JP2906973B2 - Wall tile peeling determination method - Google Patents
Wall tile peeling determination methodInfo
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Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、建築物の壁面等に取り
付けられた壁面タイルの添着状態の良否を判定する方法
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for judging whether or not an attached state of a wall tile attached to a wall or the like of a building is good.
【0002】[0002]
【従来の技術】壁面タイルの添着状態の良否を判定する
ための技術としては、壁面タイルをハンマ等の打撃手段
により打撃したときの壁面からの反射音(打撃音)の周
波数スペクトラムを添着状態の良好な健全タイルの周波
数スペクトラムと比較し、これから得られる音圧レベル
の差(レベル差スペクトラム)と閾値とを比較して、壁
面タイルの添着状態が良好か否かの判断をするものがあ
る。2. Description of the Related Art As a technique for judging whether or not an attached state of a wall tile is good, a frequency spectrum of a reflected sound (hitting sound) from the wall when the wall tile is hit by a hitting means such as a hammer is used. In some cases, a comparison is made between a frequency spectrum of a good sound tile and a sound pressure level difference (level difference spectrum) obtained therefrom is compared with a threshold value to determine whether or not the attached state of the wall tile is good.
【0003】このような技術は例えば特公平02−54
903号公報や特公平05−11577号公報に記載さ
れている。[0003] Such a technique is disclosed, for example, in Japanese Patent Publication No. 02-54.
No. 903 and Japanese Patent Publication No. 05-11577.
【0004】上記特公平05−11577号公報に記載
された技術について図6〜図9を用いて説明する。まず
コンピュータからの指令信号である打撃力信号に基づい
てハンマ等の打撃手段により検査対象壁面タイルを打撃
する。このときマイクロホンにより検出された検査対象
壁面からの反射音(打撃音)の一例を図6に示す。この
図6に示す反射音のピーク値P4を算出し、この値が所
定値PBより小さければ検査対象壁面タイルは健全タイ
ルであると判断する。P4≧PBのときには荷重検出器
により検出された検査対象壁面からの反発力F0により
基準化された反射音P3を算出する。[0004] The technique described in Japanese Patent Publication No. 05-11577 will be described with reference to FIGS. First, the wall tile to be inspected is hit by a hitting means such as a hammer based on a hitting force signal which is a command signal from a computer. FIG. 6 shows an example of the sound reflected from the wall surface to be inspected (hitting sound) detected by the microphone at this time. The peak value P4 of the reflected sound shown in FIG. 6 is calculated, and if this value is smaller than a predetermined value PB, it is determined that the inspection target wall tile is a sound tile. When P4 ≧ PB, the reflected sound P3 standardized by the repulsive force F0 from the inspection target wall surface detected by the load detector is calculated.
【0005】次に、上記反射音レベルP3から図7に示
す周波数スペクトラムを算出し、最大音圧レベルS1と
S1に対する周波数F1とを算出する。Next, a frequency spectrum shown in FIG. 7 is calculated from the reflected sound level P3, and a maximum sound pressure level S1 and a frequency F1 with respect to S1 are calculated.
【0006】次に、図8に示す健全タイルにおける周波
数スペクトラムと図7に示す周波数スペクトラムとの偏
差を算出し、図9に示す相対差スペクトラムを作成す
る。この相対差スペクトラムから、最大レベルS2およ
びS2に対する周波数F2を算出し、最大レベルS2が
所定値SBより小さいときには検査対象壁面タイルは健
全タイルと判断する。S2≧SBのときには図9の相対
差スペクトラムの斜線部分の面積を二等分する周波数F
3を算出する。Next, the deviation between the frequency spectrum of the sound tile shown in FIG. 8 and the frequency spectrum shown in FIG. 7 is calculated, and a relative difference spectrum shown in FIG. 9 is created. From the relative difference spectrum, the maximum level S2 and the frequency F2 with respect to S2 are calculated, and when the maximum level S2 is smaller than the predetermined value SB, the inspection target wall surface tile is determined to be a sound tile. When S2 ≧ SB, the frequency F that bisects the area of the hatched portion of the relative difference spectrum of FIG.
3 is calculated.
【0007】次に、このようにして求めたP4、F0、
P3、S1、S2、F2、F3から、検査対象壁面タイ
ルにおける剥離(はくり)部の深さDEP、その大きさ
DiAを算出する。Next, P4, F0,
From P3, S1, S2, F2, and F3, the depth DEP and the size DiA of the peeled (stripped) portion in the inspection target wall tile are calculated.
【0008】[0008]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような従来の方法においては、健全タイルにおける周
波数スペクトラムを記憶し、この周波数スペクトラムと
検査対象壁面タイルにおける周波数スペクトラムとを比
較することとしているため、コンピュータによる計算に
長時間を要し、またコンピュータ装置が大型化するとい
う問題があった。本発明は上記事情を考慮してなされた
ものであり、その目的とするところは、コンピュータに
よる処理時間が短く、装置も大型化しない壁面タイルの
剥離判定方法を提供することにある。However, in the conventional method as described above, the frequency spectrum of a sound tile is stored, and this frequency spectrum is compared with the frequency spectrum of a wall tile to be inspected. There is a problem that it takes a long time for the calculation by the computer and the size of the computer device becomes large. The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a method for determining the separation of a wall tile in which the processing time by a computer is short and the size of the apparatus is not increased.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】以上の目的を達成するた
めに、本発明は、検査対象壁面タイルをハンマ等の打撃
手段で打撃したときに得られる反射音のピーク値APお
よび、反射音の実効値A(t)rmsからクレストファ
クタCfを、 Cf=AP/A(t)rms として算出し、このクレストファクタCfが第1の所定
値以上のときには前記検査対象壁面タイルは健全タイル
と判断するとともに、前記クレストファクタCfが第1
の所定値より小さいときには前記反射音から期待周波数
Rfを次式によって算出し、 Rf=(X) 1/2 、X=∫A(f)・f 2 df/∫A(f)df この期待周波数Rfと健全タイルにおける期待周波数R
fとの偏差が 第2の所定値より小さいときには前記検査
対象壁面タイルは健全タイルと判断し、前記偏差が第2
の所定値以上のときには前記検査対象壁面タイルは剥離
タイルであると判断するようにした。SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention provides a method for measuring the peak value AP and the peak value AP of a reflected sound obtained when an inspection target wall tile is hit with a hitting means such as a hammer .
And from the effective value A (t) rms of the reflected sound
Kuta Cf, Cf = calculated as AP / A (t) rms, the crest factor Cf is a first predetermined
If the value is greater than or equal to the value, the wall tile to be inspected is a healthy tile
And the crest factor Cf is set to the first
Is smaller than the predetermined value of
The Rf is calculated by the following equation, Rf = (X) 1/2, X = ∫A (f) · f 2 df / ∫A (f) df expected frequency R of the expected frequency Rf and sound tile
When the deviation from f is smaller than a second predetermined value, the inspection target wall tile is determined to be a sound tile, and the deviation is determined as the second tile.
When the value is equal to or more than the predetermined value, it is determined that the inspection target wall tile is a peeling tile.
【0010】また、上記発明において、第2の所定値
を、検査対象壁面タイルの形状、大きさ、材質等の性状
因子により定めるようにした。Further, in the above invention, the second predetermined value is determined by a property factor such as the shape, size, and material of the wall tile to be inspected.
【0011】[0011]
【作用】本発明による壁面タイルの剥離判定方法におい
ては、クレストファクタおよび期待周波数のみにより検
査対象壁面タイルの添着状態の良否を判定するので、検
査対象壁面タイルにおける期待周波数を算出するときの
み周波数スペクトラムを算出するだけであり、また健全
タイルにおける周波数スペクトラムを記憶する必要もな
く、コンピュータによる処理が短時間で済み、また装置
を大型化する必要もない。In the method for judging peeling of a wall tile according to the present invention, the quality of the attached state of the wall tile to be inspected is judged only by the crest factor and the expected frequency. , And it is not necessary to store the frequency spectrum of the sound tile, the processing by the computer is completed in a short time, and there is no need to increase the size of the device.
【0012】さらに、検査対象壁面タイルの性状因子に
より第2の所定値を定めることとしているので、極めて
正確に壁面タイルの添着状態の良否を判定できる。Furthermore, since the second predetermined value is determined based on the property factor of the wall tile to be inspected, it is possible to determine the adhering state of the wall tile very accurately.
【0013】[0013]
【実施例】本発明による壁面タイルの剥離判定方法の一
実施例を図1〜図5を用いて詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the method for judging peeling of a wall tile according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS.
【0014】図1は本発明の一実施例を説明するための
フローチャートである。図1において、まずコンピュー
タから指令信号である打撃力信号をハンマ等の打撃手段
へ送出して検査対象壁面タイルを打撃する(ステップS
1)。この打撃により検査対象壁面から反射してくる反
射音をマイクロホン等の受音器により検出して(ステッ
プS2)、クレストファクタCfを算出する(ステップ
S3)。FIG. 1 is a flow chart for explaining an embodiment of the present invention. In FIG. 1, first, a hitting force signal, which is a command signal, is sent from a computer to a hitting means such as a hammer to hit the inspection target wall tile (step S
1). A reflected sound reflected from the wall surface to be inspected by this impact is detected by a sound receiver such as a microphone (Step S2), and a crest factor Cf is calculated (Step S3).
【0015】クレストファクタCfの算出は、次式
(1)により行う。 Cf=AP/A(t)rms…………(1) ここで、APは反射音のピーク値、A(t)rmsは反
射音の実効値である。APは図2に示す健全タイル(壁
面への添着状態の良好なタイル)における反射音の場合
にはAP1であり、図4に示す剥離タイル(壁面への添
着状態が不良で、剥離する可能性のあるタイル)におけ
る反射音の場合にはAP2である。また、A(t)rm
sは図2、図4の適当な期間T1、T2における信号A
(t)の実効値である。期間T1、T2は判定が的確と
なるように定めればよい。The calculation of the crest factor Cf is performed by the following equation (1). Cf = AP / A (t) rms (1) where AP is the peak value of the reflected sound and A (t) rms is the effective value of the reflected sound. AP is AP1 in the case of the reflected sound from the sound tile shown in FIG. 2 (the tile having a good state of adhering to the wall), and the peeling tile shown in FIG. AP2 in the case of a reflected sound in a tile with a mark). A (t) rm
s is the signal A in the appropriate periods T1 and T2 in FIGS.
This is the effective value of (t). The periods T1 and T2 may be determined so that the determination is accurate.
【0016】このようにして求めたクレストファクタC
fの値と第1の所定値Mとを比較する(ステップS
4)。第1の所定値Mは健全タイルにおけるクレストフ
ァクタの値から求められる既知の値であり、例えばM=
2.5である。Crest factor C obtained in this way
The value of f is compared with the first predetermined value M (step S
4). The first predetermined value M is a known value obtained from the value of the crest factor in the healthy tile, and for example, M =
2.5.
【0017】クレストファクタCfの値は、反射音が直
ちに減衰する健全タイルのような場合には、実効値A
(t)rmsが相対的に小さくなるので、大きくなり、
反射音の振動が長時間継続する剥離タイルの場合には、
実効値A(t)rmsが相対的に大きくなるので、小さ
くなる。The value of the crest factor Cf is equal to the effective value A in the case of a sound tile in which the reflected sound is attenuated immediately.
(T) rms becomes relatively small, so it becomes large,
For exfoliated tiles where the vibration of the reflected sound continues for a long time,
Since the effective value A (t) rms becomes relatively large, it becomes small.
【0018】Cf≧M以上の場合には検査対象壁面タイ
ルは健全タイルであると判定し(ステップS5)、Cf
<Mの場合には検査対象壁面タイルの添着状態の良否を
正確に判定できない状態(疑似剥離状態)であるので、
次の判定のための期待周波数Rfを算出する(ステップ
S6)。Rfの値は次式(2)から求める。式(2)中
のA(f)は、図2、図4に示す反射音信号A(t)か
ら求められた図3、図5に示す周波数スペクトラムA
(f)である。When Cf ≧ M or more, it is determined that the inspection target wall tile is a sound tile (step S5), and Cf is determined.
In the case of <M, since the quality of the attached state of the inspection target wall tile cannot be accurately determined (pseudo peeled state),
An expected frequency Rf for the next determination is calculated (step S6). The value of Rf is obtained from the following equation (2). Equation (2) A (f) in the 2, FIG obtained from the reflected sound signal A (t) shown in FIG. 4. 3, frequency spectrum A shown in FIG. 5
(F).
【0019】[0019]
【数1】 健全タイルにおける期待周波数Rfは図3に示すRf1
であり、これは予め求められ、コンピュータに記憶され
ている周波数である。図3に示すように健全タイルにお
ける期待周波数Rf1は、周波数スペクトラムA(f)
が平坦であることから、計測周波数帯域の略中間値をと
る。検査対象壁面タイルの期待周波数Rf2を図5に示
す。これは壁面タイル毎に求められる周波数である。図
5に示すように剥離タイルにおける期待周波数Rf2
は、高周波領域(例えば2〜4kHz)でA(f)のレ
ベル増加があるため、Rf1よりも高い値となる。(Equation 1) The expected frequency Rf in the healthy tile is Rf1 shown in FIG.
Which is the frequency previously determined and stored in the computer. As shown in FIG. 3, the expected frequency Rf1 in the sound tile is the frequency spectrum A (f).
Is substantially flat, and therefore takes a substantially intermediate value in the measurement frequency band. FIG. 5 shows the expected frequency Rf2 of the wall tile to be inspected. This is the frequency required for each wall tile. As shown in FIG. 5, the expected frequency Rf2 in the exfoliated tile
Is higher than Rf1 because the level of A (f) increases in the high frequency region (for example, 2 to 4 kHz).
【0020】次に、(Rf2−Rf1)と第2の所定値
Δfとを比較する(ステップS7)。第2の所定値Δf
は剥離タイルにおける周波数スペクトラムA(f)の特
性から実験的に求められた値である。(Rf2−Rf
1)<Δfの場合には検査対象壁面タイルは健全タイル
であると判定し(ステップS7、S5)、(Rf2−R
f1)≧Δfの場合には剥離タイルであると判定する
(ステップS8)。Next, (Rf2-Rf1) is compared with a second predetermined value Δf (step S7). Second predetermined value Δf
Is a value experimentally obtained from the characteristic of the frequency spectrum A (f) in the peeling tile. (Rf2-Rf
1) If <f, it is determined that the wall tile to be inspected is a healthy tile (steps S7 and S5), and (Rf2-R)
If f1) ≧ Δf, it is determined that the tile is a peeled tile (step S8).
【0021】このように期待周波数Rf2による判定
は、検査対象壁面タイルの剥離の程度によってA(f)
のレベルが高周波領域で増加する程度が異なることを利
用したものである。すなわち、A(f)の高周波領域に
おけるレベル増加が少ないということは健全タイルに近
いことを意味し、レベル増加が多いということは健全タ
イルの特性から大きく隔絶した特性を有する剥離タイル
であることを意味する。次に、すべての壁面タイルにつ
いて検査したか否かを判定し(ステップS9)、すべて
を検査していないときにはステップS1へ移行して上述
したような動作を繰り返す。すべてについて検査してい
るときには検査終了とする。As described above, the judgment based on the expected frequency Rf2 is based on the degree of peeling of the wall tile to be inspected.
Is different in the degree of increase in the high frequency region. That is, a small level increase in the high-frequency region of A (f) means that the tile is close to a sound tile, and a large level increase means that the peeled tile has a property largely separated from the property of the sound tile. means. Next, it is determined whether or not all the wall tiles have been inspected (step S9). If not all the wall tiles have been inspected, the process proceeds to step S1 and the above-described operation is repeated. Inspection is terminated when all inspections have been performed.
【0022】[0022]
【発明の効果】以上説明したように、本発明による壁面
タイルの剥離判定方法では、まずクレストファクタによ
り検査対象壁面タイルの良否を判定し、クレストファク
タで判定できないとき期待周波数で判定するようにした
ので、周波数スペクトラムとしては検査対象壁面タイル
に関するもののみを算出すればよく、また健全タイルに
おける周波数スペクトラムを記憶する必要もなく、計算
量が従来方法よりも激減し、コンピュータによる処理が
短時間で済む。また計算結果、周波数スペクトラム等の
記憶量も少なく、記憶のために装置を大型化する必要も
ない。As described above, in the method for judging the separation of the wall tile according to the present invention, first, the quality of the wall tile to be inspected is judged by the crest factor, and when the judgment cannot be made by the crest factor, the judgment is made by the expected frequency. Therefore, it is sufficient to calculate only the frequency spectrum related to the inspection target wall tile, and it is not necessary to store the frequency spectrum of the sound tile, so that the calculation amount is drastically reduced as compared with the conventional method, and the processing by the computer can be completed in a short time. . Also, as a result of the calculation, the storage amount of the frequency spectrum and the like is small, and it is not necessary to increase the size of the device for storage.
【0023】さらに、検査対象壁面タイルの性状因子に
より第2の所定値を定めることとしているので、性状因
子数を増加すればするほど正確に壁面タイルの添着状態
の良否を判定できる。Furthermore, since the second predetermined value is determined by the property factor of the wall tile to be inspected, the quality of the attached state of the wall tile can be determined more accurately as the number of property factors increases.
【図1】本発明による壁面タイルの剥離判定方法の一実
施例を説明するためのフローチャートである。FIG. 1 is a flowchart for explaining one embodiment of a method for determining a separation of a wall tile according to the present invention.
【図2】健全タイルにおける反射音を示すタイムチャー
トである。FIG. 2 is a time chart showing a reflected sound in a healthy tile.
【図3】図2に対応する周波数スペクトラムである。FIG. 3 is a frequency spectrum corresponding to FIG. 2;
【図4】剥離タイルにおける反射音を示すタイムチャー
トである。FIG. 4 is a time chart showing a reflection sound from a peeling tile.
【図5】図4に対応する周波数スペクトラムである。FIG. 5 is a frequency spectrum corresponding to FIG.
【図6】従来の方法における反射音を示すタイムチャー
トである。FIG. 6 is a time chart showing reflected sound in a conventional method.
【図7】図6に対応する周波数スペクトラムである。FIG. 7 is a frequency spectrum corresponding to FIG. 6;
【図8】記憶された健全タイルの周波数スペクトラムで
ある。FIG. 8 is a frequency spectrum of a stored healthy tile.
【図9】図7と図8の差分を示す相対差スペクトラムで
ある。FIG. 9 is a relative difference spectrum showing a difference between FIGS. 7 and 8;
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堂山 敦弘 東京都清瀬市下清戸4丁目640番地 株 式会社大林組技術研究所内 (56)参考文献 特開 平5−281202(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01N 29/00 - 29/28 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Atsuhiro Doyama 4-640 Shimoseito, Kiyose-shi, Tokyo Inside Obayashi Corporation Technical Research Institute (56) References JP-A-5-281202 (JP, A) (58) Survey Field (Int.Cl. 6 , DB name) G01N 29/00-29/28
Claims (2)
段で打撃したときに得られる反射音のピーク値APおよ
び、反射音の実効値A(t)rmsからクレストファク
タCfを、 Cf=AP/A(t)rms として算出し、このクレストファクタCfが第1の所定
値以上のときには前記検査対象壁面タイルは健全タイル
と判断するとともに、前記クレストファクタCfが第1
の所定値より小さいときには前記反射音から期待周波数
Rfを次式によって算出し、 Rf=(X) 1 / 2 、X=∫A(f)・f 2 df/∫A(f)df この期待周波数Rfと健全タイルにおける期待周波数R
fとの偏差が 第2の所定値より小さいときには前記検査
対象壁面タイルは健全タイルと判断し、前記偏差が第2
の所定値以上のときには前記検査対象壁面タイルは剥離
タイルであると判断することを特徴とする壁面タイルの
剥離判定方法。1. A peak value AP and a peak value AP of a reflected sound obtained when a wall tile to be inspected is hit with a hitting means such as a hammer.
And crestfac from effective value A (t) rms of reflected sound
Cf is calculated as Cf = AP / A (t) rms , and the crest factor Cf is set to a first predetermined value.
If the value is greater than or equal to the value, the wall tile to be inspected is a healthy tile
And the crest factor Cf is set to the first
Is smaller than the predetermined value of
The Rf is calculated by the following equation, Rf = (X) 1/ 2, X = ∫A (f) · f 2 df / ∫A (f) df expected frequency R of the expected frequency Rf and sound tile
When the deviation from f is smaller than a second predetermined value, the inspection target wall tile is determined to be a sound tile, and the deviation is determined as the second tile.
And determining that the inspection target wall tile is a peeling tile when the predetermined value is equal to or more than a predetermined value.
タイルの形状、大きさ、材質等の性状因子により定まる
ことを特徴とする請求項1記載の壁面タイルの剥離判定
方法。2. The method according to claim 1, wherein the second predetermined value is determined by a property factor such as a shape, a size, and a material of the inspection target wall tile.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6006371A JP2906973B2 (en) | 1994-01-25 | 1994-01-25 | Wall tile peeling determination method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6006371A JP2906973B2 (en) | 1994-01-25 | 1994-01-25 | Wall tile peeling determination method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07209262A JPH07209262A (en) | 1995-08-11 |
JP2906973B2 true JP2906973B2 (en) | 1999-06-21 |
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ID=11636518
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JP6006371A Expired - Lifetime JP2906973B2 (en) | 1994-01-25 | 1994-01-25 | Wall tile peeling determination method |
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---|---|---|---|---|
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JP5882181B2 (en) * | 2012-10-30 | 2016-03-09 | 公益財団法人鉄道総合技術研究所 | Stability evaluation method of rock mass in rock slope by sound measurement |
-
1994
- 1994-01-25 JP JP6006371A patent/JP2906973B2/en not_active Expired - Lifetime
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