JPH07186044A - 砥石振れ計測装置および砥石ツルーイング装置 - Google Patents
砥石振れ計測装置および砥石ツルーイング装置Info
- Publication number
- JPH07186044A JPH07186044A JP33141493A JP33141493A JPH07186044A JP H07186044 A JPH07186044 A JP H07186044A JP 33141493 A JP33141493 A JP 33141493A JP 33141493 A JP33141493 A JP 33141493A JP H07186044 A JPH07186044 A JP H07186044A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grindstone
- grinding wheel
- displacement
- grain size
- outer peripheral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
- Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 寿命を長くし、しかも振れを正確に計測す
る。 【構成】 マウント１にレーザ変位計４を取り付け、砥
石３の砥石軸の回転速度を制御する砥石回転制御手段５
を設け、砥石回転制御手段５を介して砥石３の砥石軸を
低速で回転し、この状態での砥石３の外周面の変位を入
力し、最大変位量を求める最大変位量演算手段６を設
け、最大変位量から砥石３の粒度を推定する粒度推定手
段７を設け、粒度推定手段７によって推定された粒度か
らサンプル数を設定するサンプル数設定手段８を設け、
砥石回転制御手段５を介して砥石３の砥石軸を高速で回
転し、この状態での砥石３の外周面の変位を入力し、こ
の変位をサンプル数に基づいて平均化処理して振れを求
める平均化処理手段１０を設け、この振れから振れ量を
求める振れ量演算手段１１を設ける。
る。 【構成】 マウント１にレーザ変位計４を取り付け、砥
石３の砥石軸の回転速度を制御する砥石回転制御手段５
を設け、砥石回転制御手段５を介して砥石３の砥石軸を
低速で回転し、この状態での砥石３の外周面の変位を入
力し、最大変位量を求める最大変位量演算手段６を設
け、最大変位量から砥石３の粒度を推定する粒度推定手
段７を設け、粒度推定手段７によって推定された粒度か
らサンプル数を設定するサンプル数設定手段８を設け、
砥石回転制御手段５を介して砥石３の砥石軸を高速で回
転し、この状態での砥石３の外周面の変位を入力し、こ
の変位をサンプル数に基づいて平均化処理して振れを求
める平均化処理手段１０を設け、この振れから振れ量を
求める振れ量演算手段１１を設ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は砥石振れ計測装置およ
び砥石ツルーイング装置に関するものである。
び砥石ツルーイング装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図１３は従来の砥石振れ計測装置を示す
図である。図に示すように、砥石３の下方にテーブル２
９が設けられ、テーブル２９上にマウント１が設けら
れ、マウント１にピックテスト２が固定されている。
図である。図に示すように、砥石３の下方にテーブル２
９が設けられ、テーブル２９上にマウント１が設けら
れ、マウント１にピックテスト２が固定されている。
【０００３】この砥石振れ計測装置においては、ピック
テスト２の触針部を砥石３の外周面に接触した状態で、
砥石３を手動あるいはモータにより回転させると、砥石
３の振れを計測することができる。
テスト２の触針部を砥石３の外周面に接触した状態で、
砥石３を手動あるいはモータにより回転させると、砥石
３の振れを計測することができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような砥
石振れ計測装置においては、ピックテスト２の触針部を
砥石３の外周面に接触させるから、ピックテスト２の触
針部が摩耗するので、寿命が短い。
石振れ計測装置においては、ピックテスト２の触針部を
砥石３の外周面に接触させるから、ピックテスト２の触
針部が摩耗するので、寿命が短い。
【０００５】このため、レーザ変位計を有する砥石振れ
計測装置が考えられる。しかしながら、この場合には、
砥石の振れとともに表面粗さ成分をも計測してしまうか
ら、砥石の振れを正確に計測することができない。
計測装置が考えられる。しかしながら、この場合には、
砥石の振れとともに表面粗さ成分をも計測してしまうか
ら、砥石の振れを正確に計測することができない。
【０００６】また、従来のように振れ測定装置がない場
合には、ツルーイング回数によって管理しているため、
振れ以上に砥石を削り、高価な砥石が無駄になってい
た。
合には、ツルーイング回数によって管理しているため、
振れ以上に砥石を削り、高価な砥石が無駄になってい
た。
【０００７】この発明は上述の課題を解決するためにな
されたもので、砥石振れ成分を正確に計測することがで
きる砥石振れ計測装置、高価な砥石を無駄なく使用する
ことができ砥石ツルーイング装置を提供することを目的
とする。
されたもので、砥石振れ成分を正確に計測することがで
きる砥石振れ計測装置、高価な砥石を無駄なく使用する
ことができ砥石ツルーイング装置を提供することを目的
とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明においては、砥石を回転させたときの上記
砥石の外周面の変位を測定することにより、上記砥石の
振れを計測する装置において、上記砥石の外周面の変位
を非接触で測定する非接触式変位計と、上記非接触式変
位計の出力を平均化処理する平均化処理手段とを設け
る。
め、この発明においては、砥石を回転させたときの上記
砥石の外周面の変位を測定することにより、上記砥石の
振れを計測する装置において、上記砥石の外周面の変位
を非接触で測定する非接触式変位計と、上記非接触式変
位計の出力を平均化処理する平均化処理手段とを設け
る。
【０００９】この場合、上記砥石の粒度に応じて上記平
均化処理手段におけるサンプル数を決定するサンプル数
決定手段を設ける。
均化処理手段におけるサンプル数を決定するサンプル数
決定手段を設ける。
【００１０】この場合、上記サンプル数決定手段のサン
プル数を、上記非接触式変位計の出力から上記砥石の粒
度を推定して決定する。
プル数を、上記非接触式変位計の出力から上記砥石の粒
度を推定して決定する。
【００１１】また、砥石の外周面をツルーイングする砥
石ツルーイング装置において、上述の砥石振れ計測装置
で検出された振れに基づいて上記砥石の外周面のツルー
イング切込量を決定する。
石ツルーイング装置において、上述の砥石振れ計測装置
で検出された振れに基づいて上記砥石の外周面のツルー
イング切込量を決定する。
【００１２】
【作用】この砥石振れ計測装置においては、変位計の部
品が摩耗せず、しかも振れのみを計測することができ
る。
品が摩耗せず、しかも振れのみを計測することができ
る。
【００１３】また、サンプル数決定手段を設けたときに
は、サンプル数を適正にすることができる。
は、サンプル数を適正にすることができる。
【００１４】また、サンプル数決定手段のサンプル数
を、非接触式変位計の出力から砥石の粒度を推定して決
定したときには、容易にサンプル数を適正にすることが
できる。
を、非接触式変位計の出力から砥石の粒度を推定して決
定したときには、容易にサンプル数を適正にすることが
できる。
【００１５】また、上記砥石ツルーイング装置において
は、正確な振れの測定結果に基づいてツルーイング切込
量を決定することができる。
は、正確な振れの測定結果に基づいてツルーイング切込
量を決定することができる。
【００１６】
【実施例】図１はこの発明に係る砥石振れ計測装置を示
す図である。図に示すように、マウント１に非接触式変
位計であるレーザ変位計４が取り付けられ、砥石３の砥
石軸の回転速度を制御する砥石回転制御手段５が設けら
れ、砥石回転制御手段５を介して砥石３の砥石軸を低速
で回転し、この状態での砥石３の外周面の変位を入力
し、最大変位量Ｄを求める最大変位量演算手段６が設け
られ、最大変位量Ｄから砥石３の粒度を推定する粒度推
定手段７が設けられ、粒度推定手段７によって推定され
た粒度からサンプル数を設定するサンプル数設定手段８
が設けられ、最大変位量演算手段６、粒度推定手段７、
サンプル数設定手段８によってサンプル数決定手段９が
構成されている。また、砥石回転制御手段５を介して砥
石３の砥石軸を高速で回転し、この状態での砥石３の外
周面の変位を入力し、この変位をサンプル数決定手段９
で決定されたサンプル数に基づいて平均化処理して振れ
を求める平均化処理手段１０が設けられ、この振れから
振れ量Ｆを求める振れ量演算手段１１が設けられてい
る。
す図である。図に示すように、マウント１に非接触式変
位計であるレーザ変位計４が取り付けられ、砥石３の砥
石軸の回転速度を制御する砥石回転制御手段５が設けら
れ、砥石回転制御手段５を介して砥石３の砥石軸を低速
で回転し、この状態での砥石３の外周面の変位を入力
し、最大変位量Ｄを求める最大変位量演算手段６が設け
られ、最大変位量Ｄから砥石３の粒度を推定する粒度推
定手段７が設けられ、粒度推定手段７によって推定され
た粒度からサンプル数を設定するサンプル数設定手段８
が設けられ、最大変位量演算手段６、粒度推定手段７、
サンプル数設定手段８によってサンプル数決定手段９が
構成されている。また、砥石回転制御手段５を介して砥
石３の砥石軸を高速で回転し、この状態での砥石３の外
周面の変位を入力し、この変位をサンプル数決定手段９
で決定されたサンプル数に基づいて平均化処理して振れ
を求める平均化処理手段１０が設けられ、この振れから
振れ量Ｆを求める振れ量演算手段１１が設けられてい
る。
【００１７】つぎに、図２に基づいて図１に示した砥石
振れ計測装置の動作について説明する。まず、最大変位
量演算手段６が砥石回転制御手段５を介して砥石３を低
速で回転し、この状態での砥石３の外周面の変位を入力
し、最大値Ｈと最小値Ｌとの差である最大変位量Ｄを求
める。つぎに、粒度推定手段７が最大変位量Ｄから砥石
３の粒度を推定する。ここで、図３(ａ)に示すように砥
石３の粒度が大きい場合には、図３(ｂ)に示すように最
大変位量Ｄが大きいのに対して、図４(ａ)に示すように
砥石３の粒度が小さい場合には、図４(ｂ)に示すように
最大変位量Ｄが小さく、図５に示すように、砥石３の粒
度によって最大変位量Ｄが変化するから、最大変位量Ｄ
から砥石３の粒度を推定することができる。つぎに、サ
ンプル数設定手段８が粒度推定手段７によって推定され
た粒度から図６に示すグラフに基づいてサンプル数を設
定する。つぎに、平均化処理手段１０が砥石回転制御手
段５を介して砥石３を高速で回転し、この状態での砥石
３の外周面の変位すなわち図７(ａ)、図８(ａ)に示すよ
うな変位を入力し、この変位をサンプル数に基づいて平
均化処理して、図７(ｂ)、図８(ｂ)に示すような振れを
求める。つぎに、振れ量演算手段１１がこの振れから図
７(ｂ)、図８(ｂ)に示すような振れ量Ｆを求める。
振れ計測装置の動作について説明する。まず、最大変位
量演算手段６が砥石回転制御手段５を介して砥石３を低
速で回転し、この状態での砥石３の外周面の変位を入力
し、最大値Ｈと最小値Ｌとの差である最大変位量Ｄを求
める。つぎに、粒度推定手段７が最大変位量Ｄから砥石
３の粒度を推定する。ここで、図３(ａ)に示すように砥
石３の粒度が大きい場合には、図３(ｂ)に示すように最
大変位量Ｄが大きいのに対して、図４(ａ)に示すように
砥石３の粒度が小さい場合には、図４(ｂ)に示すように
最大変位量Ｄが小さく、図５に示すように、砥石３の粒
度によって最大変位量Ｄが変化するから、最大変位量Ｄ
から砥石３の粒度を推定することができる。つぎに、サ
ンプル数設定手段８が粒度推定手段７によって推定され
た粒度から図６に示すグラフに基づいてサンプル数を設
定する。つぎに、平均化処理手段１０が砥石回転制御手
段５を介して砥石３を高速で回転し、この状態での砥石
３の外周面の変位すなわち図７(ａ)、図８(ａ)に示すよ
うな変位を入力し、この変位をサンプル数に基づいて平
均化処理して、図７(ｂ)、図８(ｂ)に示すような振れを
求める。つぎに、振れ量演算手段１１がこの振れから図
７(ｂ)、図８(ｂ)に示すような振れ量Ｆを求める。
【００１８】このような砥石振れ計測装置においては、
変位計とし非接触式変位計であるレーザ変位計４を使用
しているから、変位計の部品が摩耗せず、しかも変位を
平均化処理して振れを求めているから、振れ成分のみを
計測することができるので、振れを正確に計測すること
ができる。ここで、図９は粒度が♯２００、♯４００、
♯８００、♯１０００の砥石３について図１に示した砥
石振れ計測装置で振れ量Ｆを求めた場合のサンプル数と
振れ量Ｆとの関係を示すグラフである。このグラフから
明らかなように、砥石３の粒度によって最適なサンプル
数すなわちピックテストによるデータと振れ量Ｆが一致
するサンプル数が存在し、砥石３の粒度に応じた最適な
サンプル数は図６に示す値になる。そして、サンプル数
決定手段９は図６に示すグラフに基づいてサンプル数を
決定しているから、サンプル数を適正にすることができ
るので、振れをより正確に計測することができる。ま
た、レーザ変位計４の出力から砥石３の粒度を推定して
いるから、容易にサンプル数を適正にすることができる
ので、振れをより正確にかつ容易に計測することができ
る。
変位計とし非接触式変位計であるレーザ変位計４を使用
しているから、変位計の部品が摩耗せず、しかも変位を
平均化処理して振れを求めているから、振れ成分のみを
計測することができるので、振れを正確に計測すること
ができる。ここで、図９は粒度が♯２００、♯４００、
♯８００、♯１０００の砥石３について図１に示した砥
石振れ計測装置で振れ量Ｆを求めた場合のサンプル数と
振れ量Ｆとの関係を示すグラフである。このグラフから
明らかなように、砥石３の粒度によって最適なサンプル
数すなわちピックテストによるデータと振れ量Ｆが一致
するサンプル数が存在し、砥石３の粒度に応じた最適な
サンプル数は図６に示す値になる。そして、サンプル数
決定手段９は図６に示すグラフに基づいてサンプル数を
決定しているから、サンプル数を適正にすることができ
るので、振れをより正確に計測することができる。ま
た、レーザ変位計４の出力から砥石３の粒度を推定して
いるから、容易にサンプル数を適正にすることができる
ので、振れをより正確にかつ容易に計測することができ
る。
【００１９】図１０はこの発明に係る他の砥石振れ計測
装置を示す図である。図に示すように、マウント１がテ
ーブル１２上に設けられ、テーブル１２を砥石３の砥石
軸の方向に移動するテーブル移動手段１３が設けられ、
平均化処理手段１０の平均化処理が終了したとき、テー
ブル移動手段１３を制御してテーブル１２を移動したの
ち、平均化処理手段１０を再び作動する信号を出力する
ＮＣ制御手段１４が設けられ、平均化処理手段１０で求
められた振れを表示する表示手段１５が設けられてい
る。
装置を示す図である。図に示すように、マウント１がテ
ーブル１２上に設けられ、テーブル１２を砥石３の砥石
軸の方向に移動するテーブル移動手段１３が設けられ、
平均化処理手段１０の平均化処理が終了したとき、テー
ブル移動手段１３を制御してテーブル１２を移動したの
ち、平均化処理手段１０を再び作動する信号を出力する
ＮＣ制御手段１４が設けられ、平均化処理手段１０で求
められた振れを表示する表示手段１５が設けられてい
る。
【００２０】つぎに、この砥石振れ計測装置を説明す
る。まず、サンプル数決定手段９がサンプル数を決定す
る。つぎに、レーザ変位計４のレーザ光が砥石３の外周
面の一方端部を照射している状態で、平均化処理手段１
０がサンプル数に基づいて平均化処理して振れを求め
る。つぎに、平均化処理手段１０の平均化処理が終了し
たとき、ＮＣ制御手段１４がテーブル移動手段１３を制
御してテーブル１２を移動したのち、平均化処理手段１
０を再び作動する信号を出力する。つぎに、平均化処理
手段１０が平均化処理して振れを求める。このようにし
て、レーザ変位計４のレーザ光が砥石３の外周面の他方
端部を照射するまで振れを求める。つぎに、表示手段１
５が平均化処理手段１０で求められた図１１に示すよう
な振れを表示する。
る。まず、サンプル数決定手段９がサンプル数を決定す
る。つぎに、レーザ変位計４のレーザ光が砥石３の外周
面の一方端部を照射している状態で、平均化処理手段１
０がサンプル数に基づいて平均化処理して振れを求め
る。つぎに、平均化処理手段１０の平均化処理が終了し
たとき、ＮＣ制御手段１４がテーブル移動手段１３を制
御してテーブル１２を移動したのち、平均化処理手段１
０を再び作動する信号を出力する。つぎに、平均化処理
手段１０が平均化処理して振れを求める。このようにし
て、レーザ変位計４のレーザ光が砥石３の外周面の他方
端部を照射するまで振れを求める。つぎに、表示手段１
５が平均化処理手段１０で求められた図１１に示すよう
な振れを表示する。
【００２１】このような砥石振れ計測装置においては、
砥石３の外周面の振れを立体的に求めることができる。
砥石３の外周面の振れを立体的に求めることができる。
【００２２】図１２はこの発明に係る砥石ツルーイング
装置を示す図である。図に示すように、砥石３を覆った
砥石カバー１６が設けられ、砥石カバー１６にケース１
７が取り付けられ、ケース１７にレーザ変位計１８が上
下動可能に支持され、レーザ変位計１８を上下動する移
動手段１９が設けられ、移動手段１９を駆動するモータ
２０が設けられ、モータ２０を制御するモータ制御手段
２１が設けられ、レーザ変位計１８の出力を入力すると
ともに、レーザ変位計１８を制御するレーザ変位計制御
手段２２が設けられ、砥石３の下方に研削盤のテーブル
２３が設けられ、テーブル２３上にツルーア２４が設け
られ、ツルーア２４の近傍にＡＥセンサ２５が設けら
れ、ＡＥセンサ２５にＡＥセンサアンプ２６が接続さ
れ、ＡＥセンサアンプ２６に研削盤の機械制御手段２７
が接続され、モータ制御手段２１、レーザ制御手段２
２、機械制御手段２７がパーソナルコンピュータ２８に
よって制御され、パーソナルコンピュータ２８は図１に
示したサンプル数決定手段９、平均化処理手段１０、振
れ量演算手段１１を有している。
装置を示す図である。図に示すように、砥石３を覆った
砥石カバー１６が設けられ、砥石カバー１６にケース１
７が取り付けられ、ケース１７にレーザ変位計１８が上
下動可能に支持され、レーザ変位計１８を上下動する移
動手段１９が設けられ、移動手段１９を駆動するモータ
２０が設けられ、モータ２０を制御するモータ制御手段
２１が設けられ、レーザ変位計１８の出力を入力すると
ともに、レーザ変位計１８を制御するレーザ変位計制御
手段２２が設けられ、砥石３の下方に研削盤のテーブル
２３が設けられ、テーブル２３上にツルーア２４が設け
られ、ツルーア２４の近傍にＡＥセンサ２５が設けら
れ、ＡＥセンサ２５にＡＥセンサアンプ２６が接続さ
れ、ＡＥセンサアンプ２６に研削盤の機械制御手段２７
が接続され、モータ制御手段２１、レーザ制御手段２
２、機械制御手段２７がパーソナルコンピュータ２８に
よって制御され、パーソナルコンピュータ２８は図１に
示したサンプル数決定手段９、平均化処理手段１０、振
れ量演算手段１１を有している。
【００２３】つぎに、この砥石ツルーイング装置の動作
を説明する。まず、パーソナルコンピュータ２８がモー
タ制御手段２１を介してモータ２０を作動すると、移動
手段１９がレーザ変位計１８を下降する。そして、パー
ソナルコンピュータ２８がレーザ変位計１８と砥石３の
外周面との距離が所定値になったことを検知したとき、
パーソナルコンピュータ２８がモータ２０を停止する。
つぎに、パーソナルコンピュータ２８が砥石３の振れを
計測し、その振れに基づいて最低必要なツルーイング総
切込量、１回当りのツルーイング切込量、ツルーイング
回数を演算し、機械制御手段２７にツルーイング回数を
指令する。つぎに、機械制御手段２７がツルーア２４を
上昇し、ＡＥセンサ２５がツルーア２４と砥石３の外周
面との接触を検出したとき、パーソナルコンピュータ２
８により指令された１回当りの切込量を切り込み、演算
されたツルーイング回数だけツルーア２４で砥石３の外
周面のツルーイングを行なう。
を説明する。まず、パーソナルコンピュータ２８がモー
タ制御手段２１を介してモータ２０を作動すると、移動
手段１９がレーザ変位計１８を下降する。そして、パー
ソナルコンピュータ２８がレーザ変位計１８と砥石３の
外周面との距離が所定値になったことを検知したとき、
パーソナルコンピュータ２８がモータ２０を停止する。
つぎに、パーソナルコンピュータ２８が砥石３の振れを
計測し、その振れに基づいて最低必要なツルーイング総
切込量、１回当りのツルーイング切込量、ツルーイング
回数を演算し、機械制御手段２７にツルーイング回数を
指令する。つぎに、機械制御手段２７がツルーア２４を
上昇し、ＡＥセンサ２５がツルーア２４と砥石３の外周
面との接触を検出したとき、パーソナルコンピュータ２
８により指令された１回当りの切込量を切り込み、演算
されたツルーイング回数だけツルーア２４で砥石３の外
周面のツルーイングを行なう。
【００２４】このような砥石ツルーイング装置において
は、正確な振れの測定結果に基づいてツルーイング総切
込量を決定することができるから、ツルーイング総切込
量が小さくなるので、高価な砥石３を無駄なく使用する
ことができる。
は、正確な振れの測定結果に基づいてツルーイング総切
込量を決定することができるから、ツルーイング総切込
量が小さくなるので、高価な砥石３を無駄なく使用する
ことができる。
【００２５】なお、上述実施例においては、最大値Ｈ、
最小値Ｌから最大変位量Ｄを求めたが、変位が大きい５
点の平均値と変位が小さい５点の平均値との差から最大
変位量Ｄを求めてもよい。また、上述実施例において
は、最大変位量Ｄから砥石３の粒度を推定し、粒度から
サンプル数を決定したが、最大変位量Ｄから直接サンプ
ル数を決定してもよい。
最小値Ｌから最大変位量Ｄを求めたが、変位が大きい５
点の平均値と変位が小さい５点の平均値との差から最大
変位量Ｄを求めてもよい。また、上述実施例において
は、最大変位量Ｄから砥石３の粒度を推定し、粒度から
サンプル数を決定したが、最大変位量Ｄから直接サンプ
ル数を決定してもよい。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、この発明に係る砥
石振れ計測装置においては、変位計の部品が摩耗せず、
しかも振れのみを計測することができるから、振れを正
確に計測することができる。
石振れ計測装置においては、変位計の部品が摩耗せず、
しかも振れのみを計測することができるから、振れを正
確に計測することができる。
【００２７】また、サンプル数決定手段を設けたときに
は、サンプル数を適正にすることができるから、振れを
より正確に計測することができる。
は、サンプル数を適正にすることができるから、振れを
より正確に計測することができる。
【００２８】また、サンプル数決定手段のサンプル数
を、非接触式変位計の出力から砥石の粒度を推定して決
定したときには、容易にサンプル数を適正にすることが
できるから、振れをより正確にかつ容易に計測すること
ができる。
を、非接触式変位計の出力から砥石の粒度を推定して決
定したときには、容易にサンプル数を適正にすることが
できるから、振れをより正確にかつ容易に計測すること
ができる。
【００２９】また、この発明に係る砥石ツルーイング装
置においては、正確な振れの測定結果に基づいてツルー
イング切込量を決定することができるから、ツルーイン
グ切込量が小さくなるので、高価な砥石を無駄なく使用
することができる。
置においては、正確な振れの測定結果に基づいてツルー
イング切込量を決定することができるから、ツルーイン
グ切込量が小さくなるので、高価な砥石を無駄なく使用
することができる。
【００３０】このように、この発明の効果は顕著であ
る。
る。
【図１】この発明に係る砥石振れ計測装置を示す図であ
る。
る。
【図２】図１に示した砥石振れ計測装置の動作を説明す
るための図である。
るための図である。
【図３】図１に示した砥石振れ計測装置の動作を説明す
るための図である。
るための図である。
【図４】図１に示した砥石振れ計測装置の動作を説明す
るための図である。
るための図である。
【図５】図１に示した砥石振れ計測装置の動作を説明す
るための図である。
るための図である。
【図６】図１に示した砥石振れ計測装置の動作を説明す
るための図である。
るための図である。
【図７】図１に示した砥石振れ計測装置の動作を説明す
るための図である。
るための図である。
【図８】図１に示した砥石振れ計測装置の動作を説明す
るための図である。
るための図である。
【図９】図１に示した砥石振れ計測装置の動作を説明す
るための図である。
るための図である。
【図１０】この発明に係る他の砥石振れ計測装置を示す
図である。
図である。
【図１１】図１０に示した砥石振れ計測装置の動作を説
明するための図である。
明するための図である。
【図１２】この発明に係る砥石ツルーイング装置を示す
図である。
図である。
【図１３】従来の砥石振れ計測装置を示す図である。
３…砥石 ４…レーザ変位計 ７…粒度推定手段 ８…サンプル数設定手段 ９…サンプル数決定手段 １０…平均化処理手段 １８…レーザ変位計 ２４…ツルーア ２８…パーソナルコンピュータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 太田 稔 神奈川県横浜市神奈川区宝町２番地 日産 自動車株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】砥石を回転させたときの上記砥石の外周面
の変位を測定することにより、上記砥石の振れを計測す
る装置において、上記砥石の外周面の変位を非接触で測
定する非接触式変位計と、上記非接触式変位計の出力を
平均化処理する平均化処理手段とを具備することを特徴
とする砥石振れ計測装置。 - 【請求項２】上記砥石の粒度に応じて上記平均化処理手
段におけるサンプル数を決定するサンプル数決定手段を
設けたことを特徴とする請求項１に記載の砥石振れ計測
装置。 - 【請求項３】上記サンプル数決定手段のサンプル数を、
上記非接触式変位計の出力から上記砥石の粒度を推定し
て決定することを特徴とする請求項２に記載の砥石振れ
計測装置。 - 【請求項４】砥石の外周面をツルーイングする砥石ツル
ーイング装置において、請求項１に記載の砥石振れ計測
装置で検出された振れに基づいて上記砥石の外周面のツ
ルーイング切込量を決定することを特徴とする砥石ツル
ーイング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33141493A JPH07186044A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 砥石振れ計測装置および砥石ツルーイング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33141493A JPH07186044A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 砥石振れ計測装置および砥石ツルーイング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07186044A true JPH07186044A (ja) | 1995-07-25 |
Family
ID=18243417
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33141493A Pending JPH07186044A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 砥石振れ計測装置および砥石ツルーイング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07186044A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1055985A (ja) * | 1996-08-07 | 1998-02-24 | Seiko Seiki Co Ltd | ダイシング装置 |
| CN103802039A (zh) * | 2013-11-21 | 2014-05-21 | 湖南大学 | 一种凹曲面超硬磨料砂轮激光修整设备及方法 |
| CN106926134A (zh) * | 2017-03-24 | 2017-07-07 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 非球面磨削圆弧金刚石砂轮三维形状误差在位精密测量方法 |
| CN108891445A (zh) * | 2018-06-27 | 2018-11-27 | 马鞍山市雷狮轨道交通装备有限公司 | 一种列车车轮几何参数在线动态测量装置及测量方法 |
| CN110815048A (zh) * | 2019-10-22 | 2020-02-21 | 郑州磨料磨具磨削研究所有限公司 | 基于机器视觉的砂轮修整方法及装置 |
-
1993
- 1993-12-27 JP JP33141493A patent/JPH07186044A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1055985A (ja) * | 1996-08-07 | 1998-02-24 | Seiko Seiki Co Ltd | ダイシング装置 |
| CN103802039A (zh) * | 2013-11-21 | 2014-05-21 | 湖南大学 | 一种凹曲面超硬磨料砂轮激光修整设备及方法 |
| CN106926134A (zh) * | 2017-03-24 | 2017-07-07 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 非球面磨削圆弧金刚石砂轮三维形状误差在位精密测量方法 |
| CN108891445A (zh) * | 2018-06-27 | 2018-11-27 | 马鞍山市雷狮轨道交通装备有限公司 | 一种列车车轮几何参数在线动态测量装置及测量方法 |
| CN110815048A (zh) * | 2019-10-22 | 2020-02-21 | 郑州磨料磨具磨削研究所有限公司 | 基于机器视觉的砂轮修整方法及装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4551950A (en) | Truing apparatus for a grinding wheel with rounded corners | |
| JPH01234151A (ja) | 数値制御研削盤 | |
| JPH07186044A (ja) | 砥石振れ計測装置および砥石ツルーイング装置 | |
| JPH10202514A (ja) | 自動定寸装置 | |
| JP4707226B2 (ja) | 砥石のインプロセス測定装置と測定方法および研削装置 | |
| JPH064220B2 (ja) | 数値制御研削盤における自動砥石寸法測定方法 | |
| US11897075B2 (en) | Knife edge location sensor | |
| WO2018163390A1 (ja) | 研削方法及び研削装置 | |
| JP2843488B2 (ja) | 工作機械の制御方法および制御装置 | |
| JPH06258050A (ja) | 砥石形状計測装置 | |
| Maksoud et al. | In-process detection of grinding wheel truing and dressing conditions using a flapper nozzle arrangement | |
| JPH0335064B2 (ja) | ||
| JPH1177491A (ja) | 工具を用いる加工装置 | |
| JPH06339859A (ja) | 超砥粒ホイールのドレス時期判定方法およびその装置 | |
| JP2534500B2 (ja) | 研削盤の制御方法 | |
| JP3809670B2 (ja) | 研削盤及びその制御方法 | |
| JP3571559B2 (ja) | 平面研磨装置 | |
| JP2005297094A (ja) | ドレッシング判定装置 | |
| JP2933795B2 (ja) | 研削装置 | |
| JPH06312365A (ja) | 内周刃用ドレッシング装置 | |
| JPS6029276A (ja) | アンギュラ−型砥石車のツル−イング装置 | |
| JP2018069341A (ja) | グラインダ装置 | |
| JPH07164314A (ja) | 研削盤における砥石寸法測定方法およびその装置 | |
| JPH07310752A (ja) | 等速自在継手の内輪およびその製造方法 | |
| JP2020114614A (ja) | 表面粗さ推定装置および工作機械システム |