JP2975776B2 - 光起電力装置の製造方法 - Google Patents
光起電力装置の製造方法Info
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- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光起電力装置の製造方
法に関する。
法に関する。
【0002】
【従来の技術】透明絶縁基板上の光起電力素子の非発電
領域を除去し入射光の一部を透過させる光起電力装置
が、実開昭63−174468号公報に提案されてい
る。この装置は、ガラス、耐熱プラスチック等の透光性
絶縁基板上に、酸化亜鉛(ZnO)、酸化錫(Sn
O2)または酸化インジウム錫(ITO)等の透明導電
膜からなる第1電極膜、半導体光活性層及び金属導電膜
からなる第2電極膜を積層する。そして、透過部の第2
電極膜及び半導体光活性層をエッチングする。また、第
1電極膜の取出電極部と、第2電極膜に電気的に連なる
透明導電膜からなる取出電極部から出力を取り出す。こ
こで第2電極膜に電気的に連なる取出電極部が、透明導
電膜から成るのは、耐候性、透光性絶縁基板との密着性
において、金属導電膜より透明導電膜のほうが優れてい
るからである。
領域を除去し入射光の一部を透過させる光起電力装置
が、実開昭63−174468号公報に提案されてい
る。この装置は、ガラス、耐熱プラスチック等の透光性
絶縁基板上に、酸化亜鉛(ZnO)、酸化錫(Sn
O2)または酸化インジウム錫(ITO)等の透明導電
膜からなる第1電極膜、半導体光活性層及び金属導電膜
からなる第2電極膜を積層する。そして、透過部の第2
電極膜及び半導体光活性層をエッチングする。また、第
1電極膜の取出電極部と、第2電極膜に電気的に連なる
透明導電膜からなる取出電極部から出力を取り出す。こ
こで第2電極膜に電気的に連なる取出電極部が、透明導
電膜から成るのは、耐候性、透光性絶縁基板との密着性
において、金属導電膜より透明導電膜のほうが優れてい
るからである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記透過部
の形成に際して、アモルファスシリコン等からなる半導
体光活性層のエッチングは、NaOH水溶液のウエット
エッチングで行うが、このウエットエッチングするとき
に発生する水素イオンまたは水素ガスによって、酸化亜
鉛(ZnO)、酸化錫(SnO2)または酸化インジウ
ム錫(ITO)等の透明導電膜からなる取出電極部が還
元され、溶解除去される。特に、ウエットエッチング時
には、既に装置は光起電力を生じる状態であるため、発
生した電子が集まる負極端子には、プラスの水素イオン
が集まり、還元、溶解除去が進みやすい。
の形成に際して、アモルファスシリコン等からなる半導
体光活性層のエッチングは、NaOH水溶液のウエット
エッチングで行うが、このウエットエッチングするとき
に発生する水素イオンまたは水素ガスによって、酸化亜
鉛(ZnO)、酸化錫(SnO2)または酸化インジウ
ム錫(ITO)等の透明導電膜からなる取出電極部が還
元され、溶解除去される。特に、ウエットエッチング時
には、既に装置は光起電力を生じる状態であるため、発
生した電子が集まる負極端子には、プラスの水素イオン
が集まり、還元、溶解除去が進みやすい。
【0004】本発明の目的は、この透明導電膜からなる
取出電極部の溶解除去を防止することにある。
取出電極部の溶解除去を防止することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は以下の5つの解
決手段からなる。 半導体光活性層のウエットエッチング工程を遮光され
た暗状態にて実施する。 透明電極膜からなる取出電極部上を、金属導電膜にて
被覆する。 透明電極膜からなる取出電極部上を、半導体光活性
層、取出電極部の透明電極膜より大面積である金属導電
膜にて被覆する。 第1電極層と電気的に連なる取出電極領域と、第2電
極層に電気的に連なる取出電極領域とから出力を取り出
す構造とし、負極となる取出電極領域は、透光性絶縁基
板側から順に、透明導電膜からなる島部、半導体光活性
層、及び島部より大面積である金属導電膜の積層構造と
する。 第1電極層と電気的に連なる取出電極領域と、第2電
極層に電気的に連なる取出電極領域とから出力を取り出
す構造とし、負極となる取出電極領域は、透光性絶縁基
板側から順に、透明導電膜からなる島部、半導体光活性
層及び金属導電膜の積層構造とし、取出電極領域の外周
部を保護膜で被覆する。 第1電極層と電気的に連なる取出電極領域と、第2電
極層に電気的に連なる取出電極領域とから出力を取り出
す構造とし、負極となる取出電極領域は、透光性絶縁基
板側から順に、半導体光活性層及び金属導電膜の積層構
造とする。
決手段からなる。 半導体光活性層のウエットエッチング工程を遮光され
た暗状態にて実施する。 透明電極膜からなる取出電極部上を、金属導電膜にて
被覆する。 透明電極膜からなる取出電極部上を、半導体光活性
層、取出電極部の透明電極膜より大面積である金属導電
膜にて被覆する。 第1電極層と電気的に連なる取出電極領域と、第2電
極層に電気的に連なる取出電極領域とから出力を取り出
す構造とし、負極となる取出電極領域は、透光性絶縁基
板側から順に、透明導電膜からなる島部、半導体光活性
層、及び島部より大面積である金属導電膜の積層構造と
する。 第1電極層と電気的に連なる取出電極領域と、第2電
極層に電気的に連なる取出電極領域とから出力を取り出
す構造とし、負極となる取出電極領域は、透光性絶縁基
板側から順に、透明導電膜からなる島部、半導体光活性
層及び金属導電膜の積層構造とし、取出電極領域の外周
部を保護膜で被覆する。 第1電極層と電気的に連なる取出電極領域と、第2電
極層に電気的に連なる取出電極領域とから出力を取り出
す構造とし、負極となる取出電極領域は、透光性絶縁基
板側から順に、半導体光活性層及び金属導電膜の積層構
造とする。
【0006】
【作用】上記5つの解決手段の作用について説明する。 ウエットエッチング工程を暗状態で行うことで、光起
電力装置からの電子の発生を無くし、プラスの水素イオ
ンが負極にあつまるのを防ぎ、出力取出電極部の透明電
極膜の溶解除去を防止する。 透明導電膜からなる取出電極部上に金属導電膜を被覆
しているので、透明電極膜がウエットエッチング時、水
素及び水素イオンと直接接することがなく、溶解除去さ
れることはない。 金属導電膜が、透明導電膜からなる島部より大面積で
あるゆえ、ウエットエッチング工程時、半導体光活性層
のサイドエッチングは透明導電膜まで至らない。金属
導電膜の外周部の保護膜により、半導体光活性層のサイ
ドエッチングは透明導電膜まで至らない。 取出電極領域が基板側から順に半導体光活性層及び金
属導電膜の積層構造であり、透明導電膜が存在しないこ
とにより溶解除去は起こらない。
電力装置からの電子の発生を無くし、プラスの水素イオ
ンが負極にあつまるのを防ぎ、出力取出電極部の透明電
極膜の溶解除去を防止する。 透明導電膜からなる取出電極部上に金属導電膜を被覆
しているので、透明電極膜がウエットエッチング時、水
素及び水素イオンと直接接することがなく、溶解除去さ
れることはない。 金属導電膜が、透明導電膜からなる島部より大面積で
あるゆえ、ウエットエッチング工程時、半導体光活性層
のサイドエッチングは透明導電膜まで至らない。金属
導電膜の外周部の保護膜により、半導体光活性層のサイ
ドエッチングは透明導電膜まで至らない。 取出電極領域が基板側から順に半導体光活性層及び金
属導電膜の積層構造であり、透明導電膜が存在しないこ
とにより溶解除去は起こらない。
【0007】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて説
明する。 [実施例1]図1〜図5は、実施例1の製造方法を工程
別に示す平面図である。図1に示す工程において、ガラ
ス、耐熱性プラスチック等からなる矩形の透光性絶縁基
板1の一表面において、中心部の後述する表示窓6とな
る領域を囲んで基板1の三辺側に位置する複数の発電領
域2a〜2cに、第1電極層3a〜3cが分割配置され
る。この第1電極層は、酸化亜鉛(ZnO)、酸化イン
ジウム錫(ITO)や酸化錫(SnO2)等の透明導電
膜の単層あるいは積層構造からなる。また、これら第1
電極層3a、3bは、発電領域2a〜2cを電気的に直
列接続するための第1接続部3ae、3bc有してい
る。さらに、基板1の残りの一辺側に、第1電極層3a
から延長した第1電極層の取出電極部3at、第1電極
層と同一材料からなる後述する第2電極層5cの取出電
極部3ctを有している。
明する。 [実施例1]図1〜図5は、実施例1の製造方法を工程
別に示す平面図である。図1に示す工程において、ガラ
ス、耐熱性プラスチック等からなる矩形の透光性絶縁基
板1の一表面において、中心部の後述する表示窓6とな
る領域を囲んで基板1の三辺側に位置する複数の発電領
域2a〜2cに、第1電極層3a〜3cが分割配置され
る。この第1電極層は、酸化亜鉛(ZnO)、酸化イン
ジウム錫(ITO)や酸化錫(SnO2)等の透明導電
膜の単層あるいは積層構造からなる。また、これら第1
電極層3a、3bは、発電領域2a〜2cを電気的に直
列接続するための第1接続部3ae、3bc有してい
る。さらに、基板1の残りの一辺側に、第1電極層3a
から延長した第1電極層の取出電極部3at、第1電極
層と同一材料からなる後述する第2電極層5cの取出電
極部3ctを有している。
【0008】図2に示す工程においては、第1電極層3
a〜3cを含んで基板1の一表面の略全面に、アモルフ
ァスシリコン(a−Si)、アモルファスシリコンカー
バイド(a−SiC)、アモルファスシリコンゲルマニ
ウム(a−SiGe)等をpn、pinに積層した半導
体光活性層4が形成される。図3に示す工程において
は、半導体光活性層4上に、第1電極層3a〜3cと重
なるように第2電極層5a〜5cが分割配置される。第
2電極層5a〜5cは、スクリーン印刷によりパタ−ニ
ングされた後に150℃程度に焼成された導電性ペース
トから成る。導電性ペーストとしては、Al、Ag、T
i、Ni、Cr、Cu等のフィラ−を、フェノール、エ
ポキシ、ポリエステル等のバインダーに添加したものが
用いられる。また、第2電極層5bは、第1接続部3a
eと重なり、これに電気接続するくし型状第2電極部5
beを有し、第2電極層5cは、第1接続部3be及び
取出電極部3ctの各々と重なり、これらに電気接続す
るためのくし型状第2接続部5ce、5cteを有して
いる。その後、くし型状第2接続部5be、5ce、5
cte上から、図3に示す矢印方向に、レーザビームや
電子ビーム等のエネルギービームを照射することによっ
て、第1接続部3ae、3be、取出電極部3ctの各
々と、第2接続部5be、5ce、5cteの各々とが
(図3において、矢印と交わっている部分)電気的に接
続されることとなる。使用されるエネルギービームとし
ては、Qスイッチ付きのYAGレーザが最適である。
a〜3cを含んで基板1の一表面の略全面に、アモルフ
ァスシリコン(a−Si)、アモルファスシリコンカー
バイド(a−SiC)、アモルファスシリコンゲルマニ
ウム(a−SiGe)等をpn、pinに積層した半導
体光活性層4が形成される。図3に示す工程において
は、半導体光活性層4上に、第1電極層3a〜3cと重
なるように第2電極層5a〜5cが分割配置される。第
2電極層5a〜5cは、スクリーン印刷によりパタ−ニ
ングされた後に150℃程度に焼成された導電性ペース
トから成る。導電性ペーストとしては、Al、Ag、T
i、Ni、Cr、Cu等のフィラ−を、フェノール、エ
ポキシ、ポリエステル等のバインダーに添加したものが
用いられる。また、第2電極層5bは、第1接続部3a
eと重なり、これに電気接続するくし型状第2電極部5
beを有し、第2電極層5cは、第1接続部3be及び
取出電極部3ctの各々と重なり、これらに電気接続す
るためのくし型状第2接続部5ce、5cteを有して
いる。その後、くし型状第2接続部5be、5ce、5
cte上から、図3に示す矢印方向に、レーザビームや
電子ビーム等のエネルギービームを照射することによっ
て、第1接続部3ae、3be、取出電極部3ctの各
々と、第2接続部5be、5ce、5cteの各々とが
(図3において、矢印と交わっている部分)電気的に接
続されることとなる。使用されるエネルギービームとし
ては、Qスイッチ付きのYAGレーザが最適である。
【0009】図4に示す工程において、第2電極膜5a
〜5c上に、表示窓6、マイナス端子部7、プラス端子
部8を除いて、エポキシ系、フェノール系、アクリル系
等の樹脂から成る保護膜9を配置する。この表示窓6
は、液晶、LED等により文字、数字等を表示するため
のものである。図5に示す工程において、保護膜9から
露出する半導体光活性層4が、エッチング装置10を用
いて、NaOH水溶液でエッチングされる。まず、保護
膜9を配置した光起電力装置11の半導体光活性層4
が、遮光されたNaOH水溶液槽12にて、エッチング
された後、光起電力装置11に付着したNaOHを取り
除くため水洗槽13に移動される。従来においては、光
入射で光起電力装置によって発生した電子が集まる負極
端子に、ウエットエッチングするときに発生するプラス
の水素イオンが集まり、マイナス端子部7の透明導電膜
からなる取出電極部3ctの還元、溶解除去が進むが、
本実施例の遮光された暗状態においては、発生する電子
が存在しないためマイナス端子部7に水素イオンが集ま
らず、従って、その部分の取出電極部3ctの還元、溶
解除去が起こらない。
〜5c上に、表示窓6、マイナス端子部7、プラス端子
部8を除いて、エポキシ系、フェノール系、アクリル系
等の樹脂から成る保護膜9を配置する。この表示窓6
は、液晶、LED等により文字、数字等を表示するため
のものである。図5に示す工程において、保護膜9から
露出する半導体光活性層4が、エッチング装置10を用
いて、NaOH水溶液でエッチングされる。まず、保護
膜9を配置した光起電力装置11の半導体光活性層4
が、遮光されたNaOH水溶液槽12にて、エッチング
された後、光起電力装置11に付着したNaOHを取り
除くため水洗槽13に移動される。従来においては、光
入射で光起電力装置によって発生した電子が集まる負極
端子に、ウエットエッチングするときに発生するプラス
の水素イオンが集まり、マイナス端子部7の透明導電膜
からなる取出電極部3ctの還元、溶解除去が進むが、
本実施例の遮光された暗状態においては、発生する電子
が存在しないためマイナス端子部7に水素イオンが集ま
らず、従って、その部分の取出電極部3ctの還元、溶
解除去が起こらない。
【0010】図6は、実施例1の完成図で、図6−Aは
平面図、図6−BはI−I′の断面図である。 [実施例2]図7は、実施例2の完成図で、図7−Aは
平面図、図7−BはII−II′における断面図である。図
7に示すように、透明導電膜からなる取出電極部3a
t、3ctを、金属導電膜14at、14ctが被って
いる。本実施例は、実施例1の図1で示した工程後、金
属導電膜14at、14ctが、取出電極部3at、3
ct上に、各々積層される点で、実施例1の構造と異な
っている。金属導電膜14at、14ctの材料は、N
aOH水溶液、水素及び水素イオンに耐食性のある金属
薄膜(Ag、Ti、Ni、Cr、Cu等)またはこれら
の金属紛を含む導電性ペーストであることが必要であ
る。
平面図、図6−BはI−I′の断面図である。 [実施例2]図7は、実施例2の完成図で、図7−Aは
平面図、図7−BはII−II′における断面図である。図
7に示すように、透明導電膜からなる取出電極部3a
t、3ctを、金属導電膜14at、14ctが被って
いる。本実施例は、実施例1の図1で示した工程後、金
属導電膜14at、14ctが、取出電極部3at、3
ct上に、各々積層される点で、実施例1の構造と異な
っている。金属導電膜14at、14ctの材料は、N
aOH水溶液、水素及び水素イオンに耐食性のある金属
薄膜(Ag、Ti、Ni、Cr、Cu等)またはこれら
の金属紛を含む導電性ペーストであることが必要であ
る。
【0011】本実施例においては、NaOH水溶液のエ
ッチング工程において発生する水素及び水素イオンが、
取出電極部3at、3ctと直接接触することを、金属
導電膜14at、14ctが防いでいるので、取出電極
部3at、3ctの溶解除去は起こらない。ここで、エ
ッチング時における取出電極部3at、3ctのサイド
エッチングを防止するため、金属導電膜14at、14
ctは取出電極部3at、3ctより大面積であること
が望ましい。なお、本実施例のウエットエッチング工程
においてエッチング装置は遮光されている必要はない。
ッチング工程において発生する水素及び水素イオンが、
取出電極部3at、3ctと直接接触することを、金属
導電膜14at、14ctが防いでいるので、取出電極
部3at、3ctの溶解除去は起こらない。ここで、エ
ッチング時における取出電極部3at、3ctのサイド
エッチングを防止するため、金属導電膜14at、14
ctは取出電極部3at、3ctより大面積であること
が望ましい。なお、本実施例のウエットエッチング工程
においてエッチング装置は遮光されている必要はない。
【0012】[実施例3]図8は、実施例3の完成図
で、図8−Aは平面図、図8−BはIII−III′における
断面図を示す。図8に示すように、マイナス端子部7に
位置するマイナス取出電極領域15ctは、基板1側か
ら順に透明導電膜からなる島部3ct′、半導体光活性
層4、島部3ct′より大面積である第2電極層5cか
ら延長した金属導電膜5ct′の積層構造となってい
る。一方、プラス端子部8に位置するプラス取出電極領
域15atは、基板1側から順に透明導電膜からなる第
1電極層3aより延長した取出電極部3at、半導体光
活性層4、第2電極層と同一材料、同一工程にて形成さ
れた島状の金属導電膜5atの積層構造となっている。
また、金属導電膜5atと取出電極部3atが、電気的
に接続されている。
で、図8−Aは平面図、図8−BはIII−III′における
断面図を示す。図8に示すように、マイナス端子部7に
位置するマイナス取出電極領域15ctは、基板1側か
ら順に透明導電膜からなる島部3ct′、半導体光活性
層4、島部3ct′より大面積である第2電極層5cか
ら延長した金属導電膜5ct′の積層構造となってい
る。一方、プラス端子部8に位置するプラス取出電極領
域15atは、基板1側から順に透明導電膜からなる第
1電極層3aより延長した取出電極部3at、半導体光
活性層4、第2電極層と同一材料、同一工程にて形成さ
れた島状の金属導電膜5atの積層構造となっている。
また、金属導電膜5atと取出電極部3atが、電気的
に接続されている。
【0013】本実施例は、実施例1の図1、図2で示し
た工程後に、金属導電膜5ct′、金属導電膜5at、
第2接続部5ateを第2電極層5a〜5cと共に形成
する点で、実施例1の構造と異なっている。金属導電膜
5ct′、金属導電膜5atの材料は、NaOH水溶
液、水素及び水素イオンに耐食性のある金属粉(Ag、
Ti、Ni、Cr、Cu等)を含む導電性ペーストであ
ることが必要である。
た工程後に、金属導電膜5ct′、金属導電膜5at、
第2接続部5ateを第2電極層5a〜5cと共に形成
する点で、実施例1の構造と異なっている。金属導電膜
5ct′、金属導電膜5atの材料は、NaOH水溶
液、水素及び水素イオンに耐食性のある金属粉(Ag、
Ti、Ni、Cr、Cu等)を含む導電性ペーストであ
ることが必要である。
【0014】本実施例においては、NaOH水溶液のエ
ッチング工程において発生するプラスの水素イオンが集
まるマイナス取出電極領域15ctにおいて、金属導電
膜5ct′は、島部ct′より大面積であるため、たと
え半導体光活性層4がサイドエッチング4′されても、
島部3ct′まで至ることがない。従って、島部3c
t′の溶解除去は起こらない。なお、本実施例のウエッ
トエッチング工程においてエッチング装置は遮光されて
いる必要はない。
ッチング工程において発生するプラスの水素イオンが集
まるマイナス取出電極領域15ctにおいて、金属導電
膜5ct′は、島部ct′より大面積であるため、たと
え半導体光活性層4がサイドエッチング4′されても、
島部3ct′まで至ることがない。従って、島部3c
t′の溶解除去は起こらない。なお、本実施例のウエッ
トエッチング工程においてエッチング装置は遮光されて
いる必要はない。
【0015】[実施例4]図9は、実施例4の完成図
で、図9−Aは平面図、図9−BはIV−IV′における断
面図を示す。図9に示すように、マイナス端子部7に位
置するマイナス取出電極領域15ct′は、基板1側よ
り透明導電膜からなる島部3ct′、半導体光活性層
4、第2電極層5cより延長した金属導電膜5ct″の
積層構造とし、マイナス取出電極領域15ct′の外周
部にも保護膜9′が配置されている。一方、プラス端子
部8に位置するプラス取出電極領域15at′は、基板
1側より透明導電膜からなる第1電極層3aより延長し
た取出電極部3at、半導体光活性層4、第2電極層と
同一材料、同一工程にて形成された島状の金属導電膜5
at′の積層構造とし、プラス取出電極領域15at′
の外周部にも保護膜9″が配置されている。また、金属
導電膜5at′と取出電極部3atが、電気的に接続さ
れている。
で、図9−Aは平面図、図9−BはIV−IV′における断
面図を示す。図9に示すように、マイナス端子部7に位
置するマイナス取出電極領域15ct′は、基板1側よ
り透明導電膜からなる島部3ct′、半導体光活性層
4、第2電極層5cより延長した金属導電膜5ct″の
積層構造とし、マイナス取出電極領域15ct′の外周
部にも保護膜9′が配置されている。一方、プラス端子
部8に位置するプラス取出電極領域15at′は、基板
1側より透明導電膜からなる第1電極層3aより延長し
た取出電極部3at、半導体光活性層4、第2電極層と
同一材料、同一工程にて形成された島状の金属導電膜5
at′の積層構造とし、プラス取出電極領域15at′
の外周部にも保護膜9″が配置されている。また、金属
導電膜5at′と取出電極部3atが、電気的に接続さ
れている。
【0016】本実施例は、実施例1の図1、図2で示し
た工程後に、金属導電膜5ct″、金属導電膜5a
t′、第2接続部5ate′を第2電極層5a〜5cと
共に形成する点、保護膜9′、9″を保護膜9と共に形
成する点で、実施例1の構造と異なっている。金属導電
膜5ct″、金属導電膜5at′の材料は、NaOH水
溶液、水素及び水素イオンに耐食性のある金属粉(A
g、Ti、Ni、Cr、Cu等)を含む導電性ペースト
であることが必要である。
た工程後に、金属導電膜5ct″、金属導電膜5a
t′、第2接続部5ate′を第2電極層5a〜5cと
共に形成する点、保護膜9′、9″を保護膜9と共に形
成する点で、実施例1の構造と異なっている。金属導電
膜5ct″、金属導電膜5at′の材料は、NaOH水
溶液、水素及び水素イオンに耐食性のある金属粉(A
g、Ti、Ni、Cr、Cu等)を含む導電性ペースト
であることが必要である。
【0017】本実施例においては、NaOH水溶液のエ
ッチング工程において発生するプラスの水素イオンが集
まるマイナス取出電極領域15ct′において、金属導
電膜5ct″の外周部の保護膜9′により、たとえ半導
体光活性層4がサイドエッチング4″されても島部3c
t′まで至ることがない。従って、島部3ct′の溶解
除去は起こらない。なお、本実施例のウエットエッチン
グ工程においてエッチング装置は遮光されている必要は
ない。
ッチング工程において発生するプラスの水素イオンが集
まるマイナス取出電極領域15ct′において、金属導
電膜5ct″の外周部の保護膜9′により、たとえ半導
体光活性層4がサイドエッチング4″されても島部3c
t′まで至ることがない。従って、島部3ct′の溶解
除去は起こらない。なお、本実施例のウエットエッチン
グ工程においてエッチング装置は遮光されている必要は
ない。
【0018】[実施例5]図10は、実施例5の完成図
で、図10−Aは平面図、図10−BはV−V ′におけ
る断面図を示す。図10に示すようにマイナス端子部7
に位置するマイナス取出電極領域15ct″は、基板1
側より、半導体光活性層4、第2電極層5cより延長し
た金属導電膜5ct″の積層構造となっている。一方、
プラス端子部8に位置するプラス取出電極領域15a
t″は、基板1側より半導体光活性層4、第2電極層と
同一材料、同一工程にて形成された島状の金属導電膜5
at′の積層構造となっている。また、金属導電膜5a
t′と第1電極層3aが、電気的に接続されている。
で、図10−Aは平面図、図10−BはV−V ′におけ
る断面図を示す。図10に示すようにマイナス端子部7
に位置するマイナス取出電極領域15ct″は、基板1
側より、半導体光活性層4、第2電極層5cより延長し
た金属導電膜5ct″の積層構造となっている。一方、
プラス端子部8に位置するプラス取出電極領域15a
t″は、基板1側より半導体光活性層4、第2電極層と
同一材料、同一工程にて形成された島状の金属導電膜5
at′の積層構造となっている。また、金属導電膜5a
t′と第1電極層3aが、電気的に接続されている。
【0019】本実施例は、基板1の一表面に、取出電極
部3ct及び取出電極部atが存在しない第1電極層3
a〜3cを形成する点、金属導電膜5ct″、金属導電
膜5at′、第2接続部5ate′を第2電極層5a〜
5cと共に形成する点で、実施例1の構造と異なってい
る。金属導電膜5ct″、金属導電膜5at′の材料
は、NaOH水溶液、水素及び水素イオンに耐食性のあ
る金属粉(Ag、Ti、Ni、Cr、Cu等)を含む導
電性ペーストであることが必要である。
部3ct及び取出電極部atが存在しない第1電極層3
a〜3cを形成する点、金属導電膜5ct″、金属導電
膜5at′、第2接続部5ate′を第2電極層5a〜
5cと共に形成する点で、実施例1の構造と異なってい
る。金属導電膜5ct″、金属導電膜5at′の材料
は、NaOH水溶液、水素及び水素イオンに耐食性のあ
る金属粉(Ag、Ti、Ni、Cr、Cu等)を含む導
電性ペーストであることが必要である。
【0020】本実施例においては、取出電極領域15c
t″、15at″に透明導電膜が存在しないことより、
NaOH水溶液のエッチング工程において発生する水素
ガス及び水素イオンが、透明導電膜を溶解除去すること
はない。なお、本実施例のウエットエッチング工程にお
いてエッチング装置は遮光されている必要はない。
t″、15at″に透明導電膜が存在しないことより、
NaOH水溶液のエッチング工程において発生する水素
ガス及び水素イオンが、透明導電膜を溶解除去すること
はない。なお、本実施例のウエットエッチング工程にお
いてエッチング装置は遮光されている必要はない。
【0021】
【発明の効果】本発明によれば、光起電力装置の非発電
領域である表示窓における半導体光活性層のウエットエ
ッチング工程を暗状態で行うことで、光起電力装置から
の電子の発生を無くし、プラスの水素イオンが負極にあ
つまるのを防ぎ、取出電極部の透明導電膜の溶解除去を
防止することができる。
領域である表示窓における半導体光活性層のウエットエ
ッチング工程を暗状態で行うことで、光起電力装置から
の電子の発生を無くし、プラスの水素イオンが負極にあ
つまるのを防ぎ、取出電極部の透明導電膜の溶解除去を
防止することができる。
【0022】更に本発明(請求項2に対応)によれば、
透明導電膜からなる取出電極部上に金属導電膜を被覆し
ているので、光起電力装置の非発電領域である表示窓に
おける半導体光活性層のウエットエッチング時、取出電
極部が、水素及び水素イオンと直接接することがなく、
溶解除去されることはない。更に本発明(請求項3に対
応)によれば、負極となる取出電極領域を、透光性絶縁
基板側から順に、透明導電膜からなる島部、半導体光活
性層、及び前記島部より大面積である金属導電膜の積層
構造としている。よって、半導体光活性層のウエットエ
ッチング時に発生する水素イオンが集まる負極におい
て、金属導電膜が、透明導電膜からなる島部より大面積
であるゆえ、ウエットエッチング工程時、半導体光活性
層のサイドエッチングは透明導電膜の島部まで至ること
がない。従って、透明導電膜の島部の溶解除去は起こら
ない。更に本発明(請求項4に対応)によれば、負極と
なる取出電極領域を、透光性絶縁基板側から順に、透明
導電膜からなる島部、半導体光活性層及び金属導電膜の
積層構造とすると共に、該取出電極領域の外周部を保護
膜で被っている。よって、半導体光活性層のウエットエ
ッチング時に発生する水素イオンが集まる負極におい
て、金属導電膜の外周部の保護膜により、半導体光活性
層のサイドエッチングは透明導電膜まで至ることはな
い。従って、透明導電膜の島部の溶解除去は起こらな
い。更に、本発明(請求項5に対応)によれば、少なく
とも負極となる取出電極領域を、透光性絶縁基板側から
順に、半導体光活性層及び金属導電膜の積層構造として
いる。よって、半導体光活性層のウエットエッチング時
に発生する水素イオンが集まる負極において、取出電極
領域が基板側から順に半導体光活性層及び金属導電膜の
積層構造であり、透明導電膜が存在しないことにより溶
解除去は起こらない。
透明導電膜からなる取出電極部上に金属導電膜を被覆し
ているので、光起電力装置の非発電領域である表示窓に
おける半導体光活性層のウエットエッチング時、取出電
極部が、水素及び水素イオンと直接接することがなく、
溶解除去されることはない。更に本発明(請求項3に対
応)によれば、負極となる取出電極領域を、透光性絶縁
基板側から順に、透明導電膜からなる島部、半導体光活
性層、及び前記島部より大面積である金属導電膜の積層
構造としている。よって、半導体光活性層のウエットエ
ッチング時に発生する水素イオンが集まる負極におい
て、金属導電膜が、透明導電膜からなる島部より大面積
であるゆえ、ウエットエッチング工程時、半導体光活性
層のサイドエッチングは透明導電膜の島部まで至ること
がない。従って、透明導電膜の島部の溶解除去は起こら
ない。更に本発明(請求項4に対応)によれば、負極と
なる取出電極領域を、透光性絶縁基板側から順に、透明
導電膜からなる島部、半導体光活性層及び金属導電膜の
積層構造とすると共に、該取出電極領域の外周部を保護
膜で被っている。よって、半導体光活性層のウエットエ
ッチング時に発生する水素イオンが集まる負極におい
て、金属導電膜の外周部の保護膜により、半導体光活性
層のサイドエッチングは透明導電膜まで至ることはな
い。従って、透明導電膜の島部の溶解除去は起こらな
い。更に、本発明(請求項5に対応)によれば、少なく
とも負極となる取出電極領域を、透光性絶縁基板側から
順に、半導体光活性層及び金属導電膜の積層構造として
いる。よって、半導体光活性層のウエットエッチング時
に発生する水素イオンが集まる負極において、取出電極
領域が基板側から順に半導体光活性層及び金属導電膜の
積層構造であり、透明導電膜が存在しないことにより溶
解除去は起こらない。
【図1】本発明の第1実施例における第1工程の平面図
【図2】本発明の第1実施例における第2工程の平面図
【図3】本発明の第1実施例における第3工程の平面図
【図4】本発明の第1実施例における第4工程の平面図
【図5】本発明の第1実施例における第5工程の概要図
【図6】本発明の第1実施例の平面図
【図7】本発明の第2実施例の平面図
【図8】本発明の第3実施例の平面図
【図9】本発明の第4実施例の平面図
【図10】本発明の第5実施例の平面図
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 31/04 - 31/078
Claims (5)
- 【請求項1】 少なくとも一方が透明導電膜からなる第
1電極層と第2電極層により半導体光活性層を挟持して
絶縁基板上に積層形成し、上記第1電極層及び第2電極
層の外部に露出した取出電極部から出力を取り出す光起
電力装置の製造方法において、上記各層の積層後に少な
くともいずれか一層の一部を、暗状態にてウエットエッ
チングすることを特徴とする光起電力装置の製造方法。 - 【請求項2】 透光性絶縁基板上に、透明導電膜からな
る第1電極層と、半導体光活性層と、第2電極層とを積
層形成し、第1電極層の取出電極部と第2電極層に電気
的に連なる透明導電膜からなる取出電極部とから出力を
取り出す光起電力装置の製造方法であって、少なくとも
負極となる取出電極部上を、金属導電膜にて被覆してお
り、半導体光活性層の一部をウエットエッチングするこ
と特徴とする光起電力装置の製造方法。 - 【請求項3】 透光性絶縁基板上に、透明導電膜からな
る第1電極層と、半導体光活性層と、第2電極層とを積
層形成し、第1電極層と電気的に連なる取出電極領域
と、第2電極層に電気的に連なる取出電極領域とから出
力を取り出す光起電力装置の製造方法であって、負極と
なる取出電極領域を、透光性絶縁基板側から順に、透明
導電膜からなる島部、半導体光活性層、及び前記島部よ
り大面積である金属導電膜の積層構造とし、半導体光活
性層の一部をウエットエッチングすること特徴とする光
起電力装置の製造方法。 - 【請求項4】 透光性絶縁基板上に、透明導電膜からな
る第1電極層と、半導体光活性層と、第2電極層とを積
層形成し、第1電極層と電気的に連なる取出電極領域
と、第2電極層に電気的に連なる取出電極領域とから出
力を取り出す光起電力装置の製造方法であって、負極と
なる取出電極領域を、透光性絶縁基板側から順に、透明
導電膜からなる島部、半導体光活性層及び金属導電膜の
積層構造とすると共に、該取出電極領域の外周部を保護
膜で被い、半導体光活性層の一部をウエットエッチング
すること特徴とする光起電力装置の製造方法。 - 【請求項5】 透光性絶縁基板上に、透明導電膜からな
る第1電極層と、半導体光活性層と、第2電極層とを積
層形成し、第1電極層に電気的に連なる取出電極領域
と、第2電極層に電気的に連なる取出電極領域とから出
力を取り出す光起電力装置の製造方法であって、少なく
とも負極となる取出電極領域を、透光性絶縁基板側から
順に、半導体光活性層及び金属導電膜の積層構造とし、
半導体光活性層の一部をウエットエッチングすること特
徴とする光起電力装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4199710A JP2975776B2 (ja) | 1992-07-27 | 1992-07-27 | 光起電力装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4199710A JP2975776B2 (ja) | 1992-07-27 | 1992-07-27 | 光起電力装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0645625A JPH0645625A (ja) | 1994-02-18 |
JP2975776B2 true JP2975776B2 (ja) | 1999-11-10 |
Family
ID=16412327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4199710A Expired - Fee Related JP2975776B2 (ja) | 1992-07-27 | 1992-07-27 | 光起電力装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2975776B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4909032B2 (ja) * | 2006-11-30 | 2012-04-04 | 三洋電機株式会社 | 太陽電池モジュール |
-
1992
- 1992-07-27 JP JP4199710A patent/JP2975776B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0645625A (ja) | 1994-02-18 |
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