JP2938075B2 - Test pattern generator - Google Patents

Test pattern generator

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JP2938075B2
JP2938075B2 JP32766187A JP32766187A JP2938075B2 JP 2938075 B2 JP2938075 B2 JP 2938075B2 JP 32766187 A JP32766187 A JP 32766187A JP 32766187 A JP32766187 A JP 32766187A JP 2938075 B2 JP2938075 B2 JP 2938075B2
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豊 中村
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KASHIO DENSHI KOGYO KK
KASHIO KEISANKI KK
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KASHIO DENSHI KOGYO KK
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は液晶シャッタープリンター、LEDアレープリ
ンター等の書込みドットが主走査方向に多数配列された
プリンターのテストパターン発生装置に関する。 〔従来技術及びその問題点〕 液晶シャッタープリンターあるいはLEDアレープリン
ターは、感光体の主走査方向に対峙して多数の光書込み
ドットが配列されている。これらのプリンターでは液晶
シャッターヘッドあるいはLEDアレーヘッドの機能チェ
ックのためのテスト印字機能を有している。テスト印字
機能とはROM等にテスト印字パターンを記憶させ、ホス
トコンピュータからの印字信号のかわりにROM等に記憶
させたテスト印字パターンを読み出し、液晶シャッター
の開閉あるいはLEDアレーのオン・オフを行なうもので
ある。 第11図(A)〜(C)は従来の代表的なテスト印字パ
ターンであり、(A)はベタ黒印字、(B)は白印字、
(C)は縦線模様である。なおDは用紙Pの進行方向
(副走査方向)を示す。まず正現像を用いた場合につい
て説明すると同図(A)の場合LEDアレーヘッドでは全L
ED素子をオフとするので断線素子を検出することはでき
ない。また液晶ヘッドの場合閉駆動を行なうが、常開型
液晶であればパターン断線のマイクロシャッターには閉
駆動波形が印加されずシャッターは開となり不良ドット
ラインWが現れるが、常閉型液晶ではパターン断線等の
不良ドットは発見できない。 次に同図(B)の場合LEDアレーヘッドでは全LED素子
をオンするので断線素子があった場合不良ドットライン
Bとして検出されるが、LED素子は正常でもLED素子への
配線パターンが短絡しているような不具合を検出するこ
とはできない。また常閉型液晶ヘッドの場合は開駆動を
行なってもパターン断線のマイクロシャッターは開とな
らないため不良ドットラインBとして検出されるが、常
開型液晶ヘッドの場合はパターン断線のマイクロシャッ
ターは開駆動を受けなくても開となるのでパターン断線
等の不具合は発見できない。 また同図(C)の場合は印字ブレ等の画像評価に有効
であるが、縦線模様Lの部分に不良ドットがある場合は
同図(A)の場合と同様な不具合が生じ、自地部Gの部
分に不良ドットがある場合は同図(B)の場合と同様な
不具合が生じる。 次に反転現象を用いた場合について説明すると、同図
(A)の場合LEDヘッドの場合は発光素子をオンとしま
た液晶ヘッドの場合は開駆動を行なうので、LEDヘッド
あるいは常開型の液晶ヘッドの不具合は発見できるが常
開型の液晶ヘッドの不具合は発見できない。 また同図(B)の場合LEDヘッドでは全LEDをオフし、
液晶ヘッドの場合は閉駆動を行なうので、常開型の液晶
ヘッドの不具合は発見できるが、常閉型の液晶ヘッドあ
るいはLEDヘッドの不具合は発見できない。 さらに同図(C)の場合縦線模様Lの部分に不良ドッ
トがある場合は同図(A)の場合と同様な不具合が生
じ、自地部Gの部分に不良ドットがある場合は同図
(B)の場合と同様の不具合が生じる。 〔発明の目的〕 本発明は、上記従来の欠点に鑑み、主走査方向に多数
の書込みドットを有するプリンターの不良ドットを確実
に発見できるテストパターン発生装置を提供することを
目的とする。 〔発明の要点〕 本発明は、上記目的を達成するために、主走査方向に
多数の書込みドットを有するプリンターのテストパター
ン発生装置において、所定周期で発生するクロック信号
を計数する計数手段と、該計数手段の出力値と副走査方
向の所定ラインを印字する毎に異なる所定データを出力
する出力手段の出力とを入力し前記出力値と該所定デー
タを比較する比較手段と、該比較手段による前記出力値
と前記所定データの一致検出に基づき前記書込みドット
に所定信号を与える印字信号発生手段と、主走査方向の
所定ラインの印字終了毎に前記出力手段に計数信号を送
出し、前記出力手段から出力される前記所定データを、
直前の前記所定ラインの印字のために出力されたデータ
に所定値を加算した出力信号に変更する印字位置変更手
段とを有し、前記出力手段からの出力信号により主走査
方向に所定ドット間隔でテスト印字を行い、前記出力手
段からの前記所定値を加算した出力信号により主走査方
向に前記出力信号によるテスト印字とは異なる位置にテ
スト印字を行なう動作を順次繰り返し行うことを特徴と
する。 〔発明の実施例〕 以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳
述する。 第8図は、本発明が適要できる液晶プリンターの実施
例である。第8図において、矢印方向に回転する感光体
1の周辺には帯電器2、液晶ヘッド3、現像器4、転写
器5、クリーナ6などの電子写真プロセス装置が配置さ
れている。感光体1の表面は、帯電器2により一様に帯
電され、液晶ヘッド3による光書込みにより静電潜像が
形成される。静電潜像は、現像器4によりトナー像とな
り、トナー像は、転写器5によりカセット7から給送さ
れた用紙Pに転写され、定着ロール8により定着され
る。一方、転写器5で転写されなかった残存トナーは、
クリーナ6により清掃され、再度の帯電工程に備える。 転写紙Pは、液晶ヘッド3による光書込み動作に先立
って、カセット7から給送される。まず、フィードロー
ラ9が回転し、カセット7から用紙Pをスリップローラ
10に向けて給送する。スリップローラ10により更に送ら
れた用紙は、待機スイッチ11をオンし、停止している待
機ロール12に当接して停止する。この時、スリップロー
ル10の搬送力は、極めて弱いので常時回転であっても停
止した用紙に悪影響を与えることは無い。待機ロール12
は、感光体1上のトナー像とタイミングを合せて回転
し、用紙Pを再給送させる。 次に、液晶ヘッド3について更に説明すると、液晶ヘ
ッド3は、蛍光灯あるいはキセノングローランプ等より
なる光源3a、液晶光シャッタ3b、結像レンズ3cを主たる
構成とし、光源3aからの光をホストコンピュータから送
出される印字データによって開閉される液晶光シャッタ
3bにより変調し、液晶光シャッタ3b面を結像レンズ3cに
より感光体1の表面上に結像し、光書込みを行う。さら
に液晶光シャッタ3bにはヒーター3dと、液晶光シャッタ
3bの温度を検知する温度検知素子3eが設けられ温度検知
素子3eの出力に基づきヒーター3dを通電制御することに
より液晶光シャッタ3bの温度を常に一定に制御してい
る。 液晶光シャッタ3bは第9図に示すようにコモンガラス
3fとセグメントガラス3gとで構成され両ガラス間に液晶
剤が封入されている。コモンガラス3fの下面には2本の
共通電極が設けられ、セグメントガラス3gの上面に多数
設けられたセグメント電極3hとの交差部にマイクロシャ
ッタ3iが形成される。 次に第10図により液晶光シャッタ3bの駆動回路につい
て説明する。同図(A)は駆動回路ブロック図であり、
ホストコンピュータからの印字データあるいは後述する
テスト印字パターン発生回路からの印字データはデータ
端子13に入力される。14はシリアルインパラレルアウト
のシフトレジスターでありクロック端子15に入力するク
ロック信号▲▼に同期して印字データを取り込
む。シフトレジスター14は160段で構成されオーバーフ
ローした印字データはカスケード端子16から次段の駆動
回路のデータ端子へ入力される。シフトレジスター14に
1ライン分の印字データの入力が完了すると印字データ
はシフトクロック端子17に入力するシフトクロック▲
▼によりデータラッチ18に移され、シフトレジスタ
ー14は次の1ラインのデータ受信の準備状態となる。こ
こでマイクロシャッタ3iは0で示す第1列とEで示す第
2例の千鳥状に配列され第1列と第2列は2.5ピッチの
間隔を有している。従って感光体上で一列に印字させる
ためにはデータラッチ18から出力される印字データのう
ち偶数データ(Q2,Q4,…Q160)は奇数データ(Q1,Q3,…
Q179)に対してシフトクロック▲▼の2パル4ス
分遅延させる必要がある。19は前記偶数データを遅延さ
せるためのデータ遅延部でありラッチ2段で構成されデ
ータラッチ18のデータと同様のシフトクロック▲
▼によりシフトされる。マイクロシャッタ3iは2時分割
駆動を行なうためデータラッチ18の出力データQ1とQ2,Q
3とQ4…Q159とQ160を一組としてセグメント電極3hに与
える。20はこれらのデータを混合するためのデータ混合
部でありデータラッチ18の奇数データとデータ遅延部19
からの出力を一組としてデータを混合する。すなわち入
力A1とB1を一組として出力W1よりドライバー21へ出力す
る。同図(B)はデータ混合部の一組を示すものであり
以下のような動作を行なう。データセレクト端子22に入
力するデータセレクト信号DSELは1書込周期の前半がH,
後半がLであり、前半において奇数データAを選択し、
後半において偶数データBを選択する。ここでAあるい
はBのデータはHでマイクロシャッタ3iを開、Lでマイ
クロシャッタ3iを閉にする信号と決められている。 また駆動信号端子A23にはマイクロシャッタ3iを開に
するための開波形PT1が入力し、駆動信号端子B24にはマ
イクロシャッタ3iを閉にするための閉波形PT2が入力し
ている。これにより例えば1書込周期の前半にAがHで
あればWに開波形PT1が出力され、後半にBがLであれ
ばWに閉波形PT2が出力される。データ混合部20の出力
は信号レベルの電圧(約5V)であるためドライバー21に
より電圧端子25に入力する駆動電圧Vのレベル(約20
V)に電圧変換され、セグメント電極3hに印加される。 次に本発明におけるテスト印字パターンの発生動作に
ついて第1図乃至第3図を用いて説明する。第1図は本
発明のテスト印字パターンの発生回路、第2図は動作タ
イムチャート、第3図はテスト印字パターンのドット構
成図である。まず第1図において装置の電源をオンにす
るとリセット端子26のリセット信号RESが一瞬Hとなっ
てORゲート35を通じて4ビットバイナリカウンタ27,28
をリセットする。プリンターが待機状態のときは垂直同
期入力信号▲▼はHであるめ4ビットバイナ
リカウンタ29はリセット状態にあり、また、ドットカウ
ントイネーブル信号▲▼もHであるため4
ビットバイナリカウンタ30もリセット状態である。プリ
ンタがテスト印字モードになると垂直同期入力信号▲
▼、次にドットカウントイネーブル信号▲
▼ともLになりクロック信号▲▼が入力
可能となる。ここで垂直同期入力信号▲▼は
1ページ分のテスト印字が終了するまでLでありクロッ
ク信号▲▼は第10図のクロック端子A15に入力す
るクロック信号▲▼と同一のものである。4ビッ
トコンパレータ31は4ビットバイナリカウンタ29と30の
出力が、一致(A1=B1,A2=B2,A3=B3,A4=B4)したと
きのみDATAを出力するものであり、まずドットカウント
イネーブル信号▲▼がLになったときにDT
A出力を行なう。このDATAは第10図に示すデェータ端子1
3に出力される。4ビットバイナリカウンタ30は▲
▼の16クロック毎に出力がゼロとなり第1ライン目で
は第1ドットに対しDATAが出力され、以後▲▼の
16クロック毎に4ビットコンパレータ31からDATAがなさ
れる。A4サイズの場合主走査1ラインに相当する2340ク
ロックが出力されたタイミングでドットカウントイネー
ブル信号▲▼がHとなり、この動作を128
ライン繰り返す。なおDATAはインパータ33C,ANDゲート3
3dにより▲▼が、Lのときのみ出力され
る。一方1ライン終了毎にドットカウントイネーブル信
号▲▼によりインバータ33eを介して4ビ
ットバイナリカウンタ27が歩進され、128ライン毎に4
ビットバイナリカウンタ28のDよりNANDゲート33a、33b
で構成されるフリップフロップへ出力が出され、4ビッ
トバイナリカウンタ29の▲▼へクロック信号が入力
し、4ビットバインリカウンタ29の出力は1となる。こ
の後4ビットバイナリカウンタ27,28はORゲート35によ
りリセットされる。これにより第129ラインから第256ラ
インでは4ビットバイナリカウンタ29の出力が1である
ため、4ビットバイナリカウンタ30の出力が1の時にDA
TAが出力される。すなわち第3図に示すように第1ライ
ンから第128ラインまでは4ビットバイナリカウンタ30
の出力はゼロであるため先頭ドットから16ドット毎にテ
スト印字パターンが出力され、第129ラインから第256ラ
インまでは4ビットバイナリカウンタ30の出力が1であ
るため先頭ドットから1ドットずれたところから16ドッ
ト毎に、また第257ラインから第512ラインまでは4ビッ
トバイナリカウンタ30の出力が2であるため先頭ドット
から2ドットずれたところから16ドット毎にテスト印字
パターンが出力され、以後128ライン毎に1ドットづつ
ずれたテスト印字パターンが出力される。 なお、300DPIのプリンターの場合16ドットは約1.3mm,
128ラインは約10.8mmである。第3図の例では36で示す
箇所が本来印字されるべきであるところ非印字となって
おり、液晶光シャッタ3bの第18番目のマイクロシャッタ
3i−18が不良であることが解る。 以上の動作を第2図のタイムチャートを用いて説明す
る。aのRESは電源投入時のリセットでありHレベルに
てリセット動作を行なう。bの▲▼はLでテ
スト印字が可能となり1ページの副走査方向の印字期間
はL状態を保持する。eで示す▲▼がLに
なった瞬間より4ビットバイナリカウンタ30はCのクロ
ック信号を計数開始し第1ドット、第17ドット…第2337
ドットにdのDATAを出力する。この動作はfの▲
▼が第128ラインまでは同様に繰り返され第129ラ
インから第256ラインではhに示すように第2ドット、
第18ドット…第2338ドットにDATAを出力する。また第25
7ラインから第512ラインではiに示すように第3ドッ
ト、第19ドット…第2339ドットにDATAを出力する。なお
gはfの第129ラインをまたiはfの第257ラインを拡大
した図である。 また第1図において4ビットバイナリカウンタ27,28
及びフリップフロップを用いずにラインカウント動作を
CPUのファームウェアにより行なうことも可能である。 次に本発明における他の実他例について説明する。第
4図は本発明における他の実施例のテストパターンの発
生回路、第5図乃至第6図はテスト印字パターンのドッ
ト構成図、第7図は動作タイムチャートである。まず第
4図においてプリンターが待機状態のときは垂直同期入
力信号▲▼及びドットカウントイネーブル信
号▲▼がHであるためOR回路38aを通じて
4ビットバイナリカウンタ37はリセット状態にある。プ
リンタがテスト印字モードになると垂直同期入力信号▲
▼、次にドットカウントイネーブル信▲
▼がともにLになりクロック信号▲▼が
入力可能となる。AND回路38bにはクロック信号▲
▼とラッチ39のQ出力が入力されており、ラッチ39のQ
出力は詳しくは後述するが主走査方向に黒あるいは白の
同一ドット印字するときに用いられる。なお垂直同期入
力信号▲▼は1ページ分のテスト印字が終了
するまでLでありクロック信号▲▼は第10図のク
ロック端子A15に入力するクロック信号▲▼と同
一のものである。4ビットコンパレータ40,41は4ビッ
トバイナリカウンタ37と8ビットフリップフロップ42の
出力が一致(A1=B1,A2=B2,A3=B3,A4=B4)したとき
のみOR回路43を通じてAND回路38cにDATAを出力するもの
である。なお最終的なDATAはインバータ38d、AND回路38
cによりドットカウントイネーブル信号▲
▼がLの時のみ出力される。DATAは第1図と同様に第10
図に示すデータ端子13に出力される。ず書込みデータラ
ッチ信号▲▼がLになると8ビットフリップフロ
ップ42はCPU44の8ビットデータバス45のデータD7〜D0
をラッチする。次に連続データラッチ信号▲▼に
より8ビットデータバス45のD0のデータをラッチ39にラ
ッチする。このとき主走査1ラインをすべて白または黒
印字する場合はDOを0として(ラッチ39のQ出力がL)
AND回路38bを閉とし、4ビットバイナリカウンタ37が歩
進することを禁止する。次に第5図乃至第6図のような
テスト印字パターンを作成する場合の動作について説明
する。これらの図における矢印は用紙46の進行方向(副
走査方向)を示す。 次に第5図(A)((B)は部分拡大図)のような1
ドットの斜線を印字する場合の動作について説明する。
同図は主走査方向及び副走査方向の16ドット毎に斜線を
印字するものである。本例の場合はD7〜D4とD3〜D0は同
一のデータを出力する必要がありまずCPU44はバスライ
ン45に0000 0000を出力する。書込みデータラッチ信号
▲▼によりD7〜D0のデータ0001 0000を8ビット
フリップフロップ42にラッチする。次にDOを1としてAN
D回路38をクロック▲▼に同期して開閉させる。
4ビットバイナリカウンタ37の出力はドットカウントイ
ネーブル信号▲▼が立下った時点で0000で
あり、4ビットコンパレータ40,41何れからもDATAが出
力される黒印字となる。クロック信号CK1の1クロック
から15クロックまではD〜Aが0001,0010…1111でありD
7〜D4,D3〜D0のデェータ0000と不一致であるのでDATAは
出力されず白印字となる。従って第1ドットを黒とし以
後16ドット毎に黒印字となる。次に第2ラインについて
はD7〜D4,D3〜D0のデータを0001とすることにより第1
ドットを白印字、第2ドットを黒印字、第3ドット乃至
第16ドットを白印字として、以後これを16ドット毎に繰
り返す。また第3ラインはD7〜D4,D3〜D0を0010とする
ことにより第1乃第2ドットを白印字、第3ドットを黒
印字、第4ドット及至第16ドットを白印字として以後こ
れを16ドット毎に繰り返す。このようにしてD7〜D4,D3
〜D0のデータを第1ラインを0000とし、以後1ライン進
む毎に0001,0010,…1111としこれを繰り返すことにより
斜線のテストパターンが作成できる。また第8図は第3
図と同一のテストパターンであり、第5図の動作に対し
てD7〜D4及びD3〜D0のデータを0000として128ライン、0
001として128ライン印字し、以後D7〜D4及びD3〜D0のデ
ータを1ビットシフトし、これを繰り返せばよい。 次にこれらの動作を第7図のタイムチャートを用いて
説明する。k及びlで示すRES,▲▼は第2図
の例と同一である。qに示されるD7〜D0はCPUのバスラ
イン45のデータでありRAM47,ROM48等と共通のバスライ
ンである。まず書込データラッチ信号▲▼により
D7〜D0のデータを8ビットフリップフロップ42にラッチ
する。第7図のタイムチャートは第5図の斜線の場合の
例を示しており、このときCPU44はD7〜D0が0000 0000
であるデータをバスライン45に出力する。次にDOを1と
して連続データラッチ信号▲▼によりDOのデータ
をラッチ39にラッチする。この時のD7〜D1のデータは1
あるいは0何れでもよい。これによりドットカウントイ
ネーブル信号▲▼が、Lに立下がった時点
より4ビットバイナリカウンタ37はクロック▲▼
を計数開始し、第1ドットと第17ドット及び以後16ドッ
ト毎にrに示すDATAを出力する。第2ラインに対しては
D7〜D0を0001 0001とすることにより第2ドットと第18
ドット及び以後16ドット毎にDATAを出力する。 上述のように第4図のテストパターン発生回路によれ
ばデータにより種々のテストパターンが作成可能であ
り、不良ドットの検出の他印字ブレ、画像カスレなどを
発見するのに適したテストパターンの発生が可能であ
る。 また第10図におけるPT1に閉波形、PT2に開波形を印加
すればネガ像が印字され、さらにデータ端子13に入力す
るDATAとPT1、PT2の波形の選択により正現像、反転現
像、ポジパターン、ネガパターンの何れにも対応可能で
ある。 なお上述の実施例において液晶光プリンターを例に説
明したが、本発明はこれに限定されることなくLEDプリ
ンター、マルチスタイラスプリンターなど主走査方向に
多数の書込みドットを有するプリンターに適要できるこ
とは勿論である。 〔発明の効果〕 以上詳細に説明したように本発明によれば、プリンタ
ーのテストパターンを発生するに当たり副走査方向に所
定ドット毎に規則的に位置ズレしたテストパターンを、
ROM等の記憶手段を用いることなくカウンター等の簡単
な構成で印字できるので書込みヘッドの不良ドットを容
易に且つ安価な構成で発見することができる。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a test pattern generator for a printer such as a liquid crystal shutter printer or an LED array printer in which a large number of write dots are arranged in the main scanning direction. [Prior Art and Problems Thereof] In a liquid crystal shutter printer or an LED array printer, a large number of optically written dots are arranged in the main scanning direction of a photoconductor. These printers have a test printing function to check the function of the liquid crystal shutter head or LED array head. The test print function is to store the test print pattern in ROM or the like, read the test print pattern stored in ROM or the like instead of the print signal from the host computer, and open / close the liquid crystal shutter or turn on / off the LED array. It is. 11 (A) to 11 (C) show conventional typical test print patterns, (A) is a solid black print, (B) is a white print,
(C) is a vertical line pattern. D indicates the traveling direction (sub-scanning direction) of the sheet P. First, the case of using normal development will be described. In the case of FIG.
Since the ED element is turned off, the disconnection element cannot be detected. In the case of a liquid crystal head, a closing drive is performed. In the case of a normally-open type liquid crystal, a closing drive waveform is not applied to a micro-shutter having a pattern disconnection, and the shutter opens and a defective dot line W appears. A defective dot such as a disconnection cannot be found. Next, in the case of FIG. 6B, in the LED array head, all the LED elements are turned on, so that if there is a disconnection element, it is detected as a defective dot line B. Cannot be detected. In the case of a normally-closed liquid crystal head, even if the opening drive is performed, the micro-shutter of the pattern disconnection is not opened because it is not opened. However, in the case of the normally-open type liquid crystal head, the micro-shutter of the pattern disconnection is opened. Since it opens even if it is not driven, problems such as disconnection of the pattern cannot be found. In the case of FIG. 9C, it is effective for image evaluation such as print blur, but when there is a defective dot in the portion of the vertical line pattern L, the same problem as in the case of FIG. If there is a defective dot in the portion G, the same problem as in the case of FIG. Next, the case where the inversion phenomenon is used will be described. In the case of FIG. 1A, the light emitting element is turned on in the case of the LED head and the opening drive is performed in the case of the liquid crystal head. Can be found, but a normally open LCD head cannot be found. In the case of the same figure (B), all the LEDs are turned off in the LED head,
In the case of the liquid crystal head, since the closing drive is performed, a defect of the normally open type liquid crystal head can be found, but a defect of the normally closed type liquid crystal head or the LED head cannot be found. Further, in the case of FIG. 7C, if there is a defective dot in the portion of the vertical line pattern L, the same problem as in the case of FIG. The same problem as in the case (B) occurs. [Object of the Invention] In view of the above-mentioned conventional drawbacks, an object of the present invention is to provide a test pattern generator capable of reliably detecting a defective dot of a printer having a large number of writing dots in the main scanning direction. SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a printer test pattern generator having a large number of writing dots in the main scanning direction, a counting means for counting clock signals generated in a predetermined cycle, Comparing means for inputting an output value of the counting means and an output of an output means for outputting different predetermined data each time a predetermined line in the sub-scanning direction is printed, and comparing the output value with the predetermined data; A print signal generating means for providing a predetermined signal to the writing dot based on the detection of coincidence between the output value and the predetermined data; and a count signal to the output means every time printing of a predetermined line in the main scanning direction is completed. The predetermined data to be output is
Print position changing means for changing to an output signal obtained by adding a predetermined value to data output for printing the immediately preceding predetermined line, and at a predetermined dot interval in the main scanning direction by an output signal from the output means. Test printing is performed, and an operation of performing test printing at a position different from the test printing based on the output signal in the main scanning direction is sequentially repeated by an output signal obtained by adding the predetermined value from the output unit. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 8 shows an embodiment of a liquid crystal printer to which the present invention can be applied. In FIG. 8, electrophotographic process devices such as a charger 2, a liquid crystal head 3, a developing device 4, a transfer device 5, and a cleaner 6 are arranged around the photoreceptor 1 rotating in the direction of the arrow. The surface of the photoconductor 1 is uniformly charged by the charger 2, and an electrostatic latent image is formed by optical writing by the liquid crystal head 3. The electrostatic latent image is converted into a toner image by the developing device 4, and the toner image is transferred by the transfer device 5 to the sheet P fed from the cassette 7 and fixed by the fixing roll 8. On the other hand, the remaining toner not transferred by the transfer device 5 is
The cleaning is performed by the cleaner 6 to prepare for the charging process again. The transfer paper P is fed from the cassette 7 prior to the optical writing operation by the liquid crystal head 3. First, the feed roller 9 rotates, and the paper P is slipped from the cassette 7 to the slip roller.
Feed toward 10. The paper further fed by the slip roller 10 turns on the standby switch 11, comes into contact with the stopped standby roll 12, and stops. At this time, the conveyance force of the slip roll 10 is extremely weak, so that even if the paper is constantly rotated, it does not adversely affect the stopped paper. Standby roll 12
Rotates in synchronism with the toner image on the photoreceptor 1 to re-feed the paper P. Next, the liquid crystal head 3 will be further described. The liquid crystal head 3 mainly includes a light source 3a such as a fluorescent lamp or a xenon glow lamp, a liquid crystal light shutter 3b, and an imaging lens 3c. Liquid crystal shutter that is opened and closed by print data sent from the printer
The light is modulated by 3b, an image is formed on the surface of the photoconductor 1 by the imaging lens 3c on the surface of the liquid crystal optical shutter 3b, and optical writing is performed. The liquid crystal light shutter 3b has a heater 3d and a liquid crystal light shutter.
A temperature detecting element 3e for detecting the temperature of 3b is provided, and the temperature of the liquid crystal light shutter 3b is constantly controlled by controlling the energization of the heater 3d based on the output of the temperature detecting element 3e. The liquid crystal optical shutter 3b is a common glass as shown in FIG.
It is composed of 3f and 3g of segment glass, and a liquid crystal agent is sealed between both glasses. Two common electrodes are provided on the lower surface of the common glass 3f, and a micro shutter 3i is formed at the intersection of the segment glass 3g provided on the upper surface of the segment glass 3g. Next, a driving circuit of the liquid crystal optical shutter 3b will be described with reference to FIG. FIG. 2A is a block diagram of a driving circuit.
Print data from the host computer or print data from a test print pattern generation circuit described later is input to the data terminal 13. Reference numeral 14 denotes a serial-in / parallel-out shift register which captures print data in synchronization with a clock signal ▲ ▼ input to a clock terminal 15. The shift register 14 has 160 stages, and the overflowed print data is input from the cascade terminal 16 to the data terminal of the next stage drive circuit. When the input of one line of print data to the shift register 14 is completed, the print data is transferred to the shift clock terminal 17 by the shift clock ▲.
The data is transferred to the data latch 18 by ▼, and the shift register 14 is ready for receiving data of the next one line. Here, the micro shutters 3i are arranged in a staggered manner in the first row indicated by 0 and the second example indicated by E, and the first row and the second row have an interval of 2.5 pitches. Therefore, in order to print in a line on the photoconductor, even data (Q 2 , Q 4 ,... Q 160 ) among print data output from the data latch 18 is odd data (Q 1 , Q 3 ,.
Q 179 ) needs to be delayed by 2 pulses and 4 pulses of the shift clock ▲ ▼. Reference numeral 19 denotes a data delay unit for delaying the even-numbered data, which is composed of two stages of latches and has the same shift clock as the data of the data latch 18.
Shifted by ▼. Output data Q 1, Q 2 of the data latch 18 to perform the micro-shutter 3i is 2 time division driving, Q
3 and Q 4 ... Q 159 and Q 160 are given as a set to the segment electrode 3h. Reference numeral 20 denotes a data mixing unit for mixing these data, and the odd data of the data latch 18 and the data delay unit 19
And mix the data with the output from. That outputs the input A 1 and B 1 to the driver 21 from the output W 1 as a pair. FIG. 1B shows a set of data mixing units, and performs the following operation. The data select signal DSEL input to the data select terminal 22 is H,
L is in the second half, odd data A is selected in the first half,
In the latter half, even data B is selected. Here, the data of A or B is determined to be a signal for opening the micro shutter 3i at H and closing the micro shutter 3i at L. An open waveform PT1 for opening the micro shutter 3i is input to the drive signal terminal A23, and a closed waveform PT2 for closing the micro shutter 3i is input to the drive signal terminal B24. Thus, for example, if A is H in the first half of one writing cycle, an open waveform PT1 is output to W, and if B is L in the second half, a closed waveform PT2 is output to W. Since the output of the data mixing section 20 is a signal level voltage (about 5 V), the level of the driving voltage V (about 20 V) inputted to the voltage terminal 25 by the driver 21 is output.
V) and is applied to the segment electrode 3h. Next, the operation of generating a test print pattern according to the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a test print pattern generation circuit of the present invention, FIG. 2 is an operation time chart, and FIG. 3 is a dot configuration diagram of the test print pattern. First, in FIG. 1, when the power supply of the device is turned on, the reset signal RES of the reset terminal 26 becomes H for a moment, and through the OR gate 35, the 4-bit binary counters 27, 28
Reset. When the printer is in the standby state, the vertical synchronizing input signal ▼ is at H level, the 4-bit binary counter 29 is in the reset state, and the dot count enable signal ▼ is at H level.
The bit binary counter 30 is also in a reset state. When the printer enters the test print mode, the vertical sync input signal ▲
▼, then the dot count enable signal ▲
Both become L and the clock signal ▲ ▼ can be input. Here, the vertical synchronization input signal ▼ is L until the test printing for one page is completed, and the clock signal ▼ is the same as the clock signal ▼ input to the clock terminal A15 in FIG. The 4-bit comparator 31 outputs DATA only when the outputs of the 4-bit binary counters 29 and 30 match (A 1 = B 1 , A 2 = B 2 , A 3 = B 3 , A 4 = B 4 ). First, when the dot count enable signal ▲ ▼ becomes L, DT
A output is performed. This DATA is the data terminal 1 shown in FIG.
Output to 3. 4-bit binary counter 30
The output becomes zero every 16 clocks in ▼, and DATA is output for the first dot on the first line.
DATA is output from the 4-bit comparator 31 every 16 clocks. In the case of A4 size, the dot count enable signal ▲ ▼ becomes H at the timing when 2340 clocks corresponding to one line of main scanning are output, and this operation is performed.
Repeat the line. Note that DATA is an impeller 33C and AND gate 3.
3d is output only when ▲ is L. On the other hand, each time one line is completed, the 4-bit binary counter 27 is incremented by the dot count enable signal ▲ ▼ via the inverter 33e,
NAND gates 33a and 33b from D of bit binary counter 28
, The clock signal is input to the symbol ▼ of the 4-bit binary counter 29, and the output of the 4-bit binary counter 29 becomes 1. Thereafter, the 4-bit binary counters 27 and 28 are reset by the OR gate 35. As a result, the output of the 4-bit binary counter 29 is 1 from the 129th line to the 256th line, so that when the output of the 4-bit binary counter 30 is 1,
TA is output. That is, as shown in FIG. 3, a 4-bit binary counter 30 is provided for the first to 128th lines.
Is zero, a test print pattern is output every 16 dots from the first dot, and from the 129th line to the 256th line, the output of the 4-bit binary counter 30 is 1, so it is shifted by one dot from the first dot. Since the output of the 4-bit binary counter 30 is 2 every 16 dots from the 257th line to the 512th line, the test print pattern is output every 16 dots from the position shifted by 2 dots from the leading dot. A test print pattern shifted by one dot per line is output. In the case of a 300 DPI printer, 16 dots is about 1.3 mm,
128 lines is about 10.8mm. In the example of FIG. 3, the portion indicated by 36 is not printed where it should be printed, and is the 18th micro shutter of the liquid crystal optical shutter 3b.
It turns out that 3i-18 is bad. The above operation will be described with reference to the time chart of FIG. RES at a is a reset at power-on, and performs a reset operation at H level. The test printing is enabled with L in b in B, and the L state is maintained during the printing period of one page in the sub-scanning direction. From the moment when ▼ shown by e becomes L, the 4-bit binary counter 30 starts counting the clock signal of C, and the first dot, the seventeenth dot...
Output DATA of d to the dot. This operation is f
▼ is similarly repeated up to the 128th line, and from the 129th line to the 256th line, the second dot as shown by h,
18th dot ... DATA is output to 2338th dot. Also the 25th
From the 7th line to the 512th line, DATA is output at the 3rd dot, the 19th dot,..., The 2339th dot as shown by i. Note that g is an enlarged view of the 129th line of f and i is an enlarged view of the 257th line of f. In FIG. 1, the 4-bit binary counters 27, 28
And line count operation without using flip-flops
It is also possible to do this with the firmware of the CPU. Next, another embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is a test pattern generation circuit of another embodiment of the present invention, FIGS. 5 and 6 are dot configuration diagrams of test print patterns, and FIG. 7 is an operation time chart. First, in FIG. 4, when the printer is in the standby state, the 4-bit binary counter 37 is in the reset state through the OR circuit 38a because the vertical synchronization input signal ▼ and the dot count enable signal ▼ are H. When the printer enters the test print mode, the vertical sync input signal ▲
▼, then dot count enable signal ▲
Both become low and the clock signal can be input. A clock signal ▲ is input to the AND circuit 38b.
▼ and the Q output of the latch 39 are input.
The output is used for printing the same black or white dot in the main scanning direction, which will be described in detail later. Note that the vertical synchronization input signal ▼ is L until the test printing for one page is completed, and the clock signal ▼ is the same as the clock signal ▼ input to the clock terminal A15 in FIG. The 4-bit comparators 40 and 41 are used only when the outputs of the 4-bit binary counter 37 and the 8-bit flip-flop 42 match (A 1 = B 1 , A 2 = B 2 , A 3 = B 3 , A 4 = B 4 ). It outputs DATA to the AND circuit 38c through the OR circuit 43. The final DATA is an inverter 38d and an AND circuit 38.
Dot count enable signal ▲ by c
Output only when ▼ is L. DATA is the same as Fig. 1
It is output to the data terminal 13 shown in the figure. When the write data latch signal ▲ ▼ becomes L, the 8-bit flip-flop 42 becomes the data D7 to D0 of the 8-bit data bus 45 of the CPU 44.
Latch. Next, the data of D0 of the 8-bit data bus 45 is latched in the latch 39 by the continuous data latch signal ▼. At this time, if all the one line in the main scan is to be printed in black or white, DO is set to 0 (Q output of latch 39 is L).
The AND circuit 38b is closed to inhibit the 4-bit binary counter 37 from advancing. Next, the operation in the case of creating a test print pattern as shown in FIGS. 5 and 6 will be described. The arrows in these figures indicate the traveling direction (sub-scanning direction) of the paper 46. Next, as shown in FIG. 5 (A) ((B) is a partially enlarged view)
The operation in the case of printing the oblique lines of dots will be described.
In the figure, diagonal lines are printed every 16 dots in the main scanning direction and the sub-scanning direction. In this example, D7 to D4 and D3 to D0 need to output the same data. First, the CPU 44 outputs 0000 0000 to the bus line 45. The 8-bit flip-flop 42 latches the data 0001 0000 of D7 to D0 by the write data latch signal デ ー タ. Next, DO is set to 1 and AN
The D circuit 38 is opened and closed in synchronization with the clock ▲ ▼.
The output of the 4-bit binary counter 37 is 0000 when the dot count enable signal ▼ falls, and the 4-bit comparators 40 and 41 perform black printing in which DATA is output from both. From 1 clock to 15 clocks of the clock signal CK1, D to A are 0001, 0010...
Since they do not match the data 0000 of 7 to D4 and D3 to D0, DATA is not output and white printing is performed. Therefore, the first dot is set to black, and black printing is performed every 16 dots thereafter. Next, for the second line, the data of D7 to D4 and D3 to D0 are set to 0001, thereby making the first line.
The dots are printed in white, the second dots are printed in black, the third to sixteenth dots are printed in white, and this is repeated every 16 dots. In the third line, D7 to D4 and D3 to D0 are set to 0010, so that the first to second dots are printed in white, the third dot is printed in black, the fourth to sixteenth dots are printed in white, and thereafter, the 16th and 16th dots are printed in white. Repeat for each dot. Thus, D7 ~ D4, D3
The data of D0 to D0 is set to 0000 for the first line, and is set to 0001, 0010,... 1111 every time one line is advanced thereafter. FIG.
The test pattern is the same as that shown in the figure, and the data of D7 to D4 and D3 to D0 are 0000 for the operation of FIG.
It is possible to print 128 lines as 001, shift the data of D7 to D4 and D3 to D0 by 1 bit, and repeat this. Next, these operations will be described with reference to the time chart of FIG. RES and ▼ indicated by k and l are the same as those in the example of FIG. D7 to D0 indicated by q are data of the bus line 45 of the CPU and are common to the RAM 47, ROM 48, and the like. First, the write data latch signal ▲ ▼
The data of D7 to D0 are latched in the 8-bit flip-flop 42. The time chart of FIG. 7 shows an example of the case of the diagonal lines in FIG. 5, and at this time, the CPU 44 sets D7 to D0 to 0000 0000.
Is output to the bus line 45. Next, DO is set to 1 and the data of DO is latched in the latch 39 by the continuous data latch signal ▼. The data of D7 to D1 at this time is 1
Alternatively, it may be 0. As a result, the 4-bit binary counter 37 starts the clock ▼ from the point when the dot count enable signal ▼ has fallen to L.
Is started, and DATA indicated by r is output every 1st dot, 17th dot, and every 16 dots thereafter. For the second line
By setting D7 to D0 to 0001 0001, the second dot and the eighteenth dot
DATA is output every dot and thereafter every 16 dots. As described above, according to the test pattern generation circuit shown in FIG. 4, various test patterns can be created based on data. In addition to detection of defective dots, generation of test patterns suitable for detecting print blur, image blur, and the like. Is possible. In addition, if a closed waveform is applied to PT1 and an open waveform is applied to PT2 in FIG. 10, a negative image is printed, and further, by selecting the waveforms of DATA and PT1 and PT2 input to the data terminal 13, forward development, reverse development, a positive pattern, It can correspond to any of the negative patterns. Although the liquid crystal optical printer has been described as an example in the above-described embodiment, the present invention is not limited to this, and it is needless to say that the present invention can be applied to a printer having a large number of writing dots in the main scanning direction such as an LED printer and a multi-stylus printer. It is. [Effects of the Invention] As described in detail above, according to the present invention, a test pattern that is regularly displaced every predetermined dot in the sub-scanning direction in generating a test pattern of a printer,
Since printing can be performed with a simple configuration such as a counter without using storage means such as a ROM, defective dots of the write head can be easily found with a low-cost configuration.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明におけるテスト印字パターン発生回路
図、 第2図は第1図のタイムチャート、 第3図はテスト印字パターンのドット構成図、 第4図は本発明における他の実施例のテスト印字パター
ン発生回路図、 第5図(A),(B),第6図(A),(B)は他の実
施例によるテスト印字パターンのドット構成図、 第7図は第4図のタイムチャート 第8図は液晶のプリンターの断面図、 第9図は液晶シャッタの外観図、 第10図(A),(B)は液晶光シャッタの駆動回路図、 第11図(A),(B),(C)は従来のテストパターン
図である。 3……液晶ヘッド、3b……液晶光シャッタ、3i……マイ
クロシャッタ、14……シフトレジスタ、18……データラ
ッチ、19……データ遅延部、20……データ混合部、21…
…ドライバー、27,28,29,30,37……4ビットバイナリカ
ウンタ、30,40,41……4ビットコンパレータ、39……ラ
ッチ、42……8ビットフリップフロップ、44……CPU、4
5……バスライン
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a circuit diagram of a test print pattern generation circuit according to the present invention, FIG. 2 is a time chart of FIG. 1, FIG. 3 is a dot configuration diagram of the test print pattern, and FIG. 5 (A), 5 (B), 6 (A), and 6 (B) are dot configuration diagrams of a test print pattern according to another embodiment of the present invention. Fig. 8 is a time chart of Fig. 4. Fig. 8 is a sectional view of a liquid crystal printer. Fig. 9 is an external view of a liquid crystal shutter. Figs. 10 (A) and (B) are driving circuit diagrams of a liquid crystal optical shutter. FIGS. 1A, 1B, and 1C are conventional test pattern diagrams. 3 Liquid crystal head, 3b Liquid crystal light shutter, 3i Micro shutter, 14 Shift register, 18 Data latch, 19 Data delay unit, 20 Data mixing unit, 21
… Driver, 27,28,29,30,37… 4 bit binary counter, 30,40,41… 4 bit comparator, 39… latch, 42… 8 bit flip flop, 44… CPU, 4
5 …… Bus line

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI B41J 29/46 B41J 3/12 C G06F 3/12 H04N 1/00 106 (56)参考文献 特開 昭57−89985(JP,A) 特開 昭57−163586(JP,A) 特開 昭61−261078(JP,A) 特開 昭61−261079(JP,A) 特開 昭61−29576(JP,A) 特開 昭61−206684(JP,A) 実開 昭61−95551(JP,U)Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification symbol FI B41J 29/46 B41J 3/12 C G06F 3/12 H04N 1/00 106 (56) References JP-A-57-89985 (JP, A) JP-A-57-163586 (JP, A) JP-A-61-261078 (JP, A) JP-A-61-261079 (JP, A) JP-A-61-29576 (JP, A) JP-A-61-206684 ( JP, A) Japanese Utility Model Showa 61-95551 (JP, U)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 1.主走査方向に多数の書込みドットを有するプリンタ
ーのテストパターン発生装置において、所定周期で発生
するクロック信号を計数する計数手段と、該計数手段の
出力値と副走査方向の所定ラインを印字する毎に異なる
所定データを出力する出力手段の出力との入力し前記出
力値と該所定データを比較する比較手段と、該比較手段
による前記出力値と前記所定データの一致検出に基づき
前記書込みドットに所定信号を与える印字信号発生手段
と、主走査方向の所定ラインの印字終了毎に前記出力手
段に計数信号を送出し、前記出力手段から出力される前
記所定データを、直前の前記所定ラインの印字のために
出力されたデータに所定値を加算した出力信号に変更す
る印字位置変更手段とを有し、前記出力手段からの出力
信号により主走査方向に所定ドット間隔でテスト印字を
行い、前記出力手段からの前記所定値を加算した出力信
号により主走査方向に前記出力信号によるテスト印字と
は異なる位置にテスト印字を行なう動作を順次繰り返し
行うことを特徴とするテストパターン発生装置。 2.前記所定信号はドットを印字するめの印字信号であ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のテスト
パターン発生装置。 3.前記所定信号はドットを印字しないための非印字信
号であることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
テストパターン発生装置。
(57) [Claims] In a test pattern generator for a printer having a large number of writing dots in the main scanning direction, a counting means for counting clock signals generated in a predetermined cycle, and each time an output value of the counting means and a predetermined line in the sub scanning direction are printed. Comparing means for inputting the output of the output means for outputting different predetermined data and comparing the output value with the predetermined data; and a predetermined signal applied to the writing dot based on the detection of coincidence between the output value and the predetermined data by the comparing means. And a count signal is sent to the output means each time printing of a predetermined line in the main scanning direction is completed, and the predetermined data output from the output means is used for printing the immediately preceding predetermined line. Print position changing means for changing the output signal to an output signal obtained by adding a predetermined value to the data output to the main scanning direction. Test printing is performed at predetermined dot intervals, and an operation of performing test printing at a position different from the test printing by the output signal in the main scanning direction by an output signal obtained by adding the predetermined value from the output unit is sequentially repeated. Test pattern generator. 2. 2. The test pattern generator according to claim 1, wherein the predetermined signal is a print signal for printing dots. 3. 2. The test pattern generator according to claim 1, wherein the predetermined signal is a non-printing signal for not printing a dot.
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