JP2912967B2 - 赤外線放射温度計 - Google Patents
赤外線放射温度計Info
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、特に顕微鏡型の装置に使用して好適な赤外
線放射温度計に関する。
線放射温度計に関する。
いわゆる赤外線放射温度計において、従来から環境温
度の影響による誤差成分を除去する方法が提案されてい
る。
度の影響による誤差成分を除去する方法が提案されてい
る。
すなわちこのような環境温度の影響を考えた場合に、
測定対象物からの赤外放射エネルギーをE1，環境温度か
らの赤外放射エネルギーが対象物表面で反射された成分
をE2とすると、 但し、ε：測定対象物の放射率 σ：ステファン・ボルツマン定数 T0：対象物の温度 Ta:環境の温度 である。従って検出素子で測定される測定値Eaは、ステ
ファン・ボルツマンの法則により と表わされる。なおこの式で、 を含む項が環境温度による誤差成分である。
測定対象物からの赤外放射エネルギーをE1，環境温度か
らの赤外放射エネルギーが対象物表面で反射された成分
をE2とすると、 但し、ε：測定対象物の放射率 σ：ステファン・ボルツマン定数 T0：対象物の温度 Ta:環境の温度 である。従って検出素子で測定される測定値Eaは、ステ
ファン・ボルツマンの法則により と表わされる。なおこの式で、 を含む項が環境温度による誤差成分である。
そこでこのような測定を行っている検出素子に対して
ε＝1,温度が室温Taなる物質を正対させると、そのとき
の測定値Ebは となり、 成分だけのエネルギー量を知ることができる。従ってこ
のような測定をあらかじめ行い、この測定値Ebを記憶し
ておくことにより、上述の環境温度による誤差成分を除
去することができる。
ε＝1,温度が室温Taなる物質を正対させると、そのとき
の測定値Ebは となり、 成分だけのエネルギー量を知ることができる。従ってこ
のような測定をあらかじめ行い、この測定値Ebを記憶し
ておくことにより、上述の環境温度による誤差成分を除
去することができる。
すなわち上述の（ａ）式から（ｂ）式を減算すると、 となる。この（ｃ）式に1/εを乗算して、 が得られ、ここで は（ｂ）式で判っているので、（ｂ）式を加算すると、 となり、求める が得られる。
ところが上述のような赤外線放射温度計において、検
出素子として感度の高い量子型の素子（例えば水銀カド
ミウムテルル:HgCdTe）を用いる場合に、このような素
子はS/Nの改善等の目的から液体窒素温度（77°Ｋ）程
度に冷却して使用される場合が多い。
出素子として感度の高い量子型の素子（例えば水銀カド
ミウムテルル:HgCdTe）を用いる場合に、このような素
子はS/Nの改善等の目的から液体窒素温度（77°Ｋ）程
度に冷却して使用される場合が多い。
その場合に検出素子を測定対象物に正対させると、上
述の冷却による検出素子からの赤外線放射エネルギーが
対象物表面で反射され、この反射された成分（E3）によ
って測定誤差が発生するおそれがある。
述の冷却による検出素子からの赤外線放射エネルギーが
対象物表面で反射され、この反射された成分（E3）によ
って測定誤差が発生するおそれがある。
すなわちこの反射された成分E3は 但し、TLNZ：検出素子の温度 であり、この成分E3を考慮すると上述の（ａ）式は となる。ここで上述と同様にε＝1,温度Taの物質を測定
すると、そのときの測定値Eb′は となり、 成分を知ることができる。しかしながらこの（ｂ′）式
を（ａ′）式から減算すると となり、これに1/εを乗算して を得、これに（ｂ′）式を加算しても となって、冷却による項 が誤差成分として残ってしまう。
すると、そのときの測定値Eb′は となり、 成分を知ることができる。しかしながらこの（ｂ′）式
を（ａ′）式から減算すると となり、これに1/εを乗算して を得、これに（ｂ′）式を加算しても となって、冷却による項 が誤差成分として残ってしまう。
従ってこの場合に対象物の温度が正確には測定されて
いないことになり、これは特に放射率の低い物質では室
温の物体を測定しても室温より低い温度を示してしまう
などの問題を生じていた。
いないことになり、これは特に放射率の低い物質では室
温の物体を測定しても室温より低い温度を示してしまう
などの問題を生じていた。
この対策として従来は、対象物を傾けて検出素子と正
対しないようにするなどの工夫がされているが、これに
よって測定の精度が低下するなどの問題が生じ、また特
に顕微鏡型の装置ではこのように対象物を傾けること自
体困難である。
対しないようにするなどの工夫がされているが、これに
よって測定の精度が低下するなどの問題が生じ、また特
に顕微鏡型の装置ではこのように対象物を傾けること自
体困難である。
この出願はこのような点に鑑みてなされたもので、簡
単な構成で上述の冷却による誤差成分を除去できるよう
にするものである。
単な構成で上述の冷却による誤差成分を除去できるよう
にするものである。
本発明は、測定時に検出素子（検出器（11））の冷却
を必要とする赤外線放射温度計において、あらかじめ室
温で放射率が１に近い物質を上記検出素子に正対させて
上記測定を行ってそのときの測定値を０にする第１の補
正電圧値（EB）を記憶（可変電圧源（14））すると共
に、任意の温度で放射率が０に近い物質を上記検出素子
に正対させて上記測定を行ってそのときの測定値を０に
する第２の補正電圧値（ED）を記憶（可変電圧源（1
6））し、任意の対象物の上記測定時にその測定値から
上記第１及び第２の補正電圧値を用いて演算（アンプ
（13）（15）（17）〜（21））を行って上記検出素子の
冷却による影響を除去した測定値を得る（出力端子（2
2））ようにしたことを特徴とする赤外線放射温度計で
ある。
を必要とする赤外線放射温度計において、あらかじめ室
温で放射率が１に近い物質を上記検出素子に正対させて
上記測定を行ってそのときの測定値を０にする第１の補
正電圧値（EB）を記憶（可変電圧源（14））すると共
に、任意の温度で放射率が０に近い物質を上記検出素子
に正対させて上記測定を行ってそのときの測定値を０に
する第２の補正電圧値（ED）を記憶（可変電圧源（1
6））し、任意の対象物の上記測定時にその測定値から
上記第１及び第２の補正電圧値を用いて演算（アンプ
（13）（15）（17）〜（21））を行って上記検出素子の
冷却による影響を除去した測定値を得る（出力端子（2
2））ようにしたことを特徴とする赤外線放射温度計で
ある。
〔作用〕 これによれば、放射率の低い物質を検出素子に正対さ
せて測定を行なうことによって検出素子の冷却による成
分のエネルギー量を知ることができ、これを用いて測定
値に対する冷却による影響を除去して簡単な構成で正確
な測定を行なうことができる。
せて測定を行なうことによって検出素子の冷却による成
分のエネルギー量を知ることができ、これを用いて測定
値に対する冷却による影響を除去して簡単な構成で正確
な測定を行なうことができる。
第１図は実施される装置の一例の構成を示す。この図
において、（11）は検出素子の内蔵された検出器であっ
て図示しないが検出素子を冷却する液体窒素等の冷却手
段の設けられたものである。この検出器（11）が測定対
象物（12）に正対して配置される。これによって検出器
（11）では、測定対象物（12）からの赤外線放射エネル
ギー（E1），環境温度からの赤外線放射エネルギーが対
象物（12）の表面で反射された成分（E2）及び検出器
（11）からの赤外線放射エネルギーが対象物（12）の表
面で反射された成分（E3）が測定される。
において、（11）は検出素子の内蔵された検出器であっ
て図示しないが検出素子を冷却する液体窒素等の冷却手
段の設けられたものである。この検出器（11）が測定対
象物（12）に正対して配置される。これによって検出器
（11）では、測定対象物（12）からの赤外線放射エネル
ギー（E1），環境温度からの赤外線放射エネルギーが対
象物（12）の表面で反射された成分（E2）及び検出器
（11）からの赤外線放射エネルギーが対象物（12）の表
面で反射された成分（E3）が測定される。
この検出器（11）の検出素子で測定された温度信号
（電圧：EA）が利得１の差動アンプ（13）に供給され
る。また可変電圧源（14）からの電圧（EB）が差動アン
プ（13）に供給される。この差動アンプ（13）の出力
（電圧：EC）が利得１の差動アンプ（15）に供給され
る。さらに可変電圧源（16）からの電圧（ED）が差動ア
ンプ（15）に供給される。この差動アンプ（15）の出力
（電圧：EE）が利得1/εのアンプ（17）に供給される。
このアンプ（17）の出力（電圧：EF）が利得１の差動ア
ンプ（18）に供給される。また可変電圧源（14）からの
電圧（EB）が利得−１のアンプ（19）に供給され、この
アンプ（19）の出力（電圧：−EB）が差動アンプ（18）
に供給される。この差動アンプ（18）の出力が利得１の
差動アンプ（20）に供給される。さらに可変電圧源（1
6）からの電圧（ED）が利得−１のアンプ（21）に供給
され、このアンプ（21）の出力（電圧：−ED）が差動ア
ンプ（20）に供給される。そしてこの差動アンプ（20）
の出力（電圧：EG）が出力端子（22）に取出される。
（電圧：EA）が利得１の差動アンプ（13）に供給され
る。また可変電圧源（14）からの電圧（EB）が差動アン
プ（13）に供給される。この差動アンプ（13）の出力
（電圧：EC）が利得１の差動アンプ（15）に供給され
る。さらに可変電圧源（16）からの電圧（ED）が差動ア
ンプ（15）に供給される。この差動アンプ（15）の出力
（電圧：EE）が利得1/εのアンプ（17）に供給される。
このアンプ（17）の出力（電圧：EF）が利得１の差動ア
ンプ（18）に供給される。また可変電圧源（14）からの
電圧（EB）が利得−１のアンプ（19）に供給され、この
アンプ（19）の出力（電圧：−EB）が差動アンプ（18）
に供給される。この差動アンプ（18）の出力が利得１の
差動アンプ（20）に供給される。さらに可変電圧源（1
6）からの電圧（ED）が利得−１のアンプ（21）に供給
され、このアンプ（21）の出力（電圧：−ED）が差動ア
ンプ（20）に供給される。そしてこの差動アンプ（20）
の出力（電圧：EG）が出力端子（22）に取出される。
この装置において、E1，E2，E3は上述と同様に 但し、ε：測定対象物の放射率 σ：ステファン・ボルツマン定数 T0：対象物の温度 Ta:環境の温度 TLNZ：検出器の温度 で表される。従って検出器（11）の検出素子で測定され
るエネルギーの総量（EA）は、ステファン・ボルツマン
の法則により となる。なおこの式で を含む項が、環境温度及び検出器の温度による誤差成分
である。
るエネルギーの総量（EA）は、ステファン・ボルツマン
の法則により となる。なおこの式で を含む項が、環境温度及び検出器の温度による誤差成分
である。
そこでこのような測定を行っている検出器（11）の検
出素子に対してε＝1,温度が室温Taなる物質を正対させ
ると、そのときの測定値EA′は となる。従ってこの状態で可変電圧源（14）を差動アン
プ（13）の出力（ECが“0"になるように調整することに
より、可変電圧源（14）の電圧（EB）を にすることができる。さらにこれによって差動アンプ
（13）の出力（EC）は、測定対象物（温度T0）の場合だ
と、 になる。
出素子に対してε＝1,温度が室温Taなる物質を正対させ
ると、そのときの測定値EA′は となる。従ってこの状態で可変電圧源（14）を差動アン
プ（13）の出力（ECが“0"になるように調整することに
より、可変電圧源（14）の電圧（EB）を にすることができる。さらにこれによって差動アンプ
（13）の出力（EC）は、測定対象物（温度T0）の場合だ
と、 になる。
次にε＝０なる物質、例えば金やアルミニューム等の
放射率が０に近い物質を表面に蒸着または鏡面加工した
鏡のようなものを、上述の調整の行われた検出器（11）
の検出素子に対して正対させると、そのときの差動アン
プ（13）の出力（EC′）は となる。従ってこの状態で可変電圧源（16）を差動アン
プ（15）の出力（EE）が“0"になるように調整すること
により、可変電圧源（16）の電圧（ED）を にすることができる。さらにこれによって差動アンプ
（15）の出力（EE）は となる。
放射率が０に近い物質を表面に蒸着または鏡面加工した
鏡のようなものを、上述の調整の行われた検出器（11）
の検出素子に対して正対させると、そのときの差動アン
プ（13）の出力（EC′）は となる。従ってこの状態で可変電圧源（16）を差動アン
プ（15）の出力（EE）が“0"になるように調整すること
により、可変電圧源（16）の電圧（ED）を にすることができる。さらにこれによって差動アンプ
（15）の出力（EE）は となる。
そしてこれらの調整の行われた検出器（11）の検出素
子に対して、任意のεを有する測定対象物（12）を正対
させると、差動アンプ（15）の出力（EE）は上述の
（Ｅ）式で示したようになり、ここでアンプ（17）の利
得を上述の対象物（12）のεに応じて1/εとすることに
よって、アンプ（17）の出力（EF）は となる。さらにこの出力（EF）が差動アンプ（18）（2
0）に供給され、一方可変電圧源（14）（16）からの電
圧（EB，ED）がアンプ（19）（21）で反転されて差動ア
ンプ（18）（20）に供給されることにより、（Ｆ）式の
値に（Ｂ）式の値 及び（Ｄ）式の値 が加算され、差動アンプ（20）の出力（EG）は、 となって、求める温度 の赤外エネルギー成分 だけを抽出することができる。
子に対して、任意のεを有する測定対象物（12）を正対
させると、差動アンプ（15）の出力（EE）は上述の
（Ｅ）式で示したようになり、ここでアンプ（17）の利
得を上述の対象物（12）のεに応じて1/εとすることに
よって、アンプ（17）の出力（EF）は となる。さらにこの出力（EF）が差動アンプ（18）（2
0）に供給され、一方可変電圧源（14）（16）からの電
圧（EB，ED）がアンプ（19）（21）で反転されて差動ア
ンプ（18）（20）に供給されることにより、（Ｆ）式の
値に（Ｂ）式の値 及び（Ｄ）式の値 が加算され、差動アンプ（20）の出力（EG）は、 となって、求める温度 の赤外エネルギー成分 だけを抽出することができる。
すなわち検出素子からの上述の値EAが得られている状
態で、検出素子にε＝1,温度Taなる物質を正対させるこ
とによって値 が得られ、次いでε＝０なる物質を正対させることによ
って値 が得られる。さらにこれらの値EB，EDが値EAから減算さ
れることによって値EEが得られ、この値EEに1/εが乗算
されることによって値EFが得られる。そしてこの値EFに
値EB，EDが加算されることによって、値 が求められる。
態で、検出素子にε＝1,温度Taなる物質を正対させるこ
とによって値 が得られ、次いでε＝０なる物質を正対させることによ
って値 が得られる。さらにこれらの値EB，EDが値EAから減算さ
れることによって値EEが得られ、この値EEに1/εが乗算
されることによって値EFが得られる。そしてこの値EFに
値EB，EDが加算されることによって、値 が求められる。
こうしてこの装置によれば、放射率の低い物質を検出
素子に正対させて測定を行なうことによって検出素子の
冷却による成分のエネルギー量を知ることができ、これ
を用いて測定値に対する冷却による影響を除去して簡単
な構成で正確な測定を行なうことができるものである。
素子に正対させて測定を行なうことによって検出素子の
冷却による成分のエネルギー量を知ることができ、これ
を用いて測定値に対する冷却による影響を除去して簡単
な構成で正確な測定を行なうことができるものである。
なお上述の説明に用いた装置の構成は一例であって、
この他の回路構成やあるいはマイクロコンピュータを用
いてソフトウェアで処理するなど、種々の手段が取り得
るものである。
この他の回路構成やあるいはマイクロコンピュータを用
いてソフトウェアで処理するなど、種々の手段が取り得
るものである。
この発明によれば、放射率の低い物質を検出素子に正
対させて測定を行なうことによって検出素子の冷却によ
る成分のエネルギー量を知ることができ、これを用いて
測定値に対する冷却による影響を除去して簡単な構成で
正確な測定を行なうことができるようになった。
対させて測定を行なうことによって検出素子の冷却によ
る成分のエネルギー量を知ることができ、これを用いて
測定値に対する冷却による影響を除去して簡単な構成で
正確な測定を行なうことができるようになった。
第１図は本発明の一例の構成図である。 （11）は検出器、（12）は測定対象物、（13）（15）
（18）（20）は利得１の差動アンプ、（14）（16）は可
変電圧源、（17）は利得1/εのアンプ、（19）（21）は
利得−１のアンプ、（22）は測定値の出力端子である。
（18）（20）は利得１の差動アンプ、（14）（16）は可
変電圧源、（17）は利得1/εのアンプ、（19）（21）は
利得−１のアンプ、（22）は測定値の出力端子である。
Claims (1)
- 【請求項１】測定時に検出素子の冷却を必要とする赤外
線放射温度計において、 あらかじめ室温で放射率が１に近い物質を上記検出素子
に正対させて上記測定を行ってそのときの測定値を０に
する第１の補正電圧値を記憶すると共に、 任意の温度で放射率が０に近い物質を上記検出素子に正
対させて上記測定を行ってそのときの測定値を０にする
第２の補正電圧値を記憶し、 任意の対象物の上記測定時にその測定値から上記記憶さ
れた第１及び第２の補正電圧値を用いて演算を行って上
記検出素子の冷却による影響を除去した測定値を得るよ
うにしたことを特徴とする赤外線放射温度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1197791A JP2912967B2 (ja) | 1989-07-29 | 1989-07-29 | 赤外線放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1197791A JP2912967B2 (ja) | 1989-07-29 | 1989-07-29 | 赤外線放射温度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0361824A JPH0361824A (ja) | 1991-03-18 |
| JP2912967B2 true JP2912967B2 (ja) | 1999-06-28 |
Family
ID=16380412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1197791A Expired - Fee Related JP2912967B2 (ja) | 1989-07-29 | 1989-07-29 | 赤外線放射温度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2912967B2 (ja) |
-
1989
- 1989-07-29 JP JP1197791A patent/JP2912967B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0361824A (ja) | 1991-03-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |