JP2908530B2 - 粉末ｘ線回折による物質同定方法 - Google Patents
粉末ｘ線回折による物質同定方法Info
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- JP2908530B2 JP2908530B2 JP2172763A JP17276390A JP2908530B2 JP 2908530 B2 JP2908530 B2 JP 2908530B2 JP 2172763 A JP2172763 A JP 2172763A JP 17276390 A JP17276390 A JP 17276390A JP 2908530 B2 JP2908530 B2 JP 2908530B2
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Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、粉末Ｘ線回折測定によって物質の同定を
行う方法に関する。
行う方法に関する。
［従来の技術］ 粉末Ｘ線回折測定によって物質の同定を行うには、既
知の物質に関する多数の標準的な回折図形と、被測定物
質の回折図形とを比較するのが一般的である。標準的な
回折図形を収録したデータベースとしては、JCPDSカー
ドがある。このカードには、物質の代表的な回折ピーク
について、その格子面間隔と相対強度とが数値情報とし
て記録されている。一般に、純粋物質について粉末Ｘ線
回折測定を行うと、第３図のような回折図形が得られる
が、この純粋物質についての標準データベースは、上述
のように回折ピークの格子面間隔と相対強度とが数値で
示されていて、これをグラフにすると第４図のようにな
る。
知の物質に関する多数の標準的な回折図形と、被測定物
質の回折図形とを比較するのが一般的である。標準的な
回折図形を収録したデータベースとしては、JCPDSカー
ドがある。このカードには、物質の代表的な回折ピーク
について、その格子面間隔と相対強度とが数値情報とし
て記録されている。一般に、純粋物質について粉末Ｘ線
回折測定を行うと、第３図のような回折図形が得られる
が、この純粋物質についての標準データベースは、上述
のように回折ピークの格子面間隔と相対強度とが数値で
示されていて、これをグラフにすると第４図のようにな
る。
したがって、被測定物質の同定を行うには、被測定物
質の回折図形を測定して、その回折ピークの格子面間隔
と相対強度とを抽出し、これをJCPDSカードの情報と比
較して、その一致度に基づいて、被測定物質に何が含ま
れているかを判断している。
質の回折図形を測定して、その回折ピークの格子面間隔
と相対強度とを抽出し、これをJCPDSカードの情報と比
較して、その一致度に基づいて、被測定物質に何が含ま
れているかを判断している。
［発明が解決しようとする課題］ 上述した従来の同定方法では、回折ピークの格子面間
隔と相対強度だけを利用しているので、次のような欠点
がある。
隔と相対強度だけを利用しているので、次のような欠点
がある。
（イ）例えば土壌などのように多数の物質が複雑に混じ
り合っている物質では、多数の組成物質による回折ピー
クが含まれることになって、各組成物質をそれぞれ特定
する作業が大変になる。
り合っている物質では、多数の組成物質による回折ピー
クが含まれることになって、各組成物質をそれぞれ特定
する作業が大変になる。
（ロ）被測定物質に含まれる組成物質の結晶状態が不完
全であったり、歪んでいたりすると、JCPDSカードのデ
ータと合わなくなる。
全であったり、歪んでいたりすると、JCPDSカードのデ
ータと合わなくなる。
そこで、この発明の目的は、複雑な混合物からなる物
質や、不完全な結晶を含むような物質であっても、容易
にかつ正確に同定ができる方法を提供することにある。
質や、不完全な結晶を含むような物質であっても、容易
にかつ正確に同定ができる方法を提供することにある。
［課題を解決するための手段］ この発明の同定方法では、被測定物質に含まれる各組
成物質を個別に同定するのではなくて、あらかじめ各種
のサンプル（各サンプルは混合物であってもよい）につ
いて、それぞれ標準の回折図形を求めておき、これを標
準のデータベースとして利用するものである。したがっ
て、この発明では、物質同定のための標準データベース
が、従来のJCPDSカードの考え方と大きく異なる。すな
わち、予想される被測定物質に関して、それぞれ、その
回折図形の曲線形状に関する情報を標準データベースと
して持っていることが必要である。「回折図形の曲線形
状に関する情報」とは、回折図形の曲線形状をそのまま
の形で所有した情報か、あるいは、所定の処理を施して
回折図形の曲線形状の特徴を抽出した形で所有した情報
である。
成物質を個別に同定するのではなくて、あらかじめ各種
のサンプル（各サンプルは混合物であってもよい）につ
いて、それぞれ標準の回折図形を求めておき、これを標
準のデータベースとして利用するものである。したがっ
て、この発明では、物質同定のための標準データベース
が、従来のJCPDSカードの考え方と大きく異なる。すな
わち、予想される被測定物質に関して、それぞれ、その
回折図形の曲線形状に関する情報を標準データベースと
して持っていることが必要である。「回折図形の曲線形
状に関する情報」とは、回折図形の曲線形状をそのまま
の形で所有した情報か、あるいは、所定の処理を施して
回折図形の曲線形状の特徴を抽出した形で所有した情報
である。
［作用］ この発明では、まず、用途に応じた標準データベース
を作成することが必要である。例えば、各地域の土壌サ
ンプルについて、あらかじめ、その回折図形の曲線形状
に関する情報を標準データベースとして作成しておく。
そして、未知の土壌について回折図形を求め、その曲線
形状に関する情報を、標準データベースの各土壌と比較
する。そして、その一致度に基づいて、未知の土壌がど
の地域の土壌であるかを判定する。
を作成することが必要である。例えば、各地域の土壌サ
ンプルについて、あらかじめ、その回折図形の曲線形状
に関する情報を標準データベースとして作成しておく。
そして、未知の土壌について回折図形を求め、その曲線
形状に関する情報を、標準データベースの各土壌と比較
する。そして、その一致度に基づいて、未知の土壌がど
の地域の土壌であるかを判定する。
［実施例］ この発明を土壌の同定に関して適用した実施例を以下
に説明する。
に説明する。
警察の科学捜査では、犯罪場所に残された土壌につい
て、その土壌がどの地域のものであるかを分析すること
が必要になっている。この分析に、従来のJCPDSカード
を利用すると、土壌にどのような組成物質が含まれてい
るかを個別に同定することになり、異なる地域の土壌に
対しても、同様な分析結果となってしまうことが多い。
これに対して、この発明では、各種の土壌のサンプルに
ついて、その回折図形の曲線形状を記憶した標準データ
ベースを作成して、この標準データベースと、被測定土
壌の回折図形の曲線形状とを比較して、被測定土壌がど
の地域のものであるかを判定している。
て、その土壌がどの地域のものであるかを分析すること
が必要になっている。この分析に、従来のJCPDSカード
を利用すると、土壌にどのような組成物質が含まれてい
るかを個別に同定することになり、異なる地域の土壌に
対しても、同様な分析結果となってしまうことが多い。
これに対して、この発明では、各種の土壌のサンプルに
ついて、その回折図形の曲線形状を記憶した標準データ
ベースを作成して、この標準データベースと、被測定土
壌の回折図形の曲線形状とを比較して、被測定土壌がど
の地域のものであるかを判定している。
標準データーベースは、各地域の土壌サンプルごとに
第２図に示すような回折図形を記憶している。記憶方法
の一例を挙げると、所定のサンプリング幅で各回折角度
における相対Ｘ線強度を記憶する。あるいは、適当な圧
縮処理を施して記憶してもよい。このようなデータベー
スは、各回折ピークの回折角度や相対強度だけではなく
て、ピークの幅や非対称性、バックグラウンドレベルの
大きさ、などをすべて情報として含んでいる。
第２図に示すような回折図形を記憶している。記憶方法
の一例を挙げると、所定のサンプリング幅で各回折角度
における相対Ｘ線強度を記憶する。あるいは、適当な圧
縮処理を施して記憶してもよい。このようなデータベー
スは、各回折ピークの回折角度や相対強度だけではなく
て、ピークの幅や非対称性、バックグラウンドレベルの
大きさ、などをすべて情報として含んでいる。
被測定土壌の回折図形が第１図に示すようになったと
すると、この回折図形と、標準データベースの中の各地
域の土壌サンプルの回折図形とを比較することにより、
被測定土壌がどの地域の土壌であるかを容易にかつ正確
に判定することができる。
すると、この回折図形と、標準データベースの中の各地
域の土壌サンプルの回折図形とを比較することにより、
被測定土壌がどの地域の土壌であるかを容易にかつ正確
に判定することができる。
なお、第３図や第４図では横軸を格子面間隔としてい
るのに対して、第１図と第２図では横軸を回折角度とし
ている。これは次の理由による。第４図は純粋物質の回
折ピークに関する情報であって、回折測定に使用する特
性Ｘ線の波長には無関係であり、所定の格子面間隔のと
ころに回折ピークが現れる。ところが、第２図は土壌に
関する回折図形であって、その標準データベースを作成
するに当たっては、各種の影響をすべて含んだ形での曲
線形状をそのまま記憶することになるので、使用する特
性Ｘ線を指定して、その回折角度によるＸ線強度をその
ままの形でデータベースとしている。したがって、被測
定土壌について回折図形を測定する場合にも、標準デー
タベースを作成したのと同じ特性Ｘ線を使用するのが原
則である。
るのに対して、第１図と第２図では横軸を回折角度とし
ている。これは次の理由による。第４図は純粋物質の回
折ピークに関する情報であって、回折測定に使用する特
性Ｘ線の波長には無関係であり、所定の格子面間隔のと
ころに回折ピークが現れる。ところが、第２図は土壌に
関する回折図形であって、その標準データベースを作成
するに当たっては、各種の影響をすべて含んだ形での曲
線形状をそのまま記憶することになるので、使用する特
性Ｘ線を指定して、その回折角度によるＸ線強度をその
ままの形でデータベースとしている。したがって、被測
定土壌について回折図形を測定する場合にも、標準デー
タベースを作成したのと同じ特性Ｘ線を使用するのが原
則である。
［発明の効果］ 以上説明したようにこの発明は、Ｘ線回折図形の曲線
形状に関する情報を標準データベースとして作成してお
いて、被測定物質のＸ線回折図形とこの標準データベー
スとを比較することによって、被測定物質の同定をして
いる。これにより、複雑な混合物からなる物質や、不完
全な結晶や歪んだ結晶などを含む物質についても、回折
図形の全体的な曲線形状を標準データベースと比較する
ことによって、被測定物質の同定が容易にかつ正確に行
える。
形状に関する情報を標準データベースとして作成してお
いて、被測定物質のＸ線回折図形とこの標準データベー
スとを比較することによって、被測定物質の同定をして
いる。これにより、複雑な混合物からなる物質や、不完
全な結晶や歪んだ結晶などを含む物質についても、回折
図形の全体的な曲線形状を標準データベースと比較する
ことによって、被測定物質の同定が容易にかつ正確に行
える。
第１図は被測定土壌のＸ線回折図形、 第２図はこの発明の標準データベースのＸ線回折図形、 第３図は純粋物質のＸ線回折図形、 第４図は従来方法における標準データベースの情報を示
すグラフである。
すグラフである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 23/20 - 23/227
Claims (1)
- 【請求項１】複数の物質に関する粉末Ｘ線回折図形を記
憶する標準データベースと、被測定物質の粉末Ｘ線回折
図形とを比較して物質の同定をする方法において、 前記標準データベースには、Ｘ線回折図形の曲線形状に
関する情報を記憶させておき、被測定物質のＸ線回折図
形の曲線形状に関する情報と、前記標準データベースの
Ｘ線回折図形の曲線形状に関する情報とを比較すること
によって、被測定物質の同定を行うことを特徴とする、
粉末Ｘ線回折による物質同定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2172763A JP2908530B2 (ja) | 1990-07-02 | 1990-07-02 | 粉末ｘ線回折による物質同定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2172763A JP2908530B2 (ja) | 1990-07-02 | 1990-07-02 | 粉末ｘ線回折による物質同定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0464045A JPH0464045A (ja) | 1992-02-28 |
| JP2908530B2 true JP2908530B2 (ja) | 1999-06-21 |
Family
ID=15947888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2172763A Expired - Fee Related JP2908530B2 (ja) | 1990-07-02 | 1990-07-02 | 粉末ｘ線回折による物質同定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2908530B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003004671A (ja) * | 2001-06-18 | 2003-01-08 | Rigaku Corp | 物質同定方法および物質同定システム |
-
1990
- 1990-07-02 JP JP2172763A patent/JP2908530B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003004671A (ja) * | 2001-06-18 | 2003-01-08 | Rigaku Corp | 物質同定方法および物質同定システム |
| JP4565774B2 (ja) * | 2001-06-18 | 2010-10-20 | 株式会社リガク | 物質同定方法および物質同定システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0464045A (ja) | 1992-02-28 |
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