JP2956921B2 - Mark rate 1/2 pattern regenerator - Google Patents
Mark rate 1/2 pattern regeneratorInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】この発明は、例えば、誤り率を測
定するためにもちいられ、マーク率が1/2 n のパター
ンから、これと対応する擬似ランダムパターンを再生す
るマーク率1/2パターン再生器に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION This invention, for example, used to measure the error rate, the mark ratio is from pattern <br/> emissions of 1/2 n, reproduces the pseudo-random pattern corresponding thereto mark It relates to a rate 1/2 pattern regenerator.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の誤り率検出器を図9に示す。端子
11からの入力データは排他的論理和回路12の一方の
端子に供給される。又クロック端子13からの入力デー
タと同期したクロックがスキップ回路14を通じてパタ
ーン発生器15に供給される。このパターン発生器15
から、その入力されたクロックと同期した基準パターン
が発生される。これと同時にそのクロックがカウンタ1
6で計数される。パターン発生器15からの基準パター
ンは排他的論理和回路12の他方の入力端子に供給さ
れ、よって排他的論理和回路12から入力パターンと基
準パターンとが不一致のとき論理1が出力される。この
排他的論理和回路12の出力は同期制御回路17に供給
される。同期制御回路17はパターン発生器15の入力
クロックと同期して動作し、端子18からの起動信号に
よりリセットされて起動される。排他的論理和回路12
からの不一致の数が所定数に達すると、同期制御回路1
7の端子19からリセット信号を出し、カウンタ16を
リセットするとともにスキップ回路14を制御してクロ
ックを1つ阻止するか、或いは、1つ多くのパルスを加
える。これによりパターン発生器15から発生するパタ
ーンの位相が1ビットシフトされる。このようにして入
力パターンとパターン発生器15の基準パターンとが一
致するまでパターン発生器15の発生パターンの位相が
順次シフトされる。2. Description of the Related Art FIG . 9 shows a conventional error rate detector. Input data from the terminal 11 is supplied to one terminal of the exclusive OR circuit 12. A clock synchronized with the input data from the clock terminal 13 is supplied to the pattern generator 15 through the skip circuit 14. This pattern generator 15
, A reference pattern synchronized with the input clock is generated. At the same time, the clock
Counted at 6. The reference pattern from the pattern generator 15 is supplied to the other input terminal of the exclusive OR circuit 12, so that the exclusive OR circuit 12 outputs a logical 1 when the input pattern does not match the reference pattern. The output of the exclusive OR circuit 12 is supplied to the synchronization control circuit 17. The synchronization control circuit 17 operates in synchronization with the input clock of the pattern generator 15, and is reset and activated by an activation signal from the terminal 18. Exclusive OR circuit 12
When the number of inconsistencies from the data reaches a predetermined number, the synchronization control circuit 1
A reset signal is output from a terminal 19 of the counter 7 to reset the counter 16 and control the skip circuit 14 to block one clock or apply one more pulse. Thereby, the phase of the pattern generated from the pattern generator 15 is shifted by one bit. In this way, the phase of the pattern generated by the pattern generator 15 is sequentially shifted until the input pattern matches the reference pattern of the pattern generator 15 .
【0003】パターン発生器15は通常シフトレジスタ
の最終段と途中の段と各出力の排他的論理和を入力側に
帰還して構成される擬似ランダムパターン発生器を備
え、入力パターンのマーク率が1/2の場合はその擬似
ランダムパターン発生器の出力パターンが直接基準パタ
ーンとされ、マーク率が1/2で無い場合は、例えば1
/4の場合は、発生擬似ランダムパターンの順次隣接す
るビットの論理積をとってマーク率が1/4の基準パタ
ーンとされる。マーク率1/2の場合パターン発生器1
5内の擬似ランダムパターン発生器のシフトダウン数が
n段の場合は、n回連続して誤りが無い状態が検出され
た場合は、その発生した基準パターンは入力パターンに
同期した状態となる。The pattern generator 15 usually includes a pseudo-random pattern generator constructed by feeding back the exclusive OR of the last stage and intermediate stages of the shift register and each output to the input side. In the case of 1/2, the output pattern of the pseudo-random pattern generator is directly used as the reference pattern, and when the mark rate is not 1/2, for example, 1
In the case of / 4, a logical product of sequentially adjacent bits of the generated pseudo-random pattern is taken as a reference pattern having a mark rate of 1/4. Pattern generator 1 when mark rate is 1/2
If the number of the down-shifting the pseudo random pattern generator 5 is n-stage, n times if the successive error free in state is detected, a reference pattern is <br/> synchronized with an input pattern that occurred It will be in the state of having done.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】上述したように、入力
パターンに同期した基準パターンを発生して、これによ
り入力パターンの誤り割合を調べるが、その前に入力パ
ターンに基準パターンを同期させる必要がある。その同
期動作を1ビットづつシフトして同期を取っていると、
同期状態になるまで長い時間がかかる。目的とするパタ
ーンが擬似ランダムパターンである場合は、入力パター
ンをパターン発生器15中の擬似ランダムパターン発生
器に順次取り込んで、その全シフト段に入力パターンを
取り込んだ状態で自走状態にすれば短時間で同期状態が
得られる。しかし目的とするパターンのマーク率が1/
4或いは1/8或いは3/4等、各種の場合があるが、
これらの場合においては入力パターンを、パターン発生
器15内に取り込んで自走状態にすることはできない。
従って、入力パターンに発生基準パターンが同期するよ
うにさせるため発生基準パターンを1ビットづつシフト
させる必要があった。従って、例えばシフト段が23の
場合このパターンの周期は223−1ビットであって、ク
ロック周波数を100MHzとすると、同期するには最
悪で83.9mSとなる。シフト段数が31の場合は、
パターン周期は231−1ビットとなり、従って同期が確
立するまで最も悪いと21.5秒もかかってしまう。As described above, the reference pattern synchronized with the input pattern is generated, and the error rate of the input pattern is checked by using the generated reference pattern. Before that, it is necessary to synchronize the reference pattern with the input pattern. is there. If the synchronization operation is synchronized by shifting one bit at a time,
It takes a long time to be synchronized. When the target pattern is a pseudo-random pattern, the input pattern is sequentially taken into the pseudo-random pattern generator in the pattern generator 15, and the self-propelled state is obtained with the input pattern taken in all the shift stages. Synchronization can be obtained in a short time. However, the mark ratio of the target pattern is 1 /
There are various cases such as 4 or 1/8 or 3/4,
In these cases, the input pattern cannot be taken into the pattern generator 15 to be in a self-running state.
Therefore, it was necessary to shift the generation reference pattern by one bit in order to synchronize the generation reference pattern with the input pattern. Therefore, for example, when the shift stage is 23, the period of this pattern is 2 23 -1 bits, and if the clock frequency is 100 MHz, the worst case for synchronization is 83.9 mS. If the number of shift stages is 31,
The pattern period is 2 31 -1 bits, so it takes 21.5 seconds at worst until synchronization is established.
【0005】この発明の目的は、マーク率が1/2でな
い入力パターンと対応したもとのマーク率が1/2の擬
似ランダムパターンを再生することができるパターン再
生器を提供することを目的とする。このように入力パタ
ーンと対応したマーク率が1/2のパターンを再生する
ことができれば、その再生したマーク率が1/2のパタ
ーンを擬似ランダムパターン発生器内に入れて、この擬
似ランダムパターン発生器を自走状態とし、その擬似ラ
ンダムパターン発生器の発生擬似ランダムパターンから
入力パターンと対応したマーク率の基準パターンを作
り、その基準パターンと入力パターンとの比較を行う場
合短時間で入力パターンと同期した基準パターンを得る
ことができる。An object of the present invention is to provide a pattern reproducer capable of reproducing a pseudo random pattern having an original mark ratio of 1/2 corresponding to an input pattern having a mark ratio of not 1/2. I do. If a pattern with a mark rate of 1/2 corresponding to the input pattern can be reproduced in this way, the reproduced pattern with a mark rate of 1/2 is put into a pseudo-random pattern generator to generate the pseudo-random pattern. When the reference pattern and the input pattern are compared with the input pattern from the pseudo random pattern generated by the pseudo random pattern generator, and the reference pattern is compared with the input pattern, the input pattern is A synchronized reference pattern can be obtained.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】この発明によれば、入力
された入力パターンデータはマーク率再生回路におい
て、その入力パターンとこれをシフトしたパターンとの
論理和をとることによって部分的に再生されたマーク率
1/2の仮再生パターンが生成される。その仮再生パタ
ーンは擬似ランダムパターン発生回路に帰還データに変
えて入力され、又その仮再生パターン中の1は真を示す
データとして、擬似ランダムパターン発生回路のシフト
段数と同一段数を持つ循環形シフトレジスタからなる真
データ記憶回路に入力される。擬似ランダムパターン発
生回路内の帰還段と終段の各データが真であることが検
出されると、その時だけ擬似ランダムパターン発生回路
の帰還データがその入力側に帰還され、又真データ記憶
回路の入力側に真であるデータが書き込まれる。真デー
タ記憶回路における記憶データの状態によって、マーク
率1/2のパターンの再生が確立されたか否かの判定が
なされ、これが再生が確立されたと判定されると、擬似
ランダムパターン発生回路は帰還データを入力する自走
形に切り換えられる。According to the present invention, inputted input pattern data is partially reproduced in a mark ratio reproducing circuit by calculating the logical sum of the input pattern and the shifted pattern. A temporary reproduction pattern having a mark ratio of 1/2 is generated. The provisional reproduction pattern is input to the pseudo-random pattern generation circuit in the form of feedback data, and 1 in the provisional reproduction pattern is used as data indicating true as a cyclic shift having the same number of shift stages as the pseudo-random pattern generation circuit. The data is input to a true data storage circuit including a register. When it is detected that each data of the feedback stage and the final stage in the pseudo random pattern generation circuit is true, the feedback data of the pseudo random pattern generation circuit is fed back to the input side only at that time, and the true data storage circuit True data is written to the input side. It is determined whether or not the reproduction of the pattern having the mark rate of 1/2 has been established based on the state of the stored data in the true data storage circuit. If it is determined that the reproduction has been established, the pseudo-random pattern generation circuit outputs the feedback data. Is switched to the self-propelled type.
【0007】この発明の原理となるものを先ず説明す
る。擬似ランダムパターンは1と0の割合が同等であっ
て、マーク率が1/2と考えられる。実際には1周期の
ビット長が奇数であるため1/2から極わずか異なって
いる。マーク率が1/2の擬似ランダムパターンの隣り
合う2ビットについて順次論理積をとるとマーク率が1
/4のパターンとなり、隣り合う3ビットについて順次
論理積をとっていくとマーク率が1/8のパターンとな
る。即ち図10に示すように、マーク率が1/2のパタ
ーンの各ビットを順次D21、D22、D23、D24、D25と
し、これら各ビットがそれぞれ図に示すような1、0の
値をとった場合、これと対応したマーク率が1/4のパ
ターンの各ビットをそれぞれD41、D42、D43、D44と
するとき図に示すようなパターンとなる。ここでD41=
D21・D22、D42=D22・D23、D 43=D23・D24……
である。又マーク率が1/8のパターンのその各ビット
をD 81、D82、D83……とすると、前記マーク率が1/
2のパターンと対応したマーク率が1/8の時図に示す
ようになる。ここでD81=D21・D22・D23であり、D
82=D22・D23・D24であり、D83=D23・D24・D25
であり、以下同様である。First, the principle of the present invention will be described.
You. Pseudo-random patterns have the same ratio of 1 to 0
Therefore, the mark ratio is considered to be 1/2. Actually, one cycle
Because the bit length is odd, it is slightly different from 1/2
I have. Next to a pseudo-random pattern with a mark ratio of 1/2
When the logical AND is calculated for the two bits that match, the mark ratio becomes 1
/ 4 pattern, and successive 3 bits
When the logical product is taken, the mark rate becomes 1/8 pattern.
You. That is, as shown in FIG.
Each bit of thetwenty one, Dtwenty two, Dtwenty three, Dtwenty four, Dtwenty fiveWhen
Each of these bits is 1, 0 as shown in the figure.
Value, the mark rate corresponding to this value is 1/4
Each bit of the turn is D41, D42, D43, D44When
Then, the pattern becomes as shown in the figure. Where D41=
Dtwenty one・ Dtwenty two, D42= Dtwenty two・ Dtwenty three, D 43= Dtwenty three・ Dtwenty four......
It is. Also, each bit of the pattern whose mark rate is 1/8
To D 81, D82, D83..., the mark ratio is 1 /
The figure is shown when the mark ratio corresponding to the pattern No. 2 is 1/8.
Become like Where D81= Dtwenty one・ Dtwenty two・ Dtwenty threeAnd D
82= Dtwenty two・ Dtwenty three・ Dtwenty fourAnd D83= Dtwenty three・ Dtwenty four・ Dtwenty five
And so on.
【0008】このような関係にあるから、逆にマーク率
が1/4のパターンのビットD41が1であるということ
は、もとのマーク率が1/2のパターンのビットD21と
D22が共に1でなければならない。同様にマーク率が1
/8のパターンのビットD81が1であればもとのマーク
率が1/2のパターンのビットD21・D22・D23は共に
1でなければならない。そこでマーク率が1/4のパタ
ーンを、その各ビットの隣り合うものについて順次論理
和をとればマーク率が1/2のパターンに一部が再生さ
れることになる。同様にマーク率が1/8のパターンの
隣り合う3ビットについて順次論理和をとればマーク率
が1/2のパターンの一部が再生されることになる。[0008] Because in this context, that the bit D 41 of the pattern of the mark ratio conversely 1/4 is 1, bit D 21 and D of the pattern of the original mark ratio is 1/2 22 must both be 1 Similarly, the mark rate is 1
If the bit D 81 of the / 8 pattern is 1, the bits D 21 , D 22, and D 23 of the pattern having the original mark ratio of 共 に must be 1. Therefore, if a pattern having a mark rate of 1/4 is sequentially ORed with respect to adjacent patterns of each bit, a part of the pattern having a mark rate of 1/2 is reproduced. Similarly, if a logical sum is sequentially obtained for three adjacent bits of a pattern having a mark rate of 8, a part of the pattern having a mark rate of さ れ る is reproduced.
【0009】図10の関係から、マーク率1/2に再生
されたパターンが1の場合は、これが真であるから、こ
の情報を真データ記憶回路に保持し、この真データが擬
似ランダムパターン発生回路と同期して真データ記憶回
路内で循環シフトされ、擬似ランダムパターン発生回路
の帰還段と対応する真データ記憶回路のシフト段と終段
とが共に真データであればその時の擬似ランダムパター
ン発生回路の帰還データも真であるから、その時の擬似
ランダムパターン発生回路の帰還データをその入力側に
帰還入力し、又、真データであることを示すデータを真
データ記憶回路に入力し、且つその真データ記憶回路の
記憶データが全て真であることを示す状態になれば擬似
ランダムパターン発生回路のデータが入力パターンと対
応した正しいマーク率1/2のパターンとなったことに
なり、この状態で擬似ランダムパターン発生回路を自走
状態にすればよい。From the relationship shown in FIG. 10, when the pattern reproduced at the mark rate of 1/2 is 1, this is true, so this information is held in the true data storage circuit, and this true data is generated by the pseudo random pattern generation. If the shift stage and the final stage of the true data storage circuit corresponding to the feedback stage of the pseudo random pattern generation circuit and the shift stage and the end stage of the corresponding true data storage circuit are both true data, the pseudo random pattern generation at that time is performed. Since the feedback data of the circuit is also true, the feedback data of the pseudo-random pattern generation circuit at that time is fed back to its input side, and data indicating true data is input to the true data storage circuit, and If all the stored data in the true data storage circuit indicates a true state, the data in the pseudo-random pattern generation circuit is correct in accordance with the input pattern. Will be acquired a pattern of rate 1/2, a pseudo random pattern generating circuit may be set to the free-running state in this state.
【0010】[0010]
【実施例】図1にこの発明の実施例を示す。入力端子1
1からの1/2n のマーク率の入力パターンがマーク率
再生回路21に入力される。マーク率再生回路21にお
いて入力パターンと、これがシフトされたパターンとの
論理和がとられて、入力パターンと対応したマーク率1
/2のパターンに仮再生され、この仮再生パターンが擬
似ランダムパターン発生回路22に供給される。擬似ラ
ンダムパターン発生回路22は端子13のクロックと同
期して、つまり入力パターンとビット同期して動作する
が、最初の状態においては仮再生パターンがデータとし
て擬似ランダムパターン発生回路22に入力される。又
真データ記憶回路23が設けられる。真データ記憶回路
23は擬似ランダムパターン発生回路22と同一シフト
段を持つ循環形シフトレジスタから構成されており、端
子13のクロックによりシフト動作される。マーク率再
生回路21からの仮再生パターン中のビットが1の情報
が真データとして真データ記憶回路に入力される。真デ
ータ記憶回路23における擬似ランダムパターン発生回
路22の帰還段と対応するシフト段及び終段の両データ
が真であればこのことがアンド回路24で検出されてオ
ア回路26を通じて擬似ランダムパターン発生回路22
及び真データ記憶回路23にそのことが通知され、その
時だけ擬似ランダムパターン発生回路22は仮再生パタ
ーンに代えて自分の帰還データが入力側に帰還入力さ
れ、又真データ記憶回路23においては、真を示すデー
タ、つまり1が入力される。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. Input terminal 1
An input pattern having a mark rate of 1/2 n from 1 is input to the mark rate reproducing circuit 21. In the mark rate reproducing circuit 21, the logical sum of the input pattern and the shifted pattern is calculated, and the mark rate 1 corresponding to the input pattern is obtained.
/ 2 is provisionally reproduced into a pattern of / 2, and this provisionally reproduced pattern is supplied to the pseudo random pattern generation circuit 22. The pseudo-random pattern generation circuit 22 operates in synchronization with the clock of the terminal 13, that is, in bit synchronization with the input pattern. In the initial state, the temporary reproduction pattern is input to the pseudo-random pattern generation circuit 22 as data. Further, a true data storage circuit 23 is provided. The true data storage circuit 23 is composed of a cyclic shift register having the same shift stage as the pseudo-random pattern generation circuit 22, and is shifted by the clock of the terminal 13. Information in which the bit in the temporary reproduction pattern is 1 from the mark rate reproduction circuit 21 is input to the true data storage circuit as true data. If both the data at the shift stage and the last stage corresponding to the feedback stage of the pseudo-random pattern generation circuit 22 in the true data storage circuit 23 are true, this is detected by the AND circuit 24, and the pseudo-random pattern generation circuit 22
Then, the true data storage circuit 23 is notified of this fact, and only then is the pseudo random pattern generation circuit 22 fed back its own feedback data to the input side instead of the temporary reproduction pattern, and in the true data storage circuit 23, , Ie, 1 is input.
【0011】アンド回路24の出力はカウンタ25で計
数され、この計数値が所定値、つまり真データ記憶回路
23の全てのシフト段が全て1となったことが検出され
ると、擬似ランダムパターン発生回路22はその入力が
仮再生パターンから自己の帰還データに切り換えられて
自走状態とされる。これにより入力パターンと対応した
マーク率が1/2のパターンが再生されたことになる。The output of the AND circuit 24 is counted by a counter 25. When it is detected that the count value is a predetermined value, that is, that all the shift stages of the true data storage circuit 23 are all 1, a pseudo random pattern is generated. The input of the circuit 22 is switched from the temporary reproduction pattern to its own feedback data, and the circuit 22 is brought into a free running state. This means that a pattern corresponding to the input pattern and having a mark rate of 1/2 has been reproduced.
【0012】誤り率を検出する場合においては、擬似ラ
ンダムパターン発生回路22よりのパターン再生が確立
された擬似ランダムパターンが基準パターン変換回路3
1へ供給され、ここで入力パターンと同一のマーク率の
パターンの基準パターンに変換され、これが排他的論理
和回路12に供給される。一方、マーク率再生回路21
を通過した入力パターンはシフトレジスタ32におい
て、基準パターン変換回路31における遅れが調整され
たのち、排他的論理和回路12に供給されて基準パター
ンとの不一致、つまり誤りが検出される。When the error rate is detected, the pseudo-random pattern for which pattern reproduction has been established from the pseudo-random pattern generation circuit 22 is applied to the reference pattern conversion circuit 3.
1 and converted into a reference pattern of a pattern having the same mark rate as the input pattern, and this is supplied to the exclusive OR circuit 12. On the other hand, the mark rate reproducing circuit 21
The input pattern that has passed through is shifted by the shift register 32 in the reference pattern conversion circuit 31 and then supplied to the exclusive OR circuit 12 to detect a mismatch with the reference pattern, that is, an error.
【0013】マーク率再生回路21の具体例を図2に示
す。入力端子11からの入力パターンは極性制御回路3
7を介してシフトレジスタ38に供給される。シフトレ
ジスタ38は2段のシフトレジスタであって、その初段
38aと終段38bとからなり、終段38bよりの出力
はセレクタ39の入力端子D0 に供給されるとともに、
初段38aの出力との論理和がオア回路41でとられ
て、オア回路41の出力はセレクタ39の入力端子D1
に供給される。またオア回路41の出力とシフトレジス
タ38の入力との論理和がオア回路42でとられて、セ
レクタ39の入力端子D2 に供給される。セレクタ39
は端子43、44の制御信号A、Bが共に低レベルLの
ときは端子D0 の入力を出力し、制御信号Aが高レベル
H、制御信号Bが低レベルLの場合は入力端子D1 の入
力を出力し、制御信号Aが低レベル、制御信号Bが高レ
ベルの時は入力端子D2 の入力を出力する。入力端子D
0 よりの信号は入力パターンと同一であり、これは入力
パターンのマーク率が1/2の場合この入力端子D0 が
選択される。FIG. 2 shows a specific example of the mark ratio reproducing circuit 21. The input pattern from the input terminal 11 is the polarity control circuit 3
7 to the shift register 38. The shift register 38 is a two-stage shift register, and includes a first stage 38a and a last stage 38b. An output from the last stage 38b is supplied to an input terminal D 0 of a selector 39.
The logical sum with the output of the first stage 38 a is obtained by the OR circuit 41, and the output of the OR circuit 41 is input to the input terminal D 1 of the selector 39.
Supplied to The OR of the output of the OR circuit 41 and the input of the shift register 38 is calculated by the OR circuit 42 and supplied to the input terminal D 2 of the selector 39. Selector 39
Control signal A of terminals 43, 44, B outputs the input terminals D 0 when both of the low level L, the control signal A is high H, when the control signal B is at the low level L input terminal D 1 outputs of the input, the control signal a is at a low level, the control signal B is at high level and outputs the input of the input terminal D 2. Input terminal D
Signal from 0 is the same as the input pattern, which is the mark ratio of the input pattern is the input terminal D 0 when 1/2 is selected.
【0014】オア回路41の出力は隣接ビットの論理和
が順次とられたものであり、マーク率が1/4の入力パ
ターンの一部がマーク率1/2のパターンに再生され、
従ってマーク率が1/4の入力パターンの場合は入力端
子D1 が選択される。オア回路42の出力は隣接する3
つのビットの論理和が順次ずらされてとられ、従ってマ
ーク率が1/8の入力パターンの一部がオア回路42で
マーク率1/2のパターンとして再生され、マーク率が
1/8の入力パターンの場合は入力端子D2 が選択され
る。入力パターンのマーク率が3/4の場合は極性制御
端子45を高レベルとして極性制御回路37の排他的論
理和回路によって入力パターンの極性を反転して、マー
ク率が1/4のパターンに変換してシフトレジスタ38
に供給する。同様に入力パターンのマーク率が7/8の
場合は、端子45を高レベルHとして入力パターンの極
性を反転してマーク率が1/8のパターンとしてシフト
レジスタ38に供給する。セレクタ39の出力はマーク
率再生回路21の出力として擬似ランダムパターン発生
回路22へ供給される。又、シフトレジスタ38の出力
はマーク率再生回路21を通過した入力パターンとして
シフトレジスタ32へ供給される。The output of the OR circuit 41 is obtained by sequentially taking the logical sum of adjacent bits, and a part of the input pattern having the mark rate of 1/4 is reproduced into a pattern having the mark rate of 1/2.
Therefore, when the mark rate is 1/4 of the input pattern input terminal D 1 is selected. The output of the OR circuit 42 is
The logical sum of the two bits is sequentially shifted, so that a part of the input pattern having the mark rate of 1/8 is reproduced by the OR circuit 42 as a pattern having the mark rate of 1/2, and the input pattern having the mark rate of 1/8 is input. If pattern input terminal D 2 is selected. When the mark ratio of the input pattern is 3/4, the polarity of the input pattern is inverted by the exclusive OR circuit of the polarity control circuit 37 by setting the polarity control terminal 45 to the high level, and the mark ratio is converted to a pattern of 1/4. Shift register 38
To supply. Similarly, when the mark ratio of the input pattern is 7/8, the polarity of the input pattern is inverted by setting the terminal 45 to the high level H and supplied to the shift register 38 as a pattern with the mark ratio of 1/8. The output of the selector 39 is supplied to the pseudo random pattern generation circuit 22 as the output of the mark ratio reproduction circuit 21. The output of the shift register 38 is supplied to the shift register 32 as an input pattern having passed through the mark rate reproducing circuit 21.
【0015】擬似ランダムパターン発生回路22は、例
えば図3に示すようにシフト段が461 乃至46N のN
段のシフトレジスタ46を備え、そのN段目46 N の出
力とK段目46 K の出力との排他的論理和が回路47で
とられ、この出力は、入力選択回路48においてマーク
率再生回路21よりの仮再生パターンとのいずれかが選
択されて初段461 に供給される。The pseudo-random pattern generation circuit 22 has N shift stages of 46 1 to 46 N , for example, as shown in FIG.
A shift register 46 is provided, and an exclusive OR of an output of the N-th stage 46 N and an output of the K-th stage 46 K is obtained by a circuit 47. either the temporary reproduction pattern than 21 is supplied is selected in the first stage 46 1.
【0016】つぎに図4を参照して真データ記憶回路2
3の具体例を説明する。この真データ記憶回路23は循
環型シフトレジスタ51を備え、このシフト段511 乃
至51N は擬似ランダムパターン発生回路22のシフト
段数Nと等しくされており、且つ、端子13のクロック
でシフトされる。又、終段51N の出力はオア回路52
を介して初段511 の入力側に帰還されており、循環型
シフトレジスタとして構成されている。マーク率再生回
路21の仮再生パターンがアンド回路53の一方の入力
として与えられ、このアンド回路53の他方の入力とし
てアンド回路24の出力がオア回路26を通じて反転し
て与えられている。従って、アンド回路24の出力が0
の状態においては仮再生パターンの内、ビット1につい
てはこれは真データであるので、アンド回路53を通
じ、更にオア回路52を通じて、最初のシフト段511
に真を示すデータとして入力される。真データ記憶回路
23の擬似ランダムパターン発生回路22の帰還段46
K と同一シフト段51K の出力と、終段51N の出力と
が、アンド回路24に供給される。このデータが共に真
を示すもの、1であれば、その時擬似ランダムパターン
発生回路22の帰還データ、つまり排他的論理和回路4
7の出力も真である。従って、これらシフト段51K ,
51N のデータが真であると、アンド回路24の出力が
1となり、この1によってアンド回路53は禁止され
て、替わりにオア回路52を通じて真であることを示す
データ1が初段シフト段511 に入力される。Next, referring to FIG.
A specific example 3 will be described. The true data storage circuit 23 comprises a circulating shift register 51, the shift stage 51 1 to 51 N is equal to the number of shift stages N of the pseudo random pattern generator circuit 22, and is shifted at the clock terminal 13 . The output of the final stage 51 N is connected to an OR circuit 52.
It is fed back to the input side of the stage 51 1 through, and is configured as a circular shift register. The provisional reproduction pattern of the mark ratio reproduction circuit 21 is provided as one input of an AND circuit 53, and the output of the AND circuit 24 is inverted and supplied through the OR circuit 26 as the other input of the AND circuit 53. Therefore, the output of the AND circuit 24 becomes 0
In the state (1), bit 1 of the provisional reproduction pattern is true data, so the first shift stage 51 1 is passed through the AND circuit 53 and the OR circuit 52.
Is input as data indicating true. Feedback stage 46 of pseudo-random pattern generation circuit 22 of true data storage circuit 23
The output of the same shift stage 51 K and K, and the output of the final stage 51 N is supplied to the AND circuit 24. If the data both indicate true, and if 1, the feedback data of the pseudo-random pattern generation circuit 22, that is, the exclusive OR circuit 4
The output of 7 is also true. Therefore, these shift stages 51 K ,
51 When N data is true, the output becomes 1 of the AND circuit 24, AND circuit 53 by the 1 is inhibited and data 1 stage shift stage 51 indicating the true through the OR circuit 52 in place 1 Is input to
【0017】またこのようにして擬似ランダムパターン
発生回路22の帰還データが真であることが検出される
ごとに、擬似ランダムパターン発生回路22に対しても
その時の帰還データが入力選択回路を通じてシフトレジ
スタ46の入力側に帰還される。この帰還データが真で
あることが検出されるとそのことが図1のカウンタ25
で計数され、よって真データ記憶回路23内の全シフト
段が全て1になった時には、擬似ランダムパターン発生
回路22の各シフト段のデータも真となったことにな
る。この時マーク率1/2のパターンが再生され、よっ
てこの状態で擬似ランダムパターン発生回路22が自走
状態に切り換えられる。Each time the feedback data of the pseudo-random pattern generation circuit 22 is detected to be true, the feedback data at that time is also sent to the pseudo-random pattern generation circuit 22 through the input selection circuit. It is fed back to the input side of 46. When it is detected that the feedback data is true, this is detected by the counter 25 in FIG.
Thus, when all the shift stages in the true data storage circuit 23 have all become 1, the data of each shift stage of the pseudo random pattern generation circuit 22 has also become true. At this time, the pattern having the mark rate of 1/2 is reproduced, and in this state, the pseudo random pattern generating circuit 22 is switched to the self-running state.
【0018】基準パターン変換回路31は、例えば図5
に示すように構成される。即ちパターン再生が確立され
た状態の擬似ランダムパターン発生回路22よりの擬似
ランダムパターンが2段のシフトレジスタ64に供給さ
れ、そのシフトレジスタは端子13よりのクロックによ
ってシフトされ、その終段のシフト段642 の出力がセ
レクタ65の入力端子D0 に供給され、これとともに初
段のシフト段641 の出力との論理積が回路66でとら
れて、回路66の出力がセレクタ65の入力端子D1 に
供給され、この回路66の出力とシフトレジスタ64の
入力との論理積が回路67でとられ、その出力がセレク
タ65の入力端子D2 に供給される。セレクタ65は端
子43、44の制御信号A、Bによりその入力が選択さ
れるが、この入力の選択は図2におけるセレクタ39に
対する選択と同様に行われる。セレクタ65の出力は排
他的論理和回路12に基準パターンとして供給される。The reference pattern conversion circuit 31 is, for example, as shown in FIG.
It is configured as shown in FIG. That is, the pseudo-random pattern from the pseudo-random pattern generation circuit 22 in the state where the pattern reproduction is established is supplied to the two-stage shift register 64, which is shifted by the clock from the terminal 13, and the last shift stage 64 output 2 is supplied to the input terminal D 0 of the selector 65, which together with the logical product of the output of the first shift stage 64 1 is taken in the circuit 66, the input terminal D 1 of the output selector 65 of the circuit 66 The AND of the output of this circuit 66 and the input of the shift register 64 is obtained by the circuit 67, and the output is supplied to the input terminal D 2 of the selector 65. The input of the selector 65 is selected by the control signals A and B of the terminals 43 and 44, and the selection of this input is performed in the same manner as the selection of the selector 39 in FIG. The output of the selector 65 is supplied to the exclusive OR circuit 12 as a reference pattern.
【0019】アンド回路66においては隣接する2ビッ
トの論理積が順次とられてマーク率が1/4のパターン
として出力される。アンド回路67においては、隣接す
る3つの論理積が順次とられてマーク率1/8のパター
ンとされて出力される。このようにして得られた基準パ
ターンと入力パターンとが排他的論理和回路12におい
て比較されることになる。In the AND circuit 66, the logical product of adjacent two bits is sequentially obtained and output as a pattern having a mark rate of 1/4. In the AND circuit 67, the three adjacent logical products are sequentially obtained and output as a pattern having a mark rate of 1/8. The reference pattern thus obtained and the input pattern are compared in the exclusive OR circuit 12.
【0020】次に同期制御回路17の具体例を図6を参
照して説明する。端子18からの起動信号はオア回路6
8を通じてリセット信号として端子19に供給される。
一方、誤り検出回路である排他的論理和回路12の出力
は、カウンタ71のイネーブル端子に供給され、誤りが
検出されるとカウンタ71がイネーブル状態となる。
又、端子13よりのクロックがゲート72を通じてカウ
ンタ71及び73に計数入力として与えられる。カウン
タ73は常時動作可能とされており、従ってクロックの
数を計数し、つまり入力パターンのビット数が計数され
るが、カウンタ71は誤りが検出されたときだけ計数可
能となるから、カウンタ71は誤ったビット数が計数さ
れることになる。カウンタ71の計数値が所定値よりも
大きくなるとその出力がオア回路68を通じてリセット
信号として端子19に供給され、各部がリセットされ
る。つまり誤りが著しく多い場合は基準パターンと入力
パターンとが同期していないと判定されて初期状態に戻
される。カウンタ71の出力はオア回路74を通じてD
型フリップフロップ75にも供給され、従って、次のク
ロックによってD型フリップフロップ75にカウンタ7
1の出力がとりこまれて、その出力はオア回路76を通
じてカウンタ71、73のリセット端子へ与えられてこ
れらがリセットされる。オア回路76には端子18から
の起動信号も与えられている。カウンタ73が所定値に
達すると、この所定計数値はカウンタ71の所定計数値
より著しく大きな値であり、この所定値に達したときカ
ウンタ73より出力が生じ、これはオア回路74に供給
されるとともにD型フリップフロップ77をトリガし
て、その高レベルがD型フリップフロップ77に取り込
まれ、D型フリップフロップ77は端子78に同期確立
信号を出力する。Next, a specific example of the synchronization control circuit 17 will be described with reference to FIG. The start signal from the terminal 18 is the OR circuit 6
8 to the terminal 19 as a reset signal.
On the other hand, the output of the exclusive OR circuit 12, which is an error detection circuit, is supplied to an enable terminal of the counter 71, and when an error is detected, the counter 71 is enabled.
The clock from the terminal 13 is supplied to the counters 71 and 73 through the gate 72 as a count input. The counter 73 is always operable, and therefore counts the number of clocks, that is, the number of bits of the input pattern. However, the counter 71 can count only when an error is detected. An incorrect number of bits will be counted. When the count value of the counter 71 becomes larger than a predetermined value, its output is supplied to the terminal 19 as a reset signal through the OR circuit 68, and each unit is reset. That is, if the number of errors is extremely large, it is determined that the reference pattern and the input pattern are not synchronized, and the state is returned to the initial state. The output of the counter 71 is supplied to the D
The flip-flop 75 is also supplied to the D flip-flop 75 by the next clock.
The output of 1 is taken in, and the output is supplied to the reset terminals of the counters 71 and 73 through the OR circuit 76, and these are reset. The OR circuit 76 is also supplied with a start signal from the terminal 18. When the counter 73 reaches a predetermined value, the predetermined count value is significantly larger than the predetermined count value of the counter 71, and when the counter value reaches the predetermined value, an output is generated from the counter 73, which is supplied to the OR circuit 74. At the same time, the D-type flip-flop 77 is triggered, and its high level is captured by the D-type flip-flop 77, and the D-type flip-flop 77 outputs a synchronization establishment signal to the terminal 78.
【0021】先に示した図10の関係から、再生パター
ンの任意のビットDK が1の場合は前述したように真で
あり、又、1の隣の0であった場合も真であるから、結
局この任意のビットDK が真である条件は、その前のビ
ットDK-1 と当該ビットDKと次のビットDK+1 との論
理和が1であればよい。従って図7Aに図1と対応する
部分に同一符号を付けて示すように、マーク率再生回路
21よりの仮再生パターンを3ビットのシフトレジスタ
54へ入力し、その真ん中のシフト段の出力を擬似ラン
ダムパターン発生回路22へ供給するとともに、このシ
フトレジスタ54の3つのシフト段の各出力をオア回路
55に供給し、そのオア回路55の出力を真データ記憶
回路23に供給する。このようにすれば、注目ビットの
前後からも真データの判断が行われ、つまり注目データ
が0の場合もその隣が1であれば真データとされて、真
データ記憶回路23に1が入力され、真データ記憶回路
23内の各シフト段が1になるのが図1の場合よりも速
くなる。[0021] From the relationship of FIG. 10 indicated above, regeneration if any bit D K pattern 1 is true, as mentioned above, also, because even if it was 0 in the first neighbor is true After all, the condition that this arbitrary bit DK is true is only required that the logical sum of the previous bit DK-1 , the relevant bit DK and the next bit DK + 1 is 1. Therefore, as shown in FIG. 7A with the same reference numerals given to the parts corresponding to FIG. 1, the provisional reproduction pattern from the mark rate reproduction circuit 21 is input to the 3-bit shift register 54, and the output of the middle shift stage is pseudo. In addition to supplying to the random pattern generation circuit 22, the outputs of the three shift stages of the shift register 54 are supplied to the OR circuit 55, and the output of the OR circuit 55 is supplied to the true data storage circuit 23. In this way, true data is also determined from before and after the bit of interest. That is, even when the data of interest is 0, it is regarded as true data if its neighbor is 1, and 1 is input to the true data storage circuit 23. Thus, it becomes faster for each shift stage in the true data storage circuit 23 to become 1 than in the case of FIG.
【0022】図7Bに図1と対応する部分に同一符号を
付けて示すように、擬似ランダムパターン発生回路22
の帰還シフト段46K のビットが真であることを検出す
る回路56と終段46N のデータが真であることを検出
する回路57とを設け、この真検出回路56、57が共
に真であることを検出したときは、その時の擬似ランダ
ムパターン発生回路22の帰還データは真であるから、
その帰還データが帰還されるように回路56、57の出
力の論理積をアンド回路58でとり、その時のアンド回
路58の出力により擬似ランダムパターン発生回路22
の入力をその時だけ仮再生パターンから帰還データ側に
切替え、又、真データ記憶回路23も1を入力する。
又、先に示した場合の実施例についても言えることであ
るが、この例においては真データ記憶回路23の全ての
シフト段511 乃至51N の全データの論理積をアンド
回路59でとって、このアンド回路29の出力が高レベ
ルになったときに擬似ランダムパターン発生回路22を
自走状態にする。尚、初期状態から行う場合に擬似ラン
ダムパターン発生回路22の内部は全て0となってお
り、この状態で真検出回路56、57が誤って真を検出
しないように、端子19からのリセット信号によりカウ
ンタ61をリセットし、このカウンタ61で端子13の
クロックを計数し、これが擬似ランダムパターン発生回
路22のシフト段数Nだけ計数すると、カウンタ61の
出力で真検出回路56、57が有効になるようにする。As shown in FIG. 7B by assigning the same reference numerals to parts corresponding to those in FIG.
And a circuit 57-bit feedback shift stage 46 K detects the data of the circuit 56 and output stage 46 N for detecting that the true is true provided, the true detection circuit 56 and 57 are both true When it is detected that the data is present, the feedback data of the pseudo-random pattern generation circuit 22 at that time is true.
The AND of the outputs of the circuits 56 and 57 is obtained by the AND circuit 58 so that the feedback data is fed back, and the pseudo-random pattern generation circuit 22
Is switched from the temporary reproduction pattern to the feedback data side only at that time, and the true data storage circuit 23 also inputs 1.
Further, As is true also for the embodiment of the case shown above, by taking the logical product of all the data of all the shift stages 51 1 to 51 N of the true data storage circuit 23 in this example an AND circuit 59 When the output of the AND circuit 29 is at a high level, the pseudo-random pattern generation circuit 22 is brought into a self-running state. Note that when the operation is performed from the initial state, the inside of the pseudo-random pattern generation circuit 22 is all 0. In this state, the reset signal from the terminal 19 is used so that the true detection circuits 56 and 57 do not erroneously detect true. The counter 61 is reset, and the counter 61 counts the clock at the terminal 13. When the counter 61 counts the number of shift stages N of the pseudo random pattern generation circuit 22, the true detection circuits 56 and 57 are enabled by the output of the counter 61. I do.
【0023】真検出回路56、57の具体例を図8に示
す。擬似ランダムパターン発生回路22の各シフト段4
6K-2 乃至46K+2 の各データ、DK-2 乃至DK+2 が入
力され、そのDK-1 とDK とDK+1 との論理和がオア回
路81でとられ、DK-2 とD K-1 との論理積がアンド回
路82でとられ、DK-1 とDK+1 との論理積がアンド回
路83でとられ、DK+1 とDK+2 の論理積がアンド回路
84でとられ、アンド回路82、83、84の出力とD
K との論理和がオア回路85でとられ、オア回路81、
85はそれぞれゲート86、87に供給され、ゲート8
6は端子43の制御信号Aで開かれ、つまりこの場合は
入力パターンがマーク率1/4の場合であり、ゲート4
7は端子44の制御信号Bで開かれ、この場合は入力パ
ターンがマーク率1/8の場合であり、ゲート86、8
7の出力はオア回路88を通じてゲート89へ供給され
る。ゲート89はカウンタ61の出力によって禁止が解
除され、つまり開かれてオア回路88の出力が出力され
るようにされる。最終段46N のデータが真であること
を検出する真検出回路57も図8と同様に構成され、こ
の場合はその入力データがDK-2 乃至DK+2 に対してD
N-2 乃至DN+2 が入力されるものとなる。従ってこの場
合は、擬似ランダムパターン発生回路22としては終段
46N の後段に2つシフト段を直列に接続しておく必要
がある。FIG. 8 shows a specific example of the true detection circuits 56 and 57.
You. Each shift stage 4 of the pseudo-random pattern generation circuit 22
6K-2To 46K + 2Each data, DK-2Or DK + 2Enters
Forced, its DK-1And DKAnd DK + 1OR is OR times
Taken at road 81, DK-2And D K-1AND with AND
Taken at road 82, DK-1And DK + 1AND with AND
Taken at road 83, DK + 1And DK + 2AND of AND circuit
84 and the outputs of AND circuits 82, 83, 84 and D
KIs ORed with OR circuit 85, and OR circuit 81,
85 is supplied to gates 86 and 87, respectively, and
6 is opened by the control signal A of the terminal 43, that is, in this case,
In the case where the input pattern has a mark rate of 1/4, the gate 4
7 is opened by the control signal B of the terminal 44, and in this case, the input
In the case where the turn has a mark rate of 1/8, the gates 86 and 8
7 is supplied to a gate 89 through an OR circuit 88.
You. Gate 89 is disabled by the output of counter 61.
The output of the OR circuit 88 is output.
To be done. Last stage 46NThat the data is true
Is also configured in the same manner as in FIG.
If the input data is DK-2Or DK + 2Against D
N-2Or DN + 2Is input. So this place
In this case, the final stage
46NNeed to connect two shift stages in series after
There is.
【0024】上述においてはこの発明の入力パターンが
マーク率1/4、1/8、3/4、7/8の場合につい
て述べたが、一般に1/2n の場合にも適応でき、この
場合マーク率再生回路においては入力パターンと、その
それぞれ1ビットずつシフトしたパターンとで全体でn
列のパターン系列を作り、対応するものの論理和をとれ
ばよい。[0024] While the input pattern of the present invention in the above has been described for the case of the mark rate 1 / 4,1 / 8,3 / 4,7 / 8, also adapted to the case of general 1/2 n, in this case In the mark ratio reproducing circuit, the input pattern and the pattern shifted by one bit each are n
What is necessary is just to create a pattern sequence of columns and take the logical sum of the corresponding ones.
【0025】[0025]
【発明の効果】以上述べたようにこの発明によれば、入
力パターンをマーク率1/2のパターンに再生し、これ
を擬似ランダムパターン発生回路に入力するとともに、
その擬似ランダムパターン発生回路の各シフト段と対応
してこれが真であるかどうかを記憶し、その擬似ランダ
ムパターン発生回路における帰還データが真であること
を検出すると、これと対応してその真データを擬似ラン
ダムパターン発生回路にその時帰還し、又、真データ記
憶回路に真データを入れることにより真データ記憶回路
においてその全てのシフト段が真データを表す状態にな
ったとき、擬似ランダムパターン発生回路の状態は入力
パターンデータと対応したマーク率1/2のパターンと
なり、これより擬似ランダムパターン発生回路は自走状
態とされる。従って、更にこれより入力データと対応し
たマーク率の基準データを作る場合、各1ビットずつシ
フトする必要はなく、極めて短時間で基準データを作る
ことができる。As described above, according to the present invention, an input pattern is reproduced into a pattern having a mark rate of 1/2, which is input to a pseudo-random pattern generating circuit.
Whether or not this is true is stored in correspondence with each shift stage of the pseudo-random pattern generation circuit, and when it is detected that the feedback data in the pseudo-random pattern generation circuit is true, the true data is correspondingly stored. Is then fed back to the pseudo-random pattern generation circuit, and when all the shift stages in the true data storage circuit represent true data in the true data storage circuit, the pseudo-random pattern generation circuit Is a pattern with a mark rate of 1/2 corresponding to the input pattern data, and the pseudo-random pattern generation circuit is in a self-running state. Therefore, when the reference data having the mark ratio corresponding to the input data is further generated, it is not necessary to shift each bit, and the reference data can be generated in a very short time.
【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]
【図1】この発明の実施例を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
【図2】図1中のマーク率再生回路21の具体例を示す
ブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing a specific example of a mark ratio reproducing circuit 21 in FIG. 1;
【図3】図1中の擬似ランダムパターン発生回路22の
具体例を示すブロック図。FIG. 3 is a block diagram showing a specific example of a pseudo random pattern generation circuit 22 in FIG. 1;
【図4】図1中の真データ記憶回路23の具体例を示す
ブロック図。FIG. 4 is a block diagram showing a specific example of a true data storage circuit 23 in FIG. 1;
【図5】図1中の基準パターン変換回路31の具体例を
示すブロック図。FIG. 5 is a block diagram showing a specific example of a reference pattern conversion circuit 31 in FIG. 1;
【図6】図1中の同期制御回路17の具体例を示すブロ
ック図。FIG. 6 is a block diagram showing a specific example of a synchronization control circuit 17 in FIG. 1;
【図7】この発明の他の実施例を示すブロック図。FIG. 7 is a block diagram showing another embodiment of the present invention.
【図8】図7B中の真値検出回路56の具体例を示す論
理回路図。FIG. 8 is a logic circuit diagram showing a specific example of a true value detection circuit 56 in FIG. 7B.
【図9】従来のビット誤り率検出回路を示すブロック
図。FIG. 9 is a block diagram showing a conventional bit error rate detection circuit.
【図10】従来のマーク率1/2のパターンと、これと
対応したマーク率1/4、マーク率1/8のパターンと
の関係例を示す図。FIG. 10 is a diagram showing an example of the relationship between a conventional pattern having a mark rate of 2 and a corresponding pattern having a mark rate of 、 and a mark rate of 8.
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H03K 3/84 Continuation of front page (58) Fields surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) H03K 3/84
Claims (1)
て、これと対応するマーク率が1/2のパターンを再生
するパターン再生器であって、 上記入力パターンと、これをシフトしたパターンとの論
理和をとって、マーク率1/2の仮再生パターンを作る
マーク率再生回路と、 上記入力パターンとビット同期して擬似ランダムパター
ンを発生する擬似ランダムパターン発生回路と、 上記擬似ランダムパターンと同一シフト段を持つ循環形
シフトレジスタからなり、上記擬似ランダムパターン発
生回路と同期してシフトされ、上記マーク率再生回路よ
りの仮再生パターン中の1が真データとして入力される
真データ記憶回路と、 上記擬似ランダムパターン発生回路の帰還段と終段のデ
ータが共に真データであれば、そのときの上記擬似ラン
ダムパターン発生回路の帰還データを、上記仮再生パタ
ーンに代えて帰還入力するとともに、上記真データ記憶
回路に真データを書き込む手段と、 上記真データ記憶回路の全てのシフト段が真データとな
ると、上記擬似ランダムパターン発生回路の入力を、上
記仮再生パターンから、その帰還データに切り換えて擬
似ランダムパターン発生回路を自走状態とする手段と、 を具備するマーク率1/2パターン再生器。1. A pattern reproducing device for inputting a pattern having a mark rate of 1/2 n and reproducing a pattern having a mark rate of 1/2 corresponding thereto, wherein the input pattern and a pattern obtained by shifting the input pattern A mark rate reproducing circuit for generating a temporary reproduction pattern having a mark rate of 1/2 by taking the logical sum of the above, a pseudo random pattern generating circuit for generating a pseudo random pattern in bit synchronization with the input pattern, and a pseudo random pattern And a cyclic shift register having the same shift stage as the above, shifted in synchronization with the pseudo-random pattern generation circuit, and a true data storage circuit into which 1 in the provisional reproduction pattern from the mark rate reproduction circuit is input as true data. If the data at the feedback stage and the final stage of the pseudo random pattern generation circuit are both true data, the pseudo random pattern at that time is true. Means for feeding back the feedback data of the turn generation circuit in place of the temporary reproduction pattern and writing the true data in the true data storage circuit; and when all shift stages of the true data storage circuit become true data, Means for switching the input of the pseudo-random pattern generation circuit from the temporary reproduction pattern to the feedback data to make the pseudo-random pattern generation circuit self-running.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990629 |
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