JP2935115B2 - 研削盤の研削盤制御及び統計的プロセス調整のための自動測定用計算機 - Google Patents
研削盤の研削盤制御及び統計的プロセス調整のための自動測定用計算機Info
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- JP2935115B2 JP2935115B2 JP63025552A JP2555288A JP2935115B2 JP 2935115 B2 JP2935115 B2 JP 2935115B2 JP 63025552 A JP63025552 A JP 63025552A JP 2555288 A JP2555288 A JP 2555288A JP 2935115 B2 JP2935115 B2 JP 2935115B2
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- amplitude
- grinding
- grinding machine
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
- B24B49/02—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation according to the instantaneous size and required size of the workpiece acted upon, the measuring or gauging being continuous or intermittent
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
- B24B49/10—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation involving electrical means
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B7/00—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
- B24B7/10—Single-purpose machines or devices
- B24B7/16—Single-purpose machines or devices for grinding end-faces, e.g. of gauges, rollers, nuts, piston rings
- B24B7/17—Single-purpose machines or devices for grinding end-faces, e.g. of gauges, rollers, nuts, piston rings for simultaneously grinding opposite and parallel end faces, e.g. double disc grinders
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、特に連続加工シーケンスにより工作物を研
削するための研削盤の研削盤制御及び統計的プロセス調
整のための自動測定用計算機に関する。
削するための研削盤の研削盤制御及び統計的プロセス調
整のための自動測定用計算機に関する。
［従来の技術及び発明が解決しようとする問題点］ 研削盤においては、たとえば複数の被測定部品の連続
研削などの場合に生産流れの中でそれぞれの工作物を測
定する、又は軸嵌合部を研削する円筒研削盤などの場合
に個々の工作物の研削加工面を生産プロセスの中で測定
する測定制御部が知られている。この測定制御部は、絶
えず研削盤を監視し、要求される工作物の寸法許容差に
対して研削盤を制御することを目的して工作物に関する
測定データを収集する。
研削などの場合に生産流れの中でそれぞれの工作物を測
定する、又は軸嵌合部を研削する円筒研削盤などの場合
に個々の工作物の研削加工面を生産プロセスの中で測定
する測定制御部が知られている。この測定制御部は、絶
えず研削盤を監視し、要求される工作物の寸法許容差に
対して研削盤を制御することを目的して工作物に関する
測定データを収集する。
この場合、統計的品質管理を目的として手動のプロセ
ス後測定手段又は測定装置を使用することも知られてお
り、正確な測定値を確保するために移動中の工作物につ
いての動的測定工程の代わりに、静止している工作物に
関する静的な測定方法が適用される。
ス後測定手段又は測定装置を使用することも知られてお
り、正確な測定値を確保するために移動中の工作物につ
いての動的測定工程の代わりに、静止している工作物に
関する静的な測定方法が適用される。
しかしながら、プロセス後測定手段又は測定装置の場
合には、測定制御部とは異なり、測定データの収集場所
は直接の生産工程から遠く離れており、特に連続研削に
おいては、それに続く測定値収集を伴なう測定工程方法
は抽出検査でなければ不可能であり、時間もかかるので
不利である。さらに、その後に行なわれる加工装置及び
プロセス後測定装置における測定制御に要するコストが
比較的高いという欠点もある。
合には、測定制御部とは異なり、測定データの収集場所
は直接の生産工程から遠く離れており、特に連続研削に
おいては、それに続く測定値収集を伴なう測定工程方法
は抽出検査でなければ不可能であり、時間もかかるので
不利である。さらに、その後に行なわれる加工装置及び
プロセス後測定装置における測定制御に要するコストが
比較的高いという欠点もある。
連続研削の場合に、プロセス後測定装置を、研削盤組
込みの測定制御部の代わりに、研削盤をプロセス後に制
御するためにも利用したならば、あらゆる工作物につい
て、研削盤とプロセス後測定装置との間に、測定値の受
取り及び反応の遅延に起因する品質確保面の問題が起こ
る。従って、特に性能の高い連続平面研削においては、
研削工具の直後に工作物を解放して、研削盤内で送りな
がら工作物を測定することが不可欠であり、これによ
り、研削盤の調整システムは研削工具の消耗を許容限界
内で直ちに制御することができる。
込みの測定制御部の代わりに、研削盤をプロセス後に制
御するためにも利用したならば、あらゆる工作物につい
て、研削盤とプロセス後測定装置との間に、測定値の受
取り及び反応の遅延に起因する品質確保面の問題が起こ
る。従って、特に性能の高い連続平面研削においては、
研削工具の直後に工作物を解放して、研削盤内で送りな
がら工作物を測定することが不可欠であり、これによ
り、研削盤の調整システムは研削工具の消耗を許容限界
内で直ちに制御することができる。
調整技術の上で必要とされる急速な反応と、プロセス
制御のための測定システムを仕上げ場所のすぐ近くに配
置する構成は、確率的信号（不規則信号）による測定誤
差の影響を増大させる。経験によれば、このような信号
は連続平面研削及び連続心なし円筒研削の場合に特に多
く見られる。切削性能が高く且つ大量の工作物を研削す
る極端な状況では、確率的信号は工作物の仕上げ許容差
を広げ、ばらつきを大きくする結果を招く。
制御のための測定システムを仕上げ場所のすぐ近くに配
置する構成は、確率的信号（不規則信号）による測定誤
差の影響を増大させる。経験によれば、このような信号
は連続平面研削及び連続心なし円筒研削の場合に特に多
く見られる。切削性能が高く且つ大量の工作物を研削す
る極端な状況では、確率的信号は工作物の仕上げ許容差
を広げ、ばらつきを大きくする結果を招く。
研削に特有の確率的信号は、元来、測定値収集の際の
妨害作用によって発生するものである。
妨害作用によって発生するものである。
このような不規則信号プロセスは信頼しうる測定値を
必要とする。そのため、連続研削プロセスにおいては、
研削盤制御のための測定制御及び要求される統計的プロ
セス調整を実行するために、測定信号評価、検出及び確
率的測定誤差信号の排除のための高精度の方法が必要で
ある。
必要とする。そのため、連続研削プロセスにおいては、
研削盤制御のための測定制御及び要求される統計的プロ
セス調整を実行するために、測定信号評価、検出及び確
率的測定誤差信号の排除のための高精度の方法が必要で
ある。
連続加工シーケンス（連続法）により工作物を研削す
る場合、西ドイツ特許第2949427号によれば、工作物ご
とに、除去される値と、最適のプロセス従属可変調整値
又はフィードバック値が研削工具に関して発生される。
この場合、各工作物の最小値の選択や、調整インターバ
ル間の全ての最小値の和の平均値の形成等の詳細値は、
プロセス従属調整量を得るために使用される。西ドイツ
特許第3314318号には、研削盤の所定場所に挿入するの
に適し、高速動的測定工程を実行し、側方からの力及び
冷却剤の作用による負荷を受けやすい測定走査器システ
ムの適用が記載されている。
る場合、西ドイツ特許第2949427号によれば、工作物ご
とに、除去される値と、最適のプロセス従属可変調整値
又はフィードバック値が研削工具に関して発生される。
この場合、各工作物の最小値の選択や、調整インターバ
ル間の全ての最小値の和の平均値の形成等の詳細値は、
プロセス従属調整量を得るために使用される。西ドイツ
特許第3314318号には、研削盤の所定場所に挿入するの
に適し、高速動的測定工程を実行し、側方からの力及び
冷却剤の作用による負荷を受けやすい測定走査器システ
ムの適用が記載されている。
［問題点を解決するための手段］ これらの公知の構成を考慮した上で、本発明の目的
は、研削盤調整制御のための所定場所に高速測定コンピ
ュータを使用することにより、確率的誤差信号を迅速に
事前選択して、工作物ごとの測定信号評価と共に、研削
盤の平坦調整及び統計的品質管理をさらに可能にするこ
とである。
は、研削盤調整制御のための所定場所に高速測定コンピ
ュータを使用することにより、確率的誤差信号を迅速に
事前選択して、工作物ごとの測定信号評価と共に、研削
盤の平坦調整及び統計的品質管理をさらに可能にするこ
とである。
本発明は、連続加工シーケンスにより工作物を研削す
るための研削盤と、この研削盤で研削された直後の移動
中の前記工作物の表面を走査する、測定可能周波数の高
い機械的な高速測定走査器とを含み、この走査器からの
測定データを基に前記研削盤の制御を行うシステムの、
前記測定データを処理する自動測定用計算機において、
前記測定データに含まれる振幅の有効部分を決定するた
めの、設定可能なトリガ閾値レベルを設定する処理と、
このトリガ閾値レベルで抽出された前記有効部分の始ま
りを示す時間軸上の測定開始部と終わりを示す時間軸上
の測定終了部の内の前記開始部を基準とする時間軸後方
の開始限界、および前記終了部を基準とする時間軸前方
の終了限界を設定する処理と、前記開始部と前記終了部
に挟まれる前記有効部分の中で検出された振幅の最小値
により下方限界を設定し、また前記有効部分の中で検出
された振幅の最大値により上方限界を設定する処理と、
前記振幅の最大値の検出処理時に、信号振幅の急峻な上
昇とそれに続く急峻な降下を伴う妨害信号を排除する処
理と、前記４個の限界で囲まれる信号ウインドウの中の
測定データだけを有効成分として記憶する処理とを行う
ことを特徴とする。
るための研削盤と、この研削盤で研削された直後の移動
中の前記工作物の表面を走査する、測定可能周波数の高
い機械的な高速測定走査器とを含み、この走査器からの
測定データを基に前記研削盤の制御を行うシステムの、
前記測定データを処理する自動測定用計算機において、
前記測定データに含まれる振幅の有効部分を決定するた
めの、設定可能なトリガ閾値レベルを設定する処理と、
このトリガ閾値レベルで抽出された前記有効部分の始ま
りを示す時間軸上の測定開始部と終わりを示す時間軸上
の測定終了部の内の前記開始部を基準とする時間軸後方
の開始限界、および前記終了部を基準とする時間軸前方
の終了限界を設定する処理と、前記開始部と前記終了部
に挟まれる前記有効部分の中で検出された振幅の最小値
により下方限界を設定し、また前記有効部分の中で検出
された振幅の最大値により上方限界を設定する処理と、
前記振幅の最大値の検出処理時に、信号振幅の急峻な上
昇とそれに続く急峻な降下を伴う妨害信号を排除する処
理と、前記４個の限界で囲まれる信号ウインドウの中の
測定データだけを有効成分として記憶する処理とを行う
ことを特徴とする。
本発明に係る自動測定用計算機の使用により、さら
に、次のような応用が可能となる。
に、次のような応用が可能となる。
複数の測定走査器を利用する調整工程、和、差及び平
行度の測定、測定範囲、測定走査器の行程範囲、限界値
の数値による範囲の事前設定、調整信号出力、及び統計
的特性値、工作物の個数、中間値、分散、標準偏差の設
定、あるいは、現場での個々の測定値の連続図形表示を
実行するためのソフトウェアに応じた多言語のスクリー
ン表示付き操作者コントロール。この場合、ローリング
プロセスの最終値をそれぞれ同時に表示できる。
行度の測定、測定範囲、測定走査器の行程範囲、限界値
の数値による範囲の事前設定、調整信号出力、及び統計
的特性値、工作物の個数、中間値、分散、標準偏差の設
定、あるいは、現場での個々の測定値の連続図形表示を
実行するためのソフトウェアに応じた多言語のスクリー
ン表示付き操作者コントロール。この場合、ローリング
プロセスの最終値をそれぞれ同時に表示できる。
移動型補助モニターを使用すると、たとえば搬送路の
途中で測定走査器をリモートコントロールすることがで
きる。所定の生産量に関する記録文書作成のためのプリ
ンタ端末装置との差込み接続部を設けることも可能であ
る。さらに、データ接続部を介して、プロセスデータを
中央製造管理部へ連続的に伝送することができる。
途中で測定走査器をリモートコントロールすることがで
きる。所定の生産量に関する記録文書作成のためのプリ
ンタ端末装置との差込み接続部を設けることも可能であ
る。さらに、データ接続部を介して、プロセスデータを
中央製造管理部へ連続的に伝送することができる。
装置内においては、機能性の自己制御のための周期的
検査ルーチンを適用することができる。また、温度測定
用外部センサを使用して、たとえば測定走査器の保持部
について、熱によるドリフト作用を報知することがで
き、この情報は修正係数として自動測定用計算機により
利用される。
検査ルーチンを適用することができる。また、温度測定
用外部センサを使用して、たとえば測定走査器の保持部
について、熱によるドリフト作用を報知することがで
き、この情報は修正係数として自動測定用計算機により
利用される。
本発明の構成は特に連続加工シーケンスにより工作物
を研削するための研削盤のマイクロプロセッサに基づく
測定制御手段を中心としており、測定信号は計算機にお
いて自動的に評価されるが、確率的に妨害信号はあらか
じめ排除される。評価は、研削プロセスの品質管理、研
削結果の記録文書作成及び中央管理部のコンピュータへ
の品質データ並びに生産データの報知を目的として、統
計的計算規則に従って実行される。多機能であるため、
特に研削プロセスにおける「管理」機能があるため、本
発明による測定制御では自動測定用計算機は重要な役割
をになう。
を研削するための研削盤のマイクロプロセッサに基づく
測定制御手段を中心としており、測定信号は計算機にお
いて自動的に評価されるが、確率的に妨害信号はあらか
じめ排除される。評価は、研削プロセスの品質管理、研
削結果の記録文書作成及び中央管理部のコンピュータへ
の品質データ並びに生産データの報知を目的として、統
計的計算規則に従って実行される。多機能であるため、
特に研削プロセスにおける「管理」機能があるため、本
発明による測定制御では自動測定用計算機は重要な役割
をになう。
本発明においては、測定走査器が加工部の近傍に配置
されることによって起こる、いかにしても避けがたい確
率的妨害信号と、その結果、測定値収集で生じる測定誤
差が統計的計算プロセスに導入されるのではなく、あら
ゆる管理サイクルアルゴリズム及び統計アルゴリズムの
適用前に、以下の実施例において説明するように、数値
測定信号が特別に選別評価され、妨害信号が排除される
ことがきわめて重要である。
されることによって起こる、いかにしても避けがたい確
率的妨害信号と、その結果、測定値収集で生じる測定誤
差が統計的計算プロセスに導入されるのではなく、あら
ゆる管理サイクルアルゴリズム及び統計アルゴリズムの
適用前に、以下の実施例において説明するように、数値
測定信号が特別に選別評価され、妨害信号が排除される
ことがきわめて重要である。
［実施例］ 以下、添付の図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
第１図は、平坦な工作物４及び５等々を連続して研摩
するための２つの研摩ディスク２及び３を有する両面平
面研削盤における測定ステーション１を例として示して
おり、この測定ステーション１は上方測定走査器Alと、
下方測定走査器Blとを具備する。工作物は、たとえば研
削盤の回転穴あき板６に入れる等この送り手段により引
張られない状態で測定ステーション１を通るように案内
される。２つの研摩ディスク２及び３から出た直後の工
作物５について２つの測定走査器Al及びBlにより得られ
た測定値は、両面平面研削盤の双方の研摩ディスク調整
システムに対する急速な制御反応を生じさせるので、工
作物の許容差限界内で研削工具の消耗を急速に調整する
ことができる。同様に、２本の研削スピンドル７及び８
の熱による長さの変化をフィードバック制御することが
できる。
するための２つの研摩ディスク２及び３を有する両面平
面研削盤における測定ステーション１を例として示して
おり、この測定ステーション１は上方測定走査器Alと、
下方測定走査器Blとを具備する。工作物は、たとえば研
削盤の回転穴あき板６に入れる等この送り手段により引
張られない状態で測定ステーション１を通るように案内
される。２つの研摩ディスク２及び３から出た直後の工
作物５について２つの測定走査器Al及びBlにより得られ
た測定値は、両面平面研削盤の双方の研摩ディスク調整
システムに対する急速な制御反応を生じさせるので、工
作物の許容差限界内で研削工具の消耗を急速に調整する
ことができる。同様に、２本の研削スピンドル７及び８
の熱による長さの変化をフィードバック制御することが
できる。
急速な反応を得るためには、測定走査器を研削盤の工
作場所の近傍に配置するのが有利であるが、この場合、
確率的な性質をもつ妨害作用による測定誤差が起こる。
たとえば、工作物４、５の引張られていない状態にある
送り搬送部（穴あき板）６でも、冷却剤や、工作物の下
方の削りくず10によって、研削盤のテーブル９の上方に
おける工作物の高さ位置にばらつきを生じさせる。２つ
の測定走査器Al及びBlの信号は計算機において加算さ
れ、それにより、工作物の高さ位置のばらつきは測定法
に基づいて補正される。
作場所の近傍に配置するのが有利であるが、この場合、
確率的な性質をもつ妨害作用による測定誤差が起こる。
たとえば、工作物４、５の引張られていない状態にある
送り搬送部（穴あき板）６でも、冷却剤や、工作物の下
方の削りくず10によって、研削盤のテーブル９の上方に
おける工作物の高さ位置にばらつきを生じさせる。２つ
の測定走査器Al及びBlの信号は計算機において加算さ
れ、それにより、工作物の高さ位置のばらつきは測定法
に基づいて補正される。
そこで、第２図は、工作物の測定開始時における立上
り（工作物の前縁）と測定終了時とにおける立下り（工
作物の後縁）、並びに第１図に示されるような工作物の
表面上の研削粒11に起因する阻害信号を含めて、工作物
の厚さに関する和信号Ｓ＝Al＋Blの変化を概要的に示
す。本発明によれば、辺（限界）I,II,III,IVを有する
自然に形成される信号ウインドウにより、測定信号の評
価が可能になる。さらに、たとえば毎秒3000回といった
比較的高速の走査と、毎秒500mmの工作物送り運動とに
より、工作物の表面は１ミリメートルにつき６回走査さ
れることになる。従って、測定軌跡の中には曲線Ｓで示
すような高さプロファイルが記録され、個々の数値は計
算機に記憶される。プログラム可能な（設定可能な）ト
リガ閾値レベルＶは工作物によって異なるTAからTEまで
の測定バッチを決定するので、工作物と工作物の間で
は、トリガ閾値レベル下回る測定信号は有効とならな
い。
り（工作物の前縁）と測定終了時とにおける立下り（工
作物の後縁）、並びに第１図に示されるような工作物の
表面上の研削粒11に起因する阻害信号を含めて、工作物
の厚さに関する和信号Ｓ＝Al＋Blの変化を概要的に示
す。本発明によれば、辺（限界）I,II,III,IVを有する
自然に形成される信号ウインドウにより、測定信号の評
価が可能になる。さらに、たとえば毎秒3000回といった
比較的高速の走査と、毎秒500mmの工作物送り運動とに
より、工作物の表面は１ミリメートルにつき６回走査さ
れることになる。従って、測定軌跡の中には曲線Ｓで示
すような高さプロファイルが記録され、個々の数値は計
算機に記憶される。プログラム可能な（設定可能な）ト
リガ閾値レベルＶは工作物によって異なるTAからTEまで
の測定バッチを決定するので、工作物と工作物の間で
は、トリガ閾値レベル下回る測定信号は有効とならな
い。
計算機においては、時間軸上の始まりを示す測定開始
部TAから終わりを示す測定終了部TEに至るまでの走査範
囲（振幅の有効部分）にわたる複数の測定信号に同等に
100％のシェアが設定される。
部TAから終わりを示す測定終了部TEに至るまでの走査範
囲（振幅の有効部分）にわたる複数の測定信号に同等に
100％のシェアが設定される。
TAの後の、たとえば10％＝開始限界Ｉと、TEの前の、
たとえば10％＝終了限界IIといったプログラム可能な限
界を設定することにより、その後の測定信号評価に対し
ては80％の測定範囲が残される。これによって、前記の
立上りおよび立下りに伴なって発生された誤った測定信
号は排除される。
たとえば10％＝終了限界IIといったプログラム可能な限
界を設定することにより、その後の測定信号評価に対し
ては80％の測定範囲が残される。これによって、前記の
立上りおよび立下りに伴なって発生された誤った測定信
号は排除される。
信号ウインドウの下方限界IIIは、80％の評価範囲に
おける最小数値（振幅の最小値）により決定される。妨
害信号は80％の評価範囲の中では常に最小値を上回って
いるので、このように選択された最小の数値は工作物の
厚さに関する許容測定量となる。
おける最小数値（振幅の最小値）により決定される。妨
害信号は80％の評価範囲の中では常に最小値を上回って
いるので、このように選択された最小の数値は工作物の
厚さに関する許容測定量となる。
発生しうると思われる最小値誤差は範囲から外れた開
始領域及び終了領域にのみ現われる可能性がある。
始領域及び終了領域にのみ現われる可能性がある。
信号ウインドウの上方限界IVは、80％の評価範囲にお
ける最大数値（振幅の最大値）により決定される。たと
えば研削粒11のような、より大きな妨害信号は排除され
る。
ける最大数値（振幅の最大値）により決定される。たと
えば研削粒11のような、より大きな妨害信号は排除され
る。
測定誤差VIは、研削後の平坦な面の平常にわずかな傾
斜に対して異常な傾斜があることにより検出することが
できる。激しい上昇と、それに続く激しい降下とを伴な
う信号列は、平坦は研削平面に関する妨害信号を表わす
確実な指標である。
斜に対して異常な傾斜があることにより検出することが
できる。激しい上昇と、それに続く激しい降下とを伴な
う信号列は、平坦は研削平面に関する妨害信号を表わす
確実な指標である。
走査シーケンスにおけるそれぞれ２つの測定信号の数
値をその都度比較していくことにより、この差は傾斜の
尺度となる。許容しうる傾斜に関して計算パラメータを
あらかじめ与えておくことにより、異物の妨害信号を急
速に選別することができる。最大値と最小値との差は、
工作物の双方の研削面に起こりうる平行度偏差の尺度と
なる。
値をその都度比較していくことにより、この差は傾斜の
尺度となる。許容しうる傾斜に関して計算パラメータを
あらかじめ与えておくことにより、異物の妨害信号を急
速に選別することができる。最大値と最小値との差は、
工作物の双方の研削面に起こりうる平行度偏差の尺度と
なる。
平行度の限界値をあらかじめ与えておくことにより、
信号は、２つの研摩ディスクに関する自動平坦調整サイ
クルを開始するための研削盤制御に使用される。
信号は、２つの研摩ディスクに関する自動平坦調整サイ
クルを開始するための研削盤制御に使用される。
計算機能と、測定走査器信号の和測定、自動的に測定
を開始するためのトリガ閾値レベル、表面を断面として
とらえるための高速走査、四方の限界で設定される信号
ウインドウ、及び工作物ごとの傾斜の差評価との組合せ
作用により、研削プロセスの調整をさらに続行し、統計
的にデータ表示をする前に、研削プロセスに特有の妨害
値は除去される。
を開始するためのトリガ閾値レベル、表面を断面として
とらえるための高速走査、四方の限界で設定される信号
ウインドウ、及び工作物ごとの傾斜の差評価との組合せ
作用により、研削プロセスの調整をさらに続行し、統計
的にデータ表示をする前に、研削プロセスに特有の妨害
値は除去される。
第１図の測定ステーション１の熱による長さ変化を補
正するために、装置に組込まれた温度センサ12を使用し
て動作温度をその都度測定し、自動測定用計算機にその
結果を送る。
正するために、装置に組込まれた温度センサ12を使用し
て動作温度をその都度測定し、自動測定用計算機にその
結果を送る。
自動測定用計算機には、様々に変化する動作温度△ｔ
によって決定される厚さ寸法△ｓの変化を連続的に考慮
した修正テーブルが記憶されている。
によって決定される厚さ寸法△ｓの変化を連続的に考慮
した修正テーブルが記憶されている。
最後に、第３図には、測定走査器から始まり、利用可
能な周辺装置及び通信用の端末装置をも含む本発明によ
る自動測定用計算機101の全体構成が概略的に示されて
いる。
能な周辺装置及び通信用の端末装置をも含む本発明によ
る自動測定用計算機101の全体構成が概略的に示されて
いる。
測定走査器Al及びBlのための入力端子102及び103は、
複数箇所にわたる測定出力に対して、たとえばKFZ結合
部の平行度測定の場合のように,An,Bnまで、すなわち、
ソフトウェアに応じて和測定、差測定及び比較測定の実
行のために結合されるｎ個の測定走査器に対応して拡張
されることができる。
複数箇所にわたる測定出力に対して、たとえばKFZ結合
部の平行度測定の場合のように,An,Bnまで、すなわち、
ソフトウェアに応じて和測定、差測定及び比較測定の実
行のために結合されるｎ個の測定走査器に対応して拡張
されることができる。
入力端子104はアナログセンサ、たとえば温度による
影響の補正のために設けられている。また、入力端子10
5は研削盤制御部の直接点報知に使用され、出力端子106
は研削盤制御部への直接信号伝送のために使用される。
出力端子107はアナログ測定信号を、たとえば高速記録
用端末装置へ伝送するために使用され、出力端子108は
外部工作物カウンタ用であり、出力端子109はたとえば
リモートコントロールのための外部スクリーン用であ
る。
影響の補正のために設けられている。また、入力端子10
5は研削盤制御部の直接点報知に使用され、出力端子106
は研削盤制御部への直接信号伝送のために使用される。
出力端子107はアナログ測定信号を、たとえば高速記録
用端末装置へ伝送するために使用され、出力端子108は
外部工作物カウンタ用であり、出力端子109はたとえば
リモートコントロールのための外部スクリーン用であ
る。
接続箇所110は統計的な測定結果を文書の形で作成す
るためのプリンタ端末装置用として設けられ、接続箇所
111は研削盤制御部との信号交換及びデータ通信、目標
値と実際値との差の測定技術により検出された量だけ調
整システムを操作する作業、研削プロセスの制御、及び
たとえばあらかじめ与えられている最大値と最小値との
平行度偏差値の差を上回った場合の平坦調整サイクルの
開始のために設けられている。
るためのプリンタ端末装置用として設けられ、接続箇所
111は研削盤制御部との信号交換及びデータ通信、目標
値と実際値との差の測定技術により検出された量だけ調
整システムを操作する作業、研削プロセスの制御、及び
たとえばあらかじめ与えられている最大値と最小値との
平行度偏差値の差を上回った場合の平坦調整サイクルの
開始のために設けられている。
接続箇所112は、統計的品質管理の規定に従って生産
量及び生産品質を連続して報知するための上位コンピュ
ータ、たとえば中央生産管理部との信号交換及びデータ
通信のために設けられている。
量及び生産品質を連続して報知するための上位コンピュ
ータ、たとえば中央生産管理部との信号交換及びデータ
通信のために設けられている。
時間的に間隔をおいて、たとえば測定が実行されてい
ない時間に、自動測定用計算機を自動的に監視するため
に、自動測定用計算機の検査プログラムをホストコンピ
ュータから開始することができる。
ない時間に、自動測定用計算機を自動的に監視するため
に、自動測定用計算機の検査プログラムをホストコンピ
ュータから開始することができる。
第１図は、両面平面研削盤における測定ステーションを
示す図、 第２図は、妨害信号を含めて工作物の厚さに関する和信
号の変化を概略的に示す図、及び 第３図は、本発明による自動測定用計算機の全体構成を
概略的に示す図である。 １……測定ステーション（自動測定用計算機） 2,3……研摩ディスク 4,5……工作物 Al,B1……測定走査器
示す図、 第２図は、妨害信号を含めて工作物の厚さに関する和信
号の変化を概略的に示す図、及び 第３図は、本発明による自動測定用計算機の全体構成を
概略的に示す図である。 １……測定ステーション（自動測定用計算機） 2,3……研摩ディスク 4,5……工作物 Al,B1……測定走査器
Claims (2)
- 【請求項１】連続加工シーケンスにより工作物（４、
５）を研削するための研削盤（２、３、７、８）と、こ
の研削盤で研削された直後の移動中の前記工作物の表面
を走査する、測定可能周波数の高い機械的な高速測定走
査器（Al、Bl）とを含み、この走査器からの測定データ
を基に前記研削盤の制御を行うシステムの、前記測定デ
ータを処理する自動測定用計算機において、 前記測定データに含まれる振幅の有効部分を決定するた
めの、設定可能なトリガ閾値レベル（Ｖ）を設定する処
理と、 このトリガ閾値レベルで抽出された前記有効部分の始ま
りを示す時間軸上の測定開始部（TA）と終わりを示す時
間軸上の測定終了部（TE）の内の前記開始部を基準とす
る時間軸後方の開始限界（Ｉ）、および前記終了部を基
準とする時間軸前方の終了限界（II）を設定する処理
と、 前記開始部と前記終了部に挟まれる前記有効部分の中で
検出された振幅の最小値により下方限界（III）を設定
し、また前記有効部分の中で検出された振幅の最大値に
より上方限界（IV）を設定する処理と、 前記振幅の最大値の検出処理時に、信号振幅の急峻な上
昇とそれに続く急峻な降下を伴う妨害信号（VI）を排除
する処理と、 前記４個の限界（Ｉ、II、III、IV）で囲まれる信号ウ
インドウの中の測定データだけを有効成分として記憶す
る処理と、 を行うことを特徴とする自動測定用計算機。 - 【請求項２】前記研削盤による研削が前記工作物の両面
に対し同時に実施される場合、前記工作物の厚さ寸法
は、前記信号ウインドウに含まれる振幅の中間値により
表され、 また前記工作物の平行度偏差は、前記上方限界の振幅値
と下方限界値の振幅との差により表される、 ことを特徴とする請求項１記載の自動測定用計算機。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3703429A DE3703429A1 (de) | 1987-02-05 | 1987-02-05 | Messautomatikrechner zur maschinensteuerung und statistischer prozessregelung fuer schleifmaschinen, insbesondere zum schleifen von werkstuecken in kontinuierlicher bearbeitungsfolge |
| DE3703429.4 | 1987-02-05 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63196373A JPS63196373A (ja) | 1988-08-15 |
| JP2935115B2 true JP2935115B2 (ja) | 1999-08-16 |
Family
ID=6320259
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63025552A Expired - Lifetime JP2935115B2 (ja) | 1987-02-05 | 1988-02-05 | 研削盤の研削盤制御及び統計的プロセス調整のための自動測定用計算機 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2935115B2 (ja) |
| DE (1) | DE3703429A1 (ja) |
| IT (1) | IT1215800B (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0413845B1 (de) * | 1989-08-24 | 1993-04-28 | Carl Schenck Ag | Verfahren zur Schadensfrüherkennung an Maschinenteilen |
| US5058434A (en) * | 1990-02-27 | 1991-10-22 | Carl Schenck Ag | Process for early detection of damage to machine parts |
| DE4316313C1 (de) * | 1993-05-15 | 1994-12-08 | Alexander Bromme | Verfahren und Anordnung zur Qualitätsüberwachung des Schleifprozesses |
| DE102015203052B4 (de) * | 2015-02-20 | 2024-04-04 | Elgan-Diamantwerkzeuge Gmbh & Co. Kg | Honverfahren zum Formhonen |
| CN110900338A (zh) * | 2019-12-10 | 2020-03-24 | 浙江理工大学 | 一种工件自动打磨的控制方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2949427C2 (de) * | 1979-12-08 | 1983-12-29 | Diskus Werke Frankfurt Am Main Ag, 6000 Frankfurt | Meßsteuerungsvorrichtung für Schleifmaschinen, insbesondere Flachschleifmaschinen zum Schleifen von Werkstücken in kontinuierlicher Bearbeitungsfolge |
| DE3314318C1 (de) * | 1983-04-20 | 1984-10-04 | Diskus Werke Frankfurt Am Main Ag, 6000 Frankfurt | Meßtaster mit induktivem Meßsystem für Schleifmaschinen |
-
1987
- 1987-02-05 DE DE3703429A patent/DE3703429A1/de active Granted
-
1988
- 1988-02-04 IT IT8819317A patent/IT1215800B/it active
- 1988-02-05 JP JP63025552A patent/JP2935115B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3703429A1 (de) | 1988-08-18 |
| DE3703429C2 (ja) | 1990-01-25 |
| IT1215800B (it) | 1990-02-22 |
| IT8819317A0 (it) | 1988-02-04 |
| JPS63196373A (ja) | 1988-08-15 |
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