JP2952168B2 - 電波暗室設備 - Google Patents

電波暗室設備

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JP2952168B2
JP2952168B2 JP28258994A JP28258994A JP2952168B2 JP 2952168 B2 JP2952168 B2 JP 2952168B2 JP 28258994 A JP28258994 A JP 28258994A JP 28258994 A JP28258994 A JP 28258994A JP 2952168 B2 JP2952168 B2 JP 2952168B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、他の電子機器に電波障
害を与える電波雑音を発生する機器の放射雑音電界強度
を測定したり、電子機器に強電磁界の電波を照射して誤
動作を試験する場合等に使用する電磁波シールド付き電
波暗室を具備した電波暗室設備に係り、とくに前記放射
雑音電界強度測定及び誤動作試験等において試験に供す
る機器(供試機)と有線による接続をして動作する機器
(対向機)を含む試験を実施するための電波暗室設備に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来は放射雑音電界強度測定及び誤動作
試験において、試験に供する機器又は機器システムのみ
の単体の試験が大部分であった。最近、試験に供する機
器又は機器システム、即ち供試機と、対向機と呼ばれる
機器又は機器システム間とを接続して、実際の動作状態
と同じ条件下での試験が要求される場合がある。例え
ば、供試機がファクシミリ装置で、対向機となる相手側
機器に接続された状態で試験を行いたい場合や、供試機
がコンピュータで制御される機器であって、対向機とな
るコンピュータが接続状態になっていないと試験ができ
ない場合等である。
【0003】このような対向機と接続した供試機の試験
において、対向機は供試機が本来置かれる位置から離れ
た場所に設置し、対向機からの放射雑音電界強度、対向
機の強電界に起因する誤動作等により本来試験されるべ
き供試機である機器又は機器システムの上記試験に影響
を与えないようにする必要がある。
【0004】一般に、放射雑音電界強度測定用の電波暗
室の床面は、電波吸収体の設置されない反射面となって
いて、供試体を設置し回転させながら測定するためのタ
ーンテーブルの表面もこの反射面と同一となっている、
いわゆる埋め込み型となっている場合が多い。小型の機
器の対向機を伴った試験では、この埋め込みタイプのタ
ーンテーブルの内に対向機を設置することもあるが、大
型の対向機に対する搬入方法の問題、及びターンテーブ
ルの下側の空間であるターンテーブル収納用ピットが電
波暗室の電磁波シールドと分離されていない問題があ
る。
【0005】また、電波暗室において前記測定、試験を
行う為に、電波暗室とは独立して、試験時に人員、試験
用測定器、コンピュータ等を収容するための電磁波シー
ルド付きの計測室を設置する例も多く、この部屋に対向
機を置くことが考えられるがこれらの人員、試験用測定
器、コンピュータによる対向機への影響、また対向機が
試験用測定器、コンピュータに及ぼす影響の問題があ
る。
【0006】実開平1−78099号等で、電波吸収体
を貼付けた可動式衝立により電波暗室を分割し二つの目
的に使う例が示されているが、これらの例では電波暗室
の持つ二つの働き、即ち(1)室内を電磁波の無反射状態
とする働き、(2)電磁波シールドを施し、外来又は内部
で使う電磁波を外部から遮断する働きのうちの(1)のみ
に着目し、部屋を二つに分けているにすぎず、(2)の電
磁波シールド的に分割することは考慮されていない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、対向機を伴
った放射雑音電界強度及び誤動作試験において、対向機
を接続した状態での測定、試験では、次のような解決す
べき課題がある。
【0008】(1) 対向機は、試験に供する機器、即ち
供試機が設置される電波暗室と別の空間に設置される必
要がある。これは、一つには対向機自体が反射体になり
電波暗室の無響特性を損なう問題、他は放射雑音源又は
誤動作の原因となることによる。
【0009】(2) 前(1)項の放射雑音源又は誤動作の源
となることを解決するについては、電波暗室を囲む電磁
波シールドと分離された独立の電磁波シールド空間内に
対向機が設置される必要がある。
【0010】(3) 前(2)項の対向機用電磁波シールド室
は、供試機と対向機を接続する為の線路を通す接続通路
を持つ必要があり、この接続通路自体も外部との電磁波
シールドの為に電磁波シールド材で覆われた構造とする
必要がある。
【0011】(4) 前(3)の接続通路の開口寸法(断面寸
法)により電磁波が伝播しない遮断周波数があり、この
周波数以下では二つの電磁波シールド空間相互の独立は
保たれたが、供試機と対向機を接続するための線路を通
すことにより、同軸管と同様な現象で遮断周波数以下で
も電磁波が伝播し両者の独立が保たれなくなる。
【0012】(5) 供試機−対向機間を接続する線路の
長さが、試験に影響する場合がある。特に実際に使用さ
れる場合より線路長が長いときは、問題を起こすことが
ある。
【0013】(6) 対向機用電磁波シールド室内は、当
該室内に設置される他の機器や人員等の影響が考えられ
るので、計測室や他の目的の電磁波シールド室との併用
でなく独立又は独立とできるような構造とする必要があ
る。
【0014】(7) 供試機と対向機の接続用線路は、供
試機と対向機の組み合わせ(ペア)間で固有である。従っ
て、供試機の種類、例えば型式や製造業者が異なる場合
毎に接続用線路を供試機に合わせて交換する必要が生
じ、線路を固定して設置できない場合が多い。
【0015】本発明は、上記の点に鑑み、対向機を伴っ
た供試機の放射雑音電界試験や誤動作試験等における諸
問題を解決することが可能な電波暗室設備を提供するこ
とを目的とする。
【0016】本発明のその他の目的や新規な特徴は後述
の実施例において明らかにする。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、供試機と接続された対向機を含む試験、
測定を行う電磁波シールド付き電波暗室を具備する電波
暗室設備において、前記対向機を収納する電磁波シール
ド室を、前記供試機を収納する前記電波暗室と独立して
設け、前記供試機と前記対向機とを接続する線路を通す
通路を少なくとも一個所持ち、該通路を外部に対し電磁
波シールドした構造とし、該通路に少なくとも一個所の
電磁波遮断構造を設けた構成としている。
【0018】前記電磁波遮断構造は交換自在な構成とし
てもよい。
【0019】前記電波暗室はターンテーブルを有してい
て、該ターンテーブルの下方に前記電磁波シールド室が
配置されていてもよい。
【0020】
【作用】本発明の電波暗室設備は、対向機を収納する電
磁波シールド室を、電波暗室から独立した電磁波シール
ド空間とし、電波暗室との間の線路接続用の通路を設け
るとともに該通路に電磁波遮断構造を設けることによ
り、対向機を伴った供試機の放射雑音電界強度試験及び
誤動作試験において対向機の影響を少なくし、試験の目
標としている供試機の実際の動作状態における性能評価
を確実に実行できる。
【0021】前記電磁波遮断構造が交換自在となってい
る場合、供試機と対向機との相互接続用の線路の種類に
応じて最適な電磁波遮断構造を選択して前記通路に装着
でき、供試機及び対向機の組の多様性に対応することが
可能である。
【0022】また、前記電波暗室内のターンテーブルの
下方に前記電磁波シールド室を配置した場合、ターンデ
ーブル上に載置された供試機に対し最短距離で対向機を
接続可能であり、供試機と対向機とを結ぶ線路長に制約
がある場合にも、所望の線路長の範囲内で測定を実施で
きる。
【0023】
【実施例】以下、本発明に係る電波暗室設備の実施例を
図面に従って説明する。
【0024】図1乃至図7で本発明に係る電波暗室設備
の第1実施例を説明する。図1は供試機を収納するため
の電波暗室と対向機を収納するための電磁波シールド室
とを具備した電波暗室設備の全体構成を示し、図2乃至
図7は電波暗室と電磁波シールド室間に線路を通すため
の接続通路及びこれに付随する機構部分を示す。
【0025】図1の全体構成において、1は電磁波シー
ル付き電波暗室であり、この電波暗室1は電磁波シール
ド材2で天井面、側壁面及び床面を囲むことで電磁波シ
ールド(電磁波が侵入及び漏洩しないようなシールド)
が施されており、さらに電磁波シールド材2の天井面及
び側壁面の内側に電波吸収体3を貼り付けた構成となっ
ている。
【0026】電磁波シールド材2の材料は、表面にメッ
キを施した鋼板、銅板等の良導体からなり、放射雑音電
界強度試験及び誤動作試験が電波暗室内で実施できる電
磁波シールド効果を持つものとする。
【0027】電波吸収体3は、誘電体、磁性体、両者の
組み合わせ等のいずれでもよく所定の電波暗室特性(電
波吸収特性)が得られるものとする。
【0028】電波暗室1の床部にも電磁波シールド材2
による電磁波シールドが施されており、試験に供する機
器又は機器システムである供試機4を設置するターンテ
ーブル5を収納するターンテーブル収納用ピット6も、
天井面、側壁面及び床面と同様なレベルの電磁波シール
ドがなされるように、電磁波シールド材2で囲まれてい
る。なお、通常、ターンテーブル5は電磁波シールド材
2と同様の金属製であり、ピット6内の支持駆動機構7
により回転可能に支持されている。
【0029】この電波暗室1の外側には、電源線用フィ
ルタ8が設置されていて、電波暗室1内の供試機4、そ
の他の測定機器等に外部から電磁気シールド的に分離さ
れた電源を供給している。
【0030】ターンテーブル収納用ピット6の下の部分
に、供試機4に有線で接続される対向機11を配置する
ための対向機収納用電磁波シールド室10が設けられて
いる。この電磁波シールド室10の天井面、側壁面及び
床面は、電波暗室1と同様な電磁波シールド材12で囲
むことで、電磁波シールドが施されている。この電磁波
シールド室10の外側にも電源線用フィルタ13が電波
暗室用の電源線用フィルタ8とは別に設置されていて、
電磁波シールド室10内の対向機11へ外部から電磁気
シールド的に分離された電源を供給している。即ち、電
波暗室1の電磁波シールドに対して、電磁波シールド室
10の電源系のシールドも分離されている。
【0031】対向機収納用電磁波シールド室10の内部
寸法は、使用される対向機11の最大寸法等により決め
られる。さらに電磁波シールド室10には、供試機4と
対向機11を接続する線路(例えば多芯シールドケーブ
ル、同軸ケーブル等)14を保持する為のケーブルラッ
ク(ラダー)15が設置されている。
【0032】電波暗室1と電磁波シールド室10間に供
試機4と対向機11相互を接続する線路14を通すため
の接続通路20があり、この通路20も電波暗室1と同
様の電磁波シールド材21で囲むことで外部に対し電磁
波シールドが施されている。この電磁波シールド材21
は電波暗室1側の電磁波シールド材2及び電磁波シール
ド室10側の電磁波シールド材12と隙間なく連結され
ている。さらに、電波暗室1と電磁波シールド室10と
の内部空間同士が接続通路20の内部を介し結合しない
ように、すなわち電磁波シールド的に遮蔽できるように
遮蔽体30が交換自在に設置されている。
【0033】なお、電波暗室1と電磁波シールド室10
にはそれぞれ機器搬入用の電磁波シールド構造を持つ開
閉扉が設けられている。また、電波暗室1において測
定、試験を行う為に、試験時の人員、試験用測定器、コ
ンピュータ等を収容するための電磁波シールド付きの計
測室を設置する場合、この計測室は電磁波シールド室1
0とは別に独立して設けるようにする。
【0034】図2に接続通路20部分の断面の詳細を示
し、図3に接続通路20の対向機収納用電磁波シールド
室10側の開口部分を示す。この接続通路20の長さ
は、ターンテーブル収納用ピット6と対向機用収納用電
磁波シールド室10との距離で決まる。この通路の長さ
の最も短い場合は、ターンテーブル収納用ピット6の底
部の電磁波シールド材2と対向機収納用電磁波シールド
室10の天井部の電磁波シールド材12が兼用され、一
枚のシールド材で構成される場合であり、このとき通路
長はこのシールド材の厚みと同じになる。
【0035】しかし、この場合は、電波暗室1と電磁波
シールド室10の遮蔽の点で問題があり、通路の実質上
の長さを長くする必要が生じる場合がある。但し、本実
施例の場合、接続通路20の断面に比べて通路長の方が
充分大きく、接続通路20が必要な長さを有している。
【0036】前記接続通路20は、電磁波シールド材
2,12の電磁波シールド材料と同様な材料の電磁波シ
ールド材21で構成されており、例えば矩形断面の導波
管形状をなしている。この通路20の断面寸法はここを
通す線路の種類、数、コネクタの形状等によって決ま
る。そして、この接続通路20を遮断する形で、遮蔽体
30が設置されている。
【0037】遮蔽体30は、図5の斜視図に示すよう
に、六面体の一面が無いいわゆる蓋の形状をした、鉄、
銅、銅合金等の良導体で構成されている。即ち、この遮
蔽体30は面板部30aと4側面をなす側面板部30b
とからなり、側面板部30bの先端部は尖ったナイフエ
ッジ30cとなっている。
【0038】一方、図3、図4及び図6に示すように、
接続通路20の電磁波シールド室10側開口の周囲を方
形枠状に隙間なく囲むように、銅、銅合金等の良導体で
あるコの字断面状金物31が電磁波シールド室10の内
面に固定(即ち電磁波シールド材12側に固定)されて
いる。そして、コの字断面状金物31の内側に、銅、銅
合金等の良導体で相互に圧接方向に付勢された一対のば
ね部材からなるフィンガーコンタクト32が配設されて
いる。そして、接続通路20に対する電磁波遮断構造
が、遮蔽体30と、フィンガーコンタクト32を有する
コの字断面状金物31とで構成されることになる。
【0039】従って、遮蔽体30の側面板部30bの先
端部であるナイフエッジ30cをフィンガーコンタクト
32に差し込むことにより、フィンガーコンタクト32
が取り付けられたコの字断面状金物31が通路開口の四
周に隙間なく設置されているため、通路20の電波暗室
1と対向機収納用電磁波シールド室10間の電磁波遮蔽
構造ができる。
【0040】この遮蔽体30をコの字状金物31に設置
されたフィンガーコンタクト32に差し込む構成は、電
磁波シールド室の扉に使われているナイフエッジ差し込
み方式と同様であり、遮蔽体30の側面板部30bの先
端部をナイフエッジ30cとして利用している。このナ
イフエッジ差し込み方式は、一般にシールド室の扉とい
う開閉操作の頻度が高い所に使用されていることによ
り、容易に遮蔽体30が開閉できることがわかる。この
ようなナイフエッジ差し込み方式は作業の容易さ、シー
ルド性能保持の点でボルト締め等の構造よりも優れてい
る。
【0041】なお、この遮蔽体30のフィンガーコンタ
クト32に対する取り付け、取り外しを補助するための
ハンドル33が、接続通路20の電磁波シールド室10
側開口の両側に設置されている。図7は遮蔽体30をフ
ィンガーコンタクト32に差し込み、又は抜き出す際に
補助となるハンドル33、このハンドルの先端にあるロ
ーラー部34、及びこのローラー部をキャッチして抜き
差しを容易にする受け金物35を示すもので、下方より
みた斜視図である。ハンドル33は、電磁波シールド室
10の天井面に固定の回転支持軸36を中心に電磁波シ
ールド室10の天井に平行な面内(水平面内)を回転す
るように取り付けられている。ハンドル33の先端には
ローラー部34が回転自在に取り付けられており、他の
端は把手37となっている。また、受け金物35は遮蔽
体30の面板部30a下面の両側に固着されている。
【0042】この把手37を握り、図7の矢印の如くハ
ンドル33を受け金物35方向に回転させれば、ローラ
ー部34が受け金物35のテーパー状溝35aの一端に
入り、さらにハンドル33を回転させることにより、ロ
ーラー部34がテーパー状溝35aの他端に進み、受け
金物35は、遮蔽体30をフィンガーコンタクト32に
向けて押し出すように駆動される。このように、受け金
物35を遮蔽体30の面板部30aの下面両側に取り付
けておくことにより、遮蔽体30をフィンガーコンタク
ト32に容易に確実に差し込みできる。遮蔽体30をフ
ィンガーコンタクト32より抜き出す場合は、ハンドル
33を逆に回転させることにより受け金物35がフィン
ガーコンタクト32から離脱する方向に動き、抜き出し
が容易にできる。このように、ナイフエッジ差し込み方
式で、ハンドルとテーパー状溝を持つ金物とを組み合わ
せた構成により、ナイフエッジをフィンガーコンタクト
に対し抜き差しする際のフィンガーコンタクトのばね圧
及び摩擦に打ち勝ち、容易に操作可能である
【0043】図4は、外周が金属で覆われ電磁シールド
されたシールドコネクタ(いわゆるメタルコンセント)
40を遮蔽体30に取り付けた状態を示す。該シールド
コネクタ40に嵌合自在なコネクタ(コンセント)線路
端末40a,40bにシールド外被を持つ線路(多芯ケ
ーブル)14が接続される。各線路14のシールド外被
は、コネクタ線路端末40a,40bをシールドコネク
タ40に嵌合、接続した際に、シールドコネクタ40の
外周金属部分を介して遮蔽体30に接続され、さらに遮
蔽体30のナイフエッジ30cをフィンガーコンタクト
32に差し込んで装着した際に、電磁波シールド室10
側の電磁波シールド材12にフィンガーコンタクト32
及びコの字断面状金物31を介し接続される。即ち、線
路14のシールド外被、シールドコネクタ40の外周金
属部分、遮蔽体30、電磁波シールド室10の電磁波シ
ールド材12は相互に導通がとられている。なお、線路
14のシールド外被の内側の各信号線はシールドコネク
タ40を介し相互に接続され、これにより供試機4と対
向機11との間の接続が行われる。
【0044】この第1実施例によれば、次の通りの効果
を得ることができる。
【0045】(1) 対向機11を収納する為の電磁波シ
ールド空間としての電磁波シールド室10を、電磁波シ
ールド付き電波暗室1や計測用シールド室とは別個に電
磁波シールド的に独立して設置したので、対向機11が
電波暗室1の無響特性を損なったり、放射雑音源や誤動
作の原因となったりするのを解消でき、さらに対向機1
1が試験、測定用の測定機器やコンピュータに影響を及
ぼすこともない。また、対向機11が測定機器やコンピ
ュータの影響を受けることもない。従って、対向機11
を伴った供試機4の放射雑音電界強度試験及び誤動作試
験において対向機11の影響を少なくし、試験の目標と
している供試機4の実際の動作状態における性能評価を
確実に実行できる。
【0046】(2) 供試機4と対向機11とを接続する
線路14を通すための接続通路20を電波暗室1と電磁
波シールド室10間に設けているが、その接続通路20
は外部と電磁波的に遮断されており、かつ接続通路20
の開口に遮蔽体30を交換自在に設けているため、遮蔽
体30で接続通路20を電磁波シールド的に遮断でき、
接続通路20を通しての電波暗室1と電磁波シールド室
10相互間の電波の漏洩を実質的に無くすことができ
る。また、シールドコネクタ40を介して遮蔽体30の
両側の線路14の相互接続を行うため、線路14を通し
ての電波の漏洩も実質的に無くすことができる。従っ
て、高精度の試験、測定ができる。
【0047】(3) 遮蔽体30は容易に交換可能(着脱
自在な構造)であり、供試機4及び対向機11の組に合
わせて最適な線路14及び線路の接続構造を選択するこ
とができる。
【0048】(4) 対向機収納用電磁波シールド室10
はターンテーブル収納用ピット6の下方位置にあり、供
試機4と対向機11とを結ぶ接続線路14の線路長を必
要最小限とすることができる。
【0049】図8は本発明の第2実施例の要部構成であ
って、遮蔽体30及びこれに付随する部分を示す。この
図において、遮蔽体30の両面(上面及び下面)には箱
状の付加シールド体50,51が接続、固着されてお
り、シールド体50,51で覆われた遮蔽体30を貫通
するように電磁フィルタ52が複数個設置されている。
各電磁フィルタ52は例えば貫通型ノイズフィルタであ
り、その外部金具は遮蔽体30に接続されている。付加
シールド体50,51には前述の第1実施例と同様のシ
ールドコネクタ40が設置されており、供試機側の線路
のコネクタ線路端末は付加シールド体50側のシールド
コネクタ40に嵌合、接続され、対向機側の線路のコネ
クタ線路端末は付加シールド体51側のシールドコネク
タ40に嵌合、接続されるようになっている。そして、
遮蔽体30上下のシールドコネクタ40同士は電磁フィ
ルタ52が途中に挿入された信号線53で接続されてい
る。なお、その他の構成は前述の第1実施例と同様であ
り、同一又は相当部分に同一符号を付した。
【0050】この第2実施例の場合、各信号線53に電
磁フィルタ52を挿入しているため、信号線53に起因
する電波暗室1と電磁波シールド室10相互間の電波漏
洩を防止できる。この結果、いっそう高精度の試験、測
定が可能である。なお、その他の作用効果は前述の第1
実施例と同様である。
【0051】前述の第1及び第2実施例のように、シー
ルドコネクタ、電磁フィルタ等を用いたのでは供試機と
対向機間の接続が阻害されるような試験レベルの場合
は、接続通路内に電波吸収体を充填する構造とする。こ
の場合を、本発明の第3実施例として図9及び図10に
示す。
【0052】図9及び図10は本発明の第3実施例の要
部構成であって、接続通路部分を示す。これらの図にお
いて、接続通路20の内部には、供試機と対向機間を接
続する線路14と接続通路20内面との隙間を埋めるよ
うに電波吸収体60が充填され、これにより金属の遮蔽
体を用いることなく電磁波遮断構造を実現している。こ
の電波吸収体60は、例えば発泡誘電体(発泡ポリエチ
レン等)にオーム損失体粉末(カーボン粉末等)を分
散、含有させたものであり、図10のように、切断面6
0aで2分割し、線路14を通す溝60bを有する電波
吸収体60で線路14を両側より挟む構造とすること
で、接続通路20内より引き出して容易に交換できる。
その他の構成は、前述の第1実施例と同様であり、同一
又は相当部分に同一符号を付した。
【0053】この第3実施例の場合、接続通路20内を
線路14が通ることで同軸管を擬似的に構成するが、そ
の同軸管内を伝播する電波を電波吸収体60で吸収、除
去することができ、電波暗室と電磁波シールド室間の電
磁波漏洩を防止できる。なお、その他の作用効果は前述
の第1実施例と同様である。
【0054】図11は本発明の第4実施例の要部構成で
あって、接続通路部分を示す。この第4実施例も金属の
遮蔽体は用いないが、電波暗室側のターンテーブル収納
用ピット6と電磁波シールド室10との距離が短く、単
にターンテーブル収納用ピット6と電磁波シールド室1
0とを接続通路で接続したのでは充分な通路長が取れな
い場合である。このときは、図示のように、接続通路2
0の端部を電磁波シールド室10内に突出させることで
必要な通路長を確保し、その接続通路20に第3実施例
と同様に電波吸収体60を設ける。これにより、遮蔽効
果を高めることができる。なお、その他の構成は前述の
第1実施例と同様であり、同一又は相当部分に同一符号
を付した。
【0055】この第4実施例によれば、接続通路20の
端部を電磁波シールド室10内に突出させることで、充
分な通路長を確保でき、必要な遮蔽効果が得られる。な
お、その他の作用効果は、前述の第3実施例と実質的に
同じである。
【0056】図12は本発明の第5実施例の要部構成で
あって、接続通路部分を示す。この図において、接続通
路20の内部には、供試機と対向機間を接続する線路1
4と接続通路20内面との隙間を埋めるように電波吸収
体60が充填され、さらに各線路14の周囲にリング状
フェライト電波吸収体70がそれぞれ装着されている。
リング状フェライト電波吸収体70は、実際には半リン
グ状フェライトを相互に突き合わせることにより線路1
4を挟持するようになっており、線路14に対し容易に
着脱できる構造である。
【0057】この第5実施例の場合、接続通路20内を
線路14が通ることで擬似的に構成された同軸管内を伝
播する電波を電波吸収体60で吸収、除去するととも
に、リング状フェライト電波吸収体70で線路14のシ
ールド外被を伝わる電波を吸収、除去でき、いっそうの
電磁波遮蔽効果を得ることができる。その他の構成及び
作用効果は前述の第3実施例と同様である。
【0058】図13は本発明の第6実施例の要部構成で
あって、接続通路部分を示す。この図において、接続通
路20の電磁波シールド室10側開口の周囲には、導電
ゴムや良導体金属網からなるシールドパッキング材であ
る方形枠状ガスケット80が設けられており、このガス
ケット80を介して接続通路20の開口を閉塞するよう
に良導体の遮蔽板81がビス82で取り付けられてい
る。この第6実施例は、前述の第1実施例のナイフエッ
ジ30cとフィンガーコンタクト32との接続構造の代
わりに、良導体で多少の弾力性を持つガスケット80を
用いたものであり、その他の構成は前述の第1実施例と
同様でよく、同一又は相当部分に同一符号を付した。
【0059】この第6実施例の場合、電磁波シールド室
10の電磁波シールド材12と遮蔽板81との間に弾力
性のあるガスケット80が介在することで、ビス82に
よる締め付け箇所を少なくすることができ、遮蔽板81
の交換の容易性をあまり損なわないようにすることがで
きる。
【0060】なお、第6実施例において、ガスケット8
0を省略して電磁波シールド室10の電磁波シールド材
12に直接遮蔽板81をビス止めする構造も可能である
が、この場合は例えば10cm間隔でボルト止めする必要
があり、遮蔽板81の交換作業は手間がかかる。
【0061】前述の第1実施例では、対向機収納用電磁
波シールド室10をターンテーブル収納用ピット6の下
の地下室等に設置しているが、建設コストや諸条件によ
り地下が無理であれば、供試機4を配置する電波暗室1
と同一フロアに設置することも供試機4と対向機11の
接続線路14の長さが問題とならない範囲において可能
である。
【0062】また、第1実施例において、フィンガーコ
ンタクト32の代わりに弾性を持つシールドパッキング
材を用いることもできるが、遮蔽体30をシールドパッ
キング材の弾性に打ち勝ってシールド接続するために
は、図7に示したのと同様なハンドル機構を取り付ける
必要がある。
【0063】なお、第4実施例においても第5実施例の
如く線路14にリング状フェライト電波吸収体70を装
着するようにしてもよい。
【0064】また、各実施例において、供試機を配置す
る電波暗室と対向機を配置する電磁波シールド室間の接
続用の線路を通すための接続通路が1個である場合を例
示したが、複数の接続通路が設置されている場合にも本
発明は適用可能であり、また、1つの接続通路に対して
電波吸収体による電磁波遮断構造と良導体の遮蔽体(又
は遮蔽板)による電磁波遮断構造とを併用してもよい。
【0065】以上本発明の実施例について説明してきた
が、本発明はこれに限定されることなく請求項の記載の
範囲内において各種の変形、変更が可能なことは当業者
には自明であろう。
【0066】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電波暗室
設備は、放射雑音電界強度測定及び誤動作試験等に供す
る供試機に接続される対向機を、供試機が配置される電
波暗室から独立した電磁波シールド室に収納でき、対向
機と供試機間の接続用の線路を通すための通路、及びこ
れを電磁波シールド的に遮断するための電磁波遮断構造
を備え、必要に応じて遮断の程度を変えることにより、
この種の測定、試験において対向機の影響を最小に抑
え、本来必要とされる供試機のみの高精度の評価が可能
となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る電波暗室設備の第1実施例であっ
て全体構成を示す正断面図である。
【図2】第1実施例の通路部分の拡大正断面図である。
【図3】第1実施例の通路の開口部分を対向機収納用電
磁波シールド室側からみた底面図である。
【図4】第1実施例において、遮蔽体及びこれに付随す
る機構部分を示す拡大正断面図である。
【図5】第1実施例で用いる遮蔽体の斜視図である。
【図6】第1実施例における遮蔽体側ナイフエッジ及び
フィンガーコンタクトを有するコの字断面状金物を示す
部分拡大断面図である。
【図7】第1実施例において遮蔽体を抜き差しするため
のハンドル及び受け金物を示す斜視図である。
【図8】本発明の第2実施例の要部構成を示す正断面図
である。
【図9】本発明の第3実施例の要部構成を示す正断面図
である。
【図10】第3実施例において線路の周囲に電波吸収体
を配置した構成を示す平面図である。
【図11】本発明の第4実施例の要部構成を示す正断面
図である。
【図12】本発明の第5実施例の要部構成を示す正断面
図である。
【図13】本発明の第6実施例の要部構成を示す正断面
図である。
【符号の説明】
1 電磁波シールド付き電波暗室 2,12,21 電磁波シールド材 3,60,70 電波吸収体 4 供試機 5 ターンテーブル 6 ターンテーブル収納用ピット 8,13 電源線用フィルタ 10 対向機収納用電磁波シールド室 11 対向機 14 線路 15 ケーブルラック 20 接続通路 30 遮蔽体 30a 面板部 30b 側面板部 30c ナイフエッジ 31 コの字断面状金物 32 フィンガーコンタクト 33 ハンドル 34 ローラー部 35 受け金物 35a テーパー状溝 36 回転支持軸 37 把手 40 シールドコネクタ 40a,40b コネクタ線路端末 50,51 付加シールド体 52 電磁フィルタ 60a 切断面 60b 溝 80 ガスケット 81 遮蔽板 82 ビス
フロントページの続き (56)参考文献 特開 平5−149985(JP,A) 実開 平5−77782(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H05K 9/00 G01R 29/10

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 供試機と接続された対向機を含む試験、
    測定を行う電磁波シールド付き電波暗室を具備する電波
    暗室設備において、前記対向機を収納する電磁波シール
    ド室を、前記供試機を収納する前記電波暗室と独立して
    設け、前記供試機と前記対向機とを接続する線路を通す
    通路を少なくとも一個所持ち、該通路を外部に対し電磁
    波シールドした構造とし、該通路に少なくとも一個所の
    電磁波遮断構造を設けたことを特徴とする電波暗室設
    備。
  2. 【請求項2】 前記電磁波遮断構造を交換自在とした請
    求項1記載の電波暗室設備。
  3. 【請求項3】 前記電波暗室がターンテーブルを有し、
    該ターンテーブルの下方に前記電磁波シールド室が配置
    されている請求項1記載の電波暗室設備。
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