JP2925015B2 - 模様付きのプラスチック光学要素 - Google Patents
模様付きのプラスチック光学要素Info
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- JP2925015B2 JP2925015B2 JP1019338A JP1933889A JP2925015B2 JP 2925015 B2 JP2925015 B2 JP 2925015B2 JP 1019338 A JP1019338 A JP 1019338A JP 1933889 A JP1933889 A JP 1933889A JP 2925015 B2 JP2925015 B2 JP 2925015B2
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- mold
- grid
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C33/00—Moulds or cores; Details thereof or accessories therefor
- B29C33/42—Moulds or cores; Details thereof or accessories therefor characterised by the shape of the moulding surface, e.g. ribs or grooves
- B29C33/424—Moulding surfaces provided with means for marking or patterning
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H9/00—Machining specially adapted for treating particular metal objects or for obtaining special effects or results on metal objects
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/34—Microscope slides, e.g. mounting specimens on microscope slides
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/32—Fiducial marks and measuring scales within the optical system
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29L—INDEXING SCHEME ASSOCIATED WITH SUBCLASS B29C, RELATING TO PARTICULAR ARTICLES
- B29L2011/00—Optical elements, e.g. lenses, prisms
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、視面に細い線の模様（finely lined patte
rn）を有するプラスチック光学要素に関する。より詳し
くは本発明は、細い線の模様であってその上に置かれた
標本（specimen）を拡大下で調べることを容易にする模
様を有する透明プラスチックスライド、並びにそのよう
なスライド及びその他の模様を有する光学要素の製造に
用いられる方法及び鋳型挿入部材（mold inserts）に関
する。
rn）を有するプラスチック光学要素に関する。より詳し
くは本発明は、細い線の模様であってその上に置かれた
標本（specimen）を拡大下で調べることを容易にする模
様を有する透明プラスチックスライド、並びにそのよう
なスライド及びその他の模様を有する光学要素の製造に
用いられる方法及び鋳型挿入部材（mold inserts）に関
する。
（従来の技術及び解決しようとする課題） 血液、髄液、細胞培養液及び尿のような生物学的流体
は、浮動粒子数（suspended particulate matter）の存
在又は濃度を決定するために、しばしば顕微鏡的に検査
される。長年の間、液体標本の１滴が最初に平坦で透明
な顕微鏡スライド上に置かれた。薄い平坦で透明な覆い
片（cover slip）が次に標本の上に置かれた。最近、米
国特許第4,637,693号に示される一体のプラスチックス
ライドが利用可能になった。そのような一体のスライド
は、一体の基板と覆板の間に形成される少なくとも１個
の試験室を含む。液体標本は試験室内へその付近に置か
れた液滴から毛管作用（capillation）により引き込ま
れる。
は、浮動粒子数（suspended particulate matter）の存
在又は濃度を決定するために、しばしば顕微鏡的に検査
される。長年の間、液体標本の１滴が最初に平坦で透明
な顕微鏡スライド上に置かれた。薄い平坦で透明な覆い
片（cover slip）が次に標本の上に置かれた。最近、米
国特許第4,637,693号に示される一体のプラスチックス
ライドが利用可能になった。そのような一体のスライド
は、一体の基板と覆板の間に形成される少なくとも１個
の試験室を含む。液体標本は試験室内へその付近に置か
れた液滴から毛管作用（capillation）により引き込ま
れる。
液体標本中の浮動粒子又は細胞の濃度を正確に決定す
るために、幾つかの媒介変数（parameters）が測定され
るか又は一定値に保持されねばならない。これらの媒介
変数は試験室の堆積を定める内部寸法及び試料が取られ
る液体の体積を含む。尿検査（urianalysis）処置にお
いては、試料は12ミリリットル（ml）の標準体積で取ら
れる。12ミリリットル試料は、遠心分離され11ミリリッ
トルが上澄みとして他の容器へ移される（decanted）。
沈澱物（sediment）は残りの１ミリリットル中に浮動
し、12対１の粒子濃度を提供する。この処置は、ミッチ
ェルの米国特許第4,563,332号に記載されるピペットを
使用することにより容易にされる。
るために、幾つかの媒介変数（parameters）が測定され
るか又は一定値に保持されねばならない。これらの媒介
変数は試験室の堆積を定める内部寸法及び試料が取られ
る液体の体積を含む。尿検査（urianalysis）処置にお
いては、試料は12ミリリットル（ml）の標準体積で取ら
れる。12ミリリットル試料は、遠心分離され11ミリリッ
トルが上澄みとして他の容器へ移される（decanted）。
沈澱物（sediment）は残りの１ミリリットル中に浮動
し、12対１の粒子濃度を提供する。この処置は、ミッチ
ェルの米国特許第4,563,332号に記載されるピペットを
使用することにより容易にされる。
米国特許第4,637,693号に記載されるような一体のプ
ラスチックスライドは、試験室床から所定距離だけ隔て
られた試験室天井を有する。そのようなスライドについ
て、試験中の液体標本の体積を決定するために必要な唯
一の残りの寸法は、試験器具、例えば顕微鏡、の視界の
横方向寸法である。この横方向寸法は、器具に用いられ
る倍率及び光学（optics）に依存する。それ故、標準化
は、全ての顕微鏡等が同じ視界を有すること又は視界の
相違が計算され浮動粒子数の種々の計数に分解（factor
ed）されねばならない。
ラスチックスライドは、試験室床から所定距離だけ隔て
られた試験室天井を有する。そのようなスライドについ
て、試験中の液体標本の体積を決定するために必要な唯
一の残りの寸法は、試験器具、例えば顕微鏡、の視界の
横方向寸法である。この横方向寸法は、器具に用いられ
る倍率及び光学（optics）に依存する。それ故、標準化
は、全ての顕微鏡等が同じ視界を有すること又は視界の
相違が計算され浮動粒子数の種々の計数に分解（factor
ed）されねばならない。
（課題を解決するための手段） 本発明に従って、格子装置（a grid system）が、ス
ライド試験室の床上に画成され、試験器具の視界の横方
向範囲を考慮する必要を除去する。そのような格子装置
は別体の覆片と共に用いられるスライドの試験室床上又
は例えば米国特許第4,637,693号に示されるような永久
付着覆板を有する一体型スライドの試験室床上に具備さ
れる。
ライド試験室の床上に画成され、試験器具の視界の横方
向範囲を考慮する必要を除去する。そのような格子装置
は別体の覆片と共に用いられるスライドの試験室床上又
は例えば米国特許第4,637,693号に示されるような永久
付着覆板を有する一体型スライドの試験室床上に具備さ
れる。
そのようなスライドは、透明光学品質（transparent
optical quality）プラスチックで作られる。格子は、
スライドがモールドされた後に試験室床に機械加工され
るか若しくはけがきされるか又は鋳型内に組み込まれる
模様から形成されねばならない。本発明は、格子模様を
モールド工程の間に試験室床に組み込むのに有用な鋳型
及びモールド順序を提供する。
optical quality）プラスチックで作られる。格子は、
スライドがモールドされた後に試験室床に機械加工され
るか若しくはけがきされるか又は鋳型内に組み込まれる
模様から形成されねばならない。本発明は、格子模様を
モールド工程の間に試験室床に組み込むのに有用な鋳型
及びモールド順序を提供する。
多くの応用、例えば尿検査は、400倍程度の倍率を必
要とする。このような倍率において、視界の直径は、約
0.33ミリメートルから0.50ミリメートルまで変化する。
例えば幅0.025ミリメートルの狭く限定される線を備
え、半ミリメートル未満分離される格子が必要とされ
る。そうでない場合、格子の周囲部分が視界を越えて延
び、顕微鏡又は他の拡大器具に調整を要求し、格子の目
的を実際上無効にする。
要とする。このような倍率において、視界の直径は、約
0.33ミリメートルから0.50ミリメートルまで変化する。
例えば幅0.025ミリメートルの狭く限定される線を備
え、半ミリメートル未満分離される格子が必要とされ
る。そうでない場合、格子の周囲部分が視界を越えて延
び、顕微鏡又は他の拡大器具に調整を要求し、格子の目
的を実際上無効にする。
本発明に従って、格子のような目の細かい模様が、倍
率約10倍乃至1500倍で用いられるプラスチック光学要
素、特に尿検査スライドの上に提供される。約350倍乃
至約450倍の倍率範囲が、大部分の目的に適当である。
約0.005乃至約0.05ミリメートルの模様の線の幅、約0.0
6乃至約９ミリメートルの模様の線の間隔がそのような
倍率範囲を収容する。
率約10倍乃至1500倍で用いられるプラスチック光学要
素、特に尿検査スライドの上に提供される。約350倍乃
至約450倍の倍率範囲が、大部分の目的に適当である。
約0.005乃至約0.05ミリメートルの模様の線の幅、約0.0
6乃至約９ミリメートルの模様の線の間隔がそのような
倍率範囲を収容する。
（鋳型挿入部材の設計及び製造） プラスチック光学要素、例えば尿検査スライド、の製
造に用いる金属鋳型上に細い線の幅を提供する努力は、
本発明前には成功していない。例えば、端に約0.076乃
至0.13ミリメートルの最小の線の幅が、平削り又は研削
り機械技術を用いてなされた。
造に用いる金属鋳型上に細い線の幅を提供する努力は、
本発明前には成功していない。例えば、端に約0.076乃
至0.13ミリメートルの最小の線の幅が、平削り又は研削
り機械技術を用いてなされた。
本発明によると、放電機械技術が、プラスチックスラ
イド基板及びその他のプラスチック光学要素の試験室床
面を作るのに有用な金属鋳型挿入部材の上に格子システ
ムを記し付ける。各床面は、光学品質仕上げをされねば
ならない。それ故、鋳型の部分、即ち、鋳型挿入部材
（mold inserts）であってその上に試験室床面が形成さ
れる鋳型の部分は、同じく光学品質仕上げでなければな
らない。従来、光学品質仕上げ又は鏡面仕上げに磨かれ
た、窪み及び空洞のないステンレス鋼が用いられた。試
験室床面上に格子システムを用意するためには、材料
が、磨かれた鋳型表面に適当な線の模様において取り去
られるか加えられねばならない。
イド基板及びその他のプラスチック光学要素の試験室床
面を作るのに有用な金属鋳型挿入部材の上に格子システ
ムを記し付ける。各床面は、光学品質仕上げをされねば
ならない。それ故、鋳型の部分、即ち、鋳型挿入部材
（mold inserts）であってその上に試験室床面が形成さ
れる鋳型の部分は、同じく光学品質仕上げでなければな
らない。従来、光学品質仕上げ又は鏡面仕上げに磨かれ
た、窪み及び空洞のないステンレス鋼が用いられた。試
験室床面上に格子システムを用意するためには、材料
が、磨かれた鋳型表面に適当な線の模様において取り去
られるか加えられねばならない。
本発明の１つの特徴は、磨かれた金属鋳型表面から材
料の正確に除去し、細い線の模様、例えば約0.012ミリ
メートル乃至約0.023ミリメートルの幅の線の模様、を
提供する放電機械加工方法を提供する。
料の正確に除去し、細い線の模様、例えば約0.012ミリ
メートル乃至約0.023ミリメートルの幅の線の模様、を
提供する放電機械加工方法を提供する。
放電機械加工方法は、接地された金属鋳型挿入部材
を、非導体流体中へ、鋳型挿入部材に腐食されるべき模
様と一致する電極の近くに沈めなければならない。接地
鋳型挿入部材と電極間の電位が破壊電位に達するとき、
加工されるべき鋳型挿入部材の表面と電極の表面の両者
に腐食を伴ってアークが形成される。鋳型挿入部材の腐
食の深さは、鋳型挿入部材と電極間の距離の、及び付加
される電位の関数である。鋳型挿入部材に腐食される線
の幅は、対応する電極要素の幅、及び鋳型挿入部材と電
極間の電位に依存する。例えば、厚さ0.013ミリメート
ルの電極を備える標準放電機械装置を用いると、鋳型挿
入部材表面に幅0.025乃至0.036ミリメートルの腐食され
た線を生じる。
を、非導体流体中へ、鋳型挿入部材に腐食されるべき模
様と一致する電極の近くに沈めなければならない。接地
鋳型挿入部材と電極間の電位が破壊電位に達するとき、
加工されるべき鋳型挿入部材の表面と電極の表面の両者
に腐食を伴ってアークが形成される。鋳型挿入部材の腐
食の深さは、鋳型挿入部材と電極間の距離の、及び付加
される電位の関数である。鋳型挿入部材に腐食される線
の幅は、対応する電極要素の幅、及び鋳型挿入部材と電
極間の電位に依存する。例えば、厚さ0.013ミリメート
ルの電極を備える標準放電機械装置を用いると、鋳型挿
入部材表面に幅0.025乃至0.036ミリメートルの腐食され
た線を生じる。
薄い電極は、鋳型挿入部材上に必要な狭い腐食された
幅の線を提供するために必須である。電極がアーク形成
又はその他の理由のために曲がると、受け入れられない
波状の線を生じる。従って、本発明の１つの特徴は、１
組みの平行な電極を含む。１組みの電極は、曲げを生ぜ
ず、格子模様の平行な組み線を同時に腐食するために用
いられ得る。鋳型挿入部材と電極間の90度の回転が第２
組の格子模様の線の腐食を可能にする。
幅の線を提供するために必須である。電極がアーク形成
又はその他の理由のために曲がると、受け入れられない
波状の線を生じる。従って、本発明の１つの特徴は、１
組みの平行な電極を含む。１組みの電極は、曲げを生ぜ
ず、格子模様の平行な組み線を同時に腐食するために用
いられ得る。鋳型挿入部材と電極間の90度の回転が第２
組の格子模様の線の腐食を可能にする。
タングステンは、その極めて高い熔融点、高い導電率
並びに銅及び銀に比較して比較的高強度のために、選択
される電極材料である。しかしながら、タングステン
は、とりわけ機械加工の困難性の故に、電極が効率的に
製造される形態においては実際上利用可能でない。この
実際上の理由で、本発明において用いられる電極は、好
ましくは約30％の銅を含む焼結された銅タングステン組
織から形成される。
並びに銅及び銀に比較して比較的高強度のために、選択
される電極材料である。しかしながら、タングステン
は、とりわけ機械加工の困難性の故に、電極が効率的に
製造される形態においては実際上利用可能でない。この
実際上の理由で、本発明において用いられる電極は、好
ましくは約30％の銅を含む焼結された銅タングステン組
織から形成される。
タングステンのブロック又は焼結された銅タングステ
ン組織のブロックが、機械加工されて、平坦な上部を備
える隆起された台を提供する。接地加工片として配置さ
れるタングステン又は焼結された銅タングステン組織を
備える商業的に利用可能な放電加工機が用いられる。そ
のような放電加工機は、独立のマイクロプロセッサ制御
サーボモータにより作動される２個のスピンドルの間に
連続的に単一のワイヤ電極を通す。繰り返される通路に
おいてワイヤ電極は隆起された台から材料を腐食しブロ
ック上に平行な隆起された電極を形成する。このように
して、各ブロック電極は、例えば幅0.013ミリメートル
高さ0.051ミリメートルに作られ、隣接するブロック電
極から0.33ミリメートル離されて、鋳型挿入部材上に格
子システムを画成するために0.33ミリメートル四方の記
し付けられた模様を提供する。
ン組織のブロックが、機械加工されて、平坦な上部を備
える隆起された台を提供する。接地加工片として配置さ
れるタングステン又は焼結された銅タングステン組織を
備える商業的に利用可能な放電加工機が用いられる。そ
のような放電加工機は、独立のマイクロプロセッサ制御
サーボモータにより作動される２個のスピンドルの間に
連続的に単一のワイヤ電極を通す。繰り返される通路に
おいてワイヤ電極は隆起された台から材料を腐食しブロ
ック上に平行な隆起された電極を形成する。このように
して、各ブロック電極は、例えば幅0.013ミリメートル
高さ0.051ミリメートルに作られ、隣接するブロック電
極から0.33ミリメートル離されて、鋳型挿入部材上に格
子システムを画成するために0.33ミリメートル四方の記
し付けられた模様を提供する。
（実施例） 第１図には、一般的に参照数字10で指示されるスライ
ドの分解斜視図が示される。スライド10の上に本発明の
方法を用いて格子が形成され得る。スライド10は、プラ
スチック覆板12及びプラスチック基板14を含む。組み立
てられたスライド10の上面図が第２図に示される。この
単一形式のスライドの１つの形態が米国特許第4,637,69
3号に記述される。
ドの分解斜視図が示される。スライド10の上に本発明の
方法を用いて格子が形成され得る。スライド10は、プラ
スチック覆板12及びプラスチック基板14を含む。組み立
てられたスライド10の上面図が第２図に示される。この
単一形式のスライドの１つの形態が米国特許第4,637,69
3号に記述される。
スライド10のプラスチック基板14は、平坦な、光学的
に円滑な試験室床面16を含む。プラスチック覆板12は、
試験室天井面18を有する。試験室天井面18は、試験室床
面16と同様に、平坦であり、光学的に円滑である。試験
室天井面18及び試験室床面16を形成するために用いられ
る鋳型挿入部材（mold inserts）21は、好ましくは光学
的に均等なステンレス鋼又はその他の金属で作られ、磨
きをかけられ鏡面仕上げされる。望ましい格子模様は、
試験室床面16の形成に用いられる鋳型挿入部材21の磨か
れた鏡面20（第５図参照）の腐食により提供される。腐
食は放電加工機により遂行される。狭いが過度に深くな
い直線を腐食する電極が用いられる。腐食の深さの制御
は、付加される電圧及び電流の調整及び電極と磨かれた
鏡面20との間に保持される距離の調整により遂行され
る。線の幅は、付加された電圧及び電流並びに電極の幅
に依存する。
に円滑な試験室床面16を含む。プラスチック覆板12は、
試験室天井面18を有する。試験室天井面18は、試験室床
面16と同様に、平坦であり、光学的に円滑である。試験
室天井面18及び試験室床面16を形成するために用いられ
る鋳型挿入部材（mold inserts）21は、好ましくは光学
的に均等なステンレス鋼又はその他の金属で作られ、磨
きをかけられ鏡面仕上げされる。望ましい格子模様は、
試験室床面16の形成に用いられる鋳型挿入部材21の磨か
れた鏡面20（第５図参照）の腐食により提供される。腐
食は放電加工機により遂行される。狭いが過度に深くな
い直線を腐食する電極が用いられる。腐食の深さの制御
は、付加される電圧及び電流の調整及び電極と磨かれた
鏡面20との間に保持される距離の調整により遂行され
る。線の幅は、付加された電圧及び電流並びに電極の幅
に依存する。
電極が狭くされると、電極の強さ及び曲げに対する抵
抗力が減少する。それ故本発明に用いられる電極は、強
い、高熔融点の導電性材料から作られる。
抗力が減少する。それ故本発明に用いられる電極は、強
い、高熔融点の導電性材料から作られる。
第４図に示されるように、参照数字24により一般的に
指示される電極組立体は、研磨機のような既知の工作機
械設備を用いて機械加工され、電極組立体の一端に滑ら
かな平面を備える隆起した受け台22を用意される。滑ら
かな平板の上に電極26の模様がワイヤ放電加工機により
形成される（第６図参照）。電極26を形成するため、電
極組立体24がイオンを除去した水に浸漬され、電流0.4
アンペア（0.4 amperes）を伴う40ボルト（40 volts）
の電位が、ワイヤの間に供給される。ワイヤは電極組立
体24の表面に形成されるべき電極26に平行に延びる。
指示される電極組立体は、研磨機のような既知の工作機
械設備を用いて機械加工され、電極組立体の一端に滑ら
かな平面を備える隆起した受け台22を用意される。滑ら
かな平板の上に電極26の模様がワイヤ放電加工機により
形成される（第６図参照）。電極26を形成するため、電
極組立体24がイオンを除去した水に浸漬され、電流0.4
アンペア（0.4 amperes）を伴う40ボルト（40 volts）
の電位が、ワイヤの間に供給される。ワイヤは電極組立
体24の表面に形成されるべき電極26に平行に延びる。
電極の寸法は、所望の寸法の模様線を提供するように
選択される。例えば、幅0.013ミリメートル、高さ0.051
ミリメートル、ほぼ１ミリメートルの長さの0.33ミリメ
ートル隔てられた電極が用いられ、尿検査スライドに適
する鋳型挿入格子模様が提供される。
選択される。例えば、幅0.013ミリメートル、高さ0.051
ミリメートル、ほぼ１ミリメートルの長さの0.33ミリメ
ートル隔てられた電極が用いられ、尿検査スライドに適
する鋳型挿入格子模様が提供される。
電極組立体24は、第３図に示される格子模様19の重複
線を除く全ての線を製造するために用いられ得る。重複
線は、例えば0.038ミリメートルの間隔を置かれる。電
極26は１つの電極組立体24上にそのような狭い間隔では
形成されることができない。何故ならワイヤ放電加工機
が、ワイヤの回りの0.025ミリメートルのスパークギャ
ップを備える直径0.102ミリメートルワイヤを用いるか
らである。そのワイヤは電極26の間の0.152ミリメート
ルの最小間隔の統治を委任（mandate）する。重複線を
作るために、第２電極組立体24が、重複線の単に第２の
線のための電極26を備えて作られる。第２電極組立体24
上の各電極26の幅、高さ及び長さは、第１電極組立体24
上の電居26のものと同じで良い。
線を除く全ての線を製造するために用いられ得る。重複
線は、例えば0.038ミリメートルの間隔を置かれる。電
極26は１つの電極組立体24上にそのような狭い間隔では
形成されることができない。何故ならワイヤ放電加工機
が、ワイヤの回りの0.025ミリメートルのスパークギャ
ップを備える直径0.102ミリメートルワイヤを用いるか
らである。そのワイヤは電極26の間の0.152ミリメート
ルの最小間隔の統治を委任（mandate）する。重複線を
作るために、第２電極組立体24が、重複線の単に第２の
線のための電極26を備えて作られる。第２電極組立体24
上の各電極26の幅、高さ及び長さは、第１電極組立体24
上の電居26のものと同じで良い。
第１又は第２電極組立体24のいずれか一方が、鋳型挿
入部材21の磨かれた金属鏡面20上に格子模様を形成する
ために最初に用いられ得る。磨かれた金属鏡面20を支持
する鋳型挿入部材は、非導電性高蒸発点油の浴における
基礎部分として装着される。電極組立体24の１個が、正
しい位置へ下降される鋳型挿入部材21の上方に装着さ
れ、磨かれた金属鏡面20上に線の所望の模様を腐食す
る。線の模様を腐食するために、典型的なは50ボルト、
0.2アンペアの電気信号が、基礎にされる磨かれた金属
鏡面20と電気組立体24の間に加えられる。この装置は、
幅0.012乃至0.023ミリメートル、深さ0.008ミリメート
ルの線の腐食を可能にする。異なる寸法の線は、適切な
寸法の電極組立体により同様に用意される。
入部材21の磨かれた金属鏡面20上に格子模様を形成する
ために最初に用いられ得る。磨かれた金属鏡面20を支持
する鋳型挿入部材は、非導電性高蒸発点油の浴における
基礎部分として装着される。電極組立体24の１個が、正
しい位置へ下降される鋳型挿入部材21の上方に装着さ
れ、磨かれた金属鏡面20上に線の所望の模様を腐食す
る。線の模様を腐食するために、典型的なは50ボルト、
0.2アンペアの電気信号が、基礎にされる磨かれた金属
鏡面20と電気組立体24の間に加えられる。この装置は、
幅0.012乃至0.023ミリメートル、深さ0.008ミリメート
ルの線の腐食を可能にする。異なる寸法の線は、適切な
寸法の電極組立体により同様に用意される。
この実施例において電極導電性のため好ましい同タン
グステン焼結材料は、同及びタングステンの微粒子を高
圧で圧縮することにより形成される。銅微粒子は、30倍
の倍率で良く見える。銅微粒子は、所望の模様線の多数
の空所の引き続く生産を伴う機械工程の間に、溶け出
す。欠けた又はぎさぎさの個所が各電極の歯の頂部に沿
って現れる。そのような欠けた又はぎさぎさの個所は一
般に幅において約0.013ミリメートルから0.051ミリメー
トルである。銅−タングステン混合物は均一でない故に
模様線の空所の数は変化する。そのような障害及び隙間
を除去するため、電極組立体24は、平行な１組の線を腐
食した後、基礎にされる磨かれた金属鏡面20に対して、
横方向に僅かに、例えば0.1ミリメートル移動され、そ
して同じ線を腐食するため再び適用される。電極組立体
24の第２の使用の後、電極組立体24は、腐食された平行
な線に対して90度回転され、垂直方向の第２の組の線が
腐食される。この第２の組の線が、同様に２回腐食され
障害及び隙間の除去を確実にされる。
グステン焼結材料は、同及びタングステンの微粒子を高
圧で圧縮することにより形成される。銅微粒子は、30倍
の倍率で良く見える。銅微粒子は、所望の模様線の多数
の空所の引き続く生産を伴う機械工程の間に、溶け出
す。欠けた又はぎさぎさの個所が各電極の歯の頂部に沿
って現れる。そのような欠けた又はぎさぎさの個所は一
般に幅において約0.013ミリメートルから0.051ミリメー
トルである。銅−タングステン混合物は均一でない故に
模様線の空所の数は変化する。そのような障害及び隙間
を除去するため、電極組立体24は、平行な１組の線を腐
食した後、基礎にされる磨かれた金属鏡面20に対して、
横方向に僅かに、例えば0.1ミリメートル移動され、そ
して同じ線を腐食するため再び適用される。電極組立体
24の第２の使用の後、電極組立体24は、腐食された平行
な線に対して90度回転され、垂直方向の第２の組の線が
腐食される。この第２の組の線が、同様に２回腐食され
障害及び隙間の除去を確実にされる。
この点において、電極組立体24が変えられ、第２電極
組立体（図示されない）が、第１電極組立体24に用いら
れたものと同じ工程に従い、磨かれた金属面20上の線の
最終腐食のために用いられる。
組立体（図示されない）が、第１電極組立体24に用いら
れたものと同じ工程に従い、磨かれた金属面20上の線の
最終腐食のために用いられる。
スライド基板14を作る鋳型のための必要な数の鋳型挿
入部材21の磨かれた金属鏡面20上の格子模様の腐食の完
成により、鋳型が組み立てられ、スライド10を光学的純
粋プラスチックを用いて作ることができる。試験室床面
16上に生じた格子模様が、幅0.012ミリメートル又は15
ミクロンの狭い線を有し得る。そのような線は明白であ
るが、例えば直径５乃至10ミクロンの赤血球に比較して
過度の大きさ（over−proportioned）ではない。線の高
さは、液体標本が試験室内へ引き伸ばされるとき赤血球
が格子模様により漉して除かれるような粒子数（partic
ulate matter）の問題を避けるために、単に0.008ミリ
メートルであり得る。
入部材21の磨かれた金属鏡面20上の格子模様の腐食の完
成により、鋳型が組み立てられ、スライド10を光学的純
粋プラスチックを用いて作ることができる。試験室床面
16上に生じた格子模様が、幅0.012ミリメートル又は15
ミクロンの狭い線を有し得る。そのような線は明白であ
るが、例えば直径５乃至10ミクロンの赤血球に比較して
過度の大きさ（over−proportioned）ではない。線の高
さは、液体標本が試験室内へ引き伸ばされるとき赤血球
が格子模様により漉して除かれるような粒子数（partic
ulate matter）の問題を避けるために、単に0.008ミリ
メートルであり得る。
線の縁の性質は別の利益をもたらす。本発明の方法に
より試験室床面16上に作られた格子模様19の性質の縁
は、鋭く鮮明である。このような性質が、線の上及び線
の近くの対象の識別を助ける。線の幅、高さ及び鮮明な
縁の組み合わせにおいて領域が決められ、その領域にお
いて、液体標本が試験室に注入された後粒子数を定める
ことができ粒子数を正確に数えることができる。線の回
りに定められる粒子数は、一方の側又は他方の側に、線
の対称的形状の故に50対50の確率で定められるであろ
う。
より試験室床面16上に作られた格子模様19の性質の縁
は、鋭く鮮明である。このような性質が、線の上及び線
の近くの対象の識別を助ける。線の幅、高さ及び鮮明な
縁の組み合わせにおいて領域が決められ、その領域にお
いて、液体標本が試験室に注入された後粒子数を定める
ことができ粒子数を正確に数えることができる。線の回
りに定められる粒子数は、一方の側又は他方の側に、線
の対称的形状の故に50対50の確率で定められるであろ
う。
本発明は、１つの実施例により詳しく示されたが、種
々の変形及び付加が、特許請求の範囲に記載の本発明に
包含される。例えば電極組立体は、十字線及び回折格子
のようなあらゆる形式の光学的構成要素を作るため、鋳
型部材上に線の模様を腐食するように作られることがで
きる。本質的には、製造されることが必要な任意の細く
線引きされた模様が本発明の方法により作られる。
々の変形及び付加が、特許請求の範囲に記載の本発明に
包含される。例えば電極組立体は、十字線及び回折格子
のようなあらゆる形式の光学的構成要素を作るため、鋳
型部材上に線の模様を腐食するように作られることがで
きる。本質的には、製造されることが必要な任意の細く
線引きされた模様が本発明の方法により作られる。
第１図は組み合わされたとき10個の試験室を有するプラ
スチックスライドの基板及び覆板の分解図、第２図は本
発明の方法により腐食される鋳型挿入部材の使用により
形成される格子装置を備える組み合わされた一体のスラ
イドの上部平面図、第３図は第２図に示されるスライド
上に形成され得る１種の格子装置の上部平面図、第４図
は本発明の電極が作られる電極組立体ブロックの透視
図、第５図は本発明の格子模様がその上に腐食される光
学的品質の鋳型挿入部材の透視図、第６図は作られた電
極を示す第４図に示される電極組立体ブロック上の隆起
プラットホームの透視図である。第１図乃至第６図にお
いて対応する構成要素は同じ参照数字により指示され
る。 10……スライド、12……覆板、 14……基板、16……試験室床面、 18……試験室天井面、19……格子模様、 20……鏡面、21……鋳型挿入部材、 22……受け台、24……電極組立体、 26……電極。
スチックスライドの基板及び覆板の分解図、第２図は本
発明の方法により腐食される鋳型挿入部材の使用により
形成される格子装置を備える組み合わされた一体のスラ
イドの上部平面図、第３図は第２図に示されるスライド
上に形成され得る１種の格子装置の上部平面図、第４図
は本発明の電極が作られる電極組立体ブロックの透視
図、第５図は本発明の格子模様がその上に腐食される光
学的品質の鋳型挿入部材の透視図、第６図は作られた電
極を示す第４図に示される電極組立体ブロック上の隆起
プラットホームの透視図である。第１図乃至第６図にお
いて対応する構成要素は同じ参照数字により指示され
る。 10……スライド、12……覆板、 14……基板、16……試験室床面、 18……試験室天井面、19……格子模様、 20……鏡面、21……鋳型挿入部材、 22……受け台、24……電極組立体、 26……電極。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−211658（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−2821（ＪＰ，Ａ) 特開 昭54−86896（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−82130（ＪＰ，Ａ) 特公 昭54−357（ＪＰ，Ｂ２) 特公 昭42−3765（ＪＰ，Ｂ１) 特公 昭47−239（ＪＰ，Ｂ１) 英国特許2127577（ＧＢ，Ａ) 米国特許4637693（ＵＳ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G02B 21/00 - 21/36
Claims (6)
- 【請求項１】プラスチックのスライド組立体上に所定の
模様を隆起された線として生じるために、鋳型に腐食さ
れた線の模様（19）を有する要素（21）を形成する方法
であって、 電極材料片（24）の端部に、鋳型上に腐食されるべき電
極の模様又は模様の一部分を形成し、電極の模様が電極
として用いられるように鋳型を放電加工機に取り付け、
放電加工機によって、電極の模様により模様又は模様の
一部分の腐食を鋳型に提供し、腐食された線の模様を備
える鋳型を用いてプラスチックのスライド組立体をモー
ルドすることを特徴とする方法。 - 【請求項２】模様が腐食される鋳型の部分が光学的品質
のステンレス鋼で作られることを特徴とする請求項１の
方法。 - 【請求項３】鋳型に腐食される線の模様は、正方形区画
の格子であることを特徴とする請求項１の方法。 - 【請求項４】液体標本を受け入れる少なくとも１つの試
験室を有する透明プラスチック製のスライド組立体であ
って、 格子（19）を有する平坦な光学的に滑らかな床面（16）
を試験室へ提供するプラスチック基板（14）、平坦な光
学的に滑らかな天井面（18）を試験室へ提供するプラス
チック覆板（12）、及びプラスチック覆板をプラスチッ
ク基板に固定するため床面の周囲の一部分を囲む結合手
段を有し、 格子（19）は、試験室の液体標本中に含まれる対象を倍
率約10倍乃至1500倍の下で数えることを容易にするもの
であり、 格子（19）は、試験室の床面から上方へ延びる隆起によ
り形成され、隆起は、鋭く画成され、明白で連続したも
のであり、 格子の周囲が対象を数えるために選定された倍率の拡大
器具の視界を越えて延びないように寸法付けされ、 試験室の天井面（18）は、試験室の液体標本に含まれる
対象物の計数を容易にするように試験室の床面（16）か
ら離間されることを特徴とするスライド組立体。 - 【請求項５】請求項４のスライド組立体であって、単一
交差隆起により多数の小さなほ実質的に四角形の面積が
画成される格子を有し、多数の四角形は、重複交差隆起
により多数のより大きな四角形の面積に分割されること
を特徴とするスライド組立体。 - 【請求項６】請求項５のスライド組立体であって、多数
の小さなほ実質的に四角形の面積は、１つの大きな実質
的に四角形の面積を画成することを特徴とするスライド
組立体。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US14887088A | 1988-01-27 | 1988-01-27 | |
| US148870 | 1988-01-27 | ||
| US22713188A | 1988-08-02 | 1988-08-02 | |
| US227131 | 2002-08-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01302313A JPH01302313A (ja) | 1989-12-06 |
| JP2925015B2 true JP2925015B2 (ja) | 1999-07-26 |
Family
ID=26846241
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1019338A Expired - Fee Related JP2925015B2 (ja) | 1988-01-27 | 1989-01-27 | 模様付きのプラスチック光学要素 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (2) | EP0326349B1 (ja) |
| JP (1) | JP2925015B2 (ja) |
| AU (2) | AU616724B2 (ja) |
| CA (1) | CA1329714C (ja) |
| DE (1) | DE68904080T2 (ja) |
| ES (1) | ES2010106A6 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9103540D0 (en) * | 1991-02-20 | 1991-04-10 | Feldman Michael | Marking specimen slides |
| GB2257295B (en) * | 1991-06-21 | 1994-11-16 | Finnigan Mat Ltd | Sample holder for use in a mass spectrometer |
| GB2356063B (en) | 1999-11-22 | 2001-10-24 | Genpak Ltd | Adhesive label with grid for microscope slide |
| ITVI20010014A1 (it) * | 2001-01-12 | 2002-07-12 | Meus Srl | Vetrino per l'esame microscopico di liquidi biologici |
| JP5878490B2 (ja) * | 2013-02-08 | 2016-03-08 | 日本ゼオン株式会社 | 顕微鏡観察用容器 |
| WO2020118487A1 (zh) | 2018-12-10 | 2020-06-18 | 深圳大学 | 一种微流控芯片的微结构模芯及其制造方法 |
| CN112677478B (zh) * | 2020-12-04 | 2021-11-30 | 中国科学院力学研究所 | 一种热电偶瞬态热流传感器的3d打印加工装置及方法 |
Citations (2)
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|---|---|---|---|---|
| GB2127577A (en) | 1982-09-20 | 1984-04-11 | V Tech Inc | Wet-mount microscopic examination slide |
| US4637693A (en) | 1985-07-23 | 1987-01-20 | Icl Scientific Corp. | Microscope inspection slide |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2415480A (en) * | 1945-04-02 | 1947-02-11 | Ethel M Gassert | Blood count equipment |
| US4190314A (en) * | 1973-07-13 | 1980-02-26 | Stephen Goldsmith | Microscope and microscope slide for cytological analysis |
| US4044939A (en) * | 1975-09-08 | 1977-08-30 | Ncr Corporation | Method of fabricating diffraction grating masters and apparatus therefor |
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| CH631371A5 (de) * | 1978-06-29 | 1982-08-13 | Diamond Sa | Verfahren zur bearbeitung eines teils aus polykristallinem, synthetischem diamant mit metallischem binder. |
| US4409457A (en) * | 1979-03-08 | 1983-10-11 | Bridgeport Tire Co. Ltd. | System for manufacturing tire molding metal molds with electrical discharge machining |
| US4299441A (en) * | 1979-05-23 | 1981-11-10 | Icl/Scientific | Transparent laboratory slide for examination of liquid specimens |
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| CA1154614A (en) * | 1981-07-03 | 1983-10-04 | Robert Beriault | Searching and counting device |
| JPS58211658A (ja) * | 1982-06-02 | 1983-12-09 | Naigai Kasei Kk | 体液中の有形成分計数板並びに其の製法 |
| US4540152A (en) * | 1984-08-02 | 1985-09-10 | Calspan Corporation | Multiple part mold insert |
| GB2163866B (en) * | 1984-08-30 | 1988-07-20 | Erba Farmitalia | Method of measurement using a microscope and a photographically produced grid |
| DE3533002A1 (de) * | 1985-09-16 | 1987-03-26 | Agie Ag Ind Elektronik | Elektroerosionsverfahren und elektroerosionsmaschine zur durchfuehrung des verfahrens |
-
1989
- 1989-01-25 DE DE1989604080 patent/DE68904080T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-01-25 AU AU28773/89A patent/AU616724B2/en not_active Expired
- 1989-01-25 EP EP19890300689 patent/EP0326349B1/en not_active Expired
- 1989-01-25 EP EP92200814A patent/EP0500191A1/en not_active Withdrawn
- 1989-01-26 ES ES8900272A patent/ES2010106A6/es not_active Expired
- 1989-01-26 CA CA 589226 patent/CA1329714C/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-01-27 JP JP1019338A patent/JP2925015B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-06-26 AU AU79339/91A patent/AU625930B2/en not_active Ceased
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2127577A (en) | 1982-09-20 | 1984-04-11 | V Tech Inc | Wet-mount microscopic examination slide |
| US4637693A (en) | 1985-07-23 | 1987-01-20 | Icl Scientific Corp. | Microscope inspection slide |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE68904080D1 (de) | 1993-02-11 |
| EP0326349B1 (en) | 1992-12-30 |
| AU625930B2 (en) | 1992-07-16 |
| EP0326349A3 (en) | 1990-11-07 |
| EP0326349A2 (en) | 1989-08-02 |
| DE68904080T2 (de) | 1993-06-17 |
| AU616724B2 (en) | 1991-11-07 |
| CA1329714C (en) | 1994-05-24 |
| AU2877389A (en) | 1989-07-27 |
| ES2010106A6 (es) | 1989-10-16 |
| JPH01302313A (ja) | 1989-12-06 |
| EP0500191A1 (en) | 1992-08-26 |
| AU7933991A (en) | 1991-10-03 |
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