JP2929800B2 - Stop position determination method for electronic component suction nozzle - Google Patents

Stop position determination method for electronic component suction nozzle

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JP2929800B2 JP3264490A JP26449091A JP2929800B2 JP 2929800 B2 JP2929800 B2 JP 2929800B2 JP 3264490 A JP3264490 A JP 3264490A JP 26449091 A JP26449091 A JP 26449091A JP 2929800 B2 JP2929800 B2 JP 2929800B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は電子部品吸着ノズルの停
止位置決定方法に係り、詳しくは、マルチノズル式移載
ヘッドのノズルを、電子部品のピックアップミスの有無
を検出するために照射されるスリット光の光路に正しく
停止させるための手段に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of determining a stop position of an electronic component suction nozzle, and more particularly, to irradiating a nozzle of a multi-nozzle transfer head to detect the presence of an electronic component pickup error. The present invention relates to a means for correctly stopping the slit light in the optical path.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子部品(以下、チップという)を基板
に高速度で自動搭載するチップ実装装置として知られる
ロータリーヘッド式チップ実装装置は、ロータリーヘッ
ドに複数個設けられた移載ヘッドをインデックス回転さ
せるとともに、パーツフィーダを横方向に往復移動させ
ながら、この移載ヘッドによりピックアップ位置で停止
したパーツフィーダのチップをピックアップし、XYテ
ーブルに位置決めされた基板にこのチップを搭載するよ
うになっている。
2. Description of the Related Art A rotary head type chip mounting apparatus known as a chip mounting apparatus for automatically mounting electronic components (hereinafter, referred to as chips) on a substrate at a high speed uses an index rotation of a plurality of transfer heads provided on the rotary head. While the parts feeder is reciprocating in the horizontal direction, the chip of the parts feeder stopped at the pickup position is picked up by the transfer head, and the chip is mounted on the substrate positioned on the XY table. .

【0003】ロータリーヘッド式チップ実装装置は、チ
ップを基板に高速実装できる長所を有しているが、実装
速度が速いが故に移載ヘッドによるチップのピックアッ
プミスを多発しやすい短所がある。このピックアップミ
スとしては、チップ無(チップを吸着できなかった場
合)、チップ立ち(チップが立った姿勢で吸着された場
合)、誤ピックアップ(別品種のチップを吸着した場
合)等がある。このようなピックアップミスの検出手段
として、以下に述べるような、スリット光を利用した手
段が知られている。
The rotary head type chip mounting apparatus has an advantage that a chip can be mounted on a substrate at a high speed, but has a disadvantage that the mounting speed is high, so that a chip pick-up mistake by a transfer head is apt to occur frequently. This pick-up mistake includes no chip (when the chip could not be picked up), chip standing (when the chip was picked up in a standing position), and erroneous pickup (when a chip of a different type was picked up). As means for detecting such a pickup error, means utilizing slit light as described below is known.

【0004】図1はピックアップミス検出装置を装備す
るチップ実装装置の斜視図である。1はロータリーヘッ
ドであり、複数個のマルチノズル式移載ヘッド2が装備
されている。この移載ヘッド2にはチップPを吸着する
複数個のノズル3が装着されている。
FIG. 1 is a perspective view of a chip mounting device equipped with a pickup error detecting device. Reference numeral 1 denotes a rotary head provided with a plurality of multi-nozzle transfer heads 2. The transfer head 2 is provided with a plurality of nozzles 3 for sucking the chips P.

【0005】図2において、Mは移載ヘッド2を回転さ
せて、ノズル選択や回転角度の補正を行うためのモータ
であり、12はこのモータMを制御するコンピュータで
ある。13はモータM側のプーリ、14は移載ヘッド2
側のプーリ、15は両プーリ13,14に調帯されたタ
イミングベルトである。コンピュータ12の指令により
モータMを駆動すると、タイミングベルト15が回動し
て移載ヘッド2はその軸芯Oを中心に回転し、ピックア
ップしようとするチップPに最適のノズル3を選択す
る。
In FIG. 2, M is a motor for rotating the transfer head 2 to select a nozzle and correct a rotation angle, and 12 is a computer for controlling the motor M. 13 is a pulley on the motor M side, 14 is the transfer head 2
The pulley 15 on the side is a timing belt adjusted to both pulleys 13 and 14. When the motor M is driven by a command from the computer 12, the timing belt 15 rotates and the transfer head 2 rotates about its axis O, and selects the optimal nozzle 3 for the chip P to be picked up.

【0006】図1において、4はチップ供給部であり、
ロータリーヘッド1の周縁部の下方に配設されている。
このチップ供給部4の台部6には、パーツフィーダ5が
X方向に移動自在に載置されている。7は基板Sが載置
されたXYテーブルであり、ロータリーヘッド1の下方
のチップ供給部4の対向側に配設されている。
In FIG. 1, reference numeral 4 denotes a chip supply unit,
The rotary head 1 is disposed below the peripheral portion.
A parts feeder 5 is mounted on the base 6 of the chip supply unit 4 so as to be movable in the X direction. Reference numeral 7 denotes an XY table on which the substrate S is placed, which is disposed below the rotary head 1 on the side opposite to the chip supply unit 4.

【0007】図1および図2において、8は移載ヘッド
1の移動路の途中に設けられたレーザ装置であって、レ
ーザスリット光11の発光部9と受光部10から成って
おり、発光部9から受光部10へ向かって、縦長のレー
ザスリット光11が照射される。
In FIG. 1 and FIG. 2, reference numeral 8 denotes a laser device provided in the middle of the moving path of the transfer head 1, which comprises a light emitting portion 9 of a laser slit light 11 and a light receiving portion 10; Longitudinal laser slit light 11 is emitted from 9 to the light receiving unit 10.

【0008】本装置は上記のような構成より成り、次に
動作の説明を行う。チップの実装を行うに先立って、予
め次のようにして各ノズル3の下端部の高さを求める。
すなわち、まず図1に示すように、ロータリーヘッド1
を駆動して、移載ヘッド2をインデックス回転させ、移
載ヘッド2を発光部9と受光部10の間に移動させる。
次に、この位置において、移載ヘッド2から突出するノ
ズル3の下端部の高さ(以下、ノズル高という)を、以
下のようにして検出する。図3において、発光部9から
発光されたスリット光11のうち、ノズル3に照射され
た部分は、このノズル3に遮光されて受光部10に入射
せず、受光部10の出力はそれだけ低下することから、
その出力値に基づいて、基準レベルLからのノズル高H
が求められる。上記動作を繰り返すことにより、すべて
の移載ヘッド2のすべてのノズル3のノズル高を求め、
コンピュータ12に登録する。
The present apparatus has the above-described configuration, and the operation will be described next. Prior to mounting the chip, the height of the lower end of each nozzle 3 is determined in advance as follows.
That is, first, as shown in FIG.
Is driven, the transfer head 2 is rotated by the index, and the transfer head 2 is moved between the light emitting unit 9 and the light receiving unit 10.
Next, at this position, the height of the lower end of the nozzle 3 projecting from the transfer head 2 (hereinafter, referred to as the nozzle height) is detected as follows. In FIG. 3, of the slit light 11 emitted from the light emitting unit 9, the portion irradiated to the nozzle 3 is blocked by the nozzle 3 and does not enter the light receiving unit 10, and the output of the light receiving unit 10 decreases accordingly. From that
Based on the output value, the nozzle height H from the reference level L
Is required. By repeating the above operation, the nozzle heights of all the nozzles 3 of all the transfer heads 2 are obtained,
Register in the computer 12.

【0009】以上のようにして、すべてのノズル3のノ
ズル高を求めたならば、チップPの実装を行う。チップ
Pの実装を行うにあたっては、モータMを駆動して移載
ヘッド2を回転させ、ピックアップしようとするチップ
Pに最適のノズル3を選択し、次いでチップ供給部4上
において移載ヘッド2を昇降させ、ノズル3によりパー
ツフィーダ5のチップPをピックアップする。
After the nozzle heights of all the nozzles 3 have been determined as described above, the chip P is mounted. When mounting the chip P, the motor M is driven to rotate the transfer head 2, the nozzle 3 optimal for the chip P to be picked up is selected, and then the transfer head 2 is mounted on the chip supply unit 4. The chip P of the parts feeder 5 is picked up by the nozzle 3 by moving up and down.

【0010】次いで、ロータリーヘッド1の駆動により
この移載ヘッド2をインデックス回転させて、この移載
ヘッド2を発光部9と受光部10の間で停止させる。こ
こで、図4に示すように、ノズル3とチップPに発光部
9からスリット光11を照射して、前述したノズル高さ
Hの計測の場合と同様の手法により、受光部10の出力
から吸着されたチップPの下面の高さ(以下、チップ高
という)hを計測する。次いで、ノズル高Hとチップ高
hの差からチップPの厚さdを求め、この計測された厚
さdを、予めコンピュータ12に登録されたチップPの
厚さと比較することで、チップ無、チップ立ち、誤ピッ
クアップ等のピックアップミスの有無を判断する。
Next, the transfer head 2 is rotated by an index by driving the rotary head 1, and the transfer head 2 is stopped between the light emitting unit 9 and the light receiving unit 10. Here, as shown in FIG. 4, the nozzle 3 and the chip P are irradiated with the slit light 11 from the light emitting unit 9 and the output of the light receiving unit 10 is obtained by the same method as in the case of the measurement of the nozzle height H described above. The height h (hereinafter, referred to as a chip height) of the lower surface of the sucked chip P is measured. Next, the thickness d of the chip P is obtained from the difference between the nozzle height H and the chip height h, and the measured thickness d is compared with the thickness of the chip P registered in the computer 12 in advance, so that no chip exists. It is determined whether there is a pickup error such as a chip standing or an erroneous pickup.

【0011】ピックアップミスが無かった場合には、ロ
ータリーヘッド1を駆動して、チップPを吸着した移載
ヘッド2をXYテーブル7上に移動させ、そこで移載ヘ
ッド2の昇降により、チップPを基板S上に搭載する。
またピックアップミスが検出された場合には、チップP
の基板Sへの搭載は中止し、このチップPは適所で放棄
する。
If there is no pick-up error, the rotary head 1 is driven to move the transfer head 2 on which the chip P is sucked onto the XY table 7, where the chip P is moved up and down. It is mounted on the substrate S.
If a pickup error is detected, the chip P
Mounting on the substrate S is stopped, and the chip P is abandoned at an appropriate place.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】ところが、このピック
アップミス検出時において、例えばノズル3の組み付け
誤差などの機械誤差等のために、図5鎖線に示すよう
に、発光部9から発光されたスリット光11の光路か
ら、ノズル3の停止位置がずれる場合があり、このよう
にノズル3がずれると、ノズル3やチップPはスリット
光11を遮光せず、図3や図4に示す手法により、ノズ
ル高やチップ高を検出することはできないこととなる。
しかしながら、従来手段においては、このような場合の
対策がなにもなされておらず、したがってチップPのピ
ックアップミスの有無を誤判断しやすい問題点があっ
た。
However, when this pick-up error is detected, the slit light emitted from the light-emitting section 9 as shown by the chain line in FIG. 5 due to a mechanical error such as an assembly error of the nozzle 3, for example. In some cases, the stop position of the nozzle 3 is shifted from the optical path of the nozzle 11. When the nozzle 3 is shifted in this way, the nozzle 3 or the chip P does not block the slit light 11, and the nozzle 3 is moved by the method shown in FIGS. The height and the chip height cannot be detected.
However, in the conventional means, no countermeasure has been taken in such a case, and therefore, there has been a problem that it is easy to erroneously determine the presence or absence of a pick-up error of the chip P.

【0013】そこで本発明は、ピックアップミスの有無
の検出のために、ノズルをスリット光の光路に正しく停
止させることができる方法を提供することを目的とす
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a method capable of correctly stopping a nozzle in an optical path of slit light in order to detect a pickup error.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明は、移載ヘッドを
発光部と受光部の間に位置せしめ、モータを駆動してこ
の移載ヘッドを回転させることにより、移載ヘッドのノ
ズルを発光部から受光部へ照射されるスリット光を横切
らせて、その際の受光部の出力からノズルがスリット光
を遮光する位置を検出するようにしている。
According to the present invention, a transfer head is positioned between a light-emitting portion and a light-receiving portion, and a motor is driven to rotate the transfer head so that the nozzle of the transfer head emits light. The slit light emitted from the unit to the light receiving unit is traversed, and the position where the nozzle blocks the slit light is detected from the output of the light receiving unit at that time.

【0015】[0015]

【作用】上記構成において、ロータリーヘッドの駆動に
より、移載ヘッドを発光部と受光部の間に位置せしめ、
モータを駆動して移載ヘッドを回転させることにより、
ノズルをスリット光に横切らせて、その際の受光部の出
力からノズルがスリット光を遮光する位置を検出する。
In the above construction, the transfer head is positioned between the light emitting section and the light receiving section by driving the rotary head.
By driving the motor and rotating the transfer head,
The nozzle is made to cross the slit light, and the position where the nozzle blocks the slit light is detected from the output of the light receiving unit at that time.

【0016】このようにして、すべてのノズルについ
て、ノズルがスリット光を完全に遮光する位置を予め求
めておけば、このノズルによりチップを基板に移送搭載
する場合には、このノズルの停止位置を補正して、ノズ
ルをスリット光の光路遮光位置に正しく停止させて、チ
ップのピックアップミスの有無の検出を確実に行うこと
ができる。
In this way, if the positions where the nozzles completely block the slit light are determined in advance for all the nozzles, when the chips are transferred and mounted on the substrate by the nozzles, the stop positions of the nozzles are determined. After correction, the nozzle can be correctly stopped at the position where the optical path of the slit light is blocked, so that the presence or absence of chip pickup error can be reliably detected.

【0017】[0017]

【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。なお、本実施例に使用される装置の構成は図
1〜図5に示す従来装置と同一である。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The configuration of the apparatus used in this embodiment is the same as the conventional apparatus shown in FIGS.

【0018】本手段では、チップのピックアップミスの
有無を確実に検出できるように、予め次のようにして、
ノズルの停止位置を決定する。すなわち、ロータリーヘ
ッド1を駆動して、移載ヘッド2をインデックス回転さ
せ、移載ヘッド2から突出するノズル3を、発光部9と
受光部10の間の位置a(図2参照)で停止させる。こ
のノズル3は、モータMの駆動による回転停止位置誤差
や、組み付け成形誤差等のために、スリット光11の光
路上に正しく停止しているか否かは不明である。
In this means, in order to reliably detect the presence or absence of a chip pick-up error,
Determine the stop position of the nozzle. That is, the rotary head 1 is driven to rotate the transfer head 2 by the index, and the nozzle 3 protruding from the transfer head 2 is stopped at the position a (see FIG. 2) between the light emitting unit 9 and the light receiving unit 10. . It is unknown whether the nozzle 3 has stopped correctly on the optical path of the slit light 11 due to a rotation stop position error due to the driving of the motor M, an assembly molding error, and the like.

【0019】そこで、モータMを駆動して、ノズル3を
この位置aを中心にして、任意角度θ(例えば5°程
度)だけ矢印N方向に回動させ、その時の受光部10の
出力電圧の変化を求める。図中、破線で示す位置b,c
は、ノズル3の最大回動位置である。
Then, the motor M is driven to rotate the nozzle 3 around the position a by an arbitrary angle θ (for example, about 5 °) in the direction of the arrow N, and the output voltage of the light receiving unit 10 at that time is changed. Seek change. Positions b and c shown by broken lines in the figure
Is the maximum rotation position of the nozzle 3.

【0020】図6は、上記動作を行ったときの受光部1
0の出力電圧Vの変化図であり、上記位置aから角度Δ
θ変位した位置a′で、出力電圧Vは極小値Vmin とな
る。したがってモータMの駆動による移載ヘッド2の回
転角度をΔθ補正すれば、このノズル3をスリット光1
1の光路に正しく位置させて、スリット光11を完全遮
光し、図3や図4を参照しながら説明した手法により、
ノズル高Hやチップ高hを正確に計測することができ
る。なお、上記のようにノズル3を角度θ回動させて位
置a′を求める際に、これと同時に図3に示す手法によ
り、ノズル高Hも併せて求めておくことが望ましい。
FIG. 6 shows the light receiving section 1 when the above operation is performed.
FIG. 7 is a change diagram of the output voltage V at 0, and the angle Δ
At the position a 'displaced by θ, the output voltage V becomes the minimum value Vmin. Therefore, if the rotation angle of the transfer head 2 driven by the motor M is corrected by Δθ, the nozzle 3
1, the slit light 11 is completely shielded, and the slit light 11 is completely blocked, and by the method described with reference to FIGS.
The nozzle height H and the tip height h can be accurately measured. It should be noted that when the position a 'is determined by rotating the nozzle 3 by the angle θ as described above, it is desirable that the nozzle height H is also determined at the same time by the method shown in FIG.

【0021】上記手法と同様の手法により、すべての移
載ヘッド2のすべてのノズル3について、そのノズル高
Hと補正角度Δθを求め、その結果をコンピュータ12
に登録する。そして、各移載ヘッド2を順次インデック
ス回転させながら、パーツフィーダ5のチップPをいず
れかのノズル3に吸着してピックアップし、基板Sに移
送搭載する途中において、ノズル3を発光部9と受光部
10の間で停止させ、モータMを駆動して角度Δθの補
正を行うことにより、図4に示すようにノズル3とチッ
プPをスリット光11の光路に正しく位置させ、チップ
Pのピックアップミスの有無を検出することができる。
The nozzle height H and the correction angle Δθ are obtained for all the nozzles 3 of all the transfer heads 2 by the same method as described above, and the results are stored in the computer 12.
Register with. Then, while sequentially rotating each transfer head 2 by index rotation, the chip P of the parts feeder 5 is sucked and picked up by any one of the nozzles 3, and during the transfer and mounting on the substrate S, the nozzles 3 receive light from the light emitting unit 9. By stopping between the sections 10 and driving the motor M to correct the angle Δθ, the nozzle 3 and the chip P are correctly positioned in the optical path of the slit light 11 as shown in FIG. Can be detected.

【0022】本発明は上記実施例に限定されないのであ
って、例えば図2において、ノズル3をスリット光11
の光路があると予測される手前の位置bで一旦停止さ
せ、この位置bから、光路を通り過ぎると予測される位
置cまでノズル3を回動させることにより、出力電圧V
が極小値Vmin となる位置a′を検出して、その時の回
転角度δ(図6参照)を求めてもよく、あるいはノズル
3を停止させたまま、レーザ装置8をノズル3の周囲を
回転させて、極小値Vmin があらわれる回転角度を求め
てもよい。
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, in FIG.
Is temporarily stopped at a position b before the light path is predicted to be present, and the nozzle 3 is rotated from the position b to a position c predicted to pass through the light path, so that the output voltage V
May be determined by detecting the position a 'at which the minimum value Vmin is obtained, and the rotation angle δ at that time (see FIG. 6). Alternatively, the laser device 8 is rotated around the nozzle 3 while the nozzle 3 is stopped. Thus, the rotation angle at which the minimum value Vmin appears may be obtained.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、移載ヘッ
ドを発光部と受光部の間に位置せしめ、モータを駆動し
てこの移載ヘッドを回転させることにより、ノズルをス
リット光の光路を横切らせて、その際の受光部の出力か
らノズルがスリット光を遮光する位置を検出することに
より、ノズル停止位置を決定するようにしているので、
ノズルをスリット光の光路に正しく停止させて、チップ
のピックアップミスの有無を確実に検出することができ
る。
As described above, according to the present invention, the transfer head is positioned between the light-emitting portion and the light-receiving portion, and the motor is driven to rotate the transfer head. , And by detecting the position where the nozzle blocks the slit light from the output of the light receiving unit at that time, the nozzle stop position is determined.
By properly stopping the nozzle in the optical path of the slit light, it is possible to reliably detect the presence or absence of a chip pickup error.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るチップ実装装置の斜視図FIG. 1 is a perspective view of a chip mounting apparatus according to the present invention.

【図2】同要部平面図FIG. 2 is a plan view of the main part.

【図3】同ノズル高検出中の要部正面図FIG. 3 is a front view of a main part during the nozzle height detection.

【図4】同ピックアップミス検出中の要部正面図FIG. 4 is a front view of a main part during the pickup error detection.

【図5】同要部平面図FIG. 5 is a plan view of the main part.

【図6】同受光部の出力電圧の特性図FIG. 6 is a characteristic diagram of an output voltage of the light receiving unit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

2 マルチノズル式移載ヘッド 3 ノズル 5 パーツフィーダ 7 XYテーブル 9 発光部 10 受光部 11 スリット光 M モータ P 電子部品 S 基板 2 Multi-nozzle transfer head 3 Nozzle 5 Parts feeder 7 XY table 9 Light emitting unit 10 Light receiving unit 11 Slit light M Motor P Electronic component S Substrate

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H05K 13/04 H05K 13/08 G06T 7/00 Continuation of the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) H05K 13/04 H05K 13/08 G06T 7/00

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】複数本のノズルを備えたマルチノズル式移
載ヘッドをモータの駆動により回転させて、ピックアッ
プしようとする電子部品に最適のノズルを選択したうえ
で、この移載ヘッドをインデックス回転させながら、パ
ーツフィーダの電子部品を上記ノズルに吸着してピック
アップし、次いでこのノズルを移載ヘッドの移動路の途
中で停止させて、このノズルと電子部品に発光部から発
光されたスリット光を照射し、受光部の出力からピック
アップミスの有無を判定した後、この電子部品をXYテ
ーブルに位置決めされた基板に搭載するようにした電子
部品の実装方法において、上記移載ヘッドを上記発光部
と受光部の間に位置せしめ、上記モータを駆動してこの
移載ヘッドを回転させることにより、上記ノズルを上記
スリット光の光路を横切らせて、その際の受光部の出力
からノズルがスリット光を遮光する位置を検出するよう
にしたことを特徴とする電子部品吸着ノズルの停止位置
決定方法。
1. A multi-nozzle transfer head having a plurality of nozzles is rotated by driving a motor to select a nozzle most suitable for an electronic component to be picked up, and then the transfer head is rotated by an index. While picking up, the electronic parts of the parts feeder are sucked and picked up by the above-mentioned nozzle, and then the nozzle is stopped in the middle of the moving path of the transfer head, so that the slit light emitted from the light emitting section is emitted to this nozzle and the electronic parts. Irradiating, and determining whether there is a pick-up error from the output of the light receiving unit, and then mounting the electronic component on a substrate positioned on an XY table. The nozzle is positioned between the light receiving sections, and the motor is driven to rotate the transfer head. Cross were, the electronic component on stopping position determination suction nozzle, characterized in that the nozzles from the output of the light receiving unit at that time was to detect the position for blocking the slit light.
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