTR回路で3値を高速に切り換え、V
IH、VIL、VTのレベルを出力し、スイッチング特性のよ
い3値出力回路の提供を目的とする。
[課題を解決するための手段] この目的を達成するため、この発明では、論理入力信
号21を入力とするTR1Aと、論理入力信号22を入力とし、
TR1Aと差動するTR1Bと、TR1A・1Bを駆動する定電流源1E
と、TR1Aの出力を入力とするTR1Cと、TR1Bの出力を入力
とし、TR1Cと差動するTR1Dと、レベル端子15とTR1Dの間
に接続される抵抗1Gと、TR1C・1Dを駆動する定電流源1F
と、論理入力信号23を入力とするTR2Aと、論理入力信号
24を入力とし、TR2Aと差動するTR2Bと、TR2Bの出力をベ
ース入力とし、TR1Cの出力をコレクタに接続するTR2C
と、TR2Aの出力をベース入力とし、TR1Dの出力をコレク
タに接続し、TR2Cと差動するTR2Dと、TR2A・2Bを駆動す
る定電流源2Eと、TR2C・2Dを駆動する定電流源2Fとを備
え、TR1Dから論理出力信号25を取り出す。
[作用] 次に、この発明による3値出力回路を第1図により説
明する。第1図の1Aから1Dと2Aから2DはTR、1Eと1Fは定
電流源、1Gは抵抗、2Eと2Fは定電流源、11から14は論理
信号21から24までの入力端子、15は第1のレベル端子、
16は出力端子である。TR1AからTR1Dで2値出力回路を構
成し、TR2AからTR2Dで1値出力回路を構成する。
端子13に「H」レベルを入力し、端子14に「L」レベ
ルを入力すると、TR2Bが動作し、TR2Aは動作しない。定
電流源2EからTR2Bとバイアス抵抗を通り電源端子2Gに電
流I2Aが流れる。TR2DのベースよりTR2Cのベースの方が
電位が高くなり、TR2Cが動作し、TR2Dは動作しない。こ
の状態では出力端子16は2値出力回路1の出力により決
定される。
端子11に「H」レベルを入力し、端子12に「L」レベ
ルを入力すると、TR1Bが動作し、定電流源1EからTR1Bと
バイアス抵抗を通り、電源端子1Hへ電流I1Aが流れる。T
R1DのベースよりTR1Cのベースの方が電位が高くなり、T
R1Cが動作し、TR1Dは動作しないので、端子15と出力端
子16は同電位となり、第1のレベルが出力端子16から出
力される。
次に、端子11に「L」レベルを入力し、端子12に
「H」レベルを入力すると、TR1Bが動作し、TR1Dが動作
する。
ここで電流I1A、I1B、I2A、I2Bは次のような電流値に
制御されている。
I1A=a×(VIH−VIL) ……(1) I2A=b×(VIL−VT) ……(2) 第1のレベル値をVIH、第2のレベル値をVIL、第3の
レベル値をVTとする。aとbは、正の係数でレベル差に
応じて電流値を変え、レベル切換時間を変化させないよ
うにするものである。
I1B=(VIH−VIL)/R ……(3) I2B=(VIL−VT)/R ……(4) Rは、抵抗1Gの抵抗値である。
TR1Dが動作すると、定電流源1Fに第1のレベル端子15
から抵抗1GとTR1Dを通して電流I1Bが流れ込む。出力端
子16には、式(3)の電流I1Bが流れるので、VIL、つま
り、第2のレベルが出力される。
端子13に「L」レベルが入力され、端子14に「H」レ
ベルが入力され、同時に端子11・12が第2のレベル出力
状態に固定されるように入力される。これにより、TR2A
が動作し、ベースの電位が高いTR2Dが動作する。このと
き、定電流源2Fへ第1のレベル端子15から抵抗1GとTR2D
の通して電流I2Bが流れる。第1のレベル端子15から抵
抗1Gへ電流I1Bと電流I2Bが流れるので、式(3)、
(4)から出力端子16にVT、つまり、第3のレベルが出
力される。
次に、論理入力信号21〜24と論理出力信号25の関係を
第3図のタイムチャートにより説明する。
第3図アは論理入力信号21の波形、第3図イは論理入
力信号22の波形、第3図ウは論理入力信号23の波形、第
3図エは論理入力信号24の波形である。第3図オは出力
端子16から取り出される3値の論理出力信号25の波形で
ある。
論理入力信号21・22は、「H」・「L」が反転した信
号であり、論理入力信号23・24も「H」・「L」が反転
した信号である。
また、第1のレベルと第2のレベルと第3のレベルに
は次のような関係に制御される。
VIH>VIL>VT ……(5) デバイスの出力の駆動に対しては、第3のレベルVT
終端電圧、抵抗1Gが終端抵抗として動作する。
これは、出力端子16から見たテブナンの定理に従う。
第2図の判定回路10は、抵抗1Gを分割した中に置かれ
る。これは、判定回路10を高速に動作させるため、入力
にバッファ回路などを設けていないので、入力電圧を制
限するためである。
第1図は、TRにより回路が構成されており、外部スイ
ッチ回路を使用していないので、3値出力の切換え時間
を1ns以下にすることができる。
[発明の効果] この発明によれば、TRにより3値出力回路が構成され
ているので、3値出力を高速に取り出すことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明によるICテスタの3値出力回路の構成
図、第2図は第1図に対する判定回路の接続図、第3図
は第1図の論理入力信号21〜23と論理出力信号24のタイ
ムチャート、第4図は従来技術によるICテスタの3値出
力回路の構成図である。 1A〜1D……TR(トランジスタ)、1E・1F……定電流源、
1G……抵抗、2A〜2D……TR、2E・2F……定電流源、11〜
14……論理信号入力端子、21〜24……論理入力信号、25
……論理出力信号。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1の論理入力信号(21)を入力とする第
    1のトランジスタ(1A)と、 第2の論理入力信号(22)を入力とし、第1のトランジ
    スタ(1A)と差動する第2のトランジスタ(1B)と、 第1のトランジスタ(1A)と第2のトランジスタ(1B)
    を駆動する第1の定電流源(1E)と、 第1のトランジスタ(1A)の出力を入力とする第3のト
    ランジスタ(1C)と、 第2のトランジスタ(1B)の出力を入力とし、第3のト
    ランジスタ(1C)と差動する第4のトランジスタ(1D)
    と、 レベル端子(15)と第4のトランジスタ(1D)の出力間
    に接続される抵抗(1G)と、 第3のトランジスタ(1C)と第4のトランジスタ(1D)
    を駆動する第1の定電流源(1F)と、 第3の論理入力信号(23)を入力とする第5のトランジ
    スタ(2A)と、 第4の論理入力信号(24)を入力とし、第5のトランジ
    スタ(2A)と差動する第6のトランジスタ(2B)と、 第6のトランジスタ(2B)の出力をベース入力とし、第
    3のトランジスタ(1C)の出力をコレクタに接続する第
    7のトランジスタ(2C)と、 第5のトランジスタ(2A)の出力をベース入力とし、第
    4のトランジスタ(1D)の出力をコレクタに接続し、第
    7のトランジスタ(2C)と差動する第8のトランジスタ
    (2D)と、 第5のトランジスタ(2A)と第6のトランジスタ(2B)
    を駆動する第3の定電流源(2E)と、 第7のトランジスタ(2C)と第8のトランジスタ(2D)
    を駆動する第4の定電流源(2F)とを備え、 第4のトランジスタ(1D)から論理出力信号(25)を取
    り出すことを特徴とするICテスタの3値出力回路。
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