JP2909396B2 - Measuring jig for ultra-fine pitch inspection - Google Patents

Measuring jig for ultra-fine pitch inspection

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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、超微小なピッチ間隔
の半導体、液晶等の電極、端子若しくはパターン等の断
線、ショート等を精密にトライ検査することのできる超
微小ピッチ検査用測定治具に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measurement for an ultra-fine pitch inspection capable of accurately performing a tri-inspection of a disconnection, a short circuit, etc. of an electrode, a terminal or a pattern of a semiconductor, a liquid crystal or the like having an extremely small pitch interval. It is related to a jig.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近、エレクトロ業界の目覚ましい技術
進歩に伴い、ピッチ間隔が300ミクロン以下という超
微小な高集積回路等が開発されてきている。このような
高集積回路等の断線、ショート等を検査するには、従来
プラスチック製の測定治具に、検査するピッチ間隔毎に
多数の貫通孔を形成し、該貫通孔に、スプリング内蔵コ
ンタクトプローブを嵌合固定してなる測定治具が使用さ
れている。
2. Description of the Related Art In recent years, with the remarkable technological progress in the electronics industry, ultra-fine high-integration circuits having a pitch interval of 300 microns or less have been developed. In order to inspect such a high-integrated circuit for disconnection, short-circuit, etc., a conventional plastic measuring jig is formed with a large number of through holes at every pitch interval to be inspected, and a contact probe with a built-in spring is formed in the through hole. A measuring jig in which is fitted and fixed is used.

【0003】しかしながら、現在の穴あけ技術では、細
い穴を300ミクロンの間隔で形成すると、±20ミク
ロン(最大40ミクロン)程度の誤差が発生するので、
超微小な高集積回路等の検査には、精度的に使用し得な
い問題があった。穴あけ加工機自体は、高性能で機械精
度も高いが、超極細のドリリング加工を行う場合は、加
工するドリルに剛性がないため、機械精度の10倍位の
誤差が発生するからである。
However, according to the current drilling technique, if fine holes are formed at intervals of 300 microns, an error of about ± 20 microns (up to 40 microns) occurs.
Inspection of ultra-small highly integrated circuits has a problem that it cannot be used with high accuracy. This is because the drilling machine itself has high performance and high machine accuracy, but when performing ultra-fine drilling, an error of about 10 times the machine accuracy occurs because the drill to be machined has no rigidity.

【0004】また、プラスチック製の測定治具に、断面
コ字形の溝を形成し、該コ字部にコンタクトプローブを
嵌合させ、コ字部の開口部を蓋で閉鎖してなる測定治具
も知られていた。しかしながら、この測定治具を300
ミクロン以下という超微小な高集積回路等の検査用の測
定治具に形成する場合、溝にコンタクトプローブを密嵌
させると、溝と溝の間の壁が折れるから、遊嵌させざる
を得なかった。そのため、壁とコンタクトプローブとの
間には若干の隙間が形成されるので、やはり±20ミク
ロン程度の誤差は発生し、超微小な高集積回路等の検査
には、精度的に到底使用し得なかった。
[0004] A measuring jig is formed by forming a U-shaped groove in a plastic measuring jig, fitting a contact probe into the U-shaped portion, and closing the opening of the U-shaped portion with a lid. Was also known. However, this measuring jig is 300
When forming on a measuring jig for inspection of ultra-micron highly integrated circuits of submicron or less, if the contact probe is closely fitted in the groove, the wall between the grooves breaks, so it has to be loosely fitted. Did not. For this reason, a slight gap is formed between the wall and the contact probe, so that an error of about ± 20 μm still occurs. I didn't get it.

【0005】従って、従来の測定治具を使用する方法
は、いずれもピッチ間隔300ミクロン以下の超微小な
高集積回路等の検査用としては、到底産業上満足に使用
し得るものを作ることは不可能であった。
[0005] Therefore, the conventional method using a measuring jig is to produce a device which can be used satisfactorily in industry for inspection of ultra-fine highly integrated circuits with a pitch interval of 300 microns or less. Was impossible.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】この発明は、このよう
な問題点を解決しようとするものであり、ピッチ間隔3
00ミクロン以下の超微小な高集積回路等の回路検査を
支障なく行うことができる超微小ピッチ検査用測定治具
を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is to solve such a problem, and has a pitch interval of three.
An object of the present invention is to provide a measuring jig for an ultra-fine pitch inspection capable of performing a circuit inspection of an ultra-fine high-integrated circuit of not more than 00 microns without any trouble.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明者は鋭意研究の結果、コンタクトプローブを
嵌合させる溝を底部に向かって先細に形成することによ
って、溝と溝との間の壁が強固になるので、コンタクト
プローブを壁に密に当接させることができ、しかもコン
タクトプローブは両壁の2点で保持することができるか
ら、極めて高精度の測定治具を作ることができることを
見いだし、本発明に到達した。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, the present inventors have made intensive studies and as a result, formed a groove for fitting a contact probe into a tapered shape toward the bottom, so that a gap between the grooves was formed. Because the wall of the contact probe becomes strong, the contact probe can be brought into close contact with the wall, and the contact probe can be held at two points on both walls. They found what they could do and arrived at the present invention.

【0008】即ち、本発明は、測定治具に多数の溝を形
成し、該溝にコンタクトプローブをセットした測定治具
に於いて、前記溝を底部に向かって先細な断面略逆台形
に形成し、先細の交点の角度を鋭角としたことを特徴と
する。
That is, according to the present invention, in a measuring jig in which a number of grooves are formed in a measuring jig and a contact probe is set in the grooves, the grooves are formed in a substantially inverted trapezoidal cross section tapered toward a bottom. The tapered intersection is characterized by an acute angle .

【0009】[0009]

【実施例】次に、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。尚、図1〜図3においては、溝2は、断面V字形
に形成されているが、本発明においては、この溝2の鋭
角先端をカットした断面略台形に形成するものである。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 to 3, the groove 2 has a V-shaped cross section.
In the present invention, the grooves 2
It is formed to have a substantially trapezoidal cross section with a cut corner end.

【0010】図1は、プラスチックのブロックから形成
した測定治具1に、機械加工によって、溝2を形成し、
該溝2にコンタクトプローブ3を接着固定した例を示
す。
[0010] Figure 1 is a measuring tool 1 formed from a block of plastic, by machining, forming a groove 2,
An example in which a contact probe 3 is bonded and fixed to the groove 2 is shown.

【0011】測定治具1の溝2と直交して、接着剤を注
入するための溝4が形成されている。図1に示すよう
に、2に、スプリング内蔵コンタクトプローブ3を装
着した後、2を上向きにして、溝4に接着剤5を注入
すると、接着剤5は図2に示すように、2に充填さ
れ、コンタクトプロープ3を溝2に接着固定する。
A groove 4 for injecting an adhesive is formed perpendicular to the groove 2 of the measuring jig 1. As shown in FIG. 1, the groove 2, after mounting the spring-loaded contact probe 3, and a groove 2 upward and injecting the adhesive 5 to the groove 4, the adhesive 5 as shown in FIG. 2, the grooves 2 and the contact probe 3 is bonded and fixed to the groove 2.

【0012】接着剤を注入するための溝4の深さは、図
2に示すように、2に装着されたコンタクトプローブ
3よりも深い位置とするのが良い。2に接着剤を注入
した後、コンタクトプローブ3を接着固定するようにす
れば、溝4はなくとも差し支えない。しかしながら、上
記したように、溝4から接着剤を注入すれば、全てのコ
ンタクトプローブ3が一度で接着できるので、製作作業
能率上好ましい。
The depth of the groove 4 for injecting the adhesive is preferably deeper than the depth of the contact probe 3 mounted in the groove 2 as shown in FIG. If the contact probe 3 is bonded and fixed after the adhesive is injected into the groove 2, the groove 4 may be omitted. However, as described above, if the adhesive is injected from the groove 4, all the contact probes 3 can be bonded at one time, which is preferable in terms of production efficiency.

【0013】コンタクトプローブ3を2に固定するの
は、必ずしも接着剤を使用する必要はなく、例えば、固
定するコンタクトプローブ、ソケット部分又は溝2に抜
け止めのつばを形成しても良い。
The fixing of the contact probe 3 to the groove 2 does not necessarily require the use of an adhesive. For example, the contact probe to be fixed, a socket portion, or a retaining collar may be formed in the groove 2.

【0014】2の角度は、その交点をできるだけ鋭角
とすることによって、ピッチ間の精度を高めることがで
きる。
The angle between the grooves 2 can be increased in accuracy by making the intersection as acute as possible.

【0015】コンタクトプローブ3を溝2に保持させる
には、コンタクトプローブ3を両側壁の2点で保持させ
るのが良い。コンタクトプローブ3を、底面を含めた3
点で保持させると、どこかに遊びが発生し、その遊びの
分だけ精度が落ちるからである。
In order to hold the contact probe 3 in the groove 2, it is preferable to hold the contact probe 3 at two points on both side walls. Contact probe 3
If the points are held, play occurs somewhere, and the accuracy is reduced by the play.

【0016】隣接する2と溝2との間の壁6は、その
断面が図1に示すような台形状であっても、図2に示す
ような三角形状であっても良い。
The wall 6 between the adjacent grooves 2 may have a trapezoidal cross section as shown in FIG. 1 or a triangular shape as shown in FIG.

【0017】本発明の測定治具は、図1に示す状態で使
用しても良いが、図3に示すように、コンタクトプロー
ブ3を接着固定した面に蓋7を固定しても良い。図3に
於いては、コンタクトプローブ3に、柔らかいゴム状シ
ート8を介して蓋7を螺子9で測定治具1にネジ止め固
定している。
Although the measuring jig of the present invention may be used in the state shown in FIG. 1, the lid 7 may be fixed to the surface on which the contact probe 3 is adhered and fixed as shown in FIG. In FIG. 3, the lid 7 is fixed to the measuring jig 1 by screws 9 on the contact probe 3 via a soft rubber sheet 8.

【0018】本発明の測定治具は、ピッチ間隔50〜3
00ミクロン程度の高集積回路を検査する測定治具とし
て特に好適である。
The measuring jig of the present invention has a pitch interval of 50 to 3
It is particularly suitable as a measuring jig for inspecting highly integrated circuits of about 00 microns.

【0019】本発明の測定治具は、価格等の点からプラ
スチックで形成するのが好ましいが、金属若しくは木で
形成しても差し支えない。尚、金属の場合は、完全に絶
縁を施す必要があるのは勿論である。
The measuring jig of the present invention is preferably formed of plastic from the viewpoint of cost and the like, but may be formed of metal or wood. In the case of metal, it is of course necessary to completely insulate.

【0020】2を形成するには、型で成型しても良い
し、通常の機械加工で切削加工しても良い。本発明の測
定治具に保持固定するコンタクトプローブとしては、ス
プリング内蔵若しくは装着コンタクトプローブが特に好
適である。
In order to form the groove 2, it may be molded by a mold or may be cut by ordinary machining. As the contact probe to be held and fixed to the measuring jig of the present invention, a spring built-in or mounted contact probe is particularly suitable.

【0021】[0021]

【作用】本発明によれば、コンタクトプローブを先細に
形成した溝に保持させているので、密に溝に保持させる
ことができるから、ピッチ間(図2に於いてA、A′)
の誤差を極めて少なくすることができる。コンタクトプ
ローブを隙間なく保持させることができるので、ピッチ
間の誤差を溝を形成する機械加工若しくは成型の精度ま
で高めることができるからである。また、従来のコ字形
の溝に保持させる場合は、3点で保持させていたが、本
発明によれば、2点で保持するものであることも、高精
度の測定治具が得られる理由となっている。
According to the present invention, since the contact probe is held in the tapered groove, it can be held densely in the groove, so that the pitch (A, A 'in FIG. 2) can be maintained.
Can be extremely reduced. This is because the contact probe can be held without a gap, and the error between the pitches can be increased to the accuracy of machining or molding for forming the groove. Also, when holding in a conventional U-shaped groove, it is held at three points, but according to the present invention, it is also held at two points, which is also why a highly accurate measuring jig can be obtained. It has become.

【0022】プラスチックに溝を形成する機械加工若し
くは成型の精度は、ドリルによる穴開け加工の精度と比
べて極端に高いので、本発明によれば、高精度の治具が
製作できる。
Since the precision of machining or molding for forming a groove in plastic is extremely higher than the precision of drilling, a high-precision jig can be manufactured according to the present invention.

【0023】具体的には、従来は、ピッチ間隔(図2に
於いてA、A′)300ミクロン以下の超微小な間隔の
測定治具を製作する場合、±20ミクロン程度の誤差は
避けられなかったが、本発明によれば、±5ミクロン程
度にまで容易に高めることができる。使用する機械精度
と連動するため、現今のミクロン精度の機械精度そのも
のの精度のピッチ間隔が得られる。
Specifically, conventionally, when manufacturing a measuring jig having a very small pitch of 300 μm or less (A, A ′ in FIG. 2), an error of about ± 20 μm is avoided. However, according to the present invention, it can be easily increased to about ± 5 microns. Since it is linked with the machine precision to be used, the pitch interval of the precision of the current machine precision of the micron precision itself can be obtained.

【0024】300ミクロン以下のピッチ間隔の測定治
具とするためには、台形の溝の両側壁の交点をできるだ
け鋭角とする必要がある。溝2をV字形とし、交点を鋭
角と すると、溝が深くなるので、溝を対向形成すること
は難しくなると共に、強度的にも弱くなる。
Measurement of pitch interval of 300 microns or less
In order to make a tool, the intersection of both sides of the trapezoidal groove can be made
It must be sharp. Groove 2 is V-shaped, intersection is sharp
If it is a corner , the groove will be deeper, so the groove should be formed facing
Becomes difficult and the strength becomes weak.

【0025】[0025]

【効果】以上述べたごとく、本発明によれば、コンタク
トプローブを保持する溝と溝との間の壁の強度を極めて
高くすることができるので、コンタクトプローブを溝に
密に隙間なく保持させることができ、しかも2点で保持
するものであるから、極めて高精度の測定治具とするこ
とができると共に、溝を断面略台形としたので、溝の交
点を鋭角としても溝を小さくすることができるので、超
微小なピッチ間隔の高集積回路等を支障なくトライ検査
することができる。
As described above, according to the present invention, the strength of the wall between the grooves for holding the contact probes can be extremely increased, so that the contact probes can be tightly held in the grooves without any gap. can be, moreover since it is intended to hold at two points, it is possible to extremely high accuracy of the measurement jig, since the groove was a substantially trapezoidal groove of exchange
Since the groove can be made small even if the point is formed at an acute angle, it is possible to perform a trie inspection of a highly integrated circuit or the like having an extremely small pitch interval without any trouble.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】超微小ピッチ検査用測定治具を示す斜視図であ
る。
FIG. 1 is a perspective view showing a measuring jig for ultra-fine pitch inspection .

【図2】図1の一部上面図である。FIG. 2 is a partial top view of FIG.

【図3】超微小ピッチ検査用測定治具の他の例を示す断
面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing another example of a measuring jig for ultra-fine pitch inspection .

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 測定治具 2 3 コンタクトプローブ 4 接着剤を注入する溝 5 接着剤 6 溝と溝の間の壁DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Measuring jig 2 Groove 3 Contact probe 4 Groove to inject adhesive 5 Adhesive 6 Wall between grooves

Claims (7)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】測定治具に多数の溝を形成し、該溝にコン
タクトプローブをセットした測定治具に於いて、前記溝
を底部に向かって先細な断面略逆台形に形成し、先細の
交点の角度を鋭角としたコンタクトプローブを、50ミ
クロン〜300ミクロンのピッチ間隔にセットしたこと
を特徴とする50ミクロン〜300ミクロンの超微小ピ
ッチの電極若しくはパターン等を検査する超微小ピッチ
検査用測定治具。
1. A measuring jig in which a plurality of grooves are formed in a measuring jig and a contact probe is set in the grooves.
Is formed in a generally inverted trapezoidal shape with a tapered cross-section toward the bottom.
A contact probe with an acute angle of intersection
Cron ~ 300 micron pitch set
50 micron to 300 micron ultra-fine pin
Ultra- fine pitch inspection jig for inspecting switch electrodes or patterns .
【請求項2】前記コンタクトプローブを、前記溝に接着
剤で固定してなる請求項1に記載の超微小ピッチ検査用
測定治具。
2. The measuring jig according to claim 1, wherein the contact probe is fixed to the groove with an adhesive.
【請求項3】前記隣接する溝の間の壁を、断面三角形若
しくは台形に形成してなる請求項1に記載の超微小ピッ
チ検査用測定治具。
3. The measuring tool according to claim 1, wherein a wall between the adjacent grooves is formed in a triangular or trapezoidal cross section.
【請求項4】 前記治具の前記溝に交差する方向に、接着
剤を前記溝に流すための溝を形成してなる請求項1に記
載の超微小ピッチ検査用測定治具。
Wherein in a direction crossing the groove of the jig, ultrafine pitch inspection measuring jig according to claim 1 comprising a groove for the flow of adhesive in the groove.
【請求項5】 前記測定治具を、プラスチックで形成して
なる請求項2に記載の超微小ピッチ検査用測定治具。
Wherein said measuring jig, ultrafine pitch inspection measuring jig according to claim 2 obtained by forming a plastic.
【請求項6】 前記コンタクトプローブを、前記溝の両壁
の2点で保持してなる請求項1に記載の超微小ピッチ検
査用測定治具。
Wherein said contact probe, ultrafine pitch inspection measuring jig according to claim 1 comprising holding at two points of both walls of the groove.
【請求項7】 前記コンタクトプローブが、スプリング内
蔵若しくは装着コンタクトプローブである請求項1に記
載の超微小ピッチ検査用測定治具。
Wherein said contact probe is, ultrafine pitch inspection measuring jig according to claim 1 which is spring-loaded or mounted contact probe.
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